大一物理实验报告答辩霍尔效应与应用设计PPT

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非大电流,非强磁场下,VH>> VE,因此VE可略而不计
三、利用霍尔效应原理测量磁场
利用霍尔效应测量磁场是霍尔效应原理的典型应用。 若已知材料的霍尔系数RH,通过测量霍尔电压VH, 即可测得磁场。其关系式是
四、长直通电螺线管轴线上磁感应强度
根据毕奥-萨伐尔定律,对于长度为2L,匝数为N,半径为 R的螺线管离开中心点x处的磁感应强度为
3.在零磁场下(即IM=0),测量VBC(即Vσ )。(IS取0.10, 0.20,0.30……1.00mA)
通过回归法可计算出 k3=766.545
5
计算载流子浓度n、电导率、迁移率μ与其不确定度:
UN 、Uσ、Uμ 主要源于所给霍尔 元件尺寸的误差
4.亥姆霍兹线圈单边水平方向磁场分布(IS=3.00mA,IM=0.500A)
斜率相差不大,但仍有差异,出于严谨,
不能只使用两个电压数据的平均值进行计算
④实验中还有哪些未考虑到的误差?会有什么影 响?如何处理这些误差? 实验装置不可能达到绝对完美的精准。霍尔元件不 会完美地位于励磁线圈几何中心点上,也不会刚好处于 螺线管的几何轴线上,与磁场也不会完全垂直,线圈、 螺线管不可避免的会有漏磁现象,磁场分布变化也不会 处处平缓
霍尔效应与应用设计
当电流垂直于外磁场通过导体时,载流子 发生偏转,在垂直于电流和磁场的方向会产生 一附加电场,从而在导体的两端产生电势差,
这一现象就是
霍尔效应
霍尔效应的应用
在现代汽车上广泛应用的霍尔器件: ABS 系统中的速度传感器 汽车速度表和里程表 液体物理量检测器 发动机转速传感器。
量子领域的霍尔效应
实验内容
1.测量霍耳电压与工作电流,记录数据测绘VH-IS曲线
恒定磁场,保持励磁电流IM=0.50A,调整工作电流IS,记录数据 根据数据画出VH-IS曲线,
VH-IS曲线
通过回归法可计算出k1=2.0123
2.测量霍耳电压与励磁电流IM,记录数据测绘VH-IM曲线
恒定磁场,保持工作电流IS=3..00mA,调整励磁电流IM,记录数据 根据数据画出VH-IM曲线,
借助实验1的数据,进行计算 使用四个数据的平均值时,通过回归法计算出k=2.0123 只使用V1、V2的平均值时,通过回归法计算出k=2.0182 只使用V1、V3的平均值时,通过回归法计算出k=2.0121 只使用V2、V4的平均值时,通过回归法计算出k=2.0125 只使用V3、V4的平均值时,通过回归法计算出k=2.0064
②实验使用了直流电,而且会长时间使用装置, 这样做是否会影响实验结果? 有影响,爱廷豪森效应—热电效应引起的附加 电压VE被证明无法消除,但可通过使用交流电减 小误差,即便使用直流电,在非大电流,非强磁 场下,VH >> VE,因此VE可忽略不计 实验中本人将一空闲装置启动后单独放置了半 个小时左右,其读数变化不明显(约0.02mV),
5.通电螺线管轴向磁场分布(IM为500mA,Is为3.00mA)

通电螺线管轴线上磁感应强度
7 6
5
4
3
2
1
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
理论值
测量值
实验遇到的问题及解决的方法
①是否需要考虑地磁场? 不需要。地磁场过于微弱(50-60μT),对实 验产生的影响完全可以忽略, 但如果周围有产生强磁场的物体,比如变压 器,输电线等,最好换更场地
如果只使用两个电压的平均值 (|V1|+|V2|)/2= VH + VN + VRL + VE (|V1|+|V3|)/2= VH + VE (|V2|+|V4|)/2= VH + VE (|V3|+|V4|)/2= VH - VN - VRL + VE 由②可以知道实验时VE很小可以忽略,但是这 样做对斜率造成的影响 是否明显呢?
实验原理
一、霍尔效应原理
VH IS
根据霍尔系数RH可进一步确定以下参数
载流子浓度
电导率
迁移率
二、实验中的副效应及其消除方法
(1)不等势电压降V0 (2)爱廷豪森效应—热电效应引起的附加电压VE (3)能斯托效应—热磁效应直接引起的附加电压VN (4)里纪—勒杜克效应—热磁效应产生的温差引起的附加电压VRL
为了严谨,使用装置时最好每十分钟关机冷却一 分钟以上
③记录时需记录V1、V2、V3、V4并求平均值过于 麻烦,能否只用两个电压数据的平均值 完成实 验? 在实验中发现两个电压数据的平均值不但接近 四个电压的平均值,而且与电流之间的回归方程 的斜率似乎也很接近 我们无法彻底消除误差,但我们可以减小误 差,只要可以将其减小到我们可以接受的范围, 依旧可以算作排除了误差影响,而用尽可能少的 实验操作减少误差也是实验的重点之一
【实验目的】 1.通过实验掌握霍尔效应基本原理,了解霍尔 元件的基本结构; 2.学会测量半导体材料的霍尔系数、电导率、 迁移率等参数的实验方法和技术; 3.学会用“对称测量法”消除副效应所产生的 系统误差的实验方法。 4.学习利用霍尔效应测量磁感应强度B及磁场 分布。 5. 探究能否用更少的数据完成实验
VH-IM曲线
通过回归法可计算出k2=12.0725
可得到
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与仪器标注178 mV/mA·T相差不大
计算KH的不确定度 由于实验没有对同一数据进行多次测量取平均值,没有A 类不确定度,B类不确定度源于仪器的测量误差,已知仪 器的测量准确度为0.5%,取均匀分布
r
r
r
0.0005775 mV/mA·T
影响: 这些都会导致在霍尔效应中作用于霍尔元件的磁 场与相比理论值偏小,产生的霍尔电压VH会偏小。 偏差的大小取决于操作和实验装置的调试,可以 通过采用更精准的装置来减小误差
谢谢!
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