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b) 测试参数不匹配。比如Sensor 测试使用的ini 文件针对成品生成，但用于 测试半成品。Sensor 贴上Cover Lense 后，原始值会变大，可能会增大20% 甚至更大，数据偏差过大会导致测试NG。
NG 分析步骤
分析验证 NG 是否可用，基于几个原则： 显示原始值 NG 的位置的差值要大于一定值，或者与正常屏比较，是否达到
其他区域功能分别为： (7)是模组（IC）电流，电流过小时，比如小于1mA，可能模组没有接好。 ⑹可以查看模组版本号，读不到、读取到乱码或者读到几个0时，表明模组没有接好， 或者⑷中芯片类型、电压设置有误。 ⑻可以看到原始值（Rawdata），模组工作不正常时，原始值会很凌乱，或者数据变 化很慢。
勾选⑽后启动测试，软件进入自动测试模式，模组接入后会自动启动测试，提高效 率。 勾选⑾，每次测试结束后，会在软件目录下的【TestResult】文件夹下，生成测试log， 记录 测试信息，如果⑸有输入内容，测试log文件名会包含这些内容。 如果需要通过条码枪输入TP编号，可以将鼠标移到⑸后扫描，也可以将条码枪设置 为输入结束后自动回车，输入结束后会自动启动测试。 区域⑶用于显示坐标、画线轨迹。
了正常屏的某个 比例（比如80%）。
2) 测试环境或者测试治具的原因。 a) 电源波动比较大时，有可能造成测试结果的不稳定。 b) 模组AVDD 或者Sensor EVDD 电压设置错误。电压会影响原始值的大小。 c) 测试治具的干扰。比如Sensor 测试时，Sensor 测试板与Sensor 的连接线过长或者 互相缠绕，可能造成数据不稳定。
接线图的接法
根据产品的字符和接线图找到主板的相对位置
如何制作只测试的程序
点击Switch进入使用模式，选择Engineer Mode工程模式，输入密码admin
点击Test Setting，然后弹出对话框，选择“是”
调入测试配置
选择只测试命令，就一直点击下一步
点击“Save as...”命令
点击
可为每个单独节点设置测试参数，如下图，在要设定的节点位
置，按下鼠标左键，移动鼠标，框选要设置的节点（红色）后，双击鼠标，在弹 窗中填入要设定的参数：
如果有为独立节点设置测试参数，则设置的节点会变成蓝色，用鼠标框选这些 节点后，双击鼠标，可以清除设置：
当测试发现问题时，如下图所示，在日志区会提示测试失败，然后显示出具体 失败的条目，如“最大值超过限定”、“最小值超过限定”、“相邻数据偏差 超限”、“整屏数据最大偏差超限”。
测试板固件升级
1) 启动升级
选择对应的固件，目前一般选择DBG-02V…bin，DBG-01V…bin 支持较早期测试板。
3) 点击【更新固件】按钮，开始升级，升级过程中请勿复位测试板、插拔USB。 进入升级模式后，菜单标题会提示‘DBG-Update Mode v1.5’：
设定测试参数
单层多点项目，原始值很不均匀，可以为数据不均匀的节点单独设置测试参数。
数据（TP）分析
X 轴为感应线（Rx）方向，Y 轴为驱动（Tx），如果有配置按键，则最下一行(Key)为 按键数据。
点击右键后，可以进行选择，打“√”表示界面处于显示的状态：
【当前值】：芯片采样值显示（即原始值）。
【差值】：差值为采样值（原始值）与基准值之差。差值用于计算坐标。用
手触摸屏体，数值会发生变化并且显示红色的，红色的位置也可以反映屏的 坐标
d) GT9 系列IC 频繁测试出几百K 以上的短路阻抗时，可能是测试环境干扰导致误测， 请改善测试环境，并保证测试治具有效接地。
3) 测试参数过于严格或不匹配。 a) Goodix 提供的测试参数，只是基于很少的几块样品分析得出，数据并不 能涵盖所有产品，一般在量产时，原始值（Rawdata）会在一定范围内浮动， 需要根据实际情况调节测试参数。
