粉末材料粒度测定

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0982 粒度和粒度分布测定法第二法筛分法公示稿(第一次)

0982 粒度和粒度分布测定法第二法筛分法公示稿(第一次)

附件1:0982 粒度和粒度分布测定法第二法筛分法草案公示稿(第一次)0982粒度和粒度分布测定法本法用于测定原料药、辅料和药物制剂粉末或颗粒的粒子大小或粒度分布。

其中第一法、用于测定粒子大小或限度,第二法用于测定药物制剂的粒子大小、或限度或粒度分布,第三法用于测定原料药或药物制剂的粒度分布。

第一法(显微镜法)本法中的粒度,系以显微镜下观察到的长度表示。

目镜测微尺的标定照显微鉴别法(通则2001)标定目镜测微尺。

测定法取供试品,用力摇匀,黏度较大者可按各品种项下的规定加适量甘油溶液(1→2)稀释,照该剂型或各品种项下的规定,量取供试品,置载玻片上,覆以盖玻片,轻压使颗粒分布均匀,注意防止气泡混入,半固体可直接涂在载玻片上,立即在50~100倍显微镜下检视盖玻片全部视野,应无凝聚现象,并不得检出该剂型或各品种项下规定的50μm及以上的粒子。

再在200~500倍的显微镜下检视该剂型或各品种项下规定的视野内的总粒数及规定大小的粒数,并计算其所占比例(%)。

第二法(筛分法)筛分法是通过合宜孔径的药筛对粉末或颗粒的粒子大小和粒度分布进行评估和分级的方法。

一般分为手动筛分法、机械筛分法与空气喷射筛分法气流筛分法。

一般情况下,手动筛分法和机械筛分法适用于测定大部分粒径大于75μm的供试品。

;对于粒径较小的供试品,由于其质量较小,在筛分过程中提供的重力不足以克服内聚力和粘附力,使颗粒相互团聚并粘附在筛面上,从而导致预期通过筛面的颗粒被保留,对于粒径小于75μm的样品,则应因此,采用气流筛分法空气喷射筛分法或其他适宜的方法更为合适。

但是在经方法验证可行的情况下,筛分法也可用于粒径中位值小于75μm的粉末或颗粒。

对于只能通过粒度大小进行分类的粉末或颗粒,筛分法是很好的选择。

筛分法需要的样品量大(一般至少需要25g,取决于粉末或颗粒的密度以及药筛的直径),而且难以筛分易堵塞筛孔的油性或其他粘附性粉末或颗粒。

颗粒能否通过筛孔一般取决于颗粒的最大宽度或厚度,而不是颗粒的长度,因此筛分法是一种二维的尺寸估算方法。

费氏粒度测量方法

费氏粒度测量方法

费氏粒度测量方法1 前言费氏法是一种比较简便的粒度测量方法,它基于测量空气透过粉末堆积体的速度,依据kozeny-Carman 公式求出粉末的平均粒度。

所使用的仪器为费氏仪,由美国Fisher Scientific Co.〔1〕研制,并用公司的第一个字来命名。

该仪器结构简单,操作方便,价格低廉,不需要作任何计算,从读数板上可直接读出粒度值。

仪器的英文全名为Fisher Sub-sieve Sizer,在我国有不同的译法,有译成“费氏筛”,也有译成“费氏亚筛粒度仪”等等。

有些人因此对此名有误解,认为这是一种筛子。

其实,它与筛子没有任何关系,所指的亚筛(Sub-sieve)是表示该方法测定的粒度范围为亚筛级的粉末(通常小于50μm),即用普通机械筛分法不能筛分的粉末。

严格地讲,此仪器应翻译成“费歇尔亚筛级粉末粒度测定仪”。

我国标准〔2〕称此方法为“费氏法”,这里沿用了这一术语。

该方法是一种相对的测量方法,不能精确地测定出粉末的真实粒度,仅用来控制工艺过程和产品的质量。

该方法只能精确地测量空气通过粉末堆积体时的透过率,其值的大小取决于它的孔结构。

粉末堆积体的孔隙度、颗粒形状、粒度、粒度组成、粒度分布和压制方法等均影响孔的结构。

因此,该方法仅适用于化学成分相同和粒度组成相似的粉末。

对于化学成分相同而粒度组成不同的粉末,则会产生较大的测量误差。

有时化学成分相同而粒度组成不同的两种粉末会得到相同的费氏值,因为它们有相同的透过率。

因此,该方法所测量的粒度值不能和其它粒度测量结果进行比较。

2 原理费氏法属于稳流(层流)状态下的气体透过法,基于空气在恒定压力下先透过粉末堆积体,然后通过可调节的针形阀流向大气。

根据空气透过粉末堆积体时所产生的阻力和流量求出粉末的比表面积和平均粒度。

2.1 平均粒度的计算粉末的比表面积由Kozeny-Carman方程给出:(1)式中SW——粉末质量比表面积,cm2/g;ε——粉末堆积体的孔隙率;A——粉末堆积体横断面积,cm2;ΔP——压差,△P=ρ水g重(P-F)(ρ水:水的密度,=1g/cm3;g重:重力加速度,=980.665cm/s2);P——样品前空气的压力,cmH2O(1cmH2O≈102Pa,下同);F——样品后空气的压力,cmH2O;K——Kozeny因子;L——粉末堆积体厚度,cm;η——空气粘度,g.cm-1.s-1;Q——空气流量,Q=C′F(C为针形阀的流量系数,cm3.s-1.cmH2O-1),cm3/s;ρ——粉末的有效密度,g/cm3。

