《材料现代测试分析技术》研究生用共21页

材料现代分析测试方法1-1

L-S耦合
称总自旋量子数，表征的大小。称总自旋量子数，表征PS的大小。称总（轨道）角量子数，表征P 的大小。称总（轨道）角量子数，表征 L的大小。称内量子数（或总量子数），表征P 的大小，），表征称内量子数（或总量子数），表征 J的大小，为正整数或半整数，取值为：为正整数或半整数，取值为：L+S，L+S-1，，， L+S-2，…，│L-S│，，，，个值；若L≥S，则J有2S+1个值；，有个值个值。若L＜S，则J有2L+1个值。＜，有个值 MJ 称总磁量子数，表征 J沿外磁场方向分量大小，称总磁量子数，表征P 沿外磁场方向分量大小， MJ 取值为：0，±1，±2，…，±J（当J为整数时）取值为：，为整数时），，，（为整数时或±1/2，±3/2，…，±J（当J为半整数时）。，，，（为半整数时）。为半整数时 S L J J
L-S耦合可记为：耦合可记为：
）（l ）＝（S，）＝）＝J （s1，s2， …）（ 1，l2， …）＝（，L）＝）（）＝（将各电子自旋角动量（将各电子自旋角动量（Ps1，Ps2，…）与各电）子轨道角动量（子轨道角动量（ Pl1 ， Pl1 ， …）分别加和（矢量）分别加和（获得原子的总自旋角动量和），获得原子的总自旋角动量PS和总轨道角动量 PL，然后再由PS与PL合成总（自旋-轨道）角动量PJ 合成总自旋-轨道）（即P J＝P S＋P L）。耦合，按L-S耦合，得到S、L、J、MJ等表征原子运动状态的原子量子数。状态的原子量子数。
或任意正整数； 1）主量子数变化Δn＝0或任意正整数；主量子数变化Δ 2）总角量子数变化ΔL＝±1；总角量子数变化Δ 3）内量子数变化ΔJ＝0，±1（但J＝0时，ΔJ＝0的跃内量子数变化Δ 迁是禁阻的）；迁是禁阻的）； 4）总自旋量子数的变化ΔS＝0。总自旋量子数的变化Δ

材料现代测试分析技术

以测试方法和仪器的突破为先导，“在诺贝尔物理和化学奖中，大约有四分之一是属于测试方法和仪器创新的”
材料分析是如何实现的？
通过对表征材料的物理性质参数及其变化（称为测量信号或特征信息）的检测实现的。即，材料分析的基本原理是指测量信号与材料成分、结构等的特征关系采用各种不同的测量信号（相应地具有与材料的不同特征关系）形成了各种不同的材料分析方法
能级跃迁类型
吸收或发射辐射种类
原子核能级
γ 射线
电子能级跃迁 (低能级到高能级)
X射线
价电子能级跃迁 (低能级到高能级)
紫外线、可见光
分子电子能级跃迁 (低能级到高能级)
紫外线、可见光
分子振动能级跃迁 (低能级到高能级)
红外线
电子自旋能级（磁能级）微波跃迁
原子核磁能级跃迁
射频
电子能级跃迁
荧光
价电子能级跃迁 (高能级到低能级)
四、光谱的分类
按辐射与物质相互作用性质
吸收光谱
发射光谱
散射光谱
…….. X
按的发物
按谱域
生质
作微
红
用粒
外
光
原子光谱分子光谱谱
紫外光谱
可见光谱
射线谱
按强度对波长的分布特点
钠蒸气吸收光谱苯蒸气吸收光谱
氢原子发射光谱氰分子发射光谱
线光谱带光谱
连续光谱
吸收与发射光谱分类
光谱分类名称
紫外线、可见光
价电子能级跃迁 (高能级到低能级)
紫外线、可见光 (原子荧光)
分子能级
紫外线、可见光 (分子荧光)
分子能级
紫外线、可见光 (分子磷光)
备注

