光纤连接器之插损
光纤连接器检验技术标准
一、外观检验： 二、组装性能：2.1插芯：突出长度正常，弹性良好，有明显倒角，表面无任何脏污、缺陷及其他不良。
2.2散件：各散件与适配器之间配合良好，无松脱现象，机械性能良好，有良好的活动性，表面无任何脏污、缺陷、破损、裂痕，颜色与产品要求相符，同批次产品无色差。
2.3压接：对光缆外皮及凯夫拉线的压接固定要牢固，压接金属件具有规则的压痕，无破损、弯曲，挤压光缆等不良。
三、端面标准：根据附录1《光纤连接器端面检验规范》检验。
四、插损、回损技术标准： 五、端面几何形状(3D)标准：六、合格品标识：合格产品标识包括：出厂编号(每个产品对应唯一的出厂编号，由生产任务计划号加流水号组成)、型号规格、条码标签(根据客户要求可选)、产品说明书(根据客户要求可选)、3D报告(根据客户要求可选)、环保标识(根据客户要求可选)、插/回损测试数据等。
七、产品包装：7.1产品基本包装是：将光纤连接器盘绕成15-18cm直径的圈，连接头两端用扎带固定于线圈的对称中部，根据产品的不同型号扎紧方式有“8”和“1”字型扎法，以不松脱为原则，不能在光缆上勒出痕迹，0.9光缆使用蛇形管绑扎。
特殊型号产品可根据相应《包装作业指导书》进行操作。
将绑扎好的连接器头朝下放入对应已贴好标识的包装袋中封好袋口，并将包装袋中的空气尽量排除但不能将连接器挤压变形。
7.2基本包装完成后以整数为单位装入包装箱内，包装箱内部用卡板或气泡袋或珍珠棉或其他防挤压保护辅料隔开，特殊型号产品可根据相应《包装作业指导书》进行操作。
包装箱外贴上装箱清单和其他产品标识后封箱打包并放置到指定成品区。
八、各零部件技术标准： 8.1插芯： 8.1.1产品符合以下标准：YDT 1198-2002 《光纤活动连接器插针体技术要求》Telcordia GR-326-CORE 8.1.2详细技术要求见附录2《常规插芯技术标准》。
8.2光纤/光缆： 8.2.1产品符合以下标准：YDT 1258.1-2003 《室内光缆系列第一部分总则》YDT 1258.2-2003 《室内光缆系列第二部分单芯光缆》YDT 1258.3-2003 《室内光缆系列第三部分双芯光缆》YDT 1258.4-2005 《室内光缆系列第四部分多芯光缆》YDT 1258.5-2005 《室内光缆系列第五部分光纤带光缆》YDT 1258.3-2009 《室内光缆系列第3部分：房屋布线用单芯和双芯光缆》YDT 908-2000 《光缆型号命名方法》 8.2.2性能、尺寸、材质、颜色、环保等符合国家相关行业标准。
光纤应用中的损耗及解决方案
④在使用中和使用后应及时去除熔接机中的灰尘（特别是夹具、各镜面和ｖ型槽内的粉尘和光纤碎末）。
⑤熔接机电极的使用寿命一般约2000次，使用时间较长后电极会被氧化，导致放电电流偏大而使熔接损耗值增加。此时可拆下电极，用蘸酒精的医用脱脂棉轻轻擦拭后再装到熔接机上，并放电清洗一次。若多次清洗后放电电流仍偏大，则须重新更换电极。
（4）保证接续环境符合要求
严禁在多尘及潮湿的环境中露天操作，光缆接续部位及工具、材料应保持清洁，不得让光纤接头受潮，准备切割的光纤必须清洁，不得有污物。切割后光纤不得在空气中暴露时间过长尤其是在多尘潮湿的环境中。接续环境温度过低时，应采取必要的升温措施。
（5）制备完善的光纤端面
①宏弯损耗 光纤的曲率半径比光纤直径大的多的弯曲（宏弯）引起的附加损耗，主要原因有：路由转弯和敷设中的弯曲；光纤光缆的各种预留造成的弯曲（预留圈、各种拿弯、自然弯曲）；接头盒中光纤的盘留、机房及设备内尾纤的盘绕等。
②微弯损耗 光纤轴产生μm级的弯曲（微弯）引起的附加损耗，主要原因有：光纤成缆时，支承表面微小的不规则引起各部分应力不均匀而形成的随机性微弯；纤芯与包层的分界面不光滑形成的微弯；光缆敷设时，各处张力不均匀而形成的微弯；光纤受到的侧压力不均匀而形成的微弯；光纤遇到温度变化，因热胀冷缩形成的微弯。
（6）正确使用熔接机
正确使用熔接机是降低光纤接续损耗的重要保证和关键环节。
①应严格按照熔接机的操作说明和操作流程，正确操作熔接机。
②合理放置光纤，将光纤放置到熔接机的V型槽中时，动作要轻巧。这是因为对纤芯直径为10 nm的单模光纤而言，若要熔接损耗小于0.1dB，则光纤轴线的径向偏移要小于0.8nm。
光纤连接器的性能及影响插入损耗的因素
光纤连接器的性能及影响插入损耗的因素作者：赵琪来源：《商情》2015年第37期【摘要】光纤通信系统是以光为载波，利用纯度极高的玻璃拉制成极细的光导纤维作为传输媒介，通过光电变换，用光来传输信息的通信系统。
光通信需要大量的光纤连接器，用于远程通讯装置间的连接。
由于对光纤通信网络的经济性和高性能的要求，高可靠性，小型化，低成本的光纤连接器就显得非常重要。
随着FTTH光纤到户的迅猛发展，光纤快速连接器将在FTTH接入发挥不可替代的作用。
本文主要介绍了光纤的性能及影响插入损耗的因素。
【关键词】光纤机械接续， FTTH 光纤连接器性能，插入损耗一、光纤接续技术概览传统的光缆接续采用光纤熔接机，利用热缩套管对光纤进行保护，接续损耗小，这种接续方式也称为热熔接。
多年来户外光纤接续作业都是采用的这种方式，这种光纤接续方式是利用高压电弧将两光纤断面熔化的同时用高精度运动机构平缓推进让两根光纤融合成一根，以实现光纤模场的耦合。
