物相分析常见问题详解
03-X射线物相分析要点-34页文档资料
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衍射方向:是由布拉格方程方程所决定
2dsinn
式中d为晶面间距,θ 入射线(或反射线)与晶面之夹角 即布拉格角,2θ 入射线与衍射线之间的夹角则为,λ 辐射线波长,n 为整数即反射的级。
θ θ
180o-2θ
2dsinn
布拉格方程的应用
在实际应用中,如果知道其中二个参数,就 可求出其余的一个参数。
可通过调节管电流来增加辐射线输出功率,但 最大负荷不允许超过额定功率的80%,否则会影 响X射线管的使用寿命。
各类狭缝
衍射仪中有三个狭缝是经常更换,分别为发散 狭缝(DS)、防散射狭缝(SS) 及接收狭缝(RS)。
发散狭缝,决定了射线水平方向的发散角,限 制试样被照射的面积。
在定性分析时常选用1º发散狭缝,在低角衍射 时可使用1/2º或1/6º发散狭缝。
试样要求
X射线衍射分析中,常见试样包括块状试样 和粉末试样,可能是晶体也可能是非晶体,可 能是多晶也可能是单晶。
块状试样并没有严格的要求,但尺寸太小时衍 射信号较弱。
当块状试样织构严重时,对其相互垂直的三个 表面分别分析,以得到较全面的实验结果。
试样被测表面平整和清洁。
粉末试样也没有严格要求,但试样太少时衍 射信号较弱,一般需要20×18×0.5mm3体积。
管电压与管电流
当管压较低时特征X射线强度近似与其平方呈 正比,当管压超过激发电压5~6倍时射线强度的 增加率下降。
管电压较低时特征X射线与连续X射线强度之 比,随管压的增加接近一个常数,但当管压超过 激发电压4~5倍时反而变小。
常用Cu靶最佳管电压范围为35~45kV
管电流的影响相对简单,由于X射线辐射强度 与管电流呈正比。
防散射狭缝,是防止空气等物质引起的散射线 进入探测器,一般与发散狭缝开口角相同。
XRD常见问题分析大全
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1.做XRD有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)...等等,应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物,对于有机物应用较少。
关于XRD的应用,在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章,不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构?XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的"晶态"物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"(其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度")。
如果这些"峰"明显地变宽,则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,可以称之为"微晶"。
XRD常见疑问及解答
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[一般问题]做XRD有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)...等等,应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物,对于有机物应用较少。
关于XRD的应用,在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章,不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构?XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的"晶态"物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"(其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度")。
如果这些"峰"明显地变宽,则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,可以称之为"微晶"。
X射线衍射技术之四-物相分析
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什么是物相?
物相是从结构角度对某一物质种类的描述. 化学组成相同但结构类型不同的物质视为不 同的物相,如方解石和文石.化学组成不同但结 构类似的物质也属不同的物相,因为二者在结 构参数方面存在差别.
物相分析分为定性分析和定量分析。定性分 析目的是确定待测物质成分及结构类型;定 量分析不仅确定物质成分及结构类型,而且 确定各物相质量分数。因此定性分析是定量 分析的基础和前提。
1.粉末衍射卡
粉未衍射卡(Power Diffraction File, 简称 PDF卡)是1941年美国道氏化学(Dow Chemical)公司从1938年起由哈那瓦尔物(J. D. Hanawalt)等人首创的标准衍射数据,在 美国材料试验协会(ASTM)的赞助下,以3 inch×5 inch (76.2 mm×127 mm)的卡片形 式发行,故也称ASTM卡。
I j Cj
Vj
Cj
fj
式中Cj──样品中与第j相有关的常数; μ ──混合样品的线吸收系数.
fj W j m m m Ij C 将 代入 V x j 变换为以xj和µ m表示的形式如下
fj
j
Ij
Cj xj
j m
Cj
'
xj
m
此式是X射线物相定量分析的基本公式。µm不是j相 的质量吸收系数,而是整个待测试样总的质量吸收 系数. n
第2节 XRD物相定量分析
一.定量分析法原理
X射线定量相分析方法是在完成了样品 的物相定性分析工作的基础上,利用衍射 花样中待测相衍射强度,分析每个相在样 品中的重量百分含量的技术。
XRD粉末衍射强度公式:
3 4 2 I e 1 c o s 2 1 2 2 2 M 0 I ( 2 ) ( ) ( F P N ) (2 ) ( e) () V h k l h k l h k l 4 3 2 m c R s i n c o s 2
材料课堂——XRD常见问题详解(二),超实用!!
