光学测试技术1-光学基础知识
光学工程知识点总结
光学工程知识点总结1. 光学基础知识光学是物理学中研究光及其相互作用的科学。
在光学领域,我们需要了解光的传播规律、光的波动性质、光的折射、反射、散射等基本知识。
光学的基础知识为光学工程师设计光学系统提供了理论基础。
2. 光学系统设计光学系统设计是光学工程的核心内容之一。
光学系统通常包括光源、透镜、反射镜、光栅等光学元件,以及对光进行探测和分析的部件。
光学系统设计需要考虑光学元件的性能参数、光路的布局、系统成像质量等因素,以实现特定的光学功能。
3. 光学材料光学材料是构成光学系统的重要组成部分。
不同的应用领域对光学材料的性能要求各不相同。
光学材料通常需要具有良好的透明性、高折射率、低散射率等特点,以适应不同的光学系统设计需求。
4. 光学器件制造技术光学器件制造技术是光学工程的重要组成部分。
光学器件通常需要具有高精度、高表面质量和良好的光学性能。
常见的光学器件制造技术包括光学表面精加工、光学薄膜涂覆、光学玻璃加工等。
5. 光学系统测试光学系统测试是保证光学系统性能的重要手段。
光学系统测试需要考虑光学成像、光学畸变、光学材料特性等问题,以验证系统设计和制造过程中的各项性能指标是否符合要求。
6. 光学工程应用光学工程在各个领域都有广泛的应用。
例如,光学通信系统是当今信息传输中最主要的传输方式,光学显微镜在生物科学中有重要的应用,激光技术在材料加工、医疗治疗等领域也有重要应用。
总的来说,光学工程是一门重要的交叉学科,它涉及了光学原理、材料科学、光学器件制造技术等多个领域。
光学工程的发展为现代科技领域的发展提供了重要支撑,也为人类社会的发展带来了诸多便利。
希望本文的介绍能够让读者更好地了解光学工程的相关知识,对此领域有更深入的认识。
现代光学测试技术
从测量镜返回光束的光频发生变化,其频移为
,该
光与返回光会合,形成“拍”,其拍频信号可表示为:
计算机先将拍频信号
与参考信号
理后,就得到所需的测量信息 .
进行相减处
设在动镜移动的时间 t 内,由 为 N ,则有:
引起的条纹亮暗变化次数
上式中
为在时间t内动镜移动的距离L,于是有:
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第三章 散斑技术 散斑的形成及其性质 当一束激光射到物体的粗糙表面(例如铝板)上时,在铝板前面的空间将布满明暗相间的亮斑与暗斑;
一、双频激光外差干涉仪图
1 -141 示出双频激光外差干涉仪的光学系统。干涉仪的 光源为一双频 He-Ne 激光器,这种激光器是在全内腔单频 He-Ne 激光器上加上约 300 特拉斯的轴向磁场,由于塞曼 效应和频率牵引效应,使该激光器输出一束有两个不同频率的 左旋和右旋圆偏振光,它们频率
差 Δν约为 1.5MHz 。这两束光
1 -5 长度(间隔、高度、振幅)的激光干涉测量
一.
激光干涉测长的工作原理及特点
干涉测长仪器是用光波波长为基准来测量各种长度(如属测量干涉场上指定点上位相随时间而变化的干涉仪。
激光干涉测长仪与用其它准单色光源的干涉测长仪相比,具有下列的显著优点:
激光干涉测 长的工作原 理如图 1101 所示。
单击此处添加大标题内容
1 -6 激光外差干涉测长与测振 激光光波干涉比长仪以光波波长为基准来测量各种长度,具有很高的测量精度。这种仪器中, 由于动镜在测量时一般是从静止状态开始移动到一定的速度,因此干涉条纹的移动也是从静止 开始逐渐加速,为了对干涉条纹的移动数进行正确的计数,光电接收器后的前置放大器一般只 能用直流放大器,而不能用交流放大器,因此在测量时,一般对测量环境有较高的要求,一般 的干涉比长仪不能 用于车间现场进行精密测量。为了适应在车间现场实现干涉计量的需要,必 须使干涉仪不仅具有高的测量精度,而且还要具有克服车间现场中气流及灰雾引起的光电信号 直流漂移的性能,光外差干涉 技术是为解决车间现场测量问题而发展起来的。 这种技术的一个共同点是在干涉仪的参考光路中引入具有一定频率的副载波,干涉后被测信号 是通过这一副载波来传递,并被光电接收器接收,从而使光电接收器后面的前置放大器可以用 一交流放大器代替常规的直流放大器,以隔绝由于外界环境干扰引起的直流电平漂移,使仪器 能在车间现场环境下稳定工作。
考研工程光学知识点归纳
考研工程光学知识点归纳工程光学是光学工程领域的一个重要分支,它主要研究光学系统的设计、制造和应用。
以下是考研工程光学的一些关键知识点归纳:一、光的波动性质- 光波的基本概念:波长、频率、速度。
- 光的干涉现象:双缝干涉、薄膜干涉。
- 光的衍射现象:单缝衍射、圆孔衍射、衍射光栅。
- 光的偏振现象:偏振原理、偏振器、偏振的应用。
二、光学成像理论- 几何光学基本原理:光线、光路、成像。
- 光学系统的分类:透镜、反射镜、折射镜。
- 薄透镜公式:焦距、物距、像距的关系。
- 光学系统的像差:球差、色差、像散、场曲、畸变。
三、光学仪器设计- 光学系统设计原则:分辨率、景深、视场。
- 光学系统性能评价:MTF(调制传递函数)、PSF(点扩散函数)。
- 光学系统设计方法:光线追迹、光学设计软件应用。
四、光学材料与元件- 光学材料的特性:折射率、色散、透过率。
- 光学元件的制造:透镜磨制、反射镜镀膜。
- 光学元件的测试:干涉仪、光学测试仪器。
五、现代光学技术- 光纤光学:光纤的传输原理、光纤通信。
- 激光技术:激光的产生、特性、应用。
- 集成光学:光波导、光电子集成技术。
六、光学测量技术- 光学测量原理:干涉测量、衍射测量。
- 光学测量仪器:干涉仪、光谱仪、光学显微镜。
- 光学测量技术的应用:表面粗糙度测量、位移测量。
七、光学系统的应用- 光学成像系统在医疗、科研、工业等领域的应用。
- 光学传感技术在环境监测、智能制造中的应用。
- 光学信息处理技术在图像识别、数据存储中的应用。
结束语:考研工程光学不仅要求对基础理论有深入的理解,还需要掌握光学系统设计、元件制造和应用的实践技能。
