测试说明书
热阻测试仪说明书
热阻测试仪使用说明测试概述：1.可测试各类型散热器，散热模组测试热阻及温度监控.2.电脑软件自动监控，自动计算温度及热阻，并自动绘制温度及热阻曲线。
3.使用简单，适用范围广。
4.测试精度：优于3％5.实验方式：a、试样不同压力下热阻测试。
b、材料导热系数测试。
c、接触热阻测试。
6.计算机全自动测试，并可实现数据打印输出使用手册（1本）三．保修：本产品自售出之日起6个月内，用户在遵守各项使用要求的情况下，产品质量出现问题，我方可免费维修。
因违反操作规定和要求而造成损坏的，需缴纳器件费和维修费及相应的运输费用，如果模拟测试平台有明显的烧毁、烧糊情况原则上不予维修。
如果本设备测试有问题，可以免费维修。
验收标准，方法及提出异议期限：需方收到货后当场确认！四．基本原理热阻的计算公式：R=T1-T2/WT1=CPU表面温度T2=环境温度W=CPU最大运行功率通过电源提供模拟电脑CPU热阻测试治具与真实电脑CPU运行最大功率时所需的相同功率，使电脑CPU热阻测试治具发热与真实电脑CPU基本相同。
通过双通道温度测试仪测试出CPU表面温度和风扇进风口温度。
然后通过电脑时时监控温度变化和计算热阻绘制热阻曲线。
五．操作步骤1.打开透明机箱盖2.涂导热膏3.將散热器固定于模拟测试平台上4.连接风扇连接线，打开风扇电源开关5.连接模拟测试平台连接线到电源6.盖上透明机箱盖7.将温度线联接到已联接到电脑的温度测试仪。
打开电脑及测试软件！8.开启模拟CPU电源开关（请一定确认COOLER已安装好）7.调整正确的电流和电压数,在电脑上可时时监控温度CPU温度.8.测试10～15分钟后，保存测试数据，关闭模拟CPU电源开关，非常重要！！9.关闭温度测试表打开透明机箱盖待模拟制具稍冷却后关闭风扇电源拔取风扇连接线取下COOLER清洁治具上及COOLER的导热膏盖上透明机箱盖。
10.通过电脑测试自动算出温度曲线，热阻曲线。
测试程序的说明书
测试程序的说明书您好，下面是测试程序说明书：测试程序的说明书一、简介随着互联网和科技的飞速发展，电子产品越来越普及，在生活和工作中得到越来越广泛的应用。
同时，也对测试程序提出了更高的要求，必须具有更高的准确性、稳定性和实用性。
本测试程序是一款基于XX平台的测试工具，主要用于测试电子产品的各项功能和性能，具有以下优点：1.准确性高：测试结果精确无误，可以反映出产品的真实情况。
2.稳定性好：测试过程稳定可靠，不易出现故障和错误。
3.易于使用：使用简单，尤其适合初学者和非专业测试人员使用。
二、安装与使用1.安装本测试程序可以在Windows XP及以上版本的系统上运行。
安装步骤如下：（1）下载并解压缩安装包。
（2）双击“setup.exe”进行安装。
（3）按照提示完成安装。
2.使用本测试程序具有以下功能：（1）硬件信息检测：可检测电脑硬件的各项参数，包括CPU、内存、显卡、硬盘等。
（2）系统信息检测：可检测电脑系统的各项参数，包括操作系统版本、网络设置、安全设置等。
（3）性能测试：可测试电子产品的各项性能指标，如启动速度、运行速度、散热效果等。
（4）功能测试：可测试电子产品的各项功能，如收发邮件、浏览网页、打印文档等。
使用步骤如下：（1）双击程序图标打开测试程序。
（2）选择需要测试的功能或性能项。
（3）按照提示进行测试。
（4）测试完成后，可查看测试结果，并保存测试报告。
三、注意事项在使用本测试程序时，请注意以下事项：1.务必按照提示正确操作，避免误操作和测试错误。
2.测试过程中，需保持良好的网络和电源环境，确保测试结果的真实性和准确性。
3.测试完成后，需关闭测试程序，避免对电脑和其他程序的影响。
四、技术支持与联系方式如果您在使用本测试程序时遇到任何问题，可以通过以下方式联系我们：电话：XXX-XXXX-XXXX邮箱：**********五、总结本测试程序是一款功能齐全、易于使用、性能稳定的测试工具，旨在为电子产品提供更准确、更可靠的测试服务。
软件测试说明书
软件测试说明书一、引言软件测试是软件开发过程中不可或缺的一部分。
它旨在验证软件系统的质量和功能，以确保软件能够满足用户的需求和预期。
本文档旨在提供关于软件测试的详细说明，包括测试目的、测试策略、测试方法和测试计划等。
二、测试目的软件测试的目的是发现软件中的缺陷和问题，并确保软件的质量。
通过测试，我们可以验证软件是否满足用户需求，是否能够正常运行，并且能够在各种条件下稳定运行。
三、测试策略1. 测试范围：确定测试的范围，包括功能测试、性能测试、安全测试等方面。
2. 测试工具：选择适当的测试工具，如自动化测试工具、性能测试工具等。
3. 测试环境：搭建适当的测试环境，包括硬件设备、操作系统、网络环境等。
4. 测试资源：确定测试所需的人力、物力和时间资源，确保测试能够按计划进行。
四、测试方法1. 功能测试：验证软件的功能是否符合用户需求和设计规格。
2. 性能测试：测试软件在不同负载和压力下的性能表现，如响应时间、吞吐量等。
3. 安全测试：测试软件的安全性，包括数据加密、权限控制等方面。
4. 兼容性测试：测试软件在不同平台、不同浏览器等环境下的兼容性。
5. 自动化测试：使用自动化测试工具进行测试，提高测试效率和准确性。
五、测试计划测试计划是测试工作的指导文件，包括测试目标、测试方法、测试进度和测试资源等。
以下是测试计划的主要内容：1. 测试目标：明确测试的目标和要求。
2. 测试方法：详细描述测试的方法和步骤。
3. 测试进度：制定测试的时间计划和里程碑。
4. 测试资源：确定测试所需的人力、物力和时间资源。
5. 风险评估：评估测试过程中可能遇到的风险，并制定相应的应对措施。
六、测试执行在测试执行阶段，我们将按照测试计划的要求进行测试，并记录测试结果。
测试结果应包括测试用例、测试数据、测试环境和测试日志等。
测试过程中，我们将密切关注软件的稳定性、功能完整性和性能表现，并及时反馈测试结果给开发团队。
七、测试报告测试报告是对测试结果的总结和分析，它应包括以下内容：1. 测试概述：对测试工作的总体情况进行概述。
给客户用的测试使用说明文档
给客户用的测试使用说明文档测试用例说明书,通常定义为对一项特定的软件产品进行测试任务的描述,体现测试方案、方法、技术和策略。
在软件产品开发中用的非常多,但在项目开发中,要性进行经常被忽视,很多项目组都是不做的,或者是为了敷衍编写的。
敷衍是有很多原因的，各不重视测试,需求多变导致测试层本大幅增加、项目时间节点紧，因此很多测试过程会被简化。
很多项目组最后只会有下1-2个左右的测试人员,或者是开发人员做兼职测试,在编码结束后,就上系统点点,然后提交客户; 客户验收也是同样,验收平台搭建好后,走走流程,可能脑袋里面会想,怎么走流程可以把所有的流程都过一遍么,缺乏系统和专业的考虑。
软件开发,肯定此不上产品开发了,项目的成本、项目结点都是摆在那里的,要说服客户或者领导重视测试不是一朝- -夕就能解决的。
测试阶段肯定要简化的,但是测试用例说明书还是建议保留的,他的作用不是仅仅停留在测试的。
测试,第一要求的尽可能是测试覆盖业务的所有流程,逻辑分支;第二是测试的依据,不管是覆盖流程、分支还是覆盖页面,都归集为预期输入和预期结果,输入后的结果不是预期的,就是有问题的。
做需求有两个产物:需求规格说明书和页面DEMO ,这都是需求静态的描述,你会发现很多客户在项目编码结束测试阶段后会提出很多新增需求和需求变更,有些程序员会抱怨客户,其实这很大原因就是,静态的需求描述和DEMO很难让客户的思维有所发挥,业务是动态的，做业务的客户的逻辑性和构思不比专业做软件的,只有等软件动态后才会想到真正的需求,谁都不希望最后一大堆改动,一堆人加班,一大堆风险。
测试用例说明书能很好的弥补这个静态的问题,测试用例的业务流程覆盖测试,动态的描述的业务操作步骤，而且在需求做完确认后就能编写了, 因此在需求阶段就做完测试用例说明书,可以有效的改善提高需求设计的质量，降低后期的需求变更。
上面的作用,是对客户而言,对做需求而言的;而第二=个作用是做开发人员而言的。
剥离力测试标准说明书
剥离力测试标准说明书一、引言。
剥离力测试是指在特定条件下，对材料或产品进行剥离试验，以确定其剥离强度和剥离性能。
本标准说明书旨在为剥离力测试提供详细的操作规范和标准要求，以保证测试结果的准确性和可靠性。
二、适用范围。
本标准适用于各种材料和产品的剥离力测试，包括但不限于粘接剂、涂层材料、纸张、薄膜、胶带等。
三、仪器设备。
1. 剥离力测试机，应选择符合国家标准要求的剥离力测试机，确保其精度和稳定性。
2. 夹具，根据被测材料的特点选择合适的夹具，确保夹具与被测材料之间的粘合牢固。
3. 计算机及数据采集系统，用于记录和分析测试数据，确保数据的准确性和可追溯性。
四、试验条件。
1. 温度，剥离力测试应在标准温度条件下进行，确保测试结果的可比性。
2. 湿度，根据被测材料的特性确定试验湿度，确保测试条件与实际使用环境相符。
3. 速度，剥离力测试的剥离速度应符合国家标准规定，以确保测试结果的可靠性。
五、操作步骤。
1. 样品准备，将被测材料按照标准尺寸切割，并在必要时进行表面处理。
2. 夹具安装，根据被测材料的特点选择合适的夹具，并将夹具安装到剥离力测试机上。
3. 参数设置，根据被测材料的特性和试验要求，设置剥离力测试机的参数，包括剥离速度、试验温度、试验湿度等。
4. 样品安装，将样品固定在夹具上，并确保样品与夹具之间的粘合牢固。
5. 开始测试，启动剥离力测试机，进行剥离力测试，并记录测试数据。
6. 数据分析，将测试数据导入计算机及数据采集系统进行分析，得出剥离力测试结果。
六、结果评定。
根据剥离力测试的结果，对被测材料的剥离强度和剥离性能进行评定，以指导产品的设计和生产。
七、注意事项。
1. 操作人员应严格按照操作规程进行操作，确保测试过程的准确性和稳定性。
2. 测试样品的准备和安装应符合标准要求，以确保测试结果的可靠性和可重复性。
3. 测试数据的记录和分析应严格按照标准要求进行，确保数据的准确性和可追溯性。
八、总结。
接触电流测试仪 说明书
（省略…）一、控制面板说明1.设置键2.液晶界面指示１）时间（格式：时／分／秒）２）键音标志（：静音）３）设备类型（：II类）４）接地标志（：外端子接U1；3.提示信息注：此信息，默认显示3S，按任意设置键可以打断。
三、程序设置1.初始化设置接通电源，开机，显示屏显示提示及版本信息，界面如下显示完后，进入如下界面：按键9、进入，进行相应设置。
1.1设备类型选择：在上图界面下按、，直接保存设置并返回上级菜单。
②若选择II类，按在此界面下按选择接地或不接地，选择好后按将返回，上级菜．．．．．．．单不进行更改．．．．．．！1.2端口选择及限值设定：（测试端口、接触电流上下限值）将光标移到端口设定（“端口设定”反显），界面如下：在此界面下按、、注：如下图所示界面，进行限值设定：此界面下，按选择更改上限还是下限，按来设定限值。
设定好后按将返回，上级菜单不进行作保更改！．．．．．．．．．．．．．．．．1.3参数设定：（电源电压、测试时间、间隔时间、外部采样）将光标移到参数设定（“参数设定”反显），界面如下：在此界面下按、、、在此界面下按可实现测试结果的查询，连续按一个键可循环回此界面，测试结果查询界面简介如下：①机壳接触电流测试结果：注：选择II类不接地备时无此测试结果②正极端子接触电流：③负极端子接触电流：注：若mA前有数字，数字代表测量值，若mA前为---,则表示此通道未测试。
4.系统设置将光标移到系统设定（“系统设定”反显），界面如下：在此界面下按进入如下界面：此界面下，按选择更改项，反显表示被选中，选择好后按来设定参数值。
设定好后按将不保存设置，直接返回上级菜单。
2.背光设定：将光标移至背光设定项（“背光设定”反显），按、、略…设置并返回上级菜单。
按、、略…设置并返回上级菜单。
按将自动关机。
四、校准开机后，主控板正常起动后的情况下，同时按下、、五、注意事项本手册中的资料如有更改，恕不另行通知；非我司指定维修人员不得拆开机壳；测试仪应在室内条件下使用；测试仪应避免强烈碰撞和震荡；测试仪应注意防潮防尘防油。
ET2670-耐压测试 说明书
ENTAI恩泰仪器□□□□□□□□□□□□□□□□□（苏）制01000292 ET2670 型耐压测试仪使用说明书南京恩泰电子仪器厂目录一、简介二、技术规格三、使用前注意事项四、工作方框图五、使用说明与操作步骤六、附件及保修感谢客户购买、使用我厂的产品，为保正用户安全、正确的使用本厂产品，敬请用户在操作之前详细阅读木说明书的全部内容。
如果用户在使用过程中有疑问，请与本厂或本厂授权的代理商进行联系。
用户对本说明书如有不同理解，以本厂技术部门的解释为准。
本说明书适用于ET2670A型耐压测试仪。
请用户妥善保管本说明书，以保证仪器的止常使用。
一、简介:耐压测试仪是测量耐电压强度的仪器，它可以直观、准确、快速、可靠地测试各种被测对象的击穿电压、漏电流等电气安全性能指标，并可以作为交流高电压源用来测试元器件和整机性能。
ET2670A型耐压测试仪，是按照IEC, ISO, BS, UL, JIS等国际国内的安全标准要求而设计，耐压AC从0~5kV,漏电流从AC:0.1~20mA。
适合各种电器、绝缘材料、高.低压开关柜、低压母线、电机、各种元器件的安全耐压和漏电流的测试、同时也是科研实验室、技术监督部门不可缺少的耐压试验设备。
ET2670A全数显型耐压测试仪，测试电压、漏电流测试和时间均为数字显示，切断电流可根据不同安全标准和用户不同需求连续任意设定，功能更加丰富实用，并且可通过漏电流显示反映被测体漏电流的实际值和比较同类产品不同批次或不同厂家产品中的耐压好坏程度。
二、技术规格:1、电压测试范围:AC: (0~5) kV士5%2、漏电流测试范围:AC: (0.1~2/20) mA二挡±(5% +2个字)3、漏电流报警值预置范围:AC:(0.1~2/20) mA二挡±(5% +2个字)(连续设定)4、时间测试范围:(1~99)s，±5%连续设定，手动测试∝5、变压器容量:500VA。
测力计测试操作说明书
制订 审核
测力计
图示
文件编号
RQ-QA-01/B
注意事项
操作步骤
操作方法 （1）对测量端施加一定作 用力 （2）按下锁定按钮（图1） 将仪表归 零 （3）旋转指针盘将零刻度 线与指针解锁或加锁 1
1.调零
