薄膜电容检验标准

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薄膜电容检验标准OK

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版 本 A.0 页次Page 1 of 2一 范围本标准规定了薄膜电容器检验标准的要求、试验方法、检验规则、抽样方案。

本标准适用于薄膜电容器的来料、过程控制等常规检验。

本标准规定缺陷等级分为Ⅰ类缺陷、Ⅱ类缺陷、Ⅲ类缺陷。

二 技术要求2.1 外观2.1.1 目测实物,被检产品印字字迹清晰,产品上标有类型、耐压、电容量、误差等内容。

2.1.2 产品主体光洁无毛刺,无变形、无色泽差异,表面无穿透性气孔。

2.1.3 电容器引脚光亮无氧化;作三次90°折弯不断裂。

2.2 外形尺寸:外型尺寸见采购单要求。

2.3 性能要求2.3.1 标准值用电桥测电容值,在1KHZ下测得的电容量应符合标准;2.3.2 耐压特性用耐压测试仪测试薄膜电容的耐压特性,CBB型电容按1.5倍耐压,其它型号按2倍耐压测试。

三 检验方法3.1 外观目测实物。

人眼与被测物体保持≤20cm的距离。

检测产品印字字迹清晰度,产品上标注的类型、耐压、电容量、误差等内容。

3.2 尺寸要求包封在引脚根部到引脚终端尺寸应与采购单一致,并记录电容的长*宽*高是否符合要求,特殊规格除外。

3.3 性能要求。

3.3.1 标准值用电桥在常温下测电容值,测得的电容量偏差不得超过标称误差。

3.3.2 耐压特性用耐压测试仪测试,CBB型电容按1.5倍耐压,其它型号按2倍耐压测试。

3.3.3 可焊性浸焊时,不用助焊剂,3S内引脚四周有均匀地被焊料覆盖。

四 检验规则4.1 为了检验提交的薄膜电容器质量是否符合本标准的要求,品质部、生产部应对薄膜电容器进行交收试验。

4.2 交收试验应从提交批的同一规格中薄膜电容器均匀抽取,同时提交验收的同一规格薄膜电容器应为同一批。

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聚酯薄膜电容器检验规范

聚酯薄膜电容器检验规范
聚酯薄膜电容器检验规范
编制日期Байду номын сангаас
审核日期
批准日期
修订记录
修订状态
修改内容
修改人
批准人
日期
1、主题:本标准规定了聚酯薄膜电容器的检验要求和检验方法。
2、检验项目和检验方法
2.1外观和标志
2.1.1技术要求:外包装箱应标明产品编号、型号、生产日期、数量、制造商名称等;电容器表面不应有锈蚀、裂痕、压痕和其它机械性损伤;标志应清晰、正确、牢固。
b、检验方法:用LCR表进行测量。
2.3.3耐焊接热
a、技术要求:无可见损伤、标志清楚;容量变化小于规格书所要求。
b、检验方法:浸入温度为260±5℃的熔锡内,浸入时间5±0.5秒。
2.4可焊性
a、技术要求:导线上沾锡面积≥90%。
b、检验方法:导线须浸入助焊剂后再浸入230±5℃的熔锡内,浸入时间2±0.5秒。
3、检验规则
交收检验。按GB2828—87《逐批检查计数抽样程序及抽样表》中一次正常抽样方案进行,检查水平Ⅱ级。
合格质量水平AQL值分别如下:
重缺陷:0.065轻缺陷:0.65
4、缺陷分类
4.1重缺陷:错料、混料,电容裂、变形,电性能不符合,引脚不上锡。
4.2轻缺陷:尺寸略超差,但不影响使用;外观轻微缺陷,但不影响使用。
2.1.2检验方法:目测法。
2.2外形尺寸
2.2.1技术要求:符合规格书的规定尺寸。
2.2.2检验方法:用游标卡尺测量。
2.3电气性能
2.3.1静电容量
a、技术要求:符合产品规格书规定的容值和容许偏差。
b、检验方法:用LCR表进行测量。
2.3.2损耗角正切值
a、技术要求:符合产品规格书规定的损耗角正切值。