热熔方式的缺陷在于：仪器价格昂贵、接续需要用电、操作需要培训、维护费用较高、操作场地受限。
这种接续方式在FTTH 建设中仍然可以延续应用到户外施工段，但在狭小的室内环境中施工其效率和便利性大大降低。
光纤机械接续方式也称为‘冷接续’。
在FTTH 建设过程中，光纤机械接续技术再次被大家关注。
光纤机械接续顾名思义无需要特殊的仪器采用机械压接夹持方法利用V 型槽导轨原理将两根切割好的光纤对接在一起，无需用电，且制作工具小巧。
二、光纤连接器结构与性能光纤连接器也叫现场组装型连接器，是指不需要熔接机，只通过简单的接续工具、利用机械对准连接技术实现入户光缆直接成端的方式，连接器现场组装的过程中无需注胶、研磨。
光纤连接器使用技术分预置光纤和非预置光纤两大类。
预置光纤的接续点设置在连接器内部，预置有匹配液；非预置光纤接续点在连接器表面，不预置匹配液，直接通过适配器与目标光纤相连。
预置型光纤连接器接头内设有预置光纤，预置光纤和现场光纤在V槽等装置内被固定，接头内部有预留空间，可以使光纤预先设置一定的余长，即使尾端固定时产生位移，也可在此处进行位移补偿和应力释放。
谈一谈光纤连接器插入损耗和回波损耗以及如何优化它们？
谈一谈光纤连接器插入损耗和回波损耗以及如何优化它们？编者注：连接器损耗相对来讲是一个比较难权衡的一个参数，尤其是当没有明确的指标时。
比较连接器只是一个无源器件。
本文简要介绍了光纤连接器的损耗以及优化方式。
本文由光纤电火花写作。
连接器性能直接到影响光传输质量，因此，为保证光纤链路信号高效传输，通常使用插入损耗（Insertion Loss）和回波损耗（Return Loss）这两个关键的光学性能指标对其进行评估。
本文将重点讨论影响两种损耗的主要因素及其优化方法。
插入损耗和回波损耗的概念插入损耗是什么？在电信领域，插入损耗指在传输系统的某处由于某器件的插入而发生的信号功率的损耗，通常指衰减，用来表示端口的输出光功率与输入光功率之比，以分贝（dB）为单位。
显然，插入损耗值越低，表明插入损耗性能越好。
回波损耗是什么？回波损耗是指由于传输链路的不连续性，部分信号传输时反射回到信号源所产生的功率损耗。
这种不连续性可能是与终端负载不匹配，或者与线路中插入的设备不匹配。
回波损耗比较容易误解成回波带来的损耗，实际上它指的是回波本身的损耗，即回波被损耗的越大，回波就越小。
它表示传输线端口的反射波功率与入射波功率之比，以分贝为单位，一般是正值。
因此，回波损耗的绝对值越高，反射量越小，信号功率传输越大，即RL值越高，光纤连接器的性能越好。
影响插入损耗和回波损耗的因素单根光纤跳线直连是最理想的光纤路径，此时损耗最小，即A、B两端间不受干扰的一根直连光纤。
然而，通常情况下，光纤网络需要连接器来实现模块化和路径分割。
因此，理想的低插入损耗和高回波损耗性能会由于以下三个原因大打折扣。
端面质量和清洁度显然，划痕、凹坑、裂纹、颗粒污染这类光纤端面缺陷会直接影响其性能，导致较高插入损耗和较低回波损耗。
任何阻碍光信号在光纤之间传输的不正常情况都会对这两种损耗产生不良影响。
端面清洁度对比连接器插芯对中定位偏差光纤连接器的主要作用是快速连接两根光纤，保证两根纤芯之间准确对齐，实现两个光纤端面精密对接，使发射光纤输出的光功率最大限度地耦合到接收光纤中。
常见光纤连接器和光路损耗计算
常见光纤连接器和光路损耗计算1.目的PON网络会使用到各种光纤连接器，本文介绍了常用光纤连接器的相关概念，并提供了光路损耗的计算方法。
2.范围适用于Fixed Access GPON/EPON产品的现场工程师。
3.光纤连接器按外部结构来分，光纤连接器可分为：FC( Ferrule Connector)、SC (Subscriber Connector)、ST( Straight Tip)、LC( Local Connector)等。
其中FC、SC、ST这3种多用于尾纤、光纤跳线等应用。
按光纤的端面结构来分，可分为PC (Physical Contact)、UPC (Ultra Physical Contact) 和APC (Angled Physical Contact)o其中UPC的端面结构和PC 相似，但研磨精度比PC高，抗反射能力也比PC强。
Inpul Fibfii OutpulFH>er4.光路损耗计算PON在单芯光纤上采用波分复用(WDM)技术，上下行数据流分别在不同的频段传输。
其中下行波长为1490nm，上行波长为1310nm根据标准，对GPON来说，OL倒ONU的光路损耗最大不能超过28dB；对EPON来说，上行的光路损耗不能超过24dB，下行不能超过23.5dB。
其中损耗主要由4方面因素决定：光分路器插损、光纤跳纤点损耗、光纤熔纤点损耗和光纤衰耗，再加上计算时所增加的3个dB的余量，其计算公式如下。
光路损耗=光分路器插损+光纤跳纤点损耗+光纤熔纤点损耗+光纤衰耗+ 3dB光分路器有1:2、1:4、1:8、1:16、1:32、1:64等多种规格，考虑接头插损、分光器插损等因素，各分光比情况下光分路器所引入的插损如下。
分光比1:21:41:81:161:321:64插损5dB8dB11dB15dB18dB21dB光纤跳纤点损耗按0.3dB/个，光纤熔纤点按0.1dB/个，光纤衰耗按0.4dB/ 公里计算。
25ge的光模块 插损 回损
