焊点可靠性之焊点寿命预测

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工程预测焊点疲劳寿命

工程预测焊点疲劳寿命

工程预测焊点疲劳寿命介绍了一种预测焊点疲劳寿命的工程计算方法及其软件系统。

这一方法用有限元中的刚性梁单元模拟焊核,用壳单元模拟连接板,求取通过梁单元传递的力和力矩;根据这些力和力矩计算焊核附近连接板和焊核周围的“结构应力”;然后通过一组以结构应力为控制参数的焊点S—N曲线估计焊点的疲劳损伤。

描述了软件系统的框架和特点,用两个简单的例子说明这一方法的应用。

结果表明,分析结果与试验结果相比有一定的保守性。

在汽车工业中,点焊被广泛地用于零部件和结构的制造。

点焊构件的耐久性主要取决于焊点的疲劳强度。

在一条生产自动线上装备一个焊点的点焊机械装置可能需要30万美元,为了补救某一问题而必须在生产时再增加一个点焊装置,其费用可能不止2倍。

如果我们能在设计的早期预测焊点的疲劳寿命,那么显然这些费用可以降到最低点。

更有意义的是,它也有助于缩短产品的开发周期,提高产品的质量。

Smith和Cooper用断裂力学方法研究过受剪切载荷焊点的疲劳寿命预测问题。

他们指出:“一个焊点也许可以被认为是一个外表面有一环向深裂纹的实心圆棒,当这一圆棒受一个Ⅰ—Ⅱ复合型载荷时,它会在最大的局部Ⅰ型方向产生分叉裂纹并扩展”。

他们说明了根据计算的裂纹扩展速率可以较好地预测焊点的疲劳寿命,并用他们的计算结果作出一些简单的设计曲线。

Smith和Cooper所建议的方法基于对简单受剪搭接接头的有限元模拟,这种方法需要进一步的发展才能用于其它不同的焊点型式,处理变幅异相复杂载荷。

发展的结果可能是一个简单的专门针对焊点的规范,按照英国标准BS7608的方法,给出适用于不同点焊类型的载荷—寿命曲线族。

事实上,关联不同加载条件下焊点的疲劳强度,载荷是一个相当糟糕的参量。

Raji和Sheppard提到,不同型式受不同载荷的焊点,它的疲劳耐久性能够通过分析板内焊点周边的局部应力得到更好的理解,这一局部应力指的是焊点附近的结构应力。

Rupp等人描述了如何计算这些结构应力。

焊点可靠性之焊点寿命预测

焊点可靠性之焊点寿命预测

焊点可靠性之焊点寿命预测— 1 —焊点可靠性之焊点寿命预测在产品设计阶段对SMT 焊点的可能服役期限进行预测,是各大电子产品公司为保证电子整机的可靠性所必须进行的工作,为此提出了多种焊点寿命预测模型。

(1) 基于Manson-Coffin 方程的寿命预测模型M-C 方程是用于预测金属材料低周疲劳失效寿命的经典经验方程[9]。

其基本形式如下:C N p f =ε?β(1-1)式中 N f —失效循环数;εp —循环塑性应变范围;β, C —经验常数。

IBM 的Norris 和Landzberg 最早提出了用于软钎焊焊点热疲劳寿命预测的M-C 方程修正形式[2]:)/exp()(max /1kT Q Cf N n p m f -ε?= (1-2)式中 C, m, n —材料常数;Q —激活能;f —循环频率;k — Boltzmann 常数;T max —温度循环的最高温度。

Bell 实验室的Engelmaier 针对LCCC 封装SMT 焊点的热疲劳寿命预测对M-C 方程进行了修正[10]:c f f N /1'221???? ??εγ?= (1-3))1ln(1074.1106442.024f T c s +?+?--=-- (1-4)式中?γ —循环剪切应变范围;f 'ε—疲劳韧性系数,2f 'ε=0.65;c —疲劳韧性指数;T s —温度循环的平均温度。

采用M-C 型疲劳寿命预测方程,关键在于循环塑性应变范围的确定。

主要有两种方法:一种是解析法[10,11],通过对焊点结构的力学解析分析计算出焊点在热循环过程中承受的循环应变范围,如Engelmaier 给出[10]:—— 2 40010)]()([2-?-α--α=γ?T T T T h Ls s c c (1-5)式中 L — LCCC 器件边长;h —焊点高度;αc , αs —分别为陶瓷芯片载体和树脂基板的热膨胀系数;T c , T s —分别为陶瓷芯片载体和树脂基板的温度;T 0 — power-off 时的稳态温度。

焊点可靠性之焊点寿命改善

焊点可靠性之焊点寿命改善

焊点可靠性之焊点寿命改善提高SMT焊点可靠性的方法主要有以下四种:(1) 研制开发新型基板材料以减小陶瓷芯片载体与树脂基板之间的热膨胀系数差。

研究主要集中于印刷电路板材料,已经研制开发了42%Ni-Fe合金(CTE=5ppm/o C)、Cu-因瓦合金-Cu复合材料板(CTE=2.8~13ppm/o C)等新型基板材料,效果较好[41]。

但是由于新型材料制作工艺复杂、价格昂贵,其实用性受到很大限制,90年代起极少有此类研究见于文献。

(2) 提高软钎料合金自身的力学性能,向Sn-Pb共晶合金基体中加入微量合金元素以实现合金强化。

由于实际生产中需综合考虑成本、工艺性等多方面问题,对Sn-Pb基钎料合金而言,这方面的工作较少,主要是添加Ag[42]。

朱颖博士开发了Sn-Pb-RE系列钎料合金,不仅提高表面组装焊点热循环寿命2-3倍,而且在成本和工艺性方面均有很好的应用前景[43]。

近年来,随着环境保护呼声的日益提高,开发无铅钎料(Lead-Free Solder)成为了软钎焊材料研究的热点,HP公司的Glazer对此作了很好的综述[44],焦点在于新型无铅钎料合金在保证润湿性的前提下,其熔点要与现有工艺条件匹配且其力学性能要优于Sn-Pb共晶合金。

