X-R控制图培训讲义

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控制图使用培训讲义全

控制图使用培训讲义全

3.统计与概率论简介
Z值表
4.均值极差图( Xbar-R图)
生产过程中用控制图对过程质量特性进行测定、记录、评 估,从而监察过程是否处于控制状态,对过程异常提前进行 预警。
控制图种类有多种,而使用最多的是均值极差控制图 (Xbar-R图)。
4.均值极差图( Xbar-R图)
控制图类别
数值 分布
M:规范中心(规格中心) M = USL LSL
2
T:规范宽度(规格公差),T=USL-LSL ,T描述的是客户要求的宽与严。
T/2:半公差
ε:偏移量(或偏移系数),反应数据中心偏离规格中心的大小 ε=|M - μ|
K:相对偏移量(或修正系数) ,反应数据中心偏离规格中心的程度,也有用Ca。
K= ε T/2
4.均值极差图( Xbar-R图)
术语(控制图中的线): USL:规范上限 ,也有用TU来表示的
LSL:规范下限,也有用TL来表示的 CL:控制限(或控制中心线) UCL:上控制限, UCL=μ+3σ LCL:下控制限, LCL=μ-3σ A区的边界 UWL:上警告限, UWL=μ+2σ LWL:下警告限, LWL=μ-2σ B区的边界
σˆ 同理:后面 是s 的估计值
总体
μ
=
X1 X 2 .... X N N
=
1 N
N i =1
Xi
3.统计与概率论简介
总体均值 总体标准差
样本均值 样本标准差
N
m
=
xi
i =1
=
x1 x2 ...xN
N
N
s=
N
( xi m )2
i =1
N

xr控制图操作指南

xr控制图操作指南
1、 X-R控制图编号、规格、参数 等填写(填写规范如下) 知道了吗?
(1)控制图编号:HN-QCT— Z※※※ HN为华南公司, QCT为控 制图,Z为工程代号,表示总装、进 货检验为I,完车检验为W,机加工 为J, ※※※ 为流水号
(2)部门:工程责任部门或单位
(3)工序:X-R控制图控制的工序
工序能力充分,可以考核作业 简化
工序能力尚可,可接受,但 不充分
工序能力不足,需对作业改 进提高
当工程规范(公差)为两侧规格时(如
34+0.2-0.1),工序能力Cpk,其计算为:
Cpk=(1-K)( USL+LSL )/6σ
= (T-2ε)/6σ
其中:ε= (USL+LSL)/2-X
n1
一、X-R控制图定义及目的:
定义:用于长度、重量、时间、强度、
力值、成份等以计量值来管理工程的控
制图,利用统计手法,设定控制均值X
和极差R的界限,同时利用统计手法判
定导致工程质量变异是随机原因,还是
异常原因的图表。
光强度 1000Cd,此 应为计量值!
今天我 打了12 只野鸟! 我计数
了!
一、X-R控制图目的:
(4)操 工序操作者
(4)质量特性:说明控制何种计量
(6)样本容量/频率:抽样测量数据的数量/ 抽样频次,如5次(件)/每小时,5次/每日等
(7)产品型号:受控产品的型号 如FY1257摩托车
(8)零件名称:受控产品零件的名称 如摩 托车发动机
(9)测量工具:抽样测量质量或过程特性数 据的测量工具,如游标卡尺、深度尺、万能 表
X-R图,进去,瞧一瞧!
4 计算每个子组的均值(X)和极差(R)

XR控制图操作及应用 ppt课件

XR控制图操作及应用 ppt课件
XR控制图操作及应用
(3) 在控制图上作出平均值和极
差控制限的控制线
将平均极差(R)和均值X画成水平线虚线,各控
制 限 UCLR、LCLR、UCLX、LXLX 画 成 水 平 线 ,
把线标上记号。
就这样
X
标注,懂
UCLX 吗?
LXLX
XR控制图操作及应用
(3) 在控制图上作出平均值和极
差控制限的控制线
二、X-R控制图操作程序
1、 X-R控制图编号、规格、参数等
填写(填写规范如下)
知道了吗?
(1)控制图编号:HN-QCT—Z※※※ HN为华南公
司, QCT为控制图,Z为工程代号,表示总装、进货 检验为I,完车检验为W,机加工为J, ※※※ 为流水 号
(2)部门:工程责任部门或单位
(3)工序:X-R控制图控制的工序
进去看一下XR!控制图操作及应用
(2) 计算控制限
2) 计算控制限
UCLX= X+A2R 均值上限 LCL X= X-A2R 均值下限 UCLR=D4R 极差上限 LCLR= D3R 极差下限
N
3
4
5
6
7
D4 2.57 2.28 2.11 2.00 1.98
D3
*
*
*
*
0.08
A2 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42
目的:对公司生产现场制程的初始能力
进行分析和监控,对有规格变异的产品
质量特性或过程质量特性值进行动态控
制,以判定工程是否处于稳定状态,并
依据制定相应的措施纠正变异 。
问题在 这!措
控制点出界!
施应
是—!
XR控制图操作及应用

