光电测试技术激光干涉测试技术/
光干涉检测技术
光干涉检测技术
光干涉检测技术是一种基于光的干涉原理进行测量和分析的技术,它可以用来测量物体的表面形貌、折射率、厚度、介电常数等参数。
光干涉检测技术具有高精度、高灵敏度、非接触等特点,因此在科学研究、工业生产和医疗诊断等领域得到了广泛应用。
光干涉检测技术的基本原理是,当两束或多束相干光波在空间某一点叠加时,它们的光程差会引起光强的变化,产生干涉现象。
干涉现象表现为光强的加强或减弱,取决于光程差是偶数倍还是奇数倍。
通过测量干涉条纹的移动和光强变化,可以计算出物体的形貌、折射率、厚度等参数。
在实际应用中,常见的光干涉检测技术包括干涉显微镜、干涉仪、激光干涉仪等。
这些技术可以用于测量表面粗糙度、晶格常数、薄膜厚度等参数,也可以用于研究光学现象和物理现象。
总之,光干涉检测技术是一种高精度、高灵敏度的光学测量技术,具有广泛的应用前景。
随着光学技术和计算机技术的不断发展,光干涉检测技术将会得到更广泛的应用和推广。
光电测试技术-激光外差干涉
反射光将产生的频移为 2v/。
➢ 如果圆偏振光通过一个旋转中的半波片,则透射光将产生两倍于 半波片旋转频率f 的频移,即 v2f 。
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hபைடு நூலகம்
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声波的多普勒效应
一辆汽车在我们身旁急驰 而过,车上喇叭的音调有一个 从高到低的突然变化;站在铁 路旁边听列车的汽笛声也能够 发现,列车迅速迎面而来时音 调较静止时为高,而列车迅速 离去时则音调较静止时为低。 此外,若声源静止而观察者运 动,或者声源和观察者都运动, 也会发生收听频率和声源频率 不一致的现象。这种现象称为 多普勒效应。
平均功率
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h
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光外差检测
fs为信号光波,fL为本机振荡(本振)光波,这两束平面平
行的相干光,经过分光镜和可变光阑入射到探测器表面
进行混频,形成相干光场。经探测器变换后,输出信号中 包含 fc= fs –fL 的差频信号.故又称相干探测.
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,入射到探测器上的总光场为
光外差探测与直接探测相比较有许多优点,在直 接探测中由于光的振动频率高达2×1013~7.5×1014Hz, 振动周期T为5×10-14 ~ 1.3×10 -15 s (可见光到中近红 外),而探测器响应时间最短10 -10 s, 它只能响应其平 均能量或平均功率。
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在直接探测中,设光波动的圆频率为ω, 振幅为A,则光波f(t)写成
光波的多普勒效应
光波的多普勒效应 具有波动性的光也会出现这种效应,它又
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光电计量与测试技术
提高光电计量与测试技术的精度和稳定性,满足高精度和 高可靠性的需求
光电计量与测试技术的发展趋势:高精度、高稳定性、高可靠性
提高精度和稳定性的方法:采用先进的传感器、信号处理算法、校准技术等
挑战:如何满足高精度和高可靠性的需求,同时降低成本和功耗
光电信号的放大:通过放大器将微弱的电信号放大
光电信号的滤波:通过滤波器去除噪声和干扰
光电信号的转换:通过ADC将模拟电信号转换为数字信号
光电信号的处理:通过DSP或FPGA对数字信号进行处理 和分析
光电信号的显示:通过显示器将处理后的信号显示出来
光电计量与测试的精度和误差分析
光电计量与测试技术的原理:利 用光电效应进行测量
应用领域:拓展 光电计量与测试 技术的应用领域, 如医疗、环保、 航天等
感谢观看
汇报人:
光电计量与测试技术是利用光电效应进行测量和测试的技术。
光电计量与测试技术包括光电转换、光电检测、光电信号处理等方 面。
光电计量与测试技术广泛应用于各种光电子器件、光电子系统、光电 子设备的性能测试和评价。
光电计量与测试技术是光电子技术领域的重要组成部分,对于光电 子技术的发展具有重要意义。
光电计量与测试技术的应用领域
红外成像等
红外光计量与 测试技术的发 展趋势:高精 度、小型化、
智能化等
紫外光计量与测试技术
紫外光计量与测试技术的定义和原理 紫外光计量与测试技术的应用领域 紫外光计量与测试技术的优缺点 紫外光计量与测试技术的发展趋势和挑战
X射线计量与测试技术
