寿命试验作业标准书

1目的：

为确保产品符合设计规格，仿真实体操作于预定之操作周期或寿命试验后，其外观结构、机械特性及电气特性，符合产品规格书之规定。

2范围：

适用于新产品开发阶段、生产制品、出货批、不良分析及客户要求各阶段作业均适用之。3权责：

研究开发部：产品规格之相关资料提供，开发阶段之验证与确认。

品质保证课/品质工程课：执行产品各阶段量测与记录。

4定义：

4.1插拔仿真寿命：以测试卡插入至卡片阅读机定位后，再退出测试卡为1次插拔仿

真寿命。

4.2机械特性：CP8接触压力，插、退卡力量与电镀磨损情形。

4.3电气特性：CP8接触阻抗，Detector接触阻抗。

4.4外观功能：待测物外观结构及操作功能。

5作业内容：

5.1作业范围：

5.1.1新产品开发阶段：新产品在研究发展阶段，由品质工程课进行各项量测，并

将量测之结果以书面资料或测试报告回馈以供开发验证及改善依据。

5.1.2生(试)产制品：当产品在生(试)产中或完成时，依实际需求由品质保证课执

行各项量测以确保其品质及早发现问题，并将测试之结果以书面资料或测试

报告回馈以供参考及改善依据。

5.1.3出货批：由品质保证课视需求对出货批成品执行量测，以供出货品质判定与

有关单位之改善依据。

5.1.4不良分析及客户要求：在生产过程中之不良品或客户不良信息回馈，为追查

原因及分析，或客户要求提出检测报告时。

5.2抽样标准与室温条件：

5.2.1量测样品数视实际需求或依【抽样作业标准书】中机构尺寸、物理特性抽样

作业标准之规定办理。

5.2.2室温条件：温度15℃~ 35℃,湿度10% ~ 95%,气压86 ~ 106 kPa(mbar)。

5.3寿命试验：

5.3.1执行时机：

适用于产品新产品开发阶段、生产制品、出货批、不良分析、客户要求及更

换零件材质或设计变更结构。

5.3.2测试条件：

5.3.2.1使用寿命测试治具，气动压力3.5 kg/ cm2±0.5kg/ cm2，PCB测试卡，

插拔寿命周期约为2秒1次。

5.3.2.2当只要求仿真测试插拔寿命次数，用以分析待测物结构或特定零件

之寿命，得以IC塑料卡作为测试卡，以气动压力3.5 kg/ cm2±0.5kg/

cm2及插拔寿命周期约为2秒1次的条件，执行测试。

5.3.3检测频率：

5.3.3.1基本检测点：

测试前（初始值），第5,000/10,000/20,000/30,000/50,000/70,000/100,000/130,000

次……累积至插卡寿命次数，超过130,000次后，每30,000次检测一次，到产

品所规范的次数，最后一次不足60,000次时，则选择实际剩余次数直接累积

至插卡寿命次数作为检测点。

5.3.3.2经济检测点：

0/50K/50K……累积至插卡寿命次数，当最后一次不足50K次时，选择剩余次

数作为检测频率。。

5.3.3.3快速检测点：

测试前（初始值）及完成产品插拔寿命次数。

5.3.3.4检测频率之选定：

5.3.4电镀之检测：

以20倍之光学显微镜检测并记录磨耗情形后，再去做其它各项之机械/电气

特性的检测。

附记1：若有特别分析需求时，可选用适合倍率来检测样品。

5.3.5检测顺序：

外观检测→功能检测→电镀磨耗检测→机械特性检测→电气特性检测

5.3.6量测接触压力依【接触压力测试作业标准书】作业之规定进行量测。

5.3.7量测接触阻抗依【接触阻抗测试作业标准书】作业之规定进行量测。

5.3.8量测插卡力量：测试卡片厚度为0.8mm

5.3.8.1设定推拉力计为非峰值读数模式，推拉力计架设于高度规后，设置

待测物卡片位置与推拉力计成垂直位置。

5.3.8.2校正插卡位置：调降高度规将测试卡推入定位当读值大于100g时，

调升高度规使推拉力计读值为0，将高度规数值归零，再高度规将

调升0.5mm位置后归零，完成校正插卡位置作业。

5.3.8.3调升高度规，并退出卡片为非读卡位置（此时仍插在读卡槽内），

此时设定为峰值读数模式（Peakhold mode）并且归零。

5.3.8.4调降高度规至校正插卡位置（高度规读值=0），此时读值为插卡力

量。

5.3.9量测退卡力量：

5.3.9.1设定推拉力计为峰值读数模式（Peakhold mode），推拉力计架设于高

度规后，设置待测物卡片位置与推拉力计成垂直位置。

5.3.9.2调升高度规，由推拉力计带动卡片，并退出在非读卡位置，此时读

值为退卡力量。

5.3.10PCB测试卡：

5.3.10.1当寿命测试治具侦测CP8功能错误，而且分析待测样品确定无异

常，判断PCB测试卡不良时，应更换PCB测试卡后再继续执行寿

命试验。

5.3.10.2待测样品需牢固焊在PCB上，再固定于转接基座，PCB材质为94V0

等级（含或以上）。

5.3.11执行与设置：

5.3.11.1完成初始值量测后，以每一机种专用之转接基座，牢固架设于插卡

寿命测试治具。

5.3.11.2设定气压源：向上拉起气压阀调整钮，调整气压阀为3.5 kg/ cm2±

0.5kg/ cm2的读值，压回调整钮完成气压源设定。

5.3.11.3寿命测试治具参数设定：

5.3.11.3.1持压【MODE】键，可听一长声beep并显示

，表示进入设定测试寿命次数，按【ENTER】键，利用【+】/【-】【SHIFT】键，设定寿命次数。

5.3.11.3.2再按一次【ENTER】键完成次数设定，此时显示

，表示进入设定推拉卡片测试

+】/【-】选择测试周期代码『1』（约2秒）。

5.3.11.3.3再按一次【ENTER】键完成测试周期设定后，此时按【GO】键

开始测试。