（1）测力计的两端一端测 插入力即推PUSH（图3）， 另端测拔出力即拉PULL 2.样品放置 （图4） （2）按照需要将被测产品 用夹具夹好 使用配套的治具，将样品放 3.插拔力 置于与测计一至方向进行插 测试 力或拔力测试 （1）按步骤1归零后，使用 PUSH端测试（图5） （2）两手平拿产品，保持 4.固定力 一定时间，给产品平稳用力 测试 向前推，当被测产品有少许 移动时，其指针值即为测试 值
3
4
铜针进行测试时，要注意 铜针与插头四方孔的吻合
被测产品与测力计保持在 一竖直线上
5
（1）将每组测量结果在表 5.记录和 格中详细记录 反馈 （2）有问题的要以报告形 式及时上报上级进行处理
产品测试说明书
产品测试说明书产品测试说明书篇一：各类测试说明功能测试功能测试就是对产品的各功能进行验证，根据功能测试用例，逐项测试，检查产品是否达到用户要求的功能。
定义Functional testing（功能测试），也称为behavioral testing（行为测试），根据产品特性、操作描述和用户方案，测试一个产品的特性和可操作行为以确定它们满足设计需求。
本地化软件的功能测试，用于验证应用程序或网站对目标用户能正确工作。
使用适当的平台、浏览器和测试脚本，以保证目标用户的体验将足够好，就像应用程序是专门为该市场开发的一样。
功能测试是为了确保程序以期望的方式运行而按功能要求对软件进行的测试，通过对一个系统的所有的特性和功能都进行测试确保符合需求和规范。
功能测试[1]也叫黑盒子测试或数据驱动测试，只需考虑各个功能，不需要考虑整个软件的内部结构及代码.一般从软件产品的界面、架构出发，按照需求编写出来的测试用例，输入数据在预期结果和实际结果之间进行评测，进而提出更加使产品达到用户使用的要求。
性能测试（商用的Loadrunner、PerformanceRunner（简称PR））性能测试是通过自动化的测试工具模拟多种正常、峰值以及异常负载条件来对系统的各项性能指标进行测试。
负载测试和压力测试都属于性能测试，两者可以结合进行。
通过负载测试，确定在各种工作负载下系统的性能，目标是测试当负载逐渐增加时，系统各项性能指标的变化情况。
压力测试是通过确定一个系统的瓶颈或者不能接收的性能点，来获得系统能提供的最大服务级别的测试。
性能测试在软件的质量保证中起着重要的作用，它包括的测试内容丰富多样。
中国软件评测中心将性能测试概括为三个方面：应用在客户端性能的测试、应用在网络上性能的测试和应用在服务器端性能的测试。
通常情况下，三方面有效、合理的结合，可以达到对系统性能全面的分析和瓶颈的预测。
兼容性测试（向前兼容、向后兼容、软、硬件的兼容）基本概念所谓兼容性，是指几个硬件之间、几个软件之间或是几个软硬件之间的相互配合的程度。
Toxoplasma IgG ELISA测试产品说明书
Toxoplasma IgG ELISA Catalog Number SE120126Storage Temperature 2–8 °CTECHNICAL BULLETINProduct DescriptionToxoplasma gondii causes toxoplasmosis, a common disease that affects 30–50 of every 100 people in North America by the time they are adults. The mean source of infection is direct contact with cat feces or from eating undercooked meats. Toxoplasmosis generally presents with mild symptoms in immunocompetent individuals. In the immunocompromised patient,however, the infection can have serious consequences. Acute toxoplasmosis in pregnant women can result in miscarriage, poor growth, early delivery, or stillbirth. Treatment of an infected pregnant woman may prevent or lessen the disease in her unborn child. Treatment of an infected infant will also lessen the severity of the disease as the child grows. IgG and IgM antibodies to Toxoplasma can be detected with 2–3 weeks after exposure. IgG remains positive, but the antibody level drops overtime. ELISA can detect Toxoplasma IgM antibody one year after infection in over 50% of patients. Therefore, IgM positive results should be evaluated further with one or two follow up samples if primary infection is suspected.The Toxoplasma IgG ELISA Kit is intended for the detection of IgG antibody to Toxoplasma in human serum or plasma. Diluted serum is added to wellscoated with purified Toxoplasma antigen. Toxoplasma IgG specific antibody, if present, binds to the antigen. All unbound materials are washed away and the enzyme conjugate is added to bind to the antibody-antigen complex, if present. Excess enzyme conjugate is washed off and substrate is added. The plate isincubated to allow the oxidation of the substrate by the enzyme. The intensity of the color generated isproportional to the amount of IgG specific antibody in the sample.ComponentsReagents and Equipment Required but Not Provided.1.Distilled or deionized water2.Precision pipettes3.Disposable pipette tips4.ELISA reader capable of reading absorbance at450 nm5.Absorbent paper or paper towel6.Graph paperPrecautions and DisclaimerThis product is for R&D use only, not for drug,household, or other uses. Please consult the Safety Data Sheet for information regarding hazards and safe handling practices.Preparation Instructions Sample Preparation1. Collect blood specimens and separate the serum.2.Specimens may be refrigerated at 2–8°C for up toseven days or frozen for up to six months. Avoid repetitive freezing and thawing.20x Wash Buffer ConcentratePrepare 1x Wash buffer by adding the contents of the bottle (25 mL, 20x) to 475 mL of distilled or deionized water. Store at room temperature (18–26 °C).2Storage/StabilityStore the kit at 2–8 °C.ProcedureNotes: The components in this kit are intended for use as an integral unit. The components of different lots should not be mixed.Optimal results will be obtained by strict adherence to the test protocol. Precise pipetting as well as following the exact time and temperature requirements is essential.The test run may be considered valid provided the following criteria are met:1.If the O.D. of the Calibrator is >0.250.2.The Ab index for Negative control should be <0.9.3.The Ab index for Positive control should be >1.2. Bring all specimens and kit reagents to room temperature (18–26 °C) and gently mix. 1.Place the desired number of coated strips into theholder.2.Negative control, positive control, and calibrator areready to use.Prepare 21-fold dilution of testsamples, by adding 10 µL of the sample to 200 µLof Sample Diluent. Mix well.3.Dispense 100 µL of diluted sera, calibrator, andcontrols into the appropriate wells. For the reagent blank, dispense 100 µL of Sample Diluent in 1Awell position. Tap the holder to remove air bubbles from the liquid and mix well. Incubate for20 minutes at room temperature.4.Remove liquid from all wells. Wash wells threetimes with 300 µL of 1x wash buffer. Blot onabsorbent paper or paper towel.5.Dispense 100 µL of enzyme conjugate to each welland incubate for 20 minutes at room temperature. 6.Remove enzyme conjugate from all wells. Washwells three times with 300 µL of1x wash buffer.Blot on absorbent paper or paper towel7.Dispense 100 µL of TMB substrate and incubate for10 minutes at room temperature.8.Add 100 µL of stop solution.9.Read O.D. at 450 nm using ELISA reader within15 minutes. A dual wavelength is recommendedwith reference filter of 600–650 nm.3ResultsCalculations1.Check Calibrator Factor (CF) value on thecalibrator bottle. This value might vary from lot tolot. Make sure the value is checked on every kit. 2.Calculate cut-off value: Calibrator OD x CalibratorFactor (CF).3.Calculate the Ab (Antibody) Index of eachdetermination by dividing the mean values of each sample by cut-off value.Example of typical results:Calibrator mean OD = 0.8Calibrator Factor (CF) = 0.5Cut-off Value = 0.8 x 0.5 = 0.400Positive control O.D. = 1.2Ab Index = 1.2/0.4 = 3Patient sample O.D. = 1.6Ab Index = 1.6/0.4 = 4.0Note:Lipemic or hemolyzed samples may cause erroneous results.InterpretationThe following is intended as a guide to interpretation of Toxoplasma IgG antibody index (Ab Index) test results; each laboratory is encouraged to establish its own criteria for test interpretation based on sample populations encountered.