25GE光模块的插损与回损问题分析1. 概述在现代通信领域中，光模块作为光通信网络中不可或缺的组成部分，其性能直接关系到整个网络的传输效率和稳定性。
而光模块的插损和回损是评价光模块性能的重要指标，对于25GE光模块而言尤为关键。
本文将对25GE光模块的插损与回损问题展开分析，探讨其原因和解决方法。
2. 25GE光模块的基本原理25GE光模块是指在25Gbps传输速率下的光电转换模块，通常包括激光器、调制器、解调器、接收器等组件。
其工作原理是利用激光器将电信号转换成光信号，并通过光纤传输到远端，再由接收器将光信号转换回电信号。
整个过程中，插损和回损是不可避免的。
3. 插损的定义与影响因素插损是指光信号穿过光模块时产生的损耗，其值一般用dB单位来表示。
插损的大小受多种因素影响，主要包括光纤损耗、连接器损耗、耦合损耗等。
3.1 光纤损耗光纤本身具有一定的传输损耗，长度越长，损耗越大。
而且光纤的质量和品质也会直接影响插损的大小。
3.2 连接器损耗光模块和光纤之间的连接器在传输过程中会产生一定的损耗，这也是影响插损大小的重要因素之一。
3.3 耦合损耗在光模块与光纤之间的光耦合过程中，由于排列不良或光学元件质量问题，也会产生一定的损耗。
4. 回损的定义与影响因素回损是指光信号在光模块的传输过程中产生的反射损耗，同样用dB单位表示。
回损的大小受光纤末端反射、连接器反射、折射等因素影响。
4.1 光纤末端反射光纤末端的切面质量和清洁度会直接影响光信号的反射程度，从而影响回损的大小。
4.2 连接器反射端口连接器的品质和安装质量都会对回损产生影响，接头的平面度和粗糙度都是重要因素。
4.3 折射在光模块传输过程中，由于光线的折射现象也会产生一定的回损。
5. 如何解决25GE光模块的插损与回损问题面对插损和回损问题，我们可以采取以下措施来解决：5.1 优化光纤选择优质的光纤材料，并且保持光纤的干净和整洁，能够有效降低插损和回损。
光纤接续损耗
目录[隐藏]1 什么是光纤接续损耗2 光纤接续损耗的种类3 解决接续损耗的方案光纤接续损耗是光纤通信系统性能指标中的一项重要参数，损耗值的大小直接影响到光传输系统的整体质量，在光缆施工和维护测试中，运用科学的分析方法，对提高整个光缆接续施工质量和维护工作极为重要，尤其是进一步研究光通信中长波长的单模光纤的通信性能、传输衰耗、测量精度和检查维修等方面有一定得现实意义。
光纤的接续损耗主要包括光纤本征因素造成的固有损耗和非本征因素造成的熔接损耗及活动接头损耗三种。
1、光纤固有损耗光纤固有损耗的产生主要源于光纤模场直径不一致、光纤芯径失配、纤芯截面不圆和纤芯与包层同心度不佳四方面。
其中影响最大的是模场直径不一致。
2、熔接损耗非本征因素的熔接损耗主要由轴向错位、轴心(折角)倾斜、端面分离(间隙)、光纤端面不完整、折射率差、光纤端面不清洁以及接续人员操作水平、操作步骤、熔接机电极清洁程度、熔接参数设置、工作环境清洁程度等其他因素造成。
3、活动接头损耗非本征因素的活动接头损耗主要由活动连接器质量差、接触不良、不清洁以及与熔接损耗相同的一些因素(如轴向错位、端面间隙、折角、折射率差等)造成。
1、工程设计、施工和维护工作中应选用特性一致的优质光纤一条线路上尽量采用同一批次的优质名牌裸纤，以求光纤的特性尽量匹配，使模场直径对光纤熔接损耗的影响降到最低程度。
2、光缆施工应严格按规程和要求进行配盘时尽量做到整盘配置(单盘≥500米)，以尽量减少接头数量。
敷设时严格按缆盘编号和端别顺序布放，使损耗值达到最小。
3、挑选经验丰富训练有素的接续人员进行接续和测试接续人员的水平直接影响接续损耗的大小，接续人员应严格按照光纤熔接工艺流程进行接续，严格控制接头损耗，熔接过程中时刻使用光时域反射仪(OTDR)进行监测(接续损耗≤0.08dB／个)，不符合要求的应重新熔接。
使用光时域反射仪(OTDR)时，应从两个方向测量接头的损耗，并求出这两个结果的平均值，消除单向OTDR测量的人为因素误差。
光纤熔接损耗
光纤熔接损耗在光纤通信系统中，光纤熔接是连接光纤的一种重要方法。
光纤熔接技术的发展，使得光纤通信系统的带宽和传输距离得到了显著提高。
但是，光纤熔接损耗是光纤通信系统中的一个重要问题，它对系统的性能和可靠性产生了重要影响。
光纤熔接损耗是指在光纤熔接过程中，由于熔接接头的制备和熔接质量等因素导致的光信号损耗。
光纤熔接损耗可以分为两种类型：连接损耗和插入损耗。
连接损耗是指由于熔接接头的制备和熔接质量等因素导致的光信号在连接处的损耗。
连接损耗受到熔接接头几何形状、纤芯直径、纤芯偏心、光纤端面质量、熔接参数等因素的影响。
其中，熔接参数是影响连接损耗的主要因素之一。
熔接参数包括温度、时间、熔接压力、电弧电流等因素。
过高或过低的熔接参数都会导致连接损耗的增加。
插入损耗是指在光纤连接过程中，由于光纤接头的插入和拔出等因素导致的光信号损耗。
插入损耗受到光纤接头的质量、纤芯直径、光纤端面的质量等因素的影响。
其中，光纤端面的质量是影响插入损耗的主要因素之一。
光纤端面的质量包括平整度、划痕、污染等因素。
如果光纤端面质量不好，会导致插入损耗的增加。
光纤熔接损耗对光纤通信系统的性能和可靠性产生了重要影响。
连接损耗和插入损耗都会导致光信号的损耗，从而影响光纤通信系统的传输距离和带宽。
如果连接损耗和插入损耗过大，会导致光纤通信系统的性能下降，甚至无法正常工作。
为了减小光纤熔接损耗，需要采取一些措施。
