电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分总则 编制说明
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国家标准报批资料
国家标准《电子元器件半导体器件长期贮存第1部分:总则》(征求意见稿)编制说明
一、工作简况
1、任务来源
《电子元器件半导体器件长期贮存第1部分:总则》标准制定是2018年国家标准委下达的国家标准计划项目,计划号:20182268-T-339。由中华人民共和国工业和信息化部提出,全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC 78/SC2)归口,中国电子科技集团公司第十三研究所负责标准的制定,项目周期为2年。
2、主要工作过程
2.1 2018.12 成立了编制组,编制组成员包括检验试验管理人员、从事半导体器件长期贮存的技术研究人员,以及具有多年标准编制经验的标准化专家。
2.2 2019.01~2019.04 编制组成员广泛收集资料,对等同采用的IEC标准进行翻译、研究、分析和比较,对国内相关单位展开深入调研和部分试验验证。
2.3 2019.05~2019.06编制工作组讨论稿,编制组内部讨论,对工作组讨论稿进行修改、完善,形成征求意见稿,并完成编制说明。
3 标准编制的主要成员单位及其所做的工作
本标准承办单位为中国电子科技集团公司第十三研究所。在标准编制过程中,主要负责标准的翻译、制定、试验及验证工作。
二、标准编制原则和确定主要内容的论据及解决的主要问题
1、编制原则
本标准为电子元器件半导体器件长期贮存系列标准的第1部分,属于基础标准。为保证半导体器件试验方法与国际标准一致,实现半导体器件检验方法、可靠性评价、质量水平与国际接轨,本标准等同采用IEC 62435-1:2016《电子元器件半导体器件长期贮存第1部分:总则》。
2、确定主要内容的依据
除编辑性修改外,本标准的结构和内容与IEC 62435-1:2016保持一致,标准编写符合GB/T 1.1—2009《标准化工作导则第1部分:标准结构和编写》、部分:采用国际标准》的规定。2第《标准化工作指南GB/T 20000.2-2001
国家标准报批资料
本标准为制定半导体器件长期贮存方案提供了指导,主要论述了在长期贮存过程中对元器件的管理、定期检查及其它注意事项。本部分与本系列标准其它部分一起使用,用于贮存时间可能超过12个月的长期贮存器件。
三、主要试验情况分析][或验证从长期贮存设施中取出10只晶体管进行周期性检验,按照本标准规定的要求对产品进行了目检、电特性测试、可焊性试验、
DPA(外部目检、PIND、密封、内部目检、键合强度、剪切强度)。试验结果:试验项目均符合技术要求。
取出10个混合电路进行周期性检验,按照本标准规定的要求对产品进行了目检、电特性测试、可焊性试验、DPA(外部目检、PIND、密封、内部目检、键合强度、剪切强度)。试验结果:试验项目均符合技术要求。
通过以上试验验证表明,试验方法规定合理,试验程序清晰,试验条件可行,具有可操作性。
四、知识产权情况说明
本标准的技术内容不涉及知识产权。
五、产业化情况、推广应用论证和预期达到的经济效果
本标准是电子元器件半导体器件长期贮存标准之一,是进行半导体器件长期贮存的重要和基础的试验方法之一,对于评价和考核半导体器件的质量和可靠性起着重要作用。其在行业内得到推广应用,将有助于我国半导体器件制造行业竞争有序进行,促进半导体器件质量与可靠性的提高,降低用户使用风险,推进高可靠半导体器件在工程中的广泛应用。
六、采用国际标准和国外先进标准情况
本标准使用翻译法,等同采用IEC 62435-1:2016《Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part1:General》,标准中技术内容和标准结构以及章、条、图号与IEC标准等同,便于与国际标准接轨。
七、与现行相关法律、法规、规章及相关标准的协调性
国家标准《电子元器件半导体器件长期贮存》的预计结构如下:
——第1部分:总则;
部分:失效机理;2——第
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——第3部分:数据;
——第4部分:贮存;
——第5部分:芯片和晶圆;
——第6部分:封装的或镀层的器件;
——第7部分:MEMS;
——第8部分:无源电子器件;
——第9部分:特殊管壳;
本标准是该系列标准中的第1部分,在标准内容上,与其他相关标准无矛盾和不协调的地方。
八、重大分歧意见的处理经过和依据
本标准为半导体器件长期贮存标准,属于基础标准,等同采用IEC 62435-1:2016,无重大分歧意见。
九、标准性质的建议
建议本标准为推荐性国家标准。
十、贯彻标准的要求和措施建议
本标准是半导体器件长期贮存标准之一,是进行半导体器件长期贮存的重要和基础的试验方法之一,对于评价和考核半导体器件的质量和可靠性起着重要作用。
建议由国家标准管理机构组织贯彻本标准的相关活动,利用各种条件(如标委会的管理和活动、专家培训、技术交流、标准化技术刊物、网上信息等)宣贯本标准。
十一、替代或废止现行相关标准的建议
无。
十二、其它应予说明的事项
建议尽快等同采用该系列标准,为半导体器件的质量和可靠性的检验和试验提供依据。
国家标准《电子元器件半导体器件长期贮存第1部分:总则》编制工作组.
国家标准报批资料
2019-06-25