(3) 焊点形态优化设计。

作为承受载荷的结构件,不同的焊点形态将导致焊点内部不同的热应力-应变分布,从而导致不同的焊点热疲劳性能。

焊点形态优化设计包括两方面的内容:一是焊点形态预测,即在钎料量、焊点高度、焊盘几何、软钎焊规范等工艺参数确定的条件下,借助于焊点成型的数学物理模型计算出焊点的最终形态。

近年来提出了多种基于能量最小原理的焊点形态预测模型[45-47]。

二是优化设计,即何种焊点形态才具有最优的热疲劳性能。

优化判据的确定是一个涉及到焊点失效机制的理论问题,目前还远没有—1 —解决,现有的优化设计工作的优化判据均是不同形态焊点的热疲劳寿命试验数据[48]。

焊接件寿命试验

焊接件寿命试验

焊接件寿命试验引言:焊接件是现代工程中常见的连接方式之一,其质量和寿命直接影响到工程的安全和可靠性。

为了确保焊接件的寿命能够满足工程要求,需要进行焊接件寿命试验。

本文将从试验目的、试验方法、试验过程和试验结果等方面进行详细介绍。

一、试验目的焊接件寿命试验的主要目的是评估焊接件在实际工作环境中的使用寿命。

通过试验,可以得到焊接件在不同载荷、温度和腐蚀环境下的寿命特性,为工程设计和材料选型提供依据。

同时,试验还可以检验焊接工艺的可靠性和焊接接头的强度。

二、试验方法焊接件寿命试验通常采用加速寿命试验的方法,即在较短的时间内模拟出焊接件在实际工作环境中的使用寿命。

常用的试验方法有以下几种:1. 加速腐蚀试验:将焊接件置于具有一定腐蚀性的介质中,通过提高温度、增加腐蚀剂浓度等手段,加速腐蚀过程,评估焊接件在腐蚀环境下的寿命。

2. 加速载荷试验:通过施加静态或动态载荷,模拟焊接件在实际工作中承受的力学载荷,评估焊接件在不同载荷下的寿命。

3. 加速热循环试验:通过交替施加高温和低温,模拟焊接件在温度变化环境下的热应力,评估焊接件在热循环环境下的寿命。

三、试验过程焊接件寿命试验的过程包括试样制备、试验条件设定、试验操作和数据记录等环节。

1. 试样制备:根据实际工程需要,制备符合规范要求的焊接件试样。

试样的准备应符合焊接工艺规范,确保试验结果的可靠性。

2. 试验条件设定:根据实际工程环境,设定试验条件,如温度范围、腐蚀剂种类和浓度、载荷大小等。

试验条件的设定应尽量接近实际工作环境,以保证试验结果的准确性。

3. 试验操作:按照设定的试验条件,进行试验操作。

根据不同试验方法,进行腐蚀介质的加注、载荷的施加或温度的变化等操作。

同时,对试验过程中的数据进行记录,以便后续分析和评估。

四、试验结果焊接件寿命试验结束后,根据试验数据进行结果分析和评估。

主要包括以下几个方面:1. 寿命曲线分析:根据试验数据绘制寿命曲线,分析焊接件在不同试验条件下的寿命特性。

焊点可靠性研究详解

焊点可靠性研究详解

SMT焊点可靠性研究前言近几年﹐随着支配电子产品飞速发展的高新型微电子组装技术--表面组装技术(SMT)的飞速发展﹐SMT焊点可靠性问题成为普遍关注的焦点问题。

与通孔组装技术THT(Through Hole Technology)相比﹐SMT在焊点结构特征上存在着很大的差异。

THT焊点因为镀通孔内引线和导体铅焊后﹐填缝铅料为焊点提供了主要的机械强度和可靠性﹐镀通孔外缘的铅焊圆角形态不是影响焊点可靠性的主要因素﹐一般只需具有润湿良好的特征就可以被接受。

但在表面组装技术中﹐铅料的填缝尺寸相对较小﹐铅料的圆角(或称边堡)部分在焊点的电气和机械连接中起主要作用﹐焊点的可靠性与THT焊点相比要低得多﹐铅料圆角的凹凸形态将对焊点的可靠性产生重要影响。

另外﹐表面组装技术中大尺寸组件(如陶瓷芯片载体)与印制线路板的热膨胀系数相差较大﹐当温度升高时﹐这种热膨胀差必须全部由焊点来吸收。

如果温度超过铅料的使用温度范围﹐则在焊点处会产生很大的应力最终导致产品失效。

对于小尺寸组件﹐虽然因材料的CTE 失配而引起的焊点应力水平较低﹐但由于SnPb铅料在热循环条件下的粘性行为(蠕变和应力松弛)存在着蠕变损伤失效。

因此﹐焊点可靠性问题尤其是焊点的热循环失效问题是表面组装技术中丞待解决的重大课题。

80年代以来﹐随着电子产品集成水平的提高,各种形式﹑各种尺寸的电子封装器件不断推出﹐使得电子封装产品在设计﹑生产过程中,面临如何合理地选择焊盘图形﹑焊点铅料量以及如何保证焊点质量等问题。

同时﹐迅速变化的市场需求要求封装工艺的设计者们能快速对新产品的性能做出判断﹑对工艺参数的设置做出决策。

目前﹐在表面组装组件的封装和引线设计﹑焊盘图形设计﹑焊点铅料量的选择﹑焊点形态评定等方面尚未能形成合理统一的标准或规则﹐对工艺参数的选择﹑焊点性能的评价局限于通过大量的实验估测。

因此﹐迫切需要寻找一条方便有效的分析焊点可靠性的途径﹐有效地提高表面组装技术的设计﹑工艺水平。

无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究

无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究

哈尔滨理工大学硕士学位论文无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究姓名:姜志忠申请学位级别:硕士专业:材料加工工程指导教师:孙凤莲20070301钎料的呼声越来越高。

最终拥有悠久历史的传统型SnPb钎料,将会逐渐被新的绿色环保型钎料所替代翻。

如无铅汽油的广泛使用就是一个很好的范例。

另一方面,微电子产品焊点尺寸越来越小,引线间距越来越窄,而其所承受的热学、电学及力学载荷却都越来越高,这就要求钎料应具有优良的抗疲劳、蠕变性能,而传统的SnPb钎料抗蠕变性能差,已经不能满足使用要求。

