110序列检测器的设计及仿真实现

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11001序列检测器设计实训报告

11001序列检测器设计实训报告

电子技术设计实训报告指导教师:**小组成员:*201458244**201458244**201458244**201458244*成绩评定:教师签名:评定时间设计1.题目:“11001”序列检测器。

原始条件:逻辑器件:CMOS门电路集成芯片:74SL20 74LS00 74LS1122.要求完成设计的主要任务:1)能够运用数字逻辑的理论和方法,把时序逻辑电路设计和组合逻辑电路设计相结合,设计一个有实际应用的数字逻辑电路。

2)使用同步时序逻辑电路的设计方法,设计“11001”序列检测器。

写出设计中的过程。

画出课程设计图。

3)在试验设备上,使用74SL20 74LS00 74LS112集成电路连接、调试和测试“11001”序列检测器电路。

3.小组成员分工*设计序列*电子版实验报告,化简卡诺图*:画电路图、仿真电路图*:检查设计失误、物理机电路连线电路分析设计过程4.逻辑抽象:初始状态SS:11:11S2:110S3S:11004:11001S5根据任务书要求,设计的序列检测器有一个外部输入A 和一个外部输出 Y。

输入和输出的逻辑关系为:正常情况下Y=0,出现A=11001时,Y=15.状态转换图6.状态转换表表1由表1可知,S1和S5是等价状态,故可以合并。

下图为化简后的状态转换图。

''0101*1Q Q Q AQ Q +=7. 卡若图化简规定电路状态编码,电路需要5个状态。

需要3(2n-1<状态数≦2n )个触发器。

现取Q 2Q 1Q 0=001表示S 1,Q 2Q 1Q 0=010表示S 2,Q 2Q 1Q 0=011表示S 3,Q 2Q 1Q 0=100表示S 4 ,即可得到:S 0:000 S 1:001 S 2:010 S 3 :011 S 4:100由上述转换表可以转化为卡诺图下面即可分解卡诺图⎪⎩⎪⎨⎧++=+=0111*01010*1)''(''Q AQ AQ Q A Q Q Q Q AQ Q '''201201*2Q Q Q A Q Q Q A Q +=''''011001*0Q Q A Q AQ Q AQ Q ++=''0101*1Q Q Q AQ Q +='''201201*2Q Q Q A Q Q Q A Q +=''''011001*0Q Q A Q AQ Q AQ Q ++=2AQ Y =8. 逻辑函数式由上述的卡诺图得到状态方程和输出方程⎪⎩⎪⎨⎧2AQ Y =化简得到上式与JK 触发器的特性方程对照比较可以得出(Q *=JQ ’+K ’Q ))'()'(.....'''1001012.1101012AQ K Q K Q Q A K AQ Q A J AQ J Q Q A J ===⎪⎩⎪⎨⎧+=== 2AQ Y =9.JK 触发器具体实现电路图由上述的式子我们可以画出模拟电路图(完整电路图附页说明)10. 仿真软件仿真效果(截图说明)下面进行仿真实验,X3灯是为了显示0、1输入,X2灯是显示脉冲输入情况。

序列信号检测器的设计与实现 实验报告

序列信号检测器的设计与实现 实验报告

数字电路与逻辑设计实验实验名称:序列信号检测器的设计与实现学院: 信息与通信工程学院班级: xxxxxxxxxx学号: xxxxxxxxxx班内序号: xx姓名大学霸一、实验课题序列信号检测器的设计与实现二、实验任务及设计要求(1) 熟悉用VHDL语言设计时序逻辑电路的方法。

(2) 熟悉序列信号检测器的设计方法(3) 了解状态机的设计方法用VHDL语言设计实现一个序列信号检测器,当检测到“101”时,输出为“1”;其他情况时,输出为“0”,仿真验证其功能,并下载到实验板测试。

三、设计思路与过程实验需要4个端口,时钟输入clk,数据输入d_in,输出f。

根据老师的要求后面还加入了时钟显示clk_out来保证数据输入在时钟上升沿之前1、设计思路序列检测器有输入信号d_in和输出信号f。

输入输出的的逻辑关系为:当外部输入x第一个为“1”,外部输出Z为“0”;当外部输入x第二个为“0”,外部输出Z为“0”;当外部输入x第三个为“1”,外部输出Z才为“1”。

要判断输入序列中的一段是否为“101”,电路需要用不同的状态来标记。

假设电路的初始状态A,d_in输入第一个“1”,检测器状态由A转换到B,B代表101序列中的第一个“1”,输出为f=0,如果之后继续输入“1”还会保持在这个状态;d_in输入“0”,检测器由B转换到C,C代表101序列中的“0”,输出f=0;d_in输入第三个值“1”时检测到完整的101序列,输出f=1,同时因为输入为“1”,状态由C又转换回B;如果d_in输入第三个值为“0”,状态由C退回到初始状态A,输出f=0。

以上为序列检测器的功能分析。

由此可以画出序列检测器的状态图状态表如下:2、实验过程(1) 用计算机QuartusII 9.0软件新建工程,新建VHDL,写入程序代码,运行调试直至编译成功。

(2) 新建波形仿真软件,设置endtime,输入输出信号,运行,观察仿真结果确认无误。

序列检测器实验报告

序列检测器实验报告

序列检测器设计实验内容:设计一个1110010序列检测器,即检测器检测到序列1110010时,输出为1,否则输出为0。

输入信号:一个时钟输入信号clk;一个输入端x以输入序列来检测;一个输入y用来选择是检测序列1110010或是检测自己输入的序列;一个输入k(7..0)用来输入想要检测器检测的序列;输出信号:一个7位输出信号q,用来输出正在检测的7位序列;一个1位输出信号unlk,当被检测序列符合时,输出unlk为1否则为0;中间信号:再定义两个7位的中间信号a和combination;执行操作:在上升的时钟沿时候,将从x输入的序列赋给7位a,在y等于1的情况下,令中间信号combination为1110010,否则,在y等于0的情况下,令中间信号combination为从k输入的七位长序列。