薄膜电容测试方法详解

薄膜电容测试方法详解

薄膜电容测‎试方法详解‎1. 准备设备、工具:所需工具及‎其规格型号‎如表一所示‎:表一(工具规格型‎号)品名规格/型号数量品名规格/型号数量调压器0V~450V/三相1台电流表UNI-T 1台万用表FLUKE‎-117C 1台测温仪TM-902C 1台电桥测试仪‎Zen tech 1台双综示波器‎LM620‎C型1台游标卡尺mm/inch 1把变压器MTT-120K 1台耐压测试仪‎CC267‎2A型1台分流器TM-902C 2把2.外观物理检‎测2.1首先需检‎查待测电容‎是否有正规‎的《产品规格说‎明书》,其中需包括‎产品名称、规格型号、安装尺寸、工艺要求、技术参数以‎及供应商名‎称、地址及其联‎系方式,以确保此批‎次产品是由‎正规厂商提‎供。

2.2参考《产品规格说‎明书》的工艺参数‎,观察电容的‎外观、颜色、及其材质等‎参数是否与‎其所标注的‎工艺指标一‎致。

2.3用游标卡‎尺对电容的‎安装尺寸进‎行确认,确保电容的‎直径、高度、最大高度、以及引出端‎的直径与间‎距等参数在‎产品工艺的‎误差范围之‎内。

2.4 检查电容的‎外观,确保其外观‎整洁、无明显的变‎形、破损、裂纹、花斑、污浊、锈蚀等不良‎状况;且其标识清‎晰牢固、正确完整。

2.5检查其引‎出端子,保证其端子‎端正、无氧化、无锈蚀、无影响其导‎电性能等状‎况,且引出端子‎无扭曲、变形和影响‎插拔的机械‎损伤。

3.数字电桥测‎试3.1用电桥测‎试其实际容‎量与标称容‎量是否一致‎(金属化薄膜‎电容一般会‎有±5%的误差范围‎),其损耗角正‎切值tan‎θ(即D值)大小是否符‎合国家标准‎(薄膜电容器‎t a nθ≤0.0015,电解电容器‎t a nθ≤0.25)。

3.2对Zen‎tech电‎桥测试仪的‎使用,正确连接电‎源以后,按“POWER‎”键开启测试‎仪的工作电‎压;按“LCR”键选择测试‎类型(L:电感,C:电容,R:电阻)。

薄膜电容技术要求

薄膜电容技术要求

湖北三环发展股份有限公司1100V 420uF薄膜电容技术要求一、应用标准a)GB/T 17702b)IEC61071。

二、技术参数指标备注材料聚丙烯薄膜封装铝罐,干式容量偏差±10% 100Hz,+25℃最大纹波电压Ur 250V浪涌电压Us 1650V有效电流Irms≥60A 环境温度50℃≥50A 环境温度60℃脉冲电流冲击dV/dt≥10V/us损耗角正切值tanδ0≤2×10-3100Hz,1.0V电平,+25℃等效串联电阻ESR≤3.0mΩ1KHz,1.0V电平杂散电感Ls≤65nH工作温度-40℃~+70℃最大热点温度≤85度存储温度-40℃~+85℃阻燃性UL94-V0寿命100000小时额定电压下,max(hotspot)≤70℃三、结构要求(单位:mm)D H P H286 136 32 5~61、具体结构尺寸如上图表中所示,注意电容最大外径不得大于88mm。

H2是电极与电容表面的高度,务必满足不小于5mm的要求,强烈建议控制在6mm。

2、电极端子M6,螺纹深度≥8mm。

3、电极端子所在盖板形式不拘泥于上图,要求保证合理的爬电距离。

4、底部带螺栓,要求螺栓单独发货。

5、最大电极扭矩要求:≥4Nm;最大安装扭矩要求:≥7Nm。

四、电气绝缘及检验方法的要求:1、极间耐压要求及测试方法:Us(1min),无击穿无放电(电压上升速度小于100V/s,电压稳定后漏电流小于1mA,不得有连续放电声)。

2、极壳耐压要求及测试方法:4000VAC(@50Hz),1min,无击穿,无飞弧,无闪络。

3、要求耐压测试前后容量、损耗角正切在正常范围内,无明显变化。

4、绝缘阻抗要求及测试要求:Rs*C≥10000s,20℃,100VDC,测试两分钟后读取。

5、抽样方案:遵循GB/T 2828.1-2003/ISO 2859-1:1999 《计数抽样检验程序》抽检。

五、热稳定测试电容置于45度温箱,在Un=1100V和Irms=50A下,电容器热点(hotspot)温度不应超过70度,表面温升不得超过15K。

电容判定检验标准

电容判定检验标准
电容判定检验标准
文件编号
QC013
生效日期
2007.07.18
批准
审核
拟制
版本/修订号
B.0
制订部门
品管部
1.0目的:为使电容来料符合本厂之产品要求,特制定检验和判定标准。
2.0范围:适合本公司所有无极性电容的检验。
3.0检验环境:在正常光源下,距30CM远,以适宜视角观看产品。
4.0检验内容:
检验项目
电烤箱、LCR数字电桥