粉末冶金检测标准

粉末冶金检测标准

粉末冶金检测标准
粉末冶金是一种制备金属材料的方法,它涉及到粉末制备、混合、成型和烧结等工艺。

粉末冶金检测标准是为了保证制备材料的质量和性能,常见的粉末冶金检测标准有以下几个方面:
1. 粉末质量检测:包括粒度分析、表面积测定、杂质含量分析等。

这些测试可以用来评估粉末的颗粒大小和形状,以及可能存在的杂质。

2. 粉末成分检测:主要针对粉末中金属元素的含量进行分析,常见的检测方法有化学分析和光谱分析等。

3. 粉末性能测试:包括流动性、压实性、塑性等性能的评估。

这些测试可以确定粉末混合、成型和烧结过程中的材料流动性和工艺性能。

4. 成品材料测试:包括密度、硬度、抗拉强度等性能的评估。

这些测试可以确定粉末冶金制备的材料的最终性能,以及与标准要求的匹配程度。

以上仅列举了部分常见的粉末冶金检测标准,不同的材料和应用领域可能会有不同的标准要求。

具体的标准可通过相关的行业协会、国家标准和国际标准机构获得。

GBT 6524-2003_金属粉末_粒度分布的测量_重力沉降光透法

GBT 6524-2003_金属粉末_粒度分布的测量_重力沉降光透法
5 . 1 粒度范 围 雷诺数的定义
R,=
P i v d , .
。 ……
, , . . . . 。
。 ・ , , 甲 , 。 ・ ・ ・ 一 〔2)
合并公式( 1 ) 和( ( 2 ) 以及R , <0 . 2 5 的条件, 可以推测出本系统的最大测量颗粒粒度
( dt ) 印 。 ,
_ A g 4 ( PA . 5 - )
2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件, 其随后所有 的修改单( 不包括勘误的内容) 或修订版均不适用于本标准, 然而, 鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注 日 期的引用文件, 其最新版本适用于本标准
— 颗粒是不透明且外凸的( 满足理论要求: 外表面积是随机方向投影面积的4 倍) ; — 最初的光密度小于 0 . 7( 可以得到一个好的分辨率) ; — 消光系数恒定( 通常 K m假定为 1 )
则方程( 3 ) 可以写成 :
1 n ( I o / I )二 S w c L K, / 4= S w c L / 4 ( K.= 1 ) ・ ・ ・ ・ 。 , 。 ・ ・ ・ ……(4)
3 定义
以下的定义适用于本标准 。
斯托克斯直径 s t o k e s d i a m e t e r 在已知密度和粘度的液体中, 与粉末颗粒有着相同密度和自由沉降速度的球形颗粒的当量粒径。
3 . 2
有效密度 e f f e c t i v e d e n s i t y
粉末的质量和利用比重瓶法测量出的粉末的有效体积之比。
上述假设在实际中是不合理的, 因为 K m取决于颗粒的粒度大小、 粒度分布以及颗粒的透光能力。 所以, 衰减不直接取决于 S w , 也就是说本方法只适用于比较相似的粉末。 K 。 值与光束形状有关, 因此 它必须指明使用仪器 测得的光密度正比于颗粒的累积比表面积。然后通过方程( ( 4 ) 或图形计算可以转换得到颗粒质量 分布( 见附录 A条款 A . 1 ) , 依照光密度 D, 方程( ( 4 ) 可以写成:

粉末粒度测试实验报告

粉末粒度测试实验报告

粉末粒度测试实验报告实验名称:粉末粒度测试实验目的:通过粉末粒度测试,确定材料颗粒的平均粒径及大小分布情况,为材料的应用提供数据支持。

实验原理:粉末的粒度是指颗粒的大小。

常用的粒度分析方法有筛分法、激光粒度分析法等。

本实验使用的是激光粒度分析仪进行测试。

该仪器通过激光照射粉末样品,测量散射光的强度和角度分布,从而获得粉末的粒径分布情况。

实验步骤:1. 准备实验材料:将待测试的粉末样品取出,并加以充分搅拌,使样品均匀。

2. 调节仪器参数:打开激光粒度分析仪,根据样品特性调节适当的激光功率、散射角度以及测量时间等参数。

3. 校正仪器:按照仪器说明书的要求,进行零点校正、灵敏度校正等操作,确保仪器的准确性和可靠性。

4. 测试样品:将经过搅拌的粉末样品加入样品盖板,放入仪器中,开始测试。

5. 数据分析:通过仪器自动计算和生成粒度分布曲线,并得出平均粒径等相关数据。

实验结果及数据分析:根据激光粒度分析仪的测试结果,得到了粉末样品的粒径分布曲线和平均粒径。

根据实验数据,可以分析得出以下结论:1. 粉末样品的平均粒径为Xμm,说明样品的颗粒大小较为均匀。

2. 样品的粒径分布曲线呈现正态分布或偏态分布等特点,说明样品中存在不同粒径的颗粒。

3. 可以通过对粒径分布曲线的分析,进一步得到样品中粒径较大颗粒和微粒的分布情况,为材料的应用提供指导。

实验讨论及误差分析:在进行粉末粒度测试时,可能会存在一定的误差源。

主要包括以下几个方面:1. 样品制备的不均匀性:如果样品制备不均匀,会导致在测量过程中产生偏差。

因此,在实验中需充分搅拌样品,以保证样品的均匀性。

2. 仪器误差:激光粒度分析仪本身存在一定的误差。

使用过程中,需要按照仪器说明书的要求,进行校正和操作,以减小仪器误差的影响。

3. 测量环境的影响:实验室的温度、湿度等因素也会对测试结果产生一定影响。

因此,在实验中需要控制好实验环境,尽量减小外界因素的干扰。

实验总结:通过粉末粒度测试,我们可以得到样品的平均粒径和粒径分布情况。

第七章-颗粒大小测定

第七章-颗粒大小测定

材料科学与工程学院
第七章
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颗粒大小测定
厚德 博学
笃行 创新
h气流中含尘气体的取样 对于从气流中获取粉尘试样基本程序为: ① 选择适当的取样点(包括断面位臵和断面上个测量点的分布)。 ② 测量气体温度和流速。 ③ 组装和标定取样仪器。 ④ 在预定的时间内在选定的取样点进行等动取样。 因只有当吸入取样嘴的流速与该点气流相等时,试样才具有代表性。因此在去除代表 着一点气流的试样有一定的困难,等动取样就是这个意思,在等动条件下气流没有扰 动而且所有颗粒并且只有这些颗粒进入取样嘴。 ⑤ 取出已收集有固体颗粒的仪器。 ⑥ 重复测速和测温。 ⑦重复④⑤⑥各步骤。 ⑧测定收集的试样的重量和颗粒级配进行必要的计算和填写报告。上述这些测试方法 ,我们在测试技术里都讲述了
通过细孔法
液相沉降法
风筛法(气相沉降) 离心沉降法
500~0.5
100~1 5~0.01
反应速度法
光线散射法 光散射法
50~0.1
10~0.001 0.05~0.001
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第七章
颗粒大小测定
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上述这些方法的选择取决于粒度范围、粒度 使用目的、物料的物理性质,测定精度记忆测定 方法的难易程度,在我们硅酸盐行业使用最多的 方法有筛析法、显微镜法、沉降法、吸附法和散 射法。
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三、颗粒大小测定方法 1、筛分 筛子按制造方法可分为扁丝筛和冲孔筛。筛子通常是用来分级用的,在以 前筛孔的大小还没有标准化,在1867年Rittinger首先建议以75um为基础用递增 筛孔大小作为标准筛。现代标准筛以递增而法国的AFNOR系列用为基础递增 。 筛子常用“目”来表示筛孔大小称Mesh,“目”是每英寸长度内有若干根 编丝的数字。目前各种标准筛逐步修改到ISO制系列了。该系列是以45um为基 础, 递增。目前常用的标准筛有日本工业规格(JIS),美国标准(ASTM) ,Tyler公司标准,英国标准(BS),法国标准(DIN).晒分析师一种简单的最广 泛应用于颗粒大小分析的方法,应用范围是20um~125mm的编织丝筛。微孔 筛可使使用范围下限至5um或更小,而用板冲孔筛可是上限增大。几种常见的 筛分方法。

浅析颗粒度检测的方法

浅析颗粒度检测的方法

浅析颗粒度检测的方法摘要:本文通过分析颗粒度在检测中存在的实际与理论要求的差别,研究在这种不成熟的条件下,采用不同的检测方式检测其颗粒度对样品性能的影响。

并提出了如何选择比较适合生产控制的颗粒度级配的检测方式。

关键词:颗粒度;检测;性能1 前言在无机材料产品的生产中,原料的颗粒度配比对产品的强度和工艺性能有较大的影响,因此,控制好颗粒配比是保证产品质量的重要手段之一。

一般控制原料的颗粒配比应从监控原料的颗粒度着手。

在传统的颗粒度测量方法中,采用过筛的方法测试其筛余量,粒度常以“目”为单位。

”目”是指单位面积上筛孔的个数。

目数越大,表明筛孔越小,能通过的最大颗粒就越小。

采用测筛余量来测试颗粒度的方法,目前仍被许多生产企业所用,特别是陶瓷、耐火材料生产企业。

但是,过筛的颗粒度测量方法存在不理想因素,如:操作较复杂、耗时长、结果受人为因素影响较大,以及很难给出详细的颗粒级配结果等。

现代生产对原料的要求日渐提高,涉及颗粒级配方面。

对颗粒度结果的精准度要求也越来越高。

因此,科学技术的进步给颗粒度检测带来更多的方便,如:激光粒度分析仪、颗粒图像处理仪、离心沉降仪等。

这些仪器都能高效而更精准地检测出粉末样品的颗粒级配结果。

通常颗粒度检测是基于颗粒为球状的理想状态来测定的,对于非球状样品颗粒形状结构的样品.或检测技术本身的不成熟都会导致测试结果不同。

本文主要是通过研究用不同颗粒度检测方法,检测同种样品的颗粒度.通过分析找出适合生产控制的检测方法。

2 实验内容本实验测试所采用的部分仪器有:欧美克ls601a激光粒度仪、欧美克easysizer20、马尔文激光粒度仪、丹东bt-1500离心沉降仪、sem扫描仪等。

样品颗粒度的检测内容和步骤如下:(1)颗粒度仪在检测使用前,应由国家法定计量机构用有证标准物质进行校准,标准物应与被测样品的粒度范围相符:(2)样品的搅拌。

先用超声波分散器分散3-5min,再在烧杯中搅拌1min,必要时加合适的分散剂,如焦磷酸钠等;(3)取适量搅拌均匀的样品注入颗粒度检测仪中:(4)激光衍射法需选择合适的折射率,离心法需输入样品的比重值:(5)选择合适的多峰或单峰分布图进行计算。

粉末粒度分布的测量

粉末粒度分布的测量
分布曲线。
数据报告
根据测量结果编写数据 报告,提供粉末粒度分
布的详细信息。
05 结果分析
数据处理
数据清洗
去除异常值和缺失值,确保数据准确 性。
数据转换
数据统计
计算粒度分布的平均值、中位数、众 数等统计指标,以全面了解粉末的粒 度特征。
将测量数据转换为易于分析的格式, 如粒度分布曲线或表格。
结果解读
激光衍射法
总结词
激光衍射法是一种利用激光衍射原理测量粉末粒度分布的方法。
详细描述
激光衍射法的基本原理是通过激光束照射粉末样品,利用光的衍射效应测量粉末颗粒的粒度分布。当 激光束照射到粉末颗粒上时,会产生衍射光环,通过测量光环的直径可以得到粉末颗粒的粒度大小。 激光衍射法具有快速、准确、非破坏性的优点,适用于各种粒度范围的粉末测量。
详细描述
筛分法的基本原理是将粉末样品置于一系列不同孔径的筛网上,通过振动或手动摇动使粉末通过筛网,然后分别 称量各筛网上截留的粉末质量,从而得到粉末粒度分布。筛分法适用于测量粒度范围较广的粉末,尤其适用于粗 粒度粉末的测量。
显微镜法
总结词
显微镜法是一种通过显微镜观察粉末颗粒,并测量其尺寸的 方法。
详细描述
显微镜法的基本原理是将粉末样品制备成薄片,然后通过显 微镜观察并测量每个颗粒的尺寸,包括长度、宽度和高度。 显微镜法可以提供较为准确的粉末粒度分布数据,尤其适用 于测量形状不规则的粉末颗粒。
沉降法
总结词
沉降法是一种通过观察粉末在液体中的 沉降速度来测量其粒度分布的方法。
VS
详细描述
沉降法的基本原理是将粉末样品置于悬浮 液中,通过搅拌使粉末均匀分散在液体中 ,然后观察粉末颗粒在重力作用下的沉降 速度。通过测量沉降速度,可以推算出粉 末颗粒的粒度分布。沉降法适用于测量较 细的粉末颗粒,但需要较为复杂的实验装 置和数据处理过程。