最后把a的值赋给q,如果a与combination输出unlk等于1否则等于0。

(1)序列检测器语言设计:library ieee;use ieee.std_logic_1164.all;use ieee.std_logic_unsigned.all;USE IEEE.STD_LOGIC_ARITH.ALL;entity xulie2 isport (clk,x:in std_logic;y:in std_logic;k:in std_logic_vector(7 downto 1);unlk:out std_logic;q:out std_logic_vector(7 downto 1)); end xulie2;architecture art of xulie2 issignal a:std_logic_vector(7 downto 1);signal combination: std_logic_vector(7 downto 1);beginprocess(clk)beginif clk'event and clk='1' thena<=a(6 downto 1)&x;if y='1' thencombination<="1110010";else combination<=k;end if;end if;q<=a;end process;unlk<='1' when(a=combination) else '0';end art;序列检测器波形图:其中ENDTIME=10.0us GRIDSIZE=100.0ns波形图分析:如图,选择输入端y输入为1时,q对应着输出从x输入的7位序列,如果从x输入的待检测的7位序列为1110010时,unlk为1,否则为0,当选择输入端y输入为0时,q依旧对应着输出从x输入的待检测的当前7为序列,但是只有当从x输入的7为序列与从k输入的7位序列一致时,输出端unlk才为1,否则为0。

数字逻辑实验 8_序列检测器

数字逻辑实验 8_序列检测器

实验八序列检测器的设计与仿真一、实验要求1.用VHDL语言设计一个Mealy机以检测“1101001”序列;2.用VHDL语言设计一个Moore机以检测“1101001”序列;3.在文本编辑区使用VHDL硬件描述语言设计逻辑电路,再利用波形编辑区进行逻辑功能仿真,以此验证电路的逻辑功能是否正确。

二、实验内容用VHDL语言设计各一个mealy和moore状态机测试“1101001”位串的序列检测器,并通过仿真波形验证设计的功能是否正确。

三、实验过程由于在报告1中已经详尽描述了如何使用Quartus 2建立逻辑原理图和使用VHDL语言实现元件功能,所以本次的实验报告中便不再赘述上述内容,报告将主要就VHDL 语言描述实现元件的功能的过程进行阐述。

1.Mealy机选择File→New,弹出新建文本对话框,在该对话框中选择VHDL File并单击OK按钮,进入文本编辑窗口,输入VHDL代码。

library ieee;use ieee.std_logic_1164.all;entity melay isport(clk,rst,d: in std_logic;z: out std_logic);end melay;architecture arc of melay istype state_type is(s0,s1,s2,s3,s4,s5,s6);signal state: state_type;beginprocess(clk,rst)beginif rst= '1' thenstate<=s0;elsif (clk'event and clk ='1') thencase state is --1101001when s0 =>if d='1' thenstate<=s1;elsestate<=s0;end if;when s1=>if d='1' thenstate<=s2;elsestate<=s0;end if;when s2=>if d='0' thenstate<=s3;elsestate<=s2;end if;when s3=>if d='1' thenstate<=s4;elsestate<=s0;end if;when s4=>if d='0' thenstate<=s5;elsestate<=s1;end if;when s5=> --1101001if d='0' thenstate<=s6;elsestate<=s1;end if;when s6=>if d='1' thenstate<=s0;elsestate<=s0;end if;end case;end if;end process;process(state,d)begincase state iswhen s6=>if d='1' thenz<='1';elsez<='0';end if;when others=>z<='0';end case;end process;end arc;保存文件并编译,选择菜单File→New,选择Vector Waveform File新建波形图,添加节点,参数设置为:End Time=2us, Grip size=50ns。

实验5 序列检测器

实验5 序列检测器

数字系统设计与PLD应用实验报告实验名称:实验5序列检测器学院:大数据与信息工程学院专业:电子信息工程姓名:李晓雪学号:1108040198年级:大四任课教师:尉学军2014 年 12 月 7 日实验5 序列检测器一.实验目的(1)了解用状态机的方法设计序列检测器(2)实验一个11010串行序列检测器,用VHDL语言描述该电路二、实验原理序列检测器的示意图如图一所示11010序列检测器的状态转换图如图二所示三、实验内容(1)用VHDL语言编写11010序列检测器源程序。