高温储存试验
将未通电的电容器放置于烘箱,在100℃±5℃状态下恒温烘烤96小时,恢复16小时,测试:
A、损耗角正切值不大于原规定值2倍。
B、容量变化率不超过20%

检验项目
检验内容
检验方法
判定标准
CR
MA
MI
耐久性
将未通电的电容器放置于烘箱,在100℃±5℃状态下恒温烘烤1000H,满足

4、试装符合实际安装要求。
电气特性
1、电容量:在1KHZ条件下测试,容量在规定偏差范围内
LCR数字电桥

2、损耗角正切值:在1KHZ条件下测试损耗角正切值符合承认书要求。

3、耐压:电容器在室温下承受施加于引脚间的,其值为2UR(额定电压),历时60S的直流电压,漏电流设定1MA无超漏击穿现象.
耐压测试仪
4.0检验内容:
检验项目
检验内容
检验
方法
判定标准
CR
MA
MI
外观
1、主体色环丝印清晰可辨认。
目视

2、色环少环偏色。

3、混规格之同电阻。

4、主体破损

薄膜电容执行标准

薄膜电容执行标准

薄膜电容执行标准
薄膜电容执行标准通常包括以下方面:
1. 尺寸和外观:标准要求薄膜电容尺寸和外观应符合特定的要求,例如长度、宽度、厚度、平直度等。

2. 电气性能:标准规定了薄膜电容的电气性能指标,包括额定电容值、容差、耐电压、介质损耗、温度系数等。

3. 可靠性:标准对薄膜电容的可靠性进行了要求,如寿命、耐湿热、耐温度循环等。

4. 焊接性能:如果薄膜电容需要焊接到电路板上,标准会对其焊接性能进行要求,如焊接温度、焊接时间、焊接强度等。

5. 检测方法:标准会描述薄膜电容的检测方法,包括电容值测量、耐电压测试、介质损耗测量等。

6. 包装和标识:标准会规定薄膜电容的包装要求和标识要求,例如包装箱尺寸、标贴内容等。

这些标准通常由相关行业组织、国际标准组织(如国际电工委员会)或国家标准化组织制定,并根据技术和市场需求不断更新和修订。

具体的执行标准可能因地区和产品类型而有所不同。

薄膜电容怎么检测好坏

薄膜电容怎么检测好坏

满意回答2012-08-19 08:15用指针表,正反方向测试一下,看能否充放电。

满意回答2013-01-02 00:33首先看有没有过热烧过的痕迹,再用万用表电阻档测试薄膜电的两脚应为非常高阻值,如果有电容表,再量度电容值是否跟外壳上标记相符。

满意回答CL21金属化聚酯薄膜电容器105J是电容容量250V是电容的耐压值推荐答案2011-03-25 09:36第一:外观,外观都做不好,谈什么质量好坏?但是也不能迷信。

第二:常温测试性能,包括容量、损耗、绝缘电阻、耐压情况、ESR等等。

你特别需要电容器哪方面的性能,你就重点测试哪方面的。

第三:做模拟寿命试验。

常温常态测试性能没有问题了,那还要看寿命是否能持久,要是今天装上了,明天电容器就爆了,那你能说他好?也不能吧?单对电容器来说这三方面比较全面。

若你要说如何选择,我可以再给你些意见:第一,选择有信誉的电容器生产厂家;第二,把你的使用环境,包括电气环境和空间环境,让他们给专门设计,这是最可靠的;第三,若你使用要求不高,那你可以从市场上买一些通用的,自己做一下拷机试验,通过了,你就可以放心使用了。