X射线计量与测试技术的 定义和原理
X射线计量与测试技术的 应用领域
物理实验技术中的位移测量使用方法
物理实验技术中的位移测量使用方法引言物理实验中,位移测量是非常重要的一项技术,它可以帮助我们准确地测量物体在空间中的位置变化。
不同的实验需要不同的位移测量方法,本文将为大家介绍一些常见的物理实验中的位移测量使用方法。
一、光电法光电法是一种常见的位移测量方法,它利用光束的投射和接收来测量物体的位移。
该方法基于光电效应,通过光电传感器接收光束反射回来的光信号,进而计算物体的位移。
光电法测量位移快速准确,广泛应用于各种实验中,例如光栅移位传感器用于测量光栅条纹的位移。
二、激光干涉法激光干涉法是一种高精度的位移测量方法。
它利用激光光束的干涉现象来测量物体的位移。
将一束激光光束分成两束,分别照射到被测物体上,通过干涉效应,可以测量出物体的微小位移。
激光干涉法在实验室中广泛应用,例如在微纳尺度测量和光学仪器校准中。
三、位移传感器位移传感器是物理实验中最常用的位移测量设备之一。
位移传感器可以通过测量物体的伸缩变化、电容变化、电感变化等来获得位移信息。
它们通常由传感器头和信号处理部分组成。
常见的位移传感器有电容传感器、电感传感器和线性变阻传感器等。
根据实验需求,可以选择不同类型的位移传感器来实现高精度的位移测量。
四、高速相机法高速相机法是一种用于测量物体运动位移的方法。
它通过使用高帧率的相机来捕捉物体连续的图像。
通过分析这些图像中物体的移动情况,可以推算出物体的位移。
高速相机法在物理实验中广泛用于研究快速运动的物体,例如高速冲击试验和流体动力学研究。
五、声波测距法声波测距法是一种基于声音传播速度的位移测量方法。
它通过发射声波并接收反射回来的声波来测量物体的位移。
声波的传播速度是已知的,通过计算声波发射时刻与接收时刻的时间差,可以准确测量出物体的位移。
声波测距法广泛应用于工业领域和物理实验中的位移测量。
结论位移测量是物理实验中不可或缺的一项技术,通过光电法、激光干涉法、位移传感器、高速相机法和声波测距法等不同的测量方法,我们可以获得准确的位移数据。
光电测试技术-第0章_绪论
x U x
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其中,扩展不确定度U应取最多两位有效数字。
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第0章 绪论
3.5 间接测量的数据处理步骤 间接测量值为直接测量值的函数
V f ( x1, x2 ,xn )
当各个测量值及其误差为已知时,按下列步骤处理数据。 1) 计算间接测量值 V 。将各直接测量值的算术平均值代入函 数式求 V 。 2) 根据各误差传递系数和标准偏差估计值的大小可以判知哪个 (几个)直接测量值对测量结果影响较大,则尽量减小或消 除该项(几项)量值的系统误差。
ISO1000-1981规定的 七个基本量:
量的名称 长 质 时 电 度 量 间 流 单位名称 米 千克(公斤) 秒 安 [培 ] 开[尔文] 单位符号 m kg s A K
热力学温度
物质的量
发光强度
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摩[尔]
坎[德拉]
mol
cd
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第0章 绪论
2.3 测量中应遵循的原则 阿贝原则——长度测量时,标准量应安放在被测件测量中 心线的延长线上。做到这一点可以避免产生一阶误差。 封闭原则——圆周分度首尾相接的间距误差的总和为零, 表示为 ∑fi = 0 式中,fi 为分划间距(用角度表示)误差。这也就是分度误 差的闭合条件。 测量时,满足封闭性可以实现自检,因而可以提高测量的 精度。
2 2 2
合成标准不确定度为
V 2 V 2 V 2 uc V x u ( x1 ) x u ( x2 ) x u ( xn ) 1 2 n
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第0章 绪论
3)计算间接测量结果的合成标准不确定度。 标准偏差的估计值为
CSY10L型激光多功能光电测试系统概要
CSY10L型激光多功能光电测试系统在激光光电教学实验仪器中,CSY10L为全国首创,它将激光在近代测试技术中成功应用的范例,结合光电方法以教学实验的方法进行演示,实验内容新颖科学,使实验者能充分了解和掌握现代激光光电测试技术得主要原理和方法。