<0.9 –No detectable IgG antibody to Toxoplasma byELISA0.9–1.1 –Borderline positive. Follow-up testing isrecommend if clinically indicated.>1.1 –Detectable IgG antibody to Toxoplasma by ELISA References1.Wilson, M. et al., Evaluation of six commercial kitsfor detection of human immunoglobulin Mantibodies to Toxoplasma gondii. The FDAToxoplasmosis Ad Hoc Working Group.2.Obwaller, A. et al., An enzyme-linkedimmunosorbent assay with whole trophozoites ofToxoplasma gondii from serum-free tissue culturefor detection of specific antibodies. Parasitol. Res., 1995;81(5):361-4.3.Loyola, A.M. et al., Anti-Toxoplasma gondiiimmunoglobulins A and G in human saliva andserum. J. Oral Pathol. Med., 1997; 26(4):187-91. 4.Doehring, E. et al., Toxoplasma gondii antibodies inpregnant women and their newborns in Dar esSalaam, Tanzania. Am. J. Trop. Med. Hyg., 1995;52(6):546-8.5.Cotty, F. et al., Prenatal diagnosis of congenitaltoxoplasmosis: the role of Toxoplasma IgAantibodies in amniotic fluid [letter]. J. Infect. Dis.,1995;171(5):1384-5.6.Altintas, N. et al., Toxoplasmosis in last four yearsin Agean region,Turkey. J. Egypt. Soc. Parasitol.,1997;27(2):439-43.RGC,CH,MAM 10/14-1©2014 Sigma-Aldrich Co. LLC. All rights reserved. SIGMA-ALDRICH is a trademark of Sigma-Aldrich Co. LLC, registered in the US and other countries. Sigma brand products are sold through Sigma-Aldrich, Inc. Purchaser must determine the suitability of the product(s) for their particular use. Additional terms and conditions may apply. Please see product information on the Sigma-Aldrich website at and/or on the reverse side of the invoice or packing slip.。
UT677A充电电池内阻测试仪说明书
目录一、安全规则及注意事项 (2)二、简介 (2)三、量程及精度 (2)3.1电阻测量精度 (3)3.2电压测量精度 (3)3.3温度测量精度 (3)四、技术规格 (3)五、仪表结构 (4)六、界面显示 (4)七、测量原理 (5)7.1、交流4端子测试法原理 (5)7.2、电压测量原理 (5)7.3、温度测量原理 (5)八、操作方法 (5)8.1、开关机及自动关机 (5)8.2、测试界面操作 (6)8.3、设置菜单界面操作 (6)8.4、测量步骤 (7)8.5、数据存储 (7)8.6、数据查阅与删除 (8)8.7、与PC通讯 (8)8.8、与智能手机或平板电脑通讯 (8)九、维护和服务 (9)9.1、电池 (9)9.2、修理、检查与清洁 (9)9.3、常见问题 (9)十、装箱单 (10)附录 (10)附1 涡电流的影响 (10)附2 延长测试线与感应电压的影响 (10)- 1 -一、安全规则及注意事项感谢您购买了本公司通用型充电电池内阻测试仪，在你初次使用该仪器前，为避免发生可能的触电或人身伤害，请一定：详细阅读并严格遵守本手册所列出的安全规则及注意事项。
✧请注意+/-极性，请勿反向插入。
✧测量电池电压不要超过本仪表的上量限。
✧仪表显示电池电压低符号“”，应及时充电,否则会引起测量误差。
✧长时间不使用时，每三个月充满电一次以保证电池健康。
✧本仪表根据IEC61010安全规格进行设计、生产、检验。
✧测量时，移动电话等高频信号发生器请勿在仪表旁使用，以免引起误差。
✧注意本仪表机身的标贴文字及符号。
✧使用前应确认仪表及附件完好，才能使用。
✧请勿于高温潮湿，有结露的场所及日光直射下长时间放置和存放仪表。
✧注意本仪表所规定的测量范围及使用环境。
✧使用、拆卸、校准、维修本仪表，必须由有授权资格的人员操作。
✧由于本仪表原因，继续使用会带来危险时，应立即停止使用，并马上封存，✧行安全操作。
✧任何情况下，使用本仪表应特别注意安全。
测试规格说明书
XXXX信息化建设项目-应用软件开发子项目测试规格说明书XXXX信息工程有限公司版权声明XXXX信息化建设项目—应用软件开发子项目系统及其相关文档的版权归XXXX所有。
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目录1编写目的∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙22测试团队构成∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙22.1职责∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙2 2.2角色划分∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙2 3工作流程及规范∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙33.1计划与设计阶段∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙33.1.1成立测试团队∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙33.1.2测试预通知∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙33.1.3召开测试启动会议∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙33.1.4编写测试计划文档∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙43.1.5设计测试用例∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙4 3.2实施测试阶段∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙53.2.1实施测试用例∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙53.2.2提交报告∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙53.2.3回归测试∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙6 3.3总结阶段∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙63.3.1编写测试报告∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙63.3.2测试工作总结∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙73.3.3测试验收∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙73.3.4测试归档∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙8 3.4缺陷跟踪∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙8 4缺陷类型定义∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙95测试标准∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙106争议处理∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙107标准文档∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙∙1011编写目的本文档是测试团队的日常工作规范，主要侧重测试工作流程的控制，明确软件工程的各阶段测试团队应完成的工作。
EZRadioPRO 无线通信模块测试示例说明书
Rev. 0.1 1/15Copyright © 2015 by Silicon Laboratories AN657AN657R A D I O E V A L U A T I O N D E M O F O R EZR A D I O PRO ®1. IntroductionThe Radio Evaluation demo provides an easy way to evaluate the performances of the EZRadioPRO ® devices.The demo can be used in the laboratory to measure the basic RF parameters of the radio (output power, sensitivity,etc.); however, it is mainly designed to evaluate radio performance through range testing.A self explanatory, on-screen menu system walks the user through the radio configuration; so, the demo can be used in stand-alone mode without any PC.2. Hardware ConfigurationThe demo is designed for the Si4030-B1, Si4031-B1, Si4032-B1, Si4330-B1, Si4430-B1, Si4431-B1, Si4432-B1,Si4330-A1, Si4430-A1, Si4431-A1, Si4432-V2, Si100x-B1, Si100x-B2, Si101x-B1, Si101x-B2, Si102x-B2, and Si103x-B2 devices and runs on the UDP platform. More devices will be supported in later versions of the demo.2.1. Test Card and Pico Board OptionsTest cards are provided for Si4x3x, Si100x, and Si101x devices. Pico boards are also provided for the Si102x and Si103x. The Si10xx family includes an MCU and a radio device.The power amplifier and the LNA are not connected inside the Si4x3x and Si10xx devices. Several different test cards and Pico boards are introduced to provide examples for main connection schemes.On test cards or Pico boards using direct-tie connection, the TX and RX pins are directly connected externally,eliminating the need for an RF switch.On test cards or Pico boards using an RF switch, separate transmit and receive pins on the RFIC are connected