EMC_测试作业指导书
(完整word)EMC测试规范
EMC试验测试规范一、静电1。
1试验目的:测试电子产品抗静电能力1。
2试验设备：静电放电发生器1。
3试验环境:环境温度：15℃~35℃，相对湿度30%～60％，大气压力86KPA～106KPA （暂时以中试试验室环境为准）1。
4参考标准：GB17626。
2-2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 AQ6201—2006煤矿安全监控系统通用技术要求1。
5试验内容：1。
5。
1如图1所示，将受试设备EUT通电后放置在试验桌上，准备进行试验。
图11。
5。
2 参数设置,如图2所示，选择放电模式，做接触放电试验，选用尖锥形的放电电极,用UP和DOWN按键把光标调整至“放电模式”行，用“SELECT”按键选择“接触放电”；1.5.3选择极性，将光标调整至“极性切换”行，用“SELECT”按键选择“正压”或“负压”来选择试验极性。
（在极性切换前需将“高压上电”选择“否"，否则无法极性切换）1.5。
4放电模式，将光标调至“四种模式"行,用“SELECT"按键选择“单次放电”、“设定放电”、“连续放电"或“自动放电”来选择放电模式。
连续放电即20pps模式；自动放电就是按下“RUN/PAUSE”按键后无需扣枪即可自行放电.一般选用单次放电。
图21.5.2 参数设置,如图2所示，选择放电模式，做接触放电试验，选用尖锥形的放电电极，用UP 和DOWN按键把光标调整至“放电模式”行，用“SELECT”按键选择“接触放电”;1。
5。
3选择极性，将光标调整至“极性切换"行,用“SELECT”按键选择“正压”或“负压”来选择试验极性。
(在极性切换前需将“高压上电”选择“否",否则无法极性切换)1。
5。
4放电模式,将光标调至“四种模式”行,用“SELECT”按键选择“单次放电"、“设定放电”、“连续放电”或“自动放电”来选择放电模式。
连续放电即20pps模式；自动放电就是按下“RUN/PAUSE”按键后无需扣枪即可自行放电。
EMC测试指南
EMC测试指南你在测试中知道测试工程师为了测了那些项目吗？用的什么标准吗？这是我的一点常识！！不要见笑。
前两天偶然见到一个老兄，说我不懂标准。
我笑了一下。
我知道我了解的不是太多。
如果说我不懂，我有些不能接受了，，，呵呵。
以下仅供参考！！！EMC测试指南一、EMI（电磁骚扰）分射频和工频两类测试●射频类测试项目：1.1 射频分传导和辐射两项测试射频传导（屏蔽室测试）1.1.1 传导分电压和功率两项测试1.1.2 传导电压标准：CISPR11、14、15、221.1.3 传导功率标准：CISPR11、14射频辐射（电波暗室测试）1.1.4 射频辐射标准：CISPR11、22、IEC60571●工频类测试项目（实验室测试）1.2 工频分谐波和闪烁两项测试工频谐波1.2.1 IEC6100-3-2工频闪烁1.2.2 IEC6100-3-3二、EMS（电磁敏感度）分瞬变、射频、低频磁场、电源质量●瞬变类测试项目（实验室测试）2.1 瞬变分静电、瞬变脉冲和浪涌三项测试瞬变静电IEC6100-4-2瞬变脉冲IEC6100-4-4瞬变浪涌IEC6100-4-5●射频类项目2.2 射频分传导和辐射两项测试射频传导IEC61004-6（实验室测试）射频辐射IEC6100-4-3（电波暗室测试）●低频磁场类测试项目（实验室测试）2.3 低频磁场分脉冲磁场和工频磁场两项测试脉冲磁场IEC6100-4-9工频磁场IEC6100-4-8电源质量类测试项目（实验室测试）2.4分跌落、中断、电压变化三项测试IEC6100-4-11注：几点说明：1. 传导功率测试面积 > 7x1M2. 传导电压测试桌：推荐 2x1.5x0.8要考虑柜式设备的测试面积。
3. 谐波及闪烁测试面积 >2x24. 静电放电测试桌：推荐 2x1.5x0.85. 瞬变及电源质量测试桌：推荐 2x1.5x0.84. 5. 可用同一张测试桌6. 传导射频敏感度测试桌：推荐 2x1.5x0.85. 6. 可用同一张测试桌7. 屏蔽室和实验室要有相应的温湿度要求8. 敏感度测试时周围不能有敏感设备9. 在实验室做测试时，周围不能有发射或干扰设备否则测试要在屏蔽室内进行。
EMC_测试作业指导书.
EMC测试作业指导书一．EMC 测试类型EMC测试包括ESD测试，EFT测试，Surge 测试，Harmonic 测试，Flicker 测试，Conducted Immunity 测试，Power Dip测试和EMI 测试，相应的测试标准和测试方法将在下面详细介绍。
二．名词定义：ESD：静电放电EFT：电快速瞬变脉冲群Harmonic ：谐波Flicker ：闪烁发射Surge ：浪涌Power Dip：电压跌落Conducted Immunity : 传导免疫性EUT：受试设备三．测试规划5.1 ESD测试5.11测试目的验证产品设计的成熟度，模拟在干燥地区易遭受静电放电的情况，保证产品在ESD下性能保持完好，功能正常，不被损害。
5.12 测试标准按照EN61000-4-2 进行，测试电压为8KV（空气放电）和4KV（接触放电）.5.13 测试场地BQC EMC实验室5.14 测试设备NoiseKen ESS-2002(静电测试器)5.15 ESD原理一个充电的导体接近另一个导体时，就有可能发生ESD。
首先，两个导体之间会建立一个很强的电场，产生由电场引起的击穿。
两个导体之间的电压超过它们之间空气和绝缘介质的击穿电压时，就会产生电弧。
在0.7ns到10ns的时间里，电弧电流会达到几十安培，有时甚至会超过100安培。
电弧将一直维持直到两个导体接触短路或者电流低到不能维持电弧为止。
可能产生电弧的实例有人体、带电器件和机器。
人的自然动作摩擦会形成400～600V电势，如果他们在打开或包装泡沫衬底纸箱或气泡塑料袋过程中一直接触的都是绝缘体，其身体表面上的净电荷积累可能达到约26,000V。
针对大多数环境的产品和通用标准决定使用如5.12标准所列的测试水平.5.16 测试方法1.EUT 按照正常运行时的典型安装进行布局和配置,并将所有电缆都连接上.对地的连接尤为重要.EUT 放置在离地平面80cm 的木桌上,设备下面放置一个水平耦合板,但该耦合板与设备之间绝缘隔离.如图5.1.2.信号输入 将Notebook 的信号输入到EUT 的D-Sub 端口,将DVD Player 信号输入到EUT ，运行一段程序.3.静电放电发生器设置 静电放电发生器的面板如图5.2所示。
电能质量测试作业指导书
试验目录1外观及功能正常性检查2准确度测试试验2.1电压测量通道测试2.2谐波电压2.3谐波电流2.4基波频率变化对谐波电压（电流）的影响2.5谐波有功功率2.6闪变2.7三相不平衡度3环境试验3.1高温影响3.2低温影响3.3交变湿热试验4安全性能试验4.1绝缘电阻试验4.2绝缘强度试验4.3冲击电压试验5机械性能试验5.1防护等级5.2振动试验5.3机械冲击试验6电气性能试验6.1电源电压变化影响6.2信号输入回路试验6.3停电数据保持6.4功率消耗7电磁兼容试验7.1电快速瞬变脉冲群抗干扰度试验7.2辐射电磁场抗干扰性试验7.3静电放电抗干扰度试验7.4浪涌（冲击）试验7.5扰度试验检定电能质量分析仪须具备的工作条件：检测用设备：（1）标准器必须经过量值溯源，并在有效期内；（2）标准器的测量不确定度应优于被检仪器所允许误差的1/3，分辨力优于被检仪器的1/10；（3）用三相比较法检定三相不平衡度的三相标准比较仪，电压、电流幅值测量误差不超过0.05%，相位测量误差不超过0.05°。
一外观及功能正常性检查检测依据：DL/T1028-2006 电能质量测试分析仪检定规程（1）被检仪器外观应完整无破损，型号规格，生产厂家，仪器编号等标识应清晰；（2）被检仪器应在额定工作条件下放置12h以上，并按照说明书预热。
（3）开机后，被检仪器能正常工作，各种显示正确，各开关和操作按键正常。
包括：显示功能，通讯接口，权限管理功能，设置功能，统计功能，记录存储功能等。
（4）有专用附件的，要与被检仪器一起进行检定，附件上的编号与仪器通道相对应。
二准确度测试试验检测依据：DL/T1028-2006 电能质量测试分析仪检定规程1、电压测量通道试验测试设备：FLUKE 6100电能标准功率源（1）分辨率：电压显示分辨率：频率显示分辨率：（2）测量范围：电压测试范围：频率测试范围：（3）电压准确度测试测试方法：（1）连接线路图如图1；图1 电压准确度检定示意图（3）计算电压准确度γU。
EMC实验室日常工作指导文件
实验室日常工作指导文件EMC(Internal Use Only))仅供内部使用(批(Approval): 准核审 (Review): 拟 (Prepare):制1、目的根据ISO17025的要求对实验室进行检查，记录。
为测试工程师提供本职工作流程指导，为测试样品从进入实验室，到安排测试，出具报告等一系列的操作步骤及方法提供指导。
2、工程师每日工作流程2.1 仪器检查（8:30~8:45（9:10））2.1.1 除周一以外，工程师需要每日上班开始之前进入测控室进行仪器设备的检查，检查设备清单请参见“附件A”，检查方法请参见“附件B”，检查完成后根据检查结果填写《系统及仪器检查记录表》。
2.1.2 每天早上，在根据“附件B”进行系统检查后，在周一应使用金机进行一次系统验证测试，其测试方法参照《TG06-09v01 TS8997测试系统操作指导书》。
测试结果应保存在电脑文件夹“金机测试数据”下，并填写《系统及仪器使用记录表》和《系统及仪器检查记录表》并注明为金机验证。
测试完成之后应保存好金机。
2.1.3 当检查结果合格或未出现任何异常现象时，方可进行下一步的操作；当检查结果出现异常时，需要第一时间通知实验室主管或更上一级领导。
备注：当实验室有紧急项目安排在仪器检查时间段时，工程师应把握时(间提早安排仪器检查)2.2 环境记录（8:45~8:50）2.2.1 找到《温湿度记录表》进行温湿度记录，当温度处于15-35oC，湿度处于30%-60%之间时可进行下一步，否则需要先调节温度已满足上述要求。
备注：如果当日没有测试，可以采取隔日记录一次的方法， (温度记录应包含暗室、测控室、杂散室这三个区域的温743EMC 966度。