工业界一直致力于无铅钎料的开发工作,准备迎接无铅化带来的挑战161。

无铅化技术由于钎料的差异和焊接工艺参数的调整,必不可少的会给焊点可靠性带来一定的影响。

而SMT、MCM焊点是直接实现异质材料间电气及机械连接,它的质量与可靠性很大程度决定了电子产品的质量171。

图1-1电子封装结构与组装中的微连接技术示意图Fig.1-lS仇lcturescheroaficofBGA,cSPpackageandthemicroweldingtechnology1.2无铅钎料的研究现状1.2.1无铅钎料的性能要求在无铅焊接组装工艺中,焊接材料的选择是最具挑战性的。

在选择材料时要考虑到焊接元件的类型、线路板的类型,以及它们的表面涂敷状况。

近年来由于SMT的普遍应用,在提高电路的组装密度和可靠性方面,对钎料合金提出了更高的要求嘲:(1)合金共晶温度近似于sn37Pb的共晶温度(183"c),且熔化温度区间越小越好。

C2)无毒或毒性很小。

(3)润湿性能和机械性能良好,焊点要有足够的可靠性。

图1-2BGA焊点中不同大小的空洞Fig.1-2VarioussizeofvoidsinBGAsolderjoints空洞对EBGA焊点可靠性的影响,并通过非线性有限元分析方法分析不同位置和不同大小的空洞对焊点应力、应变和可靠性的影响,为制定科学的焊点空洞接收标准提供依据。

工程预测焊点疲劳寿命

工程预测焊点疲劳寿命

工程预测焊点疲劳寿命介绍了一种预测焊点疲劳寿命的工程计算方法及其软件系统。

这一方法用有限元中的刚性梁单元模拟焊核,用壳单元模拟连接板,求取通过梁单元传递的力和力矩;根据这些力和力矩计算焊核附近连接板和焊核周围的“结构应力”;然后通过一组以结构应力为控制参数的焊点S—N曲线估计焊点的疲劳损伤。

描述了软件系统的框架和特点,用两个简单的例子说明这一方法的应用。

结果表明,分析结果与试验结果相比有一定的保守性。

在汽车工业中,点焊被广泛地用于零部件和结构的制造。

点焊构件的耐久性主要取决于焊点的疲劳强度。

在一条生产自动线上装备一个焊点的点焊机械装置可能需要30万美元,为了补救某一问题而必须在生产时再增加一个点焊装置,其费用可能不止2倍。

如果我们能在设计的早期预测焊点的疲劳寿命,那么显然这些费用可以降到最低点。

更有意义的是,它也有助于缩短产品的开发周期,提高产品的质量。

Smith和Cooper用断裂力学方法研究过受剪切载荷焊点的疲劳寿命预测问题。

他们指出:“一个焊点也许可以被认为是一个外表面有一环向深裂纹的实心圆棒,当这一圆棒受一个Ⅰ—Ⅱ复合型载荷时,它会在最大的局部Ⅰ型方向产生分叉裂纹并扩展”。

他们说明了根据计算的裂纹扩展速率可以较好地预测焊点的疲劳寿命,并用他们的计算结果作出一些简单的设计曲线。

Smith和Cooper所建议的方法基于对简单受剪搭接接头的有限元模拟,这种方法需要进一步的发展才能用于其它不同的焊点型式,处理变幅异相复杂载荷。

发展的结果可能是一个简单的专门针对焊点的规范,按照英国标准BS7608的方法,给出适用于不同点焊类型的载荷—寿命曲线族。

事实上,关联不同加载条件下焊点的疲劳强度,载荷是一个相当糟糕的参量。

Raji 和Sheppard提到,不同型式受不同载荷的焊点,它的疲劳耐久性能够通过分析板内焊点周边的局部应力得到更好的理解,这一局部应力指的是焊点附近的结构应力。

Rupp等人描述了如何计算这些结构应力。

SMT焊点疲劳寿命的预估

SMT焊点疲劳寿命的预估

新技术新工艺2020年第11期SMT焊点疲劳寿命的预估$刘新胜,李晓聪,杨丽娜,兰治军,王萍,张瑶,徐璐,王婕(中国北方车辆研究所,北京100071)摘要:表面组装工艺的优劣直接影响印制电路板组件的质量及可靠性,进而对整机系统的可靠性能产生决定性影响。

特别是,无铅元器件有铅焊料的混装技术较为复杂,相比传统有铅工艺,具有更高的焊接峰值温度和更窄的工艺窗口。

其焊点失效主要是由于产品周期性工作导致的温度变化以及外界环境周期性的温度变化,导致产品的互连焊点发生周期性的应力应变作用,引起焊点的热疲劳和蠕变疲劳,进而发生互连失效。

为提升电子产品的质量和可靠性,基于PCBA组件的典型工作剖面及装备使用的环境条件,以组件中有高可靠性风险的器件为工艺研究对象,制备了菊花链线路的寿命评估板,设定典型应力水平的温度循环开展试验,并根据加速模型进行外推,预测了焊点寿命数据。

关键词:焊点疲劳寿命;混装焊点;菊花链测试结构;温度循环;加速试验;可靠性中图分类号:TG405文献标志码:APrediction of SMT Solder Joint Fatigue LifeLIU Xinsheng#LI Xiaocong#YANG Lina,LAN Zhijun,WANG Ping,ZHANG Yao#XU Lu,WANG Jie(China North Vehicle Research Institute#Beijing100071#China)Abstract:The good and bad of the surface assembly process directly affected the quality and reliability of the printed cir­cuit board components and finally affected the reliability of the whole system.In particular#the mixing technology of lead-freecomponentswithleadsolderwasmorecomplicated#andhadahigherpeaksolderingtemperatureandanarrowerprocess windowthanthatofthetraditionalleadedprocess+Thefailureofthesolderjointswasmainlyduetothetemperaturechanges causedbytheperiodicworkoftheproductandtheperiodictemperaturechangesofexternalenvironment#whichresultedin periodicstressandstraine f ectsontheinterconnectsolderjointsoftheproducts#andcausedthermalfatigueandcreepfa-tigueofthesolderjoints#thenaninterconnectionfailureoccurred+Inordertoimprovethequalityandreliabilityofelectronic products#based on the typical working profile of PCBA components and the environmental conditions that the equipment used#thecomponentswithhighreliabilityrisksinthecomponentswereusedastheresearchprocessobjectstopreparethe lifeevaluationboardofthedaisychaincircuit#thetemperaturecycletestwascarriedoutwithatypicalstresslevel#andthe acceleration modelwasextrapolatedtopredictthesolderjointlifedata+Key words:solder joint fatigue life#mixed solder joint#daisy chain test structure#temperature cycle#accelerated test# reliabiliEy电装工艺的优劣直接影响印制电路板组件的质量及可靠性,在电子器件或电子整机的所有故障原因中,约70%以上为焊点失效造成(1),特别是,无铅元器件-有铅焊料的混装技术较为复杂,相比于传统有铅工艺,具有更高的焊接峰值温度和更窄的工艺窗口,此外,混合焊料较宽的熔点范围、较差的润湿能力和较高的弹性模量等特征也给混装工艺电子装备的质量和可靠性带来了隐患閃。

