实验1-2TTL与非门电路半加器完整全加器
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实验一TTL集成与非门电路
一.实验目的
1.熟悉TTL集成与非门外形及外部引线的排列。
2.验证TTL与非门的逻辑功能。
3.试用与非门接成其它几种逻辑门的方法并熟悉它们的逻辑功能。
二.实验仪器和芯片
1.SXJ—3C数字电路学习机
2.74LS00
三.实验内容和步骤
1.熟悉实验设备：
熟悉通用实验箱的结构和使用方法，熟悉74LS00集成块的外形和引线情况。
1.分析半加器的逻辑功能
图2—1
（1）写出图2—1所示电路的逻辑表达式。
X1= X2= X3=
Y= Z=
（2）根据表达式列出真值表（表2—1），并画出卡诺图看能否简化。
（3）根据上图所示电路，在学习机上接线，将测试结果记入表2—1。
2.分析全加器的逻辑功能
（1）写出图2—2所示电路的逻辑表达式
图2—2
表2—1
列真值表
测试结果（亮、灭）
A
B
X1
X2
X3
Y
Z
Y
Z
0
0
0
1
1
0
1
1
表2—2
列真值表
测试结果（亮、灭）
A
B
S
S
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
1
0
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
1
二.整理实验数据，并对实验结果进行分析讨论。
三.总结组合逻辑电路的分析方法。
表1—2
输入
与门输出
或门输出
非门输出
异或输出
A
B
测量
状态
预计
状态‘
测量
状态
预计
状态‘
测量
状态
预计
状态‘
测量
状态
预计
状态‘
0
0
0
1
1
0
1
1
四．预习内容
1.复习TTL与非门的பைடு நூலகம்作原理
2.了解74LS00集成电路的逻辑和引线排列图。
五．实验报告要求
1．要求写出相应的表达式；
2．画出相应的逻辑图；
实验二组合逻辑电路的实验分析
2.测量与非门的逻辑功能
将74LS00中的一个与非门的两个输入端分别接到实验箱中的两个电平开关上，输出端接到箱中的逻辑电平指示灯上，接通5V电源和地，按表1—1完成逻辑功能的测量。并规定高电平为逻辑“1”，低电平为逻辑“0”。
表1—1
输入
输出
A
B
测量
状态
预计
状态
0
0
0
1
1
0
1
1
3.用与非门组成与门、或门、非门、异或门。并测量相应的逻辑功能。用74LS00中的与非门分别接成与门、或门、非门、异或门画出接线图并将测试结果1-2表中，根据表分别写出它们的逻辑表达式。
=
根据逻辑表达式列真值表2—2。
（2）根据真值表画逻辑函数S、的卡诺图。
（3）按图2-2的要求选择与非门并接线进行测试，将测试结果记入表2-2。
四.预习要求
1.预习组合逻辑电路的分析方法。
2.预习用与非门构成的半加器、全加器的工作原理。
3.预习二进制数的运算。
实验项目日期
班级姓名学号
桌号同组人
一.实验记录
一.实验目的
1.掌握组合逻辑电路的分析方法。
2.验证半加器和全加器的逻辑功能。
3.了解二进制数的运算规律。
二.实验仪器设备
1.数字电路实验箱
2.万用表
3.74LS00
三.实验内容
组合电路的分析是根据所给的逻辑电路，写出输入与输出之间的逻辑关系（逻辑函数表达式或真值表）。从而评定该电路的逻辑功能。组合电路的分析方法，一般是首先对给定的逻辑电路按逻辑门的连接方式逐一地写出相应的逻辑表达式，然后写出输出函数的表达式（如果需要列其真值表时，可由表达式通过运算求出）。但这样写出的逻辑函数表达式可能不是最简单的，所以还应该利用逻辑代数的公式或卡诺图进行化简。
一.实验目的
1.熟悉TTL集成与非门外形及外部引线的排列。
2.验证TTL与非门的逻辑功能。
3.试用与非门接成其它几种逻辑门的方法并熟悉它们的逻辑功能。
二.实验仪器和芯片
1.SXJ—3C数字电路学习机
2.74LS00
三.实验内容和步骤
1.熟悉实验设备：
熟悉通用实验箱的结构和使用方法，熟悉74LS00集成块的外形和引线情况。
1.分析半加器的逻辑功能
图2—1
（1）写出图2—1所示电路的逻辑表达式。
X1= X2= X3=
Y= Z=
（2）根据表达式列出真值表（表2—1），并画出卡诺图看能否简化。
（3）根据上图所示电路，在学习机上接线，将测试结果记入表2—1。
2.分析全加器的逻辑功能
（1）写出图2—2所示电路的逻辑表达式
图2—2
表2—1
列真值表
测试结果（亮、灭）
A
B
X1
X2
X3
Y
Z
Y
Z
0
0
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表2—2
列真值表
测试结果（亮、灭）
A
B
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二.整理实验数据，并对实验结果进行分析讨论。
三.总结组合逻辑电路的分析方法。
表1—2
输入
与门输出
或门输出
非门输出
异或输出
A
B
测量
状态
预计
状态‘
测量
状态
预计
状态‘
测量
状态
预计
状态‘
测量
状态
预计
状态‘
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0
0
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四．预习内容
1.复习TTL与非门的பைடு நூலகம்作原理
2.了解74LS00集成电路的逻辑和引线排列图。
五．实验报告要求
1．要求写出相应的表达式；
2．画出相应的逻辑图；
实验二组合逻辑电路的实验分析
2.测量与非门的逻辑功能
将74LS00中的一个与非门的两个输入端分别接到实验箱中的两个电平开关上，输出端接到箱中的逻辑电平指示灯上，接通5V电源和地，按表1—1完成逻辑功能的测量。并规定高电平为逻辑“1”，低电平为逻辑“0”。
表1—1
输入
输出
A
B
测量
状态
预计
状态
0
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3.用与非门组成与门、或门、非门、异或门。并测量相应的逻辑功能。用74LS00中的与非门分别接成与门、或门、非门、异或门画出接线图并将测试结果1-2表中，根据表分别写出它们的逻辑表达式。
=
根据逻辑表达式列真值表2—2。
（2）根据真值表画逻辑函数S、的卡诺图。
（3）按图2-2的要求选择与非门并接线进行测试，将测试结果记入表2-2。
四.预习要求
1.预习组合逻辑电路的分析方法。
2.预习用与非门构成的半加器、全加器的工作原理。
3.预习二进制数的运算。
实验项目日期
班级姓名学号
桌号同组人
一.实验记录
一.实验目的
1.掌握组合逻辑电路的分析方法。
2.验证半加器和全加器的逻辑功能。
3.了解二进制数的运算规律。
二.实验仪器设备
1.数字电路实验箱
2.万用表
3.74LS00
三.实验内容
组合电路的分析是根据所给的逻辑电路，写出输入与输出之间的逻辑关系（逻辑函数表达式或真值表）。从而评定该电路的逻辑功能。组合电路的分析方法，一般是首先对给定的逻辑电路按逻辑门的连接方式逐一地写出相应的逻辑表达式，然后写出输出函数的表达式（如果需要列其真值表时，可由表达式通过运算求出）。但这样写出的逻辑函数表达式可能不是最简单的，所以还应该利用逻辑代数的公式或卡诺图进行化简。