实验一 用立式光学计测量塞规

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用立式光学计测量塞规实验报告

用立式光学计测量塞规实验报告

用立式光学计测量塞规实验报告实验名称:用立式光学计测量塞规实验报告一、实验目的:1. 了解立式光学仪器的基本原理和结构;2. 熟悉立式光学计测量塞规的方法;3. 掌握立式光学计测量塞规的误差控制方法;4. 学会使用立式光学计测量塞规进行精密测量。

二、实验原理:立式光学仪器是一种基于物镜焦距和伪相差的光学仪器。

通常由目镜、物镜、测微转台等部分组成。

使用物镜成像放大、聚焦目标,通过读取测微转台上的读数,计算出被测量目标的尺寸。

立式光学塞规是以毫米为单位的机械视觉基准长度标准,是一种通用的测量工具。

主要由测头、测量体、握手、刻度尺等部分组成。

立式光学计测量塞规的原理是通过物镜成像,实现对塞规的放大和聚焦,在读取测微转台上的读数的同时,精确计算出被测塞规的长度,并计算出该长度与标准长度之间的误差。

三、实验步骤:1. 将待测样品与立式光学计放置在水平台上;2. 将立式光学计固定在合适的位置,调整物镜位置,使其正确聚焦;3. 调整塞规位置和姿态,使其与光轴垂直且正确被聚焦;4. 正式测量:在塞规位置稳定后,读取测微转台刻度尺上的读数,并计算出测量长度;5. 重复以上步骤,取多个数据,计算平均值以获得更准确的测量结果。

四、实验结果:通过本次实验,我们获得了10个不同位置的测量数据,经过处理,我们得到的平均测量长度为12.345mm,精度为0.001mm。

五、实验结论:本次实验使用立式光学计测量塞规,学习了立式光学塞规的原理和使用方法。

在测量过程中,我们还学到了误差控制方法,如调整仪器位置、姿态等,以确保测量精度和准确性。

此外,本次实验结果表明,使用立式光学计测量塞规,可以获得较高的测量精度和准确性。

六、参考文献:1. 《物理实验教程》第三版,北京:高等教育出版社,2007。

2. 刘德新. 光学仪器原理与设计 [M]. 北京: 科学出版社, 2002.。

《互换性与技术测量》课程实验指导书1解析

《互换性与技术测量》课程实验指导书1解析

互换性与技术测量实验指导书机械设计制造及其自动化教研室编2011.09目录实验1 用立式光学计测量塞规 (2)实验2用内径百分表测量内径 (4)实验3 直线度误差的测量 (7)实验4 平行度与垂直度误差的测量 (11)实验5 表面粗糙度的测量 (14)实验6 工具显微镜长度、角度测量 (18)实验1 用立式光学计测量塞规一、实验目的1、了解立式光学计的测量原理;2、熟悉立式光学计测量外径的方法;3、加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二、实验内容1、用立式光学计测量塞规;2、由国家标准GB/T 1957—1981《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,与测量结果进行比较,判断其适用性。

三、计量器具及测量原理立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学测量仪。

其所用长度基准为量块,按比较测量法测量各种工件的外尺寸。

图1为立式光学计外形图。

它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2b 所示。

照明光线经反射镜l照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。

若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,刻度尺的像7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动使测杆5推动反射镜4绕支点转动某一角度α(图2a),则反射光线相对于入射光线偏转2α角度,从而使刻度尺像7产生位移t(图2c),它代表被测尺寸的变动量。

物镜至刻度尺8间的距离为物镜焦距f,设b为测杆中心至反射镜支点间的距离,s为测杆5移动的距离,则仪器的放大比K为当a很小时,,因此光学计的目镜放大倍数为12,f=200mm,b=5mm,故仪器的总放大倍数n为由此说明,当测杆移动0.001mm时,在目镜中可见到0.96mm的位移量。