)2.2.2 完成实验室的检查和环境记录之后即可开始一天的测试安排2.3 查看工作单2.3.1 登录服务器\\192.168.100.2\Server_1\2.实验室管理\实验室排班表，打开“SRD排班表”，查看当日实验室以及个人的工作安排，按照安排的ITEM逐个进行下面的操作。
EMC测试验证规范手册
EMC测试验证规范EMC测试验证规范由于新环境的冲击以及高科技时代技术发展的趋势，需加强全面性可靠度工程技术的整合与应用，才能提高产品的竞争力。
因此应引用系统工程理念建立整体产品开发程序，已达成满足客户的需求及有效降低产品开发周期与成本的终极目标。
由可靠度发展的时间角度可区分如下：一.概念阶段由于开发时程的紧缩及可靠度需求的日益重视，所以在概念设计时，就需导入整体可靠度工程，已达到避免重复试误及即早将可靠度design in产品的目的。
二.设计阶段由于开发时程的紧缩及可靠度需求的日益重视，所以在设计阶段时，研发工程师需依各相关单位的设计标准作设计上的考虑，以达到产品功能、质量及制造性皆能兼顾的目标。
三.鉴定阶段开发阶段已完成欲进入生产阶段时，为了确保设计与制程已稳定，此衔接工作需紧密结合，以确保design In的质量。
四.生产阶段当开发阶段完成已进入生产阶段时，为确保生产时程、生产质量获得控制，客诉问题能快速处理、追踪，甚至于整体项目成本和利润的分析，相关的可靠度工程亦需配合导入。
貳.测试设备及仪器一.冷热冲击机●Model:ES-203L●Temperature range：-65℃ to 100℃●Humidity range：+60%RH to +200%RH●Temperature / Humidity Distribution：±0.4℃/ ±3% R.H.●Temp. restoration time: Within 12 min●Withstand load：Max. 50 kg恒温恒湿机●Model：EC-23MHHP●Temperature range：-40℃ ~ 150℃●Humidity range：20% ~ 98% R.H.●Temperature/Humidity Distribution: ±0.4℃/ ±3% R.H.●Temp. rise time：Within 60 min for -40 to 150℃●Temp. drop time：Within 60 min for +20 to -40℃二.线材摇摆试验机●Model：JIA-615●Flexing Angles：45°, 60°, 90°, 180° (Adjustable)●Flexing Speed：10 ~ 60 CPM (Adjustable)●Auto-Counter：6 set & all independent●Grips：6 set●Load：100g, 200g, 300g, 500g三.落下试验机●Model：HT-4180●Drop Height：400 mm ~ 1500 mm●Withstand Load：60Kg max.●Drop Control：electro-megnetic Control四.ESD静态放电测试仪●Model：NSG-435●ACCORDING TO：IEC 801-2IEC 1000-4-2五.雷击测试仪●Model：LSS-6030●Output surge waveform1)Combination wave 1.2/50 μs,8/20μs2)10/700μs Telecom waveform3)0.5μs/100kHz Ring waveform●Maximum output voltage (current)1)500V~6kV±10%(1.2/50μs voltage surge)250A~3000A±10%(8/20μs voltage surge)2)500V~6kV±10%(10/700μs voltage surge)3)500V~6kV±10%(Ring wave)●According to：IEC61000-4-5六.振动测试仪●Model：G-0170L●Sinusoidal force output：700kgf●Random force output：490kgf●Frequency range：5-3000 Hz●Max. Acceleration：87G●Max. Velocity：110cm/sec●Max. Displacement：51mm p-p七.安规综合分析测试仪八.拉力机九.温度纪录器參.产品验证一.产品验证流程●测试目的：实验中心之测试目的可分为”新产品验证测试”及”量产证测试”，其样本数依客户、产品类别、测试目的等进行抽样。
电磁兼容测试指导书
篇一：《电磁兼容原理实验》指导书《电磁兼容原理》实验指导书目录实验一静电放电抗扰度实验…………………………………3 实验二电快速瞬变脉冲群抗扰度实验……………………… 5 实验三浪涌抗扰度实验………………………………………7 实验四实验五实验六开关电源传导骚扰测试实验…………………………9 电子镇流器的传导骚扰测试实验……………………11 辐射骚扰测试实验……………………………………13实验一静电放电抗扰度实验概述引用标准：gb/t17626.2(iec61000-4-2) 标准的依据：人体放电试验等级：空气放电、接触放电四级。
一、实验目的1. 掌握静放电试验的步骤和要求。
2. 掌握静电放电试验的试验室配置。
3. 了解静电放电枪功能及使用方法。
二、实验设备：静电放电枪、接地系统、试验台、水平和垂直耦合板、绝缘垫、耦合板放电线三、实验内容：1. 介绍试验的标准配置要求。
接地系统、设备要求（位置、接地、线缆）、耦合板 ? 台式设备：收音机等2. 介绍静电放电枪的功能及使用。
? 结构及附件：接地线、放电头、主机 ? 功能及使用联接3. 试验的实施 ? 试验应根据试验计划进行。
试验计划内容包括：——受试设备的典型工作条件；——受试设备是按台式还是按落地式设备进行试验；——确定施加放电点；——在每个点上，是采用接触放电还是空气放电；——所使用的试验等级——符合性试验中在每个点施加放电的次数（至少施加十次单次放电（以最敏感的极性），连续单次放电的时间间隔至少１秒。
——是否还进行安装后的试验 ? 直接放电试验：空气放电、接触放电静电放电试验等级表i. 选择放电试验点、面 ii. 选择放电方式及要求：选择空气放电或接触放电。
空气放电和接触放电的放电要求。
?间接放电试验：对水平耦合、垂直耦合板的接触放电。
放电位置及要求。
四、实验报告要求对多波段收音机测试并记录以下表格数据：1.直接放电试验情况实验二电快速瞬变脉冲群抗扰度实验概述引用标准：gb/t17626.4(iec61000-4-4)标准的依据：线路切换瞬态过程（如切断感性负载、继电器触点弹跳等）各种类型瞬变骚扰。
EMC EMI 电磁兼容性实验指南说明书
Figure 1: Here in the simplest of circuits, a clock oscillator drives a load with current returning either through a wire or trace as in (a) or through a return plane as in (b)� Both designs can create EMI� Some inductance will exist in the return path causing any wires connected directly or incrementally to it to radiate� A plane has less inductance than a wire or trace, butsignificant emissions can arise from both designs�EMI: Why Digital Devices RadiateFigure 2: We assembled and tested this circuit to see if theory would correctly predict observed emissions�wereytakenyatopyay.8ymeterywoodenyturntableywhichywasy rotatedytoydetectymaximumyemissions.yAsyexpected,ywheny theyattachedytelescopingyantennasywereytunedyforyresonance,y maximumyemissionsyatytheyresonantyfrequencyywereyobservedy whenytheytelescopingyarmsylayyparallelytoyayhorizontallyy polarizedyantenna.yMeasurementsywereyperformedyatyaydistanceyofy10ymetersyandytheyantennaywasyraisedyandyloweredy toydetectymaximumyemissionsyoveryay1ytoy4ymeteryrange.y Weybeganyourystudyybyyfocusingyonyoneyfrequency,ytheyfifthy harmonicyofytheyclockyaty125yMHz.yTheytelescopingyelementsy wereytunedytoyresonanceyatythatyfrequencyyandyleftythereyforythey durationyofytheytest.yTheycircuityshownyinyFigurey2yproducedy 39.4ydBuV/myofyradiationyaty10ymeters.yOurynextytaskywasytoyexplainywhyythisycircuityradiates,y calculateytheypredictedyradiationyandyseeyifyitymatchedyoury