系统配置:激光系统;复用光学系统;CCD图像系统;A/D卡;视频卡;光纤传感系统;计算机实验软件主要实验内容:一、光散斑测试实验1、光散斑的性质及测量方法2、面内位移及离面位移的散斑测量3、速度及振动的散斑测量4、散斑编码及图像处理方法二、激光干涉测量1、三维面型的全场干涉测量及计算2、精密位移两的干涉测量方法3、数字干涉测量方法及其他干涉方法三、激光衍射计量技术1、精密狭缝缝宽的衍射测量2、巴俾特原理及细丝直径测量3、变形的全场衍射测量四、激光共焦三维测量1、三维型貌的共焦测量2、共焦显微镜的测量原理及相关技术实验五、纳米测量系统及演示实验1、利用笔束激光的干涉实现纳米测量的原理演示2、位移的纳米级测量方法3、微弱振动的纳米测量六、光学傅立叶变换及图像处理方法1、常用函数及图形的傅立叶变换2、图形的滤波、增强及像质改善七、光纤传感技术1、光纤单元技术:光源(LD)、耦合器、分束器、光纤接头2、SM光纤、PM光纤的原理和性能演示3、光纤传感—光线干涉传感系统实验4、光纤格林-台曼干涉系统实验5、光纤马赫-任德系统或光纤FP系统6、光纤传感-精密温度测试7、光线传感-压力标定温度8、仪器尺寸720×600×300mm,重量70kgCSY-10L激光多功能光电测试系统实验仪(Laser Universal Opto-Eletro Testing Systems)是在系列传感器实验系统的基础上发展的新型光电测试实验系统,用于仪器科学,计量测试专业,自动控制专业以及物理专业等课程教学。
其特点是实验内容新颖,技术先进,功能多样。
通过实验指导书提供的数十种实验,能完成包括激光、散斑、衍射、光电、共焦、光纤、纳米、图像等多种先进测试技术的实验,给学习者了解和掌握现代光学测试技术中的一些主要原理及方法建立基础,达到实验者今后在应用中做到举一反三的目的。
基于激光干涉测试技术的表面形貌分析研究
基于激光干涉测试技术的表面形貌分析研究近年来,随着科学技术的不断发展,人们对于表面形貌分析的研究不断深入。
而基于激光干涉测试技术的表面形貌分析技术,因其高精度、高分辨率、高稳定性等特点,已经逐渐成为表面形貌分析方面的一种重要手段。
本文主要讨论如何基于激光干涉测试技术进行表面形貌分析研究。
一、激光干涉测试技术的基本原理激光干涉测试是通过利用激光光学的干涉原理,来对物体表面形貌进行高精度的测量。
首先,将激光光源经过分光器进行分光,形成两束平行的光线。
其中一束经过反射镜反射到物体表面上,另一束则照射到参考镜上。
由于两束光线路径长度差异的存在,使得两束光线到达干涉面时会发生干涉现象。
通过干涉光的强度分布,可以获得物体表面的形貌信息。
一般采用相位移转换技术来提高测量精度。
二、激光干涉测试技术在表面形貌分析中的应用1. 光学元件的表面形貌测量激光干涉测试技术可用于光学元件的表面形貌测量,包括镜片、棱镜、透镜等。
通过不同的反射镜和透镜的组合,可获得物体表面的不同形貌信息,进而用于提高光学元件的制作精度和光学性能。
2. 电子芯片的表面形貌测量激光干涉测试技术可用于电子芯片的表面形貌测量。
电子芯片表面的形貌及粗糙度对芯片性能影响很大,而干涉测量技术可实现对芯片表面的三维测量,包括芯片尺寸、平整度、平坦度等参数。
这些参数的测量结果对于芯片制造和质量控制非常重要。
3. 材料薄膜的表面形貌测量针对材料薄膜的表面形貌测量而言,激光干涉测试技术也有着广泛的应用。
通过测量薄膜表面的波前高度分布和厚度分布,可以得到薄膜材料的质量、粗糙度等重要参数。
4. 机械零件的表面形貌测量除此之外,激光干涉测试技术还可以用于机械零件的表面形貌测量。
这些零件的表面形貌信息直接关系到所使用的机械设备的性能。
因此对于机械零件的形貌信息的快速、准确测量,也成为激光干涉测试技术得以广泛应用的原因之一。
三、激光干涉测试技术的发展与未来趋势随着计算机技术和光电技术的快速发展,激光干涉测试技术的精度、稳定性和测量速度不断提升。
第五讲激光外差干涉测长与测振
主要内容 一、双频激光外差干涉 二、双频激光外差干涉的应用 三、条纹小数重合法原理 四、红外双线氦氖激光绝对干涉测长系统
一、双频激光外差干涉仪
光源: 双频He-Ne激光器
由于
t
0
fdt=
t
2v
0
所以 L N f dt 在全内腔单频He—Ne激光器上加上约 300 ×10-4T 2 的轴向磁场 2 0
dt=
0
t
2
t
2 vdt= L
由于塞曼效应 1/4波片 和频率牵引效 应,使该激光 双频激光器 f2 器输出一束有 f1 两个不同频率 检偏器 的左旋和右旋 圆偏振光 ,它 f2-f1 们的频率差△V 约为1.5MHz
准直系统 f2
偏振分光镜 v f1 可动角 隅棱镜
f1±Δf
f2 探测器 前置 放大器
1 2 干涉场中某点(x, 1 y) 2 Er 1 cos 2( )t Et 1 cos 2t φ( x,y) 2 2 处光强以低频Δω随 Er Et cos(时间呈余弦变化 2 )t φ( x,y) Er Et cost-φ( x,y)
f1±Δf
数 据 处 理
f2-(f1±Δf)
双频激光器外差干涉测长原理图
工作原理
双频激光器1发出双频激光束