通过对这些知识点的系统学习和掌握,可以为未来的科研或工程实践打下坚实的基础。
光学测试技术_光电技术
可选择带通滤波器提高信噪比。带宽Bf:ω0-Ω~ω0+Ω
光信号频率调制
在宽带调频时,m f 1
t 0 m sin 0t m f sin t
带宽 B f 2 2
光信号脉冲调制
将直流光通量用斩光盘调制,可得到连续的光脉冲载 波。这种脉冲调制可实现对光脉冲信号的幅度、重复 频率、脉宽、相位等参数或者它们的组合按调制信息 改变。 此外,还可其他参量进行调制,如对光信号的偏振特 性参数调制、对光信号传输方向调制等。
detector2
source
Target
作涉 探测或者光外差探测。它被广泛地应用到雷达监测中。 请叙述该检测技术的基本原理。
2、时变光信号的调制检测
对光信号进行调制,将待测信息加载到光信号中达 到测量目的。调制技术可改善光电系统的工作品质, 提高信噪比和灵敏度,是光电检测系统中常用的方 法。
t 0 1 m sin t m sin t
cos t 1 0 m sin t mm 2 cos t 可选择带通滤波器提高信噪比。带宽:ω-Ω~ω+Ω
连续波调制
t 0 m V t sin V t t V t FM AM PM 满足:0 m V t
0 m sin 0t m f cos 0t sin t 1 0 m sin 0t m m f 2 sin 0 t sin 0 t
光信号的频率测量
光学测试技术光学干涉测量技术
§4.1 干涉测量基础
样板本身也有误差,这种误差必然会影响到检测结果。下表给
出了基准样板精度等级的划分办法。在光学图纸上,基准样板精 度等级以符号ΔR表示。由于被测面曲率半径和样板曲率半径存在 差异ΔR’,使两者之间存在一定的空气隙厚度。空气隙厚度越大, 光圈数就越多。根据简单的数学推导,可以得到:
的矢高(波高)为Power。当最接近球面为会聚波前时,Power取
正值;当最接近球面为发散波前时,Power取负值。可见,Power
越小,波前的准直性越高,因此将Power称为波前的离焦量。
将Power从PV移出后的剩余量用pv表示。事实上,pv更能体
现波前的极限误差。
虽然PV可以用于描述元件或系统的质量,但这种描述往往容
9
§4.1 干涉测量基础
所有干涉条纹进行强度叠加,形成视场中见到的干涉条纹。 条纹度比度直接取决于光阑大小。
如图所示。设光阑半径为rm0,应用物理光学知识可以证明:
f' rm0 2
/h
K≥90%
m0
1 2
/h
式中h是虚拟空气楔厚度。可见,为保证干涉仪的空间相干性,
采用长焦准直镜,采用尽可能相等的两臂长,减小空气楔厚度是
n 1
若测试光路中混入有杂散光,其强度均为:I' mI1
k 2 n 会导致干涉图像对比度进一步下降 1 n m
见p79图4-4
§3.1 干涉测量基础
(2)光源大小的影响及其空间相干性 干涉条纹的照度很大程度上取决于光源的尺寸。而光源的尺
寸大小又会影响到各种干涉条纹的干涉图样对比度。 平行平板的等倾干涉: 对比度与光源大小无关 杨氏干涉:只有利用狭缝限制光源尺寸,才能获得干涉条纹 楔形板形成的等厚干涉:介于上述两种情况之间。
专业实用的光学测量知识
1>相对孔径一、相对孔径与数值孔径1.定义(见图1-1):相对孔径通光口径与焦距之比D//'像方a.为什么用入瞳直径D不用岀瞳直径D' ?若用它到系统后焦点F的距离就不一左是焦距厂。
若用入瞳直径,对于物在无限远的成像系统来说,不管入瞳在什么地方,相对孔径总是D/f o见图b、为什么用sin u不用tan u ?理想光学系统的物像空间不变式:n 0y•tanu=/?‘ • y1 *tanu1考虑到设计汁算方便,采取规格化(归一化)的措施,故采用正弦代替正切。
相应的,显微镜的设计必须满足正弦条件:n * y ・sin u=n,• y1 "sint/D/f \ NA与对准精度、调焦精度.分辨率.光学传递函数密切相关,而且是D/f\NA 越大,对准、调焦精度越髙,分辨率越高,像质越好。
3 •调焦:焦深是对应久/K (K=4~8)波前误差的像点位垃变化量。
望远物镜、照相物镜的焦深表示为:D/f\ NA 越大,调焦精度越高。
望远物镜 照相物镜显微物镜 1.02Z (小a = ---------- (rad) D、0.51心、 △y =——-(也也) NA 5.像质: 星点直径望远、照相物镜:d = 2・44/l ・F显微物镜: d = \22"NA衍射受限系统的光学传递函数:r c 一截至空间频率< =— (D —出噬直径,d —出瞳而到像平而的距离) kd对于无限远目标成像,d 可用厂替代,贝IJ : 1I F见图1-3。
比越大,像质越好。
2.对准:对准误差用Y 、表示。
/min =(% ~ %0加 1.022 % lh . a = -------- 道斯DD/f\ NA 越大,对准越髙。
叽0=(%~处0.512 s = ---------- NA 道斯显微物镜的焦深表示为:"±2%.(心)22OTF(C = _・71图1-3一七汾吉所谓自准直就是利用光学成像原理使物和像都在同一个平而上的方法。
光学测量与光学工艺知识点答案
目录第一章基本光学测试技术 (2)第二章光学准直与自准直 (5)第三章光学测角技术 (9)第四章:光学干涉测试技术 (12)第六章:光学系统成像性能评测 (15)第一章 基本光学测试技术• 对准、调焦的定义、目的;对准又称横向对准,是指一个对准目标(?)与比较标志(?)在垂直瞄准轴(?)方向像的重合或置中。
例:打靶、长度度量人眼的对准与未对准:对准的目的:1.瞄准目标(打靶);2.精确定位、测量某些物理量(长度、角度度量)。
调焦又称纵向对准,是指一个目标像(?)与比较标志(?)在瞄准轴(?)方向的重合。
人眼调焦:调焦的目的 :1.使目标与基准标志位于垂直于瞄准轴方向的同一个面上,也就是使二者位于同一空间深度;2.使物体(目标)成像清晰;3.确定物面或其共轭像面的位置——定焦。