给出正确仿真波形图。

(2)用VHDL分别设计一个包含(11010)和不包含的序列发生器。

(3)将上述两个序列发生器分别和序列检测器结合成一个文件(级联),并编译、模拟获得正确的仿真波形。

四、实验结果1、序列检测器(检测11010)根据状态转换通过VHDL语言实现序列检测器:LIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY jc11010 ISPORT(DIN,CLK,RST:IN STD_LOGIC;SOUT:OUT STD_LOGIC);END jc11010 ;ARCHITECTURE BEHA V OF jc11010 ISTYPE STATES IS (S0,S1,S2,S3,S4);SIGNAL ST,NST:STA TES:=S0;BEGINCOM:PROCESS(ST,DIN) BEGINCASE ST ISWHEN S0=>IF DIN='1'THEN NST<=S1;ELSE NST<=S0;END IF; WHEN S1=>IF DIN='1'THEN NST<=S2;ELSE NST<=S0;END IF; WHEN S2=>IF DIN='1' THEN NST<=S2;ELSE NST<=S3;END IF; WHEN S3=>IF DIN='1' THEN NST<=S4;ELSE NST<=S0;END IF; WHEN S4=>IF DIN='1' THEN NST<=S2;ELSE NST<=S0;END IF; WHEN OTHERS=>NST<=S0;END CASE;END PROCESS;REG:PROCESS (CLK,RST)BEGINIF RST='1' THEN ST<=S0;ELSIF CLK'EVENT AND CLK='1' THEN ST<=NST;END IF;END PROCESS REG;SOUT<='1' WHEN ST=S4 ELSE '0';END BEHA V;波形仿真结果:2.采用状态机方法设计序列发生器11010序列产生器的VHDL语言:LIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY csq11010 ISPORT(CLK:IN STD_LOGIC;Z :OUT STD_LOGIC);END csq11010 ;ARCHITECTURE RTL OF csq11010 ISTYPE STATE_TYPE IS(S0,S1,S2,S3,S4,S5);SIGNAL CURRENT_STATE,NEXT_STATE:STATE_TYPE; BEGINSYNCH: PROCESSBEGINWAIT UNTIL CLK'EVENT AND CLK='1'; CURRENT_STATE<=NEXT_STATE;END PROCESS;STATE_TRANS:PROCESS(CURRENT_STATE)BEGINCASE CURRENT_STATE ISWHEN S0=>NEXT_STATE<=S1;Z<='1';WHEN S1=>NEXT_STATE<=S2;Z<='1';WHEN S2=>NEXT_STATE<=S3;Z<='0';WHEN S3=>NEXT_STATE<=S4;Z<='1';WHEN S4=>NEXT_STATE<=S5;Z<='0';WHEN S5=>NEXT_STATE<=S0;Z<='1';END CASE;END PROCESS;END RTL;仿真波形结果:(产生的11010序列串)3、随机序列产生器(产生序列1100101)VHDL语言:LIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY SY4 ISPORT(CLK:IN STD_LOGIC;Z :OUT STD_LOGIC);END SY4 ;ARCHITECTURE RTL OF SY4 ISTYPE STATE_TYPE IS(S0,S1,S2,S3,S4,S5,S6);SIGNAL CURRENT_STATE,NEXT_STA TE:STA TE_TYPE; BEGINSYNCH: PROCESSBEGINWAIT UNTIL CLK'EVENT AND CLK='1';CURRENT_STATE<=NEXT_STA TE;END PROCESS;STA TE_TRANS:PROCESS(CURRENT_STATE)BEGINCASE CURRENT_STATE ISWHEN S0=>NEXT_STATE<=S1;Z<='1';WHEN S1=>NEXT_STATE<=S2;Z<='1';WHEN S2=>NEXT_STATE<=S3;Z<='0';WHEN S3=>NEXT_STATE<=S4;Z<='0';WHEN S4=>NEXT_STATE<=S5;Z<='1';WHEN S5=>NEXT_STATE<=S6;Z<='0';WHEN S6=>NEXT_STATE<=S0;Z<='1';END CASE;END PROCESS;END RTL;波形仿真结果:3、11010序列产生器与11010序列检测器级联后的电路图:波形仿真结果:4、不包含11010的任意序列产生器与11010序列检测器级联后的电路图:波形仿真结果:。

EDA设计实验_序列检测器-

EDA设计实验_序列检测器-

实验题目:设计串行数据检测器实验说明:设计一个“1101”串行数据检测器。

使得但输出序列中出现“1001”时,结果中就输出1。

输入/输出如下所示:输入x:000 101 110 011 011 101 101 110 101输出z:000 000 000 010 010 000 001 000 000实验分析:初始状态设为s0,此时检测数据序列为“0000”,当再检测到一个0时,仍为s0,当检测到1时,进入下一个状态s1,此时序列为“0001”;当在状态s1检测到0时,进入到状态s2,此时序列为“0010”,当检测到1时,仍为s1;当在状态s2检测到0时,进入到状态s3,此时序列为“0100”,当检测到1时,进入s1;当在状态s3检测到0时,进入s0,当检测到1时,进入状态s4,此时序列为“1001”,结果输出为1;当在s4检测到0时,进入状态s2,当检测到1时,进入状态s1。

状态图如下:实验代码:module sjjcq10_3(x,z,clk,reset,state);input x,clk,reset;output z;output[2:0]state;reg[2:0]state;reg z;parameter s0='d0,s1='d1,s2='d2,s3='d3,s4='d4;always@(posedge clk)beginif(reset)begin state<=s0;z<=0;endelsecasex(state)s0: beginif(x==0) begin state<=s0;z<=0;endelse begin state<=s1;z<=0;endends1: beginif(x==0) begin state<=s2;z<=0;endelse begin state<=s1;z<=0;endends2:beginif(x==0) begin state<=s3;z<=0;endelse begin state<=s1;z<=0;endends3:beginif(x==0) begin state<=s0;z<=0;endelse begin state<=s4;z<=1;endends4:beginif(x==0) begin state<=s2;z<=0;endelse begin state<=s1;z<=0;endenddefault: state<=s0;endcaseendendmodule实验仿真波形:分析:每当到达状态四即s4,此时检测序列为“1101”,输出即为1.。

自-基于FPGA序列检测器设计

自-基于FPGA序列检测器设计

目录1摘要 (1)2设计步骤 (1)2.1划分状态 (1)2.2画出状态图 (1)2.3列出状态表 (1)2.4化简状态表 (2)2.5对状态进行编码并化简状态图 (2)2.6画出真值表 (2)3用QuartusII进行软件仿真 (3)3.1初步仿真 (3)3.2修改问题 (4)4心得体会 (5)4.1化简问题 (5)4.波形输出问题 (5)5参考文献 (5)1摘要序列检测器多用于通信系统中对禁用码的检测,或者是对所需信号的提取,即一旦检测到所需信号就输出高电平,这在数字通信领域有广泛的应运。

本次课程设计是设计检测110码的序列检测器,并以此来描述序列检测器的设计过程和基于FPGA的软件仿真。

最后通过QuartusII的波形输出对设计方案进行检测,经检测波形输出正确设计符合要求。

2设计步骤2.1划分状态对于110码可以划分为S1,S2,S3,S4四种状态,分别是:S1:只有’0’信号的输入状态S2:检测到1个’1’信号S3:检测到连续的俩个’1’信号S4:检测到’110’信号2.2画出状态图如图-1所示(A表示输入Z表示输出)2.3列出状态表2.4化简状态表将状态的次态变化以及输入输出完全相同的现态进行合并入下表所示。

表-22.5对状态进行编码并化简状态图化简后状态有三个,可以用二进制代码组合(00,01,10,11)综合多方面考虑,这里采用00,01,11,00循环码变化顺序可以使电路更简单,于是令S1=00,S2=01,S3=11,得状态图如下。