南京工业大学材料学院材料现代分析测试技术经典完整版资料

第一章 X射线衍射分析一、X射线的性质：1、本质是电磁波0.01~1000A. 介于紫外线和r射线之间，没有明显的分界线。

2、波粒二象性：E=h c/λ；p=h/λ，都具有波动和粒子的双重性。

二、X射线的获得1、获得条件：a产生并发射自由电子b 在真空中迫使电子朝一定的方向加速，以获得尽可能高的速度c 在高速电子流运动的方向设一障碍、使高速运动电子突然受阻而停止2、射线的获得仪器：X射线机，同步辐射X射线源，放射性同位素X 射线源三、X射线谱：a连续X射线谱（白色x射线谱）：从某个最大波长（称之为短波极限）开始的连续的各种同波长的x射线；极限波长λ0=hc/ev，取决于管电压、管电流、原子序数）b特征X射线谱（标识x射线谱）：若干个特定波长的X射线，取决于靶材料，根本原因是原子内层电子的跃迁四、X射线与物质的相互作用:a：一部分光子由于与原子碰撞改变方向，造成散射线。

b：另一部分光子可能被原子吸收，发生光电效应。

c：部分光子能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子，成了热振动能量产生的结果：产生了散射X射线、电子、荧光X射线、热能。

主要应用：（荧光X射线光谱分析，X射线光谱分析、X光电子能谱分析、X射线衍射分析）1、散射现象（分为相干散射和不相干散射）a：相干散射(X射线散射线的波长与入射线相同，并且有一定的相位关系，它们可以相互干涉形成衍射图样，称为相干散射)b：不相干散射（X射线光子与自由电子撞击时，光子的部分能量损失，波长变长，因此与入射光子形成不相干散射）2、光电吸收（光电效应）：当X射线的波长足够短的时候，其光子的能量大，以至于可以把原子中处于某一能级上的电子打出来，而它本身则被吸收。

它的能量传递给该电子，使之成为具有一定能量的光电子，并使原子处于高能的激发态五、X射线的吸收及应用1、强度衰减规律：当X射线穿过物体时，其强度按指数下降I=I0 e-u1x （u1是线吸收系数）与吸收体的密度原子序数Z及X 射线波长有关I=I0 e-u mÞx （u m 是质量吸收系数）只与吸收体原子序数和X射线波长有关结论：X射线波长越短，吸收体原子越轻（Z越小），则透射线越强。

材料现代分析与测试技术资料

X射线衍射分析（基础与应用）一?X射线的特性人的肉眼看不见X射线，但X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。

? X射线呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。

? X射线对动物有机体（其中包括对人体）能产生巨大的生理上的影响，能杀伤生物细胞。

二.X射线具有波粒二相性1. X射线的本质是电磁辐射，与可见光完全相同，仅是波长短而已，因此其同样具有波粒二象性。

波动性：? 硬X射线：波长较短的硬X射线能量较高，穿透性较强，适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。

? 软X射线：波长较长的软X射线能量较低，穿透性弱，可用于非金属的分析。

? 三.X光与可见光的区别? 1） X光不折射，因为所有物质对X光的折光指数都接近1。

因此无X光透镜或X光显微镜。

? 2） X光无反射? 3） X光可为重元素所吸收，故可用于医学造影。

1.3 X射线的产生及X射线管X射线的产生：X射线是高速运动的粒子（一般用电子）与某种物质相撞击后猝然减速，且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。

产生原理X射线是高速运动的粒子（一般用电子）与某种物质邙日极靶）相撞击后猝然减速，且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。

高速运动的电子与物体碰撞时，发生能量转换，电子的运动受阻失去动能，其中一小部分（ 1 %左右）能量转变为X射线，而绝大部分（99 %左右）能量转变成热能使物体温度升高。