measuredyresults.yItyisynowywellyestablishedyoneymechanismycausingyradiationy atytheseyfrequenciesyisythatyillustratedyinyFigurey1.yAyclockyory clock/driverycombinationyservesyasyaysourceydrivingyaydistanty load.yTheysignalyproducedyisyaytrapezoidalywavey(squareywavey withyfiniteyriseyandyfallytimes)yandytheysourceyhasyanyinternaly resistance,yR o ,yandyinductance,yL o .yTheyloady(Z 2yinyFigurey1)y isyaylogicygate,ywhich,yforyMOSybasedytechnologies,ycanybey modeledyasyaycapacitance.yAyseriesyresistance,yR S yisysometimesy insertedyatytheysourceyendytoysuppressyringing.yTheoryystatesythatythey“drivenywire,”ythatyisytheywirey connectingytheysourceytoytheyloadycanybeycharacterizedyasy anyinductor.ySimilarly,ytheyreturnytracey(Figurey1a)yoryplaney (Figurey1b)ycanyalsoybeycharacterizedyasyanyinductoryatyy 125yMHzy(Z3).yAyreturnyplaneyhasyayconsiderablyylowery inductanceythanyayreturnytrace.yIfyweyknowytheycurrentypassingythroughytheyreturnyplaneyory trace,ythenybyyusingytheyinductanceyvariousymodelsypredicty weycanycalculateyayvoltageydropyacrossytheyreturnytraceyory plane.yThisyvoltageydropywillydriveyanyywiresyattachedytoythey returnypathyasyifytheyywereyantennas.yBasically,ytheyreturnytracey oryplaneyservesyasyaylowyimpedanceyvoltageysourceydrivingy attachedywires.yAnyywiresydirectlyyoryincrementallyyconnectedy toytheyreturnytracesyoryplaneywillyradiate.yInyayworst-caseyscenario,ytheywiresyattachedytoytheyreturnytraceyoryplaneycanybey stretchedyoutytoyformyaydipoleyresonantyatyoneyofytheyharmonicsy ofytheyclockyoscillator.yThatyisywhatywasydoneyhere.y AyTektronixyCT1ycurrentyprobeywasyusedytoymeasureythey currentythroughytheydrivenywire.yTheycurrentywaveformyisy shownyinyFigurey3.yTheyamplitudeyofytheycurrentywasyalsoy measuredybyyusingyayspectrumyanalyzer.yAtyayfrequencyyofyy 125yMHzytheyamplitudeyofytheycurrentymeasuredywasyy2.8ymilliampsyRMS.y(Theycurrentyprobeywasyremovedyduringy EMIytesting.)yEMI: Why Digital Devices RadiateTheyinductanceyofytheyreturnyplane,yaccordingytoyKadenyasyreportedybyyLeferinky[1],yis:yWhere:yL return plane y=yreturnyplaneyinductancey w y=ywidthyofytheyplaneyinymetersyd y=ydistanceybetweenytheydrivenytraceyandytheyreturnyplaneyiny metersyl y=ylengthyofytheydrivenytraceyinymeters,y l >>d yµ0y=ypermeabilityyofyfreeyspacey=y4πyxy10-7yHenries/meteryHockanson,yetyalymadeyayslightlyydifferentypredictiony[2].yItyis:Theyconstanty k yisygeometryydependent.yIty isyayfunctionyofytheycurrentydistributionyiny theyreturnyplane.yKaden’syformulayassumesy thatytheyreturnycurrentyspreadsyoutyevenlyy acrossytheyreturnyplane.yButythisyisynotyso.yIty isynowyknownythatytheycurrentyinytheyreturny planeyconcentratesybeneathytheydrivenytrace.y Theyconstanty k ythereforeycanybeydifficultytoy predict.yEstimatesyplacey k ybetweeny2yandy5.y We’llyuseytheyupperylimityofythisyrange,y k =5ytoyarriveyatyayworst-caseypredictionyfory theyradiation.yInsertingytheyvaluesyforythey circuityinyFigurey2y(d =.76ymm,y w =114ymm,y l =9.5ycm)yyieldsyanyinductanceyvalueyfory theyreturnyplaneyofy.033ynH/cmyory.32ynHyy inytotal.yAty125yMHzyanyimpedanceyofyy .25jyohmsywouldyresultydueytoythisyinductance.yTheyvoltageydropyacrossythey returnycanybeyreadilyycomputedyfromythey measuredycurrentyaty125yMHzyy(2.8ymilliamps).yTheyvoltageyacrossythey return,ytheymodelypredicts,yisy.07yV olts.y Thisyvoltageydrivesytheyattachedytelescopingy antenna,ytheyarmsyofywhichywereyadjustedy toyhalfywaveyresonanceycreatingyayhalfywaveyresonantydipole.yWeycanycalculateythey predictedyfreeyspaceyemissionsyfromyayhalfy waveyresonantydipoleyusingytheyfollowingyformulay[3]:yFigure 3: The current in the driven wire, and therefore the return, was measuredusing a Tektronix CT1 current probe�Figure 4: Slicing the return raises the return inductance resulting in increasedradiation�EMI: Why Digital Devices RadiateWhere:yE(V/m)y=yfreeyspaceyfieldystrengthyG ant y=ygainyofyayresonantyhalfywaveydipoleyoveryisotropicy=y 2.1ydBiy=y1.3yr y=ydistanceyfromytheycircuitytoytheymeasuringyantennayiny metersy=y10ymetersyV r y=ytheyvoltageydroppedyacrossytheyreturnyplaney=y.07yV oltsy Z ant y=yimpedanceyofytheyradiatingyantennay=y73yohmsyforyay halfywaveydipole.yOurymodelypredictsyfreeyspaceyradiationyofy35.2ydBuV/myatyy 10ymeters.yTestingyoveryaygroundyplaneyaffectsytheyimpedanceyofy theyradiatingyantennaysomewhatyandyprovidesyforygroundy reflection.yAsyanyapproximation,yweycanyassumeythatytheynety