原子力显微镜
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机械制造及自动化系
纳米科学与技术
2. AFM工作时针尖-试件间的相互作用力
1)相互排斥的库仑力和相互吸引的范德华力 (1)原子间的排斥力 原子(分子)间的排斥力是由于原子外 面的电子云相互排斥而产生的,原子间的排 斥力是很强的,在AFM测量时排斥力在10 - 8 ~10 -11N数量级,是短程的相互作用力,作 用距离在10 -10m,随距离增加排斥力迅速衰 减。 (2)原子间的相互吸引力 原子(分子)间相互吸引的范德华力, 是原 子或分子靠近时产生相互极化而产生的微弱 引力。属长程力,作用距离可达10-8 m以上。
1) 纯几何的测量误差, 即针尖和试件表 面接触点改变,造成的测量误差。; 2) 针尖–试件间的横向作用力, 使探针 弯曲, 造成测量误差。 3) 针尖–试件间作用力和距离变化的非 线性,造成测量误差。
STM 驱动
显示器 计算机 及控制器
试件
压电扫描器
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第3章 原子力显微镜
立式AFM ( Hansma等, 1988 )
原子力显微镜后来又经过多次 改进,现代的AFM不仅有原子级的 分辨率(纵向0.01nm,横向0.1 nm), 针尖对试件的作用力极小,基本不 划伤试件,能测量软质试件,而且 具有多项新的测量功能
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第3章 原子力显微镜
1)在AFM采用接触测量时,ki > 0,实测高度Δz将小于试件表面真实的起伏。 2)在AFM采用恒力测量模式时,针尖一试件间的相互作用力需保持不变。当检 测中作用力发生变化kiΔh时,反馈系统通过改变Δz,使悬臂的变形力产生变化, 而达到平衡 :kc (Δz – Δh) = ki Δh
ki z 1 h kc
故在恒力测量模式时,测出的试件廓形高低, 大于 真实的高低,即测量结果在垂直方向有放大作用, 造成测量廓形的误差
3)在AFM测量时, 针尖的预置力越大,纵向测量结果的放大作用也越大,即纵 向畸变也增大。为减小测量误差,应尽量采用小的针尖预置力。 4) AFM测量结果的纵向放大量(畸变)和微悬臂的刚度有关。在采用等间隙 测量模式时,从式中可看,采用刚度kc较低的微悬臂较为有利,可以减小纵 向测量误差。但如采用恒力测量模式时,从式(4-22)看,为减小纵向测量误差, 应采用刚度较高的微悬臂,和采用等间隙测量模式时正好相矛盾。因此可知, 微悬臂刚度的选择和AFM的测量模式有关。
第3章 原子力显微镜
石墨H位上的两种电荷密度分布
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范德华力,由三部分组成:
第3章 原子力显微镜
(1) 偶极-偶极相互作用力,即两个偶极子之间的作用力; (2) 偶极-感应偶极间的相互作用力,同被它感应的偶极子间的相 互作用力; (3) 色散力,它存于中性的原子或分子间。这些中性的原子或分 子的时间平均偶极矩为零,但是由于电子不断围绕原子核运 动,在某一瞬间可能产生一定的偶极矩,使得中性原子或分 子之间产生瞬时间偶极矩作用,从而产生了色散力。
第3章 原子力显微镜
3. 5 影响AFM测量精度的若干问题分析
1. 探针作用力引起的试件表面变形
2. 微悬臂对测量结果的影响
1 1 1 1 1 k [ ] kc kt k g k s
1 1 1 1 ki [ ] kt k g k s
ki z h k c ki
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2)探针尖接近试件过程中发生作用的各种力
第3章 原子力显微镜
探针-试件间距离在10 μm左右时,空气阻尼力 探针-试件间距离在100~1000nm时,主要静电力和磁力相互作用 探针-试件间距离在10~100nm处,吸附水膜产生几百nN吸引力的毛细力 针尖-试件距离到达10 nm左右时 ,原子(分子、离子)间吸引的范德华力 针尖-试件间距离小到1 nm以内时,原子间相互排斥的厍仑力开始起作用 3)AFM测量时利用的相互作用力 在接触测量时,检测的是它们间的相互排斥力; 在非接触测量时,检测的是它们间的相互吸引力 4)针尖-试件间其他作用力及其应用于各种扫描力显微镜 针尖-试件间相互作用的磁力,可制成检测材料磁性能的磁力显微镜(MFM); 针尖-试件间相互作用的静电力,可制成检测材料表面电场的电势的静电力显微镜 (EFM); 探针-试件接触滑行时的摩擦力,可制成研究材料摩擦磨损行为的摩擦力显微镜 (FFM);