通过1/4波片2变成两束振动方向互相垂直的线偏振 光(v1垂直于纸面,v2平行于纸面) ,
经光束扩束器3适当扩束准直后,光束被分束镜4分为两部分
根据马吕斯定律, 两个互相垂直的 线偏振光在450方 向上的投影,形 成新的同向线偏 振光并产生 “拍”,其拍频 就等于两个光频 之差,即△v= v1—v2=1.5MHz
什么是光电检测?光电检测技术介绍
什么是光电检测?光电检测技术介绍(-)检测一、检测是通过一定的物理方式,分辨出被测参数量病归属到某一范围带,以此来判别被测参数是否合格或参数量是否存在。
测量时将被测的未知量与同性质的标准量进行比较,确定被测量队标准量的倍数,并通过数字表示出这个倍数的过程。
在自动化和检测领域,检测的任务不仅是对成品或半成品的检验和测量,而且为了检查、监督和控制某个生产过程或运动对象使之处于人们选定的最佳状况,需要随时检测和测量各种参量的大〃坏口变化等情况。
这种对生产过程和运动对象实时检测和测量的技术又称为工程检测技术。
测量有两种方式:即直接测量和间接测量直接测量是对被测量进行测量时,对以表读数不经任何运算,直接的出被测量的数值,如:用温度计测量温度,用万用表测量电压间接测量是测量几个与被测量有关的物理量,通过函数关系是计算出被测量的数值。
如:功率P与电压V和电流I有关,即P=VI,通过测量到的电压和电流,计算出功率。
直接测量简单、方便,在实际中使用较多;但在无法采用直接测量方式、直接测量不方便或直接测量误差大等情况下,可采用间接测量方式。
光电传感器与敏感器的概念传感器的作用是将非电量转换为与之有确定对应关系得电量输出,它本质上是非电量系统与电量系统之间的接口。
在检测和控制过程中,传感器是必不可少的转换器件。
从能量角度出发,可将传感器划分为两种类型:一类是能量控制型传感器,也称有源传感器;另一类是能量转换传感器,也称无源传感器。
能量控制型传感器是指传感器将被测量的变换转换成电参数(如电阻、电容)的变化,传感器需外加激励电源,才可将被测量参数的变化转换成电压、电流的变化。
而能量转换型传感器可直接将被测量的变化转换成电压、电流的变化,不需外加激励源。
在很多情况下,所需要测量的非电量并不是传感器所能转换的那种非电量,这就需要在传感器前面加一个能够把被测非电量转换为该传感器能够接收和转换的非电量的装置或器件。
这种能够被测非电量转换为可用电量的元器件或装置成为敏感器。
激光干涉位移测量技术
激光干涉位移测量技术摘要:为了实现纳米级以上分辨力位移的测量研究,利用激光干涉位移测量技术可以达到纳米级分辨力,其具有可溯源、分辨力高、测量速度快等特点,是目前位移测量领域的主流技术。
本文对目前主要的激光干涉位移测量技术进行了分类介绍,并对各种干涉仪的特点进行了分析,最后介绍了激光干涉位移测量技术的国内外发展现状和趋势。
关键词:纳米级;激光干涉;位移测量;1 引言干涉测量技术( interferometry ) 是基于电磁波干涉理论,通过检测相干电磁波的图样,频率、振幅、相位等属性,将其应用于各种相关的测量技术的统称。
用于实现干涉测量技术的仪器被称为干涉仪。
在当今多个科研领域,干涉测量技术都发挥着重要的作用,包括天文学,光纤光学,以及各种工程测量学。
其中由于上个世纪60年代激光的研制成功,使得激光干涉测量技术在各种精密工程领域得到了广泛的应用。
它的基本功能是将机械位移信息变成干涉条纹的电信号,再对干涉条纹进行调理和细分,进而获得所需要的测量信息。
整个激光干涉测量系统中主要的组成部分有光电转换、信号调理、信号细分处理。
1.1激光干涉仪分类激光干涉仪是以干涉测量为原理,利用激光作为长度基准,对数控设备(加工中心、三坐标测量机等)的位置精度(定位精度、重复定位精度等)、几何精度(抚养扭摆角度、直线度、垂直度)进行精密测量的精密测量技术。
由于激光具有波长稳定、波长短、具有干涉性,使得激光在现代光电测量系统中占据了重要的地位,尤其是在激光干涉测量系统中。
下面介绍激光干涉仪测量原理以及激光干涉仪。
光的相长干涉和相消干涉:图1.光的相长以及相消干涉如果两束光相位相同,光波会叠加增强,表现为亮条纹,如果两束光相位相反,光波会相互抵消,表现为暗条纹。
图1.1就是光的相长以及相消干涉,而激光干涉仪主要依据的原理就是激光的干涉产生明亮条纹并将其转换成相关的电信号,从而获取所需要的位移信息。
整个光电系统中激光干涉仪是最重要的组成部分,虽然目前市场存在各式的激光干涉仪,但从其工作的基本原理上来说,主要可以分为单频激光干涉仪以及外差激光干涉仪两种基本类型。
光电检测
第1章概述光电检测技术是光电信息技术的主要技术之一,它主要包括光电变换技术、光信息获取与光信息测量技术以及测量信息的光电处理技术等。
如用光电方法实现各种物理量的测量,微光、弱光测量,红外测量,光扫描、光跟踪测量,激光测量,光纤测量,图像测量等。
