光声光谱的原理与应用-李子忠

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光声光谱的原理及应用
光学工程 李子忠 6121203010
主要内容
• 1.光声光谱原理 • 2.光声光谱应用
1、光声光谱原理
• 光声光谱测试的物理基础是光—声效应,其测试 原理图如下:(来自文献:许倩雯,袁骏,季振 国,等.材料科学与工程[J].1999,17(4):80)
1.光声光谱原理
• 在测试过程中, 样品被放在一个密封气室(即光声池Photo acoustic cell)内, 在光声池内同时配置一高灵敏度的传声 器。样品被脉冲单色光照射, 吸收光中的能量, 样品内一部 分能级会被激发, 激发的能级随即会产生无幅射弛豫现象, 由此产生热效应。这样周期性的光激励就会在样品及其周 围空气中产生周期性热流, 反过来, 周期性热流又导致了样 品晶格的周期性振动, 这种振动在样品- 气体界面上产生声 压扰动, 通过空气传播, 高灵敏度的传声器就能检测到由此 引起的声信号。因为声信号的强度与样品吸收光的能量成 正比, 所以我们记录传声器声信号随激励光波长的变化就 可以得到光声光谱。另外, 考虑到只有被吸收的光才能产 生声信号, 散射光在此就可以忽略, 因而可以提高测试的信 背比。
2.光声光谱应用
• 光声光谱的应用十分广泛,主要有三个方面,即 整体研究、表面研究和去激化研究。 • 2.1整体研究 • 当固体物质具有反射率不高的表面时,用光声光 谱可以提供关于整体自身的光学数据,研究它们 对光的吸收性质。甚至高度不透明或高度散射的 试样,如绝缘体、半导体、金属体系,或半固体 的生物组织,用通常的反射光谱法无法研究,但 用光声光谱法却可以研究。
2.2表面研究
• 用光声光谱研究金属、半导体和绝缘体表 面的吸附和化学吸着具有很大的优点,并 能在任何波长下进行。薄层色层法(TLC)是 一种应用广泛的技术,然而直接在薄层板 上作定量鉴定却十分困难(除某些会发萤光 或采用双波长法外),特别是板上的硅胶G 吸附剂具有不透明和光散射性质。光声光 谱则提供了一种简便和灵敏的鉴定方法。
• 图3是三种粉末状的直接禁带的半导体CdSe、 CdS、ZnS的光声光谱图。由光声光谱弯曲边缘 部位确定的禁带值分别为1.75、2.4和3.7eV,与 文献值1.5、2.4和3.6eV十分吻合。图4为间接跃 迁半导体GaP的光声光谱图,由光声光谱测得的 禁带值2.80eV与文献值2.78ev也非常吻合。在低 温和采用高分辨率光谱仪条件下,光声技术还用 来研究晶体粉末或无定形半导体中由杂质、掺杂 物或其他效应所产生的激子和光谱精细结构.光声 光谱对研究粉末状或无定形的有机半导体及玻璃 半导体也很有用。
2.3去激化研究
• 光声光谱效应可以测量光激发后物质体系 中发生的非辐射去激化过程,也能用于研 究荧光(或磷光)物质和光敏物质,并且有足 够的灵敏度和选择性。
图10.Cooper蓝的PAS图(来自文献
LahmannW.et al.,Anal.Chem.,49,4(2977) 549
• 在某些化合物中,去激化的一种方式是经过光化学反应。 图10是Cooper蓝(2,2一二甲基一4一苯基一6一对硝基苯 基一1,3-二氮双环已一3一烯)的光声光谱。这种物质在 暗处是无色的,但当暴露于短波长的光下时,就转为深蓝 色。图10(a)为Cooper蓝在黑暗处的PAS图(主要是吸收 紫外光,可见光吸收很弱);曝露于紫外光片刻,立即进 行第二次PAS实验,结果所得(b)图与(a)图迥然不同,在 可见光区出现两个强的吸收峰,这些吸收峰是CooPer蓝 的蓝色产生的。再将此样品曝光,继续进行光化反应,并 进行第三次PAS实验,结果得(c)图。由于Cooper蓝吸收 了紫外线的光子,分子裂环产生中间化合物,再经光化反 应,进一步分解,结果得(c)图。上例说明,PAS法不仅可 显示光化反应的发生,而且可为光化过程直接建立活化光 谱图(Activation spectrum)。而迄今为止,尚未能方便地 用其他方法建立光敏物质的有关活化光谱图资料。