满意回答2009-12-17 10:31测电路电容必须先断电,高压电容还要先进行放电,然后看电路设计情况,比如是整流后的滤波电容(或其它一些在电容两端阻值很大的电路),这些电容都可以在电路测,如果在电路测量不能确定电容好坏,只能拆下测量了满意回答2008-11-18 14:50拆掉一只引脚测量其他回答共3条2008-11-17 21:51凌乱头发的秘密|九级在电路板上测电容是测不准的,只有取下或直接读上面的标记。

电阻一般情况下可以直接测,但最好还是取下测或直接读。

如果只测好坏,电容坏了一般是短路,测它的电阻,为零就坏了。

电阻坏了则一般是开路,测电阻,无穷大就坏了。

精彩回答2007-06-16 15:18视电解电容器容量大小,通常选用万用表的R×10、R×100、R×1K挡进行测试判断。

薄膜电容器国家标准

薄膜电容器国家标准

薄膜电容器国家标准
薄膜电容器是一种常见的电子元件,广泛应用于电子产品、通讯设备、家用电器等领域。

为了确保薄膜电容器的质量和性能,国家制定了一系列的标准,对薄膜电容器的设计、生产、测试等方面进行规范,以保障产品的质量和安全性。

首先,薄膜电容器国家标准对产品的设计和材料选择进行了详细的规定。

标准要求薄膜电容器的设计应符合电气性能、机械性能、环境适应性等方面的要求,同时对所使用的材料也有严格的规定,包括材料的种类、质量等级、性能指标等。

这些规定旨在确保薄膜电容器的设计和材料选择能够满足产品的基本要求,保证产品的稳定性和可靠性。

其次,薄膜电容器国家标准对生产工艺和工艺控制进行了详细的规定。

标准要求生产厂家必须建立健全的生产工艺流程和质量控制体系,确保产品在生产过程中能够达到规定的要求。

标准还对生产设备、生产环境、人员素质等方面提出了具体要求,以确保产品的一致性和稳定性。

另外,薄膜电容器国家标准还对产品的测试方法和测试要求进行了规定。

标准要求对薄膜电容器的电气性能、机械性能、环境适应性等方面进行全面的测试,确保产品能够满足用户的需求和产品的设计要求。

同时,标准还对测试设备、测试方法、测试结果的评定等方面提出了具体要求,以确保测试的准确性和可靠性。

总的来说,薄膜电容器国家标准是保障薄膜电容器产品质量和安全性的重要依据,对产品的设计、生产、测试等方面进行了全面的规范,为产品的生产和应用提供了有力的保障。

同时,作为薄膜电容器的生产厂家和用户,我们也应该严格遵守国家标准,不断提高产品的质量和技术水平,为推动我国薄膜电容器产业的发展做出应有的贡献。

薄膜电容测试方法详解

薄膜电容测试方法详解

薄膜电容测试方法详解1. 准备设备、工具:所需工具及其规格型号如表一所示:表一(工具规格型号)2.1首先需检查待测电容是否有正规的《产品规格说明书》,其中需包括产品名称、规格型号、安装尺寸、工艺要求、技术参数以及供应商名称、地址及其联系方式,以确保此批次产品是由正规厂商提供。

2.2参考《产品规格说明书》的工艺参数,观察电容的外观、颜色、及其材质等参数是否与其所标注的工艺指标一致。

2.3用游标卡尺对电容的安装尺寸进行确认,确保电容的直径、高度、最大高度、以及引出端的直径与间距等参数在产品工艺的误差范围之内。

2.4 检查电容的外观,确保其外观整洁、无明显的变形、破损、裂纹、花斑、污浊、锈蚀等不良状况;且其标识清晰牢固、正确完整。

2.5检查其引出端子,保证其端子端正、无氧化、无锈蚀、无影响其导电性能等状况,且引出端子无扭曲、变形和影响插拔的机械损伤。

3.数字电桥测试3.1用电桥测试其实际容量与标称容量是否一致(金属化薄膜电容一般会有±5%的误差范围),其损耗角正切值tanθ(即D值)大小是否符合国家标准(薄膜电容器tanθ≤0.0015,电解电容器tanθ≤0.25)。

3.2对Zen tech电桥测试仪的使用,正确连接电源以后,按“POWER”键开启测试仪的工作电压;按“LCR”键选择测试类型(L:电感,C:电容,R:电阻)。

3.3按“UP”与“DOWN”键选择测试量程(μF、nF、pF),按“FREQ”键选择测试频率(100HZ、120HZ、1KHZ),可根据厂商提供的技术参数来选择所需的测试频率。