光电检测技术将光学技术与电子技术相结合实现对各种量的测量,他具有如下特点:(1)高精度。
光电测量的精度是各种测量技术中精度最高的一种。
如用激光干涉法测量长度的精度可达0.05μm/m;光栅莫尔条纹法测角可达到;用激光测距法测量地球与月球之间距离的分辨力可达到1m。
(2)高速度。
光电测量以光为媒介,而光是各种物质中传播速度最快的,无疑用光学方法获取和传递信息是最快的。
(3)远距离、大量程。
光是最便于远距离粗寒痹的介质,尤其适用于遥控和遥测,如武器制导、光电跟踪、电视遥测等。
(4)非接触测量。
光照到被测物体上可以认为是没有测量力的,因此也无摩擦,可以实现动态测量,是各种测量方法中效率最高的一种。
(5)寿命长。
在理论上光波是永不磨损的,只要复现性做得好,可以永久的使用。
(6)具有很强的信息处理和运算能力,可将复杂信息并行处理。
用光电方法还便于信息的控制和存储,易于实现自动化,,易于与计算机连接,易于实现只能化。
光电测试技术是现代科学、国家现代化建设和人民生活中不可缺少的新技术,是机、光、电、计算机相结合的新技术,是最具有潜力的信息技术之一。
1.1本课题的前景与意义随着社会科学技术的迅速发展,人们对报警器的性能提出了越来越高的要求。
传统的报警器通常采用触摸式、开关报警器等。
这类报警器具有性能稳定、实用性强等特点,但是也具有应用范围窄等缺点。
而且安全性能也不是很好。
光电报警就很好的改善了这些方面。
如今,光电报警器已经广泛应用到工农业生产、自动化仪表、医疗电子设备等领域本实验的设计借助于模拟电路和数字逻辑电路,采用模块化的设计思想,使设计变得简单、方便、灵活性强。
光电技术与光电检测技术概述
光电技术与光电检测技术概述摘要: 光电技术是以激光, 红外, 微电子等为基础旳, 由光学、精密机械、电子和计算机技术结合而成旳高新技术。
光电检测技术是光电技术中最重要最核心旳部分, 它重要涉及光电变换技术、光信息获取与光信息测量技术以及测量信息旳光电解决技术等。
如用光电措施实现多种物理量旳测量, 微光、弱光测量, 红外测量, 光扫描、光跟踪测量, 激光测量, 光纤测量, 图象像测量等。
它集中发展了光学和电子固有旳技术优势, 形成了许多崭新功能和良好旳技术性能, 在国民经济、国防、科学研究等各方面有着广泛旳应用和巨大旳潜力, 成为新技术革命时代和信息社会旳重要技术支柱, 受到了各方面注重, 从而得到了迅速发展。
核心词: 光电技术光电检测技术引言在目前信息化社会中, 光电技术已成为获取光学信息或提取他信息旳手段。
它是人类能更有效地扩展自身能力, 使视觉旳长波延长到亚毫米波, 短波延伸至X射线、γ射线, 乃至高能粒子。
并且可以在飞秒级记录超迅速现象, 如核反映、航空器发射等旳变化过程。
并且光电检测技术是一种非接触测量旳高新技术, 是光电技术旳核心和重要构成部分。
通过光电检测器件对载荷有被检测物体信息旳光辐射进行检测, 并转换为电信号, 经检测电路、A/D变换接口输入微型计算机进行运算、解决, 最后得出所需检测物旳几何量或物理量等参数。
因此, 光电检测技术是现代检测技术旳重要手段和措施, 是计量技术旳一种重要发展方向。
一、光电技术与光电检测技术旳含义现代科学技术发展旳一种明显性特点是纵横交叉, 彼此渗入, 边沿科学不断露头和进展迅速。
由于光学现象可以进行近似线性化使它可以采用有关线性系统旳一般原理, 因此在电系统中旳许多行之有效旳理论和分析措施都可以移植到光学中来。
随着大规模集成电路旳发展, 光学也开始向集成化发展。
光电技术是以激光, 红外, 微电子等为基础旳, 由光学、精密机械、电子和计算机技术结合而成旳高新技术。
激光干涉测试技术
干涉条件
通常能够产生干涉的两列光波必须满足三个基本相干条件:
频率相同
振动方向相同
恒定的位相差
在实际应用中,有时需要有意识地破坏上述条件。比如在外差干涉测量技术中,在两束相干光波中引入一个小的频率差,引起干涉场中的干涉条纹不断扫描,经光电探测器将干涉场中的光信号转换为电信号,由电路和计算机检出干涉场的位相差。
为了保证参考平面面形精度
严格控制加工过程;
材料的线膨胀系数较小、残余应力很小;
安装时使之不产生装夹应力;
在高质量平面(如标准参考平面)的面形测量中,可以考虑用液体的表面作为参考平面。
4)标准参考平板的影响——液体的表面作为参考平面
地球的曲率半径约为6370km,当液面口径为1000mm时,液面中心才高出约0.1光圈,当口径为250mm时,液面才高出约0.005光圈。
日本国家计量研究所(NRLM)研制了由稳频塞曼激光光源、四光束偏振迈克尔干涉仪和数据分析电子系统组成的新型干涉仪,该所已开始研究一些基本常数的精密测量加硅晶格间距等问题。
Warwick大学的Chetwynd博士利用X光干涉仪对长度标准用的波长进行细分研究,他利用薄硅片分解和重组X光光束来分析干涉图形,从干涉仪中提取的干涉条纹与硅晶格有相等的间距,该间距接近0.2nm,他依此作为校正精密位移传感器的一种亚纳米尺度。