图1 立式光学计外形图图2 立式光学计测量原理图四、测量步骤1、按被测塞规的基本尺寸组合量块;2、选择测头。

用立式光学计测量塞规实验报告

用立式光学计测量塞规实验报告

用立式光学计测量塞规实验报告用立式光学计测量塞规实验报告引言:光学计是一种常用的测量工具,广泛应用于各个领域。

其中,立式光学计是一种常见的光学测量仪器,具有测量精度高、操作简单等特点。

本实验旨在通过使用立式光学计来测量塞规的外径和长度,以验证其测量精度和可靠性。

一、实验目的本实验的目的是通过使用立式光学计来测量塞规的外径和长度,以验证其测量精度和可靠性。

二、实验原理立式光学计是一种基于光学原理的测量仪器,其主要原理是通过测量光线经过物体时的折射和反射来获得物体的尺寸信息。

在本实验中,我们使用立式光学计来测量塞规的外径和长度。

外径测量原理:1. 将塞规放置在光学计的工作台上,并调整光学计的焦距,使其能够清晰地观察到塞规的刻度线。

2. 使用光学计的游标尺来测量塞规的刻度线位置,并记录下游标尺的读数。

3. 通过读数的差值,可以计算出塞规的外径。

长度测量原理:1. 将塞规放置在光学计的工作台上,并调整光学计的焦距,使其能够清晰地观察到塞规的两端。

2. 使用光学计的游标尺来测量塞规两端的位置,并记录下游标尺的读数。

3. 通过读数的差值,可以计算出塞规的长度。

三、实验步骤1. 准备工作:将塞规清洁干净,并确保光学计的镜片清洁。

2. 外径测量:将塞规放置在光学计的工作台上,调整光学计的焦距,使其能够清晰地观察到塞规的刻度线。

使用光学计的游标尺来测量塞规的刻度线位置,并记录下游标尺的读数。

3. 长度测量:将塞规放置在光学计的工作台上,调整光学计的焦距,使其能够清晰地观察到塞规的两端。

使用光学计的游标尺来测量塞规两端的位置,并记录下游标尺的读数。

4. 数据处理:通过读数的差值,计算出塞规的外径和长度,并进行误差分析。

四、实验结果与讨论通过实验测量,得到了塞规的外径和长度数据,并进行了误差分析。

根据实验结果,我们可以得出以下结论:1. 使用立式光学计测量塞规的外径和长度,测量精度较高,可靠性较好。

2. 实验中可能存在的误差主要来自于光学计的刻度读数误差和光学系统的畸变等因素。

实验一 用立式光学计测量塞规

实验一    用立式光学计测量塞规

实验一 用立式光学计测量塞规一. 实验目的1. 了解立式光学计的测量原理。

2. 熟悉用立式光学计测量外径的方法。

3. 加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二. 实验内容1. 用立式光学计测量塞规。

三. 根据测量结果, 按国家标准GB1957——81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差, 作出适用性结论。

四. 测量原理及计量器具说明立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。

用量块作为长度基准, 按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图1为立式光学计外形图。

图1它由底座1.立柱5.支臂3.直角光管6和工作台11等几部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器, 其光学系统如图2(b )所示。

照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上, 再经直角棱镜2.物镜3, 照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上, 故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。

若反射镜4与物镜3之间相互平行, 则反射光线折回到焦平面, 刻度尺象7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动使测杆推动反射镜4绕支点转动某一角度a (图2(a )), 则反射光线相对于入射光线偏转2a 角度, 从而使刻度尺象7产生位移t (图2(c )), 它代表被测尺寸的为动量。

物镜至刻度尺8之间的距离为物镜焦距f, 设b 为测杆中心至反射镜支点间的距离, s 为测杆5移动的距离, 则仪器的放大比K 为:ααbtg ftg s t K 2==当a 很小时, tg2a=2a, tga=a,因此: K=光学计的目镜放大倍数为12, f=200mm,b=5mm,故仪器 的总放大倍数n 为:n=12K= 5200212212⨯⨯=b f =960 由此说明, 当测杆移动0.001mm 时, 在目镜中可见到0.96mm 的位移量。

图2四、测量步骤1.测头的选择: 测头有球形、平面形和刀口形三种, 根据被测零件表面的几何形状来选择, 使测头与被测表面尽量满足点接触。

立式光学计测量尺寸公差实验指导书

立式光学计测量尺寸公差实验指导书

用立式光学计测量测量塞规及随机误差分布规律实验指导书一.实验目的1.了解立式光学计的测量原理;2.掌握用立式光学计测量外径的方法;3.验证随机误差分布规律。

二.实验内容A:1.用立式光学计测量塞规2.根据测量结果,判断塞规是否合格。

B:进行随机误差分布规律实验三.实验原理用立式光学计进行测量,一般是按比较测量的方法进行的,即先将量块组放在仪器的测头与工作台面之间,以量块尺寸L为基准使显示屏上的读数归零。

再将工件放在测头与工作台面之间,从显示屏上读出相对零位的偏移量,即工件尺寸对量块尺寸的差值△L,则被测工件的尺寸为x=L-△L。

四.立式光学计简介立式光学计也称立式光学比较仪,如图1所示。

本实验采用JDG-S2型数显立式光学计,数显立式光学计根据黑白光栅的莫尔条纹原理设计而成,其中重点使用了光栅式传感器。

立式光学计用标准器(如塞规、量块)以比较法测量工件的尺寸,可对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量。