to an antenna via an SPDT RF switch for single antenna operation. The radio device assists with control of the RF switch. By routing the RX State and TX State signals to any two GPIOs, the radio can automatically control the RF switch. The GPIOs disable the RF switch if the radio is not in active mode.On test cards using split connection, the TX and RX pins are routed to different antenna connectors.The actual antenna configuration of the test cards or Pico boards is stored in the EEPROM of each card. The demo automatically recognizes the antenna connections and sets the boards up accordingly. The user does not need to make these settings.Note:The transmit output of Si4x3x and Si10xx devices must be terminated properly before output power is enabled. This isaccomplished by using a proper antenna or connecting the power amplifier to an RF instrument that provides 50 termi-nation to ensure proper operation and protect the device from damage.AN6572Rev. 0.12.2. UDP PlatformThe example source codes run on the Universal Development Platform (UDP). The UDP consists of several boards. Both the MCU card and the test card are plugged into the UDP Motherboard (UP-BACKPLANE-01EK). It provides the power supply and USB connectivity for the development system. The MCU card (UPMP-F960-EMIF-EK) has several peripherals for simple software development (e.g. LEDs, Push Buttons, etc.), and it has a socket for various MCU selections. The UPPI-F960-EK MCU Pico board is used for software development and has a C8051F960 MCU on it. It controls the radio on the test card using the SPI bus. The test card is connected to the 40-pin connector (J3) on the UDP Motherboard where the following signals are used (UDP_MB refers to UDP Motherboard, and MCU refers to the MCU of the UPMP-F960-EMIF card). Pico boards, such as the UPPI-1020GM-915TR, include the MCU and the radio. Its function is equal to the MCU card and the radio test card. For more information on the UDP platform, refer to the “UDP Motherboard User's Guide”.Table 1. Pin Configuration of Si4x3xTable 2. Pin Configuration of Si102xAN657Rev. 0.132.2.1. Setting up the Development BoardBefore running the demo, the UDP platform must be configured according to the following instructions:If the test card is used:1. Connect the Si4x3x Test card to the 40-pin (J3) connector.2. Connect the antenna(s) to the SMA connector(s) of the test card.3. Set S5 to OFF to disable the 6.5 V voltage on Pin 36 of the test card connector.4. Short the JP19 and JP21 jumpers as shown in Figure 1 to provide VDD for the radio (the currentconsumption of the radio can be measured through these jumpers).5. Short P12(P0.4 and P0.5) on the UPMP-F960-EMIF card.Figure 1. Jumper Positions (JP19, JP21)If the Pico board is used:1. Plug the Pico board into the socket of the UPMP-F960-EMIF card.2. Connect the antenna(s) to the SMA connector(s) of the Pico board.3. Short P12(P0.4 and P0.5) on the UPMP-F960-EMIF card.2.2.2. Downloading and Running the DemoIf the setup is programmed with a different firmware, perform the following steps to set up the board for running the demo:1. Connect the USB debug adapter to the 10-pin J13 connector of the MCU card (see Figure 2).2. To power the board, connect a 9 V dc power supply to J20 (UDP_MB), or connect the development board to a PC over USB cable (J16 on UDP_MB).3. Turn on S3 on UDP_MB (Power switch).4. Start Silicon Labs IDE on your computer.5. Connect the IDE to the C8051F960 MCU (if test card is used) or Si102x, Si103x (if Pico boards is used) of the development board by pressing the Connect button on the toolbar or by invoking the menu Debug → Connect menu item.6. Erase the flash of the C8051F960 MCU or Si10xx in the Debug. Download object code → Erase all code space menu item.7. Download the desired example HEX file either by hitting the Download code (Alt+D) toolbar button or from the Debug → Download object code menu item.8. Hit the Disconnect toolbar button or invoke the Debug → Disconnect menu item to release the device from halt and let it run.Figure 2. J13 Connector of the MCU CardAN6573. DemoAfter running the demo, the first screen is the Welcome Screen, which shows the version number of the firmware. The Welcome Screen is shown for up to three seconds or as long as any of the push buttons is pressed.Figure 3. Welcome Screen3.1. Menu SystemThe on-screen menu system is designed for easy configuration. The user can select between laboratory and range test mode. For accurate range testing, the demo measures the actual packet error rate (PER) of the radio link. The RF settings of the radio can be configured based on predefined data rate, modulation, and frequency settings. It is also possible to change the packet configuration and the output power of the radio.Four push buttons are used to navigate in the menu system, and soft labels help the user understand the current function of the given buttons. In general, push button 1 (PB1) is used to select an item; push buttons 2 (PB2) and 3 (PB3) are used to scroll between the menu options, and push button 4 (PB4) is used to go to the next menu page.A small arrow ( ) points to the actual setting.The demo can be configured through four menu pages. The first page is used to select the functionality of the demo (packet error rate test or laboratory modes). The range test can be performed for single-way (Transmit or Receive mode) or bidirectional (Transceiver mode) radio communication.Figure 4. Range Test Demo ModeAN657In laboratory mode, the following tests are available:⏹ Unmodulated carrier (CW) mode is used to measure the output power of the radio.⏹ Random modulated (PN9) mode is used to verify the modulated output power.⏹ Bite Error Rate (BER) mode is used to measure the sensitivity of the radio with a continuous PN9modulated data stream.⏹ Packet Error Rate (PER) mode is used to measure the sensitivity of the radio based on packet reception.