X-R控制图培训课件

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X-R控制图示
X控制图
有效的管理
UCL X LCL
UCL R
二、X-R控制图操作程序
有效的管理
• 1、 X-R控制图编号、规格、参数填写(填写规范如下)
• (1)控制图编号 • (2)部门:技术质量责任部门或单位 • (3)工序:X-R控制图控制的工序 • (4)操作者:工序操作者 • (4)质量特性:说明控制何种计量特性,如零件孔径、
2011-03
4 计算每个子组的均值(X)和极差(R) 有效的管理

X1+X2+......+Xn
X = —————————————
n
R=X最大值-X最小值 式中:X1、X2......Xn为子组内 的每个测量值,n为子组样本容量。
2011-03
5 选择控制图的刻度
有效的管理
• X图:纵坐标上的刻度值的最大与最小 之差应至少为子组均值X的最大与最小 值差的2倍。
UCL
X LCL
有效的管理
• 下面介绍一种验证数据点的总体分布是否异常的准则: 各点与R的距离:一般地,大约2/3的描点应落在控制 限的中间三分之一的区域内,大约1/3的点落在其外的 三分之二的区域。如数据点虽在控制界限内,如连续3 点中有2点落在其外的三分之二的区域,应属工序质量 异常(见3σ图的说明)
四、工序能力计算和分析
有效的管理
• 1、工序能力客观地描述工序过程中存在着分散的状况,统 计学有CP来评介工程能力的大小(分散程度),其计算公式 为CP=(UCL-LCL)/6σ,工程能力CP的评价基准为:
序号
级别
1 Cp<0.67
2 0.67≤Cp<1.0
3 1.0≤Cp<1.33

X-R控制图操作及应用课件

X-R控制图操作及应用课件
X-R 控制图培训
X-R控制图操作及应用
• 统计过程控制(SPC),主要应用于对过程变量的控制,它
统 计 过
的基本控制原理为3σ原则,即平均值± 3σ作为过程控制 的上下限,它是由WALTERA博士在1924年提出
程 • 其作用为:

制 • 1、从数据到图形应用统计技术可以反馈生产或服务过程
的 性质变化的信息。

据.
X-R控制图操作及应用
4 计算每个子组的均值(X)和极差(R)

X1+X2+......+Xn
X = —————————————
n
R=X最大值-X最小值
式中:X1、X2......Xn为子组内的每 个测量值,n为子组样本容量。X-R控制图操作及用5 选择控制图的刻度
• X图:坐标上的刻度值的最大与最小之差应至 少为子组均值X的最大与最小值差的2倍。
以子组序号为横坐标值,描出X图和R 图中的相应的点, 注意,在控制界内的点打记,在控制图界外的作⊙记, 并连成点链。
X-R控制图操作及应用
X控制图 R控制图
X-R控制图示
UCL X LCL
UCL R
X-R控制图操作及应用
7 X-R控制图分析
• (1) 分析均值极差图上的数据点 • A) 点在控制界线外;一个或多个点超出控制限是该点处于失控状
态的主要证明依据。因为只存在普通原因引起变差的情况下超出控 制限的点会很少,我们便假设超出的是由于特殊原因(如工装和设 备异常突发变化等)造成的,给任何超出控制限的点作上标识,以 便根据特殊原因实际开始的时间进行调查,采取纠正措施。(但连 续35点允许一点、连续100点有二点逸出控制界外,可暂不采取纠正 措施)
寸20+0。2-0。1

