大功率LED加速寿命试验及问题分析_图文(精)

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技术专栏

Technology

Column

doi:10.3969/j.issn.1003-353x.2009.10.013

大功率LED加速寿命试验及问题分析

王亚盛1,张丽燕1,刁生进2

(1.威海职业学院,山东威海264210;2.威海高迸电子有限公司,山东威海264209)摘要:采用国家标准(GBl772)规定的电子元器件加速寿命试验方法,选择了工作环境温度作为加速应力,设计了四个应力等级的大功率LED加速寿命试验方案并进行试验。试验结果丝引线球焊处开裂、金属化层失效等主要失效机理的产生原因以及温度、电流密度之间关系分析,认为基于Arrhenius模型进行大功率LED加速寿命试验存在不足和缺陷,不能准确地预测稳态温度下的LED寿命,应当对Arrhenius模型进行修正。

关键词:大功率LED;激活能;失效机理;加速寿命

中图分类号:TN306

文献标识码:A

文章编号:1003.353X(2009)10。0986—05

TestandAnalysisofHigh—PowerLEDAcceleratedLife

WangYashen91,ZhangLiyanl,DiaoShen西in2

(1.Weihai

VocationalCollege,Weihai264210,China;

2.Weihai

C.∞yinElectronic

Co.,lzd.,Weihai

264209,China)

Abstract:Fourstress--gradesofhish・-powerLED

acceleratedlifetest

methodsweredesignedbased

on

electronic

components

accelerated

life

test

metIlodsof

GBl772

nationalstandards.and

enfimnment

temperaturewasselected

as

theacceleratedstress.TestIesultsshowthatthereaI℃2

or

3speciesoffailure

modes

foreachstress

level,and

activation

energy

ofdifferentstresslevels

are

different.Byanalyzingthe

mainfailuremechanismsofgold-wiresoldercrackingandmetallayerfailureas

well

as

therelationshipbetweentemperatureandcurrent

density,shortcomings

and

deficienciesofacceleratedlife

test

ofArrheniusmodelwere

proposed.

neLED

lifeundersteady—statetemperaturecall

not

beaccuratelypredictedandtheArrhenius

modelshouldbeamended.

Keywords:hish-powerLED;

activation

energy;

failuremechanism;acceleratedlife

EEACC:0170N

引言

目前,LED、激光二极管等半导体光电器件的

加速寿命试验中,普遍采用温度或电流作为加速应力,基于Arrhenius模型进行稳态工作温度下的寿

命预测。本文结合美国LUMILED、CREE等公司的

986半导体技术第34卷第10期

加速寿命试验方案,引用了MIL-STD.750,MIL-

HABK.217C,GBl772技术标准,对工作电流20

mA

的小功率蓝光LED和工作电流350

mA的大功率蓝

光LED,以温度作为加速应力进行多次试验,发现

在不同应力等级下出现的失效模式有差异,得到的

激活能也不同,因而无法准确预测LED稳态工作

2009年10月

万方数据

王亚盛等:大功率LED加速寿命试验及问题分析

温度下的寿命。应用Arrhenius模型进行LED寿命预测存在一定的局限性和缺陷,需要对Arrhenius模型进行修正。

加速寿命试验方案

1.1

加速应力与应力水平1.I.1

以温度作为加速应力

工作环境温度(以LED封装引脚焊接点的温度L为测量点)与LED失效之间的关系极为密

切,在LED器件系统热阻Rth不变的前提下,7-(“)

升高,其结温r(j,i)也升高,导致LED提前失效。

因此,依据Arrhenius模型,采用引脚焊接点温度r(..i)作为加速寿命试验的加速应力。

以XR.E和S-40LED相同封装的样品进行试

验,其结温r(j。i)为

T(j.i)=P(t,i)。JRth+r(。,i)

(1)

式中:P。为LED热耗散功率,单位w;XR.E型的

LED热阻Rth=8。C/W;S一40型的LED热阻RtlI=

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