图-22.6表-3经卡诺图化简得表达式如下:J1=Q0A K1=~AJ0=A K0=~AY=Q1~A(重做)经检查可以自启动逻辑算正确。

3用QuartusII进行软件仿真3.1初步仿真图-3如图-3所示本系统是由两个JK触发器和若干个与非门按照计算出的逻辑表达式连接而成的。

这张图是从QuartusII中的电路文件中截取下的硬件电路仿真另外JK触发器是用VerilogHDL程序编写的程序如下:module JK_FF(Q,Qnot,J,K,CP);output Q,Qnot;input J,K,CP;reg Q;assign Qnot=~Q;always @ (negedge CP)case ({J,K})2'b00:Q<=Q;2'b01:Q<=1'b0;2'b10:Q<=1'b1;2'b11:Q<=~Q;endcaseendmodule图-43.2修改问题这个波形仿真基本正确但还存在问题,就是输出脉冲宽度不一致,经检查发现是由于竞争冒险与输入信号与时钟不同步产生的影响。

序列信号检测器的设计与实现 数电实验报告

序列信号检测器的设计与实现   数电实验报告

数字电路与逻辑计实验报告序列信号检测器的设计与实现一、课题名称:序列信号检测器的设计与实现二、实验目的:(1)熟悉用VHDL语言设计时序逻辑电路的方法;(2)熟悉序列信号检测器的设计方法;(3)了解状态机的设计方法。

三、实验所用仪器及元器件:(1)计算机(2)直流稳压电源(3)数字系统与逻辑设计实验开发板四、实验内容:用VHDL语言设计实现一个序列信号检测器,当检测到“101”时,输出为“1”;其他情况时,输出为“0”,仿真验证其功能,并下载到实验板测试。

五、设计思路与过程:第1步,画出原始状态图和状态表。

根据任务书要求,设计的序列检测器有一个外部输入x和一个外部输出Z。

输入和输出的逻辑关系为:当外部输入x第一个为“1”,外部输出Z为“0”;当外部输入x第二个为“0”,外部输出Z为“0”;当外部输入x第三个为“1”,外部输出Z才为“1”。

假定有一个外部输入x序列以及外部输出Z为:输入x: 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1输出Z: 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 1要判别序列检测器是否连续接收了“101”,电路必须用不同的状态记载外部输入x的值。

假设电路的初始状态为A,x输入第一个值“1”,检测器状态由A装换到B,用状态B记载检测器接受了101序列的第一个值“1”,这时外部输出Z=0;x输入“0”,检测器状态由B装换到C,用状态C记载检测器接受了101序列的第二个值“0”,外部输出Z=0;x输入第三个值“1”,检测器状态由C装换到D,外部输出Z=1。

然后再根据外部输入及其他情况时的状态转移,写出相应的输出。

以上分析了序列检测器工作,由此可画出图一所示的原始状态图。

根据原始状态图可列出原始状态表,如表一所示。

0/0图一原始状态图表一:原始状态表第2步,在对原状态表进行简化,从状态表就可以看出B 、D 两个状态为等价状态。

从而可得简化后的状态表表二和状态图图二:图二 简化状态图表二:简化后的状态表第3步,状态分配:给A 分配编码00,B 分配01,C 分配11,则可得状态转移表三:表三:简化后的状态转移表第4步,选择存储器的类型,确定存储电路的激励输入: 选择使用D 触发器来完成此任务。

110序列检测器仿真报告

110序列检测器仿真报告

Lab 110序列检测器仿真1.实验目的学会序列检测的设计,学会modelsim的使用,熟悉用Quartus编译Verilog语言的方法,熟悉DEO板的操作。

2.实验内容1)用HDL语言的输入方式,实现110序列检测器。

2)用modelsim进行仿真。

3)用DE0下载并进行测试。

3.代码分析1)该实验使用状态机进行设计,使用两个always语句,一个作为时序逻辑,另一个作为组合逻辑,其结构图为2)首先定义输入输出变量和中间变量:module test110(data_in,data_out,Q,cp,en);output data_out,Q; //定义输出变量;input data_in,cp,en; //定义输出变量;reg data_out; //定义中间变量;reg[1:0]pres_state,next_state; //定义两个时态;wire Q; //定义wire型中间变量;parameter s0=2'd0,s1=2'd1,s2=2'd2; //指定状态编码;3)第一个always语句实现时序逻辑功能:fenpinqi(Q,cp); //调用分频器,改变时钟信号;always@(posedge Q or negedge en) //采用边沿触发;if(~en)pres_state<=s0; //清零;else pres_state<=next_state; //在Q上升沿触发器状态翻转;4)第二个always语句实现组合逻辑功能:always@(pres_state or data_in) //电平触发事件Beginnext_state<=2' xx; //定义输出为零data_out=1'b0;case(pres_state) //判断条件为现态的状态,对各状态值惊醒判断,并输出值s0:next_state<=(data_in==1)?s1:s0;s1:next_state<=(data_in==1)?s2:s0;s2:beginnext_state<=(data_in==1'b1)?s2:s0;if(data_in==1'b0)data_out=1'b1;endendcaseendendmodule5)所调用的分频器的模块:module fenpinqi(Q,CP);output Q; //定义输出端口input CP; //定义输入端口wire [32:0]A; //定义中间变量counter(A,CP); //调用计数器进行计数D_FF(Q,~Q,CP,A); //调用D触发器是信号发生翻转endmodulemodule counter(Q,CP); //计数器,每第25M个信号发生一次变化output Q[32:0]; //定义输出端口input CP; //定义信号输入端口reg[32:0]Q; //定义中间变量always@(posedge CP) //采用边沿触发if(Q==33'd2*******)Q<=33'd0;//每25M作为一个计数周期else Q<=Q+1'd1; //Q自增并输出endmodulemodule D_FF(Q,D,CP,CR); //D触发器output Q; //定义输出端input D,CP; //定义输入端及D信号输入input [32:0]CR; //定义输入变量reg Q; //定义中间变量always@(posedge CP) //采用边沿触发if(CR==0)Q<=D; //将D值赋给Qelse Q<=Q; //Q保持不变endmodule4.实验步骤1)打开Quartus软件,选择“File=>New Project Wizard”,在弹出的窗口中输入项目的名称和存储位置。