121'2'1'P 2'2''•人眼调焦的方法及其误差构成;常见的调焦方法有清晰度法和消视差法。
清晰度法是以目标与比较标志同样清晰为准。
调焦误差是由于存在几何焦深和物理焦深所造成的。
消视差法是以眼镜在垂直平面上左右摆动也看不出目标和标志有相对横移为准的。
误差来源于人眼的对准误差。
(消视差法特点:可将纵向调焦转变为横向对准;可通过选择误差小的对准方式来提高调焦精确度;不受焦深影响)•对准误差、调焦误差的表示方法;对准误差的表示法:人眼、望远系统用张角表示;显微系统用物方垂轴偏离量表示;调焦误差的表示法:人眼、望远系统用视度表示;显微系统用目标与标志轴向间距表示;•常用的对准方式;常见的对准方式有压线对准,游标对准,夹线对准,叉线对准,狭缝叉线对准或狭缝夹线对准。
•光学系统在对准、调焦中的作用;提高对准、调焦精度,减小对准、调焦误差。
•提高对准精度、调焦精度的途径;使用光学系统进行对准,调焦;光电自动对准、光电自动调焦;•光具座的主要构造;平行光管(准直仪);带回转工作台的自准直望远镜(前置镜);透镜夹持器;带目镜测微器的测量显微镜;底座•平行光管的用途、简图;作用是提供无限远的目标或给出一束平行光。
光学工程师考试科目
光学工程师考试科目光学工程师考试科目涵盖了一系列与光学工程学科相关的内容。
以下是一些与光学工程相关的科目及其参考内容:1. 光学基础知识:这一科目主要考查光学的基础理论和基本原理。
考生需要熟悉光学中的光线传播、光的干涉和衍射、光的偏振等基本概念。
参考书籍包括《光学基础》(郭振彪著)、《光学原理》(何金良著)等。
2. 光学仪器与设备:这一科目主要考查光学仪器的原理和性能。
考生需要了解常见的光学仪器,如光学显微镜、光谱仪、激光器等,以及它们的构造及工作原理。
参考书籍包括《光学仪器与设备》(顾汉洸著)、《光学仪器的原理和设计》(琴凯华著)等。
3. 光学系统设计:这一科目主要考查光学系统的设计理论和方法。
考生需要熟悉光学系统的构建过程,包括需求分析、光学设计软件的使用、光学元件的选择和系统优化等。
参考书籍包括《光学系统设计与施工》(王之望著)、《光学系统设计》(高皓著)等。
4. 光学检测与测试:这一科目主要考查光学检测与测试方法的原理和应用。
考生需要了解光学检测技术的常见方法,如干涉测量、散射测量、光谱分析等,以及它们在实际工程中的应用。
参考书籍包括《光学检测技术与方法》(胡乐仁著)、《光学测量技术》(袁蓉新著)等。
5. 光学材料与加工:这一科目主要考查光学材料的性能及其加工工艺。
考生需要了解光学材料的种类、性能、加工方法和应用,以及光学薄膜的制备、光学元件的加工等。
参考书籍包括《光学材料与工程》(郭明祥著)、《光学薄膜技术》(史红星著)等。
6. 光学成像与信息处理:这一科目主要考查光学成像和信息处理的原理和方法。
考生需要了解光学成像系统的构建、成像原理、图像处理技术等,以及光学信息处理的应用领域。
参考书籍包括《光学成像原理与图像处理》(陈炳良著)、《光学信息处理》(李秀英著)等。
除了以上的基础科目外,光学工程师考试中还可能涉及到光学工程应用的相关内容,如激光技术、光纤通信、光学传感等。
对于这些内容,考生可以参考《激光原理与技术》(谢德荣著)、《光纤通信原理与技术》(林正兴著)等相关书籍。
光学测量技术及仪器幻灯片PPT
3.阿贝折射仪及使用方法
10.读数望远镜;
1.测量望远镜;
11.转轴; 12.刻度盘罩; 13.闭合旋钮;
14.底座。
2.消散手柄; 3.恒温水入口;
4.温度计;
5.测量棱镜; 6.铰链; 7.辅助棱镜; 8.加液槽; 9.反射镜;
阿贝折射仪外形图
阿贝折射仪及使用方法
(1)仪器安装:将阿贝折射仪安放在光亮处,但应避免阳光的直接照射,以 免液体试样受热迅速蒸发。用超级恒温槽将恒温水通入棱镜夹套内, 检查棱镜上温度计的读数是否符合要求(一般选用(20.0±0.1)℃或 (25.0±0.1)℃)
异丙醇溶解在环己烷中,浓度越大其折 射率越小
2. 测试原理
• 当一束单色光从介质Ⅰ进入介质Ⅱ(两种介
质的密度不同)时,光线在通过界面时改变 了方向,这一现象称为光的折射。 •光的折射现象遵从折射定律:
(1)
式中α为入射角,β为折射角,
nⅠ、nⅡ为交界面两侧两种介质的折射率; n 为介质Ⅱ对介质Ⅰ的相对折射率。
长范围为420nm~700nm。
• 721型分光光度计也是可见光分光光度计,
是72型分光光度计的改进型,适用波长范 围368nm~800nm。
• 752型分光光度计为紫外光栅分光光度计,
测定波长200nm~800nm,
光光度计面板图
1.数字显示器;2.吸光度调零旋钮;3.选择开关; 4.浓度旋钮;5.光源室;6.电源室;7.氢灯电源开关; 8.氢灯触发按钮;9.波长手轮;10.波长刻度窗; 11.试样架拉手;12.100%T旋钮;13.0%T旋钮; 14.灵敏度旋钮;15.干燥器。
式中r为常n液 数 ;sn棱irn =1n.液 2 75 。s测i2n 出‘ 0β0c′o 即rs可si求n 0 ’ , 出n液。(3因) 为在
光学测试技术实验报告
一、实验目的1. 熟悉光学测试技术的基本原理和实验方法。
2. 掌握光学测试仪器的操作技巧和数据处理方法。
3. 通过实验,验证光学测试技术在光学系统中的应用效果。
二、实验原理光学测试技术是利用光学原理和方法对光学系统进行测试和检测的技术。
其主要内容包括:光学元件的测量、光学系统的成像质量测试、光学系统的性能测试等。
三、实验仪器与材料1. 实验仪器:- 光学测试台- 光学元件(透镜、棱镜等)- 全息干涉仪- 激光器- 光学显微镜- 照相机- 计算机- 数据采集卡2. 实验材料:- 光学元件- 光学系统- 样品四、实验内容及步骤1. 光学元件测量(1)测量透镜的焦距将透镜放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过透镜后聚焦到光屏上。
通过测量光屏上的光斑直径,计算出透镜的焦距。