![材料课堂——XRD常见问题详解(二),超实用!!](https://img.taocdn.com/s3/m/dcddff0a0a4e767f5acfa1c7aa00b52acfc79cfc.png)
材料课堂——XRD常见问题详解(二),超实用!!展开全文衍射峰的强度和很多因素有关,比如样品的衍射能力,性质,还有仪器功率,测试方法,检测器的灵敏度等等。
XRD 衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小,还是与晶体颗粒大小有关?样品中晶粒越小,衍射峰的峰高强度越来越低,但是峰越来越宽,实际上利用X 射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的(Scherrer 公式)。
晶粒大小和颗粒大小有关系,但是其各自的含义是有区别的。
一颗晶粒也可能就是一颗颗粒,但是更可能的情况是晶粒抱到一起 , 二次聚集, 成为颗粒。
颗粒不是衍射的基本单位, 但是微小的颗粒能产生散射。
你磨的越细, 散射就越强.。
对于晶粒, 你磨过头了, 晶体结构被破坏了, 磨成非晶, 衍射能力就没有了。
磨得太狠的话,有些峰可能要消失了,而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加,最终会变成1 个或几个'鼓包'。
一般晶面间距大的峰受晶粒细化的影响会明显一些,因为 d 值大的晶面容易被破坏。
衍射强度变弱本质的原因是由于晶体颗粒变小,还是样品颗粒变小?强度除了和晶粒度有关外,还和晶粒的表面状态有关。
一般颗粒越细,其表面积越大,表面层结构的缺陷总是比较严重的。
结构缺陷将导致衍射强度降低和衍射峰宽化。
XRD 研究的应该是晶粒、晶体的问题,与晶体结构关联的问题,不是样品颗粒的大小问题,谢乐公式算的应该也是晶粒的大小。
样品颗粒的大小要用别的方法测定.,例如光散射、X 射线散射、电镜等。
细针状微晶粉末样品做 XRD 重复性很差。
(制作粉末衍射样品片)怎么可以避免择优取向?择优取向是很难避免的,只能尽力减少他的影响。
首先,你要讲样品磨得尽量细(但要适度,要注意样品的晶体结构不要因研磨过度而受到损坏);不要在光滑的玻璃板上大力压紧(压样时可以在玻璃板上衬一张粗糙的纸张),样品成形尽可能松一些;制样过程中也可以掺一些玻璃粉,或加一些胶钝化一下样品的棱角。
关于物相的定量分析的九个难点问题
![关于物相的定量分析的九个难点问题](https://img.taocdn.com/s3/m/55c97ab165ce0508763213b3.png)
楼主发表于: 2010-10-06倒序阅读┊全看┊小中大关于物相的定量分析的九个难点问题第一个问题:为什么不能做物相定量?样品往往不是单一物相,因此,人们总想了解其中某种相的含量。
人们的理解总是认为哪怕只是一种近似的结果,也比没有结果要好。
为了要说明定量分析的问题,我们还是了解一下,一张X射线衍射谱图中包含一些什么信息。
这些信息主要有三个方面,也是三个方面的应用:一是衍射峰的位置。
这方面的信息主要用于物相的鉴定、晶胞参数的精修、残余应力的测量。
二是衍射峰的峰高或者面积,我们称之为强度。
这方面的信息主要用于物相的含量、结晶度以及织构的计算。
三是衍射峰的形状,我们称为线形。
这方面的信息又包括两个方面,其一是衍射峰的宽度,我们可以用来计算亚晶尺寸的大小(常被称为晶粒大小)和微观应变的计算。
另一个则是线的形状,主要是指峰形是否对称,这方面用来计算位错、层错等。
不过,后者做的人少,研究也不是很完全,因此,应用不是很广泛。
从上面的了解,我们应当知道,不同的实验目的,实验的观察点不同,也就是强调的对象是不同的,如果仅仅为了鉴定物相,一个常规的实验条件就完全可以应付,如果要做晶胞的精修,则需要严格一些的实验条件。
如果要做定量分析,我们的强调点是峰的强度。
我们为什么能利用衍射谱来做物相的含量分析呢?其原理就是基于物相的含量W与该物相的衍射强度成正比。
可以简单地写成W=CI。
W是物相的质量分数,I是该物相的衍射强度。
C是一个系数,但不是一个常系数。
不过,在一定条件下它是一个常数。
遗憾的是,这个常数通常不能通过理论计算得出,而是需要通过实验来测量,每当实验条件改变(包括样品中的物相种类的改变、任一物相含量的改变、观察峰的改变、甚至于物相产地改变、所用辐射改变、晶粒尺寸改变……如此等等,不一而足)这个系数是变化的。
围绕如何想办法得到这个系数C,历代的大师和小师推导出了十几种具体的测量方法,而这些方法又是在某种环境下能使用在另一种环境下不能使用的。
XRD分析常见问题整
![XRD分析常见问题整](https://img.taocdn.com/s3/m/2b17c210fad6195f312ba6eb.png)
[一般问题]做XRD有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)...等等,应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物,对于有机物应用较少。