系统的总能量uT ,应是针尖-试件相 互作用能与悬臂弯曲势能之和
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第3章 原子力显微镜
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第3章 原子力显微镜
3.4 毛细力和AFM在液体中测量
1. 试件表面的吸附层
化学吸附 亲水 物理吸Biblioteka Baidu 疏水
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2. 毛细力及其对AFM测量的影响
2 2 2 8 4 ] k ( z - zA ) = F ( z ) 12 R[ 2 8 3 z 30z
k ( z z A ) F0 [
z
2 2
8 8
ZA
Z
30z
]
F0 2 8 zA z [ 2 ] 8 k z 30z
1 7 2 uT k ( z z A ) F0 [ ] 7 2 z 210z
AFM检测试件表面微 观形貌时,现在采用 三种不同的扫描成像 模式: 1)接触扫描成像模式 (contact mode), 2)非接触扫描成像模 式或抬高扫描成像模 式(non-contact mode 或 lift mode), 3)轻敲扫描成像模式 (tapping mode)
第3章 原子力显微镜
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3. 原子力显微镜的总体结构组成
第3章 原子力显微镜
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第3章 原子力显微镜
3.2 原子力显微镜的测量和扫描模式
1. AFM检测的要求
探针尖和试件表面非常接近时,二者间的作用力极为复杂,有原子(分子、离子) 间的排斥力(库仑力)、吸引力(范德华力)、磁力、静电力、摩擦力(接触时)、粘附力、 毛细力等。AFM的检测成像用的是原子(分子、离子)间的排斥力(接触测量)或吸引力 (非接触测量),而其他各种作用力对AFM的检测成像并无帮助,而只是起干扰影响作 用。
机械制造及其自动化
哈尔滨工业大学机电工程学院 航空宇航制造工程系
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第3章 原子力显微镜
第三章 原子力显微镜
3.1 原子力显微镜简介
1. 原子力显微镜的发明和扫描力显微镜的发展 2. 原子力显微镜的基本工作原理
激光 探测器 微悬臂和探针
微悬臂 AFM 扫描驱动 试件 AFM探针 STM 探针
第3章 原子力显微镜
Fa 2Rh / r
在R = 50~100 nm,相对湿度在40~80%时, 毛细力大约在几十nN数量级。
3. 液体中针尖-试件间的相互作用力
探针和试件都浸入液体内进行测量时, 可以完全消除毛细现象,因此可不受毛细力 的干扰,使测量时的作用力大大减小,而且 可以: 1)检测软质试件; 2)可以观察检测活的生物细胞; 3)可以观察研究“固液界面” 。
AR 1 2 Fv = 6 z
Hamaker常数A是决定范德华作用能大小的关键性参数
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2)针尖-试件原子间作用力和距离的关系
第3章 原子力显微镜
针尖-试件原子间作用力和距离的关系
Al针尖和Al试件距离不同时相互作用力
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3)针尖和试件“接触”的概念
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3. 探针尖曲率半径对测量结果的影响
第3章 原子力显微镜
使用商品的Si3N4四棱锥探针尖检测 所获得的聚酰亚胺薄膜AFM图像
使用ZnO晶须作探针尖检测,所获 的聚酰亚胺薄膜AFM图像
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4. 试件表面廓形高低起伏不平对测量结果的影响
第3章 原子力显微镜
4. 在液体中AFM的检测
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第3章 原子力显微镜
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第3章 原子力显微镜