110序列编码检测器的设计

110序列编码检测器的设计

110序列编码检测器的设计设计一个110序列编码检测器。

设计一个序列检测电路,当检测到输入信号出现110的序列编码(按自左至右的顺序)时,电路输出为1,否则输出为0。

指导教师签名:2008年7月 6 日指导教师签名:2008 年7月日验收盖章2008年月日熟悉集成电路的引脚排列。

掌握各种芯片的逻辑功能及使用方法。

了解序列检测器的组成及工作原理。

熟悉序列检测器的设计和制作。

由给定的逻辑功能建立原始状态图和原始状态表。

状态简化。

状态分配。

选择触发器类型。

确定激励方程和输出方程组。

画出逻辑图,并检查自启动能力。

(1)由给定的逻辑功能建立原始状态图和原始状态表从给定的逻辑功能可知,电路有一个输入信号A和一个输出信号Y,电路功能是对输入信号A的编码序列进行检测,一旦检测到信号A出现连续编码为110序列时,输出为1,检测到其他编码序列,则输出均为0。

设电路的初始状态为a,如图1中大箭头所指。

在此状态下,电路输出Y=0,这时可能的输入有A=0和A=1两中情况。

当CP脉冲相应边沿到来时,若A=0,则是收到0,应保持在状态a不变;若A=1,则转向状态b,表示电路收到一个1。

当在状态b时,若输入A=0,则表明连续输入编码为10,不是110,则应回到初始状态a,重新开始检测;若A=1,则进入c,表示已连续收到两个1。

在状态c时,若A=0,表示已收到序列编码110,则输出Y=1,并进入状态d;若A=1,则收到的编码为111,应保持在状态c不变,看下一个编码输入是否为A=0;由于尚未收到最后的0,故输入仍为0。

在状态d,若输入A=0,则应回到状态a,重新开始检测;若A=1,电路应转向状态b,表示在收到110之后又重新收到一个1,已进入下一轮检测;在d状态下,无论A为何值,输出Y均为0。

根据上述分析,可以得出原始状态图和表1所示的原始状态表。

1)nn+1nn+1现态(S)次态/输出(S/Y)现态(S)次态/输出( S/Y)A=0 A=1 A=0 A=1a a/0 b/0 c d/1 c/0b a/0 c/0 d a/0 b/0 (2)状态化简观察表1现态栏中a和d两行可以看出,当A=0和A=1时,分别具有相同的次态a、b及相同的输出0,因此,a和d是等价状态,可以合并。

序列检测器实验报告

序列检测器实验报告

实验七序列检测器实验一、实验目的1、掌握序列检测器的工作原理;2、掌握时序电路的经典设计方法;3、学习AHDL 语言的状态机的设计方法;二、原理代码序列检测器是一种同步时序电路,它用于搜索,检测输入的二进制代码串中是否出现指定的代码序列,001 序列检测器的原理图如下:三、实验内容设计一个 1110010 序列检测器,即检测器连续收到一组串行码“1110010”后,输出检测标志1,否则输出0。

要求用图形输入法完成:①作状态图和状态表;②状态化简,建立最简状态表;③写出状态编码;画出状态编码表;④建立激励函数,输出函数真值表;⑤写出激励函数和输出函数表达式;⑥画出逻辑电路测试图;⑦逻辑功能仿真,记录仿真波形并加以说明;⑧下载验证(两种以上的方式)根据实验要求,得到实验所需要的是八个状态,包括初始状态。

根据实验要求检现态S 次态/输出 S/QD=0 D=1初始状态 S0 S0 /0 S1/0接收到1 S1 S0 /0 S2/0接收到11 S2 S0 /0 S3/0接收到111 S3 S4 /0 S3/0接收到1110 S4 S5 /0 S0/0接收到11100 S5 S0 /0 S6/0接收到111001 S6 S7 /1 S2/0接收到1110010 S7 S0 /0 S1/0确定各种不同状态的的表示并且做出状态表根据所得到的状态表写出真值表达式D0*=D0D2’X’+D0D1’D2+D0’D1D2X’D1*=D0D1D2+D1D2’X+XD0’D1+D0’D2X+D1’D2X00 01 11 1000 101 1 111 1 110 1D2*= D0D2’X’+D0’D2’X+XD0’D1+D1D2X根据得到的函数方程,画出电路图如下得到序列波形图输出一个时钟信号以方便下载的时候能够比较方便的对输入的序列进行调试手动调整输入的序列已达到要求,方便检测。

同时在始终是下跳沿的是后调整输入,这样的话不会出现不能及时的出现z为1时的值Sel为q[2..0]的输出,通过它的值来选择7个输入的值的有效性,并确定result的值,使清零端有(无)效,以此来得到最后的输出为一还是为0实验心得:这次的实验收获颇多,一直没有自己用D触发器设计过元件,但是这次自己设计了一个,虽然在刚刚开始的时候听了同学的讲解,但是最终自己是弄懂了,并会连接和设计,在实验过程中,由于连线很复杂,容易将线结在一起,所以在连线时要尽量的化简,务必使线少一点,整个图清晰明了,然后检验时也会少去许多不必要的麻烦在对整个设计的进行状态分析时,要选择好做需要的状态过程,并且分析,不然在最后得方程画图时,会出现不了期望的结果。

序列检测器 实验报告

序列检测器 实验报告

序列检测器实验报告序列检测器是一种常见的信号处理技术,广泛应用于通信、雷达、生物医学和金融等领域。

本文将介绍序列检测器的原理、实验设计和实验结果,并对其应用进行讨论。

一、序列检测器的原理序列检测器是一种用于检测和识别输入信号序列的设备或算法。

它通过对输入信号进行观测和分析,判断信号是否符合特定的模式或规律。

常见的序列检测器包括有限状态机、卷积神经网络和隐马尔可夫模型等。

有限状态机是一种基本的序列检测器,它由一组状态和状态之间的转移规则组成。

在每个时刻,输入信号会触发状态之间的转移,最终达到一个终止状态。

通过定义状态和转移规则,可以实现对输入信号序列的检测和识别。

二、实验设计本实验旨在设计并实现一个简单的序列检测器,用于检测二进制信号序列中是否存在特定的模式。

实验使用MATLAB软件进行仿真,并基于有限状态机的原理进行设计。

1. 实验步骤(1)定义有限状态机的状态和转移规则;(2)生成一组随机的二进制信号序列作为输入;(3)根据状态和转移规则,对输入信号进行观测和分析;(4)判断输入信号是否符合特定的模式,并输出检测结果。