PCBA焊点可靠性预测

PCBA焊点可靠性预测

PCBA焊点可靠性预测一、预测焊点的可靠性焊接点的疲劳寿命预测对电子封装的可靠性评估是关键的。

在微电子工业中预测失效循环次数的标准方法是基于使用通过试验得出的经验关系式。

如果使用一个分析方法,通过都是使用诸如Coffin-Manson(C-M)这样的经验曲线。

通常,使用接合元件之间的CTE差别,计算出焊接点内最大的预测弹性与塑性应力。

大多数时间,使用塑性应变值,是用C-M曲线来预测焊接点的疲劳寿命。

通过研究者已经显示,这个方法对BGA封装所产生的结果是保守的。

例如,Zhao et al.已经从冶金学上证明,C-M方法不能用于微结构进化的材料,如锡铅焊锡合金1,2。

其理由是C-M方法没有考虑在疲劳期间材料特性的任何变化。

C-M方法假设,在每一个热循环中所经历的塑性应变在整个热循环过程中是保持不变的。

事实上,焊接点所经历的实际塑性应变在每个循环都由于微结构变粗糙而减少。

因此,C-M方法大大地低估了焊接点的疲劳寿命。

在本研究中使用一个损伤进化函数来量化焊接点的退化。

损伤进化函数是基于热力学的第二定律,并使用熵作为损伤度量。

Basaran 和Yan已经证明,作为一个系统失调度量的熵可用作固体力学的损伤度量标准3。

损伤进化结合到一个统一的粘塑结构模型中(在下面描述),用来描述在热机负载下焊接点的循环疲劳特性。

二、构造模型试验结果显示,相对于懦变或粘塑应变,塑性应变对低循环疲劳寿命的影响是可能忽略的。

依赖时间的懦变形支配着焊接点的低循环疲劳寿命1,2。

这是因为共晶与近共晶焊锡合金一般预计由于其低熔点(183°C)在高同系温度下工作。

在高同系温度下,材料经历很大的懦性变形。

因此一个热粘塑结构模型对于建立焊接性能模型是必要的。

为了建立近共晶焊锡的第一、第二和第三懦变阶段模型,需要懦变率函数。

在高同系温度下的大多数金属与合金的稳定状态塑性变形的动力学可用Dorn懦变方程来描述4。

Kashyap与Murty已经从实验上证明,颗粒大小可以重大影响锡铅焊锡合金的懦变特性5。

焊点特征寿命

焊点特征寿命

焊点特征寿命
一、引言
在电子制造中,焊点的可靠性是至关重要的。

焊点的特征寿命,即焊点从形成到失效的周期,是评估其可靠性的关键指标。

本篇文章将详细介绍焊点特征寿命的测试方法、影响因素以及提高寿命的策略。

二、焊点特征寿命的测试方法
焊点特征寿命的测试通常采用加速老化试验的方法,通过提高温度、湿度等环境条件来加速焊点的失效过程。

常用的测试方法有:
1. 温度循环试验:通过模拟实际使用中的温度变化,来检测焊点的热疲劳性能。

2. 湿热试验:模拟环境湿度对焊点的影响,以评估其防潮性能。

3. 机械振动试验:模拟实际使用中的振动对焊点的影响。

三、影响焊点特征寿命的因素
1. 焊接材料:不同的焊接材料具有不同的机械性能和热性能,对焊点的寿命有很大影响。

2. 焊接工艺:焊接过程中的温度、时间等因素都会影响焊点的质量和寿命。

3. 环境因素:温度、湿度、振动等环境因素对焊点的寿命有很大影响。

4. 结构设计:合理的结构设计可以有效地提高焊点的寿命。

四、提高焊点特征寿命的策略
1. 选择高质量的焊接材料,以提高焊点的机械性能和热性能。

2. 优化焊接工艺,以获得高质量的焊点。

3. 通过结构设计,减小环境因素对焊点的影响。

4. 对焊点进行质量检测,及时发现并处理潜在的问题。

五、结论
焊点的特征寿命是评估其可靠性的关键指标,通过优化焊接材料、焊接工艺、环境因素和结构设计等手段,可以有效提高焊点的特征寿命。

此外,对于电子制造行业来说,不断研究新技术和新方法,提高焊点的质量,延长其特征寿命,是保证产品质量和提升竞争力的重要途径。

可焊性、焊接能力和焊点可靠性之评估和测试

可焊性、焊接能力和焊点可靠性之评估和测试

可焊性、焊接能力和焊点可靠性之评估和测试(汕头超声印制板公司广东汕头 515065)马学辉摘要:本文主要在于明确可焊性、焊接能力和焊点可靠性三者之间的联系和区别,指出对它们进行评估和测试时其各自关注的主要特性和常见的评估和测试方法,同时简单介绍影响它们的关键因素。

关键词:可焊性、焊接能力、焊点可靠性The Evaluation and Test of Solderability, Soldering abilityand Solder Joints ReliabilityMa XuehuiAbstract: The objective of the article is to clearly describe the relation and difference among solderability, soldering ability and solder joints reliability and point out the corresponding characteristics when evaluating and testing these items. Usual evaluating and testing methods are briefly introduced and the critical factors to the items are also briefly discussed.Key words: solderability, soldering ability, solder joints reliability1 前言可焊性和可靠性是电子组装行业经常提到的名词。

