特种设备超声波探伤试题

第二部分超声波检测共： 557题其中：是非题 175题选择题 279题问答题 103题一、是非题1.1 受迫振动的频率等于策动力的频率。

（○）1.2 波只能在弹性介质中产生和传播。

（×）1.3 由于机械波是由机械振动产生的，所以波动频率等于振动频率。

（○）1.4 由于机械波是由机械振动产生的，所以波长等于振幅。

（×）1.5 传声介质的弹性模量越大，密度越小，声速就越高。

（○）1.6 材料组织不均匀会影响声速，所以对铸铁材料超声波探伤和测厚必须注意这个问题。

（○）1.7 一般固体介质中的声速随温度升高而增大。

（×）1.8 由端角反射率试验结果推断，使用K>=1.5的探头探测单面焊焊缝根部未焊透缺陷,灵敏度较低，可能造成漏检。

（○）1.9 超声波的扩散衰减的大小与介质无关。

（○）1.10 超声波的频率越高，传播速度越快。

（×）1.11 介质能传播横波和表面波的必要条件是介质具有切变弹性模量。

（○）1.12 频率相同的纵波，在水中的波长大于在钢中的波长。

（×）1.13 既然水波能在水面传播，那么超声表面波也能沿液体表面传播。

（×）1.14 因为超声波是由机械振动产生的，所以超声波在介质中的传播速度即为质点的振动速度。

（×）1.15 如材质相同，细钢棒（直径<波长）与钢锻件的声速相同。

（×）1.16 在同种固体材料中,纵、横波声速之比为常数。

（○）1.17 水的温度升高时超声波在水中的传播速度亦随着增加。

（○）1.18 几乎所有的液体（水除外），其声速都随着温度的升高而减小。

（○）1.19 波的叠加原理说明，几列波在同一介质中传播并相遇时，都可以合成一个波继续传播。

（×）1.20 介质中形成驻波时，相邻两波节或波腹之间的距离是一个波长。

（×）1.21 具有一定能量的声束，在铝中要比在钢中传播的更远。

（×）1.22 材料中应力会影响超声波传播速度，在拉应力时声速减小，在压应力时声速增大，根据这一特性，可用超声波测量材料的内应力。

（○）1.23 材料的声阻抗越大，超声波传播时衰减越大。

（×）1.24 平面波垂直入射到界面上，入射声压等于透射声压和反射声压之和。

（×）1.25 平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量和反射能量之和。

（○）1.26 超声波的扩散衰减与波型，声程和传播介质、晶粒度有关。

（×）1.27 对同一材料而言，横波的衰减系数比纵波大得多。

（○）1.28 界面上入射声束的折射角等于反射角。

（×）1.29 当声速以一定角度入射到不同介质的界面上，会发生波形转换。

（○）1.30 在同一固体材料中，传播纵、横波时声阻抗不一样。

（○）1.31 声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数，温度变化对材料的声阻抗无任何影响。