(2)测量透镜的球差将透镜放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过透镜后产生球差。
通过测量光屏上的球差曲线,计算出透镜的球差。
2. 光学系统成像质量测试(1)测试光学系统的像差将光学系统放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过系统后聚焦到光屏上。
通过测量光屏上的像差曲线,计算出光学系统的像差。
(2)测试光学系统的分辨率将光学系统放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过系统后聚焦到光屏上。
通过测量光屏上的衍射图样,计算出光学系统的分辨率。
3. 光学系统性能测试(1)测试光学系统的光通量将光学系统放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过系统后聚焦到光屏上。
通过测量光屏上的光强分布,计算出光学系统的光通量。
(2)测试光学系统的光谱特性将光学系统放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过系统后聚焦到光谱仪上。
通过测量光谱仪输出的光谱曲线,计算出光学系统的光谱特性。
五、实验结果与分析1. 光学元件测量结果(1)透镜焦距:f = 200mm(2)透镜球差:C = 0.02mm2. 光学系统成像质量测试结果(1)像差:RMS = 0.01mm(2)分辨率:R = 50lp/mm3. 光学系统性能测试结果(1)光通量:Φ = 80%(2)光谱特性:在可见光范围内,光学系统具有较好的光谱透过率。
光电测试技术-第1章基本光学量的测试技术1
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第1章 基本光学量的测试技术
§1-1 光电系统的对准和调焦技术
1. 目视系统的对准和调焦
1.2 望远镜的对准不确定度和调焦不确定度 2)望远镜的调焦标准不确定度——消视差法 将人眼的消视差法调焦不确定度换算到望远镜物方
Γ 2b
注意:眼瞳的有效移动距离b不等于眼瞳的实际移动距 离t,而等于出瞳中心到进入眼瞳的光束中心的距离。 如图所示。
清晰度法是以目标与比较标志同样清晰为准。调焦不确定 度是由于存在几何焦深和物理焦深所造成的。
几何焦深是指当弥散圆直径等于人眼分辨极限时,目标至 标志的距离δx的两倍2δx。
由几何焦深造成的人眼调焦标准不确定度为
1'
1 l2
1 l1
ae De
单式位中为,ra1 'd。以m-1为单位,这时l1、l2和De的单位为m,αe的
λ/K(常取K=6)时,人眼仍分辨不出此时视网膜上的衍
射图像与艾里斑有什么差别。即如果目标与标志相距小于
dl时眼睛仍认为二者的像同样清晰,通常将2dl称为物理
焦深。由物理焦深造成的人眼调焦的标准不确定度由下式
求得
De2 De2
k 8l2 8l1
2 '
1 l2
1 l1
8
KDe2
式中,l2=l1±dl;De为眼瞳直径(De与波长λ的单位皆
光电对准分类: 光度式:普通光度式、差动光度式 相位式
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第1章 基本光学量的测试技术
§1-1 光电系统的对准和调焦技术
2. 光电对准
光敏电阻
鉴别器
放大器
指零仪表
测微器
光学检验面试题目(3篇)
第1篇一、基础知识部分1. 请简述光学检验的基本原理和目的。
2. 光学检验分为哪几个阶段?请分别简述每个阶段的主要任务。
3. 光学检验常用的仪器有哪些?请列举并简要说明其功能。
4. 光学元件的误差来源有哪些?如何减小这些误差?5. 请解释什么是光学系统的像差?常见的像差有哪些?6. 光学元件的加工精度对光学检验有何影响?7. 请简述光学检验中常用的误差传递公式。
8. 光学检验中的光学传递函数(OTF)是什么?如何计算?9. 光学元件的表面质量对光学性能有何影响?10. 请解释什么是光学元件的相位匹配?如何实现?二、实践操作部分1. 请简述光学检验的基本流程。
2. 如何进行光学元件的表面质量检验?3. 如何进行光学元件的几何形状检验?4. 如何进行光学元件的光学性能检验?5. 如何进行光学系统的像差分析?6. 如何进行光学系统的分辨率检验?7. 如何进行光学系统的稳定性检验?8. 如何进行光学系统的光谱特性检验?9. 如何进行光学系统的环境适应性检验?10. 如何进行光学系统的光学加工质量检验?三、综合分析部分1. 光学检验在光学系统设计中的重要性是什么?2. 如何提高光学检验的效率?3. 光学检验在光学元件生产过程中的作用是什么?4. 如何保证光学检验数据的准确性?5. 光学检验在光学产品质量控制中的地位如何?6. 请简述光学检验在光学系统调试中的作用。
7. 如何根据光学检验结果对光学元件进行优化设计?8. 光学检验在光学系统性能提升中的意义是什么?9. 如何利用光学检验技术提高光学系统的可靠性?10. 光学检验在光学产业中的发展趋势是什么?四、案例分析部分1. 请结合实际案例,分析光学检验在光学系统设计中的应用。
2. 请结合实际案例,分析光学检验在光学元件生产过程中的作用。
3. 请结合实际案例,分析光学检验在光学系统调试中的作用。
4. 请结合实际案例,分析光学检验在光学产品质量控制中的重要性。
光学面试最基本的知识
光学面试最基本的知识引言光学作为一门关于光的传播和相互作用的科学,是物理学的一个重要分支。
在光学领域,掌握一些基本的知识是非常重要的,特别是在光学面试中。
本文将介绍光学面试中最基本的知识,以帮助读者在面试中更好地展现自己的能力。
1. 光的基本概念光是一种电磁波,具有波粒二象性。
光波长决定了光的颜色,其中可见光的波长范围约为380-780纳米。
光的传播速度为光速,约为3×10^8米/秒。
2. 光的传播方式光可以在真空中传播,也可以在介质中传播。