关于XRD的应用,在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章,不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构?XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的"晶态"物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"(其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度")。
如果这些"峰"明显地变宽,则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,可以称之为"微晶"。
XRD常见问题分析大全
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1。
做XRD有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生X射线衍射.晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构.晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息.用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法.XRD特别适用于晶态物质的物相分析.晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异.因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)...等等,应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物,对于有机物应用较少。
关于XRD的应用,在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章,不妨再深入看看.如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构?XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的"晶态”物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰”(其半高度处的2θ宽度在0.1°~0。
2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的”最小宽度”)。
如果这些”峰"明显地变宽,则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,可以称之为”微晶".晶体的X射线衍射理论中有一个Scherrer公式,可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。
XRD常见问题解答
![XRD常见问题解答](https://img.taocdn.com/s3/m/e1a6262383c4bb4cf7ecd11c.png)
XRD常见问题“大杂烩”Q: XRD能做什么?A: XRD(X 射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布, 晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度以至衍射峰形上就显现出差异。
通过检查样品的X 射线衍射图以及与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比,便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算, 可以完成样品物相组成的定量分析。
XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)以及材料中应力测量等,应用面十分普遍、广泛。
这是一个言简意赅的应用介绍:/mrl/centralfacilities/xray/xray-basics/index. htmlQ: 拿到XRD结果怎么分析? 求高手分析!A: 分析XRD图谱就是通过衍射现象找到样品晶体结构的定性和定量特征。
方法在材料学专业的课程中讲得很清楚, 你可以去借一本材料学必修的类似于“近代仪器分析”“材料分析方法”“材料表面界面及微结构表征”等的课程的教材来看, 里面一般都会有XRD一章的原理,用途,分析介绍。
总的来说,希望新手们能够主动去学习XRD,而不是光问问题,等着别人来解答。
如果实在懒得学,你也要明白你需要从这个谱中得到什么信息。
论坛上没有哪个"高手"比你更清楚你自己的样品,请描述清楚样品尽可能多的信息及实验谱数据和目的。
Q: 怎么判定XRD图谱是非晶还是晶体的结构?A: 三者并无严格明晰的分界。
晶体原子排列是短程(<10Å)有序, 长程(>10Å)也有序, 非晶体是短程有序, 长程无序. “晶态”物质的XRD 图谱包含若干个彼此独立的尖峰(最窄峰宽由衍射仪器几何和各种狭缝宽度决定)。