SPC X-R图 讲义

SPC X-R图 讲义

3-3 计算控制限
3-3-1 计算平均极差(R)及过程均值(X)
R=(R1+R2+„+Rk)/ k(K表示子组数量) X=(X1+X2+„+Xk)/ k 3-3-2 计算控制限 上限 UCLx = X+ A2R (均值) ;UCLR=D4R(极差);
下限 UCLx = X- A2R (均值) ;UCLR=D3R(极差);
4、过程控制分析
4-1 分析极差图上的数据点
4-1-1 超出控制限的点
受控制的过程的极差 UCL
R
LCL
UCL
不受控制的过程的极差(有超过控制限的点)
R
LCL
4、过程控制分析
4-1 分析极差图上的数据点
4-1-2 链 有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势:
• 连续 7点在平均值一侧;
• 连续7点连续上升或下降; a 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部: a-1 输出值的分布宽度增加,原因可能是无规律的(例如:设备工作不正常或固定松动)
1、收集 收集数据并画在图上 2、控制 根据过程数据计算实验控制限 识别变差的特殊原因并采取措施 3、分析及改进 确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施 重复这三个阶段从而不断改进过程
X-R 均值和极差图
计 量 型 数 据
X-δ 均值和标准差图 X -R 中位值极差图
P chart 不良率管制 图 nP chart 不良数管制 计数 图 型数 C chart 缺点数管制 据 图
1、使用控制图的准备
1)建立适合于实施的环境 a、排除阻碍人员公正的因素 b、提供相应的资源 c、管理者支持 2)定义过程 根据加工过程和上下使用者之间的关系,分析每个阶段的影响因素。 3)确定待控制的特性,应考虑到: 顾客的需求 当前及潜在的问题区域 特性间的相互关系 4)确定测量系统 a、规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 b、确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。 5)使不必要的变差最小 确保过程按预定的方式运行 确保输入的材料符合要求 恒定的控制设定值 注:应在过程记录表上记录所有的相关事件,如:刀具更新,新的材料批次等,有利于下一 步的过程分析。

最新X-R控制图操作指南

最新X-R控制图操作指南

X图
R图
___________________________ _______________________
数据 你敢跑!
SPC图形
措施
___________________________ _______________________
SPC应用的好处
节约成本 使标准趋于准确 使过程更加稳定 使控制规格更加真实 减少检验频度 减少问题出现的频度 改善和提高客户的满意度 可靠地测出实际过程能力 改善测量结果的准确度 改善产品品质 减少出货周期时间
(4)操作者:工序操作者
(4)质量特性:说明控制何种计量特性,如工件长度、 安装扭矩、摩托车车速等
(5)工程规范:产品质量特性值或过程特性值设计或 规范公差如长度尺寸20+0。2-0。1
___________________________ _______________________
(6)样本容量/频率:抽样测量数据的数量/ 抽样频次,如5次(件)/每小时,5次/每日等
(7)产品型号:受控产品的型号 如FY1257摩托车
(8)零件名称:受控产品零件的名称 如摩 托车发动机
(9)测量工具:抽样测量质量或过程特性数 据的测量工具,如游标卡尺、深度尺、万能 表
(11)机器编号:受控工序操作的机器编号 (12)控制时段:控制图收集数据的时段,
如2002/8/22-2002/8/26

___________________________ _______________________
-3σ
统计过程控制的来源和作用
其作用为: 1、从数据到图形应用统计技术可以反馈生产或服务过程
性质变化的信息。 2、帮助我们分析过程变化的原因 3对于超出控制界限的点采取整改行动。 4根据样本数据可以对过程性质作出评价 5、评定生产/过程性质变化与原来过程状态进行比较。

XR控制图操作指南精选文档PPT课件

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k
X= X1+X2+...... +Xk
K
式中:K为子组数量,R1和X1即为第1个子组 的极差和均值,R2和X2为第2个子组的极差 和均值,其余类推。一般取25子组数据。
进去看一下!
15
(2) 计算控制限
2) 计算控制限
UCLX= X+A2R 均值上限 LCL X= X-A2R 均值下限 UCLR=D4R 极差上限 LCLR= D3R 极差下限
X-R图,进去,瞧一瞧!
12
4 计算每个子组的均值(X)和极差(R)
X1+X2+......+Xn
X = —————————————
n
R=X最大值-X最小值 式中:X1、X2......Xn为子组内的每个测量值, n为子组样本容量,一般取4-5个数据。
各小组的 均值及极差, 就这么计算!
13
5 选择控制图的刻度
性质变化的信息。 2、帮助我们分析过程变化的原因 3对于超出控制界限的点采取整改行动。 4根据样本数据可以对过程性质作出评价 5、评定生产/过程性质变化与原来过程状态进行比较。
数据 你敢跑!
SPC图形
措施
3
SPC应用的好处
节约成本 使标准趋于准确 使过程更加稳定 使控制规格更加真实 减少检验频度 减少问题出现的频度 改善和提高客户的满意度 可靠地测出实际过程能力 改善测量结果的准确度 改善产品品质 减少出货周期时间
目的:对公司生产现场制程的初始能力
进行分析和监控,对有规格变异的产品
质量特性或过程质量特性值进行动态控
制,以判定工程是否处于稳定状态,并
依据制定相应的措施纠正变异 。
问题在 这!措
控制点出界!
施应
是—!
6

SPC讲座一(X-R管制图)