根据光在介质中的传播方式,可以分为直线传播和弯曲传播。
当光从一种介质传播到另一种介质时,会发生折射现象。
3. 光的折射光的折射是指光从一种介质传播到另一种介质时,由于介质的光密度不同而改变传播方向。
根据斯涅尔定律,光的入射角和折射角之间满足[n_1(_1) = n_2(_2)],其中(n_1)和(n_2)分别是两种介质的折射率,(_1)和(_2)分别是入射角和折射角。
4. 光的反射光的反射是指光从一个介质返回到同一介质中的现象。
根据反射定律,光的入射角等于反射角,即入射角和反射角之间满足(_1 = _2)。
5. 光的色散光的色散是指不同波长的光在介质中传播时速度不同,从而引起折射角发生变化的现象。
其中最常见的色散现象是光经过三棱镜后发生的分光现象。
6. 光的干涉光的干涉是指两束或多束光波相互叠加产生干涉条纹的现象。
干涉可以分为构成干涉和破坏干涉两种情况,其中构成干涉是由于光波的相位差引起的,破坏干涉是由于光波的相位差被破坏引起的。
7. 光的衍射光的衍射是指光波通过孔径或物体的边缘时发生弯曲和扩散的现象。
衍射现象的程度取决于光的波长和孔径或物体的尺寸。
8. 光的偏振光的偏振是指光波中的电磁场振动方向相对于传播方向的空间分布。
根据光波的偏振方向,可以将光分为线偏振光、圆偏振光和不偏振光。
结论光学作为一门重要的科学,涵盖了众多的理论和实践应用。
在光学面试中,掌握光学的基本知识将帮助应聘者更好地回答有关光学的问题,展现自己的能力。
光学测试技术PPT
球差是轴上点的单色相差,是由于透镜的 球形表面造成的。球差造成的结果是,一 个点成像后,不再是个亮点,而是一个中 间亮边缘逐渐模糊的亮斑,从而影响成像 质量 特点:1在轴上产生(轴上像差) 2旋转对称 像差
子午面与弧矢面
入瞳
轴上点:子午面与弧矢面光线分布一样 轴外点:弧矢光线对称于子午面,子午面内光线光束的对称 性被破坏。
外物点,不同色光的垂直放大率也不相等,这种差异就是倍率色差。
小结
几 何 像 差
单色像差:球差、彗差、像散、场曲、畸变
色差:位置色差、倍率色差
几何像差
1 用光线表示的像差—几何像差
1.1 像差种类 1.2 各种像差简介
像差:实际光线产生的像相对于理 想像的偏离
单色像差:球差、彗差、像散、场曲、畸 变 色差:位置色差、倍率色差
球差(spherial aberration):Definite:the
variation of focus with aperture .
畸变产生原因
畸变由主光线的球差产生,z为轴上点,其近轴像 点位于z’,实际像点位于z”。
色差:同一孔径位置上在光轴上的像差。
B'1 1 2 1 A -U 2 L'2 A'1 A'2 L' 1 2 B'2 Y'2
Y'1
L' 1
B
倍率色差:同一介质对不同的色光有不同的折射率,故对轴
慧差
光轴外的某一物点向镜头发出一束平行光 线,经光学系统后,在像平面上会形成不 对称的弥散光斑,这种弥散光斑的形状呈 彗星形,即由中心到边缘拖着一个由细到 粗的尾巴,其首端明亮、清晰,尾端宽大、 暗淡、模糊。这种轴外光束引起的像差称 为彗差。
光学测量的基本知识
光学测量的基本知识一.典型的光学测试装置-----光具座光具座的类型一般以其上的平行光管EFL的长短来区分,例如: GXY---08A型之EFL=1200mm.我们的光具座:MSFC---Ⅳ型有3个准直镜头,EFL1=550mm,F/NO=10EFL2=200.61mm,F/NO=4EFL3=51.84mm,F/NO=4 其组成如下:1.平行光管. 2.透镜夹持器. 3.V型座. 4测量显微镜.5.导轨底座.6.光源.7. 光源变压器.8.光源调压器.9.附件.1.平行光管又称准直仪,它的作用是提供无限远的目标或给出平行光.其组成如下:物镜EFL=550mm 分划板分划板的形式有多种,例如(1)十字或十字刻度分划板,(2)分辨率板,(3)星点板,(4)玻罗板(PORRO).2.透镜夹持器用来夹持被测镜片或镜头,並保持光轴的一致性.-1-3.V型座用来放置EFL=200.61mm和EFL=51.84mm准直物镜, 並保持光轴一致性.4.测量显微镜是一个带有目镜测微器的显微镜. 用来进行各种测量. 目镜测微器有多种.最常用的是螺杆目镜测微器,其螺距为0.02mm,则每格值为0.002mm.5.导轨底座导轨很精密,用它把1.平行光管. 2.透镜夹持器. 3.V型座. 4测量显微镜等联在一起,称为光具座.6.附件:各种倍数和不同数值孔径的显微镜物镜,各种分划板.光具座主要测量(1)正,负透镜和照相物镜,望远物镜的焦距(EFL).(2)正,负透镜和照相物镜,望远物镜的截距(BFL)(3)检测照相物镜,望远物镜的分辨率.(4)检测照相物镜,望远物镜的星点.(5) 照相物镜,望远物镜的F/NO.(6)加上其它光学器件和机械装置,可以组成多种光学测量装置.-2-一.焦距(EFL)的测量光学系统和透镜的重要参数---焦距(EFL),迄今已有多种行之有效的测量方法.1.放大率法.2.自准直法.3.附加透镜法.4.精密测角法.5. 附加接筒法.6.固定共軛距离法.7. 附加已知焦距透镜法.8.反转法.9.光栅法.10.激光散斑法.11.莫尔条纹同向法.(一)放大率法测量原理是目前最常用的方法,主要用于测量望远物镜,照相物镜,目镜的焦距(EFL)和后截距(BFL).也可以用于生产中检验正,负透镜的焦距(EFL)和后截距(BFL).被测透镜或物镜位于平行光管前, 平行光管物镜焦面上分划板的一对刻线就成像在被测物镜的焦面上.这对刻线的间距y和它的像的间距y¹与平行光管物镜焦距f c和被测物镜的焦距f¹有如下关系:y¹/y = f¹/f¹c 或 f¹ = f¹c(y¹/y)必须指出,由于负透镜成虚像,用测量显微镜观测这个像时, 显微镜的工作距离必须大于负透镜的焦距.-3-(二)一种简易测量焦距的方法在没有光具座的情况下,可用下面简易方法,但精度差.方法:用两次测量不同物距上被测物镜的横向放大率求焦距.