如果这些"峰"明显地变宽,则可以判定样品中晶粒尺寸变小。
XRD常见问题分析大全【范本模板】
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1.做XRD有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构.晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图.XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析.晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)。
..等等,应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物,对于有机物应用较少。
关于XRD的应用,在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章,不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构?XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的”晶态"物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰”(其半高度处的2θ宽度在0。
1°~0。
2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的”最小宽度").如果这些”峰"明显地变宽,则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,可以称之为"微晶”。
XRD物相分析
![XRD物相分析](https://img.taocdn.com/s3/m/96294d7959fafab069dc5022aaea998fcc22401f.png)
z 思路
① 首先根据制备样品的过程判断可能出现 的相,以及各相出现的可能性的大小。
② 已先易后难的原则用单相的PDF卡片去 和实验结果对比,排除符合较好的衍射 峰。将剩余的衍射峰再与其他可能出现 的单相PDF卡片比较,标记、排除。
③ 重复这个过程直至所有的峰确定完毕
分析实例
z 样品 在氢气中还原5分钟的钴铁氧体纳米颗粒
最后结果
(110)
(220)
(220)
(400)
CoFe2O4 CoFe2
(440) (511)
(200) (533) (211)
可能存在的问题
z 对反应产物判断不准造成相分析的失误 应对方法:其他手段测定待分析物相的化 学成分,估计可能的物相。
z 可能存在的相由于结构相近,衍射峰重 叠,不易判断。 应对方法:前一相分析完毕,重叠谱线不 做排除,归入待分析谱线中。
z 可能含有的相(依照可能性大小排列)
CoFe2O4 CoXFeY CoO / FeO
母相 还原产物 中间相
z 原始XRБайду номын сангаас衍射谱
z 样品谱线与CoFe2O4 PDF卡片比较
CoFe2O4 Unkown
z 与CoXFeY比较
z 排除FeO/CoO相
z CoFe2晶相的确定 参考了PDF卡片中铁钴合金衍射谱最强峰的d值
XRD多相定性分析浅析
报告的组成部分
z 背景 z 处理思路 z 分析实例 z 可能存在的问题
背景
z 当开发复合材料成为当今新材料研发的重 要领域时,多相分析的地位日益重要。
z 传统材料制备中,分析杂相。
处理思路
z 前提 多相混合物质的衍射谱图是由构成试样各 相的德衍射谱叠加而成的,某一相的衍射 线位置不因其他相的存在而改变。如果各 相的吸收系数类似,则强度也不受其他相 的存在的影响。
物理实验技术中常见的图像采集与分析疑难问题解答
![物理实验技术中常见的图像采集与分析疑难问题解答](https://img.taocdn.com/s3/m/f891c227c4da50e2524de518964bcf84b8d52d50.png)
物理实验技术中常见的图像采集与分析疑难问题解答在物理实验中,图像采集与分析是非常重要的一环。
通过图像采集,可以获取实验数据并进行进一步的分析,以便得出准确的结论。
然而,由于实验条件复杂、仪器设备的特殊性,常常会遇到一些疑难问题。
本文将围绕物理实验技术中常见的图像采集与分析疑难问题进行解答,帮助读者更好地应对实验中的挑战。
一、图像采集问题解答1. 图像模糊:在进行图像采集时,有时会出现图像模糊的情况,这可能是由于焦距不准确、物体运动等原因导致的。
解决方法是调整焦距或使用快门速度较快的相机,以减少图像模糊的可能性。
2. 图像曝光过度或不足:曝光过度或不足都会导致图像的细节无法清晰地显示出来。
对于曝光不足的情况,可以适当增加光照强度或延长曝光时间;对于曝光过度的情况,可以减少光照强度或缩短曝光时间。
3. 图像噪声:图像采集过程中,可能会受到环境光干扰或仪器自身的噪声影响,导致图像出现噪点。
解决方法是采用降噪算法或增加图像曝光时间,以提高图像质量。
4. 图像失真:在长距离传输图像或高速采集图像时,可能会出现图像失真的情况。
解决方法包括增加传输带宽、使用高质量的传输线材,以及优化图像传输算法等。
