CMOS集成电路制造工艺流程
cmos制造工艺中的基本步骤
cmos制造工艺中的基本步骤CMOS制造工艺的基本步骤CMOS（互补金属氧化物半导体）制造工艺是现代集成电路制造中最常用的工艺之一。
它具有低功耗、高集成度和稳定性好等优点，广泛应用于各种电子设备中。
下面将介绍CMOS制造工艺的基本步骤。
1. 基底制备CMOS制造的第一步是基底制备。
基底是指承载整个电子元件的硅衬底，通常采用单晶硅材料。
制备基底时，需要选择高纯度的硅材料，并通过特殊处理使其表面光洁度达到要求。
接下来，通过离子注入等方法，控制基底材料的电性能。
2. 电荷耦合器的制备在CMOS工艺中，电荷耦合器是非常重要的元件。
电荷耦合器的制备包括多道工艺和金属间隔工艺。
多道工艺是指在基底上通过氧化、掺杂、扩散等步骤，形成不同的区域。
而金属间隔工艺是指通过在基底上加热，使金属在氧化层上融化，形成金属间隔。
3. 掺杂掺杂是CMOS工艺中的重要步骤之一。
通过在基底上注入特定的杂质，可以改变材料的导电性能。
掺杂通常使用离子注入的方法进行，通过控制注入的能量和剂量，可以实现不同区域的电性能调控。
掺杂后，需要进行退火处理，使注入的杂质均匀分布在基底中。
4. 金属电极的制备在CMOS工艺中，金属电极用于连接不同的电子元件。
金属电极的制备包括金属沉积、光刻和蚀刻等步骤。
首先，在基底上通过物理气相沉积或化学气相沉积等方法，将金属沉积在表面。
然后，使用光刻技术，将需要的电极形状转移到光刻胶上。
最后，通过蚀刻，将多余的金属去除，只留下所需的电极。
5. 金属间隔的制备金属间隔用于隔离不同的电子元件，以防止它们之间的干扰。
金属间隔的制备包括氧化、掺杂和退火等步骤。
首先，在基底表面形成一层氧化层，然后通过掺杂和退火处理，使氧化层中的杂质向基底扩散，形成金属间隔。
6. 电学特性测试在CMOS制造的最后阶段，需要对制造的电子元件进行电学特性测试。
通过测试，可以验证元件的性能是否符合要求。
常用的测试方法包括静态特性测试和动态特性测试。
CMOS集成电路制造工艺流程
陕西国防工业职业技术学院课程报告课程微电子产品开发与应用论文题目CMOS集成电路制造工艺流程班级电子3141姓名及学号王京（24#）任课教师张喜凤目录摘要 (2)引言 (2)关键词 (2)1. CMOS器件 (2)1.1分类 (2)2.CMOS集成技术发展 (3)3.CMOS基本的制备工艺过程 (3)3.1衬底材料的制备 (3)4.主要工艺技术 (3)5.光刻 (4)6. 刻蚀 (4)6.1湿法刻蚀 (4)6.2干法刻蚀 (4)7.CMOS工艺的应用 (4)举例 (5)CMOS集成电路制造工艺流程摘要：本文介绍了CMOS集成电路的制造工艺流程，主要制造工艺及各工艺步骤中的核心要素，及CMOS器件的应用。
引言：集成电路的设计与测试是当代计算机技术研究的主要问题之一。
硅双极工艺面世后约3年时间，于1962年又开发出硅平面MOS工艺技术，并制成了MOS集成电路。
与双极集成电路相比，MOS集成电路的功耗低、结构简单、集成度和成品率高，但工作速度较慢。
由于它们各具优劣势，且各自有适合的应用场合，双极集成工艺和MOS集成工艺便齐头平行发展。
关键词：工艺技术，CMOS制造工艺流程1.CMOS器件CMOS器件，是NMOS和PMOS晶体管形成的互补结构，电流小，功耗低，早期的CMOS电路速度较慢，后来不断得到改进，现已大大提高了速度。
1.1分类CMOS器件也有不同的结构，如铝栅和硅栅CMOS、以及p阱、n阱和双阱CMOS。
铝栅CMOS和硅栅CMOS的主要差别，是器件的栅极结构所用材料的不同。
P阱CMOS，则是在n型硅衬底上制造p沟管，在p阱中制造n沟管，其阱可采用外延法、扩散法或离子注入方法形成。
该工艺应用得最早，也是应用得最广的工艺，适用于标准CMOS电路及CMOS与双极npn兼容的电路。
N阱CMOS，是在p型硅衬底上制造n沟晶体管，在n阱中制造p沟晶体管，其阱一般采用离子注入方法形成。
该工艺可使NMOS晶体管的性能最优化，适用于制造以NMOS为主的CMOS以及E/D－NMOS和p沟MOS兼容的CMOS电路。
CMOS集成电路工艺流程
CMOS集成电路工艺流程1.设计阶段：在CMOS集成电路的设计阶段，首先需要确定电路的功能和性能需求。
然后，设计师使用电子设计自动化（EDA）工具完成电路的原理图和电路布局设计。
原理图设计是根据电路功能需求，根据逻辑门电路和电路功能模块的特点，完成电路的逻辑设计和连接。
布局设计是将原理图中的电路元件如晶体管、电容器、电阻器等准确地放置在芯片上，并确定各元件之间的相对位置。
2.半导体材料制备：制造CMOS集成电路的第一步是准备半导体材料。
通常使用硅（Si）作为集成电路的材料，因为硅具有良好的电学和热学性能。
在杂质控制方面，要求半导体材料具有高纯度。
半导体材料可以通过单晶生长、多晶生长或金属有机化学气相沉积等方法制备。
3.沉积和腐蚀：在制造CMOS集成电路的过程中，需要对硅片进行一系列的沉积和腐蚀处理。
首先，使用物理气相沉积（PVD）或化学气相沉积（CVD）方法在硅片上沉积一层二氧化硅（SiO2）薄膜作为绝缘层。
接下来，在绝缘层上沉积一层多晶硅（poly-Si）薄膜，作为电路中的晶体管的控制电极。
然后，使用光刻技术将薄膜上涂覆的光刻胶进行曝光和显影，形成光刻胶图形。
接着，用水化学腐蚀剂将未覆盖光刻胶的硅薄膜去除，形成硅薄膜的图形。
4.掺杂和扩散：接下来是对硅片进行离子注入掺杂，以调整材料的电学特性。