水下Au111)的AFM图像(Manne,1990) 原子分辨率的起伏幅度约1 Å。
DNA的AFM图像(Digital Instruments)
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AFM的三种扫描成像模式
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1)接触扫描成像模式
第3章 原子力显微镜
该方式所感知的力是接触原子的外层电子相互排斥的库仑力,这相互排斥的库仑 力大小在10-8~10-11 N。该方式可以稳定地获得高分辨率试件表面微观形貌图像,有 可能达到原子级的测量分辨率。其缺点如下: (1)检测弹性模量低的软质试件时,试件表层在针尖力的作用下会产生变形,甚至划 伤,这将使测出的表面形貌图像出现假象。 (2)在大气条件下,多数试件表面都吸附着覆盖层(凝集水蒸气,有机污染物,氧化 层等),厚度一般为几nm。当探针尖接触这吸附层时,毛细现象会使吸附层下凹,或 粘附到针尖上,引起额外的粘附力,增加了总的作用力,造成了检测成像的畸变。 (3)针尖和试件接触并滑行,容易使探针尖磨损甚至损坏。 2)非接触扫描成像模式 非接触扫描模式测量时,测量的作用力是以范德华力为主的吸引力,针尖-试件 间距离大致在5~20 nm。 非接触扫描测量模式的主要优点, 是探针和试件不接触,针尖测量时不会使试件表 面变形,适用于弹性模量低的试件,此外因针尖和试件不接触,测量不受毛细力的影 响,同时针尖也不易磨损。但非接触扫描测量模式测量灵敏度要低些。
u( z) 2 2 2 1 8 F ( z) 12 4 R[ 2 ] 8 z 3 30 z z
F ( z) 3 2 3 2 9 3 F ( z) 12 R[ 3 ] 9 z 4 15 z z
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第3章 原子力显微镜
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现在还不能完全控制AFM在液体中不同条 件时的针尖-试件间的相互作用力,作用机理 也不完全清楚。但AFM在液体中测量,因消除 了毛细力,可以使针尖-试件间的作用力,比 在真空中测量降低两个数量级。这对检测柔软 生物细胞,低弹性模数的软质材料极为重要。
第3章 原子力显微镜
第3章 原子力显微镜
当两物体逐渐接近到二者之间的相互作用合力为’零’的临界点时,这两物体被 认为开始’接触’。即两物体之间相互作用的合力是排斥力时,这两物体是被认为相 互接触的; 两物体之间相互作用的合力是吸引力时,这两物体是被认为相互不接触的。
4)AFM的接触测量和不接触测量
不易用于测量
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3. 悬臂-针尖-试件相互作用的动力学分析
1)针尖-试件相互作用的势能
第3章 原子力显微镜
u (r ) 4 (
12
r
12
6
r
6
)
r-两原子间距离 ε-两原子间作用能的系数 σ-在u (r)= 0时的两原子间距离 针尖-试件间距离为z 的总势能
2 2 1 7 u( z) 12 5 R[ ] 7 3 z 210 z
2. 作用力的检测模式
1) 恒力测量模式; 2) 测量微悬臂形变量的测量模式; 3) 恒力梯度测量模式:ω1∝(k―F’ )1/2 4) 力梯度测量模式。(Q 值通常指谐振器的 品质因数. 一个较高的Q值可以使器件对外部阻 尼运动非常敏感)
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3. AFM检测时的扫描成像模式
相互作用距离 ~0.1m ~10-7m ~10-7m ~10-3m ~10-9m
磁力
静电力 长 程 力 毛细力
液固界面力
范德华力 粘附力 短 程 力 排斥力 弱相互作用力 强相互作用力 针尖一试件间(R>>Z) 跳跃接触 针尖试件接触
~10-7m
~10-8m ~10-9m ~10-10m ~10-15m ~10-15m
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3)轻敲扫描成像模式
第3章 原子力显微镜
AFM轻敲扫描针尖振荡示意图
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1. 探针与试件间的各种作用力
1)各种长程力和短程力
作用力 举例 生物铁磁体 磁畴 针类—试件间电容 玻璃上水膜 针尖和试件间凹面
第3章 原子力显微镜
3.3 探针与试件间的作用力