常用定量分析方法(精)
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2、定量方法 常用的定量方法有外标法、内标法、追加法(叠 加法)及回归曲线定量法。 (1)外标法 外标法是薄层色谱扫描最常用的定量方法,方法 简便,但点样必须准确。 ①外标一点法 工作曲线通过原点(截距为零)时可用外标一点 法定量。只需点一种浓度的标准品溶液,与供试液同 板展开,对比,测定组分含量,其计算公式为: C=F1·A 式中:C为组分的重量或浓度,A为测得该组分的 峰面积,F1为直线的斜率或比例常数。
2、薄层荧光扫描法 基本原理:F=2.3K’I。ECL或F=KC 光源:氙灯或汞灯。 灵敏度:最低可测到10-50pg。 适用范围:适合于本身具有荧光或经过适当处理 后可产生荧光的物质的测定。 Kubelka-Munk理论不适用于薄层荧光扫描,无需 进行曲线校直。用薄层荧光扫描进行定量分析时,用 斑点荧光强度的积分值(色谱峰峰面积)与斑点中组 分的含量代替上式中F与C 进行运算。
(二)薄层色谱的规范化操作 1、仪器与材料 ①薄层板;②涂布器;③点样器材;④展开箱 (层析缸)⑤显色与检测仪器 2、操作方法 ①薄层板的制备;②点样;③展开;④检测;
(三)定量分析方法
1、方法学考察 新建薄层扫描定量方法必须进行方 法考察,以说明新建方法的可靠性,考 察的内容有工作曲线、定量结果的精密 度及准确度、统计检验等内容。
(1)工作曲线
①检查所选择的散射参数SX值是否适宜。SX值适宜则 工作曲线被校直为直线,否则,调整SX值再校正,直至在一 定点样量范围内工作曲线成直线为止。 ②考察工作曲线是否过原点,以便确定采用一点法或二 点法定量。 ③确定点样量的线性范围。既使采用曲线校直,也只是 在一定点样量范围内工作曲线为直线,因此需确定点样量的 上、下限。 为降低定量误差,最好调整点样量,使供试品与对照品 的峰面积相接近。 为了克服薄层板间差异,外标法及内标法均应采用随行 标准法,即标准溶液与供试品溶液交叉点在同一块薄层板上。
(2)精密度考察
取同一供试品溶液,在同一块薄层板上以 相同点样量平行点5点以上,展开后测定其峰 面积,求算相对标准差(RSD),作为衡量定 量分析结果精密度的指标。RSD应小于4%。
S RSD(%) 100% X
式中:为n次测量的平均值,S为标准差。
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(3)准确度考察 回收率是衡量定量方法准确度的指标,常用 加样回收率(R)来衡量,其值应在95-105%之间, 测量数据一般为5-6个。 将加入纯品的试样溶液、供试品溶液及标准 溶液点于同一块薄层板上,展开后进行薄层扫描, 测定各斑点的峰面积,计算各溶液中组分的量, 计算回收率(R)。
(一)基本原理 薄层扫描法是指薄层色谱斑点的色谱扫 描,薄层色谱扫描是指固定波长,斑点移动, 测定A-l或F-l曲线。根据薄层扫描的测定方 式分为薄层吸收扫描法和薄层荧光扫描法二 种方法。
1、薄层吸收扫描法 基本原理:Kubelka-Munk理论及曲线。由于薄层板存在 明显的散射现象,斑点中物质的浓度与吸光度的关系需用 Kubelka-Munk理论及曲线来描述。Kubelka-Munk理论以斑点 的相对反射率和相对透光率计算薄层色谱斑点的吸光度,说 明了固定相的散射参数SX对斑点中物质的浓度与吸光度间关 系的影响,获得不同散射参数SX时斑点的A-KX理论曲线,即 Kubelka-Munk曲线。 光源:钨灯和氘灯; 灵敏度:在200-800nm波长范围内选择合适波长进行测 定,其灵敏度可达ng级; 适用范围:适用于在可见、紫外区有吸收的物质,及通 过色谱前或色谱后衍生成上述化合物的样品组分。
第八节 常用定量分析方法 三、薄层扫描法
薄层扫描法是以薄层色谱法为基础发展起来 的薄层色谱组分原位分析方法及薄层色谱的记录 方法,又称薄层色谱扫描法(TLCS),相应仪 器称为薄层扫描仪(Thin Layer Chromatogram Scanner)。 薄层扫描法是用一定波长的光照射在薄层板 上,对薄层色谱中吸收紫外光或可见光的斑点, 或经激发后能发射出荧光的斑点进行扫描,将扫 描得到的图谱及积分数据用于药品的鉴别、杂质 检查或含量测定。
(2)内标法 内标法是选一个纯物质作为内标物,并准确称 取一定量内标物加至供试液及标准液中,计算供试 品溶液中某组分含量的定量方法。
内标物的选择要求是: 纯度合乎要求,展开后不得有杂质斑点,否则内 标斑点的峰面积将不能代表内标物的量。 内标物须为样品中所不含有的成分。 内标物不与其它斑点相重叠,分离度合乎要求。 为简化计算,内标物在标准溶液及供试品溶液中 的浓度应相等。
加入纯品后测得总量 供试品中被测组分量 R% 100 % 加入纯品量
(4)统计检验 统计检验是检验两种方法、两台仪器或两个人测量 的两组实验数据的精密度或准确度(偶然误差或系统误 差)间是否存在显著性差异,说明新建定量方法可否代 替旧方法或优于旧方法。 统计检验包括F检验与t检验。 F检验即精密度差别检验,用以检验两组数据的精 密度或偶然误差是否存在显著性差异,一般为单侧检验。 t检验即准确度差别检验,用以检验两组测量数据 的平均值或系统误差是否存在显著性差异。若t检验证 明两种方法测得的均值不存在显著性差异时,则新方法 可以代替旧方法,t检验一般为双侧检验。 t检验与F检验的具体方法参见分析化学的有关论著, 此从略。
特点: 1)在一定点样量范围内,内标法定量准确度与点样量无关。 2)不易找到适宜Rf值的纯品内标物,且溶液配制等操作较 麻烦。 方法: 1)内标一点法:当工作曲线通过原点时采用内标一点法。 C A 内标一点法公式: F
②外标二点法 工作曲线不通过原点时,只能用外标二点法定量, 至少需点二种不同浓度的标准溶液(或一种浓度两种点 样量),才能决定一直线,其计算公式为: C=F1A+F2 式中:C、A同前,F1为直线的斜率或比例常数,F2 为纵坐标的截距,F1和F2值由仪器自动算出。
外标一点法、二点法只是指用一种或二种浓度的标准溶液对比 定量,为减小误差,同一薄板上供试品点样不得少于4个,对照品 每一浓度不得少于2个;并调整标淮溶液的浓度或供试品与标准溶 液的点样量,使其峰面积相接近;且点样量必须准确,宜用定量毛 细管点样。