薄膜电容检验标准
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页 数:1 总页数: 5 生效日期:2008.12.19
4.6 4.9 4.6 3.7 9.0 10.0 10.0 9.0 9.0 9.0 12.0 12.0 12.0 11.0 12.0 12.0 2.5 2.7 2.2 2.2 6.0 6.0 6.5 5.0 5.5 5.5 6.0 6.5 6.5 6.5 6.5 6.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 7.5 10.0 7.5 7.5 0.5 0.5 0.5 0.5 0.6 0.6 0.6 0.6 0.6 0.6 0.6 0.6 0.6 0.6 0.6 0.6 K K K K K K K K K K K K K K K K
3.6 环保(ROHS)标识:详见XDH/ST-ROHS-001。 3.7 有害物质含量:详见XDH/ST-ROHS-002。 4、 抽样方案: 第3.2、3.4项按国标GB2828特殊检查水平S-3一次抽样方案进行抽样; 第3.5项抽样数如下; 标称耐压<700V的电容按国标GB2828特殊检查水平S-3一次抽样方案进行抽样; 标称耐压≧700V的电容抽样数如下: a、 总数为3.5万pcs以下的:每批次抽取32pcs; b、 总数在3.5万pcs~ 5万pcs的:每批次抽取50pcs; c、 总数在5万pcs~10万pcs的:每批次抽取80pcs; d、 总数在10万pcs~20万pcs的:每批次抽取100pcs; e、 总数为20万pcs以上的:每批次抽取125pcs. 第3.6项每批抽5箱进行外箱ROHS标识检验(不足5箱的全检); 第3.7项抽样标准详见XDH/ST-ROHS-002;
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在85±2℃环境下置30分钟后,施加280VMin直流电压, 历时60秒钟,不击穿; 在常温25±5℃环境下,施加900VMin直流电压,历时5秒 钟,不击穿; 在85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRVMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在105±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRVMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在160±2℃环境下置30分钟后,施加1.1KVDCMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在125±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在100±2℃环境下置30分钟后,施加1.5VRMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在130±2℃环境下置30分钟后,施加1.1VRMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在130±2℃环境下置30分钟后,施加1.1KVMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.5VRMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在150±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在120±2℃环境下置30分钟后,施加1.0VRMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在高温100±2℃环境下置30分钟后,施加1.6KV直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在高温150±2℃环境下置30分钟后,施加1.6KV直流电 压,历时60秒钟,不击穿;
W(-1.5) H(-1.5) T(-1.5) 上海新金 12.0 7.0 7.5 8.0 8.0 8.5 7.0 9.8 12.0 12.0 15.0 12.5 12.5 12.5 12.5 13.0 12.5 9.5 10.0 10.0 7.0 4.0 4.5 4.5 5.0 5.2 4.0 4.3 4.8 4.5
p±0.3 7.5 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 8.0 10.5 10.2
d±0.05 误差 0.5 0.5 0.6 0.6 0.6 0.6 0.5 0.8 0.8 0.6 K K K K K K K K K K
法拉 11 2120001AR CL21/400V-47NF 10.0 10.5 7.0 7.5 0.6 K
d) 电容(CL11)直脚编带尺寸:
要求1:两引脚需处于一个平面内,即侧向引脚必需符合如下图所示: 要求2:电容主体左右偏差必须符合下图要求:
要求1 3.3 西门子B32560S电容套套管要求:
要求2
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薄膜电容的检验标准
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图1:未打K位电容套套管热缩后示意图 图2:打K位电容套套管热缩后示意图 3.4 可焊性: 将引脚上助焊剂后,浸入250±5℃的锡炉中,浸入深度(距器件主体)2mm,浸入时间2~3秒, 上锡应完整均匀,无集中锡点。 3.5 耐压: 3.5.1 新认定供货之电容,要求前5批加强检验,条件如下: a)高温环境<120℃的,在原测试环境温度的基础上提高20℃;高温环境≥120℃的,在原测 试环境温度的基础上提高10℃; b)施加电压为原测试电压的1.1倍; c)其它测试要求不变;要求不击穿及其它异常现象。 3.5.2 一般电容电性能要求(除特殊电容外): 在高温85±2℃环境下置20分钟后,施加2.5VR直流电压,历时60秒,要求不击穿(IR<3mA)。 3.5.3 特殊电容: 序号
送带孔位置W1 送带孔间距P0 送带孔直接D0 9.0±0.5 12.7±0.3 4.0±0.3
c) 浸渍型电容编带尺寸:
项 送带孔位置W1 弯脚高度H0 送带孔间距P0 送带孔直接D0 目 尺寸 ≤22.0 8.5~9.75 16.0±0.5 12.7±0.3 4.0±0.3