特定的离子通过离子注入设备被注入到硅片上。
注入完成后，用退火处理使离子扩散到材料中，形成掺杂层。
这些掺杂层会影响晶体管的电学性能。
5.电路互连：在CMOS集成电路的制造过程中，还需要进行电路的互连。
使用多层金属导线将晶体管和其他电子元件进行连接。
在不同金属层之间使用绝缘层，以避免导线之间的短路。
电路的互连是通过物理蒸镀、化学蒸镀和电镀等方法进行的。
6.测试和封装：在CMOS集成电路的制造过程中，还需要进行功能测试和性能测试，以确保电路的质量和性能。
测试完成后，将芯片进行封装。
芯片封装是将芯片的导线与外部封装引脚进行连接，并且使用外壳封装以保护芯片。
cmos集成电路的基本制造工艺
cmos集成电路的基本制造工艺CMOS集成电路的基本制造工艺CMOS（Complementary Metal-Oxide-Semiconductor）集成电路是一种在电子设备中广泛使用的技术。
它使用了CMOS制造工艺来制造集成电路的核心部件。
本文将介绍CMOS集成电路的基本制造工艺。
1. 硅片制备CMOS集成电路的制造过程始于硅片的制备。
硅片是一个纯净的硅晶体，它通常具有圆形或方形的形状。
制备硅片的主要步骤包括：清洗硅片表面、沉积氧化层、扩散掺杂、增厚氧化层等。
这些步骤的目的是为了获得一个纯净的硅基片，并在其表面形成氧化层以保护硅片。
2. 掩膜制作掩膜制作是CMOS制造工艺中的关键步骤之一。
它是通过在硅片表面涂覆光刻胶，并使用掩膜模板进行曝光和显影，来形成电路的图案。
掩膜制作的目的是将电路的结构和层次图案化到硅片表面。
3. 硅片刻蚀硅片刻蚀是为了去除掉掩膜未覆盖的部分。
在刻蚀过程中，掩膜会保护住部分硅片，而未被掩膜保护的硅片会被化学溶液或等离子体腐蚀掉。
通过控制刻蚀时间和刻蚀剂的浓度，可以控制刻蚀的深度，从而形成电路的结构。
4. 氧化层形成氧化层是CMOS制造工艺中的常用材料之一。
通过氧化层的形成，可以为电路提供绝缘层和保护层。
氧化层的形成通常是通过将硅片暴露在氧化气氛中，使硅表面的硅原子与氧气发生反应，形成二氧化硅薄膜。
5. 金属沉积金属沉积是为了形成电路中的金属导线和连接器。
常用的金属材料包括铝、铜等。
金属沉积的过程中，金属原子会被沉积在硅片表面，并通过一系列化学反应和物理处理来形成金属导线。
6. 清洗和封装在CMOS制造工艺的最后阶段，还需要对制造的芯片进行清洗和封装。
清洗的目的是去除制造过程中产生的杂质和残留物，以保证芯片的质量。
封装则是将芯片封装在塑料或陶瓷封装中，以提供保护和连接芯片的功能。
总结起来，CMOS集成电路的基本制造工艺包括硅片制备、掩膜制作、硅片刻蚀、氧化层形成、金属沉积、清洗和封装等步骤。
CMOS的制造流程
CMOS的制造流程CMOS（互补金属氧化物半导体）是一种常用的集成电路制造工艺，它具有低功耗、高集成度和可靠性较高等优点。
下面将详细介绍CMOS的制造工艺流程。
1.基片制备：首先需要选择合适的硅基片作为电路的基底。
硅基片需要经过一系列的加工工艺，例如清洗、去除表面氧化层和掺杂等，以便在其表面形成电路。
2.硅基片的氧化：将清洗后的硅基片放入氧化炉中，在高温下与氧气反应，使硅基片表面氧化形成一层二氧化硅（SiO2）薄膜。
薄膜厚度通常在几百埃（1埃=10^-10米）到几千埃之间。
3.光刻：光刻是制造CMOS电路中最关键的步骤之一、首先，在氧化层上涂覆光刻胶，然后将掩膜（即模具）放在光刻机上，通过紫外光对光刻胶进行曝光，使光刻胶在掩膜上形成所需的图形。
4.蚀刻：使用化学蚀刻技术，将暴露在掩膜下的部分二氧化硅进行腐蚀。
蚀刻方式通常有湿法蚀刻和干法蚀刻两种选择。
5.掺杂：为了形成PN结构的晶体管，需要将掺杂物引入硅基片中。
掺杂一般分为两步进行，首先进行扩散，将掺杂物（如磷或硼）混入氧化层下方的硅基片中，然后进行烘焙，使掺杂物在硅基片中扩散和活化。
6.浸蚀：浸蚀是为了去除光刻胶和二氧化硅的残留物，通常使用浸入酸性或碱性溶液中的技术。
7.金属化：为了连接不同电路、减小电阻和形成电路的引脚，需要在硅基片上沉积一层金属薄膜。
8.绝缘层制备：在金属覆盖层上沉积一层绝缘性氧化层，作为绝缘层，以防止不同电路之间的电互连和杂散电流。
9.上下管连接：通过开孔技术，将绝缘层上的金属层暴露出来，并用金属填充孔洞以连接不同层次的电路。
10.封装：最后一步是封装，将芯片固定在塑料或陶瓷封装中，并通过引脚与外部电路进行连接。
以上就是CMOS制造工艺的大致流程。
当然，CMOS的制造工艺流程非常复杂，其中涉及到很多细节和步骤，同时每一步也有很多不同的变种和改进。
由于篇幅有限，上述只是对CMOS的制造工艺流程进行了简要介绍。
对于深入了解CMOS制造工艺的读者来说，建议详细学习相关的专业资料或参考相关的科学论文。
cmos集成电路工艺的大致步骤
cmos集成电路工艺的大致步骤CMOS（Complementary Metal-Oxide-Semiconductor）集成电路工艺是一种制造集成电路的常用工艺。
下面介绍CMOS集成电路工艺的大致步骤。
首先，制备单晶硅。
单晶硅是CMOS集成电路的基础材料。
在制备单晶硅之前，需要在硅片上形成一个氧化层，称为硅背面的保护层。
然后，使用化学腐蚀或机械磨削的方法将硅片的一个表面做成光滑的，这一面被称为取样面。
接下来，将硅片放入高温炉中，在高温下通过化学气相沉积（CVD）或热分解反应，使硅原子重新排列成为单晶结构，形成单晶硅。
第二步，形成场效应晶体管（MOSFET）。