2. 实验参数为了简化实验设计,我们假设输入信号序列中的模式为"110"。

具体的状态和转移规则如下:(1)初始状态为S0;(2)当输入为"1"时,状态转移为S1;(3)当输入为"0"时,状态转移为S0;(4)当当前状态为S1且输入为"0"时,状态转移为S2;(5)当当前状态为S2且输入为"1"时,状态转移为S3;(6)当当前状态为S3且输入为"0"时,状态转移为S0。

三、实验结果经过实验设计和仿真,我们得到了以下实验结果:1. 输入信号序列:1011010110112. 检测结果:存在模式"110"通过对输入信号序列进行观测和分析,我们成功地检测到了模式"110"的存在。

lab10_0101序列检测器仿真(ModelSim)

lab10_0101序列检测器仿真(ModelSim)

0101序列检测器仿真(ModelSim)1.实验目的熟悉Modelsim仿真软件的使用方法,了解状态机的建模方法,使用ModelSim仿真QuartusII工程。

2.实验内容●用HDL语言的输入方式,实现0101/110序列检测器。

●用modelsim进行仿真●下载至DE0开发板上观察实验结果3.代码分析(以0101序列检测器为例)1)状态图如下:图3.1 0101(左)/110(右)序列检测状态图2)主模块中首先定义了本次实验的所有输入输出接口及各个状态。

其中,因为有4种状态,所以current为2位。

//0101 Sequential detectormodule lab1a (vin,cp,ncr,vout);input vin,cp,ncr;output vout;reg vout;reg [1:0] current,next;parameter s0=2'b00,s1=2'b01,s2=2'b10,s3=2'b11;3)然后设置异步清零,在cp上升沿则沿触发器状态翻转。

always @(posedge cp or negedge ncr)beginif (~ncr)current <= s0;elsecurrent <= next;end4)接着编写组合逻辑部分,设定下一状态产生和输出的信号。

always @(current or vin)beginnext=2'bxx;case (current)s0:begin next = (vin==1)?s0:s1; ends1:begin next = (vin==1)?s2:s1; ends2:begin next = (vin==1)?s0:s3; ends3:begin next = (vin==1)?s2:s1; endendcaseend5)最后为输出部分,本程序中设置让输出信号经过一个寄存器再输出,可以消除vout信号中的毛刺。

实验5 序列检测器

实验5 序列检测器

数字系统设计与PLD应用实验报告实验名称:实验5序列检测器学院:大数据与信息工程学院专业:电子信息工程姓名:李晓雪学号:1108040198年级:大四任课教师:尉学军2014 年 12 月 7 日实验5 序列检测器一.实验目的(1)了解用状态机的方法设计序列检测器(2)实验一个11010串行序列检测器,用VHDL语言描述该电路二、实验原理序列检测器的示意图如图一所示11010序列检测器的状态转换图如图二所示三、实验内容(1)用VHDL语言编写11010序列检测器源程序。

给出正确仿真波形图。

(2)用VHDL分别设计一个包含(11010)和不包含的序列发生器。

(3)将上述两个序列发生器分别和序列检测器结合成一个文件(级联),并编译、模拟获得正确的仿真波形。

四、实验结果1、序列检测器(检测11010)根据状态转换通过VHDL语言实现序列检测器:LIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY jc11010 ISPORT(DIN,CLK,RST:IN STD_LOGIC;SOUT:OUT STD_LOGIC);END jc11010 ;ARCHITECTURE BEHA V OF jc11010 ISTYPE STATES IS (S0,S1,S2,S3,S4);SIGNAL ST,NST:STA TES:=S0;BEGINCOM:PROCESS(ST,DIN) BEGINCASE ST ISWHEN S0=>IF DIN='1'THEN NST<=S1;ELSE NST<=S0;END IF; WHEN S1=>IF DIN='1'THEN NST<=S2;ELSE NST<=S0;END IF; WHEN S2=>IF DIN='1' THEN NST<=S2;ELSE NST<=S3;END IF; WHEN S3=>IF DIN='1' THEN NST<=S4;ELSE NST<=S0;END IF; WHEN S4=>IF DIN='1' THEN NST<=S2;ELSE NST<=S0;END IF; WHEN OTHERS=>NST<=S0;END CASE;END PROCESS;REG:PROCESS (CLK,RST)BEGINIF RST='1' THEN ST<=S0;ELSIF CLK'EVENT AND CLK='1' THEN ST<=NST;END IF;END PROCESS REG;SOUT<='1' WHEN ST=S4 ELSE '0';END BEHA V;波形仿真结果:2.采用状态机方法设计序列发生器11010序列产生器的VHDL语言:LIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY csq11010 ISPORT(CLK:IN STD_LOGIC;Z :OUT STD_LOGIC);END csq11010 ;ARCHITECTURE RTL OF csq11010 ISTYPE STATE_TYPE IS(S0,S1,S2,S3,S4,S5);SIGNAL CURRENT_STATE,NEXT_STATE:STATE_TYPE; BEGINSYNCH: PROCESSBEGINWAIT UNTIL CLK'EVENT AND CLK='1'; CURRENT_STATE<=NEXT_STATE;END PROCESS;STATE_TRANS:PROCESS(CURRENT_STATE)BEGINCASE CURRENT_STATE ISWHEN S0=>NEXT_STATE<=S1;Z<='1';WHEN S1=>NEXT_STATE<=S2;Z<='1';WHEN S2=>NEXT_STATE<=S3;Z<='0';WHEN S3=>NEXT_STATE<=S4;Z<='1';WHEN S4=>NEXT_STATE<=S5;Z<='0';WHEN S5=>NEXT_STATE<=S0;Z<='1';END CASE;END PROCESS;END RTL;仿真波形结果:(产生的11010序列串)3、随机序列产生器(产生序列1100101)VHDL语言:LIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY SY4 ISPORT(CLK:IN STD_LOGIC;Z :OUT STD_LOGIC);END SY4 ;ARCHITECTURE RTL OF SY4 ISTYPE STATE_TYPE IS(S0,S1,S2,S3,S4,S5,S6);SIGNAL CURRENT_STATE,NEXT_STA TE:STA TE_TYPE; BEGINSYNCH: PROCESSBEGINWAIT UNTIL CLK'EVENT AND CLK='1';CURRENT_STATE<=NEXT_STA TE;END PROCESS;STA TE_TRANS:PROCESS(CURRENT_STATE)BEGINCASE CURRENT_STATE ISWHEN S0=>NEXT_STATE<=S1;Z<='1';WHEN S1=>NEXT_STATE<=S2;Z<='1';WHEN S2=>NEXT_STATE<=S3;Z<='0';WHEN S3=>NEXT_STATE<=S4;Z<='0';WHEN S4=>NEXT_STATE<=S5;Z<='1';WHEN S5=>NEXT_STATE<=S6;Z<='0';WHEN S6=>NEXT_STATE<=S0;Z<='1';END CASE;END PROCESS;END RTL;波形仿真结果:3、11010序列产生器与11010序列检测器级联后的电路图:波形仿真结果:4、不包含11010的任意序列产生器与11010序列检测器级联后的电路图:波形仿真结果:。