④ 干涉条纹计数与判向
激光散斑干涉电子测量技术
激光散斑干涉电子测量技术李康华(哈尔滨工业大学威海校区光电科学系,威海 264209)摘要:激光散斑干涉测量是根据与物体变形有内在联系的散斑图, 将物体表面变形测量出来。
本文介绍了激光散斑干涉技术的原理、检测方法及其应用。
从实验检测中,发现其是一种非常便捷、先进、并具有发展潜力的光测技术,能广泛应用在许多领域中,尤其是工业产品生产的领域中。
关键词:激光散斑干涉技术1 引言散斑现象早已被人们所熟悉,但是在激光问世之后才被深刻的了解,并且应用到许多的领域.激光是一种高度相干性的光源,当它照射在具有漫反射性质的物体表面,根据惠更斯理论,物体表面的每一点都可以看成一个点光源,从物体表面反射的光在空间相互叠加,就会在整个空间发生干涉,形成随机分布的,明暗相间的斑点,这些斑点成为激光斑点(speckle)[1].随着科技的发展,对散斑的深入研究,人们发现, 发现这些斑点的大小和位置虽然是随机分布,但是整体上斑点是符合统计学规律的。
在一点范围内,散斑场的运动是与物体表面上各点的运动一一对应的。
散斑的尺寸和形状, 与物体表面的结构、观察位置、光源和光源到记录装置之间的光程等因素有关。
当物体表面位移或变形时, 其散斑图也随之发生变化, 物体散斑虽为随机分布。
但物体变形前、后散斑有一定规律, 且常有物体表面位移或变形的信息。
散斑干涉计量就是根据与物体变形有内在联系的散斑图, 将物体表面位移或变形测量出来。
激光散斑干涉法测量物体变形,除了具备全息干涉法的非接触直观,可以遥感,全场性实时性外,还具备光路简单,对试件表面,实验条件要求不高,计算方便,精度可靠等特点[8-10]。
因此,激光散斑干涉电子测量技术在许多领域上都得到到了广泛的应用。
2 散斑干涉原理散斑干涉计量的全过程分为2 步: 第1 步应用相干光照射目标的粗糙表面, 记录目标表面位移信息的散斑图; 第2 步将记录的散斑图放在某一分析光路( 逐点分析或全场分析光路) 中, 把散斑图中传感的位移或变形信息分离出来, 进行定性或定量分析。
《光电检测技术》第一章
4)光电转换:光信息经光电器件实现由光向电的信息 光电转换: 转换,称为光电转换。用各种光电变换器件来完成的, 转换,称为光电转换。用各种光电变换器件来完成的, 如光电检测器件、光电摄像器件等。 如光电检测器件、光电摄像器件等。 5)电信息处理:用各种电信号处理的方法实现解调、 电信息处理:用各种电信号处理的方法实现解调、 滤波、整形、判向、细分等, 滤波、整形、判向、细分等,或送到计算机进行进一步 的运算。 的运算。 6)控制、存储、显示部分。 控制、存储、显示部分。 被测对象与被控对象。 7)被测对象与被控对象。 光学变换与光电转换是光电测量的核心部分。 光学变换与光电转换是光电测量的核心部分。
(2)工作原理:
(d)由主振向二跳变脉冲间填充测量脉冲便可测出光扫描工 Δt, 不变, 件上下边缘的时间 Δt,若光扫描工件的线速度 v不变,则可 =vΔt。 测出被测工件尺寸 D =vΔt。
3、光电检测系统的基本组成:
1)光源:产生信息传递的媒介——光。 光源:产生信息传递的媒介——光 —— 2)光学系统:对光线传播方向等作处理以适应要求。 光学系统:对光线传播方向等作处理以适应要求。 光学变换: 3)光学变换:光载波与被测对象相互作用而将被测量 载荷到光载波上,称为光学变换。 载荷到光载波上,称为光学变换。 光学变换是用各种调制的方法来实现的。 光学变换是用各种调制的方法来实现的。使用各种光 学元件和光学系统来实现的,如平面镜、光狭缝、光 学元件和光学系统来实现的,如平面镜、光狭缝、 透镜等,实现将被测量转换为光参量(振幅、 楔、透镜等,实现将被测量转换为光参量(振幅、频 相位、偏振态、传播方向变化等)。 率、相位、偏振态、传播方向变化等)。
液压动力系 统
(左方) 左方)
{
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术
▪ 全息干涉测试技术是全息术应用于实际最早也是最成熟 的技术,它把普通的干涉测试技术同全息术结合起来, 具有许多独特的优势:
▪ 1)全息干涉技术则能够对任意形状和粗糙表面的三维表面进行测 量,测量不确定度可达光波波长数量级。
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术
▪ ②实时法全息干涉
▪ 原理:将对物体曝光一次的全息图经显影和定影处理后 在原来摄影装置中精确复位,再现全息图时,再现像就 重叠在原来的物体上。若物体稍有位移或变形,就可以 看到干涉条纹。
▪ 设物光波和参考光波在全息底片上形成的光场分布分
