数字散斑干涉(DSPI)研究的文献综述

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数字剪切散斑干涉技术

数字剪切散斑干涉技术

数字剪切散斑干涉技术景敏【摘要】研究了数字剪切散斑干涉技术(DSSPI)的原理,详细讨论了剪切成像的常见方式并总结了各种方式的优缺点及适用场合,介绍了数字散斑剪切干涉技术在无损检测中的应用.【期刊名称】《机械管理开发》【年(卷),期】2012(000)006【总页数】3页(P1-2,5)【关键词】光学测量;数字剪切散斑干涉;无损检测【作者】景敏【作者单位】陕西理工学院机械工程学院,陕西汉中723003【正文语种】中文【中图分类】O433.1现代光测力学对高灵敏度的变形、位移测量常用全息、散斑等测量方法,但这些方法都具有一定的局限性,比如要求生产现场避震、避光、对图像要进行后期处理等,这些局限性降低了这些方法在工业现场的使用价值。

由Hung和Liang[1]提出的散斑剪切干涉术则不要求特别的防震措施,而且装置简单,这就为生产现场能运用的变形测量方法提供了基础。

如果将散斑剪切干涉术与电子散斑技术相结合,就可获得一种不需特殊防震、不需避光、不需全息干板的实时干涉技术。

这项技术的特点是,干涉条纹的获取完全不同于传统光测力学方法,由于摄像视频技术和计算机技术的引入,使得干涉条纹的获取过程变得简单、快速。

数字剪切散斑(DSSPI---digital shearing speckle pattern interferometry)[2,3]是散斑技术中一种先进的测量技术,它可以直接测量物体离面位移的一阶微分。

数字剪切散斑干涉技术(DSSPI)把剪切散斑干涉技术与数字散斑相结合而形成数字光电测量技术,它所测量的主要是物体表面变形的位移导数值。

正因为如此,数字剪切散斑干涉就是在数字摄像机前放置一个小角度的玻璃楔块,激光的光线在通过此玻璃楔块时将产生偏折,在像平面上产生与楔块的楔角相同方向的两个错位的像,它们将在像平而上互相干涉而形成散斑干涉图像,然后将其采集到计算机中。

将变形前后两幅散斑干涉图像在计算机中进行相应的运算和处理,在计算机屏幕上将出现一个表示物体位移偏导数的条纹图,见图1。

光声成像技术

光声成像技术

光声成像技术的发展摘要:摘要:光声成像技术是生物医学上的一种新兴的成像技术,光声成像技术是生物医学上的一种新兴的成像技术,光声成像技术是生物医学上的一种新兴的成像技术,具有高分辨率、具有高分辨率、具有高分辨率、高对高对比度、对人体无伤害等优点。

本文介绍了光声技术发展的背景以及近年来主要的发展情况,主要涉及近年来学者对光声成像技术的研究以及现阶段光声成像技术存在的问题以及改进。

最近阐述了光声成像技术的发展前景和趋势,最近阐述了光声成像技术的发展前景和趋势,指出了光声指出了光声成像技术向多模式结合的方式发展趋势。

关键词:光声成像技术,发展,前景关键词:光声成像技术,发展,前景1前言随着现代科学技术的发展,随着现代科学技术的发展,医学成像对各种疾病的诊断与治疗有着重要的意义。

义。

对生物组织进行成像是研究生物组织病变的重要手段。

对生物组织进行成像是研究生物组织病变的重要手段。

对生物组织进行成像是研究生物组织病变的重要手段。

目前,目前,目前,被广泛运用到被广泛运用到医学上的成像方法主要有:X 射线成像(包括x 射线造影术成像和x 射线相干层析成像Op cal Coherence Tomography ,OC T 等)、磁共振成像(magnetic reso —nance tomography ,MRT)、超声成像等。

在上述的这些成像技术中,都因辐射儿对人体造成一定的损伤。

儿对人体造成一定的损伤。

X X 射线又称伦琴射线,它具有穿透物质的本领,但对不同物质它的穿透本领不同,有破坏细胞作用。

不同物质它的穿透本领不同,有破坏细胞作用。

X X 射线成像是根据人体组织的密度和厚度的不同,使组织能在荧光屏或胶片上形成影像,使组织能在荧光屏或胶片上形成影像,因此有些组织病变无法因此有些组织病变无法判断,并且长期频繁使用x 射线成像将有损于人们健康。