焊接能力则很少有人提起,有人往往会把它跟可焊性混淆起来,因此有必要把它跟可靠性一并提出来。

其实三者是既有联系,又有区别的。

它们分别关注不同的特性,对评估目标是各不相同的,但是却有内在联系。

在讨论可焊性、焊接能力和焊点可靠性之前,有必要首先简单了解一下锡钎焊接的过程。

电子封装焊点可靠性及寿命预测方法

电子封装焊点可靠性及寿命预测方法

电子封装焊点可靠性及寿命预测方法ΞRE LIABI LITY AN D LIFE PREDICTION METH ODOLOGIES FOR SOLDER JOINTS OF E L ECTRONIC PACKAGES李晓延ΞΞ 严永长(北京工业大学材料学院,北京100022)LI X iao Y an Y AN Y ongChang(School o f Materials Science and Engineering,Beijing Univer sity o f Technology,Beijing100022,China)摘要 高功率、高密度、小型化是现代电子封装结构的基本特征,软焊料是电子封装中应用最广的连接材料,一个焊点的破坏往往导致整个封装结构的失效。

软钎料的无铅化是目前发展的重要趋势。

针对目前所开发的无铅焊料,文中介绍电子封装结构中焊点的破坏行为和焊点寿命预测的基本方法。

关键词 电子封装 无铅焊料 寿命预测中图分类号 TG407Abstract High power,high density and miniaturization are the basic characteristics of m odern electronic packages.S olders,as the im portant materials for microjoining and interconnection,play a fundamental role in the assembly of the devices.H owever,the fail2 ure of one s oldered joint is frequently found to be the origin of the failure of the whole package.The phase out of lead is the major target of next generation s olders.Based on the review of the developed Pb2free s olders and their applications,the failure behavior and the life prediction methodologies for Pb2free s older joints were presented and discussed.K ey w ords E lectronic p ack age;Pb2free solders;Life predictionCorresponding author:LI XiaoYan,E2mail:xyli@The project supported by the National Natural Science F oundation of China(N o.50475043),the Nature Science F oundation of Bei2 jing(N o.2052006)and the S pecialized Research Fund for the D octoral Program of Higher Education of China(N o.20040005012).Manuscript received20050301,in revised form20050423.1 引言微电子技术是发展现代电子信息技术的基础。

关于BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命的探讨

关于BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命的探讨

2019.02理论与算法关于BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命的探讨高军(上海民航职业技术学院,上海,2〇〇232 )摘要:随着高密度电子技术的不断发展,BGA逐渐成为高I/O、多功能、高性能、高密度封装的最优选择。

基于此,本文首 先简单介绍了 BGA封装,其次,从BGA焊接材料、BGA焊接性能、BGA焊接温度等方面论述了 BGA封装焊点的可靠性,最后,从预测焊点疲劳寿命的方法、封装尺寸对疲劳寿命的影响、疲劳寿命常数的估计、Sn/P b焊点振动下的疲劳寿命等方面 入手,详细的探讨了 BGA封装焊点的疲劳寿命。

关键词:BGA封装焊点;可靠性;疲劳寿命Discussion on Reliability and Fatigue Life of BGA Packaging Solder JointGao Jun(Shanghai Civil Aviation College,Shanghai,200232)Abstract:With the continuous development of high density electronic technology,BGA has gradually become the best choice for high I/O,multi-function,high performance and high density packaging.Based on this,firstly,the BGA package is introduced briefly.Secondly,the reliability of BGA package solder joints is discussed from the aspects of BGA welding materials,BGA welding performance and BGA welding temperature.Finally,the methods of predicting the fatigue life of solder joints,the influence of package size on fatigue life,the estimation of fatigue life constant and the vibration of Sn/Pb solder joints are discussed.The fatigue life of BGA solder joints is discussed in detail from the aspects of fatigue life.K e y w o r d s:BGA package solder joint;reliability;fatigue life1BGA封装随着现代微米技术、设备技术以及集成技术的广泛应用,芯片集成度也随之不断提高,这使得I/O引脚需求大幅度 增加,且相应的功耗也越来越大,对集成电路进行封装的要 求也更高。

无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究的开题报告

无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究的开题报告

无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究的开题报告一、研究背景与意义随着电子产品的不断发展,焊接技术也在不断地更新和发展。

无铅焊接技术由于其环保和可靠性在工业中得到了广泛的应用。

然而,由于其独有的焊接工艺和组织结构,无铅焊点的可靠性和寿命成为了焊接专业研究的重点。

本课题围绕无铅焊点寿命预测和IMC(Intermetallic Compounds,互金属化合物)对可靠性的影响进行研究,旨在深入了解无铅焊点的性质和特点,并为无铅焊点寿命预测和设计提供理论和技术支持。

二、研究目标和内容本研究的目标是通过对无铅焊点IMC组织、力学性能以及与焊接条件和设计相关因素的关系进行详细分析和研究,提出一种可靠的无铅焊点寿命预测模型,并探究IMC是否会对无铅焊点的可靠性和寿命产生影响。