别为: A (x,y)A 0(x,y)ej0(x,y) R(x,y)R0ejR(x,y)
O
z
全息底片
O
z
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物光波的再现图示
物光波的再现图示 9
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ③全息术对光源的要求
▪ 由全息术的原理知道,全息图的记录和再现依赖于光的 干涉和衍射效应。因此,全息术对所用光源的要求不仅 同普通照相一样具有能使底片得以曝光的光能输出,而 且应具有为满足光束的干涉和衍射所必须的时间相干性 和空间相干性——一般选择激光器。
2020/6/30 A r2 A 0 2x ,y A rA 0x ,yejy 0x,y A rA 0x ,ye jy 0x 6,y
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ②物光波的再现 ▪ 如果处理过的全息干版的透过率和曝光光强成线性关系,
则其透过率为
P
则振幅恒定,位相随y值变,
以O点为参考,任一点 P(x, y) 的位相将比入射到
参考光波 θ
z
全息底片
O点光波的位相延迟了
全息图的记录过程图示
r 22ysin
令
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2则sin有
Er Arejy
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术 该式表明,全息底片上的光强分布按 4.1 全正息弦术规及律其分基布本,原而理且干涉条纹的亮度 ①全和息形图状的主记要录由物光波决定,因此物体 ▪ 对相光在全均于波全息为物的息底(体x底片振,光y片经幅)波的上过和函,。显相数由影位,于和以故入定光P射影强(x到,处的y全)理形点息后式物底,记体片就录光上波各电点场的分振布幅为和位
两次曝光时两个物光波 相2020干/6/3叠0 加的合成波—— 产生干涉
合成波的共轭波——也 产生干涉
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术 ①静态二次曝光全息干涉法 ▪ 现在将两物光波的复振幅分布代入第二项,则有:
W 2 ( x , y ) R 2 A 0 e i 0 A 0 e j ( 0 ) R 2 A 0 ( 1 e j) e j 0
tx,ym x,Iy
t 线性部分
O t-H曲线 H
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§5-4 激光全息干涉测试技术 该项也含有物体光波的振幅和位相信
在整个全息图息上,但A近r2是似它为和常物数光,波则前该进项方正向虚像好不是同一,个常数乘上
一个察射4②➢.个光就光1物如物波会波全光果体具看是息波用光有到原术的和波原一始及再参这它z,始个物其0轴现考可所它光和体基x的, 光以表y表波原波本光一从示示所来前原束前样位的一具一的理波的的相光个有模再前负光项波与的一现。号波中是物一样。预再看比体切的示现出照光性“着全。明波质物再息光相,体现图波同如”光,更的 果。波则偏透迎所对得离射着以到O光该,的y全波光这息透,波个底射片这观透 z
▪ 设第二次曝光时物光波为: A 2 ( x ,y ) A 0 ( x ,y ) e j 0 ( x ,y ) ( x ,y )
▪ 设参考光仍为:
R(x,y)R0ejR(x,y)
▪ 则第二次曝光在底片上的曝光量为:
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I2(x,y)A 2(x,y)R (x,y)2
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▪ 若把曝光时间取为1,并假设底片工作在线性区,比例 系数取为1,则底片经过显影、定影处理后得到全息图 的振幅透射比分布为
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H (x ,y ) 2 R 2 A 1 (x ,y )2 A 2 (x ,y )2
R * A 1 (x ,y ) A 2 (x ,y ) R A 1 * (x ,y ) A 2 * (x ,y )
仅成像的亮度降低、分辨力下降,而且全息图不怕油 污和擦伤。 ➢ 信息容量大。 ➢ 光学系统简单,原则上无须透镜成像。
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§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ①全息图的记录
▪ 设参考光波为 Er Arejr ▪ 因为参考光波是平面波,