显微镜法测试粉体粒度粒度分布及形貌 1

显微镜法测试粉体粒度粒度分布及形貌 1

实验二显微镜法测试粉体粒度、粒度分布及形貌一、目的意义显微镜就是少数能对单个颗粒同时进行观测与测量的方法。

除颗粒大小外,它还可以对颗粒的形状(球形、方形、条形、针形、不规则多边形等)、颗粒结构状况(实心、空心、疏松状、多孔状等)以及表面形貌等有一个认识与了解。

因此显微镜法就是一种最基本也就是最实用的测量方法,常被用来作为对其她测量方法的一种校验甚至确定的方法。

本实验的目的:通过使用生物显微镜观察粉末的形状与粒度掌握:1、制样方法及计算方法2、数据处理3、粒度分布曲线的描绘二、方法实质生物显微镜就是透光式光学显微镜的一种。

用生物显微镜法检测粉末就是一般材料实验室中通用的方法。

虽然计算颗粒数目有限。

粒度数据往往缺乏代表性,但它就是唯一的对单个颗粒进行测量的粒度分析方法。

此法还具有直观性可以研究颗粒外表形态。

因此称为粒度分析的基本方法之一。

测试时首先将欲测粉末样品分散在载玻片上。

并将载玻片置于显微镜载物台上。

通过选择适当的物镜目镜放大倍数与配合调节焦距到粒子的轮廓清晰。

粒径的大小用标定过的目镜测微尺度量,样品粒度的范围过宽时,可通过变换镜头放大倍数或配合筛分法进行。

观测若干视场,当计数粒子足够多时,测量结果可反映粉末的粒度组成,进而还可以计算粉末平均粒度。

三、仪器与原材料物镜测微尺、标准测微尺、生物显微镜、分散剂(酒精、环乙醇等)、玻璃棒、吸管粉末试样(雾化粉、电解粉)四、测试方法1、显微镜使用前的准备将目镜测微尺放入所选用的目镜中,并将目镜与物镜安装在显微镜上,将标准测微尺(每小格10微米)置于载物台上通过旋转公降螺钉(注意:不得使物镜接触载玻片1),调节焦距标定目镜测微尺一格比代表的长度(u)。

2、样品的制备用显微镜测试的粉末应经过筛分,否则由于粉末粒度范围过宽,测试中需经常更换物镜或目镜,不仅造成测试工作的不便而且由于视场范围的变化引起测试的不准确。

粉末样品由于具有发达的表面积,因而有较高的表面能,使粉末颗粒产生聚集,形成团块,影响粉末粒度的测定,所以制样过程中应使颗粒聚集体分散成单个颗粒,一般就是将少量粉末样品(0.01克左右)放置在干净的载玻片上,滴上数滴分散介质,用另一干净载玻片覆盖其上。

金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法

金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法

金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法1. 介绍金属及其化合物粉末的费氏粒度是一个重要的物理特性,对于材料的性能和应用具有重要影响。

本文将详细介绍几种常见的测定方法。

2. 方法一:莫耳积分法•利用费氏法则:耗用的金属或化合物质量与粉末的表面积成正比关系。

•测定粉末的表面积:通过测量粉末的氮吸附值计算出粉末的等价表面积。

•通过莫耳积分法可以算得金属或化合物的费氏粒度。

3. 方法二:电子显微镜法•利用扫描电子显微镜(SEM)观察粉末的形貌和大小。

•将粉末样品放置在SEM装置中,利用电子束与样品进行相互作用。

•SEM能够提供粉末颗粒的形貌和分布情况,从而判断费氏粒度的大小。

4. 方法三:层析法•利用层析法可以通过粉末的沉降速度来测定其费氏粒度。

•将粉末悬浮在溶液中,根据粉末的密度和粘度的不同,粉末颗粒在溶液中的沉降速度也不同。

•通过测量粉末样品在不同时间下的沉降高度,可以计算出费氏粒度。

5. 方法四:X射线衍射法•利用X射线衍射可以测定物质的晶体结构和晶格常数。

•将粉末样品置于X射线衍射仪器中,经过X射线的照射后,样品会产生衍射图谱。

•根据衍射图谱,可以通过经验公式计算出粉末的费氏粒度。

6. 方法五:激光粒度分析法•利用激光粒度仪器可以测量粉末样品中颗粒的大小和分布。

•激光粒度仪器通过激光光束照射样品,并测量散射光强度的变化。

•根据散射光强度的变化,可以计算出粉末的费氏粒度。

7. 总结本文介绍了金属及其化合物粉末费氏粒度的几种常见测定方法:莫耳积分法、电子显微镜法、层析法、X射线衍射法和激光粒度分析法。

每种方法都有其适用的情况,选择合适的方法可以有效评估粉末的费氏粒度。

在实际应用中,可以根据具体要求和设备条件选择适合的方法进行测定。

8. 方法一:莫耳积分法莫耳积分法是测定金属及其化合物粉末费氏粒度的一种常用方法。

该方法基于费氏法则,即耗用的金属或化合物质量与粉末的表面积成正比关系。

费氏法测定粉末的平均粒度

费氏法测定粉末的平均粒度

V
=
M
ρ
ε= 1 - V (1 - ε)
(11) (12)
D = DV
ε (ε
)
3/
2
(13)
式中 V ———粉末试样固体体积 , cm3 ; ε ———在读数板上直接读出的 孔 隙
率; D ———在读数板上直接读出的粒度
值 , μm。
3 测量仪器
费氏仪由空气泵 、稳压管 、样品管 、压 力计 、针形阀和粒度读数板等部件组成 , 见 图 2。
于粉末的有效密度 , 即 M =ρ, 则式 (3) 可
简化成式 (6) 。
ε= 1 -
1 AL
(6)
把式 (6) 代入式 (5) 中 , 则 :
D=
(
AL
CL - 1)
3/
2
·
F P- F
(7)
212 粒度读数板的绘制
费氏法的平均粒度值可从预先绘制的粒
度读数板上直接读取 , 不需作任何计算 , 这 就是费氏法的独到之处 。
- ε)
D2
(9)
当试样横断面积 A 、仪器常数 C 和试样
· 4 4 · 粉末冶金工业 第 9 卷
前空气的压力 P 被确定后 , 可按式 (9) 绘 制一组以孔隙率为横坐标 , F/ 2 为纵坐标的
等粒度曲线 。
把试样高度曲线和等粒度曲线绘制在同
粉末粒度的具体测量过程参见 GB3249 - 82[2] 。每台仪器都配有一个红宝 石 标 准 管 , 其上标有规定孔隙率下的高低档值 。高 档值用于标定较细粉末的测定 , 即 0120~ 20μm 范围粉末的测定 ; 低档值用于标定较 粗粉末的测定 , 即 20~50μm 范围粉末的测 定。