首先，熔接接头的制备和熔接质量应该得到保证。
熔接接头的制备应该精细、规范，熔接质量应该稳定、可靠。
其次，熔接参数应该得到控制。
熔接参数的控制可以通过熔接机器的自动化控制和人工调整相结合的方式来实现。
最后，光纤接头的质量应该得到保证。
光纤接头的质量包括光纤端面的平整度、划痕、污染等因素。
光纤熔接损耗是光纤通信系统中的一个重要问题。
连接损耗和插入损耗都会导致光信号的损耗，从而影响光纤通信系统的传输距离和带宽。
为了减小光纤熔接损耗，需要采取一些措施，包括熔接接头的制备和熔接质量的保证、熔接参数的控制以及光纤接头的质量的保证。
插损与回损
IL&RL与连接器性能 Pin(P1)
Pout
IL lg Pout Pin
RL lg P0 P1
P0
光纤通信要尽可能的減少传输过程中的损耗，以光纤跳线 为例：在输入光功率恒定为1的情況下，Pout越大、P0越小 就表示传输过程中的损耗越小，连接器的性能越好。
y 是lg 一x 個反比 例函数，随着x增大y值反而会減小，
IL的类型与产生原因
端接损耗是指兩根光纤跳线通過适配器连接而引起的损耗。 产生损耗的原因有很多，主要包括纤芯尺寸失配、数值孔 径失配、折射率分布失配、轴线倾角、橫向偏移、同心度、 端面间隙、端面形状及端面光潔度等。
IL与RL之间的联系
光纤連接器兩端参数不一致而产生的损耗可以通过选择参 数完全匹配的光纤（同一跟光纤）來消除；而随着光纤连 接器结构的改进及制造水平的提高，光纤连接器的对中定 位结构的精度可达到亞微米级别，由光纤横向错位、角度 倾斜产生的损耗亦可忽略不计。当前影响光纤连接器插入 损耗的因素——光纤端面间隙、端面形狀以及端面清潔度， 同樣是造成光纤回波损耗的主要原因——
连接头型号 模式
端面规格 IL(dB) RL(dB)
其他型号 IL(dB) RL(dB)
PC ≤0.3 ≥45
≤0.7 ≥30
FC、SC、LC、ST、MU、E2000、D4、DIN
SM
UPC
APC
≤0.2
≤0.3
≥50
≥60
MT-RJ、MPO
/
≤0.7
/
≥50
MM PC ≤0.3 ≥35
≤0.5 ≥25
研拋加工控制的因素是能否生产生高性能跳线的关键！
同時，只需要探索连接器回损，回损的问题解決了，插损 的问题也就解決了。
光纤插损测试方法
光纤插损测试方法光纤插损测试是光纤通信领域中重要的测试方法之一，用于评估光纤连接的质量和性能。
本文将介绍光纤插损测试的原理、步骤和常用测试仪器，以及一些注意事项。
一、光纤插损测试的原理光纤插损是指信号在光纤连接中传输时的损耗程度，它包括连接件本身的损耗和连接接头的损耗。
光纤插损测试的原理是利用光源发出一定功率的光信号，经过被测光纤连接后，再由光功率计测量输出功率，通过计算两者之间的差值来确定光纤连接的插损。
二、光纤插损测试的步骤1. 准备测试仪器：光源、光功率计、光纤连接器等。
2. 连接测试仪器：将光源和光功率计通过光纤连接器与被测光纤连接起来。
3. 设置测试参数：根据实际情况选择合适的测试波长、功率范围等参数。
4. 测量光功率：打开光源，使其发出光信号，然后使用光功率计测量输出功率。
5. 记录测试结果：将测得的输出功率记录下来，作为光纤连接的插损值。
三、光纤插损测试的常用仪器1. 光源：光纤插损测试中常用的光源有激光光源和LED光源。
激光光源具有高功率、窄带宽的特点，适用于长距离传输的测试；LED 光源功率较低，适用于短距离传输的测试。
2. 光功率计：光功率计用于测量光源输出功率和光纤连接的接收功率，常见的有光电探测器和光纤光功率计两种。
3. 光纤连接器：用于连接光源、光功率计和被测光纤，常见的有FC、SC、LC、ST等类型。
四、光纤插损测试的注意事项1. 清洁光纤：在进行光纤插损测试之前，需确保光纤的连接端面干净，无污染和损伤。
2. 正确设置测试参数：根据被测光纤的特性和要求，选择合适的测试波长、功率范围等参数。
3. 避免光纤弯曲：在连接光纤时要注意避免过度弯曲，以免影响测试结果。
4. 注意光源功率：光源功率不宜过高，以免对光功率计造成损坏。
5. 多次测试取平均值：为了获得更准确的插损值，建议进行多次测试，并取平均值作为最终结果。
总结：光纤插损测试是评估光纤连接质量的重要手段，通过测量光源输出功率和光纤连接的接收功率，可以计算得出光纤连接的插损值。
一种LC光纤适配器插入损耗检测装置
本实用新型公开了一种LC光纤适配器插入损耗检测装置，包括检测装置、检测工位和驱动机构，所述检测装置包括LC光纤测试头、连接架和滑动板，所述LC光纤测试头固定安装在滑动板的上端面头部，本实用新型有效的解决了现有的LC光纤适配器插入损耗检测主要采用人工测试，使用插回损测试仪、标准跳线等工具进行测试，手动检测效率低，无法满足LC适配器大规模生产需要，通过对控制气缸来达到将LC光纤测试头插入适配器两个端口中的目的，并且将跳线另一端分别接入到测试仪，通过对检测工位和翻转机构的结构设置来便于适配器进行换向使用，从而可以实现适配器插入损耗互换性测试。