产生X射线条件? 1•产生自由电子；? 2•使电子作定向的高速运动（阴极阳极间加高电压）；? 3•在其运动的路径上设置一个障碍物（阳极靶）使电子突然减速或停止。

? 阴极一一发射电子。

一般由钨丝制成，通电加热后释放出热辐射电子。

? 阳极一一靶，使电子突然减速并发出X射线。

窗口一一X射线出射通道。

既能让X射线出射，又能使管密封。

窗口材料用金属铍或硼酸铍锂构成的林德曼玻璃。

窗口与靶面常成3-6 °的斜角，以减少靶面对出射X射线的阻碍。

材料现代分析测试方法优选全文

(5)黍占结固化性茹结固化性高分子材料、陶瓷材料、复合材料及粉末冶金材料，大多数靠茹结剂在一定条件下将各组分茹结固化而成。因此，这些材料应注意在成型过程中，各组分之间的茹结固化倾向，才能保证顺利成型质量。
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19.1 材料选择的原则
3.材料的选择应力求使零件生产的总成本最低除了使用性能与工艺性能外，经济性也是选材必须考虑的重要
学、物理、化学等性能。它是保证该零件可靠工作的基础。对一般机械零件来说，选材时主要考虑的是其机械性能(力学性能)。而对于非金属材料制成的零件，则还应该考虑其工作环境对零件性能的影响。零件按力学性能选材时，首先应正确分析零件的服役条件、形状尺寸及应力状态，结合该类零件出现的主要失效形式，找出该零件在实际使用中的主要和次要的失效抗力指标，以此作为选材的依据。根据力学计算，确定零件应具有的主要力学性能指标。能够满足条件的材料一般有多种，再结合其他因素综合比较，选择出合适材料。
阻而停止下来。 X射线发生装置示意图
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（二）X射线的性质
X射线从本质上来说，和无线电波、可见光、γ射线等一样，也是电磁波，其波长范围在0 001～100 nm之间，介于紫外线和γ射线之间，但没有明显的分界。
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（二）特征谱
特征X射线产生原理图特征谱的相对强度是由电子在各能级之间的跃迁几率决定的，还与跃迁前原来壳层上的电子数多少有关。由于愈靠近原子核的内层电子的结合能愈大，所以击出同一靶材原子
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项目十九材料及热处理选择
19.1 材料选择的原则 19.2 材料选择的一般步骤
19.1 材料选择的原则
机械零件的选材是一项十分重要的工作。选材是否恰当，特别是一台机器中关键零件的选材是否恰当，将直接影响到产品的使用性能、使用寿命及制造成本。选材不当，严重的可能导致零件的完全失效。设计人员在进行零件的选材时，应对该零件的服役条件，应具备的主要性能指标。能满足要求的常用材料的性能特点、加工工艺性及成本高低等。进行全面分析，综合考虑。