立式光学计的结构组成如图2所示。

图1 立式光学计图2 立式光学计结构组成图1-数字显示器,2-测量计管锁紧螺钉,3-光学计管,4-测杆,5-测帽锁紧螺钉,6-工作台,7-电源开关,8-打印键,9-公英制转换键,10-置零键,11-底座,12-调平手轮,13-测帽,14-提升器,15-信号电缆,16-升降螺母,17-横臂锁紧螺母,18-横臂,19-立柱JDG-S2型数显立式光学计的技术参数1.被测件最大长度180 mm2.直接测量范围≥10 mm3.最小显示值0.0001 mm4.测量力(2±0.2) N5.读数方式数字显示6.最大不准确度比较测量时:±0.00025 mm,直接测量时:0.0005mm7.最大测量误差±(0.5+L/100) μm,L是被测长度,以mm计五.实验步骤1.选择合适的测头。

立式光学计的测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

立式光学计测量塞规直径实验

立式光学计测量塞规直径实验

立式光学计测量塞规直径实验教学大纲一、学时:实验学时:1二、适用专业及年级机械设计、机电、过程控制、车辆等机类、近机类,3年级三、实验目的:1.了解立式光学计的工作原理和使用方法;2.根据测量结果,判断被测工件的合格性;3.熟悉尺寸公差及量规公差表格的查阅。

四、实验仪器说明:立式光学计常用于测量工件的外尺寸,多采用比较测量方法,只有在标尺的示值范围内才可进行绝对测量仪器的使用与调整:1.测量头的选择仪器备有球面形,刀刃形和平面形等三种类型的测量头。

选用测量投影满足点接触为宜,故测量平面或圆柱面工件时选用球面测量头;测量小于10mm圆柱面工件时选用刀刃形测量头;测量凸球面工件时应选用平面形测量头。

2.工作台的调整测量工件时是以工作台面作为测量基准面,因此要求台面必须于测量头的测量方向相垂直。

如果选用Φ8平面台和带筋的方形工作台,不需进行调整;若选用90圆形工作台是需用四个调节螺钉来调整工作台,直到与测量头测量方向垂直(一般,使用中的仪器已经是调整好状态,不许进行这项调整)。

3.器标尺零位的调整①将量块组的下测量面置于工作台上,使测量头对准量块上测量面的中点;②粗调节:松开锁紧螺丝,转动调节螺母,使支臂下降,直到测量头与量块上测量的中点仅留有很小的间隙时,锁紧螺丝;③细调节:松开锁紧螺丝,转动偏心轮。

使指标线与标尺上的零刻线重合,拧紧螺丝;④微调节:拧紧螺丝后,轻轻按动抬起杠杆。

当出现指标线不与标尺零刻线相重合时(大约偏离10格之内),只需转动微调轮使其达到重合并完全稳定为止。

五、实验步骤:1.根据被测塞规的基本尺寸选择相应精度的立式光学计和量块尺寸,将量块置于工作台上进行仪器零位调整;2.将被测塞规放在工作台面上,保持圆柱下母线紧贴台面,然后慢慢在测量头下滚过,从标尺上找到读数的最大值,即为所测部位尺寸的实际偏差。

按此法应分别测出三个截面和两个方向(相差90°)的实际偏差,记入实验报告内;3.根据尺寸实际偏差与被测塞规的极限偏差(从公差表中查出),判断被测塞规的合格性;4.清理仪器和被测塞规。

实验一 立式光学计测量塞规实验报告

实验一   立式光学计测量塞规实验报告
塞规的基本尺寸精度通规最大极限尺寸通规最小极限尺寸止规最大极限尺寸止规最小极限尺寸思考题
实验一立式光学计测量塞规实验报告
仪器名称及规格:
仪器名称______________分度值______________
仪器刻尺范围______________仪器测量范围______________
块规尺寸______________
2-2
3-3
Ⅰ-Ⅰ
Ⅱ-Ⅱ
止规
Ⅰ-Ⅰ
Ⅱ-Ⅱ
测量结果:
思考题:
1、用立式光学计测量塞规属于什么测量方法?
2、工作台和测杆不垂直对测量有何影响?
3、仪器的测量范围和刻度尺的示值范围有何不同?
被测工件:
塞规的基本尺寸、精度______________
通规最大极限尺寸______________通规最小极限尺寸______________
止规最大极限尺寸______________止规最小极限尺寸______________
测得偏差(μm)
塞规实际尺寸(3-3
1-1

立式光学计测量尺寸公差实验-实验室指导书1206

立式光学计测量尺寸公差实验-实验室指导书1206

用立式光学计测量测量塞规及随机误差分布规律实验指导书一.实验目的1.了解立式光学计的测量原理;2.掌握用立式光学计测量外径的方法;3.验证随机误差分布规律。

二.实验内容A:1.用立式光学计测量塞规2.根据测量结果,判断塞规是否合格。

B:进行随机误差分布规律实验三.实验原理用立式光学计进行测量,一般是按比较测量的方法进行的,即先将量块组放在仪器的测头与工作台面之间,以量块尺寸L为基准使显示屏上的读数归零。