在硅片上的一层绝缘层上，使用光刻和蚀刻工艺形成形成了沉积原料（多晶硅或金属）的通道区域和源极、漏极。
接下来，在通道区域上形成控制门极层，通常由多晶硅制成。
通过控制掺杂和退火工艺，形成了MOSFET的结构。
第三步，形成互连层。
互连层是将各个元件和器件连接在一起的重要层。
通过光刻和蚀刻工艺，在互连层上形成了铜或铝等金属导线。
接下来，使用化学机械研磨（CMP）工艺将金属导线表面的不平整部分平整化，以确保连接的良好质量。
第四步，形成金属引脚。
在最上面的互连层上，使用光刻和蚀刻工艺形成金属引脚。
这些引脚是与外部设备和器件连接的通道，为集成电路的输入和输出提供接口。
最后一步，进行封装和测试。
在制造工艺的最后阶段，将芯片通过芯片封装技术封装到塑料或金属外壳中，以保护芯片。
然后进行电性能测试，以确保芯片的质量和功能。
总的来说，CMOS集成电路工艺经历了单晶硅制备、MOSFET形成、互连层和金属引脚制造以及封装和测试等阶段。
这些步骤是制造高性能CMOS芯片不可或缺的环节。
了解这些步骤对于理解CMOS集成电路工艺的流程和原理以及相关技术的应用具有重要的指导意义。
CMOS制造工艺流程介绍
CMOS制造工艺流程介绍CMOS（互补金属氧化物半导体）是一种常用的半导体制造工艺，在数字电路中广泛使用。
下面是一个CMOS制造工艺流程的详细介绍。
1.材料准备：2.基片清洗：基片通常在制造过程开始之前需要进行清洗。
清洗的目的是去除表面的杂质和污染物，以准备下一步的处理。
3.基片掺杂：掺杂是CMOS制造过程中的一个重要步骤。
它通过在基片上加入轻掺杂剂（如硼或磷）和重掺杂剂（如硅或锗）来改变基片的导电性能。
掺杂可以通过离子注入或扩散等方法进行。
4.绝缘层制备：在制造CMOS电路时，需要在基片上创建绝缘层，以隔离不同的晶体管。
绝缘层通常是通过在氧化反应炉中加热基片，使其表面氧化形成氧化层（SiO2）来制备的。
5.通道区域定义：接下来，需要定义晶体管的通道区域。
这是通过使用光刻技术来创建图形层并使用光刻胶进行图案转移来实现的。
6.掺杂和扩散：在定义通道区域后，需要对其进行轻掺杂和扩散，以创建MOS（金属-氧化物-半导体）结构的源和漏结构。
7.门电极定义：门电极用于控制晶体管的导电性。
它通过使用光刻技术，在通道区域上制造一个金属（通常是多晶硅）的电极。
8.金属互连：金属互连是将不同晶体管连接起来以实现电路功能的过程。
这是通过添加金属层并使用光刻技术进行图案定义来实现的。
9.绝缘层制备：接下来，需要在金属互连的上方形成绝缘层。
这可以通过在金属层上沉积绝缘材料或使用化学气相沉积（CVD）等技术来实现。
10.下通孔制备：下通孔是连接不同层次的金属互连的关键结构。
它用于电路层之间的电流传输。
下通孔通常是通过先在绝缘层中开孔，然后在金属层上镀铜来制备的。
11.最后一道金属互连：在下通孔制备后，需要添加最后一道金属互连层。
这将完成电路的互连，并实现不同器件之间的连接。
12.测试和封装：完成电路的制造之后，需要进行测试以确保其功能正常。
一旦测试通过，电路将被封装在芯片中，并准备出货。
以上是CMOS制造工艺的主要流程。
CMOS制造工艺流程介绍
CMOS制造工艺流程介绍1. 制备硅基片：首先，在高纯度的单晶硅上制备一块平整的硅基片，常用的晶体生长方法有Czochralski法和浮区法。
然后，通过化学机械抛光（CMP）使硅基片表面更加平滑。
2. 装置SiO2层：在硅基片上形成一层厚度约为1nm的氧化硅（SiO2）层，通常采用热氧化或化学气相沉积（CVD）方法。
SiO2层主要用于绝缘和保护硅基片。
3.制备门电极：利用光刻技术和蚀刻工艺，在SiO2层上形成一层金属（通常为聚硅化钨）或多晶硅的导电层，该层被称为门电极。
门电极分为n型和p型，分别用于NMOS和PMOS晶体管。
4.制备通道区域：在门电极之间的硅基片区域上，进行离子注入或扩散，制备出p型或n型的通道区域。
根据通道区域的类型，这些区域将决定晶体管的类型（nMOS或pMOS）。
5.制备源和漏极：通过光刻和蚀刻过程，在通道区域的两侧形成源极和漏极，这些极的类型取决于晶体管的类型。
在此步骤中，也可以形成导线连接源漏极和其他电路元件。
6.制备绝缘层：使用CVD或热氧化技术，在晶体管上覆盖一层绝缘层（通常为SiO2）。
绝缘层用于隔离各个晶体管，防止电路之间的干扰。
7.制备金属导线：使用光刻和蚀刻过程，在绝缘层上开孔，并在其中填充金属（如铝）形成金属导线。
金属导线用于连接晶体管、电阻和电容等电路元件。
8.制备上电极：再次使用光刻和蚀刻过程，制备出上电极。
上电极连接到金属导线上，形成可与外部电源相连的接口。
9.添加其它材料：在需要的位置上，可以添加一些其它材料来改善电路性能，如低介电常数材料（用于减少电容的串扰）和金属间隔离层。
10.封装和测试：最后一步是封装和测试芯片。
芯片被封装在塑料或陶瓷封装中，并进行各种测试，以验证电路的性能和功能。
以上是CMOS制造工艺流程的主要步骤。
随着技术的不断进步，CMOS 制造工艺也在不断演化，以提高集成度、降低功耗和改善性能。
CMOS制造工艺及流程
CMOS制造工艺及流程CMOS（Complementary Metal-Oxide-Semiconductor）是集成电路制造中常用的工艺之一。
CMOS工艺能够生产高性能、低功耗的集成电路，因此在现代电子设备中得到广泛应用。
CMOS制造工艺的流程通常包括以下几个步骤：1. 基板制备：使用高纯度的硅片作为基板，通过化学机械抛光（CMP）和上下平整（CMP）等技术，将硅片表面制备成均匀平整的表面。