1、一种LC光纤适配器插入损耗检测装置，包括检测装置（1）、检测工位（2）和驱动机构（3），其特征在于：所述检测装置（1）包括LC光纤测试头（11）、连接架（12）和滑动板（13），所述LC光纤测试头（11）固定安装在滑动板（13）的上端面头部，所述连接架（12）垂直安装在滑动板（13）的下端面，且连接架（12）与滑动板（13）滑动连接，所述检测工位（2）包括稳定卡接架（21）和翻转机构（22），所述稳定卡接架（21）安装在对称的检测装置（1）之间，所述翻转机构（22）固定安装在稳定卡接架（21）的下端，所述驱动机构（3）包括伸缩气缸（31）和旋转气缸（32），所述伸缩气缸（31）固定安装在连接架（12）上，且伸缩气缸（31）的输出端与滑动板（13）相连接，所述旋转气缸（32）固定安装在翻转机构（22）的下端，且旋转气缸（32）输出端与稳定卡接架（21）相连接。
2、根据权利要求1所述的一种LC光纤适配器插入损耗检测装置，其特征在于，所述LC光纤测试头（11）包括陶瓷插芯（111）和跳线（112），所述陶瓷插芯（111）固定在滑动板（13）的头部，且跳线（112）一端与LC光纤测试头（11）电性连接，另一端与测试仪的光源输出口和光功率探测输入口电性连接。
3、根据权利要求2所述的一种LC光纤适配器插入损耗检测装置，其特征在于，所述连接架（12）包括支架（121）和固定架（122），所述支架（121）固定设置在检测装置（1）的下端，所述固定架（122）通过螺栓固定在支架（121）的上端面头部。
插回损测量
1光器件的回损测量引言：随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多，骨干光纤通信带宽越来越大，光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂，光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著，人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。
光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了，早期的典型测试仪表如：JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。
这些测试仪表的共同特点是：测试方法采用标准的连 续光方法，即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法，测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射，测量回损的范围在 70dB 以下。
随着光纤通信技术的进步，测试仪 表也在发展，使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟，随着竞争产品的越来越多，这两种仪表都 早已停止生产。
使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制，如：测试步骤多，需要过程复杂的系统校“零”， 不能一次连接进行插损/回损的测试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损，只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。
另一方面，由于这些限制，在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量，如： 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒，特种光缆，MPO 接头等。
图 1：无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题，我们需要采用其他的回损测量方法，如 OTDR 法。
为了比较 OCWR 和OTDR 两种测量方法，让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。
1. 原理和测量方法1.1 回损的来源按照 IEC61300‐3‐6 的定义，回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。
23⎛ P ⎞ 即： RL = 10 ⋅ log ⎜ r⎜ ，回损的值是正的。
mpo光纤插损值
MPO （多通道光纤连接器）是一种多芯的光纤连接器，广泛用于高密度数据中心和光通信应用。
MPO 光纤插损值是指在光信号通过MPO 连接器时所引起的光功率损失。
插损值通常以分贝（dB ）为单位表示。
MPO 光纤插损值的主要来源包括连接器的精度、光纤的质量、连接器之间的配合度以及连接器的安装技术等因素。
插损值的计算公式为：
插损值 (dB)=−10⋅log 10(P 输出P 输入
) 其中，P 输入 是输入光功率，P 输出 是输出光功率。
对于 MPO 连接器，插损值通常取决于连接器的类型（MPO-12、MPO-24 等）、光纤的模式（单模或多模）、光纤的质量、连接器的清洁度和使用的适配器等。
要减小 MPO 光纤连接器的插损值，可以采取以下一些措施：
1. 使用高质量的 MPO 连接器： 高质量的连接器通常具有更好的精度和光学
性能。
2. 使用优质的光纤： 光纤的质量对插损值有直接影响。
选择高品质、低损耗
的光纤。
3. 保持连接器清洁： 连接器在使用过程中容易受到灰尘和污染的影响，因此
要保持其清洁，定期检查和清理连接器。