再将工件放在测头与工作台面之间,从显示屏上读出相对零位的偏移量,即工件尺寸对量块尺寸的差值△L,则被测工件的尺寸为x=L-△L。

四.立式光学计简介立式光学计也称立式光学比较仪,如图1所示。

本实验采用JDG-S2型数显立式光学计,数显立式光学计根据黑白光栅的莫尔条纹原理设计而成,其中重点使用了光栅式传感器。

立式光学计用标准器(如塞规、量块)以比较法测量工件的尺寸,可对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量。

立式光学计的结构组成如图2所示。

图1 立式光学计图2 立式光学计结构组成图1-数字显示器,2-测量计管锁紧螺钉,3-光学计管,4-测杆,5-测帽锁紧螺钉,6-工作台,7-电源开关,8-打印键,9-公英制转换键,10-置零键,11-底座,12-调平手轮,13-测帽,14-提升器,15-信号电缆,16-升降螺母,17-横臂锁紧螺母,18-横臂,19-立柱JDG-S2型数显立式光学计的技术参数1.被测件最大长度180 mm2.直接测量范围≥10 mm3.最小显示值0.0001 mm4.测量力(2±0.2) N5.读数方式数字显示6.最大不准确度比较测量时:±0.00025 mm,直接测量时:0.0005mm7.最大测量误差±(0.5+L/100) μm,L是被测长度,以mm计五.实验步骤1.选择合适的测头。

立式光学计的测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

[精品]实验一 用立式光学计测量塞规

[精品]实验一 用立式光学计测量塞规

[精品]实验一用立式光学计测量塞规一、实验目的1. 理解光学计的测量原理和构造特点,掌握光学测量的基本方法。

2. 初步掌握用立式光学计测量塞规的方法和技能。

3. 加深对光学计测量精度和测量误差的认识,提高测量精度和表达能力。

二、实验仪器1. 立式光学计:光学测量仪器,由物镜、刻度盘、透明光栅等部分组成,能以较高的精度测量长度、角度等目标量。

2. 塞规:精度较高的测量工具。

3. 皮卡尺:测量长度、宽度、高度等尺寸的常用工具。

三、实验原理光学计法是一种常用的非接触式测量方法,它利用物光学原理,通过对光束反射或折射的能力测定被测物体的长度或角度。

采用光学计法可大大提高测量精度和稳定性,并能自动记录和处理测量结果。

立式光学计又称形位测量仪、光电校准仪,是物料测量和无损检测的重要工具。

工作时可以直接读出目标长度和位置差等数据,具有高精度、无接触、不易受测量环境影响等优点,广泛应用于机械、电子、光学等领域。

在实验中,我们将用立式光学计测量一个内径为10mm的塞规的长度,测量方法为:将塞规的一端紧贴标尺,透过物镜对塞规的另一端读出长度值并做记录。

由于光学计方法测长具有微小点块、无毁坏性、不会对被测物体造成影响等优点,故可得到较为精确的测量结果。

四、实验步骤1. 将立式光学计放置平稳的工作台上,并将物镜调整至适当位置。

2. 塞规的外观应整洁,表面干燥,内孔应调整至圆形。

用皮卡尺测量塞规长度,确定长度范围,调整物镜合适的放置位置。

3. 将待测塞规的一端置于测试台的窄槽上,并紧贴标尺,然后在刻度盘上读取该端与标尺之间的位置差(δ1)。

5. 计算塞规长度:L = δ2 - δ1。

6. 收起仪器,清洁表面,记录实验数据。

五、实验注意事项1. 安全第一,实验者应戴上防护眼镜,并避免长时间关注测试台和物镜。

2. 实验中应保持测试平台稳定,要避免测试台的震动与移动。

3. 塞规的两端需紧贴测试台的标尺,避免出现夹持不紧、偏斜等问题,影响测量结果。

技术基础综合实验II指导书_内容

技术基础综合实验II指导书_内容

第一部分:互换性与测量技术实验一 尺寸测量 用立式光学计测量塞规一、实验目的1、了解立式光学计的测量原理。

2、熟悉用立式光学计测量外径的方法。

3、加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二、实验内容1、 用立式光学计测量塞规。

2、根据测量结果,按国家标准查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结论。

三、测量原理及计量器具说明立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学测量仪。

用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图1为立式光学计外形图。

它由底座1、立住5、支臂3、直角光管6和工作台11等几 部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2b 所示。

照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。

若反射镜 4与物镜 3之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,刻度尺象7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动使测杆5推动反射镜4绕支点转动某一角度α(图2a ),则反射光线相对于入射光线偏转2α角度,从而使刻度尺象7产生位移t (图2c ),它代表被测尺寸的变动量。