（×）1.32 超声波垂直入射到平界面时，声强反射率与声强透射率之和等于1。

（○）1.33 超声波垂直入射到异质界面时，界面一侧的总声压等于另一侧的总声压。

（○）1.34 超声波垂直入射到Z2>Z1界面时，声压透过率大于1，说明界面有增强声压的作用。

（×）1.35 超声波垂直入射到异质界面时，声压往复透射率与声强透射率在数值上相等。

（○）1.36 超声波垂直入射时，界面两侧介质声阻抗差愈小，声压往复透射率愈低。

（×）1.37 当钢中的气隙（如裂纹）厚度一定时，超声波频率增加，反射波高也随着增加。

（○）1.38 超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的反射角等于折射角。

（×）1.39 超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的折射角总大于入射角。

（×）1.40 超声波以10°角入射至水/钢界面时,反射角等于10°。

（○）1.41超声波入射至钢/水界面时,第一临界角约为14.5°。

（×）1.42 第二介质中折射的横波平行于界面时的纵波入射角为第一临界角。

（×）1.43 如果有机玻璃/铝界面的第一临界角大于有机玻璃/钢界面第一临界角,则前者的第二临界角也一定大于后者。

（×）1.44 只有当第一介质为固体介质时,才会有第三临界角。

（○）1.45 横波斜入射至钢/空气界面时，入射角在30°左右时,横波声压反射率最低。

（○）1.46 超声波入射到C1<C2的凹曲面时,其透过波发散。

（×）1.47超声波入射到C1>C2的凸曲面时,其透过波聚焦。

（○）1.48 以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头,有机玻璃/水界面为凹曲面。

（×）1.49 介质的声阻抗愈大，引起的超声波的衰减愈严重。

（×）1.50 聚焦探头辐射的声波，在材质中的衰减小。

（×）1.51 超声波探伤中所指的衰减仅为材料对声波的吸收作用。

（×）1.52 超声平面波不存在材质衰减。

（×）2.1 超声波频率越高，近场区的长度也就越大。

（○）2.2 对同一直探头来说，在钢中的近场长度比在水中的近场长度大。

（×）2.3 聚焦探头的焦距应小于近场长度。

（○）2.4 探头频率越高，声速扩散角越小。

（○）2.5 超声波探伤的实际声场中的声束轴线上不存在声压为零的点。

（○）2.6 声束指向性不仅与频率有关，而且与波型有关。

（○）2.7 超声波的波长越长，声束扩散角就越大，发现小缺陷的能力也就越强。

（×）2.8 因为超声波会扩散衰减，所以检测应尽可能在近场区进行。

（×）2.9 因为近场区内有多个声压为零的点，所以探伤时近场区缺陷往往会漏检。

（×）2.10 如超声波频率不变，晶片面积越大，超声场的近场长度越短。

（×）2.11 面积相同，频率相同的圆晶片和方晶片，超声场的近场长度一样长。

（○）2.12 面积相同，频率相同的圆晶片和方晶片，其声束指向角亦相同。

（×）2.13 超声场的近场长度越短，声束指向性越好。

（×）2.14 声波辐射的超声波的能量主要集中在主声束上。

（○）2.15 声波辐射的超声波，总是在声束中心轴线上的声压为最高。

（×）2.16 探伤采用低频是为了改善声束指向性，提高探伤灵敏度。

（×）2.17 超声场中不同横截面上的声压分布规律是一致的。

（×）2.18 在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波看成平面波，平均声压不随距离的增加而改变。

（○）2.19 斜角探伤横波声场中假想声源的面积大于实际声源面积。

（×）2.20 频率和晶片尺寸相同时，横波声束指向性比纵波好。

（○）2.21 圆晶片斜探头的上指向角小于下指向角。

（×）2.22 如斜探头入射点到晶片的距离不变，入射点到假想声源的距离随入射角的增加而减小。

（○）2.23 200mm处φ4长横孔的回波声压比100mm处φ2长横孔的回波声压低。

（○）2.24 球孔的回波声压随距离的变化规律与平底孔相同。

（○）2.25 同声程理想大平面与平底孔回波声压的比值随频率的提高而减小。

（○）2.26 轴类工件外圆径向探伤时，曲底面回波声压与同声程理想大平面相同。

（○）2.27 对空心圆柱体在内孔探伤时，曲底面回波声压比同声程大平面低。

（×）3.1 超声波探伤中，发射超声波是利用正压电效应，接受超声波是利用逆压电效应。

（×）3.2 增益100db就是信号强度放大100倍。

（×）3.3 与锆钛酸铅相比，石英作为压电材料有性能稳定、机电耦合系数高、压电转换能量损失小等优点。

（×）3.4 与普通探头相比，聚焦探头的分辨力较高。

（○）3.5 使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。

（○）3.6 点聚焦探头比线聚焦探头灵敏度高。

（○）3.7 双晶探头只能用于纵波检测。

（×）3.8 B型显示能展现工件内缺陷的埋藏深度。

（○）3.9 C型显示能展现工件中缺陷的长度和宽度，但不能展现深度。

（○）3.10 通用AVG曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离，适用于不同规格的探头。

（○）3.11 在通用AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。

（×）3.12 A型显示探伤仪，利用D.G.S曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度。

（○）3.13 电磁超声波探头的优点之一是换能效率高，灵敏度高。

（×）3.14 多通道探伤仪是由多个或多对探头同时工作的探伤仪。

（×）3.15 探伤仪中的发射电路亦称触发电路。

（×）3.16 探伤仪中的发射电路亦可产生几百伏到上千伏的电脉冲去激励探头晶片振动。

（○）3.17 探伤仪的扫描即为控制探头在工件探伤面上扫查的电路。

（×）3.18 探伤仪发射电路中的阻尼电阻的阻值愈大，发射强度愈弱。

（×）3.19 调节探伤仪“深度细调”旋钮时，可连续改变扫描线扫描速度。

（○）3.20 调节探伤仪“抑制”旋钮时，抑制越大，仪器动态范围越大。

（×）3.21 调节探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。

（×）3.22 不同压电晶体材料中声速不一样，因此不同压电材料的频率常数也不相同。

（○）3.23 不同压电材料的频率常数不一样，因此用不同压电材料制作的探头其标称频率不可能相同。

（×）3.24 压电晶片的压电应变常数（d33）大，则说明该晶片接收性能好。

（×）3.25 压电晶片的压电电压常数（g33）大，则说明该晶片的接收性能好。

（○）3.26 探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因素Qm,减少机械能损耗。

（×）3.27 工件表面比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。

（×）3.28 斜探头楔块前部和上部开消声槽的目的是使声波反射回晶片处，减少声能损失。

（×）3.29 由于水中只能传播纵波，所以水浸探头只能进行纵波探伤。

（×）3.30 双晶直探头倾角越大，交点离探测面越远，覆盖区越大。

（×）3.31 有机玻璃声透镜水浸聚焦探伤，透镜曲率半径愈大，焦距愈大。

（○）3.32 利用IIW试块上φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。

（○）3.33 当斜探头对准IIW2试块上的R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的。

（×）3.34 中心切槽的半圆试块，其反射特点是多次回波总是等距离出现的。

（○）3.35 与IIW试块相比CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。