现代材料分析测试方法

现代材料分析测试方法1. 引言现代材料分析测试方法是研究材料的成分、结构和性质的重要手段。

随着科技的不断发展，材料分析测试方法也在不断创新和完善。

本文将介绍几种常见的现代材料分析测试方法，包括质谱分析、光谱分析、电子显微镜等。

2. 质谱分析质谱分析是一种通过量子力学原理和物质中的粒子相互作用来研究材料成分的方法。

质谱分析主要通过测量材料中原子、分子或离子的质量和相对丰度来确定其组成。

质谱分析可以用于确定材料中的元素、同位素分布以及化合物的结构等。

现代质谱分析技术包括质谱仪、气相色谱质谱联用技术等。

质谱分析方法的不断发展和创新使得其在材料分析中的应用范围越来越广。

3. 光谱分析光谱分析是一种通过测量物质与电磁辐射的相互作用来研究材料的方法。

光谱分析可以用于确定材料的结构、成分和性质。

光谱分析涉及的范围很广，包括可见光谱、红外光谱、紫外光谱、拉曼光谱等。

每种光谱分析方法都有其特定的应用领域和优势。

例如，可见光谱可以用于分析有机化合物的吸收光谱，红外光谱可以分析材料中的官能团等。

4. 电子显微镜电子显微镜是一种利用电子束来观察和研究材料的仪器。

电子显微镜可以提供高分辨率的图像，可以观察到材料的表面形貌和内部结构。

电子显微镜可以分为扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）两种类型。

扫描电子显微镜主要用于观察材料的表面形貌和形态，透射电子显微镜则可以用于观察材料的晶体结构和原子排列等。

5. X射线衍射X射线衍射是研究材料结构的重要手段。

通过将射线照射到材料上，观察射线在材料中的衍射模式，可以得到材料的晶体结构和晶格参数等信息。

X射线衍射方法适用于研究晶体材料，对于无定形材料或非晶态材料的研究有一定的局限性。

随着X射线源和探测器的不断改进，X射线衍射方法的分辨率和灵敏度得到了大幅提高。

6. 热分析热分析是研究材料热性质的方法，包括热重分析（TG）、差热分析（DSC）等。

热重分析可以测量材料在不同温度下的质量变化，用于分析材料的热稳定性和热分解过程。

材料现代测试技术作业分析

材料现代测试技术作业分析材料现代测试技术是指利用现代科技手段进行材料性能测试和分析的技术方法。

随着材料科学的不断发展，对材料性能的测试和分析要求也越来越高，传统的测试方法已经不能满足现代材料的需要，因此材料现代测试技术应运而生。

本文将从材料现代测试技术的定义、分类、特点以及未来发展方向等方面进行深入探讨。

首先，材料现代测试技术可以被定义为利用现代科技手段对材料性能进行测试和分析的技术方法。

传统的测试方法主要依靠人工操作，测试结果的准确性和可靠性存在一定的局限性。

而材料现代测试技术借助先进的仪器设备和计算机处理技术，能够更精准地测试和分析材料的性能指标，具有高效、自动化、无损伤等特点。

根据测试的内容和实际需求，材料现代测试技术可以分为结构分析技术、性能测试技术和表面分析技术等。

结构分析技术主要包括显微镜观察、扫描电子显微镜、透射电镜等，可以用于研究材料的晶体结构、晶粒尺寸和相态等信息。

性能测试技术主要包括拉伸试验、冲击试验、硬度测试等，可以测定材料的力学性能、热响应性能等指标。

表面分析技术主要包括X射线衍射、扫描电子显微镜等，可以用于评估材料的表面形貌、元素含量以及化学活性等特征。

材料现代测试技术相较于传统测试方法具有几个显著的特点。

首先，现代测试技术能够实现对材料性能的多维度测量，不仅能够获得性能指标的绝对值，还能够获取性能指标的变化规律。

其次，现代测试技术能够实现对材料的实时监测，可以对材料的性能进行动态判断和分析。

此外，现代测试技术还具有高效、无损伤、自动化等特点，能够提高测试效率，减少测试成本，同时避免了材料的损坏和浪费。

材料现代测试技术在未来的发展中，有几个重要的方向。

首先，随着纳米材料和新材料的快速发展，测试技术需要更高的分辨率和更高的灵敏度。

因此，提高测试仪器的精度和灵敏度是未来的一个重要方向。

其次，材料现代测试技术需要与计算机科学和人工智能等相关技术相结合，实现测试结果的数据化和智能化分析。

现代测试分析技术SEM、TEM、表面分析技术、热分析技术

现代测试分析技术SEM、TEM、表⾯分析技术、热分析技术重庆⼤学材料现代测试分析技术总结（材料学院研究⽣⽤）电⼦衍射部分1、电⼦衍射与X射线衍射相⽐：相同点：电镜中的电⼦衍射,其衍射⼏何与X射线完全相同,都遵循布拉格⽅程所规定的衍射条件和⼏何关系. 衍射⽅向可以由厄⽡尔德球(反射球)作图求出.因此,许多问题可⽤与X射线衍射相类似的⽅法处理.电⼦衍射优点：电⼦衍射能在同⼀试样上将形貌观察与结构分析结合起来。

电⼦波长短，单晶的电⼦衍射花样婉如晶体的倒易点阵的⼀个⼆维截⾯在底⽚上放⼤投影，从底⽚上的电⼦衍射花样可以直观地辨认出⼀些晶体的结构和有关取向关系，使晶体结构的研究⽐X射线简单。