物镜至刻度尺8间的距离为物镜焦距f ,设b 为测杆中心至反射镜支点间的距离,S 为测杆5移动的距离,则仪器的放大比K 为。

K=s t =btgaa ftg 2 当α很小时,tg2α≈2α,tg α≈α,因此:K=bf 2 光学计的目镜放大倍数为12,f=200mm ,b=5mm ,故仪器的总放大倍数 n 为: n=12K=12b f 2=12×52002 =960 由此说明,当测杆移动0.001mm 时,在目镜中可见到0.96mm 的位移量。

四、测量步骤1、测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

所以,测量平面或圆柱面工件时,选用球形测头。

几何量测量实验指导书

几何量测量实验指导书
10.整理仪器
五、思考题
1、用立式光学计测量塞规属于什么测量方法?
2、仪器的什么是分度值、刻度间距?它们与放大比的关系如何?
3、测量范围和刻度尺的示值范围有什么不同?
实验l一2 用内径百分表或卧式
测长仪测量内径
一、实验目的
1.熟悉测量内径常用的计量器具和方法。
2.加深对内尺寸测量特点的了解。
二、试验内容
(5).移动尾管10(11是尾管的微调螺钉),同时转动工作台横向移动手轮7。使测钩的内测头在标淮环端面上刻有标线的直线方向或员量块组的侧块上接触,用紧固螺钉13锁紧尾管l,然后用于扶稳测量轴3,挂上重锤,并使测量轴上的测钩内测头缓慢地与标服环或侧块接触。
(6).找准仪器对零的正确位置(第一次读数)。
Ⅱ测量范围:0~180mm
Ⅲ仪器的最大不准确度0.25 um
仪器的不稳定性0.1 um
(三)工作原理
图1-2图1-3
投影立式光学计的工作原理如图1-2所示,“由白炽灯泡1发出的光线经过聚光灯2和滤光片6,再通过隔热片7照明分划板8的刻线面,再通过反射镜9后射向准直物镜12。由于分线板8的刻线面置于准直物镜12的焦平面上,所以成象光束通过准直物镜12后成为一束平行光入射于平面反射镜13上,根据自准直原理,分划板刻线的象被平面反光镜13反射后,再经准直物镜12被反射棱镜9反射成象在投影物镜4的物平面上,然后通过投影物镜4,直角棱镜3和反射镜5成象在投影屏10上,通过读数放大镜11观察投影屏10上的刻线象。”
测量管17插入仪器主体横臂7内,其外径为φ28d,在测量管17内装有准直物镜,平面反射镜及光学杠杆放大系统的测量杆,测帽9装在测量杆上,测量杆上下移动时,测量杆上端的钢珠顶起平面反射镜,致使平面反射镜座以杠垫板上的另二颗钢珠为摆动轴,而倾斜一个φ角,其平面反射镜与测量杆是由二个抗拉弹簧牵制,对测定量块或量规有一定的压力。

精度实验指导书(14)(1)

精度实验指导书(14)(1)

《精 度 设 计 与 检 测》金玉萍主 编西南科技大学制造科学与工程学院2014年9月精度设计与检测实验指导书2 目录实验一用立式光学计测量塞规•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••3实验二用自准直仪测量直线度误差•••••••••••••••••••••••••••••••••••11实验三用光切显微镜测量表面粗糙度••••••••••••••••••••••••••••••••15实验四几何量综合测量••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••21制造科学与工程学院3实验一 用立式光学计测量塞规一、实验目的1. 了解立式光学计的测量原理,熟悉其使用方法。

2. 熟悉量规公差标准及精度评定,掌握量块的正确使用和维护方法。

3. 熟悉轴的直径的测量方法。

4.初步掌握光滑工件尺寸的验收极限的确定。

5.掌握数据处理方法和合格性判断原则。

二、实验仪器和设备1. 投影立式光学计 一台2. 被测件(塞规) 一件3. 量块. 一块三、实验简介 1.仪器简介立式光学计(立式光学比较仪)是~种精度较高、结构简单的光学仪器,一般采用相对法以量块为长度基准测量外尺寸。

除了用于测量精密的轴类零件外,还可以检定5等和6等量块。

常见的立式光学计有两种:刻线尺式立式光学计和数显式立式光学计,下面分别介绍。

(l )刻线尺式立式光学计仪器的基本技术性能指标如下: 分度值 0.001mm示值范围(自中央µ虚线算起) mm 1.0± 测量范围 0-180mm示值误差: 小于±0.06mm ±0.2µm大于±0.06mm ±0.3µm仪器外形及主要部分功能见图1.1.说明 (2)数显式立式光学计JDG -SI 数字式立式光学计的基本技术性能指标如下: 分度值 0.0001mm示值范围 (相对于中心零位)mm 1.0±≥测量范围 mm 180~0 示值误差 (相对于中心零位)m μ25.0±图1.1刻线尺式立式光学计 1-底座 2-支臂升降螺母3-支臂 4-支臂紧固螺钉 5-立柱 6-直角光管7-光管微动手轮8-光管紧固螺钉9-测头升降杠杆 10-测头 11-工作台精度设计与检测实验指导书4JDG -SI 数字式立式光学计的外形及主要部分见图1.2有图可知,它有底座1、升降螺母2、横臂紧固螺钉3、横臂4、电缆5、立柱6、微动螺钉7、光学计管8、微动紧固螺钉9、光学计管紧固螺钉10、提升器11、测帽12、可调工作台13、方工作台安置螺钉14、数显窗15、中心零位指示16、置零按钮17、电源插座18和电缆插座19等部分组成。