2. 氧化层制备：在硅片表面形成一层氧化层，通常采用热氧化或化学气相沉积（CVD）的方法。
3. 光刻层制备：将一层光刻胶覆盖在氧化层上，然后使用光刻机将图形投影到光刻胶上，并进行曝光、显影等步骤，形成光刻图形。
4. 清晰切割：使用等离子刻蚀工艺（RIE）或者激光切割等技术，按照光刻图形在氧化层上进行切割。
5. 接触孔制备：在晶体管上形成源极、漏极等电极之间的接触孔，通常采用干法腐蚀或者湿法腐蚀的方法。
6. 金属化层制备：在氧化层上形成金属化层，通常采用物理气相沉积（PVD）或者化学气相沉积（CVD）的方法。
7. 集成电路封装：对制备好的集成电路芯片进行封装、测试等步骤，最终形成可用的芯片。
总的来说，CMOS制造工艺是一个复杂的工艺流程，需要在不同的步骤中采用不同的技术和设备，而且对原材料的纯度和生产环境的洁净度也有很高的要求。
随着技术的不断进步，CMOS工艺也在不断发展和完善，以满足现代电子产品对集成电路性能的不断提升的需求。
CMOS制造工艺及流程的复杂性和精确性要求使得其成为集成电路行业中的关键工艺之一。
下面我们将更深入地探讨CMOS制造工艺中的几个关键步骤。
首先是光刻层制备。
在CMOS工艺中，光刻技术被广泛应用于定义集成电路中的最小结构。
光刻层制备的关键步骤包括光刻胶的选择和光刻机的使用。
光刻胶的选择需要考虑其分辨率和耐化学性能，以保证在制备图形时具有良好的精细度和稳定性。
对于光刻机的使用，则需要精确的对准和照射控制，以确保光刻图形能够准确地投影到光刻胶上。
cmos工艺流程
cmos工艺流程
《CMOS工艺流程》
CMOS工艺流程是集成电路制造中常用的一种工艺流程，它
由N型金属氧化物半导体场效应晶体管（NMOS）和P型金
属氧化物半导体场效应晶体管（PMOS）组成。
CMOS工艺流
程主要用于制造数字集成电路和大规模集成电路。
CMOS工艺流程包括晶圆制备、沉积、光刻、蚀刻、扩散、
离子注入、金属化和封装等步骤。
首先是晶圆制备，通过切割硅原料得到大尺寸硅晶圆，再经过精细加工和清洗得到表面平整、无瑕疵的硅晶圆。
接下来是沉积，即将氧化层、硅层、金属层等材料沉积到硅晶圆上，形成各种必要结构。
之后是光刻，通过照射光源和掩膜，在硅片表面形成要制作的结构。
蚀刻则是用酸碱溶液溶解掉未被光照覆盖的部分，留下目标结构。
扩散是将杂质掺入硅片，改变硅片的导电性能。
离子注入则是用离子轰击硅片表面，改变硅片的电性能。
最后是金属化，将金属导线沉积到硅片表面，连接各个部件。
最终是封装，将芯片封装在塑料外壳中，以防尘、潮湿和机械损伤。
CMOS工艺流程具有制造成本低、功耗小、噪声小的优点，
所以被广泛应用于集成电路的制造中。
随着技术的不断进步，CMOS工艺流程也在不断改进和完善，以满足人们对集成电
路性能和功能需求的不断提高。
CMOS集成电路制造工艺介绍
CMOS集成电路制造工艺介绍CMOS（互补金属氧化物半导体）是一种集成电路制造工艺，广泛应用于各种电子设备中，包括计算机、手机、摄像机等。
本文将介绍CMOS集成电路制造工艺的基本原理和步骤。
1.工艺概述2.沉积沉积是CMOS工艺的第一步，用于在硅基片表面沉积一层绝缘层，如二氧化硅。
这一步可以通过化学气相沉积（CVD）或物理气相沉积（PVD）来实现。
沉积的目的是为后续步骤提供绝缘层。
3.光罩制作光罩制作是CMOS工艺中关键的一步，用于制作电路的图形。
通常，使用光刻胶涂在沉积的绝缘层上，然后将光束照射在光刻胶上，通过控制光照的位置和强度，使部分光刻胶暴露在光下。
在进行显影后，暴露在光下的光刻胶会被去除，从而形成电路图形。
4.蚀刻蚀刻是指通过将材料暴露在化学溶液中，将材料物理或化学地移除的过程。
在CMOS工艺中，蚀刻用于去除绝缘层和金属层的多余材料，并形成电路图形。
选择合适的蚀刻溶液和工艺参数至关重要，以确保正确的蚀刻速率和蚀刻质量。
5.金属沉积金属沉积是将金属材料沉积在绝缘层上，用于连接电路中的不同部分。
通常使用物理气相沉积或电化学沉积来实现。
金属膜需要经过蚀刻和化学机械抛光等进一步处理，以确保良好的导电性和平整度。
6.清洗清洗是CMOS工艺的最后一步，主要用于去除制造过程中产生的残留物和污染物。
清洗过程通常涉及使用酸或碱溶液来溶解残留物，然后使用去离子水进行最后的清洗。
总结：CMOS集成电路制造工艺是一种半导体工艺，用于制造各种电子设备中的集成电路。
其主要步骤包括沉积、光罩制作、蚀刻、金属沉积和清洗。
CMOS工艺的应用广泛，能够制造低功耗、高集成度、高稳定性的电路。
随着技术的不断进步，CMOS工艺将继续发展，为电子设备的制造提供更好的解决方案。
cmos集成电路的基本制造工艺
cmos集成电路的基本制造工艺CMOS（亦称互补金属氧化物半导体）集成电路是一种常见且重要的电子器件制造工艺。
本文将介绍CMOS集成电路的基本制造工艺，并详细讨论其各个步骤和关键技术。
CMOS集成电路的制造工艺主要分为以下几个步骤：晶圆清洗、氧化层形成、光刻、扩散/离子注入、蚀刻、金属化、测试和封装。
首先是晶圆清洗。
在制造CMOS集成电路之前，需要对晶圆进行彻底的清洗，以去除表面的杂质和污染物，确保晶圆表面的纯净度和平整度。
接下来是氧化层形成。
通过在晶圆表面形成氧化层，可以保护晶圆表面免受外界环境的影响，并提供一个良好的绝缘层。
这一步骤通常通过将晶圆暴露于高温氧气环境中完成。
第三个步骤是光刻。
光刻是一种通过光敏感树脂和紫外光进行图案转移的技术。