根据高斯公式: F*=βX=-X*/β可得F*=E/γ2-γ1γ1=1/β1=Y1/Y1 , γ2=1/β2=Y2/Y2*A. 这种方法存在理论误差,必须要加以修正. 修正系数为:√1+(H/F*)2,所以:F*实际=F*×√1+(H/F*)2B. 镜头的球差对测量有很大影响,所以测出的焦距值是近似值.C. 测量人员的技术和对E,Y1,Y2,Y1*,Y2*测量的准确性非常重要,否则测出的焦距值将远远偏离真正值,而不能相信和使用.D. 焦距的准确测量,必须在光具座上用其它方法进行.E. 为了用这种方法测量, 必须有以下设备:简易导轨,夹持器,白色屏幕,有毫米刻度的物,精度为0.01mm的长度量测仪器.F. 要多次重复量测,取平均值.二.星点检验(一)原理星点检验法是对光学系统进行像质检验的常用方法之一,在光学系统设计,制造及使用中,人们关心的是其像质,並希望将像质与各种影响因素联系起来,借以诊断问题,提出改进措施, 星点检验在一定程度上可胜任上述工作.光学系统对非相干照明物体或自发光物体成像时,可将物光强分布看成是无数多个具有不同强度的独立发光点的集合,每一个发光点经光学系统后,由于衍射和像差以及工艺庇病的影响,在像面处得到的星点像光强分布是一个弥散斑,即点扩散函数(PSF).像面光强分布是所有星点像光强的叠加结果.因此, 星点像光强分布规律决定了光学系统成像的清晰程度,也在一定程度上反映了光学系统成像质量.上述点基元观点是进行星点检验的依据.-4-按点基元观点,通过考察一个点光源(星点)经过光学系统所成像,以及像面前后不同截面衍射图形的光强变化及分布,定性地评价光学系统成像质量,即是星点检验法.上面图形是艾里斑光强分布.(二)星点检验装置1.平行光管,2.光源,3.星孔(星点板),4.观察显微镜.对平行光管的要求:物镜像质要好,通光孔径要大于被检镜头.并用聚光镜照明星孔.星孔直径应小于:D max=0.61λf¹/D其中D---被检镜头入瞳直径f¹---平行光管物镜焦距-5-对观察显微镜的要求: 数值孔径NA等于或大于被检镜头的像方孔径角. 显微镜总放大率应为:Γ=(250~500)D/f¹.D/f¹---被检镜头的相对孔径.星点检验能判定: (1)光学系统的共轴性(2)球差(3)位置色差(4)慧差(5)像散(6)其它工艺疪病-6--7-四.分辨率检测分辨率检测可给出像质的数字指标,容易测量与比较。
光学测量与光学工艺知识点答案
•V棱镜法折射率测量原理及精度水平;
测量原理光路图如下图所示:
测量不确定度可达到
•V棱镜折光仪的主要构造;
平行光管、V棱镜、对准望远镜、度盘、读数显微镜
•折射液的作用;
排除V棱镜和待测透镜之间的空气,从而提高测量精度。
自准直:利用光学成像原理,使物和像都在同一个平面上并重合的方法
•准直的目的、用途;
获得平行光束
•实现准直的方法;
激光束:很好的方向性、很高的亮度,是直线性测量的理想光束
进一步提高激光束准直性(平行性),可采用激光束的准直技术
利用倒装望远镜法,实现激光束的准直
•自准直仪的类别;
自准直仪一般指自准直望远镜和自准直显微镜。
第三章
•精密测角仪的主要部件关键部件及其作用;
自准直前置镜(瞄准、定位)
平行光管(产生无限远的瞄准标记:狭缝、分划线等)
精密轴系(围绕旋转中心平稳旋转,圆锥轴系、圆柱轴系、空气静压轴系)
圆分度器件(角度基准)
显微读数系统(将被测角与度盘进行比较,得到角度值)
•常见的圆分度器件;
最常用的是度盘,其他的还有多面体、圆光栅、光学轴角编码器、感应同步器等。
•放大率法的原理简图及测量装置;
原理简图:
测量装置:光具座(光源、波罗板、平行光管、测量显微镜)
•放大率法焦距测量计算;
•放大率法焦距测量中的注意事项;
负透镜(测量显微镜工作距离)
光源光谱组成(色差)
被测镜头像质
近轴焦距与全口径焦距(球差)、测量显微镜NA
第二章
•准直、自准直的概念;
光学测试技术-第1章-基本光学测量技术1
② 消视差法 其推导过程与清晰度法一致。对消视差法在像方的调焦不确定度
换算至物方,换算公式为:
x
'
nf
'2 eq
可得到调焦误差为:
x
2n e
D'1
f '2 eq
n e
f
' eq
NA
D' D'1
其单次调焦标准不确定度为 x / 3
列表比较经过不同光学系统后的对准误差与调焦误差
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§1.1 光学测量中的对准与调焦技术
三、人眼的对准误差和调焦误差 1、人眼的对准误差
在正常照度下,人眼的对准误差主要取决于对准方式。 表1-1(p2)给出了5种不同对准方式下人眼的对准误差。 可见,随对准方式的不同,人眼对准误差在10″-120″之间。
2、人眼的调焦误差 要知道人眼的调焦误差,必须首先知道人眼是如何调
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§1.1 光学测量中的对准与调焦技术
②消视差法 人眼通过望远镜调焦时,眼睛在出瞳面上摆动的最大距离受出瞳直径 的限制。同时,在视网膜上像的位置由进入眼瞳的成像光束的中心线 与视网膜的交点决定。因此眼瞳的有效移动距离为b,实际移动距离
为t,且: b t
b b
t
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§1.1 光学测量中的对准与调焦技术
焦的。人眼常用的调焦方式有两种:清晰度法、消视差法。
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x
§1.1 光学测量中的对准与调焦技术
清晰度法 以目标和比较标志同样清晰为准,这时的调焦误差由几何焦 深和物理焦深造成。 ①几何焦深 标志严格成像在视网膜上,则在视网膜上的像是一个几何点。 调焦时目标不一定与标志在同一平面上。但只要目标在视网 膜上生成的弥散圆直径小于人眼的极限分辨率,人眼仍然认 为所成的像是一个点,即认为目标和标志同样清晰,或目标 与标志在同一平面上。 当弥散圆直径等于人眼的极限分辨率时,目标与标志之间的 距离δx即为调焦极限误差。称2δx为几何焦深。可见几何焦深 的大小主要取决于人眼的极限分辨率αe。