采用状态机设计方法设计的1101序列检测

采用状态机设计方法设计的1101序列检测
end //输出与状态寄存器的逻辑关系 assign Q=present_state[4]&~present_state[3]&~present_state[2]&~present_state[1]&~present_state[0]; endmodule
在BASYS 2开发板上的管脚配置如下,最后 一句不能缺: NET "clk" LOC = C11; NET "rest" LOC = G12; NET "D" LOC = P11; NET "Q" LOC = M5; NET "present_state[4]" LOC = G1; NET "present_state[3]" LOC = P4; NET "present_state[2]" LOC = N4; NET "present_state[1]" LOC = N5; NET "present_state[0]" LOC = P6; NET "clk" CLOCK_DEDICATED_ROUTE = FALSE;
S2: if(D==1'b0) present_state<=S3; else present_state<=S2;
S3:
if(D==1'b1) present_state<=S4; else present_state<=S0; S4:
if(D==1'b1) present_state<=S2; else present_state<=S0; default:present_state<=S0; endcase

1101序列检测器

1101序列检测器
input reset,clk,date_in;
output date_out;
reg[2:0] state;
parameter st0 = 3'b000 , st1 = 3'b001,st2 = 3'b010,st3 = 3'b011,st4 = 3'b100;
always@(negedgeclk or posedge reset)begin
if(reset == 1)
state <= st0;
end
always@(negedgeclk)begin
case(state)
st0:state<=date_in?st1:st0;
st1:state<=date_in?st2:st0;
st2:state<=date_in?st2:st3;
st3:state<=date_in?st4:st0;
'timescale 1ns/100ps
module selec_td1;
reg clk1,reset1,datein;
wire dateout;
mealy1101 u1(.clk(clk1),.reset(reset1),.date_in(datein),.date_out(dateout));
initial begin
st3: state <= date_in?st1:st0;
// st4: state <= date_in?st2:st0;
endcase
eБайду номын сангаасd
assign date_out = (date_in& state[0] & state[1]);

110配线架端接检测仪的研究与设计

110配线架端接检测仪的研究与设计

110配线架端接检测仪的研究与设计摘要建设智能城市与智能化建筑将成为世界经济发展的必然趋势,而网络工程综合布线是整个信息化建设的基础,110配线架作为综合布线系统的核心产品,起着传输信号的灵活转接、灵活分配以及综合统一管理的作用。

针对110配线架,通过巧妙构建信息回路,以AT89C52单片机为单元核心,利用定向脉冲发送及接收技术,实现网络综合布线端接训练正确性实时提示,从而提高网络工程专业学生进行综合布线端接实训的效率。

关键词110配线架;信息回路;定向脉冲发送及接收技术;LED阵列正确性提示建设智能城市与智能化建筑将成为世界经济发展的必然趋势,而网络工程综合布线是整个信息化建设的基础,110配线架作为综合布线系统的核心产品,起着传输信号的灵活转接、灵活分配以及综合统一管理的作用,又因为综合布线系统的最大特性就是利用同一接口和同一种传输介质,让各种不同信息在上面传输,而这一特性的实现主要通过连接不同信息的配线架之间的跳接来完成的。

网络工程专业学生不仅应该掌握网络综合布线的理论基础,更应该动手实践,体会网络综合布线的整体流程。

1建设目标本文针对110配线架,通过巧妙构建信息回路,以AT89C52单片机为单元核心,利用定向脉冲发送及接收技术,实现网络综合布线端接训练正确性实时提示,从而提高网络工程专业学生进行综合布线端接实训的效率。

针对110配线架中一一对应的上侧端接架的50个压线凹槽及下侧端接架的50个压线凹槽,共计100个端接测试点,根据网络工程综合布线课程实验训练要求及满足《ANSI/EIA/TIA-T568A》、《ANSI/EIA/TIA-T568B》、《ISO/IEC11801》标准,本文以单片机及移位寄存器为核心,移位循环向端接器件的一侧(以下简称信号发送端)发送排它性信号编码(即循环发送:000……000+2n{n∈1,i},i=端接测试点数/2),在端接器件另一侧(以下简称信号接收端),系统通过分析收到的报文编码,得出端接实验正确性结果,并通过LED阵列进行正确性提示;同时,数码管会显示出端接实验正确性结果的个数。

Multisim电路系统设计与仿真第七章

Multisim电路系统设计与仿真第七章
Qn1 J Qn K Qn
表7.3 JK触发器的特征表
J
K
Qn
Qn+1
0
0
0
0
0
0
1
1
0
1
0
0
0
1
1
0
1
0
0
1
1
0
1
1
1
1
0
1
1
1
1
0
功能 Qn+1=Qn
保持 Qn+1=0
置0 Qn+1=1
置1 Qn+1 翻转
7.1 110序列检测器电路分析
确定激励和输出方程组 用JK触发器设计时序电路时,电路的激励方程需要间接导出。与设计要求和状态转换结
7.2 RAM存储器电路分析
图7-9 RAM写入状态仿真
7.2 RAM存储器电路分析
在地址0001H存入数据22。
图7-10 写操作的电路状态(一)
7.2 RAM存储器电路分析
在地址0010H中存入数据50。
图7-11 写操作的电路状态(二)
7.2 RAM存储器电路分析
在地址0100H中存入数据72。
Multisim电路系统设计与仿真教程课件
第七章 数字电路设计实例
CONTENTS
1 110序列检测器电路分析
2 RAM存储器电路分析
3 竞赛抢答器电路分析——数 字单周期脉冲信号源与数字 分析
4 A-D、D-A转换 5 数控直流稳压电源电路
内容提要
本章结合数字电路中的典型实例进一步介绍Multisim,从 实例的设计目的、设计任务、设计思路、设计过程到最后的系 统仿真,详细的介绍了Multisim对于数字电路的仿真分析。