SPC讲座一(X-R管制图)

91 90.4 91.4 91.6 91.2 91.2 90.4 90.8 92.4 90.8 91.2 90.6 90.6 89.6 91.2 90.8
7
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450 451 456 452
用途
代表
• 用作樣本數平均值轉變的製圖 • 全距和標準差控制圖是控制數據的
散佈程度 • 用作個別樣據轉變的製圖 • 全距控制圖是控制數據的散佈程度
•用作每一樣本組不良品比率的製圖 •樣本數可以改變 • 用作每一樣本組不良品數目的製圖 • 樣本數是固定的
• 用作缺點數目的製圖,而每次查驗 的面積是相同的
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SPC X-R图 讲义

SPC X-R图 讲义

目标值线
预测
时间
范围
如果仅存在变差的普通原因,目标值线随着时间的推移, 过程的输出形成一个稳定的分布并可预测。
变差的普通及特殊原因
特殊原因:是指造成不是始终作用于过程的变差的原因,即当它们 出现时将造成(整个)过程的分布改变。只用特殊原因 被查出且采取措施,否则它们将继续不可预测的影响过程 的输出。 (通常也叫可查明原因)
SPC(Statistical Process Control)
统计制程管制
同心同德 诚信经营 持续创新 追求卓越
细节决定成败 品质成就未来
A 制程控制系统 B 变差的普通及特殊原因 C 局部措施和对系统采取措施 D 过程控制和过程能力 E 过程改进循环及过程控制 F 控制图
工业革命以后, 随着生产力的进一步发展,大规模生 产的形成,如何控制大批量产品质量成为一个突出问题, 单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济 发展的要求,必须改进质量管理方式。于是,英、美等 国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方 法。 1924年,美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用 于生产过程当中,并发表了著名的“控制图法”,对过程变 量进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。
注1:R 图和 X 图应分别分析,但可进行比较,了解影响过程的特殊原因。 注2:因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差,因此,首先应分析R图。 4-1 分析极差图上的数据点
4-1-1 超出控制限的点 a 出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据,应分析。 b 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种: b.1 控制限计算错误或描点时描错 b.2 零件间的变化性或分布的宽度已增大(即变坏) b.3 测量系统变化(如:不同的检验员或量具) c 有一点位于控制限之下,说明存在下列情况的一种或多种 c.1 控制限或描点时描错 c.2 分布的宽度变小(变好) c.3 测量系统已改变(包括数据编辑或变换)

SPC-X-R图-讲义(1)

SPC-X-R图-讲义(1)
3)确定待控制的特性,应考虑到: 顾客的需求 当前及潜在的问题区域 特性间的相互关系
4)确定测量系统 a、规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 b、确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。
5)使不必要的变差最小 确保过程按预定的方式运行 确保输入的材料符合要求 恒定的控制设定值
注:应在过程记录表上记录所有的相关事件,如:刀具更新,新的材料批次等,有利于下一 步的过程分析。
R
LCL
4、过程控制分析
4-1 分析极差图上的数据点
4-1-2 链 有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势:
• 连续 7点在平均值一侧; • 连续7点连续上升或下降; a 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部:
a-1 输出值的分布宽度增加,原因可能是无规律的(例如:设备工作不正常或固定松动) 或是由于过程中的某要素变化(如使用新的不一致的原材料),这些问题都是常见的 问题,需要纠正;
3、分析及改进 确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施
重复这三个阶段从而不断改进过程
X-R 均值和极差图
计 X-δ 均值和标准差图 量
型 数
X -R 中位值极差图

X-MR 单值移动极差图
P chart 不良率管制 图
nP chart 不良数管制 计数 图 型数 C chart 缺点数管制 据图
关系等。 b 一般情况,各点与R 的距离:大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内,大约1/3的点落在
其外的2/3的区域。 c 如果显著多余2/3以上的描点落在离 R 很近之处(对于25子组,如果超过90%的点落在控制限的1/3
区域),则应对下列情况的一种或更多进行调查: c-1 控制限或描点已计算错描错 。 c-2 过程或取样方法被分层,每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的