4. 使用合适的适配器： 适配器的选择也会影响插损值，因此要确保使用与连
接器兼容的适配器。
需要注意的是，不同的标准和规范对于 MPO 连接器的插损值要求可能有所不同。
在实际应用中，通常会根据特定的标准和应用场景来选择和测试 MPO 光纤连接器，以确保其性能满足要求。
不同规格的分光器的插损(衰减)
分光器规格1 分250%-50%1 分25%-95%1 分210%-90%1 分220%-80%1 分230%-70%1 分240 %-60 %1分4均分1分8均分1分16均分1分32均分插损典型值3.4dB11.8dB:0.6dB10.4:0.97.4:1.35.6:1.94.4：2.67.2dB10.7dB14.8dB 17.8dB端口间最大偏差范围0.4 dB0.4 dB0.4 dB0.4 dB0.4 dB0.4 dB0.8dB1.7dB2.0dB2.5dB测试仪器光功率计光功率计光功率计光功率计光功率计回答人的补充2009-09- 09 08:17在光链路的设计中，要碰到光纤损耗、分光损耗、分光附加损耗、活动接头损耗和光链路（总）损耗几项参数，很显然，光链路损耗是以上其他几项损耗值的总和：光链路损耗=光纤损耗+分光损耗+分光附加损耗+活动接头损耗（dB）光纤损耗，是光信号在光纤中传输时光功率消耗引起的，在设计时1310nm通常按每kmO.4dB计算，1550nm 通常按0.25dB计算。
某一光路光纤损耗的dB数，换算成该路单路功率损耗mW 数按下式计算：某单路功率损耗=100・1光纤损耗（mW）（某路）分光比《=某单路功率损耗/各路功率损耗总和（某路）分光损耗=・10lg K （dB）分光损耗，实际上是分光时的光功率转移造成的，不是光功率的消耗引起的，因此在计算分光比时不能将它计算进去。
但是在计算光链路总损耗时必须将它加进去。
分光附加损耗，是分光时的分光器自身消耗了光功率造成的；活动接头损耗也是其自身消耗了光功率造成的，因此这两项本来应该在计算分光比时都加进和光纤损耗中，算出三者的总损耗dB数，然后换算出损耗总功率数mW,再据此计算出分光比，这样计算得出的最后计算结果最为准确。
但是由于分光附加损耗和活动接头损耗的量值，比光纤损耗要小得多，而且各条光链路的数值基本相等，在计算分光比时把各条光路的这两项数值统统忽略不计，对分光比计算结果的影响很微小。
浅析光纤连接器插入损耗测试
(2)
目前普遍使用的众多品牌的
光纤连接器，其合格标称插损都
不大于0.3 dB。但我们通过对三
个不同品牌的连接器插损进行复
测发现，测试时对中方式不同，
所得到的测试结果有很大不同。
这两种对中方式为:1)随机插入
对中。模仿连接器实际使用方
式，一次插入，读取测试数据。
该插损定义为随机插损。2)调整
插入对中。连接器在连接状态下
损具有很高的一致性;而当进行
随机性插损测试时，测试结果中
只有3个符合标称要求，而且随
机插损要比调整插损大得多，最
大相差0.44 dB(3#)。
几年来，根据对各种连接器
光源监测 P MI
检测器
光源
试样 高阶模滤模器
光纤或光缆
高阶模滤模器 P 0
光源监测 P MI
互连器件
检测器
光源 高阶模滤模器 图2 光纤连接器插入损耗测试系统示意图
进行旋转调整对中，测试出相应
的数据。该插损值为调整插损。
表1是用两种对中测试方法测试
的3个不同供应商生产的单模FC
连接器的不同测试结果。
将表中采用两种对中方式获
得的插损测试结果与产品合格证
插损与回损
项目
曲率半径(mm) 顶点偏移(μm) 光纤凹陷(nm) 角度偏差(°) 键角偏差(°) 光纤直径(μm)
PC、UPC
SC、FC、ST、E2000、 D4、DIN
LC、MU
SM
MM
SM
MM
10-25
7-20
≤50
±100
0
0
123-135
APC
SC、FC、 E2000
LC、MU
SM
SM
5-12 ≤30
反应在计算式中Pout越大IL越小， P0越小RL越大——
IL越小，RL越大，连接器的性能越好。
IL的类型与产生原因
光纤连接器的插入损耗是由光纤固有损耗和端接损耗引起 的，而固有损耗主要包括光纤吸收损耗和瑞利散射损耗。 目前光纤的制造技术可以使光纤的固有损耗在1550nm附 近降到0.2dB/km，而光纤跳线的长度通常为10m左右，因 此光纤跳线的固有损耗几乎可以忽略不计，故光纤连接器 的插入损耗主要取決於光纤跳线的端接损耗。
回波损耗
回波损耗（Return Loss）：当高频信号在电线及通信设备 中传输时，遇到波阻抗不均勻点时，就会对信号形成反射， 这种反射不但导致信號的传输损耗增大，并且会使传输信 号畸形，对传输性能影响很大，这种由信号反射引起的衰 減被称为回波损耗。
计算式：
RL lg P0 P1
（P0表示反射光功率，P1表示输入光功率，单位为dB）
连接头型号 模式
端面规格 IL(dB) RL(dB)
其他型号 IL(dB) R0.7 ≥30
FC、SC、LC、ST、MU、E2000、D4、DIN
SM
UPC
APC
≤0.2
≤0.3
光纤接续损耗
目录[隐藏]1 什么是光纤接续损耗2 光纤接续损耗的种类3 解决接续损耗的方案光纤接续损耗是光纤通信系统性能指标中的一项重要参数，损耗值的大小直接影响到光传输系统的整体质量，在光缆施工和维护测试中，运用科学的分析方法，对提高整个光缆接续施工质量和维护工作极为重要，尤其是进一步研究光通信中长波长的单模光纤的通信性能、传输衰耗、测量精度和检查维修等方面有一定得现实意义。