⏹ In Direct Receive (RAW RX) mode, the received continuous data stream is provided on one of the GPIOsof the radio.Figure 5. Laboratory ModeThe basic RF parameters (data rate, modulation, and frequency) can be selected from a predefined list on Menu Page 2.Most of the test cards or Pico boards are designed for a certain frequency band. There is an EEPROM on each test card or Pico board that contains this information. The demo offers only the available frequencies for which the test card or Pico board is designed.The available RF settings vary for different frequency bands.The menu page shown in Figure 7 is used to adjust the output power of the radio.Figure 7. Output Power SettingAN657Menu Page 4 is used to configure the packet configuration of the Packet Error Rate demo. The Self ID field is filled automatically based on the serial number of the given test card or Pico board. It is important to set up the destination ID accurately or the link will not work. The destination ID has to be the self ID of the other device.The default packet configuration of the demo is as follows:1. Destination ID is the same as the Self ID.2. Packet payload length is 5 bytes.3. Max. packets is 1000 packets.However, the length of the packet can be adjusted with the Packet Length option if the user wants to test the Packet Error Rate with a longer packet.The “Max. Packets” option defines the number of packets to be sent during the test.The Packet Length and the Max. Packet options must be configured only on the Transmit (initiator) side of the link and apply on the receive side automatically.Figure 8. Packet ConfigurationIf RAW mode of Laboratory mode is selected, there are only two pages for the user to configure the chip. For information on the sections on Menu Pages 2 (Figure 9) and 3 (Figures 10 and 11), refer to “AN463: Raw Data Mode with EZRadioPRO”.Figure 9. RF Parameters SettingFigure 10. Software Algorithms Setting when Deglitch Method is 2AN657Figure 11. Software Algorithms Setting when Deglitch Method is 13.2. Bidirectional Range TestAfter the demo is fully configured, it enters into the demo page, where the range test can be started.The screen is divided into three sections. At the top of the page, soft labels show the functions of the LEDs. LED1 blinks when a packet is transmitted; LED2 blinks if a packet is successfully received (with valid CRC and packet content matching the expected value), and LED3 shows the actual Receive Signal Strength Level (RSSI) of the received packet on a bar graph.The middle section of the screen, shown in Figure 12, summarizes the RF settings and the source/destination addresses.Figure 12. Demo PageAt the bottom of the screen, the soft labels show the actual functionality of the push buttons. PB3 and PB4 are used to go back to the configuration menu.After entering Demo mode, both ends of the link are in receive mode. The test starts if one end of the link starts to transmit ping packets; it can be initiated by pressing PB1. After that, the originator transmits a ping packet for the second board. If it receives the packet correctly, it transmits an acknowledgement packet. Each ping packet has a serial number (increased by the originator after every packet transmission) that is transmitted back by the acknowledgement packet. If the originator receives the acknowledgement within a predefined timeout, then it considers the link to be working; otherwise, it increases the number of missed packets by one. The originator also stores the number of transmitted PING packets, so the demo can calculate the Packet Error Rate based on this information. These are updated on the sixth line of the LCD after each packet transmission (number of received ACK / number of sent packets, actual packet error rate in percent).AN657Figure 13. Running PER TestThe demo runs as long as the number of transmitted packets has reached the predefined number or until it is interrupted by PB1.3.3. One-Way Range TestThe range test can also be performed with one-way radio communication. In this case, one end of the link needs to be set up as the transmitter (this will be the originator as described in the bidirectional link); the other end of the link needs to be the receiver.The test needs start at the transmit side by pressing PB1. The test runs as long as the number of transmitted packets reaching the predefined number or the demo is interrupted by PB1. The user can follow the number of transmitted packets on the LCD.Figure 14. Transmit NodeThe demo works the same as the bidirectional one; however, the number of lost packets and the packet error rate are defined only at the receive side based on the difference between the previously- and last-received packet IDs.Figure 15. Receive NodeAN6573.4. Laboratory ModesThese modes can be used to fully evaluate the receiving and transmitting performances of the radio. Note that all the lab modes require RF test equipment, such as a spectrum analyzer and RF signal generator.3.4.1. CW ModeCW mode is used to test the output power of the test card and obverse the unmodulated carrier spectrum. In this mode, only the frequency and the output power are configurable parameters.A spectrum analyzer is used to measure the transmit performances of the radio and must be connected through a proper RF cable to the TX SMA connector of the test card or Pico board.Figure 16. LCD Screen During CW ModeFigure 17. Unmodulated CW Signal Measured with Spectrum AnalyzerAN6573.4.2. PN9 ModeIn this mode, the power amplifier of the radio is generated internally using a pseudo-random (PN9 sequence) bit generator. The primary purpose of this mode is to observe the modulated spectrum without having to provide data for the radio.Figure 18 shows the last page of the PN9 mode, and Figure 18 shows the spectrum when the test card works in PN9 mode. The data rate is 256 kbps; the deviation is 128 kHz, and the modulation type is GFSK.Figure 18. LCD Screen during PN9 ModeFigure 19. PN9 Modulated Signal (GFSK, 256 kbps Data Rate, ±128 kHz Deviation)AN6573.4.3. BER ModeThe sensitivity of the radio can be measured with a random continuous data stream (PN9). This mode is called biterror rate. The radio is set into continuous receive mode. The RF data needs to be fed to the RX SMA of the testcard or Pico board, and the radio provides the received data and clock on its GPIOs. GPIO0 outputs the receiveddata. The received data