SPC-X-R控制图讲义

SPC-X-R控制图讲义

.
2
二、X-S管理图的用途
1、用于分析
x
2、用于控制
控制范围 中线
控制范围
计算控制范围
用控制范围进行控制
.
3
三、X-bar管理图的原理
USL
USL(规格上限)
集合
σ μ
LSL
LSL(规格下限)
样本
σ n
UCL=X-bar-bar+3 δ=X-bar-bar+3*stdev(X-barn)
特殊原因
UCL
上限
99.73%
自然公差
CL
中线
特殊原因
LCL
下限
过程如果处在安定的状态下,测定值超 过±3σ的安定变动范围的情况极少
.
4
Xbar管理图的UCL、LCL的计算
UCL=X-bar-bar+3 δ=X-bar-bar+3*stdev(X-barn) CL=X-bar-bar
LCL=X-bar-bar-3 δ=X-bar-bar-3*stdev(X-barn) δ=stdev(X-barn)
.
7
过程控制
特殊原因
由特殊原因 产生偏差的状态
控制某个过程
确保没有特殊原因存在,只是取决 于过程实力
.
一般原因
没有特殊原因产 生的偏差,而只 是取决于过程实 力的状态
8
六、X-R管理图异常情况判定
Control chart's alarms
.
9
管理状态和受控状态 : 点散布在中心线的附近,并且不脱离管理界限下的状态
1、使用X-R管理图进行过程控制的数值必须是计量值; 2、用X-R管理图进行控制的过程必须处于稳定并受控的状态; 3、初次收集的数据需要进行变差分析,通过计算求出CPk值, 以CPk值来判定过程的稳定(实力)情况;如果CPk≥1.33以上, 可以认为过程是稳定的,根据数据计算出的X,R,CL,UCL,LCL 作为过程控制的界限; 4、当过程发生变化时,例如4M(人、机、料、法)变更,使过 程实力发生变化,此时需要重新收集数据并计算出平均值和控制 界限,作为新的控制界限。 5、根据收集特定过程计算出的控制界限,只使用于该特定过程。

X-R控制图操作指引

X-R控制图操作指引
? (8)零件名称:受控产品零件的名称 如摩 托车发动机
? (9)测量工具:抽样测量质量或过程特性数 据的测量工具,如游标卡尺、深度尺、万能 表
? (11 )机器编号:受控工序操作的机器编号
? (12 )控制时段:控制图收集数据的时段, 如2002/8/22-2002/8/26
2、收集数据
?合理的子组大小、频率和数据
?
k
?
? X= X1+X2+...... +Xk
?
K
? 式中:K为子组数量, R1和X1即为第 1个子组 的极差和均值, R2和X2为第 2个子组的极差 和均值,其余类推。一般取 25子组数据。
?进去看一下!
(2) 计算控制限
? 2) 计算控制限
? UCLX= X+A2R 均值上限 ? LCL X = X-A2R 均值下限 ? UCLR=D4R 极差上限 ? LCLR = D3R 极差下限
N
3
4
5
6
7
D4 2.57 2.28 2.11 2.00 1.9.08
A2 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42
(3) 在控制图上作出平均值和极
差控制限的控制线
? 将平均极差 (R)和均值X画成水平线虚线,各控
制限 UCLR、LCLR、UCLX、LXLX画成水平线 ,
把线标上记号。
? X图:坐标上的刻度值的最大与最小之差应至少
为子组均值X的最大与最小值差的2倍。
? R图;刻度值应从最低值0开始到最大值之间的差 值为初期阶段所遇到最大极差R的2倍。
?X图
?R图
6 将均值和极差画到控制图上。
1) 计算控制限
? ⑴计算平均极差( R)及过程平均值( X)。

培训学习资料-X-R图入门教程_2022年学习资料

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二.质量的统计分析和推断观点-。1.质量的统计分析观点-产品质量永远波动并具有随机分布的规-律。可以从影响 品质量的因素出发,分-析这些因素的特点,进一步控制这些因素,-从而达到控制产品质量的目的。-©2.质量的统 推断观点-。质量控制过程中,从检验子样的质量统计-特征来推断整个母体质量的统计特征。
界值-界内面积占总面-界外面积占总面-积的%-U士o-68.27-31.73-U±1.960-95.00士20-95.45-4.55-U士3g-99.73-0.27
。也就是变量X在U左右各30范围以外的概率-仅为千分之三,这个结论叫“3σ ”定理,是-质量管理中经常用到的 则。
工序能力指数-通常衡量工序能够稳定地生产合格品的能力时,用工序能力指数来表-示。它厩反映了生产过程的精度够 够,也反映生产过程是否稳定。-计算公式Cp=T/6o,实际应用中通常取每组样本数6时,σ =R/2.534工序能力的关系-当Cp>1.67时,工序能力过分充裕,此时为提高产品质量,可再次缩-公差T,或为提高效率、 低成本而放宽波动幅度、降低设备精度-等-当1.67≥Cρ >1.33时,工序能力充分,当不是关键控制项目时, 降-低抽样检验频次;-当1.33≥Cp>1时,工序能力尚可,必须用控制图或其他方法对工序-进行控制监督:1≥Cp>0.67时,工序能力不充分,应加强质量检验,增加检验频-次,并分析原因:-当0.67>Cp时,应 产,改进工艺,否则须全数检验,剔除不良品。
工序能力指数Cp值的应用-正态分布和正态分布曲线-大量的统计学实践表明,正常生产状态-下,数据的分布符合正 分布(正常状-态下的分布,可以用数学上的正态分-布曲线表示
X-36最新X-R图入门教程
。正态分布曲线的特征是:曲线的中间高,-两端低,以X的平均值为轴对称,曲线与横-坐标所围成的面积等于1。U=X平均值,σ =样本标准偏差[(样本与-样本平均值之差的平方和样本数量]开二-次方-。有如下特点