ofytheseyeffectsyisytoyincreaseyemissionsybyy5ydByaty125yMHz.y Usingythisyadjustment,yourymodelypredictsyemissionsyofyy 40.2ydBuV/m,yquiteycloseytoytheymeasuredyvalue.yOurysimpleycircuityofyFigurey2yusedysolidypoweryplanes.y Practicalypoweryplanes,yhowever,yareynotysolidybutyarey interruptedybyyholesyandygaps.yModelsyproposedybyyresearchersypredictythatyemissionsywillyriseydramaticallyyifythey returnyplaneyisyinterruptedywithyayslityasyshownyinyyFigurey4.yTheyslitycutsycompletelyythroughytheyPCB,yinterruptingybothytheyV+yandyV-yplanes.yItyisy.065”y(1.65ymm)y wideyandyextendsyfromyoneyedgeyofytheyboardytoyaypointy1”y (2.54ycm)ypastytheytrace.yTheymeasuredyemissionsyaty125yMHzy didyriseydramatically,ytoy59.8ydBuV/m.Hill,yetyal.,y[4]ymodelsytheyincreasedyinductanceybyyanalyzingy theygapyasyayshortedytransmissionyline.yDash,yetyaly[5]ycalculatesythisyinductanceytoybe:yWhere:yw y=ytheywidthyofytheyplaneytoytheyleftyandyrightyofytheyslotyiny metersys y=ytheywidthyofytheyslotyitselfyinymetersy w y>>y s yandy L gap y<<yλyApplyingythisyformulaytoyourytestycircuity(s =1.65ymm,y w =6.86ycm)yandyconsideringythaty L gap y=2.54ycmyyieldsyaypredictedyvalueyofyreturnyplaneyinductanceyofy4.4ynHyresultingyinypredictedyemissionsyofy63.0ydBuV/myaty10ymeters.yThisyEMI: Why Digital Devices Radiatevalueyisyinyreasonableyagreementywithythey measuredyvalue.yResearchersyalsoyagreeythatyifytheyreturny planeyisyinterruptedybyyholesyratherythany ayslit,ytheyincreasedyinductanceycausedybyy theypresenceyofytheyholesywillyincreasey emissionsyonlyyslightly.yFigurey5yshowsy theycircuityofyFigurey2ywithyholesydrilledy throughytheyplane,yinterruptingybothytheyV+y andyV-yplanes.yHolesywereyplacedy.16”yy (4.1ymm)ycenterytoycenteryandywerey.125”y (3.2ymm)yinydiameter.yNoychangeyiny emissionsywasynotedyaty125yMHzydueytoyy theypresenceyofytheyholes.yNext,yweyevaluatedyanyunorthodoxymethodyforyreducingyemissionsyfromyany imperfectyreturnyplaney[6].yThisymethody usesyaycommonymodeychokeylocatedyneary theyclock.yInytheory,ytheypresenceyofythey commonymodeychokeyshouldyforceycurrenty toyreturnythroughytheyreturnywire,ytheyoney thatypassesythroughytheycommonymodey choke,yinsteadyofythroughytheyreturnyplane.y Evenyifytheyreturnyplaneywasyinductiveybecauseyofytheypresenceyofyanyopeningysuchy asyayslit,ylittleyvoltageywouldybeydroppedy acrossytheyreturnyplaneysimplyybecauseythey RFycurrentydoesynotypassythroughyit.y WeyusedytheycircuityofyFigurey6.yTheyy returnyplaneywasygapedyasyinyFigurey4.yy Aytwistedypairyconsistingyofy24yAWGy magnetywireywasypassedythroughytwoyy Fair-Ritey2643000801yNo.y43ytypeyferritey beadsy1y1/2ytimesyandywasythenyconnectedy theyclockyandytheyload.yTheyreturnywireywasy connectedytoytheygroundyplaneyimmediatelyy adjacentytoytheyclockyandytheyload.yEmissionsyfellydramaticallyyaty125yMHz,yytoy38.7ydBuv/myaty10ymeters.yFigure 5Figure 6: One unorthodox method of suppressing radiation is to use acommon mode choke in the drive circuit�Test Conditions Figure Measured Emissions (dBuV/m at 10m)Predicted Emissions (dBuV/m at 10m)Solid Return Plane Figure 2 39.4 40.2 Slotted Return Plane Figure 4 59.8 63.0 Holed Return PlaneFigure 5 40.2 ~ 41 Slotted Return Plane with CM Choke Figure 6 38.7 -Solid Return Plane with CM Choke N/A 32.7 -Clock Running Alone with No Wires AttachedN/A29.7-Table 1: Radiation detected at 125 MHz is shown under varying conditions�EMI: Why Digital Devices RadiateEmissionsywereythenymeasuredyusingyay circuitythatyemployedybothyaycommonymodey choke,yasyshownyinyFigurey6,yandytheysolidy groundyplaneyofyFigurey2.yEmissionsyfelly onceyagain,ythisytimeytoy32.7ydBuV/m.yy Asyayfinalytest,ytheyconnectionybetweenythey clockyandytheyloadywasyremovedysoythatythey clockyoscillatorycouldyrunybyyitselfywithouty anyywiresyattached.yAty125yMHzytheyclocky oscillator,yoperatingyaloneyandyfedypowery throughysolidyV+yandyV-yplanes,yproducedy 29.7ydBuv/myofyemissions,yonlyy3ydBylessy thanytheyemissionsyproducedybyytheyuseyofyay combinationyofyaycommonymodeychokeyandy aysolidyreturnyplane.yDatayisysummarizedyy inyTabley1.ySoyfar,ysoygood.yTheoryyworksywellyatyy125yMHz.yButytheoryydoesynotyworkywellyaty theyninthyharmonic,y225yMHzy(Tabley2).yy Inyfact,ywhatyisyremarkableyaboutythey 225yMHzydatayisythatyitywasyseeminglyy unaffectedybyyanythingythatyweydid.yThey logicalyconclusionytoybeydrawnywasythatyemissionsyatytheyhigheryharmonicsywereyFigure 