must be fed back to the RF signal generator, which can then compare the transmitted andreceived data bits and calculate the bit error rate. By adjusting the output power of the signal generator, thesensitivity of the radio can be measured (it is typically measured for 10–3 BER). The suggested hardwareconfiguration is shown in Figure 20.Figure 20. BER Measurement SetupFigure 21. LCD Screen During BER ModeAN6573.4.4. PER ModeThe sensitivity of the radio can be measured by receiving packets. This test also involves an RF signal generator,which can transmit predefined packets after a trigger signal. In this mode, the radio is set to receive; then, thedemo generates a trigger (falling edge on LED1). Upon receiving the trigger, the generator must send a packet. Ifthe radio does not receive the packet within timeout, it increases the number of the missed packet counter andupdates the PER information and the actual RSSI on the LCD screen. By adjusting the output power of thegenerator, the sensitivity of the radio can be determined. It is usually defined for a 1% or 20% packet error rate.Figure 22. PER Test with Signal GeneratorFigure 23. Packet Error Rate Measurement SetupAN6573.4.5. RX RAW ModeThe radio can be used to receive a continuous bit stream and provide this information on one of the GPIOs. The Si443x allows for the reception of any packet structure without the need to follow the recommended packet structure in the data sheet. Refer to “AN463: Raw Data Mode with EZRadioPRO” for more details. The RAW data mode is implemented here as one of the laboratory modes. During this mode, the demo is in continuous Receive mode and provides the received data bits on GPIO1 and the data clock on GPIO2. After the software algorithm filter, the glitch of the received data is removed, and the clear received data is provided on the PIEZO speaker, which is located on the right top of the LCD card.Notes:1.Because we provide received data on GPIO1 and data clock on GPIO2, the test cards or Pico boards usingan RF switch cannot work in this mode.2. R10, R11, R12, R15, R16, and R19 on the UPMP-F960-EMIF card should be configured correctly. R11, R15,and R19 should be connected, and R10, R12, and R16 should be disconnected.Figure 24. RX RAW Mode Silicon Laboratories Inc.400 West Cesar Chavez Austin, TX 78701USASmart. Connected. Energy-Friendly .Products /products Quality /quality Support and Community Disclaimer Silicon Labs intends to provide customers with the latest, accurate, and in-depth documentation of all peripherals and modules available for system and software implementers using or intending to use the Silicon Labs products. Characterization data, available modules and peripherals, memory sizes and memory addresses refer to each specific device, and "Typical" parameters provided can and do vary in different applications. Application examples described herein are for illustrative purposes only. Silicon Labs reserves the right to make changes without further notice and limitation to product information, specifications, and descriptions herein, and does not give warranties as to the accuracy or completeness of the included information. Silicon Labs shall have no liability for the consequences of use of the information supplied herein. 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He-Ne 激光器的装调与参数测试 说明书
He-Ne 激光器的装调与参数测试一、实验目的1、熟悉He-Ne 激光器的模式结构2、了解F-P 共焦球面扫描干涉仪的原理3、掌握He-Ne 激光器的调整方法4、掌握用共焦球面扫描干涉仪观察、测量激光纵模的方法二、实验原理1、He-Ne 激光器的模式结构He-Ne 激光器是最常用的连续工作气体激光器，以结构形式不同可分为内腔式、半内腔式和外腔式激光器，如图1所示。
二反射镜组成光学谐振腔，放电管内充以不同比例的氦气和氖气（激活物质），二电极通过毛细管放电激励激光工作物质，在氖原子的一对能级间造成粒子数反转，输出受激辐射。
由于谐振腔的作用，使受激辐射光在谐振腔内来回发射，多次通过激活介质而不断加强。
如果单程增益大于单程损耗，即满足产生激光的阈值条件时，则有稳定的激光输出。
（1）外腔式（2）半内腔式由于各种因素引起的谱线加宽，使激光介质的增益系数有一频率分布，如图2所示，该曲线称为增益曲线。
对于He-Ne 激光器，氖原子的自发辐射中心波长为632.8nm ，增益线宽约为1500MHz 。
由无源谐振腔理论可知，激光器的谐振腔具有无数多个固有的分立的谐振频率，只有频率落在工作物质增益曲线范围内并满足激光器阈值条件的那些模式，才能形成激光振荡，如图2所示。
如果不采取选模措施，则He-Ne 激光器一般以多模方式工作。
不同的振荡模式具有不同的光场分布。
光腔的模式可以分解为纵模和横模，它们分别代表光腔模式的纵向（即腔轴z 方向）的光场分布和横向（即垂直于z 轴方向的xy 平面）的光场分布。
通常用符号TEM mnq 标志不同模式，其中q 为纵模序数，一般为很大的正整数；m 、n 为横模序数，一般为0，1，2。
TEM 00q 代表基横模，它对应的光场分布特点是：在光腔轴线上光振幅最大，从中心到边缘振幅逐渐降落。
每一个q 对应纵向一种稳定的电磁场分布，称为一个纵模。
对于同一阶横模，相邻两纵模间距为Lcmnq q mn q 2)1(= = +其中 为腔中介质的折射率，L 为谐振腔的长度。
安规测试说明书1
4.4 显示器讯息4.4.1 交流耐压测试:4.4.1.1 测试中止(Abort)1. 假如交流耐压测试正在进行之中，而按＂RESET＂开关或使用遥控装置中断测试，液晶显示器会显示如下:ACW Abort XXX.X sMXX-X X.XX KV XX.XX2. 假如交流耐压测试正在进行之中，而按＂RESET＂开关或使用遥控装置中断测试时，其中断测试的时间在本分析仪讀到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示:ACW Abort XXX.X s 或ACW Abort XXX.X sMXX-X -.- - KV - -.- - mA MXX-X X.XX KV - -.- 4.4.1.2 缓升测试(Ramp Up)1. 如交流耐压测试设定有缓升(Ramp Up) 测试程序，在本分析仪读到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示如下:ACW Ramp XXX.X sMXX-X -.- - KV - -.- - mA2. 交流耐压测试在缓升时间之中进行耐压测试时，测试的结果会不断的被更新，液晶显示器会显示如下:ACW Ramp XX.X sMXX-X X.XX KV XX.XX mA4.4.1.3 耐压测试(Dwell)1. 在交流耐压测试进行时，测试的结果会不断的被更新，液晶显示器会显示如下:ACW Dwell XXX.X sMXX-X X.XX KV XX.XX mA2. 如交流耐压测试的缓升测试时间非常短，而在本分析仪讀到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示如下:ACW Dwell XXX.X sMXX-X -.- - KV - -.- - mA4.4.1.4 漏电电流上限(HI-Limit)1. 如被测物在做交流耐压测试时的漏电电流量超过上限设定值，会被程式判定為漏电电流上限造成的测试失败，如果其电流值仍然在本分析仪的量测范围内，液晶显示器会显示如下:ACW HI-Limit XX.X sMXX-X X.XX KV XX.XX2. 如被测物在做交流耐压测试时的漏电电流量超过上限设定值，会被程式判定為漏电电流上限造成的测试失败，如果其电流值超出本分析仪的量测范围，液晶显示器会显示如下: ACW HI-Limit XXX.X sMXX-X X.XX KV > 404.4.1.5 短路(Short)如被测物在做交流耐压测试时，漏电电流量远超过本分析仪可以量测的范围之外，再加上本分析仪特殊的短路判定电路动作，会被程式判定為短路造成的测试失败，液晶显示器会显示如下:ACW Short XXX.X sMXX-X -.- - KV > 40 mA4.4.1.6 耐压崩溃(Breakdown)如被测物在做交流耐压测试时的漏电电流量远超过本分析仪可以量测的范围，并且电弧的电流量也远超过本分析仪所能够量测的正常數值之外，会被程式判定為耐压崩溃造成的测试失败，液晶显示器会显示如下:ACW Breakdown XXX.X sMXX-X X.XX KV > 404.4.1.7 漏电电流下限(LO-Limit)如被测物在做交流耐压测试时的漏电电流量低於下限设定值，会被程式判定為漏电电流下限造成的测试失败，液晶显示器会显示如下:ACW LO-Limit XXX.X sMXX-X X.XX KV XX.XX4.4.1.8 电弧测试失败(Arc Fail)如被测物在做交流耐压测试时的漏电电流量在设定的漏电电流上限值以内，但是电弧的电流量超过电弧电流的设定值，并且本分析仪的电弧侦测判定功能被设定為ON 时，造成的测试失败，会被程定判定為被测物的电弧造成的测试失败，液晶显示器会显示如下:ACW Arc-Fail XXX.X sMXX-X X.XX KV XX.XX4.4.1.9 测试通过(Pass)假如被测物在做交流耐压测试时的整个过程都没有任何異常的现象发生时，被认定為通过测试，液晶显示器会显示如下:ACW Pass XXX.X sMXX-X X.XX KV XX.XX4.4.2 直流耐压测试:4.4.2.1 测试中止(Abort)1. 如直流耐压测试正在进行之中，而按RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，液晶显示器会显示如下:DCW Abort XXX.X sMXX-X X.XX KV XXXX2. 