X-R控制图操作及应用

X-R控制图操作及应用

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THANKS
• 多变量控制图:未来X-R控制图可能向多变量方向发展,同时监测多个 质量特性,实现更全面的质量控制。
• 大数据应用:借助大数据技术,X-R控制图可以处理海量数据,挖掘更 多有价值的信息,为质量改进提供更准确的依据。
• 挑战与机遇并存:虽然X-R控制图在质量管理中具有重要作用,但随着 市场需求的不断变化和技术的快速发展,其面临着不断适应新需求、新 技术和新标准的挑战。同时,这也为X-R控制图的发展带来了更多的机 遇和创新空间。
观察点的分布情况
01
若点超出控制界限或呈现非随机分布,则可能存在异常因素。
分析点的变化趋势
02
若点呈现连续上升或下降趋势,则可能存在系统性问题。
比较不同时间段或不同产品的控制图
03
若存在显著差异,则可能存在异常因素。
案例分析:某产品质量异常因素识别
案例背景
某生产线上的产品质量出现波动,需识别 异常因素。
改进措施提出和实施效果评价
改进措施提出
针对生产过程的不稳定因素,提出相应的改进措施,如优化设备参数、加强员工培训、改进原材料质量等。
实施效果评价
在实施改进措施后,再次收集数据并绘制X-R控制图进行评估。通过比较改进前后的控制图表现,评价改进措施 的实施效果。在本案例中,实施改进措施后,生产过程的稳定性得到显著提升,样本点基本落在控制限内。
数据收集与整理要求
数据类型
收集计量值数据,如长度、重量、时间等连续型变量 。
数据量
通常至少需要25组以上的数据,以充分反映过程波动 。
数据整理
将数据按照时间顺序或随机顺序排列,并计算每组数 据的平均值和极差。
确定中心线和上下控制限

X-R控制图操作指南

X-R控制图操作指南
Cpk=(1-K)( USL+LSL )/6σ = (T-2ε)/6σ 其ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ:ε= (USL+LSL)/2-X
说明: USL、LSL为 工程规程上限和下限 T为工程规范公差值 σ为标准差 ε为工程数据中心与 公差中心的偏差

n 1


i 1
n
( xi x) 2 n 1
天书! 我算不了!
用excel软件算
σ 用STDEV计算!

当工程规范(公差)为单向公差界限时, Cpk 的计算为: CpK=(USL-X)/3σ( 规 定 公 差 上 限 时 ) CpK =(X-LSL)/3σ(规定公差下限时) 以上σ的计算也可用 δ近似代替,以下为估计过 程的标准偏差(用δ表示)公式 δ= R/d2 式中:R为子组极差的均值(在 极 差受控时期) d2随样品容量变化的常数,见下表
CPK 算死我了!
CPK≥1.33,控制图 控制生效!
用EXCEL 自编软件算! 自动生成!!
四、工序能力计算和分析

1、工序能力客观地描述工序过程中存在着分 散的状况,统计学有CP来评介工程能力的大 小(分散程度),其计算公式为CP=(UCLLCL)/6σ,工程能力CP的评价基准为:
CP值 工序能力等级 工序能力说明

目的:对公司生产现场制程的初始能力 进行分析和监控,对有规格变异的产品 质量特性或过程质量特性值进行动态控 制,以判定工程是否处于稳定状态,并 问题在 依据制定相应的措施纠正变异 。 这!措
施应 是—!
控制点出界!
X控制图
这就是 X-R控制 图!
X-R控制图示
UCL X LCL
UCL R
二、X-R控制图操作程序

X-R控制图操作指南

X-R控制图操作指南

数据收集
2、收集数据
频率的选择

频率:在过程的初期研究中通常是连续 进行分组或很短时间间隔进行分组,检 查时间间隔内有否不稳定的因素存在。 当证明过程处于稳定时,子组间的时间 分组频率大快了, 间隔可以增加。
慢些!
3、 X-R图的位置及结构