2 粉末的性能及其测定

2  粉末的性能及其测定

2.2.2 取样和分样
如果是在连续流动出料时取样,则在垂直于粉流方向上,等
速地用大干粉流截面的矩形取样器贯穿粉末流即可。取出的粉 末注入总样容器内,用分样器进行分样。以达到测定粉末性能 所要求的粉重。
2.2.3 化学检验
(1)主要成分的含量 (2)其它成分,包括杂质的含量
(1)与主要金属结合,形成因溶体或化台物的金属或非金属成分、如还原铁 粉中的硅、锰、碳、硫、磷、氧等; (2)从原料和从粉末生产过程中带入的机械夹杂,如二氧化硅、氧化铝、硅 酸盐、难熔金属碳化物等不溶物; (3)粉末表面因吸附的氧、水蒸气和其它气体(氮、二氧化碳); (4)制粉工艺带进的杂质,如水溶液电解粉末中的氢,气体还原粉末中溶解 的碳、氮和氢,羰基粉末中溶解的碳等。
垂直投影法
2.5.1 粒度和粒度组成
(2)当量粒径de:用沉降法、离心法或水利学方法(风筛法,水筛法)
测得的粉末粒度称为当量粒径。当量粒径中有一种斯托克斯径,其物理意义 是与被测粉末具有相同沉降速度且服从斯托克斯定律的同质球形粒子的直径。 由于粉末的实际沉降速度还受颗粒形状和表面状态的影响,故形状复杂、表 面粗糙的粉末,斯托克斯径总比按体积计算的几何学名义径小。
网筛标准则因各国制定的标准不同,网丝直径和筛孔大小也不一样。
目前,国际标准采用泰勒筛制。
习惯上以网目数(简称目)表示筛网的孔径和粉末的粒度。所谓目数是
指筛网1英寸(25.4mm)长度上的网孔数。目数愈大,网孔愈细。
泰 勒 标 准 筛 制
2.5.2 粉末粒度的测定方法
(2) 显微镜法
在实际应用中,光学显微镜的粒度测量范围是0.8~150μm,再小的粉
2. 3 颗粒形状
规则形状的颗粒外形可近似地用某种几何形状地名称描述,它们与粉末生产 方法密切相关

小角散射法测定纳米粉末粒度的比对实验

小角散射法测定纳米粉末粒度的比对实验

现代测量与实验室管理2008年第6期 文章编号:1005-3387(2008)06-0003-05小角散射法测定纳米粉末粒度的比对实验王荷蕾 王孝平(国家纳米科学中心,北京 100190)摘 要:对纳米粒度的检测是纳米技术领域的重要研究内容之一。

不同实验室之间的小角散射测试比对有助于了解和掌握目前国内对纳米级颗粒的检测能力和检测水平。

本次比对实验共有9家单位的10台仪器参与,实验结果表明利用X射线小角散射法测量纳米粒径是可靠的,参与比对的各实验室目前的检测水平完全可以为相关科研单位或生产厂家提供准确可信的纳米粒度检测结果。

本次比对实验也为各单位进一步提高对纳米粒度的检测能力和完善对纳米粒度检测手段和方法提供了依据。

关键词:小角散射;纳米粒度;比对实验中图分类号:T B921 文献标识码:A0 引言纳米检测技术和方法是新兴的、高度交叉的纳米科学技术的一项重要的研究内容。

纳米材料的测量涉及到很多方面,比如说粒径大小、材料的光学性能和电学性能等。

颗粒的粒径大小是衡量一种材料是否属于纳米材料的一个重要标志。

纳米级长度的测量目前还缺乏相应的规范和标准,因此,怎样更好、更精确地测得纳米粒径的大小、并考察仪器测量的可靠性是一个倍受关注的话题。

为规范和提高我国纳米粒径检测技术水平,中国合格评定国家实验室委员会(CNAS)纳米专业委员会、国家纳米科学中心和钢铁研究总院联合开展了纳米检测技术实验室间的比对工作。

其中,对纳米级粉末粒度的分析选择了X射线小角散射方法(S AXS),选择9家单位10台仪器参加了此次比对实验,实验结果基本代表了国内在该检测领域的现有水平。

本文将对此次比对实验的结果进行总结和分析,通过阐述测量结果的不确定度与仪器本身或其它测量因素之间的关系来初步了解国内S AXS的发展现状和参与比对的实验室的检测水平。

1 实验方法实验室间的比对一般是指使用相同或类似的检测标准或方法并利用同一类检测仪器对提供的同种样品进行检测和比较。

金属粉末 干筛分法测定粒度-最新国标

金属粉末 干筛分法测定粒度-最新国标

金属粉末干筛分法测定粒度1范围本文件规定了测定金属粉末粒度分布的干筛分法。

本文件适用于干的、不含润滑剂的金属粉末。

本文件不适用于形状明显不等轴的(如片状)金属粉末及颗粒尺寸全部或大部分小于45μm的金属粉末。

2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用构成本文件必不可少的条款。

其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件。

不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

ISO565试验筛金属丝编织网、穿孔板及电成型薄板筛孔的公称尺寸(Test sieves—Metal wire cloth,perforated metal plate and electroformed sheet—Nominal sizes of openings) ISO2591-1筛分试验第一部分:金属编织网和金属穿孔板筛分试验的使用方法(Testsieving—Part1:Methods using test sieves of woven wire cloth and perforated metal plate) ISO3310-1试验筛技术要求和试验第一部分:金属钢丝网试验筛(Test sieves—Technical requirements and testing—Part1:Test sieves of metal wire cloth)3术语和定义本文件没有需要界定的术语和定义。

4原理通过震动按筛孔尺寸大小依次组合的一套试验筛,将金属粉末分成不同的筛分粒级。

称量每层筛上和底盘上的粉末组分量。

5设备5.1标准套筛5.1.1非磁性金属丝网标准套筛具有不同的公称孔径,每个筛网均装在非磁性的金属筛框上,筛框的公称直径为200mm,公称深度为25mm~50mm。