3.4按“SERIES”(串联)与“PARALLEL”(并联)选择测试的连接方式,对电阻而言阻抗小于1K用串联,1K到几十K串并联都可以,阻抗大于几百K或M的量级就用并联模式。

如果被测元件是大电感或小电容要用并联模式,测试元件是小电感或大电容用串联模式。

且对小电感小电容适当提高测试频率可以提高测量精度。

薄膜电容怎么测好坏

薄膜电容怎么测好坏

薄膜电容怎么测好坏
薄膜电容怎幺测好坏
1、首先看外观,外观有问题则薄膜电容很可能有问题。

2、用万用表电阻档测试薄膜电的两脚应为非常高阻值,如果有电容表,量度电容值是否跟外壳上标记相符。

3、常温测试性能,包括容量、损耗、绝缘电阻、耐压情况、ESR等等。

特别需要电容器哪方面的性能就重点测试哪方面的。

4、做模拟寿命试验。

常温常态测试性能没有问题了,还要看寿命是否能持久。

5、选择有信誉的电容器生产厂家。

6、薄膜电容器是以金属箔当电极,将其和聚乙酯,聚丙烯,聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜从两端重叠后卷绕成圆筒状的构造之电容器。

而依。

薄膜电容检验标准

薄膜电容检验标准
批准
薄膜电容器检验标准
(适用于松下的CECQ2104/ECQE4103系列)
文件编号
审核
修改状态
编制
制(修)订日期
检验项目
检验要求
检验工具
不良等级
抽样方式
判定
包装
1、包装无破损;
2、外包装标识清晰、整洁、无错误;
3、包装箱上标识型号、数量、生产日期(生产批号)标识。
目视
A
GB2828-2003
一般II级
AQL=1.5
规格型号
实物上标识、包装标签上的规格型号与ERP单上的规格型号一致。
目视
A
GB2828-2003
一般II级
AQL=1.5
外观
1、电容表面丝印清晰,无漏印、丝印不清晰;
2、电容表面无变形、破损或露出介质;
3、引脚无伤痕、断裂、氧化、松动。
目视
A
N=5
Ac=0
Re=1
结构尺寸
封装尺寸符合技术要求。
2、高温85℃、额定电压下,连续24小时,检测其漏电流波动情况,每5分钟记录一次数据,要求老化过程中漏电流无大的波动,且小于10倍初始极限值;
3、恢复至常温,保持12分钟,监测漏电流、损耗角、绝缘电阻符合常温下标准。
电容器高温老化系统
A
20pcs/每批
Ac=0
Re=1
可焊性
烙铁温度270±5ºC恒温电铬铁给引脚加焊锡2~3秒,引脚上锡率≥90%以上,未上锡部分和针孔缺陷不能集中在一起且不超过5%。
耐压测试仪
A
N=5
Ac=0
Re=1
绝缘电阻
1、引线和引线之间:>30000MΩ;
2、引线和壳体之间:>30000MΩ。

薄膜电容检验标准

薄膜电容检验标准
C类不合格:单位产品的一般质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。
4、检查项目
检查项目
缺陷名称
检查
工具
判定说明
不良等级
备注
A
B
C





包装不良
目视
包装袋破裂、长短脚要求不符,袋装或是盒装外部都应有标签标注供应商的型号及规格,与实物一一对应

标示ห้องสมุดไป่ตู้良
目视
无标示或标示错误,涂改或与要求不符

数量不符
目视
来料数量应与供应商送货数量及送检单上数量一致

来料错/混料
目视
来料与送检型号,实物与外箱标示不一致或混料







印字
目视、
手擦
电容本体上的印字是否与我司要求、实物一致(标注规格、额定电压、供应商的LOGO等);印字用手去拭擦,印字不能擦掉、模糊现象
涂层
目视、
游标卡尺
电容本体涂附是否均匀,引线上不能有太长涂层(引脚若涂层太长,接触不良、虚焊等现象出现)
损耗角正切(DF值)
按照供应商提供的参数标准,一般品为≤0.8%
薄膜
1、目的
为了更好地明确本公司的质量标准,品管部制订此检测标准。
2、适用范围:适用于本公司薄膜电容来料检验及供应商的供货质量标准。
3、判定标准
判定标准
AQL值:A B C
A类不合格:单位产品的极重要安全特性不符合规定,或者单位产品的质量特性极严重不符合规定。
B类不合格:单位产品的重要特性不符合规定,或者单位产品的质量特性严重不符合规定。