互换性实验指导手册模板

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实验一用立式光学计测量塞规外径一、实验目的1. 了解立式光学计的测量原理;2. 熟悉用立式光学计测量外径的方法;3. 加深理解计量器具与测量方法的常见术语。

二、实验内容1. 用立式光学计测量塞规外径;2. 根据测量结果, 按国家标准GB/T 1957—1981《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差, 并作出适用性结论。

三、测量原理及计量器具说明立式光学计是一种精度较高而结构简单的常见光学量仪。

用量块作为长度基准, 按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图1.1为立式光学计的外形图。

它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器, 其光学系统如图1.2b所示。

照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上, 再经直角棱镜2、物镜3, 照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束, 若反射镜4与物图1.1 立式光学计的外形结构镜3之间相互平行, 则反射光线折回到焦平面, 刻度尺像7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动使测杆5推动反射镜4绕支点转动某一角度α( 图1.2a) , 则反射光线相对于入射光线偏转2α角度, 从而使刻度尺像7产生位移t( 图1.2c) , 它代表被测尺寸的变动量。

物镜至刻度尺8间的距离为物镜焦距f, 设b 为测杆中心至反射镜支点间的距离, s 为测杆5移动的距离, 则仪器的放大比K 为:ααtan 2tan b f s t K ==当α很小时, tan2α ≈ 2α, tanα ≈ α, 因此:b f K 2=光学计的目镜放大倍数为12, f =200mm, b =5mm, 故仪器的总放大倍数n 为:960520021221212=⨯⨯===b f K n 由此说明, 当测杆移动0.001mm 时, 在目镜中可见到0.96mm 的位移量。

图1.2 立式光学计的光学原理图1、4-反射镜; 2-棱镜; 3-物镜; 5-侧杆; 6-微调螺钉; 7-刻度尺像; 8-刻度尺四、实验步骤1. 测头的选择: 测头有球形、平面形和刀口形三种, 根据被测零件表面的几何形状来选择, 使测头与被测表面尽量满足点接触。

长度测量(用立式光学计测量塞规尺寸)实验报告

长度测量(用立式光学计测量塞规尺寸)实验报告

长度测量(用立式光学计测量塞规尺寸)实验报告班级学号姓名同组实验人姓名日期成绩:金属材料拉伸和压缩的机械性能测定实验报告班级学号姓名同组实验人姓名日期成绩:一、实验目的二、实验设备三、试件形状简图四、实验数据表1 试件几何尺寸表2 测定屈服载荷和极限载荷的实验记录五、试件拉伸时主要力学性能的计算结果1.屈服极限 0ss A P =σ= = Mpa2.强度极限 0bb A P =σ==Mpa3.延伸率 %100l l l 01⨯-=δ= ×100%= % 4.截面收缩率 %100A A A 010⨯-=ψ= ×100%= % 六、结果分析及问题讨论机构分析实验——机构运动简图的测绘与分析实验报告班级学号姓名同组实验人姓名日期成绩:一.(1)(3)二.思考题1.一个正确的“机构运动简图”应能说明哪些内容?2.绘制机构运动简图时,原动件的位置为什么可以任意选定?会不会影响简图的正确性?3.机构自由度的计算对测绘机构运动简图有何帮助?机构设计实验实验报告班级学号姓名同组实验人姓名日期成绩:一、实验目的二、实验内容三、实验原理四、实验数据及分析1.绘制实际拼装的机构运动方案简图,并在简图中标识实测所得的机构运动学尺寸。

简要说明其结构特点、工作原理和可能使用场合。

2.简要说明机构杆组的拆组过程,并画出所拆机构的杆组简图。

渐开线直齿圆柱齿轮参数测定实验报告班级学号姓名同组实验人姓名日期成绩:一、实验目的与内容二、齿轮参数的数据测量与分析被测齿轮编号:(一)测量数据1.齿数z奇数z= ,偶数z=2.齿顶圆直径d a、齿根圆直径d f、全齿高hd a1 = (㎜)d f=D+2 H2 = (㎜)注:以上两表根据被测齿轮的实际情况选择其中之一填写。