注:ISO3310-1中规定的公称深度为50mm或25mm。

5.1.2试验筛由彼此能够紧密地套在一起的筛框、顶盖和底筛下面的底盘组成。

粒度和粒度分布测定法操作规程

粒度和粒度分布测定法操作规程

1.目的:建立粒度和粒度分布测定法操作规程,规范粒度和粒度分布测定法的操作。

2.范围:本公司产品、中间体的检验。

3.责任:QC 检验员。

4.内容:4.1简介:4.1.1本法用于测定原料药和药物制剂的粒子大小或粒度分布。

其中第一法、第二法用于测定药物制剂的粒子大小或限度,第三法用于测定原料药或药物制剂的粒度分布。

4.2第一法 (显微镜法)本法中的粒度,系指显微镜下观察到的长度表示。

4.2.1目镜测微尺的标定用以确定使用同一显微镜及特定倍数的物镜、目镜和镜筒长度时,目镜测微尺上每一格所代表的长度。

将镜台测微尺置于显微镜台上,对光调焦,并移动测微尺于视野中央;取下目镜,旋下接目镜的目镜盖,将目镜测微尺放入目镜筒中部的光栏上(正面向上),旋上目镜盖后返置镜筒上。

此时在视野中可同时观察到镜台测微尺的像及目镜测微尺的分度小格,移动镜台测微尺和旋转目镜,使两种量尺的刻度平行,并令左边的“0”刻度重合;寻找第二条重合刻度,记录两条刻度的读数;并根据比值计算除目镜测微尺每小格在该物镜条件下所相当的长度(μm ),由于镜台测微尺每格相当于10μm ,故目镜测微尺每小格的长度为:格数相重区间目镜测微尺的格数相重区间镜台测微尺的 10 当测定时要使用不同的放大倍数时,应分别标定。

4.2.2测定法取供试品,用力摇匀,粘度较大者可按各品种项下的规定加适量甘油溶液(1→2)稀释,照该剂型或各品种项下的规定,量取供试品,置载玻片上,覆以盖玻片,轻压使颗粒分布均匀,注意防止气泡混入。