7: Variously called I dd Delta, Idd Noise or “Shoot Through” current, aspike in supply current drawn occurs as a MOS gate changes state�notysoymuchydueytoycurrentyonytheydrivenywireybutywerey dueytoysomeyinternalymechanismyinytheyintegratedycircuitsy themselves.yTheyintegratedycircuitsyusedywereyofytheyMOSyfamily.yFigurey7y showsytheybasicystructureyofyayMOSydevice.yPychannelyandyy Nychannelydevicesyserveyasyswitchesyalternatelyyconnectingy theyoutputytoyV+yandyV-,ydependingyonytheyinputyvoltage.yVeryy littleycurrentyflowsyfromyV+ytoyV-ywhenyaygateyisyeitheryinyitsy highyorylowystate.yForyexample,ywhenytheyinputyofyaygateyisy inyitsyhighystate,ytheyNychannelyFETyisyturnedyonyconnectingy theyoutputytoyV-.yTheyPychannelydeviceyisyinyitsyoffystateyandy presentsyayveryyhighyimpedanceybetweenyV+yandytheyoutput.y Therefore,ylittleycurrentyflowsybetweenyV+yandyV-.yTheysamey situationyisytrueyinyreverseywhenyinputyisylowyandytheyoutputy isyhigh.yInytheytransitionyregion,yhowever,ycurrentydoesyflowy fromyV+ytoyV-.yThisycurrentyisyayfunctionyofyinputyvoltage,yandy isyshownyinyFigurey7.yItypeaksysomewhereyinytheymiddleyofythey inputyvoltageyrange,yandyisyknownyasy“I ydd yDelta,”y“I ydd yNoise”y orysometimesyasy“shootythrough”ycurrent.yTheyeffectyofyI ydd yDeltayisytoyproduceyay veryybriefycurrentypulseyeveryytimeythey gateychangesystate.yTheynetyresultyisyay currentypulseyonytheysupplyyplanesyofy approximatelyy1ymilliampypeakyandyabouty 1ynanosecondyinywidthyeachytimeyaytypicaly 74HC02ygateyswitches.yUnfortunately,ytheyamountyofyradiationywey canyexpectydueytoyI ydd yDeltaycanybeydifficulty toypredict.yForyoneything,ymanufacturersy rarelyyciteyI ydd yDeltayinytheirydataysheets.y Foryanother,yI ydd yDeltayisyhighlyyvariable.y Amongyotherythingsyityisyayfunctionyofythey supplyyvoltage,yvaryingyasyayfunctionyofyy V cc ytoythey2.2ypower.y[7].Figurey8yshowsyhowythisycurrentypulseyturnsy intoyayvoltageyacrossytheyreturnyplane.yy I ydd yNoiseycurrentymostlyypassesythroughy anyybypassycapacitoryimmediatelyyadjacenty toytheyintegratedycircuit.yHowever,ythey impedanceyofythatycapacitoryisyfinite,yandy someyofytheycurrentyisyfedybackythroughythey supplyyplanes.yThisycreatesyaynoiseyvoltagey dueytoytheyimpedanceyofytheyreturnyplane.yTest Conditions Figure Measured Emissions (dBuV/m at 10m) Solid Return Plane Figure 2 50.2 Slotted Return Plane Figure 4 51.2 Holed Return Plane Figure 5 50.1 Slotted Return Plane with CM Choke Figure 6 49.6 Solid Return Plane with CM ChokeN/A50.1Table 2: Radiation detected at 225 MHz under varying conditions is shown� Unlike the radiation detected at 125 MHz, the changing conditions did notaffect the radiation at 225 MHz significantly�Figure 8: The spike in supply current caused by I dd Delta creates a current flowthrough the return plane� Frequency (MHz)Circuit of Figure 4Circuit of Figure 9bReduction (dB)75 41.3 27.3 14.0 125 59.8 31.2 28.6 175 53.4 34.3 19.1 225 51.2 33.6 17.6 275 33.8 27.8 6.0 325 48.4 22.7 25.7 375 48.4 <20 >28.4 425 39.4 <20 >19.4 475 37.3 <20 >17.3 52531.7<20>11.7Table 3: Reductions in Emissions (dB/uV at 10m)Figure 9: A small pi filter on the supply of the 25 MHz clock as shown in (b) dramatically reduced radiation at 225 MHz� Even a short length of wire as shown in (c) significantly reduced radiation by forming an LC filter�The filter works by reducing IDelta�ddAs mentioned, our test circuit already had wafer type capacitors placed immediately below the ICs. So as a further experiment, we isolated the V+ pin (pin 14 on both devices) from the V+ plane. A wire was connected as shown in Figure 9c. Although identical on a schematic, this configuration provided some filtering because of the wire’s inductance. Test results show a reduction of 9 dB at 225 MHz. The next step was to add a second bypass capacitor as shown in Figure 9b (a 1000 picofarad surface mount multilayer type) and to replace the wire with a surface mount device designed to increase series impedance over a wide frequency range.A TDK MMZ2012S301 was chosen which, according to the manufacturer’s data sheet, exhibits an impedance of greater than 300 ohms at the frequencies of interest. An additional reduction of more than 19 dB was noted.Table 3 demonstrates the results of our efforts. Note that improvement was achieved without using any filtering near our “I/O” (telescoping elements) or