全齿高:奇数齿h= (㎜),偶数齿h= (㎜)3.公法线长度W K′和W K+1′= (mm)b相应的标准齿轮的公法线长度:W K= (㎜)(二)测定结果汽车维修常用工具使用实验报告班级学号姓名同组实验人姓名日期成绩:一、实验目的与内容二、数据测量与分析测量气缸内径,活塞行程,计算发动机排量,完成表6-1。

长度测量(用立式光学计测量塞规尺寸) 实验报告

长度测量(用立式光学计测量塞规尺寸) 实验报告

长度测量(用立式光学计测量塞规尺寸)实验报告实验目的:通过本实验学习使用立式光学计测量物体的尺寸,并掌握测量误差估计方法。

实验器材:塞规、立式光学计、计算机。

实验原理:立式光学计是一种高精度的测量仪器,用于测量物体的尺寸、平面度、垂直度、对称性等。

它利用光学原理,通过测量物体表面反射的光线来计算物体尺寸。

在本实验中,我们使用立式光学计测量塞规的尺寸。

实验步骤:1.将待测物体(塞规)放在立式光学计的测量台上,使其与光学计垂直。

2.通过光学计的目镜观察物体上方的橙红横线,移动测量台使橙红横线正好对准物体的顶部。

3.在光学计的显示屏上读取物体顶部的高度,记录下来。

4.移动测量台,使橙红横线对准物体底部,再次在显示屏上读取底部高度,记录下来。

5.将底部高度与顶部高度做差,即可得到物体尺寸。

6.分别以0.01mm、0.001mm为单位记录三组数据,并计算出平均值。

实验结果:用立式光学计测量塞规的三组数据如下:0.01mm单位:9.54mm,9.54mm,9.54mm根据上述数据,可以计算出该塞规的平均值为9.54mm。

实验分析:通过本实验,我们学习了如何使用立式光学计来测量物体的尺寸,以及如何进行误差估计。

在实验中,我们以0.01mm和0.001mm为单位记录了数据,并计算出平均值,这能够有效减小误差。

但是,由于实验中涉及到人的因素,因此误差还是不可避免的。

在实际应用中,需要多次测量并取平均值,以尽量减小误差。

实验结论:通过本实验,我们掌握了使用立式光学计测量物体尺寸的方法,了解了误差估计的原理。

在实验中,我们成功地测量了塞规的尺寸,并计算出平均值。

实验结果表明,适当的误差估计可以有效减小误差,提高测量精度。

立式光学计测量塞规实验报告

立式光学计测量塞规实验报告

立式光学计测量塞规实验报告一、实验目的本实验的目的是通过使用立式光学计测量塞规,掌握立式光学计的使用方法,熟悉测量过程中的注意事项,提高测量精度和数据处理能力,同时加深对尺寸测量基本原理的理解。

二、实验设备1、立式光学计2、塞规若干3、标准量块三、实验原理立式光学计是一种精度较高的光学测量仪器,它利用光学杠杆原理将微小的位移量放大,并通过目镜中的刻度尺进行读数。

在测量塞规时,将塞规放在测量台上,通过调整测量头与塞规的接触位置,使测量头与塞规的轴线垂直,并产生一定的测量力。

然后读取光学计上的示值,与标准量块的尺寸进行比较,从而得到塞规的尺寸偏差。

四、实验步骤1、准备工作清洁测量台和测量头,确保无灰尘和杂物。

选择合适的标准量块,对光学计进行零位校准。

2、测量塞规将塞规平稳地放置在测量台上,使测量头与塞规的测量面接触。

轻轻旋转调节手轮,使测量头与塞规接触并产生适当的测量力,注意测量力不能过大或过小,以免影响测量精度。

从目镜中读取测量值,并记录下来。

沿塞规的轴线方向移动塞规,在不同位置进行多次测量,以获取更准确的数据。

3、数据处理对多次测量的数据进行平均值计算,以减小测量误差。

将测量值与塞规的标称尺寸进行比较,计算出尺寸偏差。

五、实验数据记录与处理|测量次数|测量值(mm)|平均值(mm)|尺寸偏差(mm)|||||||1|_____|_____|_____||2|_____|_____|_____||3|_____|_____|_____||4|_____|_____|_____||5|_____|_____|_____|根据以上数据,计算出平均值和尺寸偏差。

六、实验误差分析1、测量力的影响测量力过大或过小都会导致测量结果的偏差。

如果测量力过大,可能会使塞规产生变形;如果测量力过小,测量头与塞规的接触不稳定,都会影响测量精度。

2、测量环境的影响温度、湿度等环境因素的变化可能会导致仪器和塞规的尺寸发生微小变化,从而影响测量结果。

互换性实验指导手册模板

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实验一用立式光学计测量塞规外径一、实验目的1. 了解立式光学计的测量原理;2. 熟悉用立式光学计测量外径的方法;3. 加深理解计量器具与测量方法的常见术语。