具体研究内容包括:1.对无铅焊点的组织结构和IMC形成机理进行分析和研究。

2.利用拉伸实验和压缩实验对无铅焊点的力学性能进行测试,得到其本构模型。

3.通过实验研究无铅焊点的寿命,探讨IMC对无铅焊点的可靠性影响。

4.基于组织结构和力学特性提出一种无铅焊点寿命预测模型。

三、研究方法和技术路线1.样品制备:采用SMT(表面贴装技术)工艺制备无铅焊点样品,并对焊点进行清洗和预处理。

2.实验测试:通过金相显微镜、扫描电镜、拉伸实验、压缩实验等对无铅焊点和IMC进行分析和测试。

3.数据处理:根据实验结果进行数据处理和分析,得到无铅焊点的组织结构、力学特性等性能数据。

4.寿命预测:根据组织结构和力学特性,从微观层面出发,建立基于焊点物理性质的无铅焊点寿命预测模型。

四、研究预期结果及应用价值本研究将通过对无铅焊点IMC组织、力学性能和寿命的分析,建立了一种基于焊点物理性质的无铅焊点寿命预测模型。

此模型将为无铅焊点的设计和制造提供理论和技术支持。

同时,在实践中为提高无铅焊点的可靠性和寿命、保障电子产品的工作稳定性和安全性提供了有益的参考。

焊点可靠度分析

焊点可靠度分析
參加人員
負責電路板SMT技術之設計、製造、品管、可靠度人員
課程介紹
o電路板可靠度問題及趨勢
o材料、設計、製程對產品品質及可靠統計、可靠度目標
oMiner’s rule
o加速因子、壽命預估方法:模式、PC軟體工具、FEA
o零件技術:LCCC、TSOP、QFP、BGA、CSP、Flip-chip
o解決問題,評估產品可靠度及參數分析
焊點可靠度分析
課程大綱
表面附著技術大量使用於電子產品,使用中焊點承受週期熱應力而產生疲勞失效,所以焊點可靠度評估是SMT中重要的程序,尤其是輕薄短小的趨勢,新的封裝技術不斷地減小體積,增加電力消耗高I/O數目即在嚴厲環境中使用,使焊點承受的應力增加。
本研討會的目的在於提供焊點可靠度實務,設計準則及失效資料,建立SM電路板的可靠度,尤其是細間隙SMT,如BGA、CSP及覆晶等附著技術,了解焊點機構、失效原理、疲勞分析、加速測試及模式,可以掌握材料,製程及設計參數對產品可靠度的影響,如LCCC到TSOP、BGA、Flip-chip及CSP,學習業界先進及專家所得到的經驗,各類零件的附著方式及其失效模分析及加速測試資料,將引用於研討會說明。

焊点可靠性分析

焊点可靠性分析

焊点可靠性分析目录焊点的基础知识1焊点的工艺流程2焊点的工艺评价3焊点的可靠性评价41.焊点的基础知识1.1焊点:无铅/锡铅焊料被加热到熔点以上,焊接金属表面在助焊剂的活化作焊点图片用下,对金属表面的氧化层和污染物起到清洗作用,同时使金属表面获得足够的激活能。

熔融的焊料在经过助焊剂净化的金属表面上进行浸润、发生扩散、冶金结合,在焊料和被焊接金属表面之间生成金属间结合层,冷却后使得焊料凝固,形成焊点。

在焊接界面形成良好滋润形成良好焊点的关键形成合适的金属化间化合物1.2形成良好焊点的关键1.3焊点的基本结构和基本作用�焊点的基本构成:器件引脚、焊料、PCB焊盘、界面的金属化层�焊点的基本作用:电气连接、机械连接2.焊点的工艺流程冷却后形成焊点表面清洗焊件加热焊料润湿扩散结合层焊接工艺表面清洁焊件加热焊料润湿扩散结合层冷却后形成焊点焊接过程分解助焊剂残留的影响高温和温度差异的影响焊点微观结构的差异2.1主要的焊接工艺软钎焊接:手工焊接软钎焊接:手工焊接 波峰焊接波峰焊接波峰焊接 SMT SMT SMT再流焊再流焊接其他焊接:激光焊接其他焊接:激光焊接 氩弧焊接氩弧焊接氩弧焊接 压焊等压焊等——主要针对钎焊接2.1.1手工焊接手工焊接工艺手工焊接工艺缺陷:焊料对引脚润湿不良;焊料对孔壁润湿、填充不足。

2.1.2波峰焊波峰焊:波峰焊是让插件板的焊接面直接与高温液态锡接触达到焊接目的,其高温液态锡保持一个斜面,并由特殊装置使液态锡形成一道道类似波浪的现象,所以叫"波峰焊"波峰焊曲线图2.1.3回流焊�回流焊:回流焊技术在电子制造领域并不陌生,我们电脑内使用的各回流焊接工艺种板卡上的元件都是通过这种工艺焊接到线路板上的,这种设备的内部有一个加热电路,将空气或氮气加热到足够高的温度后吹向已经贴好元件的线路板,让元件两侧的焊料融化后与主板粘结回流焊曲线图焊接缺陷案例2.2工艺不当主要失效模式工艺不当焊点冷焊静电损伤焊点偏位异常陶瓷电容破裂潮湿敏感损伤焊点过度焊接工艺缺陷原因汇总分析1包括元器件、助焊剂等材料控制不合理3后期检测的手段缺乏,不能及时发现问题2焊接工艺参数缺乏必要的控制和优化补充:技术人员对工艺控制的要求掌握不够3.焊点的工艺评价9.热分析技术(TGA/DSC/TMA)10.染色与渗透技术11.其他分析测试技术9.热分析技术(TGA/DSC/TMA)10.染色与渗透技术11.其他分析测试技术5.金相切片分析6.扫描电镜分析SEM 7.能谱分析EDAX 8.光电子能谱XPS 5.金相切片分析6.扫描电镜分析SEM 7.能谱分析EDAX 8.光电子能谱XPS 1.红外检查2.X 射线透视检查X-RAY 3.扫描超声显微镜检查 C-SAM 4.红外显微镜分析FT-IR 1.红外检查 2.X 射线透视检查X-RAY 3.扫描超声显微镜检查C-SAM 4.红外显微镜分析FT-IR3.1外观检查 Visual Inspection4.焊点可靠性分析焊点的主要可靠性问题�焊点缺陷(空洞、虚焊、冷焊等)�焊点疲劳失效(和长时间工作相关)�焊点开裂失效(通常和受热或机械应力相关焊点疲劳可靠性评价标准IPC-SM-785表面组装焊点可靠性加速试验实验指南IPC-9701 表面组装焊点性能测试方法和鉴定要求(给出了详细要求)JESD22-104-B 温度循环试验4.1温度循环/温度冲击�温度:0℃—100℃、-25℃—100℃、-40℃—125℃、-55℃—125℃、-55℃--100℃�高低温停留时间:有铅:10min\无铅:10min~30min 常用:15min�温度变化速率:<20℃/min 推荐10℃/min~15℃/min�循环数:200cyle\500cyle\1000cyle\1500cyle\2000cyle\�1%失效率计算�5年*365天=1825天*24=43800h*1%=438h*2=876cyle----1000cyle� 3年*365天=1095天*24=26280h*1%=262h*2=524cyle �温冲:500h 2pcs4.2高温高湿试验�85℃± 2℃,85± 2%RH,1000h(其他非标准时间:500H,168H客户指定时采用)\ JESD22A101�IPC-TM-650 2.6.14.1电迁移�40℃ ± 2℃, 93% ± 2% RH;�65℃ ± 2℃,88.5% ±3.5% RH; 85°C ± 2°C, 88.5% ± 3.5% RH�偏压:10VDC;时间:596H�85°C ± 2°C, 85% ±5% RH,1000-24/+168 小时JESD-22-A1014.3锡须观察�Min Temperature -55 to -40 (+0/-10) °C;Max Temperature +85 (+10/-0) °C,air to air; 5 to10 minute soak;3 cycles/hour 1000 cycles。

BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命分析

BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命分析

BGA封装焊点可靠性及疲惫寿命分析随着电子产品的不息进步,电子元件的集成化和微小化趋势愈创造显。

BGA(Ball Grid Array)封装作为一种先进的表面贴装技术,因其在空间利用率、导热性能和可靠性等方面的优势而被广泛应用于现代电子产品的制造中。

然而,由于BGA封装焊点的结构和工作环境的特殊性,焊点可靠性和疲惫寿命成为影响产品质量和可靠性的重要因素。

BGA封装的焊点可靠性主要受到以下几个因素的影响:焊点结构设计、焊接工艺和材料的选择以及使用环境条件。

起首,焊点结构设计是保证焊点可靠性的基础。

焊点的规划、尺寸和间距的设计需要思量到应力分布、热应力和热膨胀等因素,以防止焊点疲惫和断裂。

其次,焊接工艺和材料的选择是影响焊点可靠性的重要因素。

适当的焊接工艺参数和合适的焊接材料能够确保焊点的高度可靠性。

最后,使用环境条件也会对焊点可靠性产生重要影响。

温度变化、机械应力和震动等环境因素都可能导致焊点的疲惫、裂纹和失效。

疲惫寿命是衡量焊点可靠性的重要指标之一。

焊点在使用过程中会受到屡次热、机械应力的作用,从而导致疲惫断裂。

焊点疲惫寿命将受到多种因素的影响,包括焊点材料的物理、化学性质、腐蚀环境、应力水平宁加载方式等。

通常,焊点的疲惫寿命可以通过试验、数值模拟和寿命猜测模型等方法来进行评估。

通过对焊点疲惫寿命的分析,可以指导焊接工艺的优化,提高焊点的可靠性。

在BGA封装的焊点可靠性和疲惫寿命分析中,试验是一种重要的手段。

通过对不同焊点结构和工艺参数的试验探究,可以评估焊点在不同条件下的失效模式和寿命。

另外,数值模拟方法也是一种有效的手段。

通过建立焊点结构和材料的有限元模型,可以模拟焊点在实际工作条件下的应力和应变分布,从而评估焊点的可靠性和疲惫寿命。

此外,寿命猜测模型也是一种常用的手段。

通过建立适当的数学模型,可以依据焊点的工作条件和材料性质,猜测焊点的寿命,从而指导焊接工艺和材料的选择。

总的来说,BGA封装焊点的可靠性和疲惫寿命是一个复杂而重要的问题。

焊接接头的可靠性评估与寿命预测

焊接接头的可靠性评估与寿命预测

焊接接头的可靠性评估与寿命预测焊接接头是工程领域中常见的连接方式之一,它在各种行业中广泛应用,如航空航天、汽车制造、建筑工程等。

然而,焊接接头的可靠性一直是一个重要的问题,因为它直接影响到结构的安全性和使用寿命。

本文将探讨焊接接头的可靠性评估与寿命预测的方法和技术。

一、焊接接头的可靠性评估焊接接头的可靠性评估是指通过一系列的试验和分析,对焊接接头的性能进行评估,以确定其是否能够满足设计要求和使用条件。

可靠性评估的主要目标是确定焊接接头的疲劳寿命、强度和刚度等关键参数,并对其进行可靠性分析。

1. 疲劳寿命评估焊接接头在使用过程中会受到交变载荷的作用,容易引起疲劳破坏。

为了评估焊接接头的疲劳寿命,可以采用疲劳试验和有限元分析相结合的方法。

通过在实验室中对焊接接头进行疲劳试验,可以获取其疲劳曲线和疲劳极限。

同时,使用有限元分析软件对焊接接头进行模拟,可以预测其疲劳寿命,并进行可靠性评估。

2. 强度评估焊接接头的强度评估是指确定焊接接头在受到静载荷时的承载能力。

强度评估通常采用材料力学和有限元分析的方法。

通过对焊接接头进行拉伸试验和压缩试验,可以获取其材料的强度参数。

同时,使用有限元分析软件对焊接接头进行模拟,可以预测其强度,并进行可靠性评估。

3. 刚度评估焊接接头的刚度评估是指确定焊接接头在受到外部载荷时的变形能力。

刚度评估通常采用有限元分析的方法。

通过对焊接接头进行静力学分析,可以获取其刚度参数。

同时,使用有限元分析软件对焊接接头进行模拟,可以预测其刚度,并进行可靠性评估。

二、焊接接头的寿命预测焊接接头的寿命预测是指通过一系列的试验和分析,对焊接接头的使用寿命进行预测和评估。

寿命预测的主要目标是确定焊接接头的寿命曲线和失效机制,并对其进行寿命预测。

1. 寿命曲线预测焊接接头的寿命曲线是指焊接接头在使用过程中的寿命与时间的关系。

为了预测焊接接头的寿命曲线,可以采用疲劳试验和统计分析的方法。

通过在实验室中对焊接接头进行疲劳试验,并记录其失效时间,可以建立寿命曲线。

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焊点可靠性之焊点寿命预测
在产品设计阶段对SMT 焊点的可能服役期限进行预测,是各大电子产品公司为保证电子整机的可靠性所必须进行的工作,为此提出了多种焊点寿命预测模型。