二、图像分析问题解答1. 特征提取:对于复杂的图像,特征提取是图像分析的重要步骤。
常用的特征提取方法包括灰度共生矩阵、图像边缘检测、纹理分析等。
选择适当的特征提取方法,可以更好地描述和区分图像中的目标物体。
2. 目标识别:在图像中识别目标物体,如颗粒、细胞等,是图像分析的主要任务之一。
常用的目标识别方法包括阈值分割、形态学处理、机器学习等。
选择合适的目标识别方法,可以有效地提高识别准确率。
3. 图像配准:当需要对不同角度或不同时间拍摄得到的图像进行比较时,需要进行图像配准。
图像配准可以通过特征点匹配、投影变换等方法实现。
正确的图像配准方法可以将不同图像的坐标系对齐,使得比较更加准确。
4. 图像处理与分析软件选择:在进行图像分析时,选择合适的图像处理与分析软件对结果的准确性和效率有很大影响。
XRD实验物相定性分析解析
![XRD实验物相定性分析解析](https://img.taocdn.com/s3/m/916ea21d03d8ce2f01662303.png)
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作。
二、实验仪器D8 Advance型X射线衍射仪组成:主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元及附件(高温、低温、织构测定、应力测量、试样旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪(1)测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台;O-测角仪中心轴;S-X射线源;M-刻度盘;图1. 测角仪结构原理图图2. 测角仪的光路图X射线源S是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2θ夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
θ角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成 2—I的关系曲线,即X射线衍射花样。
相对(2)X射线发生器图3. X射线产生装置X 射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
XRD基本问题
![XRD基本问题](https://img.taocdn.com/s3/m/f5431e19336c1eb91a375d89.png)
XRD基本问题任何一个衍射峰都是由五个基本要素组成的,即衍射峰的位置,最大衍射强度,半高宽,形态及对称性或不对称性。
这五个基本要素都具有其自身的物理学意义。
衍射峰位置是衍射面网间距的反映(即Bragg定理);最大衍射强度是物相自身衍射能力强弱的衡量指标及在混合物当中百分含量的函数(Moore and Reynolds,1989);半高宽及形态是晶体大小与应变的函数(Stokes and Wilson,1944);衍射峰的对称性是光源聚敛性(Alexander,1948)、样品吸收性(Robert and Johnson,1995)、仪器机戒装置等因素及其他衍射峰或物相存在的函数(Moore and Reynolds,1989;Stern et al.,1991)。
2现有一张XRD图谱,其中的每一条衍射峰的位置(即衍射角度)都与标准图谱完全吻合,但峰的强度不一样,这是什么现象,能说明什么问题?XRD谱图峰位置与标准谱图完全吻合,但峰的强度不一样,这是很正常的。
你得注意:其相对强度大小是不是一样的。
XRD测试是一个半定量的仪器,某种组分的衍射峰强度跟其在物质中的含量有关,含量越大,峰强度越强。
但是它的一个晶面跟该成分另外一个晶面的衍射峰强度的相对比之应该是一定的。
这样才能说是某种成分存在,否则,即使峰位置吻合,也不能肯定是该物种!3,JADE 5.0的应用,No2 数据的输入Jade软件可以直接读取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等很多衍射仪的原始数据。
打开File\patterns,将出现如附件中所示画面,先(I)找到你文件位置,从(III)的下拉框中选择你的数据格式,按(II)选择。
很多仪器输出文件的格式都是*.raw,实际上都是不一样的,但格式选错了也没关系,软件会给你自动转到合适的格式中去的。
高级一点的:有一些数据格式在(III)的下拉框中没有,比如最常见的txt,xy等,此时你可以自己动手设置,在以上的数据输入面板中,点击工具栏上的“import",进入格式设置画面,如附件所示,a区为注释区,b区为数据格式区,对于最简单的一列角度,一列强度的数据格式,a区不用填写,b区在”angle column“前打上勾,数据从第1行开始读,每行1列数据,强度数据从第8行开始(角度不算),角度从1至6列,所得数据格式即为附件中所示的数据格式。
物相定性分析步骤及其局限性讲解
![物相定性分析步骤及其局限性讲解](https://img.taocdn.com/s3/m/723dd4ee6bd97f192379e92f.png)