光纤的接续损耗主要包括光纤本征因素造成的固有损耗和非本征因素造成的熔接损耗及活动接头损耗三种。
1、光纤固有损耗光纤固有损耗的产生主要源于光纤模场直径不一致、光纤芯径失配、纤芯截面不圆和纤芯与包层同心度不佳四方面。
其中影响最大的是模场直径不一致。
2、熔接损耗非本征因素的熔接损耗主要由轴向错位、轴心(折角)倾斜、端面分离(间隙)、光纤端面不完整、折射率差、光纤端面不清洁以及接续人员操作水平、操作步骤、熔接机电极清洁程度、熔接参数设置、工作环境清洁程度等其他因素造成。
3、活动接头损耗非本征因素的活动接头损耗主要由活动连接器质量差、接触不良、不清洁以及与熔接损耗相同的一些因素(如轴向错位、端面间隙、折角、折射率差等)造成。
1、工程设计、施工和维护工作中应选用特性一致的优质光纤一条线路上尽量采用同一批次的优质名牌裸纤，以求光纤的特性尽量匹配，使模场直径对光纤熔接损耗的影响降到最低程度。
2、光缆施工应严格按规程和要求进行配盘时尽量做到整盘配置(单盘≥500米)，以尽量减少接头数量。
敷设时严格按缆盘编号和端别顺序布放，使损耗值达到最小。
3、挑选经验丰富训练有素的接续人员进行接续和测试接续人员的水平直接影响接续损耗的大小，接续人员应严格按照光纤熔接工艺流程进行接续，严格控制接头损耗，熔接过程中时刻使用光时域反射仪(OTDR)进行监测(接续损耗≤0.08dB／个)，不符合要求的应重新熔接。
使用光时域反射仪(OTDR)时，应从两个方向测量接头的损耗，并求出这两个结果的平均值，消除单向OTDR测量的人为因素误差。
光跳插损变化量
光跳插损变化量的分析一、引言在光纤通信系统中，光信号在传输过程中会经历各种损耗，这些损耗会影响信号的质量和传输距离。
光跳插损是指光信号在通过光网络单元（如光分路器、光开关等）时所产生的额外损耗。
本文档旨在详细分析光跳插损变化量的影响因素、测量方法以及减少插损变化量的策略。
二、光跳插损变化量的定义光跳插损变化量是指在一定条件下，光信号通过光网络单元前后的功率差的变化量。
这个变化量可以是正的，也可以是负的，取决于实际的光网络单元性能和环境条件。
三、影响光跳插损变化量的因素3.1 设备因素- 光网络单元的设计：光网络单元的内部结构和材料选择会直接影响光跳插损的大小。
- 制造工艺：高精度的制造工艺可以保证光网络单元的性能稳定性，从而减少插损变化量。
- 老化与磨损：随着使用时间的增长，光网络单元可能会因为老化或磨损而导致插损变化。
3.2 环境因素- 温度：温度的变化会影响光纤的折射率，进而影响光跳插损。
- 湿度：湿度的增加可能会导致光纤材料的吸水膨胀，影响光信号的传播。
- 机械应力：物理接触或拉扯可能会对光纤造成应力，导致插损变化。
3.3 操作因素- 连接质量：光纤连接器的清洁度和对接精度都会影响插损。
- 波长分配：不同波长的光信号在通过同一光网络单元时，其插损可能会有差异。
四、光跳插损变化量的测量方法4.1 直接测量法通过光功率计直接测量光信号通过光网络单元前后的功率差。
4.2 间接测量法利用光时域反射仪（OTDR）等仪器，通过分析光信号的反射和散射特性来推断插损变化。
4.3 统计分析法长期监测光网络单元的性能，通过统计分析得到插损变化的规律。
五、减少光跳插损变化量的策略5.1 优化设计采用高质量的材料和先进的设计，提高光网络单元的制造精度。
5.2 精确控制环境条件通过恒温恒湿等措施，减少环境因素对插损的影响。
5.3 规范操作流程制定严格的操作规程，确保每次连接的质量。
5.4 定期维护与检测定期对光网络单元进行维护和检测，及时发现并解决问题。
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光纤连接器的插入损耗
深圳市光波通信有限公司 罗群标 张磊 徐晓林
光纤连接器作为光通信系统中最基本也是最重要的光纤无源器件，其市场需求量越来越大。
近年来随着光纤宽带接入系统的发展，光纤链路中光纤连接器(包括其它有源及无源器件上使用的连接头)的使用越来越多，这对光纤连接器的插入损耗的测试准确性提出了越来越高的要求。
本文将就影响光纤连接器插入损耗的原因以及如何确保插入损耗测试的准确性及可靠性等问题作以简单的论述。
一． 有关概念
1． 光纤连接器插入损耗（IL ）的定义： IL=0
1lg 10P P − (dB) 其中P1为输出光功率，P0为输入光功率。
插入损耗单位为dB 。
2. 光纤连接器插入损耗的测试方法
光纤连接器的插入损耗的测试方法一般有三种：基准法、替代法、标准跳线比对法。
由于在大批量的生产过程中，要求插入损耗的测试必须快速、准确且无破坏性。
因此现在的生产厂家大都采用第三种方法，即标准跳线比对法。
其测试原理图如下：
4 1 2 3 标准适配器
光功率计
稳定光源
标准测试跳线 被测跳线
当单模光纤尾纤小于50M 、多模光纤尾纤小于10M 时，尾纤自身的损耗可以忽略不计，此时测得的数据即为3端相对于标准连接器的插入损耗，并将此数据提供给客户。
当单模光纤尾纤大于50M 、多模光纤尾纤大于10M 时，应在测出的损耗值中减去光纤自身的损耗值。
3. 重复性
重复性是指同一对插头，在同一只适配器中多次插拔之后，其插入损耗的变化范
围。
单位用dB 表示。
重复性一般应小于0.1dB.