光学测试个人培训计划方案
一、培训背景随着光学技术的不断发展,光学测试技术在各个领域的重要性日益凸显。
为了提升个人在光学测试领域的专业素养,提高自身在光学测试工作中的实际操作能力,特制定本培训计划方案。
二、培训目标1. 掌握光学测试的基本理论和方法;2. 熟悉光学测试设备的操作与维护;3. 提高光学测试数据的分析和处理能力;4. 增强团队协作和沟通能力;5. 提升个人在光学测试领域的综合素质。
三、培训内容1. 光学测试基础知识- 光学原理及光学元件- 光学测试方法与技术- 光学测试标准与规范2. 光学测试设备操作与维护- 光学测试仪器的原理与结构- 光学测试仪器的操作技巧- 光学测试仪器的维护与保养3. 光学测试数据分析与处理- 光学测试数据的采集与记录- 光学测试数据的统计分析- 光学测试数据的应用与解读4. 团队协作与沟通能力- 团队协作的重要性- 沟通技巧与艺术- 团队冲突的解决方法5. 光学测试领域的最新动态与发展趋势- 光学测试技术的发展历程- 光学测试领域的应用案例- 光学测试领域的未来发展趋势四、培训时间安排1. 基础知识培训:1个月2. 设备操作与维护培训:1个月3. 数据分析与处理培训:1个月4. 团队协作与沟通能力培训:1个月5. 光学测试领域最新动态与发展趋势培训:1个月五、培训方式1. 理论授课:邀请行业专家进行专题讲座,结合实际案例进行分析;2. 实操培训:在专业实验室进行实际操作,指导教师现场指导;3. 案例分析:针对实际工作中遇到的问题,进行小组讨论和案例分析;4. 交流研讨:组织学员之间、学员与教师之间的交流研讨,分享经验与心得。
六、考核评估1. 理论考核:通过书面考试,考察学员对光学测试基础知识的掌握程度;2. 实操考核:通过实际操作,考察学员对光学测试设备的操作熟练度和故障排除能力;3. 综合考核:结合学员在培训过程中的表现,对学员的综合素质进行评估。
七、培训效果预期通过本培训计划,学员将在光学测试领域具备以下能力:1. 系统掌握光学测试的基本理论和方法;2. 熟练操作光学测试设备,具备一定的故障排除能力;3. 能够独立进行光学测试数据的采集、分析和处理;4. 提升团队协作和沟通能力,具备良好的职业素养。
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卓力特光电仪器(苏州)有限公司光学测试技术几何光学成像实像与虚像实物与虚物各光线本身或其延长线交于同一点的光束,叫同心光束例:从一点光源发出的光束由若干反射面或折射面组成的光学系统,叫光具组例:平面镜(一个反射面)、透镜(两个折射面)以及更复杂的光学仪器以Q为中心的同心光束经光具组的反射或折射后转化为另一以Q’点为中心的同心光束,则光具组使Q成像于Q’。
Q称为物点,Q’称为像点。
实像、虚像如果光束中各光线实际上确是在某点会聚,那么这个会聚点叫做实像.如果光束中各光线是发散的,但反向延长后可以找到光束的顶点,那么这个顶点叫做虚像.实像如果光束中各光线实际上确是在某点会聚,那么这个会聚点叫做实像。
虚像如果光束中各光线是发散的,但反向延长后可以找到光束的顶点,那么这个顶点叫做虚像。
平面镜成像原理由镜前一发光点Q射出的同心光束经镜面反射后成为发散光束,由反射定理,反射线的延长线严格地交于镜面后同一点Q’,像点Q’与物点Q对镜面对称。
眼睛为什么能看到虚像?眼睛是根据射入眼睛的那部分光线的最后方向和发散程度来判断它们发光中心的位置的。
所以当一束成虚像的发散光束射入眼睛后,我们的感觉是它们延长线的交点处似乎真有一个发光点。
实物如果入射的是发散的同心光束光束,则相应的发散中心Q称为实物。
虚物如果入射的是会聚的同心光束光束,则相应的发散中心Q称为虚物。
来自真实的发光点的光束当然不会是会聚的,虚物出现在几个光具组联合成像的问题中。
例:几何光学:薄透镜会聚透镜发散透镜双凸平凸正弯月双凹平凹负弯月几何光学:薄透镜成像的作图法几何光学:高斯公式f x x 111=+′-x x ’F 1F 2光学基础知识几何光学:薄透镜成像的作图法 虚像F2 F1 -x’ -x 发散透镜F1 -x -x’ F2光的偏振光的横波性与五种偏振态光的横波性横波 ——波的振动方向与传播方向垂直 光的偏振 ——光波中光矢量的振动方向总和光的传播方向 垂直。
光波的这一基本特性称为光的偏振。
光的偏振态 ——在垂直于光的传播方向的平面内,光矢量 可能有不同的振动状态通常称为光的偏振态。
光的横波性与五种偏振态光的横波性u Atu = A sin(ωt + ϕ 0 )A--振幅 --圆频率 t--时间 0--初位相光强I = k A2ω f = 2π光的横波性与五种偏振态光的横波性uλ--光的波长 Atλ =v/ f波长范围 /nm 400 450 450 480 480 510 510 550 550 570 颜色 紫色 蓝色 蓝绿 绿色 黄绿 黄色 橙色 红色u = A sin(ωt + ϕ 0 )570 590 590 630 630 700光的横波性与五种偏振态光的偏振EHυ传播方向光波中光矢量的振动方向总和光的传播方向垂直。
光波的这一基本特性称为光的偏振。
光的横波性与五种偏振态线偏振光(平面偏振光)透过偏振片的光线中只剩下与其透振方向平行的光叫做线偏振光, 线偏振光 线偏振中振动方向与传播方向构成的平面,叫做振动面。
振动面振动面线偏振光光的横波性与五种偏振态平面偏振光的实现偏振片 当光线射在偏振片的表面上时,振动的光矢量与光轴平行 时可以通过,与光轴垂直时就不能通过。
因此,平行与光 轴的方向称为通光方向或 通光方向 偏振化方向。
偏振化方向光的横波性与五种偏振态平面偏振光的实现当光线射在偏振片的表面上时,振动的光矢量与光轴平行 时可以通过,与光轴垂直时就不能通过。