物相定性分析步骤物相定性分析可以简单分为2步:1:利用布拉格公式2dsinθ= λ ,通过计算机将图谱中的衍射峰位转换成d值,衍射强度按百分比计算I(I=I测/I最大*100)。
得出只与相的特征有关而与仪器、波长无关的d-I列表,代替实际图谱。
2:将试样的d-I数据与PDF卡片的数据对比,可检测出待测试样中的物相。
而第二步,称为物相检索,通常又可以分为以下三步:1:给出检索条件,包括检索子库(如无机物、矿物、合金、陶瓷……)、可能含有的元素等等。
2:计算机按照给定的检索条件对d-I数据进行匹配,并计算出匹配因子(FOM)。
完全匹配时,FOM=0,完全不匹配时,FOM=100。
3:操作者通过观察匹配程度做出判断,检索出一定存在的物相。
4:判断是否将所有的物相检索出来,如果没有,重新设定检索条件,重复以上步骤。
判断物相是否存在的条件1:PDF卡片中峰位与测量谱的峰位是否匹配。
2:PDF卡片的峰强比与样品峰的的峰强比大致相同3:检索出的物相包含元素必须在样品中存在。
物相分析的局限性1:难以检测混合物中的微量相。
这些微量相可能将不足以产生自身完整的衍射图样,或者根本不出现衍射线条。
2:薄膜、薄层可视为二维晶体,它们的某些晶面不存在,因此某些面的衍射线不会出现。
3:由于加工、切削、磨制过程中产生晶粒严重的择优取向,其衍射谱可能与完全无序的衍射谱差别较大,给物相分析带来困难。
4:固溶体中由于其它原子的溶入,导致点阵常数变化,其衍射谱与标准衍射谱偏离较多。
5:多相材料中由于峰的重叠严重,量少的相可能检不出或不能确定。
6:纳米材料的峰形严重宽化,某些衍射线被重合。
7:没有录入PDF卡片的物质无法做物相分析。
试述X射线粉末衍射法物相分析过程及其注意的问题答物相
![试述X射线粉末衍射法物相分析过程及其注意的问题答物相](https://img.taocdn.com/s3/m/0c43ced8a58da0116c17496b.png)
§3-5.试述X射线粉末衍射法物相分析过程及其注意的问题。
答:物相分析过程:
9首先用粉末照相法或粉末衍射仪法获取被测试样物相的衍射花样或图谱。
9通过对所获衍射图谱或花样的分析和计算,获得各衍射线条的2θ、d值及相对强度大小I/I1。
9使用检索手册,查寻物相PDF卡片号。
9若是多物相分析,则在上一步完成后,对剩余的衍射线重新根据相对强度排序,重复上述步骤,直至全部衍射线能基本得到解释。
应注意的问题:
9一般在对试样分析前,应尽可能详细地了解样品的来源、化学成分、工艺状况,仔细观察其外形、颜色等性质,为其物相分析的检索工作提供线索。
9尽可能地根据试样的各种性能,在许可的条件下将其分离成单一物相后进行衍射分析。
9由于试样为多物相化合物,为尽可能地避免衍射线的重叠,应提高粉末照相或衍射仪的分辨率。
9对于数据d值,由于检索主要利用该数据,因此处理时精度要求高,而且在检索时,只允许小数点后第二位才能出现偏差。
9特别要重视低角度区域的衍射实验数据,因为在低角度区域,衍射所对应d值较大的晶面,不同晶体差别较大,衍射线相互重叠机会较小。
9在进行多物相混合试样检验时,应耐心细致地进行检索,力求全部数据能合理解释。
9在物相定性分析过程中,尽可能地与其它的相分析结合起来,互相配合,互相印证。
XRD实验物相定性分析解析
![XRD实验物相定性分析解析](https://img.taocdn.com/s3/m/916ea21d03d8ce2f01662303.png)
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作。
二、实验仪器D8 Advance型X射线衍射仪组成:主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元及附件(高温、低温、织构测定、应力测量、试样旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪(1)测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台;O-测角仪中心轴;S-X射线源;M-刻度盘;图1. 测角仪结构原理图图2. 测角仪的光路图X射线源S是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2θ夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
θ角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成 2—I的关系曲线,即X射线衍射花样。
相对(2)X射线发生器图3. X射线产生装置X 射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
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第一个问题:为什么不能做物相定量?样品往往不是单一物相,因此,人们总想了解其中某种相的含量。
人们的理解总是认为哪怕只是一种近似的结果,也比没有结果要好。
为了要说明定量分析的问题,我们还是了解一下,一张X射线衍射谱图中包含一些什么信息。