shielding. nREFERENCES1. F. Leferink, “Inductance Calculations: Methods AndEquations,” 1995 IEEE International Symposium onElectromagnetic Compatibility, Page 16.2. D. Hockanson, J. Drewniak, T. Hubing, T. Van Doren, F.Shu, C. Lam, L. Rubin, “Quantifying EMI Resulting from Finite-Impedance Reference Planes,” IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Nov. 1997, Page 286.3. G. Dash et al, “Computational Methods Aid inUnderstanding Antennas,” Conformity Annual 2001,Page 126.4. R. Hill, T. Van Doren, T. Hubing, J. Drewniak, and F.Gisin, “Common Mode Currents Induced On WiresAttached To Multilayered Printed Wire Boards WithSegmented Ground Planes,” 1994 IEEE InternationalSymposium on Electromagnetic Compatibility, Page 116.5. G. Dash et al, “Designing for Compliance. We Put Theoryto the Test,” Conformity, March 1998, Page 10.6. F. J. Tilley, “Reducing Radiated Emissions on High SpeedSignal Lines Using Common Mode Choke Coils,” IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility, 1995.7. High Speed CMOS Designer’s Guide, Signetics/Philips,Feb. 1986, Page 2-18.Glen Dash is the author of numerous papers on electromagnetics. He was educated at MIT and was the founder of several companies dedicated to helping companies achieve regulatory compliance. Currently he operates theGlen Dash Foundation which uses ground penetrating radarto map archaeological sites, principally in Egypt.Copyright Ampyx LLC。
EMC测试(TOP)2019-7-27
EMC测试1静电放电测试（ESD）2群脉冲测试（EFT）3雷击浪涌测试（Surge ）EMC测试（IEC 61000系列标准）1静电放电测试（ESD测试）【接触放电】施打方式（Contact Discharge）：包含直接接触（Direct Discharge）与间接（耦合）接触（Indirect Discharge）两种方式：直接接触放电方式（Direct Discharge）：针对待测物上所有导电表面作测试，Discharge Tip请使用尖头，测试点在待测物本体上，放电枪直接在待测物上放电。
间接（耦合）放电方式（Indirect Discharge）：针对待测物水平面（HCP）与垂直面（VCP）作间接（耦合）放电测试，Discharge Tip 请使用尖头，测试点在待测物本体上，放电枪直接在待测物上放电。
水平间接（耦合）接触放电：Horizontal Coupling将待测物置于塑料垫上，距HCP 10cm前，对HCP执行水平间接（耦合）接触放电，静电是以水平面间接耦合方式，传导至待测物。
EUT 四面都需要做测试。
垂直间接（耦合）接触放电：Vertical Coupling将待测物置于塑料垫上，距VCP 前10cm, 对VCP边线线中心点作垂直间接（耦合）接触放电，静电是以垂直面间接耦合方式，传导至待测物。
EUT 四面都需要做测试。
【空间（空气）放电】施打方式（Air Discharge）：针对放电枪无法直接、间接接触（Contact）放电的表面或缝隙，则执行Air Discharge。
于电压到达要求值时将Discharge按钮按下，将Discharge Tip（使用圆头）迅速接近测试点（不得破坏待测物），接触后离开，放开按钮，等待电压指示再次达到要求值时，再以相同方式操作，反复执行直到测试完成。
方法：1.按以下参数逐步设置好“静电放电测试仪器”工作步骤：直接接触放电：±4KV（测试金属部位、可接触的金属部件）；水平间接（耦合）接触放电：±4KV垂直间接（耦合）接触放电：±4KV空间（空气）放电：±8KV测试电压极性：先打正电压，再打负电压。
EMC-测试作业指导书要点
EMC测试作业指导书一．EMC 测试类型EMC测试包括ESD测试，EFT测试，Surge 测试，Harmonic 测试，Flicker 测试，Conducted Immunity 测试，Power Dip测试和EMI 测试，相应的测试标准和测试方法将在下面详细介绍。
二．名词定义：ESD：静电放电EFT：电快速瞬变脉冲群Harmonic ：谐波Flicker ：闪烁发射Surge ：浪涌Power Dip：电压跌落Conducted Immunity : 传导免疫性EUT：受试设备三．测试规划5.1 ESD测试5.11测试目的验证产品设计的成熟度，模拟在干燥地区易遭受静电放电的情况，保证产品在ESD下性能保持完好，功能正常，不被损害。
5.12 测试标准按照EN61000-4-2 进行，测试电压为8KV（空气放电）和4KV（接触放电）.5.13 测试场地BQC EMC实验室5.14 测试设备NoiseKen ESS-2002(静电测试器)5.15 ESD原理一个充电的导体接近另一个导体时，就有可能发生ESD。
首先，两个导体之间会建立一个很强的电场，产生由电场引起的击穿。
两个导体之间的电压超过它们之间空气和绝缘介质的击穿电压时，就会产生电弧。
在0.7ns到10ns的时间里，电弧电流会达到几十安培，有时甚至会超过100安培。
电弧将一直维持直到两个导体接触短路或者电流低到不能维持电弧为止。
可能产生电弧的实例有人体、带电器件和机器。
人的自然动作摩擦会形成400～600V电势，如果他们在打开或包装泡沫衬底纸箱或气泡塑料袋过程中一直接触的都是绝缘体，其身体表面上的净电荷积累可能达到约26,000V。
针对大多数环境的产品和通用标准决定使用如5.12标准所列的测试水平.5.16 测试方法1.EUT 按照正常运行时的典型安装进行布局和配置,并将所有电缆都连接上.对地的连接尤为重要.EUT 放置在离地平面80cm 的木桌上,设备下面放置一个水平耦合板,但该耦合板与设备之间绝缘隔离.如图5.1.2.信号输入 将Notebook 的信号输入到EUT 的D-Sub 端口,将DVD Player 信号输入到EUT ，运行一段程序.3.静电放电发生器设置 静电放电发生器的面板如图5.2所示。
EMC测试
BY：Andy，Edison
Sercomm(Suzhou)R&D Center
HWPA
Conduction 测试培训指导书
1. 目的： 为规范测试人员执行 Conduction 测试时，能有统一的作业步骤，特订定本指 导书。 2. 适用范围： 凡 Conduction 测试服务均适用。 3. 职责：测试 员依本指导书执行 Conduction 测试服务。
HWPA
5.2 校正完毕时，屏幕会显出"CAL: stored"之讯息，按下"CAL: stored"(储存)，确认 仪器无误后，方可继续执行测试。（每天执行一次方可）
Receiver,自校 CAL 键
自校 CAL-TOTAL 键
6. 架设 E.U.T.操作程序： 6.1 测试之前，先将 Receiver 仪器上的 BNC cable 拔掉。 6.2 将 E.U.T.放置在测试木桌上,沿桌面后缘贴齐且位于桌面边缘中心位置(离垂直金属 面 40 ㎝)。 6.3 连接到 E.U.T.周边的 CABLE 和过长的电源线绕成 30~40 ㎝（新标准小于 40cm 即 可）的结固定于离地 40 ㎝之处。
3．将次点 SetFreq 到 Spectrum
2．选择要抓取的频率点
1．选择 SWEEP 和 DISCRETE TRACE
图1 BY：Andy，Edison
Sercomm(Suzhou)R&D Center
HWPA
5.3 找到抓取点的 PEAK 值： 5.3.1 [SPAN X Scale]->[ ]或[ ]，展开至适当频宽,通常 SPAN 展开至 500KHz（根据 实际情况展开）波形。 5.3.2 [Peak Search]->[Marker->]->[Mkr->CF]。 5.3.3 确定此段频宽内的 PEAK 值，将 [Trace/View]->[Trace-1]->[Max Hold],[Trace-2] ->[Clear Write]，再将[Marker] ->[More] ->[Trace Mark]标至 Mark-1。 5.3.4 转桌转动 360。，确定在某一角度时频率点能持续达到最大值,并记住此时转桌的 位置。
华为EMC设计指导书
1.2 单板的性能指标与成本要求 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 1.3 电源层、地层、信号层的相对位置 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3பைடு நூலகம்