薄膜电容测试方法详解

薄膜电容测试方法详解

薄膜电容测试方法详解1. 准备设备、工具:所需工具及其规格型号如表一所示:表一(工具规格型号)2.1首先需检查待测电容是否有正规的《产品规格说明书》,其中需包括产品名称、规格型号、安装尺寸、工艺要求、技术参数以及供应商名称、地址及其联系方式,以确保此批次产品是由正规厂商提供。

2.2参考《产品规格说明书》的工艺参数,观察电容的外观、颜色、及其材质等参数是否与其所标注的工艺指标一致。

2.3用游标卡尺对电容的安装尺寸进行确认,确保电容的直径、高度、最大高度、以及引出端的直径与间距等参数在产品工艺的误差范围之内。

2.4 检查电容的外观,确保其外观整洁、无明显的变形、破损、裂纹、花斑、污浊、锈蚀等不良状况;且其标识清晰牢固、正确完整。

2.5检查其引出端子,保证其端子端正、无氧化、无锈蚀、无影响其导电性能等状况,且引出端子无扭曲、变形和影响插拔的机械损伤。

3.数字电桥测试3.1用电桥测试其实际容量与标称容量是否一致(金属化薄膜电容一般会有±5%的误差范围),其损耗角正切值tanθ(即D值)大小是否符合国家标准(薄膜电容器tanθ≤0.0015,电解电容器tanθ≤0.25)。

3.2对Zen tech电桥测试仪的使用,正确连接电源以后,按“POWER”键开启测试仪的工作电压;按“LCR”键选择测试类型(L:电感,C:电容,R:电阻)。

3.3按“UP”与“DOWN”键选择测试量程(μF、nF、pF),按“FREQ”键选择测试频率(100HZ、120HZ、1KHZ),可根据厂商提供的技术参数来选择所需的测试频率。

3.4按“SERIES”(串联)与“PARALLEL”(并联)选择测试的连接方式,对电阻而言阻抗小于1K用串联,1K到几十K串并联都可以,阻抗大于几百K或M的量级就用并联模式。

如果被测元件是大电感或小电容要用并联模式,测试元件是小电感或大电容用串联模式。

且对小电感小电容适当提高测试频率可以提高测量精度。

金属膜电容检验规范

金属膜电容检验规范

包装外观 混料/错料 其它
不可有破损及脏污 不可混料﹑错料
出货检验报告 检查是否有出货检验报告
*RoHS检测
版本 A0 核准:
材料必须符合RoHS环保要求 审核:
编号:
6.注意事项 :客户有特殊要求时,以客户特殊要求为准;尺寸与性能参数记录6个数据在《IQC进料检验报告》上 。
7.相关表单﹕<<IQC进料检验报告>> 检验项目 检ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ内容
规格
检验方法 /检具 目视比对 卡尺 目视比对 目视 目视 LCR 电烙铁/ 目视 组装产品 目视
抽样水准 CR 0 MAJ 0.65 √ √ √ √ √ √ 1-3PCS √ √ MIN 1.5
金属膜电容进料检验规范
1.适用范围: 本文件适用于公司內所有产品使用的金属膜电容来料检查 2.抽样计划﹕A 一般项目执行MIL-STD-105E Ⅱ 单次抽样 B 带“*”为特殊项目(可靠性检测及破坏性检测)采用MIL-STD-105E S2 抽样 3.外观检验环境: 距离:检验光强度250~500 Lux,眼睛距离被测物45-55CM, 检视偏移范围小于45°角。 条件:不得在反光下检验表面、不得使用放大镜检验表面。 检验时间:3-5秒 4.检验要求: 4.1.尺寸检验部位依承认书图纸位置检验 4.2.检验电子料件必须带静电手环/静电手套作业 4.3.检验工具;LCR,电烙铁,电子卡尺 5.判退:AQL
零件核对 零件整体核对 与样品一致 尺寸(mm) 图面重点尺寸 依据承认规格书 1.外观表面 外观 2.破损 3.引脚 电气参数 容值 测试 金属膜 电容 *引脚沾锡 实配测试 与组装产品实 配 电容上的相应规格参数等印字:标称 容量、额定电压等与确认样板一致, 不能有错漏 不可有表皮破损/脱落等 光洁、无污、有无氧化、松动、脱离 或变形等 依据承认规格书、BOM表 温度360±10℃, 时间3-5S , 焊锡面 积大于95% 无干涉不良/无组装不到位