如直流耐压测试正在进行之中，而按RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，其中断测试的时间在本分析仪讀到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示:DCW Abort XXX.X s DCW Abort XXX.X s或MXX-X -.- - KV - - - - µA MXX-X X.XX KV - - - - µA4.4.2.2 缓升(Ramp Up)测试1. 如果直流耐压测试设定有缓升(Ramp Up)测试程序，在本分析仪讀到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示如下:DCW Ramp XXX.X sMXX-X -.- - KV - - - - µA2. 直流耐压测试在缓升时间之中进行耐压测试时，测试的结果会不断的被更新，液晶显示器会显示如下:DCW Ramp XXX.X sMXX-X X.XX KV XXXX4.4.2.3 耐压测试(Dwell)1. 在直流耐压测试进行时，测试的结果会不断的被更新，液晶显示器会显示如下:DCW Dwell XXX.X sMXX-X X.XX KV XX.XX.2. 如直流耐压测试的缓升测试时间非常短，而在本分析仪讀到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示如下:DCW Dwell XXX.X sMXX-X -.- - KV - - - -4.4.2.4 缓衝电流(Ramp-HI)在直流耐压测试的模式下，而缓衝电流的模式被设定為ON 时，在缓衝期的时间之内，如果被测物的漏电电流超过12mA时，会被程式判定為缓衝电流测试失败，液晶显示器会显示如下:DCW Ramp-HI XXX.X sMXX-X X.XX KV >99994.4.2.5 最低充电电流(Charge-LO)在直流耐压测试的模式下，而最低充电电流的模式被设定為ON 时，在缓衝期的时间之内，如果被测物的漏电电流低於最低充电电流值时，会被程式判定為最低充电电流测试失败，液晶显示器会显示如下:DCW Charge-LO XXX.X sMXX-X X.XX KV XXX.X.4.4.2.6 漏电电流上限(HI-Limit)1. 如被测物在做直流耐压测试时的漏电电流量超过上限设定值，会被程式判定為漏电电流上限造成的测试失败，如果其电流值仍然在本分析仪的量测范围内，液晶显示器会显示如下:DCW HI-Limit XXX.X sMXX-X X.XX KV XXXX2. 假如被测物在做直流耐压测试时的漏电电流量超过上限设定值，会被程式判定為漏电电流上限造成的测试失败，如果电流值超出本分析仪的量测范围，液晶显示器会显示如下: DCW HI-Limit XXX.X sMXX-X X.XX KV >99994.4.2.7 短路(Short)假如被测物在做直流耐压测试时的漏电电流量远超过可以量测的范围之外，再加上本分析仪特殊的短路判定电路动作，会被程式判定為短路造成的测试失败，液晶显示器会显示如下:DCW Short XXX.X sMXX-X -.- - KV > 99994.4.2.8 耐压崩溃(Breakdown)如被测物在做直流耐压测试时的漏电电流量在设定的漏电电流上限值以内，但是电弧的电流量超过电弧电流的设定值，并且本分析仪的电弧侦测判定功能被设定為ON 时，造成的测试失败，会被程定判定為被测物的电弧造成的测试失败，液晶显示器会显示如下:DCW Breakdown XXX.X sMXX-X X.XX KV > 99994.4.2.9 漏电电流下限(LO-Limit)如被测物在做直流耐压测试时的漏电电流量低於下限设定值，会被程式判定為漏电电流下限造成的测试失败，液晶显示器会显示如下:DCW LO-Limit XXX.X sMXX-X X.XX KV XXX.X4.4.2.10 电弧侦测判定(Arc Fail)如被测物在做直流耐压测试时的漏电电流量在设定的漏电电流上限值以内，但是电弧的电流量超过电弧电流的设定值，并且本分析仪的电弧侦测判定功能被设定為ON 时，所造成的测试失败，会被程定判定為被测物的电弧造成的测试失败，液晶显示器会显示如下: DCW Arc-Fail XXX.X sMXX-X X.XX KV XX.X4.4.2.11 测试通过(Pass)如被测物在做直流耐压测试时的整个过程都没有任何異常的现象发生时，被认定為通过测试，液晶显示器会显示如下:DCW Pass XXX.X sMXX-X X.XX KV XXXX4.4.3 绝缘电阻测试4.4.3.1 测试中止(Abort)1. 如绝缘电阻测试正在进行之中，而按RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，液晶显示器会显示如下:IR Abort XXX.X sMXX-X XXXX V XXXX2. 假如绝缘电阻测试正在进行之中，而按RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，其中断测试的时间在本分析仪讀到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示:IR Abort XXX.X s 或IR Abort XXX.X sMXX-X - - - - V - - - - MΩ MXX-X XXXX V - - - -4.4.3.2 延迟时间(Delay)1. 在绝缘电阻测试刚开始时，测试电压正逐步上升的期间之中，此时本分析仪尚未讀到第一笔测试结果，液晶显示器会显示如下:IR Delay XXX.X sMXX-X - - - - V - - - MΩ2. 在绝缘电阻测试进行时，於延迟测试期间之中，测试的结果会不断的被更新，液晶显示器会显示如下:IR Delay XXX.X sMXX-X XXXX V XXXX4.4.3.3 最低充电电流(Charge-LO)在绝缘电阻测试的模式下，在缓衝期的时间之内，如果被测物的充电电流低於最低充电电流值时，会被程式判定為最低充电电流测试失败，液晶显示器会显示如下:IR Charge-LO XXX.X sMXX-X - - - - V - - - - MΩ4.4.3.4 绝缘电阻上限(HI-Limit)1. 如被测物在做绝缘电阻测试时的电阻值超过上限设定值，会被程式判定為绝缘电阻上限造成的测试失败，如果其电阻值仍然在本分析仪的量测范围内，液晶显示器会显示如下: IR HI-Limit XXX.X sMXX-X XXXX V XXXX2. 如被测物在做绝缘电阻测试时的电阻值超过上限设定值，会被程式判定為绝缘电阻上限造成的测试失败，如果其电阻值超出本分析仪的量测范围之外，液晶显示器会显示如下:IR HI-Limit XXX.X sMXX-X XXXX V >99994.4.3.5 绝缘电阻下限(LO-Limit)1. 如被测物在做绝缘电阻测试时的电阻值低於下限设定值，会被程式判定為绝缘电阻下限造成的测试失败，如果其电阻值仍然在本分析仪的量测范围内，液晶显示器会显示如下: IR LO-Limit XXX.X sMXX-X XXXX V XXXX2. 如被测物在做绝缘电阻测试时的电阻值低於下限设定值，会被程式判定為绝缘电阻下限造成的测试失败，如果其电阻值低於本分析仪所能量测的最低范围之内，液晶显示器会显示如下:IR LO-Limit XXX.X sMXX-X XXXX V < 1MΩ4.4.3.6 测试通过(Pass)假如被测物在做绝缘电阻测试时的整个过程都没有任何異常的现象发生时，被认定為通过测试，液晶显示器会显示如下:IR Pass XXX.X sMXX-X XXXX V XXXX MΩ4.4.4 接地阻抗测试键(仅7440机型具有此项功能):4.4.4.1 测试中止(Abort)1. 如交流接地电阻测试正在进行之中，而按RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，液晶显示器会显示如下:GND Abort XXX.X sMXX-X XX.XX A2. 如交流接地电阻测试正在进行之中，而按RESET 开关或使用遥控装置中断测试时，其中断测试时间在本分析仪讀到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示:GND Abort XXX.X s 或GND Abort XXX.X sMXX-X --.-- A ---mΩ MXX-X XX.XX A ---mΩ4.4.4.2 交流接地电阻测试(Dwell)1. 如交流接地电阻测试刚开始时，本分析仪尚未讀到第一笔测试结果之前，液晶显示器会显示如下:GND Dwell XXX.X smΩMXX-X - -.- - A - - -3. 在交流接地电阻测试进行时，测试的结果会不断的被更新，液晶显示器会显示如下: GND Dwell XXX.X sMXX-X XX.XX A XXX mΩ4.4.4.3 交流接地电阻上限(HI-Limit)1. 如被测物在做交流接地电阻测试时，接地电阻值超过上限设定值，会被判定為接地电阻上限造成的测试失败，如果其接地电阻值仍然在本分析仪的量测范围内，液晶显示器会显示如下:GND HI-Limit XX.X sMXX-X XX.XX A XXX2. 如被测物在做交流接地电阻测试时，接地电阻值超过上限设定值，会被判定為接地电阻上限造成的测试失败，如果其接地电阻值超出本分析仪的量测范围之外，液晶显示器会显示如下:GND HI-Limit XXX.X sMXX-X 0.00 A > 600 mΩ4.4.4.4 交流接地电阻下限(LO-Limit)如被测物在做交流接地电阻测试时的接地电阻值低於下限设定值，会被程式判定為接地电阻下限造成的测试失败，液晶显示器会显示如下:GND LO-Limit XXX.X sMXX-X XX.XX A XXX4.4.4.5 测试通过(Pass)假如被测物在做交流接地电阻测试时的整个过程都没有任何異常的现像发生时，被认定為通过测试，液晶显示器会显示如下:GND Pass XXX.X sMXX-X XX.XX A XXX4.5 操作程序及步骤7400 系列的耐压测试器主要是设计供生產线自动化以及品质分析和检验使用，可以外接RS232 或GPIB (IEEE-488) 介面控制，也可以外接列印介面，将本分析仪所测试到的结果即时列印出來，其操作和设定都非常简便。
JUNO 热电阻测试 说明书
热 电 阻 测 试 说 明 书1概略1.1VBE功能件，是通过测试主机，作为PN接触面的温度变化(mV)，测试器件的热电阻特性，再与规定值比较及判断，并表示△VF值。
2规格2.1测试范围2.1.1所测器件：晶体管、MOS的FET、二极管2.1.2Pre-check：B-E间的OPEN, SHORT2.1.3测试范围：△VBE / ⊿VDS 000.0m～999.9mV [ 精确度 : ±(1％+3mV) ]2.2设定范围1.00 ～ 80.0 V ±(0.5%+2mV)IE / ID / IF 00.0m ～ 10.0 A ±(0.5%+3nA)0.00m ～ 20.0mA ±(0.5%+3nA)380μ ～ 999ms CRYSTAL + 1μs010μ ～ 999μs CRYSTAL + 1μs±12V FIX2.3印加可能范围: 最大规格：150W/10ms3VBE 使用规格：使用△VBE功能件，需要以下的条件3.1测试主机：ＤＴＳ－１０００ （只限：Ｍ１１－１０００Ｖ２０Ａ）3.2系统软件：需要另外提供4系统构成5热电阻测试：所谓半导体的热电阻，是指器件消耗1W电力时，内部元件和封装表面，周围空气之间的温度差。
热电阻=1W热量的是移动，即每秒移动1个焦耳时的温度差（℃/w）作为资料的表示方法。
（1） θjc （每1W时，内部元件接触部和封装表面之间的热电阻）（2） θca （每1W时，封装表面和周围空气之间的热电阻）（3） θja （每1W时，内部元件接触部和周围空气之间的热电阻θjc＋θca）（4） Tj （半导体元件接触部温度，作为资料性能，保证的最高温度为能Tjmax ，可以用下列的关系式来表示。
Tj =（ θjc ＋ θca ）× P ＋ Ta =（ θja ）× P ＋ TaP：消費電力 Ta：周围空气温度元件的构成及形状另外，要直接测试半导体元件的电力损失部分，电极及IC的芯片，是不可能的。
测试规范说明书
测试规范说明书目录1.系统测试范围 (3)1.1系统测试内容 (3)2.系统缺陷定义 (3)2.1系统缺陷定义 (3)2.2系统风险评级方法 (3)2.2.1风险级别 (3)2.2.2计算方法 (4)2.2.3参数描述 (4)2.2.4风险级别描述 (5)2.3缺陷跟踪流程 (5)2.3.1缺陷解决方式 (5)2.3.2缺陷跟踪流程 (6)3.测试风险分析 (6)3.1文档准备风险 (6)3.2测试环境风险 (7)3.3人力资源风险 (7)3.4测试时间风险 (7)1.系统测试范围1.1系统测试内容系统测试内容覆盖如下表2.系统缺陷定义2.1系统缺陷定义➢缺陷定义→功能未实现→功能实现不完整→功能实现性能与期待值不符→内容错误→内容不准确→UI显示错误➢建议定义→架构不符合用户需求→内容不符合用户需求→功能流程实现与用户操作习惯不符2.2系统风险评级方法bug风险评级是基于FMEA(失效模式和效果分析)标准设计,评级方法是考虑三个因素来评估失效：严重级别，发生概率，发现几率。
即bug的风险级别不是由一个因素决定，而是三个因素互相作用的结果。
Bug优先级被设为四个级别，风险从高到低依次为Risk 1，Risk 2，Risk 3，Risk 4，在后文中分别以R1，R2，R3，R4表示，分别对应联合绿动bugfree里的优先级1，2，3，42.2.1风险级别失效风险级别= (严重级别) x (发生概率) x (发现概率)R1 = 54 到36 (Max：6x3x3 Min：4x3x3)R2 = 35 到18 (Min：2x3x3)R3 = 17 到4 (Min：1x2x2)R4 = 3 到1 （Min：1x1x1）2.2.2计算方法→步骤一：分别从三个因素（严重级别，发生概率，发现几率）分析失效并评出优先级●严重因素分4个级别A，B，C，D分别对应bugfree里的严重程度1，2，3，4●发生因素分3个级别高，中，低●发现因素分3个级别高，中，低→步骤二：将三个因素的评分相乘得到总分，归类到相应的风险级别，作为最终的风险级别以及对应的优先级。
JUNO DTS-1000分立器件测试系统 说明书