1.3.1 Vcc、GND 平面的阻抗以及电源、地之间的EMC环境问题 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 1.3.2 Vcc、GND 作为参考平面，两者的作用与区别 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 1.3.3 电源层、地层、信号层的相对位置 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 2 模块划分及特殊器件的布局 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7 2.1 模块划分 . . . . . .
EMC测试指导书
EMC设备操作指导书一：此设备可以做EMC中的EMI项目中的辐射测试和传导测试。
二：由于每个国家对EMC测试标准不一样，我们就以中国国标为标准来测试我们的产品，国标文件版本号在后面告诉大家。
三四：在EMI项目中传导测试和辐射测试的频率范围在9KHZ-300MHZ,由于测试方法和测试参数设置要求不同，要把频率范围分为9KHZ-30MHZ和30MHZ-300MHZ来分别测试。
五：EMI测试标准按照国标：GB_17743_2007六六：EMI测试设备：9KHZ-30MHZ通用型。
1：PC电脑2：R3030测试主机3：人工电源网络七：连接图：1：9KHZ-30MHZ的传导测试连接图：2：30MHZ-300MHZ的传导测试连接图：3：30MHZ-300MHZ辐射测试连接图：备注：1：由于设备天线是2M的，只能做30MHZ-300MHZ范围的辐射测试。
所以9K-30MHZ辐射测试不提供连接图。
2：衰减器的作用是衰减信号，保护R3030测试主机。
八：软件使用：1：辐射测试和传导测试用的软件是一样的，所以有的操作方法基本相同。
下面对照图片对软件进行详细说明。
步骤1：软件的启动以后进入软件以后如图一。
备注a ：Hardware 里面是R3030主机与电脑PC 机连接的设置。
b ：System 里面是R3030主机采集信号的参数设置。
c ：Run 是运行软件d:测试9KHZ-30MHZ选择图一步骤2：点击Hardware里面进行R3030主机与电脑PC 机连接的设置，见图二：图二备注：a.Add是添加连接的设置，完成以后如上面的设置，修改IP(Address)为169.254.1.3，这个IP 地址应该和R3030电脑上面的IP地址相同。
b.完成设置点击Check Test,进行测试，通过界面会显示Test OK,回到图一界面。
步骤3：点击System里面进行R3030主机采集信号的参数设置，见图三：图三备注：a.Add是添加参数设置，参数见设置好的数据。
EMC测试规范
前言各式各样之3C整合系统设备，带给人类生活无限方便利益, 却也造成复杂电磁杂讯环境。
四十年前欧体IEC/CISPR等委员会之电磁相容性(ElectroMagnetic Compatibility, EMC)研究小组有鉴于此电磁杂讯环境趋势，发出 89/336/EEC EMC 指令(及后续修订版92/31/EEC，93/68/EEC)，说明电子电机设备相关产品必须符合辐射干扰与传导干扰发射规格外，同时陆续增订辐射耐受性与传导耐受性规格，要求1996年元旦起强制实施，国内各类电子电机产品厂商为强化所生产产品符合内外销相关EMC指令，促使EMC测试场地快速成长，较大规模之资讯厂都趋向自行筹建EMI (ElectroMagnetic Interference)除错场地，加速产品EMC设计达到外销各国相关EMC需求。
然而为了验证电子电机设备电磁相容性设计是否良好，就必须在研发之整个过程中，对各种电磁干扰源之发射杂讯、传输特性及受干扰设备能否负荷耐受性测试，验证设备是否符合相关电磁相容性标准和规范；找出设备设计及生产过程中，在电磁相容性方面之盲点。
在客户安装和使用设备时，提供了既真实又有效之数据，因此，电磁相容性测试是电磁相容性设计所不可或缺之重要环节。
本文将针对EMC测试最新之军规、商规、车辆规范等作一比较分析测试方法差异及相关经验。
表一 .常见美军军规, 欧美商规及车辆用电磁干扰(EMI)测试项目摘要比较电磁干扰测试EMI传导放射CEMIL-STD-461D EN/IEC-欧联FCC-美国车辆-全车或零组件CE-101, 30HZ~10KHZ电源线传导干扰与辐射干扰EN550-11工业, 科学与医疗仪器EN550-13 广播接收机EN550-14家电及手工具产品EN550-15灯具类产品EN 550-22资讯类产品EN61000-3-2电流谐波EN61000-3-3电压变动与闪烁传导干扰与辐射干扰PART 15JPART 18传导干扰与辐射干扰CISPR 12SAE J551C72/245/EEC95/54/ECSAE J1113-23(扁条式天线)SAE J1113-25(平行板天线) CE-103, 10KHZ~10MHZ电源线, 电压量测CE-06(VBW)天线端10KHZ~40GHZ辐射放射RERE-101, 30HZ~100KHZ磁场量测RE-102, 10KHZ~18GHZ电场量测RE-103, 10KHZ~40GHZ假波与谐波表二.常见美军军规, 欧美商规及车辆用磁用耐受性(EMS)测试项目摘要比较电磁相容性测试范围与所采用之标准和规范依据相应之电磁相容性标准和规范，电磁干扰(EMI)及电磁耐受性测试(EMS)在不同频率范围内，采用不同之方式进行。
EMC基本测试报告格式及说明
随着电气电子技术的发展，家用电器产品日益普及和电子化，广播电视、邮电通讯和计算机网络的日益发达，电磁环境日益复杂和恶化，使得电气电子产品的电磁兼容性（EMC电磁干扰EMI与电磁抗EMS）问题也受到各国政府和生产企业的日益重视。
欧共体政府规定，从1996年1月1起，所有电气电子产品必须通过EMC认证，加贴CE认证标志后才能在欧共体市场上销售。
此举在世界上引起广泛影响，各国政府纷纷采取措施，对电气电子产品的RMC性能实行强制性管理。
根据欧盟的电磁兼容（EMC）指令2004/108/EC，所有在欧盟市场销售的电子电气产品必须在其对其他产品的干扰性及对外来影响的抗干扰性方面严格符合欧盟法律要求。
检验记录检验记录第 2 页共页检验负责人：审核：批准：职务：年月日年月日年月日抗扰度试验判据说明：检验项目：浪涌（冲击）抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-5:2005 、企业要求产品名称：商标型号：样品编号：1#试验条件：温度： 23 ℃，湿度： 52 %RH，正常大气压。
电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。
EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常，使受试设备处于正常工作状态。
试验等级：在受试设备的DC电源和信号线端口：正-负：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50μs（短路电流波形8/20μs），2Ω内阻正（或负）-地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50μs（短路电流波形8/20μs），12Ω内阻信号线对线：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50μs（短路电流波形8/20μs），15Ω内阻信号线对地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50μs（短路电流波形8/20μs），15Ω内阻要求符合性能判据B。
试验布置：严格按标准要求。
试验过程：：浪涌（冲击）电压施加在EUT的DC电源和信号线端口，60秒钟一次，正、负极性各做5次。
试验电压由低等级增加到规定的试验等级，较低等级均应满足要求。
电磁兼容与防护技术作业指导书
电磁兼容与防护技术作业指导书第1章电磁兼容基础理论 (4)1.1 电磁兼容概述 (4)1.1.1 电磁兼容概念 (4)1.1.2 电磁兼容发展历程 (5)1.1.3 基本术语 (5)1.1.4 电磁兼容性的重要性和应用范围 (5)1.2 电磁场理论 (5)1.2.1 电磁场基本方程 (5)1.2.2 边界条件 (5)1.2.3 波动方程 (5)1.2.4 电磁波的传播特性 (5)1.3 电磁兼容性分析与评价 (5)1.3.1 电磁干扰源识别 (5)1.3.2 电磁干扰传播途径分析 (6)1.3.3 电磁兼容功能评价 (6)1.3.4 防护措施 (6)第2章电磁干扰源及其特性 (6)2.1 自然干扰源 (6)2.1.1 静电放电：在干燥的气候条件下，物体间的摩擦容易产生静电，当静电积累到一定程度时，会发生放电现象，产生电磁干扰。
(6)2.1.2 雷电：雷电是一种强烈的电磁干扰源，其产生的电磁场强度可达到数千伏/米，对电子设备造成严重威胁。
(6)2.1.3 地球磁场变化：地球磁场的变化会导致电磁场的变化，对电磁敏感设备产生干扰。
(6)2.1.4 太阳活动：太阳活动（如太阳黑子、耀斑等）会产生高能粒子流，影响地球的电离层，进而影响电磁波的传播。
(6)2.2 人为干扰源 (6)2.2.1 电力系统：电力系统中，输电线路、变电站、开关设备等都会产生电磁干扰。
62.2.2 通信系统：无线通信、广播、雷达等设备在发射信号时，会产生电磁干扰。
(6)2.2.3 工业设备：电机、变压器、高频焊接机等工业设备在运行过程中，会产生较强的电磁场。
(6)2.2.4 交通工具：汽车、飞机、火车等交通工具的发动机、点火系统等部件也会产生电磁干扰。
(7)2.3 干扰源特性分析 (7)2.3.1 频率特性：不同干扰源具有不同的频率特性，包括连续频谱、离散频谱和宽带频谱等。
(7)2.3.2 空间特性：干扰源的空间特性表现为电磁波的传播距离、传播方向以及干扰范围的差异。
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EMC测试作业指导书一．EMC 测试类型EMC测试包括ESD测试，EFT测试，Surge 测试，Harmonic 测试，Flicker 测试，Conducted Immunity 测试，Power Dip测试和EMI 测试，相应的测试标准和测试方法将在下面详细介绍。