物光波 y
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术 ①静态二次曝光全息干涉法 ▪ 原理:二次曝光全息干涉法是将两个具有一定位相差的
光波分别与同一参考光波相干涉,分两次曝光记录在同 一张全息底片上。当用与参考光完全相同的再现光照射 该全息图时,就可以再现出两个互相重叠的具有一定位 相差的物光波。当迎着物光波观察时,就可以观察到在 再现物体上产生的干涉条纹。
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术 ▪ 全息干涉测试技术的不足是其测试范围较小,变形量仅
几十微米左右。 ▪ 全息干涉方法包括:
➢ 单次曝光法(实时法); ➢ 二次曝光法; ➢ 多次曝光法; ➢ 连续曝光法(时间平均法); ➢ 非线性记录; ➢ 多波长干涉; ➢ 剪切干涉等多种形式。
成为全息图(又E 称o全 息A 干o(板x,)y 。)ejo(x,y)
➢ 全息底片仅对光强起反应,而光强可表示为光波振幅的 平方,即
I x ,y E 2 E 注 E 意E r 与 参E 考o 光E r 波 的E 比o 较
jy
EAe Ix ,yA rejy A 0x ,yej0x,y A re jy A 0rx ,ye rj0x,y
mrA Ar2A02x,yejymr2A0x,yej0x,y
m0A x,yej0x,yAr2ej2y
该项是在照明光束方向 传播的光波,它经过全
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息图后不偏转,但是振
幅会发生变化。
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ②物光波的重录再要的现性是质物:体光由波图和明参显考看光出波,产由生于的全干息涉图条记
A 1(x,y)RA (x,y)2R2A (x,y)R*(x,y)A*(x,y)R(x,y)
R 0(R 0 2A 0 2)ejRA 0R 0 2ej0A 0R 0 2ej(02R) A 0(R 0 2A 0 2)ej1A 0 2R 0ej(01R)A 0 2R 0ej(01R)
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光强和位相; ➢ 再现,即用光衍射原理来重现被记录物体的三维形状。
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ▪ 全息术与普通照相相比具有以下特点:
➢ 三维性。全息术能获得物体的三维信息,成立体像。 ➢ 抗破坏性。全息图的一部分就可以再现出物体的全貌,
▪ ②实时法全息干涉
全息图
Ⅴ 全息图
▪ 把经过处理后获得的全息参图考a光复)记R录位过,程 并用原再参现光考bR)再光现过波程R和
变形后的物光波A1同时照射全实时息法图全,息设图变的记形录后与的波物面光再现波
A 1 (x,y)A 0(x,y)ej1(x,y)
▪ 透过全息图的光场复振幅分布是
W (x,y)A 1(x,y)RH(x,y)
▪ 如果再纹现,过它程分中布用于另整外个方全向息的图光上束,作因为此照,明如光果波,再现
像会随全之息变图化缺。损一部分,仅减少了干涉条纹所
占的面积,降低了再现象的亮度和分辨力,
实像(共轭而像)对再现y 像的虚位像(置原始和像)形状是毫虚像 无影响的。y
实像
这就是说,全息图对缺损、划伤、油污、 灰尘等没有严格照明要光波求,这照一明光点波 在应用中具 有重要意义。
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第5章 激光干涉测试技术
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术
①静态二次曝光全息干涉法
▪ 用与参考光完全相同的光波再现全息图,则透射全息
图的光波复振幅分布为
背景光
W (x,y)RH(x,y)
R2R2A 1(x,y)2A 2(x,y)2
R2A 1(x,y)A 2(x,y)R2A 1*(x,y)A 2*(x,y)
▪ 2)全息图的再现像具有三维性质,因此全息干涉技术可以从不同 视角观察一个形状复杂的物体,一个干涉全息图相当于用一般干 涉进行多次观察。
▪ 3)全息干涉技术是比较同一物体在不同时刻的状态,因此,可以 测试该段时间内物体的位置和形状的变化。
▪ 4)全息干涉图是同一被测物体变化前后的状态的记录,不需要比 较基准件,对任意形状和粗糙表面的测试比较有利。
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第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术