(1) 基于Manson-Coffin 方程的寿命预测模型
M-C 方程是用于预测金属材料低周疲劳失效寿命的经典经验方程[9]。

其基本形式如下:
C N p f =ε∆β
(1-1)
式中 N f — 失效循环数;
∆εp — 循环塑性应变范围;
β, C — 经验常数。

IBM 的Norris 和Landzberg 最早提出了用于软钎焊焊点热疲劳寿命预测的M-C 方程修正形式[2]:
)/exp()(max /1kT Q Cf N n p m f -ε∆= (1-2)
式中 C, m, n — 材料常数;
Q — 激活能;
f — 循环频率;
k — Boltzmann 常数;
T max — 温度循环的最高温度。

Bell 实验室的Engelmaier 针对LCCC 封装SMT 焊点的热疲劳寿命预测对M-C 方程进行了修正[10]:
c f f N /1'221⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛εγ∆= (1-3)
)1ln(1074.1106442.024f T c s +⨯+⨯--=-- (1-4)
式中 ∆γ — 循环剪切应变范围;
f 'ε— 疲劳韧性系数,2f 'ε=0.65;
c — 疲劳韧性指数;
T s — 温度循环的平均温度。

采用M-C 型疲劳寿命预测方程,关键在于循环塑性应变范围的确定。

主要有两种方法:一种是解析法[10,11],通过对焊点结构的力学解析分析计算出焊点在热循环过程中承受的循环应变范围,如Engelmaier 给出[10]:
— — 2 40010)]()([2-⨯-α--α=γ∆T T T T h L
s s c c (1-5)
式中 L — LCCC 器件边长;
h — 焊点高度;
αc , αs — 分别为陶瓷芯片载体和树脂基板的热膨胀系数;
T c , T s — 分别为陶瓷芯片载体和树脂基板的温度;
T 0 — power-off 时的稳态温度。

另一种方法是基于有限元数值模拟的结果给出循环塑性应变范围[12-14]。

由于所采用的软钎料合金本构方程的不同,在M-C 方程中采用循环塑性应变范围、或循环蠕变应变范围、或循环非弹性总应变范围存在着争议。

M-C 方程作为一经验方程,对疲劳失效数学规律的宏观描述是成功的。

但是在实际应用中,由于方程中的参数均须来自于初期试验结果,而不同的试件形式、载荷条件等因素将导致不同的参数结果,外推性相当差。

例如Engelmaier 的修正方程中参数确定依据的是Wild [15]的试验数据,而其他研究者在引用时则引起了较大的误差[16]。

需要指出的是,由于SMT 焊点的微细特征,通过试验方法获得焊点在热循环过程中的循环应变范围数据极为困难。

近年来开始了一些尝试[17-20],主要方法是光学干涉法。

Motorola 公司的Guo 等人对近年来光学技术的发展及其在应力/应变试验测量方面的应用作了综述[19]。

来自同一公司的Lu 提出了一种具有更高精度,基于数字图象处理技术的数字灰度值校正技术[20]。

但目前为止采用有限元数值模拟方法还是主流。

(2) 基于断裂力学的寿命预测模型
既然SMT 焊点失效过程的宏观表象为裂纹的萌生与扩展,因此采用断裂力学的方法通过预测疲劳裂纹扩展速率从而预测出疲劳寿命是一种自然的思维方式,物理概念也比较清晰。

在断裂力学中对于疲劳裂纹扩展速率也存在一经典经验方程—Paris 方程,其基本形式如下[21]:
m H C dN
da )(∆= (1-6) 式中 a — 裂纹长度;
∆H — 主控裂纹扩展的力学参量;
C, m — 表征疲劳裂纹扩展阻力的材料参数。

Paris 方程的应用重点在于确定主控裂纹扩展的力学参量,这在断裂力学中也是一个存在争议的问题。

出身于Boeing 公司的Paris 最初在线弹性断裂
力学的应用中采用的是应力场强度因子∆K[22],Westinghouse研发中心的Liaw 等人将其引入了软钎焊焊点的疲劳问题分析[23]。

后继研究中,HP公司的Lau 提出采用循环∆J积分[24];Ford公司的Pao提出采用可以表征材料蠕变行为的C*积分[25];北卡罗来纳大学的Guo提出采用循环塑性功密度∆W p[26];最
近Ford公司的Hu提出采用一种基于应变的主控力学参数a
γ
∆[21]。

π
总体而言,由于焊点的表面裂纹扩展及长度可以进行试验观测(通常采用光学显微镜对表面裂纹长度进行观察,精确性较差。

Auburn大学的Krishnamoorthy等人已提出采用Moire干涉技术直接测量软钎焊焊点钎料合金/Cu界面的断裂参数—裂纹张开位移[27]),断裂力学的应用可以进行试验的验证。

但是由于断裂力学的发展水平,其应用有相当大的局限性。

一方面,基于断裂力学的寿命预测模型中不包含金属学因素的影响;另一方面,作为弹塑性断裂力学基石的J积分在卸载载荷条件下丧失了物理意义,因此其在循环载荷条件下的应用受到了置疑[28]。

(3) 基于损伤力学的寿命预测模型
损伤力学中将材料的失效过程看作是损伤的累积过程。

对于材料失效过程的数值模拟及寿命预测的一般研究途径为:将损伤度量变量引入材料的本构方程或定义一种变量为损伤度量,而后进行结构在一定载荷条件下损伤度量演化的试验或数值模拟,并规定损伤度量达到一临界值时材料失效。

对于表面组装焊点,力学试验中可以采用裂纹总面积[29]、焊点接触电阻变化[30]、焊点热阻变化[31,32]、循环应力幅值下降[33,34]等作为损伤度量。

有限元数值模拟中通常采用不可逆变形或耗散能作为损伤度量。

西北大学的Dasgupta从能量耗散的角度建立了损伤度量[35],而Solomon等人却指出采用耗散能作为损伤度量不能导致唯一的损伤值,因为载荷和应变速率对系统能量有很大影响[36]。

Ford公司的Pan建立了临界累积应变能损伤度量[37];Basaran等人提出一种基于热力学第二定律和统计力学的以熵变为基础的损伤度量,并将之纳入软钎料合金的损伤耦合型粘塑性本构方程[38-40]。

基于损伤力学的寿命预测方法可以模拟材料失效的全过程,但是限于损伤力学目前还处于发展阶段,损伤度量的物理意义及其临界值—损伤判据的定义均不是很清楚。

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