二．名词定义：ESD：静电放电EFT：电快速瞬变脉冲群Harmonic ：谐波Flicker ：闪烁发射Surge ：浪涌Power Dip：电压跌落Conducted Immunity : 传导免疫性EUT：受试设备三．测试规划5.1 ESD测试5.11测试目的验证产品设计的成熟度，模拟在干燥地区易遭受静电放电的情况，保证产品在ESD下性能保持完好，功能正常，不被损害。
5.12 测试标准按照EN61000-4-2 进行，测试电压为8KV（空气放电）和4KV（接触放电）.5.13 测试场地BQC EMC实验室5.14 测试设备NoiseKen ESS-2002(静电测试器)5.15 ESD原理一个充电的导体接近另一个导体时，就有可能发生ESD。
首先，两个导体之间会建立一个很强的电场，产生由电场引起的击穿。
两个导体之间的电压超过它们之间空气和绝缘介质的击穿电压时，就会产生电弧。
在0.7ns到10ns的时间里，电弧电流会达到几十安培，有时甚至会超过100安培。
电弧将一直维持直到两个导体接触短路或者电流低到不能维持电弧为止。
可能产生电弧的实例有人体、带电器件和机器。
人的自然动作摩擦会形成400～600V电势，如果他们在打开或包装泡沫衬底纸箱或气泡塑料袋过程中一直接触的都是绝缘体，其身体表面上的净电荷积累可能达到约26,000V。
针对大多数环境的产品和通用标准决定使用如5.12标准所列的测试水平.5.16 测试方法1.EUT 按照正常运行时的典型安装进行布局和配置,并将所有电缆都连接上.对地的连接尤为重要.EUT 放置在离地平面80cm 的木桌上,设备下面放置一个水平耦合板,但该耦合板与设备之间绝缘隔离.如图5.1.2.信号输入 将Notebook 的信号输入到EUT 的D-Sub 端口,将DVD Player 信号输入到EUT ，运行一段程序.3.静电放电发生器设置 静电放电发生器的面板如图5.2所示。
通过模式选择可以选“电压设定”“时间参数”“放电次数”，分别对应数字屏的第一栏，第二栏，第三栏，一旦选择好一项，相应的栏会闪烁，可以通过上下键来改变参数，通过“SET ”键确认。
“清零”键将所有的参数归零。
参数设定后，就可以通过START 和END 键控制静电放电发生器的动作。
开始后，警示灯会闪烁。
注意，只有在接触放电也即AIR/CONDUCT 按下后，相应的第二栏和第三栏参数才可设定。
4.施加放电4.1 接触放电接触放电是首选的测试方式,要求EUT 具有导电的表面或不被认为是起绝缘作用的喷涂表面.在相同的点选用正负极性电压(±4KV )施加单次放电,每个点单次放电的次数不少于10次,每次之间的间隔不小于1S.接触放电使用尖头端子.静电放电发生器应与EUT 表面垂直,或者与耦合平面在同一平面内且对准耦合平面的中心边缘. 4.2 空气放电 空气放电是指在不具备接触放电测试条件的某些点,在这些点上施加空气放电有可能会引发内部电路产生故障,例如:按键边缘,连接器或通风孔等.对于空气放电,使用圆头端子,放电尖端应尽可能快的接近EUT,但注意不能导致设备受损,由于这种测试不能慢慢接近受EUT,因此需要测试者精力充沛且有积极性.空气放电的电压为±8KV . 4.3模拟放电 这种间接放电施加到距EUT 固定距离的一个耦合板上,耦合板的大小为50cm ×50cm,与EUT 的距离为10cm,并行放置,包括垂直耦合和水平耦合.EUT 的四个面都要施加这种耦合放电.耦合放电的方法:在耦合板的边缘中间用尖头端子单点施加±4KV 电压,至少十次,每次间隔不小于1S. 5.17 测试结果LOADs:图5.25.2 EFT 测试5.21测试目的验证产品设计的成熟度，评估EUT 对来自操作暂态过程（诸如开断感性负载、继电器触头弹跳等）中各种瞬态扰动的抗扰性。
5.22测试标准按照IEC 61000-4-4进行。
5.23测试场地BQC EMC 实验室 5.24测试设备TRANIENT 2000，PC 5.25EFT 原理快速瞬间脉冲群被规定为：源阻抗50Ω、上升时间与持续时间为5ns/50ns 的单脉冲（如图5.2.1），并以5KHz （在最大测试电压时为2.5KHz ）的重复频率持续15ms,每300ms 施加一次的脉冲群（如图 5.2.2），电压水平变化的范围为250V ～4KV 。
10%50%90%Pulse RateT50 nsec +30 %5nsec +30 %图5.2.1 单脉冲波形图Incident BurstPossible IC inputV staircase due to Burst. Must not be synched to AC line300msec +20 %15msec 20 %图5.2.2 脉冲群规格电源线耦合网络以共模方式通过电容（相对于地面）向每一根电源线施加脉冲，同时每根电源线的源通过一个LC网络去耦。
对信号的耦合可以使用容性耦合夹，这实质上是连接到发生器上的两块金属板，它可将受测试线夹在其中，以提供一个分布式耦合电容。
测试布置简图如图5.2.3 。
图5.2.3 EFT布置简图5.26 测试水平5.27测试方法将台式EUT放置在地平面上80cm高的一个绝缘桌上，同时，使用1m长的电源电缆将EUT连接到耦合网络，该网络本身与地平面连接在一起。
若EUT外壳上有一个单独的保护接地端，那么它也要通过这一耦合网络连接到地平上，这是因为瞬态干扰也会直接作用在其上。
I/O电缆则需要穿过放置在地平面上方10cm高处的容性耦合夹。
测试软件Genecs.设置和操作如附件一。
5.3 Surge 测试5.31测试目的在电源线和长信号线上可能出现高能量但相对较慢的瞬态过电压现象,它通常是由线缆附近的雷击所引起的.Surge 测试的目的是确保EUT能够承受得起规定水平的瞬态干扰,而不会出现故障或者工作状态混乱.5.32测试标准按IEC 61000-4-5进行.5.33测试场地BQC EMC 实验室5.34测试设备TRANSIENT 2000, PC5.35 Surge原理浪涌瞬态被耦合进电源、I/O端口,因为EUT中的保护装置(如果没有保护装置,可能发生闪络或元件击穿)动作时将自动地从高阻抗转换到低阻抗,所以测试中使用的浪涌发生器输出的是电压和电流的组合波.发生器的电路元件值必须加以限制,以使发生器可以在高阻抗负载上产生 1.2/50μｓ的电压浪涌波形,以及在短路负载上产生8/20μｓ的电流浪涌波形(如图5.3.1),对EUT施加波形时必须通过耦合/去耦网络（参见图5.3.2 ）。
图5.3.1 浪涌波形图图5.3.2 浪涌波形的规格及其耦合方法5.36测试水平口的浪涌信号幅度为0.5 KV 。
5.37测试方法对于电源端口,高能浪涌需要施加在相线之间和相线与地之间;对于I/O线缆,需要施加线对线的浪涌和线对地的浪涌,只是源阻抗稍高一些.2Ω代表电源网络的差模源阻抗,12Ω代表线对地的电源网络阻抗,42Ω代表所有其他线缆的线对线源阻抗和线对地源阻抗.施加浪涌的次数:10次(正、负极性各5次);重复率: >1次/min.软件操作: 参见附录一,相应的软件程式不同。
5.38测试结果5.4Power Dip 测试5.41测试目的模拟EUT在供电电源不连续和中断的情况下的抗扰度。
5.42测试标准按EN61000-4-11进行测试；5.43 测试场地BQC EMC 试验室5.44测试设备TRANSIENT 2000, PC5.45测试原理电气和电子设备可能会受到电源电压跌落、短时中断或电压变化的影响。
电压跌落和短时中断是由网络和设备中的故障引起的，或者由突发的、大的负载变化导致。
在特定情况下，可能会发生多次跌落或中断。
电压变化则由连接到网络上的连续变化的负载所导致的。
这些现象在本质上都是随机的。
电压跌落和短时中断不总是突然的。
如果大型电源网络被切断，则因为在该网络上连接有大量电动机设备，电压会逐步下降。
在短时间内，这些电动机设备相当于向电源网络中发送能量的发电机。
由于跌落和中断测试在通用的抗扰度标准和一些产品中被引用，所以这些测试非常重要。
5.46测试水平照预定的方式使用，则不允许有任何在生产商规定的性能水平以下的性能降级或者功能丧失。
但是在测试期间，允许有性能降级，但不允许有实际的工作状态或者存储数据的改变。
性能指标C ：暂时的功能丧失是允许的，只是功能丧失可以自动恢复，或者可以通过控制操作恢复正常。
跌落电压波形如图5.4.1 和5.4.2.图5.4.1 70%的电压跌落图5.4.2 >95%的电压跌落5.47 测试方法在Surge 测试完毕后，将相应的程序换成Power Dip 的测试程序，分别为short, interruptions, voltage variation, 相应的软件操作同Surge ，参见附录一。
5.48 测试结果5.5Flicker 测试5.51测试目的验证产品设计的成熟度，限制EUT的电压波动对公共电网的影响程度。
5.52测试标准EN61000-3-35.53测试场地BQC EMC实验室5.54测试设备Harmonics 10005.55测试原理闪烁（Flicker）的定义为：由光线刺激（光线的亮度和谱分布随着时间变化）所带来的视觉上的不稳定性的主观感受。
就EMC而言，这个问题是指由电力网络上负载的变化所产生的在公共连接点上的电压的变化，这个变化大到足以使连接到其上的光源产生闪烁，而受影响的光源可能与导致变化的负载设备并没有什么关联。
能产生闪烁的典型设备包括：任何在运行期间切换变化的负载的装置，大多数家用电器都归入这一类设备；其他特殊的产品是指具有温度由脉冲点火控制加热器的设备。
闪烁总共包括以下三个主要因素：1.相对电压变化；2.短期闪烁值Pst；3.长期闪烁值Plt；电压变化本身不足以形成闪烁的可感知性，在闪烁的频率变化时，人类的眼脑结合对闪烁的感觉是变化的。
标准规定Pst不能大于1 ；标准同时表明，对于通常一次工作超过30分钟的设备，长期闪烁是必须要做的。
观察周期是2小时，也就是连续记录12个Pst值，Plt的值不允许大于0.65。
有效的正当理由是：尽管一般人可以忍受高达1的Pst值达10分钟，但如果闪烁能持续更长的时间，则人的过敏阈值会更低。