在CMOS制造中，光刻用于在氧化层上形成图案，以指导后续步骤中的材料沉积、蚀刻和离子注入等过程。
扩散/离子注入是CMOS制造中的关键步骤之一。
通过在晶圆表面扩散和注入特定的杂质，可以改变晶圆的电学特性。
这些杂质通常是掺杂剂，如硼、磷或砷等，用于调节晶体管的导电性能。
蚀刻是一种通过化学反应或物理过程去除晶圆表面的一部分材料的技术。
在CMOS制造中，蚀刻用于去除氧化层和其他不需要的材料，以形成所需的结构和电路。
金属化是指在晶圆表面沉积金属层，用于连接和引出电路。
金属化通常使用物理气相沉积或化学气相沉积技术，将金属材料沉积在晶圆表面，并通过光刻和蚀刻等工艺形成所需的金属线路。
测试是CMOS制造的重要环节之一。
在制造过程中，需要对晶圆进行各种测试，以确保电路的功能和性能符合设计要求。
这些测试通常包括电学测试、可靠性测试和尺寸测量等。
最后是封装。
封装是将晶圆切割成单个芯片，并将其封装在塑料或金属包装中的过程。
封装不仅可以提供机械保护和环境隔离，还可以提供引脚和连接线路，使芯片可以与外部电路连接。
CMOS集成电路的制造工艺是一项复杂而精密的工作，需要高度的技术和设备支持。
CMOS制造工艺及流程
CMOS制造工艺及流程1. 引言CMOS（Complementary Metal-Oxide-Semiconductor）是一种常见的半导体制造技术，广泛应用于现代电子设备中，包括微处理器、存储器、数据转换器等。
本文将介绍CMOS制造工艺及其流程。
2. CMOS制造工艺2.1 CMOS工艺的基本原理CMOS工艺是一种基于绝缘栅场效应晶体管（IGFET）的制造工艺。
CMOS工艺利用绝缘栅结构构建NMOS（N-type Metal-Oxide-Semiconductor）和PMOS（P-type Metal-Oxide-Semiconductor）两种互补型场效应晶体管，从而实现低功耗、高集成度的电路设计。
2.2 CMOS制造工艺的步骤CMOS制造工艺的主要步骤包括：1.晶圆清洗：首先对硅晶圆进行严格的清洗，以去除表面的杂质和污染物。
这一步骤十分重要，因为晶圆的纯净度对后续工艺步骤的影响很大。
2.沉积层：在晶圆上沉积一层氧化硅（SiO2）作为绝缘层，或者在需要的地方沉积多层金属，用于连接晶体管和电路的各个部分。
3.光刻：使用光刻工艺在氧化硅层上涂覆光刻胶，然后通过光刻机将图案转移到光刻胶层上。
接着，通过化学或物理方法将未固化的光刻胶去除，形成光刻胶模板。
4.蚀刻：利用蚀刻剂去除未被光刻胶保护的部分，这样就形成了所需的结构。
通过不同的蚀刻步骤，可以得到不同的器件结构。
5.掺杂：通过离子注入或扩散技术，在晶圆表面引入掺杂物，以改变晶圆的导电性能。
6.金属化：根据设计需求，在晶圆上沉积金属层，用于连接晶体管和电路。
7.封装：将晶圆切割成单独的芯片，并进行封装，以便于后续电路的使用和保护。
2.3 CMOS制造工艺的发展趋势随着技术的发展，CMOS制造工艺不断演化，以满足不断提升的设备性能需求。
一些主要的发展趋势包括：1.细化工艺：制造工艺逐渐进入纳米级别，晶体管的尺寸和间距不断缩小，以提高电路的集成度和性能。
CMOS集成电路工艺流程
CMOS集成电路工艺流程1. 概述CMOS（Complementary Metal-Oxide-Semiconductor）集成电路工艺是现代集成电路制造中最重要的一个工艺。
它是一种将两种不同类型的金属-氧化物-半导体(Metal-Oxide-Semiconductor)结构结合在一起的技术。
CMOS工艺流程包括多个步骤，如晶圆制备、掩膜光刻、扩散、腐蚀、沉积等。
本文将介绍CMOS集成电路工艺的详细流程。
2. 晶圆制备CMOS工艺的第一步是晶圆的制备。
晶圆是一种材料，通常为硅(Si)。
晶圆通过特殊的加工工艺变成整齐的圆盘形状，并具有所需的表面平整度。
制备晶圆的过程包括抛光、化学清洗、去除杂质等步骤。
3. 掩膜光刻CMOS工艺的下一步是掩膜光刻。
掩膜光刻是将光刻胶涂覆在晶圆上，并使用特殊的掩膜技术将图案投影到光刻胶上。
掩膜光刻主要包括以下步骤：1.涂覆光刻胶：将光刻胶涂覆在晶圆表面，形成一层均匀的薄膜。
2.烘烤预处理：通过烘烤光刻胶来去除溶剂和增加光刻胶的粘度。
3.掩膜对位：将掩膜与晶圆对位，使得图案准确投影到光刻胶上。
4.曝光暴光：使用紫外光源照射掩膜和光刻胶，使得光刻胶在被曝光区域发生化学反应。
5.显影：使用显影液将未曝光的光刻胶去除，暴露出光刻胶下面的晶圆表面。
4. 扩散和离子注入在CMOS工艺中，扩散和离子注入是制造P型和N型区域的关键步骤。
这些区域用于构建晶体管等器件。
扩散是将杂质原子（如硼和磷）引入晶圆表面，并通过热处理使其扩散到晶体内部。
离子注入是使用加速器将所需的掺杂材料注入晶体表面。
5. 腐蚀和沉积腐蚀和沉积是CMOS工艺中常用的表面处理方法。
腐蚀用于去除晶圆表面的不需要的材料，而沉积用于在晶圆表面形成一层所需的材料。
常用的腐蚀方法有湿法腐蚀和干法腐蚀。
常用的沉积方法有化学气相沉积和物理气相沉积。
6. 金属化在CMOS工艺的最后阶段，需要对器件进行金属化，包括金属薄膜的沉积和局域电镀。
CMOS制作基本工艺
CMOS制作基本工艺CMOS（互补金属氧化物半导体）是集成电路制造中最常用的技术之一、CMOS制作基本工艺是指制造CMOS集成电路所需的步骤和工艺条件。
这些步骤包括晶圆准备、沉积、光刻、抽膜、扩散、退火、腐蚀、金属沉积、化学机械抛光、结构形成等。
下面我将详细介绍CMOS制作的基本工艺流程。