电容检验标准

电容检验标准

1、适用范围Applicable Scope本规定适用于单相异步电机运转电容(C B B电容)。

This criterion applies to the running capacitor (CBB) put on the single phase asynchronous motor manufactured by Guangdong Lingxiao Pump Industry Co., ltd.2、执行标准Standard电容器必须符合IEC60252和GB3667有效版本的要求。

Capacitor must comply with the latest version IEC60252&GB3667.3、电容运行等级分级Class of Operation根据IEC60252标准,电容在额定负荷、额定电压、规定温度和额定频率下的最短总寿命分为下列四个等级。

As stipulated in IEC60252, the minimum total life for which the capacitor has been designed at rated duty, voltage, temperature and frequency is:A级(A class)—30000h Class A-30 000hB级(B class)—10000h Class B-10 000hC级(C class)—3000h Class C- 3 000hD级(D class)—1000h Class D- 1 000h4、检验、试验设备Inspection and Testing instruments电容耐久试验综合测试系统、电容冲击测试台、500V直流充击测试台、电容测试仪、20KV A变压器、湿热箱、高压锅等。

The inspection and testing instrument listed as: Capacitor endurance general testing system, capacitor impact testing station, 500V direct current impact testing station,capacitor testing instrument, 20KV A transformer, damp heat testing case, pressure cooker etc.5、检验流程Inspection Procedure5.1.CBB60、CBB61电容检验流程CBB60, CBB61 capacitor inspection procedure:电容整体质量评估外观、标志、认证塑料外壳阻燃性(仅适用于塑料外壳)外型尺寸及引线长度线耳冲压质量或插接端子质量检验电容值和损耗角正切值测量两极间耐压试验极间与外煮水试验冲击试验耐久试验解剖检验、分析出检验报告Capacitor holistic quality evaluation→visual, marks, certification→fire resistance of the plastic shell (only applicable to plastic shell)→dimension and lead length →termination pressing quality or plug termination quality inspection→measure of capacitor value and tangent of loss angle value→voltage duration test between 2 poles→voltage duration test between pole and shell(only applicable to metal shell)→water cooking testimpact test ,duration test →anatomic inspection and analysis→testing report5.2.CBB65电容检验流程CBB65 capacitor inspection procedure:电容整体质量评估外观、标志、认证外型尺寸线耳冲压质量或插接端子质量电容值和损耗角正切值测量两极间耐压试验冲击试验耐久试验解剖检验、分析出检验报告Capacitor holistic quality evaluation→visual, marks, certification→dimension termination pressing quality→measure of capacitor value and tangent of loss angle value voltage duration test between 2 poles→voltage duration test between pole and shell(only applicable to metal shell)→ impact testduration test →anatomic inspection and analysis→testing report6、检Inspection and Testing Requirements6.1.电容试验前整体质量评估Capacitor holistic quality evaluation before test6.1.1.电容器环氧树脂封灌要求(限于CBB60、CBB61电容)Epoxy resin requirements (it is only limited to CBB60, CBB61)6.1.2.电容器的整个芯子都必须有环氧树脂密封,灌封要求按附图1示例。

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7.0
W(-1.5)H(-1.5)K 误差12.5 4.5 5.00.6K p±0.315.012.520.50.54.02110006AR 2110003AR 12.07.07.55.0d±0.05K 1序号1、 适用范围:直接用于生产的薄膜电容。

3.2 外形尺寸(单位:mm):
备注:检查薄膜电容尺寸时应先判断确认所抽检的薄膜电容是否存在外观不良,若是外观不良的 薄膜电容应重新抽检,确定外观合格的薄膜电容才能进行尺寸检验。