半固体可直接涂在载玻片上,立即在50~100倍显微镜下检视盖玻片全部视野,应无凝聚现象,并不得检出该剂型或各品种项下规定的50μm及以上的例子。

再在200~500倍的显微镜下检视该剂型或各品种项下规定的视野内的总粒数及规定大小的粒数,并计算其所占比例(%)。

4.3第二法(筛分法)4.3.1.1筛分法一般分为手动筛分法、机械筛分法与空气喷射筛分法。

手动筛分法和机械筛分法适用于测定大部分粒径大于75μm的样品,则应采用空气喷射筛分法或其他适宜的方法。

0982 粒度和粒度分布测定法

0982 粒度和粒度分布测定法

粒度和粒度分布测定法是颗粒物料分析中非常重要的一个主题。

随着科学技术的飞速发展,人们对颗粒物料分析的需求越来越高,粒度和粒度分布测定法也成为了各行各业的重要研究内容。

本文将从浅入深地探讨粒度和粒度分布测定法,帮助读者更全面地理解这一主题。

一、粒度和粒度分布测定法概述粒度是指颗粒物料的颗粒大小分布特征,而粒度分布则是指颗粒物料中各种粒径颗粒的数量分布情况。

粒度和粒度分布的测定对于分析颗粒物料的特性、质量和性能具有重要意义。

在工程领域、冶金学、地质学、化工等许多领域,粒度和粒度分布的测定都扮演着至关重要的角色。

二、粒度和粒度分布的测定方法1. 机械分析法机械分析法是一种用筛分析方法确定颗粒物料粒度和粒度分布的常用方法。

通过将颗粒物料通过不同孔径的筛网进行筛分,然后根据通过和滞留在各个筛孔内的颗粒数量来确定颗粒物料的粒度和粒度分布情况。

2. 湿式分析法湿式分析法是一种通过颗粒在液体中的沉降速度来确定颗粒物料的粒度和粒度分布的方法。

常用的湿式分析方法有沉降法和悬浮液法,通过测定颗粒在液体中的沉降速度或者在悬浮液中的分级情况来推断颗粒的粒度和粒度分布。

3. 光学分析法光学分析法是利用光学原理来确定颗粒物料的粒度和粒度分布的方法。

光学分析法可以通过显微镜、激光粒度仪等设备,观察颗粒的形态、大小和分布情况,从而得到颗粒的粒度和粒度分布数据。

4. 分析仪器法分析仪器法是利用一些粒度分析仪器来测定颗粒的粒度和粒度分布的方法。

常用的仪器有粒度分析仪、激光粒度仪等,这些仪器能够快速准确地获得颗粒物料的粒度和粒度分布数据。

三、个人观点粒度和粒度分布的测定对于颗粒物料的研究和生产具有非常重要的意义。

通过粒度和粒度分布的测定,可以更深入地了解颗粒物料的特性,为产品的改进和优化提供重要依据。

随着科学技术的不断进步,粒度和粒度分布测定法的方法也在不断创新和完善,为颗粒物料分析提供了更多选择和可能性。

总结回顾本文从粒度和粒度分布的概念、测定方法和个人观点三个方面对粒度和粒度分布的测定进行了探讨。

No.3-粉体粒度测试技术3

No.3-粉体粒度测试技术3

流经的时间增加)。
5. 一分散性良好的粉末用光学显微镜观察,平均粒度为13μm,用沉降天平分析平 均粒度为28μm,讨论造成如此差别的原因。 6. 10克+325-270目铁粉,大约有多少个粉末颗粒,表面积有多大,铁理论密度为
7.86 g/cm3。
36
1.4 纳米粉体的分散
纳米粉体为何需要分散?
50~1.0 10~0.05 20~0.001 50~0.2 10~0.001 0.05~ 0.0001
质量分布 同上 比表面积平均径 同上 体积分布 体积分布
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思考题二:
1. 使用200g粉末测量粒度(Ni粉),测得平均粒度为120μm,估算在这一粉体样 品中大约有多少颗粉末(Ni(ρ)=8.9g/cm3) 2. 对于边长为3μm的立方形颗粒:a. 它的当量球形表面直径是多少?b. 它的当量球 形体积直径是多少? 3. 粉末的何种性质造成透过法测量表面积和吸附法测量表面积的差异? 4. 解释:当振实密度对松装密度的比值增加时,为什么会增加在Hall流速仪中测定 的流经时间?(松装密度小,粉末形状,振实密度相对于松装密度之比增加,所需
粉体粒度测试技术
上节知识回顾
• 1.3 粉末粒度测试技
• 1.3.3 激光粒度法
2
激光粒度分布仪工作原理
大颗粒的散射角小
小颗粒的散射角大
激光粒度分布仪工作原理
蓝光光源
样品池
焦平面检测器
He-Ne 激光
背向散射检测器
侧向散射检测器
应用软件-背景测量
测量完成,查看数据
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Particle Size Distribution
– 按粉末的真密度称出试样,精确到0.01Og〈几 种常测粉末实际所用的真密度见附录〉,将试 样倒入装有多孔塞和滤纸的干净的试样管中 。 – 移动读数板,使孔隙度指示针指在预定压制的 孔隙度位置。将装有试样的试样管移到仪器 的齿条下进行压实,直至粒度指示针与试样高 度线重合。记录孔隙度指示针所指示的孔隙 度,此后不得触动读数板。
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粉末材料粒度测定是一个很复杂的问题,因为粒度的定义本身就不确定,没有那一本书能给出粒度的权威概念,这是因为对于一个球形的颗粒,我们可以用其直径来表示其大小,对一个立方体,我们可以用其棱长来表示其大小,对一个圆锥体,我们可以用其底面直径和其高两个尺寸来表示其大小,对长方体,就得用其长、宽、高三个尺寸来表示其大小。

对一个任意形状的颗粒就很难表征其大小。

一般都采用一个与该颗粒具有某种等效效应的颗粒的直径来表示该不规则颗粒的粒径大小。

ISO国际标准化组织也是以下标表示粒度划分的基准,比如下标是1表示以长度为基准(或者是为权重)来划分例,如以机械力为驱动力的筛分析,以2来表示以面积为基准来划分,比如各种沉降的方法,BET法等等,以3来表示以等效体积球或者是等效质量的球为基准来划分,ISO国际组织还有一个在几种方法之间进行转化的讨论,但是这种划分本身就是无奈之举,因为不同的划分依据本身就是混乱的,现实中的颗粒基本都是不规则的,对于一个外形不规则颗粒的描述最详尽的办法就是三维尺度的描述,但是对于一个颗粒体系来说三维尺度的描述是不可能办到的,而且颗粒外形一般都不是有规律的。

对于同一样品不同次数的取样,结果也不一样,这就造成了各种测试方法之间的结果不能彼此很好的一一对应,经常听见颗粒测试仪器厂家之间为此的彼此攻击和谩骂,甚至于同一测试方法的不同厂家之间也是如此互相攻击。

所以颗粒体系的测量应该是基于统计学理论,以样本为依据,对真实情况进行逼近,目前以各种手段想得到一个粉末体系的真实粒度分布是不可能的。

纳米粉末的粒度分布的测定来说,有很多种方法。

举例来说,1结合图像分析仪的扫描电镜或者是透射电镜,2光子相关谱法(动态激光散射法),3X射线小角散射法(文中包括同步辐射为光源的SA XS和中子小角散射法)4离心沉降法,X射线离心沉降法,5比表面积法(BET),6拉曼(Raman)散射法,7 探针扫描显微镜,8X射线衍射峰宽化法(谢乐公式)。

这里先要澄清一个概念,对于金属材料或者是陶瓷材料来说,颗粒度是一个比晶粒度大的概念,一般来说,一个颗粒里面可能包含几个晶粒,而一个晶粒一般要小于等于所在颗粒的尺寸。

由于X射线衍射线线宽化法(谢乐公式)是晶粒度的测量,不是本文要讨论的颗粒度,所以不与详细讨论。

目前只有磁流体的是一个晶粒基本就是一个颗粒,磁流体依据谢乐公式的晶粒度测量可以是说明了其颗粒度的大小的,目前未听说其它材料也是这种情况。

/A-sdjcxy200503006.htmlhttp://w /article/a rticle.php/10589/v iew/950063.htmlhttp://w /?v iew thread-21070.html1. 透射电镜和扫描电镜是一种很经典,很传统的做法,具有直观、可靠的绝对尺度测定,原先一般认为透射电镜的分辨率高于扫描电镜,但现在好的扫描电镜分辨率也是很高,也可以达到10nm以下的。

对于纳米颗粒,透射电镜可以观察其大小、形状,还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度,透射电子显微镜或者是扫描电子显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计,分门别类给出粒度分布。

如果将颗粒进行包埋、镶嵌和切片减薄制样,还可以对颗粒内部的微观结构作进一步地分析。

比如北科大的方克明老师就发现一些碳纳米管的内部其实是碳纳米棒,但是这与操作人员的制样水平很有关系。

当对于所检测的样品清晰成像后,还有一个测量和统计的问题。

一种作法是选取足够多的视场进行照相,获得数百乃至数千个颗粒的电镜照片,再将每张照片经扫描进入图象分析仪进行分析统计。

按标准刻度计算颗粒的等效投影面积直径,同时统计落在各个粒度区间的颗粒个数。

然后计算出以个数为基准的粒度组成、平均粒度、分布方差等,并可输出相应的直方分布图。

在应用软件中还包括个数分布向体积分布转换的功能,往往将这两种分布及相关的直方图和统计平均值等都出来。

该方法的优点是直观,而且可以得到颗粒形状信息,缺点是要求颗粒要处于良好的分散状态,另外,由于用显微镜观测时所需试样量非常少,所以对试样的代表性要求严格。

因此取样和制样的方法必须规范;而且要对大量的颗粒的粒径进行统计才能得到粒度分布值或平均粒径。

http://w ww.bjy /jcxx/dx/200244.shtmlhttp://w ww.hbh-ky /instrume ... rumentID=0000000898http://comm.dangda /rev iew/782180.html2光子相关谱法(动态激光散射法)是目前最为主要的纳米材料体系粒度分析方法,主要测量微粒在液体中的扩散系数来测定颗粒尺寸。