物质对电⼦散射主要是核散射，因此散射强，约为X射线⼀万倍，曝光时间短。

电⼦衍射缺点：电⼦衍射强度有时⼏乎与透射束相当，以致两者产⽣交互作⽤，使电⼦衍射花样，特别是强度分析变得复杂，不能象X射线那样从测量衍射强度来⼴泛的测定结构。

此外，散射强度⾼导致电⼦透射能⼒有限，要求试样薄，这就使试样制备⼯作较X射线复杂；在精度⽅⾯也远⽐X射线低。

2、电⼦衍射花样的分类：1）斑点花样：平⾏⼊射束与单晶作⽤产⽣斑点状花样；主要⽤于确定第⼆相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件；2）菊池线花样：平⾏⼊射束经单晶⾮弹性散射失去很少能量，随之⼜遭到弹性散射⽽产⽣线状花样；主要⽤于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体的精确取向、布拉格位置偏移⽮量、电⼦波长的测定等；3）会聚束花样：会聚束与单晶作⽤产⽣盘、线状花样；可以⽤来确定晶体试样的厚度、强度分布、取向、点群、空间群以及晶体缺陷等。

扫描电⼦显微镜1、透射电镜的成像——电⼦束穿过样品后获得样品衬度的信号（电⼦束强度），利⽤电磁透镜（三级）放⼤成像。

扫描电镜成像原理——利⽤细聚焦电⼦束在样品表⾯扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。

2、扫描电镜的特点分辨本领较⾼。

⼆次电⼦像分辨本领可达1.0nm(场发射), 3.0nm (钨灯丝)；放⼤倍数变化范围⼤（从⼏⼗倍到⼏⼗万倍），且连续可调；图像景深⼤，富有⽴体感。

材料的现代分析测试技课件

§1－5
X射线与物质的相互作用
一、X射线的散射
物质对X射线的散射主要是电子与X射线的相互作用的结果。相干散射相干散射 X射线的散射 X射线的散射非相干散射非相干散射入射X射线与物质中原子入射X射线与物质中原子核束缚较松的的电子相互核束缚较松的的电子相互作用所产生的衍射效应。作用所产生的衍射效应。入射X射线与物质中原子入射X射线与物质中原子核束缚较紧的的电子相互核束缚较紧的的电子相互作用所产生的衍射效应。作用所产生的衍射效应。
R∞－里德伯常数， R∞＝1.0974×107m-1
1 = k ⋅ (z － σ ) λ
莫塞莱定律
莫塞莱定律说明：标识X射线的波长取决于物质的原子序数。不同的物质原子序数不同，标识X射线的波长不同，一种物质有它自己的标识X射线的波长如果把K层电子电离，所产生的X射线为K系标识X射线： K层电子电离后，L层电子跃迁到K层所得的X射线为Kα射线， M层电子跃迁到K层所得的X射线为Kβ射线， N层电子跃迁到K层所得的X射线为Kγ射线，
① 波动性
X射线沿着y方向传播时，同时具有电场强度E和磁场强度H，这两个矢量总是以相同的周相，在两个相互垂直的平面内作周期振动且于y方向相垂直。传播速度等于光速。
如果用数学式子表示波函数：
r r y t ϕ E = E 0 exp[2πi ( − − )] λ T 2π r r y t ϕ H = H 0 exp[2πi ( − − )] λ T 2π
Z靶≤Z试样＋1
结
束
第二章 X射线衍射方向
§2－1 晶体几何学基础
一、空间点阵
在晶体中凡是几何环境、物理环境完全相同的点称为等同点。这些等同点按连接起来，按原晶体中的原子(原子团)的排列完全相同的骨架，称为空间点阵。