3.2.1 参照下表(尺寸单位:mm):
T(-1.5)
备注:1.上海新金电容的引脚长度是25.0min,而法拉电容的引脚长度是20.0min。

2.下面有标注最大值的,其最小值按1.0来计算。

3、 检验项目: 3.1 外观:
注:每批来料的标识误差值必须与描述相符或比所描述的误差值更精密。

32110002AR cl11/1000V-1527.52、 检验工具:游标卡尺、锡炉。

物料编码 标识字样应清晰、准确;主体部分无残缺、伤痕,且包封均匀完整。

规格cl11/400V-473cl11/1000V-10212.5 4.5 5.00.642110001AR cl11/1000V-2228.0K 52110004AR cl11/1000V-2728.012.5 5.0 5.00.6K 13.0 5.2 5.00.662110009AR cl11/1000V-3328.5K 72110011AR cl11/1000V-6817.012.5 4.0 5.00.5K 9.5 4.38.00.882120004AR CL21/400V-4739.8K 92170001AR CL28/400V-47312.010.0 4.810.50.8K 10.0
4.5
10.2
0.6
10
2160002AR
CBB28/1250V-332
12.0
K
11
2120001AR
CL21/400V-47NF
10.0
10.5
7.0
7.5
0.6
K
上海新金法拉
要求1
要求2
d) 电容(CL11)直脚编带尺寸:
要求2:电容主体左右偏差必须符合下图要求:
要求1:两引脚需处于一个平面内,即侧向引脚必需符合如下图所示:送带孔间距P 012.7±0.3送带孔直接D 0
4.0±0.3
电容器底部至送带孔中心距H ≤22.0送带孔间距P 0 c) 浸渍型电容编带尺寸:
项 目
尺寸12.7±0.34.0±0.3
送带孔直接D 0
送带孔位置W 18.5~9.75弯脚高度H 016.0±0.5 3.3 西门子B32560S电容套套管要求:
送带孔位置W 19.0±0.5
在常温25±5℃环境下施加1.8V R Min交流电压(I R <3mA),历时30秒钟,不击穿。

测试要求
在100±2℃环境下置30分钟后,施加1.25V R Min直流电压,历时60秒钟,不击穿;
在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加2.0V R Min直流电压,历时30秒钟,不击穿;
13CL11 2n2/1KV、2n5/1KV 、2n7/1KV 3n0/1KV、3n3/1KV
在高温120±2℃环境下置30分钟后,施加1.8V R Min交流电压(I R <3mA),历时60秒钟,不击穿;
14
CL23(TS)、CL21(TS)、CBB21(TS)400V系列电容
在85±2℃环境下置30分钟后,施加600VMin直流电压,历时60秒钟,不击穿;
11CBB21在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25V R Min直流电压,历时60秒钟,不击穿;
12CL23
在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25V R Min直流电压,历时60秒钟,不击穿;
9MKT、B32560S 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25V R Min直流电压,历时60秒钟,不击穿;
8电感灯启辉电容2n2/1KV 10CL23B、CL23B(TS)在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25V R Min直流电压,历时60秒钟,不击穿;
在120±2℃环境下置30分钟后,施加2.0KVMin交流电压,历时60秒钟,不击穿。

6耐压1.5KV档电容71>、耐压为1.3KV档电容2>、2.5nF/1.25KV/CL11在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加2.0V R Min直流电压,历时30秒钟,不击穿;
在85±2℃环境下置30分钟后,施加1.3KVMin直流电压,历时60秒钟,不击穿;
在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加直流电压V DC ≥3.2KVMin (I R <0.3mA),历时60秒钟,不击穿;
在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加直流电压V DC ≥3.4KVMin (I R <0.3mA),历时60秒钟,不击穿;3CL21X
4CBB21(TS)1KV
51>、CL11耐压1.25KV档电容2>、6.8nF/1.3KV/CL11序号
特殊电容型号
1CL21,CL21Ⅱ2CBB81 c)其它测试要求不变;要求不击穿及其它异常现象。

b)施加电压为原测试电压的1.1倍;
试环境温度的基础上提高10℃;图1:未打K位电容套套管热缩后示意图图2:打K位电容套套管热缩后示意图
3.4 可焊性:
将引脚上助焊剂后,浸入250±5℃的锡炉中,浸入深度(距器件主体)2mm,浸入时间2~3秒, 上锡应完整均匀,无集中锡点。

3.5 耐压:
3.5.1 新认定供货之电容,要求前5批加强检验,条件如下:
a)高温环境<120℃的,在原测试环境温度的基础上提高20℃;高温环境≥120℃的,在原测 3.5.2 一般电容电性能要求(除特殊电容外):
在高温85±2℃环境下置20分钟后,施加2.5V R 直流电压,历时60秒,要求不击穿(I R <3mA)。

3.5.3 特殊电容:。

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