1) X-R通常把数据栏位于X图和R 图的
上方,X图画在R图的上方,X和R的值为纵 坐标,按时间先后的子组为横坐标,数据值 以及极差和均值点纵向对齐,数据栏应记录 读数的和均值(X)、极差(R)以及日期/时间 或其它识别子组代码的空间

CP>1.67 1.33≤CP ≤ 1.67 1.33>CP>1
特级 一级
工序能力过剩,作业可简化 工序能力充分,可以考核作业 简化 工序能力尚可,可接受,但 不充分 工序能力不足,需对作业改 进提高
二级
1>CP
三级


当工程规范(公差)为两侧规格时(如 34+0.2-0.1),工序能力Cpk,其计算为:
σ -σ -3σ
8、控制图报警程序和管理

当控制图出现警告信号时,由责任人员填写X-R控制 图异常报警表,交工艺人员作出分析并制定纠正措 施,质管部QA负责跟踪和考核。必要时,对超出控 制限的点确定为特殊原因引起的,必须对该点加以 删除,重新修订控制图,重新计算控制限。当控制 限变得越来越好时,应对此时的工艺参数形成文件 加以介定,以优化管理。 出界了! 好!我 快报警! 马上搞定!

UCLR
R

C) 明显的非随机有规律变化图形:除 了会出现超过控制界的点或长链之外, 数据中还可能出现其他的易分辨的由于 特殊原因造面的图形,属工序质量异常。
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UCL X
LCL
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有效的管理
B)控制限之内的图形或趋势,当出现非随机有规律的图形或趋势时,尽管 所有极差都在控制限内,也表明出现这种图形或趋势的时期内,过程质量 异常或过程分布宽度发生变化。
点链有下列现象之一表明过程已改变或出现这种趋势: • a. 连续7点位于平均值的一侧; • b. 连续7点上升(后点等于或大于前点)或下降; • C、中心点一侧出现众多点(11点有10点,14点有12点,17点有
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二、X-R控制图操作程序
• 1、 X-R控制图编号、规格、参数等填写(填写规范如下) • (1)控制图编号:BOM-OF-QC-*** 为工程代号,制程为IP、IQC
始 识别子组代码的空间

据.
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4 计算每个子组的均值(X)和极差(R)

X1+X2+......+Xn
X = —————————————
n
R=X最大值-X最小值 式中:X1、X2......Xn为子组内 的每个测量值,n为子组样本容量。
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• 调查方式按下面方法进行:
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• 按上述原则判别定,可能会出现两个误判;
• (1)即冒失者之误:落入控制图的机率为99.97%,也就是 说1000个数据,有3个数据可能逸出控制界外,这是随机原 因,不是异常原因造成的变异。属正常,但误判为异常,此 现象为冒失者之误。用α表示。如α=0.3%。
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1、控制图操作备加说明:
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• 1、X-R图的控制限为上一次控制图工序能力分 析后,工序稳定(即CPK≥1.33时)时控制限, 因此开始作一份SPC控制图的第一个点时,控 制限已经生成,并不是25组数据取完后计算的 控制限。
• 2、 一份X-R图时必须计算该图的控制限和CPK, 当CPK≥1.33且计算的控制限范围相对事先设 定的控制限范围缩窄时,下一份图的控制限以 该图计算出的控制限为事先设定的控制限。
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SPC应用的好处
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一、
X-R • 定义:用于长度、重量、时间、强度、成份
控制 图定
等以计量值来管理工程的控制图,利用统计
义的 目的:
手法,设定控制均值X和极差R的界限,同时
利用统计手法判定导致工程质量变异是随机
原因,还是异常原因的图表。
• 目的:对公司现场制程的初始能力进行监控, 对有规格变异的产品质量特性或过程质量特 性值进行动态控制,对配套的各种“零部件” 的尺寸进行控制,以判定工程是否处于稳定 状态,并依据制定相应的措施纠正异
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X-R 控制图培训
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统 计 过
• 统计过程控制(SPC),主要应用于对过程变量的控制,它 的基本控制原理为3σ原则,即平均值± 3σ作为过程控制

的上下限,它是由WALTERA博士在1924年提出
控 • 其作用为:
制 的
• 1、从数据到图形应用统计技术可以反馈生产或服务过程
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X控制图
X-R控制图示
R控制图
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7 X-R控制图分析
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• (1) 分析均值极差图上的数据点
• A) 点在控制界线外;一个或多个点超出控制限是该点处于失控状 态的主要证明依据。因为只存在普通原因引起变差的情况下超出控 制限的点会很少,我们便假设超出的是由于特殊原因(如工装和设 备异常突发变化等)造成的,给任何超出控制限的点作上标识,以 便根据特殊原因实际开始的时间进行调查,采取纠正措施。(但连 续35点允许一点、连续100点有二点逸出控制界外,可暂不采取纠 正措施)
• (11)机器编号:受控工序操作的机器编号
• (12)控制时段:控制图收集数据的时段,如2002/2/222002/2/26
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2、 收
• 合理的子组大小、频率和数据
集 数 据
• 在控制时段内,按抽样容量/频率要求,收集产品工序 质量或过程特性数据125个或者100个,然后根据抽样