现代材料分析测试技术

现代材料分析测试技术1. 引言现代材料分析测试技术是指利用科学仪器和方法对材料进行测试、分析和评估的一种技术手段。

随着材料科学的不断发展和技术的进步，现代材料分析测试技术在工业、科研和生产领域起着至关重要的作用。

本文将介绍常用的现代材料分析测试技术，包括扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、X射线衍射(XRD)、红外光谱(FTIR)等。

2. 扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜(SEM)是一种非常重要的材料分析测试仪器。

它通过扫描材料表面并通过电子束与材料相互作用来获得材料表面微观形貌和成分信息。

SEM广泛应用于材料科学、纳米材料研究、材料工艺等领域。

它可以观察样品的表面形貌、晶体结构、晶粒大小等，并通过能谱分析仪来获得元素组成信息。

3. 透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜(TEM)是一种用于观察材料内部结构的高分辨率显微镜。

TEM通过电子束穿透材料，并通过对透射电子进行束缚和散射来图像化材料的内部结构。

它在材料科学、纳米技术、纤维材料等领域具有重要的应用价值。

TEM能够观察材料的晶体结构、晶格缺陷、晶粒尺寸等，并可获得高分辨率的像像。

4. X射线衍射(XRD)X射线衍射(XRD)是一种常用的材料分析测试技术。

它利用材料对入射X射线的衍射现象来研究材料的晶体结构和晶格参数。

XRD广泛应用于材料科学、矿产勘探、无机化学等领域。

XRD可以确定材料的晶体结构、晶格常数、相对结晶度等，并可通过对射线衍射的精确测定来研究材料的相变行为和配位状态。

5. 红外光谱(FTIR)红外光谱(FTIR)是一种常用的材料分析测试技术，可以用来研究材料的分子结构和化学键的振动情况。

红外光谱可以提供关于材料的化学成分、结构和功能的重要信息。

它广泛应用于材料科学、有机化学、聚合物科学等领域。

红外光谱可以帮助确定材料的分子结构、功能团的存在和分布，以及材料的晶体性质等。

6. 总结现代材料分析测试技术在材料科学和工程领域起着至关重要的作用。

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第一章X射线衍射分析一、X射线的性质：1、本质是电磁波0.01~1000A. 介于紫外线和r射线之间，没有明显的分界线。

2、波粒二象性：E=h c/λ；p=h/λ，都具有波动和粒子的双重性。

二、X射线的获得1、获得条件：a产生并发射自由电子b 在真空中迫使电子朝一定的方向加速，以获得尽可能高的速度c 在高速电子流运动的方向设一障碍、使高速运动电子突然受阻而停止2、射线的获得仪器：X射线机，同步辐射X射线源，放射性同位素X射线源三、X射线谱：a连续X射线谱（白色x射线谱）：从某个最大波长（称之为短波极限）开始的连续的各种同波长的x射线；极限波长λ0=hc/ev，取决于管电压、管电流、原子序数）b特征X射线谱（标识x射线谱）：若干个特定波长的X射线，取决于靶材料，根本原因是原子内层电子的跃迁四、X射线与物质的相互作用:a：一部分光子由于与原子碰撞改变方向，造成散射线。

b：另一部分光子可能被原子吸收，发生光电效应。

c：部分光子能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子，成了热振动能量产生的结果：产生了散射X射线、电子、荧光X射线、热能。

主要应用：（荧光X射线光谱分析，X射线光谱分析、X光电子能谱分析、X射线衍射分析）1、散射现象（分为相干散射和不相干散射）a：相干散射(X射线散射线的波长与入射线相同，并且有一定的相位关系，它们可以相互干涉形成衍射图样，称为相干散射)b：不相干散射（X射线光子与自由电子撞击时，光子的部分能量损失，波长变长，因此与入射光子形成不相干散射）2、光电吸收（光电效应）：当X射线的波长足够短的时候，其光子的能量大，以至于可以把原子中处于某一能级上的电子打出来，而它本身则被吸收。