电容器底部至送带孔中心距H
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薄膜电容的检验标准
CL21(TS) 250V系列电容 0.68uF/400V CL21(TS) 1.0uF/400V CL21(TS) MMX系列 MML系列 ANR/1KV CLN21系列 ECWH系列 MMKP81系列、CBB28系列 MME系列 MMC系列、MMT系列 CBB21B MMF系列 CL25 B32612系列 CLN25系列、C92系列
测试要求
在100±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRMin直流电 压,历时60秒钟,不击穿; 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加2.0VRMin直流电 压,历时30秒钟,不击穿; 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加2.0VRMin直流电 压,历时30秒钟,不击穿; 在85±2℃环境下置30分钟后,施加1.3KVMin直流电压, 历时60秒钟,不击穿; 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加直流电压VDC≥ 3.2KVMin (IR<0.3mA),历时60秒钟,不击穿; 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加直流电压VDC≥ 3.4KVMin (IR<0.3mA),历时60秒钟,不击穿; 在120±2℃环境下置30分钟后,施加2.0KVMin交流电 压,历时60秒钟,不击穿。 在常温25±5℃环境下施加1.8VRMin交流电压(IR< 3mA),历时30秒钟,不击穿。 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRMin直流 电压,历时60秒钟,不击穿; 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRMin直流 电压,历时60秒钟,不击穿; 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRMin直流 电压,历时60秒钟,不击穿; 在高温85±2℃环境下置30分钟后,施加1.25VRMin直流 电压,历时60秒钟,不击穿; 在高温120±2℃环境下置30分钟后,施加1.8VRMin交流 电压(IR<3mA),历时60秒钟,不击穿; 在85±2℃环境下置30分钟后,施加600VMin直流电压, 历时60秒钟,不击穿;
序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
物料编码 2110006AR 2110003AR 2110002AR 2110001AR 2110004AR 2110009AR 2110011AR 2120004AR 2170001AR 2160002AR
规格 cl11/400V-473 cl11/1000V-102 cl11/1000V-152 cl11/1000V-222 cl11/1000V-272 cl11/1000V-332 cl11/1000V-681 CL21/400V-473 CL28/400V-473 CBB28/1250V-332
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页 数:1 总页数: 5 生效日期:2008.12.19 其余项按国标GB2828一般检查水平II一次抽样方案进行抽样。
薄膜电容的检验标准
CL25/1000V-3.3NF CL25/1000V-3.9NF CL25/1000V-2.7NF CL25/1000V-2.2NF CBB21/1000V-2.2NF CBB21/1000V-2.7NF CBB21/1000V-3.3NF CBB21/1000V-1.5NF CBB21/1000V-1.8NF CBB21/1000V-1.0NF MMKP81/1000V-3.3NF MMKP81/1000V-4.0NF MMKP81/1000V-4.5NF MMKP81/1000V-5.6NF MMKP81/1000V-4.0NF MMKP81/1000V-4.5NF 9.0 9.0 9.0 9.0 10.0 10.0 10.0 10.0 10.0 10.0 11.0 11.0 11.0 13.0 11.0 11.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
特殊电容型号
CL21,CL21Ⅱ CBB81 CL21X CBB21(TS)1KV 1>、CL11耐压1.25KV档电容 2>、6.8nF/1.3KV/CL11 耐压1.5KV档电容 1>、耐压为1.3KV档电容 2>、2.5nF/1.25KV/CL11 电感灯启辉电容2n2/1KV MKT、B32560S CL23B、CL23B(TS) CBB21 CL23 CL11 2n2/1KV、2n5/1KV 、2n7/1KV 3n0/1KV、3n3/1KV CL23(TS)、CL21(TS)、CBB21(TS) 400V系列电容
3.2.2 编带尺寸(单位:mm): a) 电容(CL11)弹带装尺寸:
项
目
尺寸 9.0±0.5 12.7±0.3 4.0±0.3
送带孔位置W1 送带孔间距P0 送带孔直接D0
b) 塑壳封装电容编带尺寸:
项 目 尺寸 15.5~19.0
电容器底部至送带孔中心距H
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薄膜电容的检验标准
页 数:1 总页数: 5 生效日期:2008.12.19
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1、 适用范围:直接用于生产的薄膜电容。 2、 检验工具:游标卡尺、锡炉。 3、 检验项目: 3.1 外观: 标识字样应清晰、准确;主体部分无残缺、伤痕,且包封均匀完整。 注:每批来料的标识误差值必须与描述相符或比所描述的误差值更精密。 3.2 外形尺寸(单位:mm): 备注:检查薄膜电容尺寸时应先判断确认所抽检的薄膜电容是否存在外观不良,若是外观不良的 薄膜电容应重新抽检,确定外观合格的薄膜电容才能进行尺寸检验。 3.2.1 参照下表(尺寸单位:mm): 备注:1.上海新金电容的引脚长度是25.0min,而法拉电容的引脚长度是20.0min。 2.下面有标注最大值的,其最小值按1.0来计算。