4. 互换性
由于光纤连接器的插入损耗是用标准跳线比对法测出的，其值是一个相对值。
所
以在任意对接时，实际的插入损耗值很可能会大于用标准跳线比对法测出的值，而且不同的连接头、不同的适配器，其影响程度也会有所不同。
因此就有了互换性这一指标要求。
连接头互换性是指不同插头之间，或者不同适配器任意转换后，其插入损耗的变化范围。
其一般应小于0.2dB 。
如光波公司向客户承诺插入损耗小于0.3dB,互换性小于0.2dB ，则任意对接其插入损耗应小于0.5dB 。
二． 光纤连接器插入损耗的主要因素
1． 光纤结构参数（纤芯直径不同、数值孔径不同、折射率分布不同及其它原因等）的
失配引起的损耗。
由于此类因素在现在的生产工艺中已可以避免，这里就不再赘述，详见相关资料。
2． 纤芯对中误差（纤芯错位损耗） 由于纤芯横向错位引起的损耗我们称之为错位损耗。
它是产生插入损耗的重要原因。
纤芯错位如图所示：
纤芯
多模渐变光纤在模式稳态分布时的错位损耗为：
−−=235.21lg 10a d L d 单模光纤连接时，当模场分布用高斯近似时，其错位损耗为：
−−=2exp lg 10w d L d 式中，d 、a 、w 分别为横向错位、纤芯半径和模场直径。
此类损耗产生原因有多方面的因素。
主要包括光纤的纤芯/包层同心度、插芯的
同心度以及测试适配器的参数不理想等。
上述几种因素对插损的影响还与外部器
件有尺寸配合有关，详见下文。
3．端面形状与间隙引起的损耗
造成此种损耗的原因主要是因为光纤连接器端面的物理参数不够理想，造成两连
接光纤端面非平面直接接触，而留有一定间隙或非平面接触引起的。
根据相关公
式推论得出：只要端面间隙控制在1um 以内，这种损耗就可以忽略不计。
光波公
司现有的生产工艺已经完全可以做到这一点。
当然影响插入损耗的因素除以上三种外还有很多，如：外部器件的尺寸配合、端面倾斜、端面的菲涅尔反射等，这里就不再一一论述了，有兴趣的读者可以参阅相关资料。
三．生产过程控制要素
1．插芯的品质
主要是插芯的内孔径和同心度。
对于多模光纤连接器来说，要求其插芯同心度小
3um ，对单模光纤连接器来说，要求其插芯同心度小于1um 。
插芯的同心度、研
磨后端面的物理参数以及外部件的配合尺寸等因素，将最终影响到纤芯/插芯同
心度，最终导致错位损耗的发生。
2．研磨的水平
衡量研磨好坏的标准，一要看其端面，二要看其物理参数。
物理参数主要有三个：
曲率半径、球面偏心、光纤凹陷。
对于APC 型的连接器来说，还包括端面角度
（斜8度）及键角偏差两个参数。
这些参数均可对插损造成影响。
IEC 均对这几
个参数提出了明确的要求，并有具体的指标规定。
要做到这一点，一台性能稳定
的研磨机是必不可少的。
光纤连接器生产过程中产生的品质问题，绝大部分都直
接或间接与研磨机的稳定性有关。
光波公司目前所使用的研磨机均为原装日本进
口的精工研磨机，性能优越，产品质量稳定可靠。
3．外部件尺寸配合
外部件的尺寸配合将对连接器的重复性和互换性产生直接影响。
尤其对APC型
的连接器来说，如果尺寸配合不够理想的话，其互换性和重复性将可能会超过
0.1dB或者更差。
光波公司目前已建立了一套完善的来料检验体系，对这一指标
进行针对性的检验，确保了尺寸配合对APC型连接器插入损耗的影响在控制范
围内。
四．测试控制要素
1．精确可靠的测试仪器
为使测试数据准确可靠，精确稳定的测试仪器将为此提供可靠保证。
光波公司现
在所使用的测试仪器均是日本安立及回拿大JDS的测试仪器，其性能稳定可靠。
2．标准连接器
标准连接器是一套精密制造或精选的连接器它包括标准跳线和标准适配器两
部分。
光纤连接器的插入损耗实际上是其相对于标准测试线的损耗，因此必
须对标准测试线的指标（光学参数和物理参数）进行严格控制。
同样，适配
器的指标也要严格按照挑选标准适配器的原则进行控制。
这样测试的结果才
会最大可能地体现被测试连接器的真实品质。
因此，体现测试的准确性与可
靠性的关键就是标准测试线与标准适配器的控制。
3．端面洁净度
因光纤的外径只有125um，而通光部分更小，单模光纤只有9um左右,多模光纤
有50um和62.5um两种，所以对光纤端面的洁净度要求很高。
测试前一定要清
洁光纤端面，确保端面高度清洁，这样才能保证测试结果准确可靠。
如一次清洁
不行，可以多清洁几次。
五．重复性与互换性
1．影响重复性的因素
主要是机械配合尺寸。
如果配合尺寸较好的话，每次插拔均能重现同样的对接状
态，测试结果就不会发生大的变化，另外还有适配器的好坏也会对重复性造成影
响。
2．影响互换性的因素
第三部分的所有因素，即插芯的品质、研磨的水平、及外部件的配合尺寸等都会
对互换性造成影响，因此也就更凸现了这些指标的重要性。
总之，要生产高品质的光纤连接器产品，必须有多方面的因素配合，包括高素质的从业人员。
本文主要是根据我们多年的从业经验，针对光纤连接器的一个重要指标----插入损耗，提出我们自己的一些观点和看法，仅供对此感兴趣的读者参考。
由于水平所限，文中出现一些错误和不足在所难免，望批评指正。
参考文献：①…………光无源器件…………人民邮电出版社(1997年出版)………林学煌编著
②………光纤通信系统………国防工业出版社（2000年出版）…………杨祥林编。