首先，晶圆准备是CMOS制作的第一步。
晶圆是纯度较高的硅片，通常直径为8英寸或12英寸。
该步骤的主要目的是对晶圆进行清洗和处理，以确保晶圆表面的纯净度。
在此过程中，一些常见的工艺步骤包括去除晶圆表面的脏污、去除氧化层等。
接下来是沉积技术。
这一步骤是将各种材料沉积在晶圆表面上。
例如，要制造MOS（金属氧化物半导体）结构，首先需要在晶圆表面上沉积一层薄薄的氧化硅层。
沉积技术可以通过几种方式实现，如热氧化、化学气相沉积、物理气相沉积等。
在光刻步骤中，将使用光刻机将设计好的图案转移到晶圆表面。
主要分为三个步骤：光致裂解光刻胶（photoresist）图层，紫外辐照胶图案，显像。
抽膜是在制造过程中进行的一种步骤，其目的是去除不需要的材料。
其中最常用的抽膜技术是湿法腐蚀和干法腐蚀。
湿法腐蚀通常使用硝酸或氨水等化学物质进行，干法腐蚀则通过使用高能离子束或高能等离子体将材料蒸发或剔除。
扩散是将特定材料引入晶圆中的过程。
通过提供特定的温度和时间，使得扩散源中的材料以一定速率扩散到晶圆内部。
通过扩散，可以改变晶圆表面材料的电子性质。
退火是在扩散过程中引入的，目的是为了降低残余应力和提高材料的晶体质量。
可以分为热退火和光退火两种方法。
化学机械抛光是将晶圆表面进行平滑处理的过程，以消除因前面工艺步骤引入的不均匀。
金属沉积是在制造过程中添加用于电子器件连接的金属层。
金属层的主要材料包括铝、铜等。
大部分金属沉积通常使用物理气相沉积或化学气相沉积进行，也可以通过电镀的方式进行。
最后是结构形成。
结构形成是将尺寸较大的电子元件制作在晶圆上的过程。
CMOS集成电路制造过程
CMOS集成电路制造过程CMOS（互补型金属氧化物半导体）集成电路是一种在大规模集成电路（VLSI）中常用的技术。
CMOS集成电路制造过程是一个复杂的过程，包括晶圆制备、沉积、光刻、腐蚀、离子注入、金属沉积和芯片测试等步骤。
下面将详细介绍CMOS集成电路制造的各个步骤。
首先是晶圆制备。
晶圆是由高纯度硅制成的圆片，直径一般为8至12英寸。
在这个步骤中，晶圆上的杂质会被去除，然后进行平坦化处理，以便后续的工艺步骤。
接下来是沉积步骤。
通过化学气相沉积或物理气相沉积，将一层薄膜沉积在晶圆上。
这些薄膜通常是氧化层、氮化层或聚合物层，用于隔离和保护电路的不同部分。
光刻是制造CMOS电路中的一个关键步骤。
在这个步骤中，光刻胶被涂覆在晶圆上，并通过在光刻膜上照射UV光来形成模式。
这些模式决定了电路的布图和结构。
接着是腐蚀步骤。
通过选择性腐蚀，将未被光刻膜保护的部分材料腐蚀掉。
这个步骤通常用于定义通道和源极/漏极等关键结构。
离子注入是CMOS电路制造中的另一个重要步骤。
在这个步骤中，通过向晶圆表面注入杂质离子，改变晶体的电导率。
这可以用来控制电路的性能，例如调节晶体管的阈值电压。
在金属沉积步骤中，金属被沉积在晶圆上的特定区域，用于形成电路的金属线连接。
金属通常是铝或铜，它们具有优良的导电性能和可加工性。
最后是芯片测试。
在制造过程的每个阶段，芯片都需要进行测试以确保其性能和可靠性。
这些测试通常包括电学测试和外观检查，以验证芯片是否按照设计要求工作。
总的来说，CMOS集成电路制造过程是一个复杂而精密的过程。
它涉及多个步骤，需要高精度的设备和工艺控制。
同时，CMOS技术的不断进步也使得集成电路的尺寸越来越小，制造过程变得更加复杂和挑战性。
然而，CMOS集成电路作为现代电子产品中最常用的芯片技术，其制造过程的可靠性和稳定性一直受到广泛的关注和研究。
CMOS集成电路制造工艺流程
CMOS集成电路制造工艺流程1.基片准备：首先，需要准备高纯度的单晶硅基片作为制造芯片的基础材料。
基片表面通常会进行一系列的清洗和处理，以去除表面杂质和产生理想的衬底特性。
2.薄膜生长：接下来，通过物理气相沉积（PECVD）或化学气相沉积（CVD）等技术，在基片上生长一层薄膜，通常是二氧化硅（SiO2）。
薄膜的厚度通常在几十到几百纳米之间，并且质量必须高，以确保后续工艺的正常进行。
3.图案定义：在薄膜上通过光刻技术进行图案定义，使用光刻机将特定的图案暴光到光刻胶上，然后进行显影处理。
这个步骤决定了后续步骤中哪些区域要进行哪些加工。
4.布线和刻蚀：接下来使用化学蚀刻或物理蚀刻的方法，通过刻蚀掉光刻胶外的区域来准确复制先前定义的图案。
在此步骤中，使用金属源进行布线，通常使用铝来作为集成电路的导线。
5.离子注入：通过离子注入技术向基片中注入特定的杂质元素，用于控制硅基片的电导特性。
这个步骤通常称为“掺杂”。
6.高温热处理：接下来，将基片放入高温炉中进行退火处理，以促进离子的扩散和杂质的激活，从而改善器件的性能。
7.金属连接：在这一步骤中，使用金属源进行导线的连接，通常使用铝或铜来制作导线的上层金属化。
8.封装和测试：最后，将芯片进行封装，通常使用塑料封装或陶瓷封装。
封装是将芯片与外部电路连接的关键一步。
完成封装后，芯片需要进行测试，以确认芯片的功能和性能。
总结起来，CMOS集成电路制造工艺流程包括基片准备、薄膜生长、图案定义、布线和刻蚀、离子注入、高温热处理、金属连接、封装和测试等步骤。
这些步骤需要精确的工艺参数和严格的质量控制，以确保制造出高质量的集成电路产品。
CMOS集成电路制造工艺流程
CMOS集成电路制造工艺流程CMOS（互补金属氧化物半导体）集成电路制造工艺流程是一种常见的半导体器件制造工艺流程，用于制造现代集成电路中的逻辑门、存储单元、处理器等器件。