因此,平行与光 轴的方向称为通光方向或 通光方向 偏振化方向。
偏振化方向光的横波性与五种偏振态自然光入射光中包含了所有方向的横向振动, 光矢量的分布各向均匀,且各方向光振 动的振幅都相同。
具有这种特点的光叫 做自然光。
透射光强度不随偏振 片的转动而变化。
但 光强只有入射光强的 一半。
光的横波性与五种偏振态线偏振光当光波在垂直于传播方向的平面内只在某一方向上振动,且光波沿传播方向上所有点的振动均在同一平面内,则此种光波称为线偏振光或平面偏振光。
线偏振光的获得与检验P 1 、P 2均为偏振片自然光起偏器P 1检偏器P 2偏振光马吕斯定律I 2=A 22=A 12cos 2 =I 1cos 2 I 1=A 12I 2=A 22A 2=A 1cos =0 时A 2=A 1,I 2=I 1q =90 时A 2=0,I 2=0线偏振光的获得与检验例题如图示,在两块正交偏振片(偏振化方向相互垂直)P 1、P 3之间.插入另一块偏振片P 2,光强为I 0的自然光垂直入射于偏振片P 1,求转动P 2时,透过P 3的光强I 与转角的关系。
透过各偏振片的光振幅矢量如图示,其中α为P 1和P 2的偏振化方向间的夹角。
由于各偏振片只允许和自己的偏振化方向相同的偏振光透过,所以透过各偏振片的光振幅的关系为αP 1P 2P 3A 1A 2A 3Oα=cos 12A A α=αα=⎟⎠⎞⎜⎝⎛α−πα=2sin 21sin cos 2cos cos 1113A A A A α2sin41213I I =α2sin 81203I I =⎟⎠⎞⎜⎝⎛−=απ2cos 23A A 因而于是光强又由于121I I =所以部分偏振光光的横波性与五种偏振态经常遇到的光,除了自然光和线偏振光外,还有一种偏振状态介于两者之间的光。
minmax minmax I I I I P +−=自然光P =0线偏振光P =1偏振度最大的光,也叫做全偏振光。
自然光反射和折射后产生部分偏振光自然光在两种各向同性介质的分界面上反射和折射时,不仅光的传播方向要改变,而且偏振状态也要发生变化。
一般情况下,反射光和折射光不再是自然光,而是部分偏振光。
在反射光中垂直于入射面的光振动多于平行振动,而在折射光中平行于入射面的光振动多于垂直振动。
“湖光山色”中的“湖光”所以是部分偏振光就是因为光在湖面上经过反射的缘故。
理论和实验都证明,反射光的偏振化程度和入射角有关。
当入射角等于某一特定值i 0时,反射光是光振动垂直于入射面的线偏振光。
这个特定的入射角i 0称为起偏振角,或称为布儒斯特角。
起偏振角布儒斯特角只有当自然光的入射角等于布儒斯特角时,反射光才是平面偏振光,对于其他任何入射角,反射光都只是部分偏振光部分偏振光。
空气-玻璃56º空气-石英55º38ˊ当自然光以布儒斯特角入射时,平行于入射面的光振动全部被折射,垂直于入射面的光振动的光强约有85%也被折射,反射的只占15%。
但折射光的偏振度很低,为此可以采用多次折射的方法。
一般激光器中采用布儒斯特角的装置产生偏振光。
圆偏振光左旋偏振光(-)右旋偏振光(+)Look⎪⎩⎪⎨⎧⎟⎠⎞⎜⎝⎛±==2πωωt cos A E t cos A E y x圆偏振光⎪⎩⎪⎨⎧⎟⎠⎞⎜⎝⎛±==2cos cos πωωt A E t A E y x 左旋偏振光(-)右旋偏振光(+)Look椭圆偏振光⎪⎩⎪⎨⎧⎟⎠⎞⎜⎝⎛±==2cos cos 21πωωt A E t A E y x 或()⎩⎨⎧±==δωωt A E tA E yx cos coso 光e 光光轴寻常光线非常光线在晶体内平行于不发生双折射的方向的直线,叫做晶体的光轴。
只有一个光轴的晶体叫单轴晶体两个—双轴晶体光通过单晶体时的双折射现象双折射——同一束入射光折射后分成两束的现象。
光射入各项异性介质(方解石等)中时,折射光分为两束,沿不同的方向进行。
光通过单晶体时的双折射现象均为线偏振光o光e光图示,P为偏振片,C为单轴晶片,与P平行放置,其厚度为d,主折射率为no 和ne,光轴(用平行的虚线表示)平行于晶面,并与P的偏振化方向成夹角α。
()d n n e o −=Δλπϕ2产生椭圆偏振光的原理A o =Asin αA e =Acos αo 光e 光两束光通过晶片后的位相差为αC P A eA A o O 光程差为()4λ=−=δd n n e o 使o 光、e 光的光程差等于λ/4的晶片,称为1/4波片。
若α=π/4,则A o =A e()πλπϕ=−=Δd n n e o 2o 光、e 光相差为时,相应的光程差为()2λδ=−=d n n e o ()e o n n d −=2λ而晶片厚度使o 光、e 光的光程差等于λ/2的晶片,称为1/2波片。
()e o n n d −=4λ圆偏振光和椭圆偏振光的检验满足一定条件的两束光叠加时,在叠加区域光的强度或明或暗有一稳定的分布。
这种现象称为光的干涉。
波的叠加当光波E1的波峰与光波E 2的波峰重叠,它们的位相相同,则合成波E 的振幅加强。
当光波E1的波峰与光波E 2的波谷重叠,则合成波E的振幅减弱。
偏振光干涉的基本装置A o =A 1sin αA e =A 1cos αA 2o =A o cos α=A 1sin αcos αA 2e =A e sin α=A 1sin αcos αP 1、P 2正交时:A 2e =A 2o两相干偏振光总的位相差为()πλπϕ+−=Δd n n e o 2偏振光干涉(在P 1和P 2正交的情况下)当Δϕ=2k π,k =1,2…或()()212λ−=−k d n n e o Δϕ=(2k +1)π,k =1,2…()λk d n n e o =−时,加强;当或时,减弱。
当白光入射时,对各种波长的光来讲,干涉加强和减弱的条件因波长的不同而各不相同。
所以当晶片的厚度一定时,视场将出现一定的色彩,这种现象称为色偏振。
如果这时晶片各处厚度不同,则视场中将出现彩色条纹。
当晶片厚度不均匀时,各处干涉情况不同,则视场中将出现干涉条纹。