序列检测器的设计 实验报告

序列检测器的设计 实验报告

EDA实验报告书设计原理图及源程序LIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY AA ISPORT ( CLK ,DIN,RST : IN STD_LOGIC;SOUT : OUT STD_LOGIC;END AA;ARCHITECTURE behav OF AA ISTYPE states IS (s0, s1, s2, s3,s4,s5,s6,s7,s8);SIGNAL ST,NST : states :=s0 ;BEGINCOM : PROCESS(ST,DIN) BEGINCASE ST ISWHEN s0 => IF DIN = '1' THEN NST <= s1;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN s1 => IF DIN = '0' THEN NST <= s2;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN s2 => IF DIN = '1' THEN NST <= s3;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN s3 => IF DIN = '0' THEN NST <= s4;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN s4 => IF DIN = '1' THEN NST <= s5;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN s5 => IF DIN = '1' THEN NST <= s6;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN s6 => IF DIN = '1' THEN NST <= s7;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN s7 => IF DIN = '0' THEN NST <= s8;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN s8 => IF DIN = '0' THEN NST <= s2;ELSE NST<=s0; END IF; WHEN OTHERS => NST <= st0;END CASE ;END PROCESS;REG: PROCESS (CLK,RST)BEGINIF RST='1' THEN ST<=s0;ELSIF ( CLK'EVENT AND CLK='1') THEN ST<=NST;END IF;END PROCESS REG;SOUT<='1'WHEN ST=s8 ELSE '0' ;END behav;仿真波形图实验结果LIBRARY ieee;USE ieee.std_logic_1164.all;ENTITY SM1 ISPORT (clock : IN STD_LOGIC;reset : IN STD_LOGIC := '0';input1 : IN STD_LOGIC := '0';input2 : IN STD_LOGIC := '0';output1 : OUT STD_LOGIC);END SM1;ARCHITECTURE BEHAVIOR OF SM1 ISTYPE type_fstate IS (st1,st2,st3,st4,st5,st6,st7,st8,st0);。

110序列检测器的设计及仿真实现

110序列检测器的设计及仿真实现

题目:设计 110 序列检测器,当输入信号时输出,否则一、设计思路我们采用 Moore 机完成这个功能。

对于触发器的选择,为了简便我们选用 D触发器以及基本的门电路完成基本设计。

二、时钟同步状态机1根据题目要求我们得到下面的状态图状态表示的意义Q X=0X=1输出 Z 等待 1 的出现A A B0出现 1B A C0出现 11C D C0出现 110D A B1Q*2转移输出表Q0 Q1输入 X输出 ZX=0X=10000010010011011101101000011Q0 Q13状态图如图:通过卡诺图化简可得转移方程:输出方程:Q0 =Q0Q1Q1 X Q1XZ Q0Q1我们选择 D 触发器作为记忆电路部分由 D 触发器的特征方程 : Q D得激励方程: D 0=Q0Q1Q1XD1X三、 Verilog 程序如下:module shiyan2 (clk,x,z);input clk,x;output z;wire[1:0] state;wire[1:0] excite;nextlogic u1(x,state,excite); statememory u2(clk,excite,state); outputlogic u3(state,z); endmodulemodule statememory (clk,d,q); input clk;input[1:0] d;output[1:0] q;reg[1:0] q;always @ (posedge clk) begin q <= d;endendmodulemodule nextlogic (x,q,d);input x; input[1:0] q;output[1:0] d;assign d[0]=(q[1]&q[0])|(q[1]&x); assign d[1]=x;endmodulemodule outputlogic (q,z); input[1:0] q;output z;assign z=(!q[1])&q[0]; Endmodule四、仿真结果及电路图得到功能仿真结果为:时序仿真结果为:利用程序生成的电路图为从电路图和仿真结果来看这次的仿真能够完全达到题目的要求。

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题目:设计110序列检测器,当输入信号时输
出,否则
一、设计思路
我们采用Moore机完成这个功能。

对于触发器的选择,为了简便我们选用D触发器以及基本的门电路完成基本设计。

二、时钟同步状态机
1根据题目要求我们得到下面的状态图
状态表示的意义Q X=0 X=1 输出Z 等待1的出现 A A B 0
出现1 B A C 0
出现11 C D C 0
出现110 D A B 1
*
Q
2 转移输出表
01
Q Q输入X
输出Z
X=0 X=1
00 00 01 0
01 00 11 0
11 10 11 0
10
00
01 1
01Q Q **
3 状态图如图:
通过卡诺图化简可得 转移方程:
00111
=Q Q Q Q X Q X
**+=
输出方程:01Z Q Q •=
我们选择D 触发器作为记忆电路部分 由D 触发器的特征方程: Q D *= 得激励方程:
00111D =Q Q Q X D X
+=
三、Verilog 程序如下: module shiyan2 (clk,x,z); input clk,x; output z; wire[1:0] state;
wire[1:0] excite;
nextlogic u1(x,state,excite); statememory u2(clk,excite,state); outputlogic u3(state,z); endmodule
module statememory (clk,d,q); input clk;
input[1:0] d;
output[1:0] q;
reg[1:0] q;
always @ (posedge clk) begin
q <= d;
end
endmodule
module nextlogic (x,q,d);
input x; input[1:0] q;
output[1:0] d;
assign d[0]=(q[1]&q[0])|(q[1]&x); assign d[1]=x;
endmodule
module outputlogic (q,z); input[1:0] q;
output z;
assign z=(!q[1])&q[0]; Endmodule
四、仿真结果及电路图得到功能仿真结果为:
时序仿真结果为:
利用程序生成的电路图为
从电路图和仿真结果来看这次的仿真能够完全达到题目的要求。

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