图9.铜钝化研究的结果(来自文献
LahmannW.et al.,Anal.Chem.,49,4(2977) 549)
• 图9就是光声光谱研究表面钝化的一个例子, 其中曲线(a)为铜表面经钝化剂BTA(苯并三 唑)处理后表面的光声光谱,(b)为未经钝化 处理的铜表面的光声光谱。(a)与(b)仅在波 长小于300nm范围内有明显不同,(c)是(a) 减去(b)的差示光谱。因此(c)代表BTA单层 化学吸着光谱,光谱(d)则是BTA粉末的光 声光谱。但是,(c)与(d)有着明显的不同, 这说明了化学吸着的BTA已经经受了重要的 结构变化。
图5是光声光谱研究绝缘体Cห้องสมุดไป่ตู้2O3的例子(来自文献:A.罗森 威格著,王耀俊等译.光声学和光声谱学.北京:科学出版社, 1986.161.201~205,216~235)
• 其中曲线a表示Cr2O3粉末在300k归一化的 光声光谱,b是厚度为4um的Cr2O3晶体在 300k的吸收光谱,c是Cr2O3粉末在300k的 漫反射光谱。从光谱图中都观察到Cr3+离子 在600nm和460nm的两个晶体场谱带,光 声谱比漫反射谱分辨得更清楚。
图2.线链一维导体K2Ir2(CO4)Cl5的光声光谱
• 图2是线链一维导体K2Ir2(CO4)Cl5的光声光谱。 这个化合物类似许多其他一维导体,只能以细粉 状形式存在,因而不容易用通常的光谱法加以研 究。图2表示,在K2Ir2(CO4)Cl5中的无定位导 带是一个强而宽的红外吸收带,在紫外一可见光 区的吸收带是由定位的Ir离子跃迁引起的。用光声 光谱研究这类不寻常化合物的吸收光谱,以获得 关于它们的电子结构的新资料,已引起人们很大 兴趣。
对半导体材料,用光声光谱可以直接观测到直接和间接带的 跃迁,图3、图4为光声光谱研究半导体材料的一些例子。 (图3来自文献:Adams M.J.et al.,Analyst,101, 1199(1976)73;图4来自文献:Rosene waigA., Anal.chem.,47,6(1975)592A)
图6.近红外光声光谱 (a)粉状纯高岭土(b)胱氨酸
• 许多试样在紫外一可见光范围没有吸收,而在近 红外区却有特征的光声光谱。地球化学样品纯高 岭土H4Al2Si2O4(不规则的)和生物化学样品氨基酸 一胱氨酸在红外光谱范围内具有几乎所有的吸收 带,不论是泛音或综合带,包括氢的伸张振动。 纯高岭土的光声光谱如图6(a)所示,其中1.4和 1.9um的吸收带是游离的、非离解的水的吸收带, 而2.2um的谱带表示OH的综合带。图6(b)表示胱 氨酸红外光声光谱,1.4和1.9um吸收带仍然是由 样品中杂质水引起的。1.7um的吸收带是一NH或 一CH伸张振动的特性。
图7.有与没有抗菌剂TCSA存在的豚鼠表皮的PAS图 的比较(来自文献RosenewaigA:AnalChem1976, 47(4):592A)
• TCSA为高效抗菌剂,但易致光敏症及其他皮肤 病,其原因尚不十分明了;(b)曲线是对照组的豚鼠 表皮的PAS图;(c)曲线是(a)、(b)的差别光谱 (Difference spectrum)。从图7可推知,TCSA与 表皮内部已相互结合,这可能是TCSA产生上述 副作用的一个原因。
图8.薄板层析斑点的光谱(来自文献: Rosenewaig A:Anal Chem1976,47(4):592A)
• 图8为五种不同的化合物经TLC分离,直接 用光声技术鉴定在200nm-400nm范围内得 到的光声光谱。这五种化学物质是(1)硝基 苯胺,(2)苄叉丙酮,(3)水杨酸,(4)萘满酮, (5)芴酮。与右边的相应的溶液吸收光谱相 比,两者十分相似.
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