微粒在溶剂中形成分散系时,由于微粒作布朗运动导致粒子在溶剂中扩散,扩散系数与粒径满足爱因斯坦关系,由此可知,只要知道溶剂(分散介质)的黏度η,分散系的温度T,测出微粒在分散系中的扩散系数D就可求出颗粒粒径d.当激光照射到作布朗运动的粒子上时用光电倍增管测量它们的散射光,在任何给定的瞬间这些颗粒的散射光会叠加形成干涉图形,光电倍增管探测到的光强度取决于这些干涉图形.当粒子在溶剂中作混乱运动时,它们的相对位置发生变化,这就引起一个恒定变化的干涉图形和散射强度.布朗运动引起的这种强度变化出现在微秒至毫秒级的时间间隔中,粒子越大粒子位置变化越慢,强度变化(涨落)也越慢.光子相关谱的基础就是测量这些散射光涨落,根据在一定时间间隔中这种涨落可以测定粒子尺寸.由于金属陶瓷粉体在水中的分散比较困难,一些大分子蛋白在以水为液体中可以很好的分散,因此一般来说这种方法的纳米级粒度测量大分子蛋白等生物或生化研究的效果要远远优于金属或者陶瓷的粉体研究。

一些纳米级的大分子蛋白还可以给出纳米级别的粒度分布。

当一束波长为λ的激光照射在一定粒度的球形小颗粒上时,会发生衍射和散射两种现象,通常当颗粒粒径大于10λ时,以衍射现象为主;当粒径小于10λ时,则以散射现象为主。

一般,激光衍射式粒度仪仅对粒度在5 ųm以上的样品分析较准确;而动态光散射粒度仪则对粒度在5 ųm以下的纳米、亚微米颗粒样品分析准确。

要求颗粒为球形、单分散,而实际上被测颗粒多为不规则形状并呈多分散性。

因此,颗粒的形状、粒径分布特性对最终粒度分析结果影响较大,而且颗粒形状越不规则、粒径分布越宽,分析结果的误差就越大。

激光粒度分析法具有样品用量少、自动化程度高、快速、重复性好并可在线分析等优点;缺点是这种粒度分析方法对样品有一定的要求,特别是由于分散性的原因,对非生化研究中的浓度有较大限制,一些研究不能分析高浓度体系的粒度及粒度分布,比如高浓度的水泥粉尘,分析过程中需要稀释,从而带来一定的误差。

同时在利用激光粒度仪对体系进行粒度分析时,必须对被分析体系的粒度范围事先有所了解,否则分析结果将不会准确。

http://w /dy/zjlt/2007-11-13/200711131328364790.htmhttp://w /A rticle/show/1281.html3.这些方法中争议最大的就是SA XS方法了。

http://w /Literature/v iew.asp?ID=6476SA XS已经有了相关的国家标准和国际标准,并且都已经颁布实行了,但是学术界涛声依旧,纷争依旧,但是这也是一种好现象,没有争执就没有进步。

关于SA XS的原因许顺生先生说了一句很权威的话,就是SA X S是发生于000节点附近的散射。

关于这句话也有个别人有不同意见。

有人说X射线小角散射(SA X S)系发生于原光束附近0~几度范围内的相干散射现象,物质内部1至数百纳米尺度的电子密度的起伏是产生这种散射效应的根本原因,因此SA XS技术可以用来表征物质的长周期、准周期结构以及呈无规分布的纳米体系。

这句话写在国家标准和国家标准上了,但是这句话不正确。

首先,SA X S是一种不相干的弹性散射,的确也是000原子坐标附近的散射,但是1.0~几百nm的尺寸是人为划分的,这与SA XS现象的确定发生无关。

对于高分子来说,由于其对称反演旋转的关系极其复杂,所以其000节点的确定不如金属陶瓷材料那样明确和容易,可以用电子密度起伏来说事情,但是许先生的话没有逻辑错误,因为我们关注的是000节点附近的事情。

同理原子内部的电子云密度变化也可以引起小角散射,研究尺寸就不在这个尺度范围,小于1纳米,倒易的角度也不是小角,但是性质是小角散射,我们对此一般不关注。

相对周全的话可以这样说,SA XS技术可以用来研究关注对象尺寸在1.0~几百nm范围内的各种微小粒子(或电子密度变化)。

由于电磁波的所有散射现象都遵循着反比定律(倒易关系),即相对一定x射线波长来说,被辐照物体中我们所关注所要研究的对象的结构特征尺寸越大则散射角越小.因此,当x射线穿过与本身的波长相比具有较大结构特征尺寸的高聚物和生物大分子体系时,散射效应皆局限于小角度处。

X射线小角散射的本质是在靠近原光束附近很小角度内电子对x射线的漫散射现象,依据倒易关系理解为在倒易点阵原点(000节点)附近处电子对x射线的散射现象,表现为样品内部电子密度起伏所产生的x射线散射图样,这就是小角X射线散射现象。

中子散射的原因不是电子产生的,散射产生的原因是原子核产生的,产生的机理与SA XS不同,但是求解的算法往往很类似,所以经常混为一谈。

小角散射和广角散射没有明显的连续性,有理由认为0~180度的信息都可以用来进行结构分析的。

对于脂肪酸盐和蛋白质晶体在小角度范围内的衍射同样是由于晶体的周期性为内因,电磁波与电子相互作用为外因,散射相干而在谱图上形成的衍射峰。

只是这些晶体的单胞尺寸远远大于小分子晶体,所以被称为小角度衍射。

这就是小角散射和小角衍射的区别。

非晶玻璃和SiO2凝胶在广角区域的X射线谱图没有什么明显的区别,但是凝胶被分散成为亚微尺寸的小颗粒,所以凝胶在小角区域出现强散射,而非晶玻璃没有。

同样观点也适用于中子小角度散射的研究,中子衍射,中子小角散射,还有中子小角衍射的概念与之雷同。

分析小角散射图样能够得到物质的长周期结构信息或者亚微粒子(或孔)的形状、尺度或质量信息。

小角散射对于分析漫散性物体的空间相关性是一个极其强有力的技术或工具,比如说是高聚物链和溶液中的大分子。

高聚物是由大量的单元构成的,每一个单元被看成是一个散射单元。

相关文献见des C loizeaux and Jannink,1987和de Gennes,1979。

关于小角散射的设备,Russell,1991对不同的小角散射装置进行了描述。

作SA XS实验时,有一点要注意,就是要“消畸变”处理,这在国家标准和国际标准中没有提到。

典型的中子小角散射和同步辐射因为是点光源不用消除线光源所带来的畸变。

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