这些信息主要有三个方面,也是三个方面的应用:一是衍射峰的位置。
这方面的信息主要用于物相的鉴定、晶胞参数的精修、残余应力的测量。
二是衍射峰的峰高或者面积,我们称之为强度。
这方面的信息主要用于物相的含量、结晶度以及织构的计算。
三是衍射峰的形状,我们称为线形。
这方面的信息又包括两个方面,其一是衍射峰的宽度,我们可以用来计算亚晶尺寸的大小(常被称为晶粒大小)和微观应变的计算。
另一个则是线的形状,主要是指峰形是否对称,这方面用来计算位错、层错等。
不过,后者做的人少,研究也不是很完全,因此,应用不是很广泛。
从上面的了解,我们应当知道,不同的实验目的,实验的观察点不同,也就是强调的对象是不同的,如果仅仅为了鉴定物相,一个常规的实验条件就完全可以应付,如果要做晶胞的精修,则需要严格一些的实验条件。
如果要做定量分析,我们的强调点是峰的强度。
我们为什么能利用衍射谱来做物相的含量分析呢?其原理就是基于物相的含量W与该物相的衍射强度成正比。
可以简单地写成W=CI。
W是物相的质量分数,I是该物相的衍射强度。
C是一个系数,但不是一个常系数。
不过,在一定条件下它是一个常数。
遗憾的是,这个常数通常不能通过理论计算得出,而是需要通过实验来测量,每当实验条件改变(包括样品中的物相种类的改变、任一物相含量的改变、观察峰的改变、甚至于物相产地改变、所用辐射改变、晶粒尺寸改变……如此等等,不一而足)这个系数是变化的。
围绕如何想办法得到这个系数C,历代的大师和小师推导出了十几种具体的测量方法,而这些方法又是在某种环境下能使用在另一种环境下不能使用的。
每种方法的不同要求等于给实验方法本身加上了一把锁,使得人们不能真正好好地、简便地利用它。
这些方法主要包括两方面:一种是需要标样的,称为“有标法”。
也就是说,除了要测的样品,需要往样品中加入某种纯物质。
而这些个纯物质往往是不易求得的。
比如,某人在合成一种新物质,总是发现合成物中有各种各样的杂质,他希望计算一下不同条件下这种新物质的含量。
实验方法要求他提供这种新物质的纯样品。
而实际情况是,他如果得到了这种新物质的纯样品,也就是他合成成功的那一天,他还需要你来算个什么含量呢?再举个例子,一位包工头发现,建的房子老是倒了。
地基不行。
因为地基里有含量很高的蒙脱土,一下雨就膨胀,房子就会倒。
他需要了解这种土里的蒙脱土含量到底有多少,他便可以通过改性的办法来解决问题。
虽然,要得到蒙脱土的纯物质对某些人来说(一般实验室还是很难的)还是可以的,通过离心等一些方法可以得到。
但是,得到的纯物质也许与原样品中的该物质结构发生某些变化。
这样虽然得到了纯物质,但是,由于结构的变化,使C也变了。
计算出来的结果还是不准。
而且,当实验员告诉包工头,虽然我们可以做,但是一则计算结果可能不是很准确,二则经费需要很多时,包工头只能摇摇头,摆摆手,说声B-B了。
由于有标法很难用,因此有人就着手研究“无标法”了。
这些方法通过理论计算K,或者按某种方法直接比强度。
由于晶体结构的复杂性,理论计算C的可能性很小,目前实用的大概只有“钢中残留奥氏体的测量”(有国家标准)。
直接比强度法理论是可行的。
但是,也附加了很多种条件。
比如,要测的样品中有两个相,需要另外提供一个也含有这样两个相(多一个或少一个都不行),含量又不同于待测样的附加样品。
通过理论计算还是可以的。
比如还原Co粉时,通常都同时存在两种结构的Co相。
如果刚好有一批这样的样品,就可能用这种方法来做含量计算,但是,老天保佑,千万别被氧化了,如果样品中还含有氧化钴,麻烦就来了。
当然,如果,样品中含有10个相,就得至少提供这样的10个样品。
想想,好不容易弄出一个样品来,还要另外去找9个相似的样品(都含有10个相同的相,而且含量不能相同),有可能吗?真不可能!说了这些困难,也就是为了告诉你一个事实,为什么一般实验室在做物相鉴定时说得头头是道,而你想测物相含量时,他只有两个字回答你:不做!第二个问题:变通的办法在哪里?为了得到计算公式里的系数,有人将系数分为两部分,一部分与样品无关,也与仪器无关的常系数。
另一部分则与样品及测量条件有关。
弄出来一个称为“K值法”东西。
具体方法是:如果要测量样品中的X相,则先用纯的X物质与纯刚玉(α Al2O3)按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比。
这个比值称为这个物相X的K值。
然后,在要测量的样品中加入一定量的刚玉粉(质量分数已知),再比这个加了“标样”的样品中待测相X与刚玉的衍射强度比。
就能算出X相的含量。
这里的麻烦是,为了要测X相的含量,必须得到X相的纯物质。
它的计算公式就是Ix/Is=KxWx/Ws。
这里的X是要测量含量的物相,S就是称之为标样的东西,也就是刚玉。
I,W分别指衍射强度和质量分数。
有人可能在想,要是事先知道物相的K值都知道该多好呀。
真的。
1975年,F.h.Chung就想到了这个问题,他提出:(1) 样品中的每一个物相都是晶体相(不含有非晶)(2) 样品中的每一个物相的K值都是已知的(3) 通过一个计算公式,一次图谱扫描,就能计算出样品中的每个物相的含量。
这个公式就是:Wx=Ix/[Kx•(I1/K1+I2/K2+……In/Kn)]这里假定一个样品中存在n个相,其中任一相x的含量Wx与x相的衍射强度成正比(分子)。