8
Juno DTS-1000
硬件系统说明书
3．系统各组成之间的连接 3．1 标准系统 标准的连接图示意如下（背面示意图）
P C
Ser ia l2 Ser ia l1
① H D-1200
C N-L C N-A C N-L C N-A HA N DLER I/F A-STAT I O NA-ST N A-ST AT I O N A C- I N
Low Current Generator (000.0PA～999.9uA) 1 回路 用 Item Name 管理(VCESAT、HFE、etc) Maker 管理 Max ×500 Items User Relay 动作时间 Test File 容量 测试项目数：最大 200 分类项目数：最大 200 (2)外部接口(I/F)规格 输入信号(Tester←Handler)：包括 TEST START 信号在内共 6 个信号（其余 5 个信号根据需要决 定） 输出信号(Tester→Handler)：包括 TEST END 信号在内共 4 个信号(其余 3 个信号根据需要决定) 分类信号(Tester→Handler)：24 个信号 BCD Code BINARY Code BIN (3)软件部分 .功能 Test File 管理----Test File 的建立、编辑 Tester 管理-----Test File 的存储 Data 管理-----测试数据的显示及保存 Counter 管理-----分类结果数的显示及保存
SV
BV
1 0
0
J U N O
160
1
-ST AT O IN
-ST AT O IN
CI
CV
EI B-E C O N D IT I O N
沙利法测试剂中文说明书
沙利法测试剂中文说明书硝酸离子（NO3）测试本测试可适用于两个范围：低浓度范围：－10mg/L(ppm)硝酸离子中浓度范围：2－100mg/L(ppm)硝酸离子使用之后注意清洗测试管和药勺。
本测试套装须储存在干燥之处。
远离儿童！两种测试范围的使用步骤：1.在测试管内乘1mL水样。
2.加入4滴NO3-1号试剂。
3.加入1药勺量的NO3-2号试剂粉末（尽量将粉末在其容器内压实再乘）。
温和摇匀（不要用力震荡）30秒钟。
静置等待3分钟。
4.颜色对照。
中浓度范围：将测试管置于颜色表白色部分并从上端望入对比颜色。
请在自然光下进行该颜色对比。
如果颜色对应数值小于10mg/L硝酸离子，则可将其对照低浓度范围的颜色对照表。
（如下）低浓度范围：如果中浓度范围的对照结果低于10mg/L，那么你可以用这个低浓度范围的步骤。
从而提高测试的准确度。
低浓度范围的颜色对照，须从测试管的侧面向内看其颜色。
将颜色对照表的白色部分紧贴于测试管另一侧。
使用自然光进行对比。
由于从侧面观察，颜色将被放大大约10倍。
由此，你需将颜色对照表内的数值除以10。
例如，2对应的结果应该是；50对应的应该是5。
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------钙（Ca）测试剂此钙浓度测试可适用于以下水样：海水，淡水，池塘水，淡水水族馆水体警告此钙测试试剂有刺激性，含有小于2％浓度的氢氧化钠（火碱）。
对于眼睛和皮肤有刺激性。
如不小心溅入眼睛，请立刻用大量清水冲洗并及时看医生。
远离儿童！使用方法：1.用注射器取2mL水样置于测试管中。
对于想要分析更多数量的样品低分辨率模式，可选取1mL。
2.加入1勺 Ca-1试剂（低分辨率模式加入大约半勺），尚不许摇匀。
3.加入8滴Ca-2试剂。
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第6部分测试计划方案1.1 编写目的 本说明书是系统初步验收过程中进行三方测试的测试方案，主要描述了测试方案、测试项目和各项目的用例设计说明等。
小组成员可通过文档的测试方案结合测试用力，对小金库系统进行测试。
本软件开发小组的产品实现成员应该阅读和参考本说明进行测试。
1.2 背景 说明：a. 待开发软件系统的名称：小金库；b. 本项目的任务提出者为课程设计要求，开发者是江杰、付建军、胡艳涛、江明浩、周宇，用户为家庭成员，运行该软件需连接Internet网络。
1.3 定义术语：黑盒测试：测试人员在完全不考虑程序内部结构和内部特性的情况下，只依靠被测试程序输入和输出之间的关系，或程序的功能来设计测试用例。
白盒测试：测试人员根据其内部构造设计测试用例。
静态测试：测试人员不利用计算机运行被测试的程序，通过其他手段达到检测的目的。
动态测试：测试人员通过运行和使用被测程序，发现软件故障，以达到检测的目的。
验证测试：为确定某一开发阶段的产品是否满足在该阶段开始时提出的要求而对系统或不见进行评估的过程。
确认测试：通过运行代码来完成，实在开发过程中或结束时，对系统或不见进行评估以确定其是否满足需求规格的过程。
1.4 参考资料相关书籍包括：a) 《软件工程》 （英）萨默维尔 机械工业出版社 2011.5.1b) 计算机软件测试（原书第2版）王峰机械工业出版社相关的文件包括：a) 本科09级《本科综合课程设计》指导书2.1 软件说明根据本次项目，列出了测试计划中系统功能测试计划部分的提纲，详细测试内容见2.2测试内容。
系统功能测试计划纲要见表6-1，如图6-1所示。
表6-1 小金库系统功能测试计划提纲模块名称功能输入输出参与角色和职责登陆模块登陆系统用户名、密码是否成功周宇及其他组员测试合法与非法字符的输入对系统登录的影响注册模块注册家庭/个人用户用户名、密码、确认密码是否成功周宇及其他组员测试合法与非法字符的输入对系统注册的影响账号管理模块管理家庭/个人账号新旧密码家庭：发出邀请，接受申请个人：发出申请，接受邀请是否成功胡艳涛及其他组员测试合法与非法字符与操作对账号管理的影响个人信息管理管理家庭/个人信息家庭：管理家庭成员个人：昵称，性别，年龄，头像是否成功江杰及其他组员测试合法与非法字符、操作对个人信息管理的影响事件添添加收收支类型，是否成功胡艳涛及其他加模块入/支出事件支出类型，金额，时间，事件描述组员测试合法与非法操作对事件添加的影响收入统计模块统计某时间段内的收入开始时间与结束时间，用户名，收支类型查询记录(统计表，统计折线图)付建军及其他组员测试合法、非法操作对收入统计模块及系统的影响支出统计模块统计某时间段内的支出开始时间与结束时间，用户名，收支类型查询记录(统计表，统计折线图，恩格尔系数)付建军及其他组员测试合法与非法操作对支出统计模块及系统的影响数据导入模块导入外部文件至系统外部文件(.xls/.xlsx)传递数据给统计模块江明浩及其他组员测试外部文件（合法格式、非法格式）对数据导入模块及统计模块的影响数据导出模块导出系统数据至外部文件统计模块的数据外部文件江明浩及其他组员测试内部数据对生成的外部文件的正确性权限验证模块用户合法性验证各模块权限验证是否通过周宇及其他组员测试每次操作的权限验证结果核心数数据库各模块的数是否成功江杰、江明浩据操作模块操作据操作及其他组员数据库操作的合法性测试图6-12.2 测试内容需求验证测试：对软件需求报告描述的软件功能进行测试，验证是否满足规定的要求。
模块及接口测试：对软件的模块功能，接口正确性进行测试。
系统功能测试：使用黑盒、白盒测试，静态、动态测试，验证、确认测试等，如边界值测试，决策表，等价类划分，代码复查，语句覆盖率测试等。
需求确认测试：需求完成对软件需求的完全覆盖。
系统性能测试：对系统的性能、安全性、可靠性进行测试，包括系统响应时间，容错性测试等。
易用性测试：对软件的易用性进行测试，包括易理解性、易操作性的测试。
主要工作进度表活动活动起始点活动完成点活动成果需求验证测试2012-07-092012-07-10项目概要设计模块及接口测试2012-07-112012-07-11概要设计、详细设计系统功能测试2012-07-122012-07-17小金库系统需求确认测试2012-07-162012-07-16完整的文档系统性能测试2012-07-162012-07-17-易用性测试2012-07-172012-07-17-2.3 需求验证测试参与人员：周宇、江杰、付建军、胡艳涛、江明浩测试部位：需求文档测试状态：已完成2.3.1 进度安排日期：2012年7月9日至10日测试内容：对软件需求报告描述的软件功能进行测试，验证是否满足规定的要求。
测试输出结果：项目概要设计2.3.2 测试资料相关的文件包括：a) 本科09级《本科综合课程设计》指导书b) 本科09级《综合课程设计》报告2.4 模块及接口测试参与人员：周宇、付建军测试部位：概要设计、详细设计测试状态：已完成2.4.1 进度安排日期：2012年7月11日测试内容：对软件的模块功能，接口正确性进行测试。
测试输出结果：概要设计、详细设计说明书2.4.2 条件测试工作对资源的要求：无2.4.3 测试资料相关的文件包括：a) 本科09级《本科综合课程设计》指导书b) 本科09级《综合课程设计》报告2.5 系统功能测试参与人员：周宇、江杰、胡艳涛、付建军、江明浩测试部位：程序编码测试状态：未完成2.5.1 进度安排日期：2012年7月12——17日测试内容：使用黑盒、白盒测试，静态、动态测试，验证、确认测试等，如边界值测试，决策表，等价类划分，代码复查，语句覆盖率测试等。
测试输出结果：成熟的小金库系统软件2.5.2 测试资料相关的文件包括：a) 本科09级《本科综合课程设计》指导书b) 本科09级《综合课程设计》报告测试的输入、输出：a) 登陆模块输入：用户名、密码输出：登陆成功或失败方法：健壮性测试b) 注册模块输入：用户名、密码、确认密码、账户类型输出：注册成功或失败方法：Worst-Cases测试c) 账号管理模块输入：密码，家庭：发送邀请、接受申请，个人：发送申请，接受邀请输出：操作成功或失败方法：健壮性测试d) 个人信息管理模块输入：家庭成员信息、个人信息输出：操作成功或失败e) 事件添加模块输入：收支类型，支出类型，事件描述等输出：操作成功或失败方法：Worst-Cases测试f) 收入统计模块输入：需查询的时间段输出：统计表格，折线图方法：黑盒测试（边界值、特殊值）g) 支出统计模块输入：需查询的时间段输出：统计表格，折线图，恩格尔系数方法：黑盒测试（边界值、特殊值）h) 数据导入模块输入：excel文件输出：dataset数据集方法：黑盒测试（边界值、特殊值）i) 数据导出模块输入：dataset数据集输出：excel/word文件2.6需求确认测试参与人员：全体组员测试部位：整个项目文档测试状态：未完成2.6.1 进度安排日期：2012年7月16日测试内容：需求完成对软件需求的完全覆盖。
测试输出结果：完整的项目文档，保证需求的完整实现2.6.2 测试资料相关的文件包括：a) 本科09级《本科综合课程设计》指导书b) 本科09级《综合课程设计》报告测试的输入、输出：a) 输入：本科09级《本科综合课程设计》指导书输出：本科09级《综合课程设计》报告2.7系统性能测试参与人员：全体组员测试部位：完成的小金库系统测试状态：未完成2.7.1 进度安排日期：2012年7月16日-17日测试内容：对系统的性能、安全性、可靠性进行测试，包括系统响应时间，容错性测试等。
测试输出结果：具有良好性能、安全性及可靠性的系统。
2.7.2 测试资料相关的文件包括：c) 本科09级《本科综合课程设计》指导书d) 本科09级《综合课程设计》报告测试的工具：Mercury LoadRunner 8.1LoadRunner® 是一种预测系统行为和性能的工业标准级负载测试工具。
通过以模拟上千万用户实施并发负载及实时性能监测的方式来确认和查找问题，LoadRunner 能够对整个企业架构进行测试。
通过使用LoadRunner ，企业能最大限度地缩短测试时间，优化性能和加速应用系统的发布周期。
目前企业的网络应用环境都必须支持大量用户，网络体系架构中含各类应用环境且由不同供应商提供软件和硬件产品。
难以预知的用户负载和愈来愈复杂的应用环境使公司时时担心会发生用户响应速度过慢，系统崩溃等问题。
这些都不可避免地导致公司收益的损失。
Mercury Interactive 的 LoadRunner 能让企业保护自己的收入来源，无需购置额外硬件而最大限度地利用现有的IT 资源，并确保终端用户在应用系统的各个环节中对其测试应用的质量，可靠性和可扩展性都有良好的评价。
LoadRunner 是一种适用于各种体系架构的自动负载测试工具，它能预测系统行为并优化系统性能。
LoadRunner 的测试对象是整个企业的系统，它通过模拟实际用户的操作行为和实行实时性能监测， 来帮助您更快的查找和发现问题。
此外，LoadRunner 能支持广范的协议和技术， 为您的特殊环境提供特殊的解决方案。
2.8易用性测试参与人员：全体组员测试部位：发布的小金库系统软件测试状态：未完成2.8.1 进度安排日期：2012年7月17日测试内容：对软件的易用性进行测试，包括易理解性、易操作性的测试。
测试输出结果：有良好的用户体验、界面及操作性的软件2.8.2 测试资料相关的文件包括：e) 本科09级《本科综合课程设计》指导书f) 本科09级《综合课程设计》报告测试准则：符合标准和规范。
直观。
用户界面是否洁净、不唐突、不拥挤？UI组织和布局是否合理？有多余功能吗？帮助系统有效吗？一致性。
灵活性。
多种视图的选择、状态跳转、状态终止和跳过。
舒适性。
恰当、良好的错误处理正确性。
是否做了该做的事实用性。
3 测试设计说明3.1 测试1（登陆模块）本模块的测试目标是确保系统只有合法的用户才能够登陆，根据登陆模块的实现原理，对模块采用健壮性测试。
3.1.1 控制控制方式输入采用自动化的脚本执行登陆模块的输入操作顺序1将数据库中的所有测试用户的记录调出，写入脚本2使用边界值和特殊值编写非法用户的测试用例3导入测试脚本，进行测试结果记录将所有测试用例及测试结果以Excel表格显示出来3.1.2 输入本测试采用自动化测试用户名和用户密码的输入，实现对合法状态的用户和非法状态的用户的测试。
3.1.3 输出在每个测试用例之后都会输出测试结果，结果主要包括：登陆成功；登陆失败；3.1.4 过程首先，导出测试用户的记录，作为合法的用户测试用例，写入测试脚本；然后，根据系统实现的原理，编写一些特殊的非法测试用例，写入测试脚本；然后，编写测试用例对应的预期的测试结果然后，导入测试脚本，进行测试；然后，生成测试结果；最后，进行预期结果和测试结果的比对分析。