下面将详细介绍CMOS集成电路制造工艺流程的各个步骤。
1.制备硅衬底：CMOS工艺的第一步是制备硅衬底。
常用的衬底材料是单晶硅，在硅衬底上通过化学气相沉积或物理气相沉积等方法形成一层厚度为几纳米至几十纳米的硅氧化物层。
2.沉积硅层：接下来的步骤是沉积厚度约为几百纳米的多晶硅层。
这一层用于制造CMOS场效应晶体管的沟道和源极/漏极区域。
3.制作互补MOSFET：在多晶硅层上使用光刻技术定义出互补MOSFET的沟道和源极/漏极区域。
首先，在多晶硅层上沉积一层绝缘层（通常是一种氧化物），然后在绝缘层上沉积一层阳极氧化硅（也称为控制栅氧化层）。
4.形成栅极：接下来使用光刻技术，在栅极氧化层上定义出栅极的形状，并通过物理气相沉积或化学气相沉积等方法沉积金属层（通常是多晶硅或金属）。
然后通过光刻和刻蚀等步骤将多余的金属层去除，只留下栅极。
5.形成源极和漏极：使用光刻技术定义源极和漏极的形状，并通过物理气相沉积或化学气相沉积等方法沉积金属层（通常是多晶硅或金属）。
然后通过光刻和刻蚀等步骤将多余的金属层去除，只留下源极和漏极。
6.形成互连线：使用光刻技术定义出互连线的形状，并通过物理气相沉积或化学气相沉积等方法沉积金属层（通常是铝或铜）。
然后通过光刻和刻蚀等步骤将多余的金属层去除，只留下互连线。
7.形成电介质层和上金属层：在制作互连线之后，沉积一层绝缘层（通常是一种氧化物），然后再沉积一层金属层（通常是铝或铜），用于做上金属层的互连线。
8.包封：最后一步是将整个芯片用耐高温塑料或石英玻璃等材料进行封装。
这样可以保护芯片免受外界环境的影响，同时也便于与其他电子元件进行连接。
总结：CMOS集成电路制造工艺流程包括了硅衬底的制备、硅层沉积、互补MOSFET制作、栅极、源极/漏极的形成、互连线和电介质层的形成以及最后的包封等步骤。
(工艺技术)CMOS集成电路制造工艺
CMOS集成电路制造工艺从电路设计到芯片完成离不开集成电路的制备工艺，本章主要介绍硅衬底上的CMOS 集成电路制造的工艺过程。
有些CMOS集成电路涉及到高压MOS器件（例如平板显示驱动芯片、智能功率CMOS集成电路等），因此高低压电路的兼容性就显得十分重要，在本章最后将重点说明高低压兼容的CMOS工艺流程。
1.1基本的制备工艺过程CMOS集成电路的制备工艺是一个非常复杂而又精密的过程，它由若干单项制备工艺组合而成。
下面将分别简要介绍这些单项制备工艺。
1.1.1 衬底材料的制备任何集成电路的制造都离不开衬底材料——单晶硅。
制备单晶硅有两种方法：悬浮区熔法和直拉法，这两种方法制成的单晶硅具有不同的性质和不同的集成电路用途。
1悬浮区熔法悬浮区熔法是在20世纪50年代提出并很快被应用到晶体制备技术中。
在悬浮区熔法中，使圆柱形硅棒固定于垂直方向，用高频感应线圈在氩气气氛中加热，使棒的底部和在其下部靠近的同轴固定的单晶籽晶间形成熔滴，这两个棒朝相反方向旋转。
然后将在多晶棒与籽晶间只靠表面张力形成的熔区沿棒长逐步向上移动，将其转换成单晶。
悬浮区熔法制备的单晶硅氧含量和杂质含量很低，经过多次区熔提炼，可得到低氧高阻的单晶硅。
如果把这种单晶硅放入核反应堆，由中子嬗变掺杂法对这种单晶硅进行掺杂，那么杂质将分布得非常均匀。
这种方法制备的单晶硅的电阻率非常高，特别适合制作电力电子器件。
目前悬浮区熔法制备的单晶硅仅占有很小市场份额。
2直拉法随着超大规模集成电路的不断发展，不但要求单晶硅的尺寸不断增加，而且要求所有的杂质浓度能得到精密控制，而悬浮区熔法无法满足这些要求，因此直拉法制备的单晶越来越多地被人们所采用，目前市场上的单晶硅绝大部分采用直拉法制备得到的。
拉晶过程：首先将预处理好的多晶硅装入炉内石英坩埚中，抽真空或通入惰性气体后进行熔硅处理。
熔硅阶段坩埚位置的调节很重要。
开始阶段，坩埚位置很高，待下部多晶硅熔化后，坩埚逐渐下降至正常拉晶位置。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
C M O S集成电路制造工艺
流程
Company number：【0089WT-8898YT-W8CCB-BUUT-202108】
陕西国防工业职业技术学院课程报告
课程微电子产品开发与应用
论文题目CMOS集成电路制造工艺流程
班级电子3141
姓名及学号王京（24#）
任课教师张喜凤
目录
CMOS集成电路制造工艺流程
摘要：本文介绍了CMOS集成电路的制造工艺流程，主要制造工艺及各工艺步骤中的核心要素，及CMOS器件的应用。
引言：集成电路的设计与测试是当代计算机技术研究的主要问题之一。
硅双极工艺面世后约3年时间，于1962年又开发出硅平面MOS工艺技术，并制成了MOS集成电路。
与双极集成电路相比，MOS集成电路的功耗低、结构简单、集成度和成品率高，但工作速度较慢。
由于它们各具优劣势，且各自有适合的应用场合，双极集成工艺和MOS集成工艺便齐头平行发展。
关键词：工艺技术，CMOS制造工艺流程
1.CMOS器件
CMOS器件，是NMOS和PMOS晶体管形成的互补结构，电流小，功耗低，早期的CMOS电路速度较慢，后来不断得到改进，现已大大提高了速度。
分类
CMOS器件也有不同的结构，如铝栅和硅栅CMOS、以及p阱、n阱和双阱CMOS。
铝栅CMOS和硅栅CMOS的主要差别，是器件的栅极结构所用材料的不同。
P阱CMOS，则是在n型硅衬底上制造p沟管，在p阱中制造n沟管，其阱可采用外延法、扩散法或离子注入方法形成。
该工艺应用得最早，也是应用得最广的工艺，适用于标准CMOS电路及CMOS与双极npn兼容的电路。