与它的K值成反比。
分母还有另一个组成部分,就是所有相的衍射强度除以自己的K值。
不知道你看懂了没有。
请你还原成一个公式。
从这个公式你看出什么来了?要计算一个物相的含量(质量分数)。
需要知道两组数据:(1)每一个物相的衍射强度,这倒不难,我们可以从衍射图上量出来。
(2)每一个物相的K值,这个K从何而来呢?这里的K值是这样一个定义:用某种纯物质X与α Al2O3按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比。
这里的“衍射强度”被定义为峰的高度(不是面积)。
这个比值称为X物相的K值。
这个K值只与物相结构有关,因此可以被写入PDF卡片。
现在的电子版PDF卡片上有这样一个数据:I/Ic(RIR)=YYY。
因此,我们也称为RIR值。
I是卡片所列物相的最强线的峰高,而Ic是刚玉(α Al2O3,Corundum)最强线的峰高。
我们国家已经给出了这个方法的标准。
就是这么定义的。
这样一来,定量分析就变得如此简单!扫描一遍样品的衍射谱,从图上量出每个物相的衍射峰的峰高,再从PDF卡片上查出每个相的RIR值,就可以轻松地计算出全部物相的含量来。
真的,事实上,就是这么简单。
你自己就可以做。
再也不必求别人!。
这就是所谓的“绝热法”。
绝热的意思是不再需要标样,因为样品中每一个物相的K值都已经知道,不需要与样品外的世界打交道。
第三个问题:真的就这么简单吗?学过X射线衍射这门课的都知道(当然不是地球人都知道),上面所谓的“衍射强度”实际上的定义是积分强度。
从衍射图上看起来,就是衍射峰的面积。
这里定义K值时,却用了衍射峰的高度。
它们之间能通用吗?也许是通用的。
但有一个前提条件:所有物相、所有衍射峰的峰形完全相同!主要的是衍射峰的宽度要相同。
否则就会存在误差!因为,衍射峰的面积是高度乘以宽度。
仔细的人会发现,最简单的面积计算公式是:面积=峰高乘以半高宽。
所谓半高宽就是指衍射峰一半高度处的宽度(FWHM)。
有的人会发现,用这个方法,计算出来的结果误差较大。
这就是原因之一。
不同的物相,不同的衍射角,衍射峰的宽度是不相同的。
当然,如果样品中的物相晶粒都差不多,那么含量计算结果也差不多。
这里说的是差不多,不是说准确,因此,有人称之为“半定量”结果。
第四个问题:关于K值的问题影响K值的因素有很多。
除了定义上的因素外,还有这么一些问题是要考虑的:首先, 晶粒大小的影响。
比如,你在做的是纳米晶粒样品,也套用这个K值,误差会很大。
我曾试过一个物相不同晶粒的K值,结果相差有多大,简直无法相象,真的差了10倍!这个10倍是要直接用于公式里的分母的。
结果会怎么样呢?其次,化学成份的影响。
很多物相都不能算做纯物相,比如某种合金的固溶体,某种蒙脱石。
虽然,他们的晶体结构大体上还是没有变化,但它的K值却变了。
据分析,不同成分的固溶体,比如Al中可以溶解一些其它元素如Zn,Mg等,不同固溶度下的Al固溶体的K值肯定是不同的。
对于合成样品,化学成分的微小差别也会影响K值。
不同地域的蒙脱石,其K值可以相差很大。
再次,颗粒度。
这里不是说晶粒度,而是说粉末的粒度。
也是影响因素之一。
影响K值的是晶体的结构,原子的占位与掺杂。
第五个问题:PDF卡片上有好多RIR值关于K值,还有一个很让人困惑的问题。
PDF卡片从1938年由J.D.Hanawalt开始发起制作,至今多少年没有算过,不过,今天已有多少卡片倒是大概知道,26万之余。
早期制作的卡片上没有RIR值,最近卡片上一般都标有这个数据。
但是,26万张卡片并非26种不同的物相。
实际的情况是,一种物相有多张不同的PDF卡片与之对应。
比如MgZn2这种物相,它只有一种结构,但是,对应的卡片有5张之多。
除2张早期的卡片上没有标RIR值外,另外3张上标有3个不同的RIR值。
这就是让人困惑的问题。
我该选哪张卡片上的数据呢?实际上,它们的差别不是很大,分别是3.41,3.43,3.52。
随便选哪一张上的数据,对计算结果影响都不是很大,因为,方法本身就是“半定量”的。
不过,我还是不能教唆大家随便。
我认为,我们把这3张卡片都找出来,查看3张卡片上的衍射线与我们实测的衍射线对应情况,对应得最好的,包括强度大小匹配和衍射角的对应,就是我们要找的。
至于为什么会出现这种情况。
还是因为它们的结构不同。
有的卡片数据是实测出来的。
有的人测得的数据可靠(卡片上标记为*),有的人测出来的不可靠,有的卡片是计算出来的(卡片上标记为C)。
各人用的计算方法或者测量工具不同,当然就会得到不同的结果。
也或者各人得到的物相途径不同,它们在结构上存在某些微小的差别,当然RIR值也会不同。
最后,说一句,你如果觉得PDF卡片上的RIR值不可靠,你完全可以自己来测RIR值。
假如你有纯样品的话。
你可以将其定义为衍射峰的面积之比,甚至可以定义为不用最强线的强度比,而选用次强或再次强线的强度之比(假如样品中物相的最强线有重叠时,要这么做)。
第六个问题:什么是物相的衍射强度?强度是什么?强度表示为每秒的计数(Count per second, cps)。
一个物相总是有多个衍射峰,而且由于衍射角不同、多重因子不同、结构因子不同等因素,一个物相的不同衍射峰的高度是不相同的,当然,衍射峰的面积也会不同。