性质变化的信息。
源 • 2、帮助我们分析过程变化的原因

作 • 3对于超出控制界限的点采取整改行动。
用 • 4根据样本数据可以对过程性质作出评价
• 5、评定生产/过程性质变化与原来过程状态进行比较。
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• 节约成本 • 使标准趋于准确 • 使过程更加稳定 • 使控制规格更加真实 • 减少检验频度 • 减少问题出现的频度 • 改善和提高客户的满意度 • 可靠地测出实际过程能力 • 改善测量结果的准确度 • 改善产品品质 • 减少出货周期时间
偏差(用δ表示)公式 • δ= R/d2 式中:R为子组极差的均值(在极 差受控时期) • d2随样品容量变化的常数,见下表:
N 2 3 4 5 6 7 8 9 10
d2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08
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工序能力等级 特级 一级 二级
工序能力说明 工序能力过剩,作业可简化 工序能力充分,可以考核作业简化 工序能力尚可,可接受,但不充分
1>CP
三级
工序能力不足,需对作业改进提高
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• 当工程规范(公差)为两侧规格时,工序能力为Cpk, 其计算为:
• Cpk=(1-K)(UCL-LCL)/6σ = (T-2ε)/6σ
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• 五、有关3σ控制图的说明: • 以样本平均值X为中心,以X3σ为范围,作成
控制图时,如质量特性值呈现正态分布时(左、 右对称),则测量的数据,就有99.97%机率落在 X3σ范围内,我们可以判定为随机原因的变异, 为安定值。当数据落在界线外侧时,就判定不异 常原因时,需要调查。
14点,20点有16点)
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• l 高于平均极差的点链或上升链说明存在下列情况之 一或全部;
• a. 输出值分布宽度增加,其原因可能是无规律的(例 如设备不正常或固定松动),或是由于过程 中的某个 要素变化(例如使用新的或不是很统一的原材料)
b. 测量系统的改变(新的测试员或量具的变化)。
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5 选择控制图的刻度
• X图:坐标上的刻度值的最大与最小之 差应至少为子组均值X的最大与最小值 差的2倍。
• R图;刻度值应从最低值0开始到最大值 之间的差值为初期阶段所遇到最大极差 R的2倍。
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1) 计算控制限
6 将
• 计算平均极差(R)及过程平均值(X)。
3点中有2点落在其外的三分之二的区域,属异常
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• 当控制图出现警告信号时,由责任人员填写 X-R控制图异常报警表,交工艺人员作出分析 并制定纠正措施,质管部QA负责跟踪和考核。 必要时,对超出控制限的点确定为特殊原因 引起的,必须对该点加以删除,重新修订控 制图,重新计算控制限。当控制限变得越来 越好时,应对此时的工艺参数形成文件加以 介定,以优化管理。
时间段连续性,将数据分成25个子组,每个子组由4-
5数据组成,每个子组数据是在非常相似的生产条件下
生产出来的,并且相互之间不存在着系统的关系,因
此,每组之间的变差为普通原因造成的,对于所有的
子组的样品应保持恒定。
• 频率:在过程的初期研究中通常是连续进行分组或很 短时间间隔进行分组,检查时间间隔内有否不稳定的
四、有关“控制”的最后概念——用于进一步的考虑.
在一个生产过程中永远无法达到完美的控制状 态,过程控制图的目的不是完美的,而是合理、经 济的控制状态,如果某工序控制图上从来不出现失 控点,Cpk一直为>1.33以上,则需查询该工序是否 应画控制图,可考虑用其它通用的工艺控制方式保 证产品质量。
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• 其中:ε= (USL+LSL)/2-X

n1
n
(x x)2
i1 i
n 1
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• 当工程规范(公差)为单向公差界限时,Cpk的计算为: • CpK=USL-X/3σ(规定公差上限时) • CpK =X-LST/3σ(规定公差下限时) • 以上σ的计算也可用δ近似代替,以下为估计过程的标准
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• C) 明显的非随机有规律变化图形:除了会出现超过 控制界的点或长链之外,数据中还可能出现其他的易
分辨的由于特殊原因造面的图形,属工序质量异常。
UCL
X LCL
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