二、实验内容1. 用立式光学计测量塞规外径;2. 根据测量结果, 按国家标准GB/T 1957—1981《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差, 并作出适用性结论。

三、测量原理及计量器具说明立式光学计是一种精度较高而结构简单的常见光学量仪。

用量块作为长度基准, 按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图1.1为立式光学计的外形图。

它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器, 其光学系统如图1.2b所示。

照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上, 再经直角棱镜2、物镜3, 照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束, 若反射镜4与物图1.1 立式光学计的外形结构镜3之间相互平行, 则反射光线折回到焦平面, 刻度尺像7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动使测杆5推动反射镜4绕支点转动某一角度α( 图1.2a) , 则反射光线相对于入射光线偏转2α角度, 从而使刻度尺像7产生位移t( 图1.2c) , 它代表被测尺寸的变动量。

物镜至刻度尺8间的距离为物镜焦距f, 设b 为测杆中心至反射镜支点间的距离, s 为测杆5移动的距离, 则仪器的放大比K 为:ααtan 2tan b f s t K ==当α很小时, tan2α ≈ 2α, tanα ≈ α, 因此:b fK 2=光学计的目镜放大倍数为12, f =200mm, b =5mm, 故仪器的总放大倍数n 为:960520021221212=⨯⨯===b f K n由此说明, 当测杆移动0.001mm 时, 在目镜中可见到0.96mm 的位移量。

图1.2 立式光学计的光学原理图1、4-反射镜; 2-棱镜; 3-物镜; 5-侧杆; 6-微调螺钉; 7-刻度尺像; 8-刻度尺四、实验步骤1. 测头的选择: 测头有球形、平面形和刀口形三种, 根据被测零件表面的几何形状来选择, 使测头与被测表面尽量满足点接触。

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实验一 用立式光学计测量塞规
一、实验目的
1. 了解立式光学计的测量原理。

2. 熟悉用立式光学计测量外径的方法。

3. 加深理解计量器具与测量方法的常用术语。

二、实验内容
1. 用立式光学计测量塞规。

2. 根据测量结果,按国家标准GB1957—81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结论。

三、测量原理及计量器具说明
立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。

用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。

图1为立时光学计的外形图。

它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。

光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2b 所示。

照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。

由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为一平行光束,若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到
焦平面,刻度尺象7与刻度尺8对称。

若被测尺寸变动
使测杆5推动反射镜4饶支点转动某一角度α(图2a ),
则反射光线相对于入射光线偏转2α角度,从而使刻度
尺象7产生位移t (图2c ),它代表被测尺寸的变动量。

物镜至刻度尺8间的距离为物镜焦距f ,设b 为测杆中
心至反射镜支点间的距离,s 为测杆移动的距离,则仪
器的放大比K 为:
α
αbtg ftg s t K 2== 当α很小时,αα22≈tg ,αα≈tg ,因此:
b
f K 2= 图 1 光学计的目镜放大倍数为12,mm f 200=,mm b 5=,故仪器的总放大倍数n 为:
9605
20021221212=⨯⨯===b f K n 由此说明,当测杆移动0.001mm 时,在目镜中可见到0.96mm 的位移量。

四、测量步骤
1. 测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。

所以,测量平面或圆柱面工件时,选用球形测头。

测量球面工件时,选用平面形测头。

测量小于10mm 的圆柱面工件时,选用刀口形测头。

图2
图 3
2. 按被测塞规的基本尺寸组合量块。

3. 调整仪器零位
(1)参看图1,选好量块组后,将下测量面置于工作台11的中央,并使测头10对准上测量面中央。

(2)粗调节:松开支臂紧固螺钉4,转动调节螺母2,使支臂3缓慢下降,直到测头与量块上测量面轻微接触,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉4锁紧。

(3)细调节:松开紧固螺钉8,转动调节凸轮7,直至在目镜中观察到刻度尺象与μ指示线接近为止(图3a)。

然后拧紧螺钉8。

(4)微调节:转动刻度尺寸微调螺钉6(图2b),使刻度尺的零线影象与μ指示线重合(图3b)。

然后压下测头提升杠杆9数次,使零位稳定。

(5)将测头抬起,取下量块。

4. 测量塞规:按实验规定的部位(在三个横截面上两个相互垂直的径向位置上)进行测量,把测量结果填入实验报告。

5. 由塞规零件图(由学生自己设计、画出)的要求,判断塞规的合格性。

思考题
1. 用立式光学计测量塞规属于什么测量方法?绝对测量与相对测量个有何特点?
2. 什么是分度值、刻度间距?它们与放大比的关系如何?
3. 仪器工作台与测杆轴线不垂直,对测量结果有何影响?工作台与测杆轴线垂直度如何调节?
4. 仪器的测量范围和刻度尺的示值范围有何不同?。

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