重新命名文件名称，然后保存
把只测试文件调入软件
汇顶的基本认识
1) 测试第二步，将测试板插入电脑USB接口，此时⑴、⑵分别为GTP软件及测试板固 件版本号， 测试板工作正常后，才会出现⑵，否则会提示“HID设备未连接”。 2) 测试第三步，通过⑿导入配置，导入ini文件及CFG文件后，在⒀可以看到ini文件路 径， 3)可以看到当前ini文件设定的芯片类型、测试模式、模组电压等基本测试信息。 4) 测试第四步，接入模组或Sensor后，点击按钮⑼，或者直接按回车键启动测试，测 试结束后软件会提示“OK”或者测试失败原因。
当测试失败时，点击【原始值】按钮可以看到测试不通过的详细原因，红色 数据为不通过数据，将鼠标放在红色数据上面，会提示失败原因：
如果测试过程中获取测试数据计数变的很慢时，该组测试结果无效，请 检查模组 INT 口是否工作正常。
NG 的原因主要有三个： 1) 屏体或模组出现问题。 屏体或模组问题，在原始值（Rawdata）上一般会表现的很明显，比如工艺或 材料出现问题，会导致屏体数据整体变大或者变小；通道Open 时，通常表现 为整行或整列数据偏小：
一、什么是烧录？
• 烧录是通过烧录器或烧录卡来完成工作的。 一般是指使用辅助工具把数据下载（也称 烧录）到IC。 烧录就象COPY一样，把你电脑里的东西 COPY在别的文件载体上
Байду номын сангаас
该界面是工程模式，密码是admin，进入后可进行参数查询
1.文件调入，把测试配置调入进来 2.烧录版本
客户提供的测试参数范围，需更改值时，可在这更改
当测试完成后，会跳入到画屏模式，可在选择关闭
通过此设定，产品测PSAA后，过3秒钟进入更换待测屏界面
当参数更改后，需保存配置 ，点击Save as...
参数的更改可以通过工程 模式下更改，也可以在记事本下更改，需找对名称
1.开始时间 2.通电 3.连接 4.下载烧录文件 5.烧录版本测试 6.进入工厂模式 7.通道测试 8.校准测试 9.原始值测试 10.均匀值测试 11.中断测试 12.存储测试数据 13.断电 14.完成时间
NG 分析步骤
分析验证 NG 是否可用，基于几个原则： 显示原始值 NG 的位置的差值要大于一定值，或者与正常屏比较，是否达到
其他区域功能分别为： (7)是模组（IC）电流，电流过小时，比如小于1mA，可能模组没有接好。 ⑹可以查看模组版本号，读不到、读取到乱码或者读到几个0时，表明模组没有接好， 或者⑷中芯片类型、电压设置有误。 ⑻可以看到原始值（Rawdata），模组工作不正常时，原始值会很凌乱，或者数据变 化很慢。
勾选⑽后启动测试，软件进入自动测试模式，模组接入后会自动启动测试，提高效 率。 勾选⑾，每次测试结束后，会在软件目录下的【TestResult】文件夹下，生成测试log， 记录 测试信息，如果⑸有输入内容，测试log文件名会包含这些内容。 如果需要通过条码枪输入TP编号，可以将鼠标移到⑸后扫描，也可以将条码枪设置 为输入结束后自动回车，输入结束后会自动启动测试。 区域⑶用于显示坐标、画线轨迹。
了正常屏的某个 比例（比如80%）。
2) 测试环境或者测试治具的原因。 a) 电源波动比较大时，有可能造成测试结果的不稳定。 b) 模组AVDD 或者Sensor EVDD 电压设置错误。电压会影响原始值的大小。 c) 测试治具的干扰。比如Sensor 测试时，Sensor 测试板与Sensor 的连接线过长或者 互相缠绕，可能造成数据不稳定。
接线图的接法
根据产品的字符和接线图找到主板的相对位置
如何制作只测试的程序
点击Switch进入使用模式，选择Engineer Mode工程模式，输入密码admin
点击Test Setting，然后弹出对话框，选择“是”
调入测试配置
选择只测试命令，就一直点击下一步
点击“Save as...”命令
点击