它的能量传递给该电子，使之成为具有一定能量的光电子，并使原子处于高能的激发态五、X射线的吸收及应用1、强度衰减规律：当X射线穿过物体时，其强度按指数下降I=I0 e-u1x （u1是线吸收系数）与吸收体的密度原子序数Z及X射线波长有关I=I0 e-u mÞx （u m 是质量吸收系数）只与吸收体原子序数和X射线波长有关结论：X射线波长越短，吸收体原子越轻（Z越小），则透射线越强。

材料现代分析测试技术概述

3 数据分析和报告
分析测试数据并撰写详细的测试报告。
2 测试设备操作
进行测试和实验，确保准确和可靠的测试结果。
4 质量控制
确保测试设备和方法的质量和准确性。
未来测试技术和趋势展望
1
自动化
测试流程的自动化和智能化将大幅提高效率和精度。
2
纳米级测试
开发更精细的测试技术来研究和处理纳米级材料。
3
可持续发展
技术应用领域
现代分析测试技术在材料科学、工程和制造业中的广泛应用。
基础测试设备和原理
测量工具
简单而经典的测量工具，如卡钳的微观结构和形貌。
拉伸试验机
测试材料的力学性能和强度。
光谱仪
通过分析光的特性来确定材料的组成。
先进测试设备和技术介绍
扫描电子显微镜
可观察材料的表面形貌和微观结构。
热分析仪
测量材料在不同温度下的热性能和热行为。
拉曼光谱仪
通过分析材料的散射光谱来确定其结构和成分。
测试结果的数据分析和应用
数据分析
统计分析图像处理数据建模
应用
确定材料特性和性能的分布和变化。分析材料的形貌和结构。预测材料行为和优化设计。
测试工程师角色和职责
1 测试计划制定
制定测试流程和方法。
材料现代分析测试技术概述
本演示将介绍材料现代分析测试技术的背景、基础设备和原理、先进设备和技术、数据分析和应用、测试工程师角色和职责、未来技术趋势、总结和答疑。
背景介绍
材料科学
材料科学的发展历程和重要性，为什么需要现代分析测试技术。
测试技术发展
现代分析测试技术的发展演变和在材料科学领域的应用。
测试技术将更加注重环境友好和资源可持续利用。

《材料现代分析测试》实验讲义

实验一
一、实验目的
材料的介电性能测试
1. 掌握介电材料的极化、介电性能及其表示方法。 2. 了解精密阻抗分析仪的设备构造、测试原理和试样要求。 3. 掌握利用精密阻抗分析仪对材料的介电性能进行测试的方法。二、实验原理物质都是由带正、负电荷的粒子构成的，如果将物质置于电磁场中，其中的带电粒子则会因电磁场力的作用而改变其分布状态。这种改变从宏观效应上看，表现为物质对电磁场的极化、磁化和传导响应，分别由介电常数（Permittivity）、磁导率（Permeability）和电导率（Conductivity）
S
d
图 1 平行板电容器示意图电介质的极化机理主要有以下几种：
图 2 原子极化示意图
，是指离子或原子的电子云相对于携带正电荷的原子核位移引起的极（1）电子极化率（ e ）化率。这种极化在一切电介质中都存在。大多数电子极化率与原子或离子半径的三次方成正比关系： e 4 0 R 。
e i d s
而其介电常数也是由于上述各种极化的综合作用而产生的结果。 3. 测试原理本实验中，我们采用 Agilent E4991A 精密阻抗分析仪对材料的介电常数进行测试。
3
（10）
云南大学材料科学与工程系
《材料分析方法实验》实验讲义
Agilent E4991A 对材料介电常数的测量所采用的是电容法（Capacitance Method），通过测量被测材料的电容来计算材料的相对介电常数，其所采用的测量夹具为 16453A，电容法的测试原理图如图 3 所示。图 3 中 DUT 表示待测试样（Device Under Test），其厚度为 t，S 表示与被测试样表面接触的电极的面积。被测试样可以等效为一个电容 C（如图 3 ( i )所示），由于该电容的电容值较其阻抗要小得多，所以它又可以等效为一个包含平行电容和平行电导的等效电路（如图 3 ( ii )所示）。