N阱CMOS，是在p型硅衬底上制造n沟晶体管，在n阱中制造p沟晶体管，其阱一般采用离子注入方法形成。
该工艺可使NMOS晶体管的性能最优化，适用于制造以NMOS为主的CMOS以及E/D－NMOS和p沟MOS兼容的CMOS电路。
双阱CMOS，是在低阻n＋衬底上再外延一层中高阻n――硅层，然后在外延层中制造n 阱和p阱，并分别在n、p阱中制造p沟和n沟晶体管，从而使PMOS和NMOS晶体管都在高阻、低浓度的阱中形成，有利于降低寄生电容，增加跨导，增强p沟和n沟晶体管的平衡性，适用于高性能电路的制造。
集成技术发展
从MOS工艺集成技术发展历史上看，也经历了从简单到复杂的发展过程，如陆续推出了p沟硅栅MOS工艺、p沟铝栅MOS工艺、n沟硅栅MOS工艺、n沟硅栅E/DMOS工艺、高性能短沟MOS（HMOS）工艺等，它们都各具优劣势，在不同时期、不同领域得到了应用。
随着集成电路的集成度提高，功耗问题日益突出，普通MOS工艺已不能满足大规模和超大规模集成系统制造的需要，于是早在1963年开发出的硅CMOS集成工艺终于有了广泛应用的机会。
虽然CMOS工艺比NMOS工艺复杂，早期的CMOS器件性能也较差，但CMOS器件的功耗极低，集成度也高，用以制造数字LSI和VLSI集成电路可很好地解决最迫切的功耗问题，因而在数字LSI和VLSI集成电路的制造中首先得到广泛应用，并得到快速发展，特别是自20世纪80年代以来，更成为CPU、RAM、ROM等VLSI 的主导制造工艺，并替代了NMOS工艺。
基本的制备工艺过程
CMOS集成电路的制备工艺是一个非常复杂而又精密的过程，它由若干单项制备工艺组合而成。
衬底材料的制备
任何集成电路的制造都离不开衬底材料——单晶硅。
制备单晶硅有两种方法：悬浮区熔法和直拉法。
4.主要工艺技术
○1热氧化；○2扩散,掺杂（热扩散掺杂，离子注入掺杂）；
5.光刻
光刻是集成电路制造过程中复杂和关键的工艺之一。
光刻的主要工艺步骤包括：光刻胶的涂覆，掩模与曝光，光刻胶显影，腐蚀和胶剥离。
6. 刻蚀
湿法刻蚀
湿法刻蚀是将刻蚀材料浸泡在腐蚀液内进行腐蚀的技术。
它是一种纯化学刻蚀，具有优良的选择性，它刻蚀完当前薄膜就会停止，而不会损坏下面一层其他材料的薄膜。
干法刻蚀
干法刻蚀是以等离子体进行薄膜刻蚀的技术。
这些工艺具有各向异性刻蚀和选择性刻蚀的特点。
工艺的应用
随着整机系统继续向高速度、低功耗、低电压和多媒体、网络化、移动化的发展，对集成电路的要求越来越高，不断推动着集成电路工艺技术的迅速发展，目前先进的硅CMOS集成工艺已进入90纳米和65纳米领域。
随着亚微米、深亚微米、纳米CMOS工艺技术的发展，为数字电路提供了更快、更大密度的电路集成，也为模拟电路提供了更高性能的模拟开关和模拟电路应用的多晶硅－氧化物－多晶硅电容，加上CMOS工艺简单、功耗低、集成度高、芯片尺寸小、成本低等特点，CMOS工艺不仅是数字电路的主导工艺技术，而且已不断在模拟和混合信号电路集成中得到应用，如含有模拟和数字电路的微控制器从20世纪90年代中期以来已全部采用CMOS工艺制造，自2003年以来CMOS 工艺也成为一些通用低功耗A/D转换器的主流制造工艺。
无线通讯系统由高频和中频模拟电路及数字信号处理电路构成。
过去，一般高频模拟电路部分采用GaAs或硅双极工艺技术制造，中频模拟电路部分采用硅BiCMOS工艺技术制造，其它（如DSP）采用硅CMOS工艺技术制造。
但是，由于现代通讯系统涉及到声音、数据、图像等多媒体信息，如果继续采用这种制造模式来实现高频、低功耗、低噪声、低失真、小型化、低价格等性能特点的通讯系统电路，已远远不能满足应用需要。
因此，推动了工艺集成技术的继续发展和竞争。
随着CMOS工艺技术的快速进步，在新的技术竞争中，硅CMOS集成工艺已成为最具综合技术优势的竞争对手之一。
举例. N阱硅栅CMOS集成电路制造工艺的主要流程
（1）生长一层SiO2。
（2）在SiO2上涂光刻胶，光刻N阱掺杂窗口（一次光刻）。
（3）用HF刻蚀窗口处的SiO2，去胶。
（4）在窗口处注入N型杂质。
（5）形成N阱，去除硅片上的SiO2。
（6）生长一层SiO2，再生长一层Si3N4。
光刻场区（二次光刻），刻蚀场区的Si3N4，去胶。
由于Si3N4和S i之间的应力较大，而SiO2与Si和Si3N4之间的应力较小，所以用SiO 2作为过渡层。
（7）生长场区SiO2（场氧）。
CMOS工艺之所以不象NMOS工
艺那样直接生长场氧，一是因为CMOS工艺比NMOS工艺出现得晚，更先进；二是因为生长场氧时间很长，会消耗很多硅，这样会使有源区边缘产生很高的台阶，给以后台阶覆盖带来困难，台阶太高会产生覆盖死角。
（8）去除Si3N4和有源区处的SiO2。
（9）重新生长一层薄薄的SiO2（栅氧）。
（10）生长一层多晶硅。
（11）光刻多晶硅栅极（三次光刻）。
（12）刻蚀栅极以外的多晶硅，去胶。
（13）光刻P+离子注入窗口（四次光刻），刻蚀窗口处的S iO2，去胶。
在窗口处注入P型杂质，形成PMOS的源漏区和衬底欧姆接触。
生长SiO2。
（14）光刻N+离子注入窗口（五次光刻），刻蚀窗口处的SiO2，去胶。
在窗口处注入N型杂质，形成N MOS的源漏区和阱欧姆接触。
（15）生长一层SiO2。
（16）光刻接触孔（六次光刻），刻蚀接触孔处的SiO2，去胶。
（17）生长一层金属，光刻金属引线（七次光刻）。
（18）刻蚀引线外的金属，去胶。
（19）淀积钝化层。
超链接：,,.。