可为每个单独节点设置测试参数，如下图，在要设定的节点位
置，按下鼠标左键，移动鼠标，框选要设置的节点（红色）后，双击鼠标，在弹 窗中填入要设定的参数：
如果有为独立节点设置测试参数，则设置的节点会变成蓝色，用鼠标框选这些 节点后，双击鼠标，可以清除设置：
当测试发现问题时，如下图所示，在日志区会提示测试失败，然后显示出具体 失败的条目，如“最大值超过限定”、“最小值超过限定”、“相邻数据偏差 超限”、“整屏数据最大偏差超限”。
测试板固件升级
1) 启动升级
选择对应的固件，目前一般选择DBG-02V…bin，DBG-01V…bin 支持较早期测试板。
3) 点击【更新固件】按钮，开始升级，升级过程中请勿复位测试板、插拔USB。 进入升级模式后，菜单标题会提示‘DBG-Update Mode v1.5’：
设定测试参数
单层多点项目，原始值很不均匀，可以为数据不均匀的节点单独设置测试参数。
数据（TP）分析
X 轴为感应线（Rx）方向，Y 轴为驱动（Tx），如果有配置按键，则最下一行(Key)为 按键数据。
点击右键后，可以进行选择，打“√”表示界面处于显示的状态：
【当前值】：芯片采样值显示（即原始值）。
【差值】：差值为采样值（原始值）与基准值之差。差值用于计算坐标。用
手触摸屏体，数值会发生变化并且显示红色的，红色的位置也可以反映屏的 坐标
d) GT9 系列IC 频繁测试出几百K 以上的短路阻抗时，可能是测试环境干扰导致误测， 请改善测试环境，并保证测试治具有效接地。
3) 测试参数过于严格或不匹配。 a) Goodix 提供的测试参数，只是基于很少的几块样品分析得出，数据并不 能涵盖所有产品，一般在量产时，原始值（Rawdata）会在一定范围内浮动， 需要根据实际情况调节测试参数。
重新命名文件名称，然后保存
把只测试文件调入软件
汇顶的基本认识
1) 测试第二步，将测试板插入电脑USB接口，此时⑴、⑵分别为GTP软件及测试板固 件版本号， 测试板工作正常后，才会出现⑵，否则会提示“HID设备未连接”。 2) 测试第三步，通过⑿导入配置，导入ini文件及CFG文件后，在⒀可以看到ini文件路 径， 3)可以看到当前ini文件设定的芯片类型、测试模式、模组电压等基本测试信息。 4) 测试第四步，接入模组或Sensor后，点击按钮⑼，或者直接按回车键启动测试，测 试结束后软件会提示“OK”或者测试失败原因。
当测试失败时，点击【原始值】按钮可以看到测试不通过的详细原因，红色 数据为不通过数据，将鼠标放在红色数据上面，会提示失败原因：
如果测试过程中获取测试数据计数变的很慢时，该组测试结果无效，请 检查模组 INT 口是否工作正常。
NG 的原因主要有三个： 1) 屏体或模组出现问题。 屏体或模组问题，在原始值（Rawdata）上一般会表现的很明显，比如工艺或 材料出现问题，会导致屏体数据整体变大或者变小；通道Open 时，通常表现 为整行或整列数据偏小：
一、什么是烧录？
• 烧录是通过烧录器或烧录卡来完成工作的。 一般是指使用辅助工具把数据下载（也称 烧录）到IC。 烧录就象COPY一样，把你电脑里的东西 COPY在别的文件载体上
Байду номын сангаас
该界面是工程模式，密码是admin，进入后可进行参数查询
1.文件调入，把测试配置调入进来 2.烧录版本
客户提供的测试参数范围，需更改值时，可在这更改
当测试完成后，会跳入到画屏模式，可在选择关闭
通过此设定，产品测PSAA后，过3秒钟进入更换待测屏界面
当参数更改后，需保存配置 ，点击Save as...
参数的更改可以通过工程 模式下更改，也可以在记事本下更改，需找对名称
1.开始时间 2.通电 3.连接 4.下载烧录文件 5.烧录版本测试 6.进入工厂模式 7.通道测试 8.校准测试 9.原始值测试 10.均匀值测试 11.中断测试 12.存储测试数据 13.断电 14.完成时间