射线成像将有损于人们健康。

MRT MRT 技术是利用人体组织中氢原子核在磁场中受到激励而发生核磁共振现象产生磁现象的一种成像技术。

数字散斑干涉图像处理方法研究

数字散斑干涉图像处理方法研究

数字散斑⼲涉图像处理⽅法研究⽬录1 引⾔ (1)1.1 课题研究的⽬的和意义 (1)1.2 数字散斑⼲涉计量技术简介 (1)1.3 数字图像处理技术的研究现状 (3)1.4 数字图像处理的特点 (5)1.5 本论⽂的主要⼯作 (5)2 数字散斑⼲涉测量技术 (7)2.1 散斑的形成 (7)2.2 数字散斑⼲涉测量原理 (8)2.3 数字散斑法测量⾯内位移的测量范围 (10)2.4 本章⼩结 (10)3 图像采集系统 (11)3.1 图像采集系统的硬件构成 (11)3.1.1 CCD摄像机 (11)3.1.2 图像采集卡 (12)3.1.3 计算机 (14)3.1.4 显⽰器 (14)3.2 图像数字化 (14)3.2.1 采样 (14)3.2.2 量化 (14)3.3 本章⼩结 (15)4 数字图像处理技术 (16)4.1 数字图像处理技术范畴 (16)4.2 数字图像处理简介 (16)4.3 本章⼩结 (20)5 基于Matlab的数字散斑⼲涉图像处理 (21)5.1 Matlab软件简介 (21)5.1.1 Matlab主包 (21)5.1.2 Simulink (22)5.1.3 Matlab ⼯具箱 (22)5.2 数字散斑⼲涉图像处理 (22)5.2.1 图像的相减处理 (22)5.2.2 图像增强处理 (23)5.2.3 图像滤波处理 (26)5.2.4 图像分割 (28)5.2.5 膨胀和腐蚀 (29)5.2.6 ⾻架线的提取 (31)5.2.7 ⾻架线修整 (32)5.3 本章⼩结 (33)6 结论 (34)附录 (35)参考⽂献 (38)致谢 (40)1 引⾔图像是⼈类智能活动重要的信息来源之⼀,是⼈类相互交流和认识世界的主要媒体。

随着信息⾼速公路、数字地球概念的提出,⼈们对图像处理技术的需求与⽇剧增,同时VLSI(Very Large Scale Integration)技术的发展给图像处理技术的应⽤提供了⼴阔的平台。

散斑干涉实验

散斑干涉实验

数字散斑干涉法测量横梁的面内位移摘要:运用数字散斑干涉法研究横梁的面内位移。

数字散斑计量采用CCD记录数字散斑图,因此不需要进行显影和定影等冲洗处理。

数字散斑计量除了可以采用相加模式外,还可以采用相减模式。

采用相减模式不需要进行滤波处理即可显现干涉条纹。

关键词:数字散斑干涉法,面内位移,散斑图。

20世纪70年代采用光电子器件(摄像机)代替全息地底片记录散斑图并存储在磁带上,由摄像机输入的物体变形后的散斑图通过电子处理方法不断与磁带中存储的物体变形前的散斑图进行比较后显示器上显示散斑干涉条纹,这种方法称为电子散斑干涉法。

进入20世纪80年代,随着计算机技术、电荷耦和器件和数字图像处理技术的快速发展,散斑计量技术进入了数字化时代,出现了数字散斑干涉法。

数字散斑干涉法把物体变形前后的散斑图通过采样和量化变成数字图像,通过数字图像处理再现干涉条纹或相位分布。

目前,数字散斑干涉已经取代了电子散斑干涉法。

另外,随着计算机技术,光电子技术与图像处理技术的发展,出现了数字散斑相关技术。

同时,基于散斑计量技术,还出现了粒子图像测速技术。

数字散斑计量的基本原理与传统散斑计量(也称为光学散斑计量)相同,差别主要表现在传统散斑计量由于采用全息底片记录散斑图,因此需要进行显影和定影等冲洗过程。

另外,传统散斑计量只能采用相加模式,因此必须进行滤波处理,以便消除直流分量从而显现干涉条纹。

而数字散斑计量由于采用CCD记录数字散斑图,因此不需要进行显影和定影等冲洗处理。

另外通过CCD记录的物体变形前后的数字散斑图可以存储咋同一帧存中,也可以存储在不同的帧存中,因此数字散斑计量除了可以采用相加模式,还可以采用相减模式或相关模式。

采用相减模式不需要进行滤波处理即可显现干涉条纹。

目前该技术可进行变形、振型、形状、温度分布和无损检测等方面的测量,建筑物现场监测、复合材料的无损检测、焊缝质量检测、表面粗糙度检测等方面的研究都有过详细的报道。

双精度数字散斑振动测量系统

双精度数字散斑振动测量系统

第34卷 第9期 2000年9月 西 安 交 通 大 学 学 报JOURNAL OF XI′AN J IAOTONG UNIVERSITY Vol.34 №9 Sep.2000文章编号:0253-987X(2000)09Ο0072Ο05双精度数字散斑振动测量系统贾书海,乐开端,赵 宏,谭玉山(西安交通大学,710049,西安)摘要:给出了一种双精度数字散斑振动测量系统.该系统结合了普通数字散斑离面振动测量光路和退敏感光路,可以对物体的振动进行高精度和低精度2次测量,并利用低精度的测量结果对高精度的测量结果进行相位去包裹.由于这种去包裹方法是各点独立进行的,使得该系统可以测量工程实际中复杂的非连续体的振动.关键词:数字散斑;振动测量;相移;相位去包裹中图分类号:O329 文献标识码:AH igh/Low2P recision Digital Speckle P attern I nterferom etry forV ib ration M easu rem entJia Shuhai,Yue Kaiduan,Zhao Hong,T an Yushan(X i′an Jiaotong University,X i′an710049,China)Abstract:High/low2precision digital s peckle pattern interferometry(DSPI)is proposed for measuring vibration.The system combines the comm on DSPI optical path for measuring out2plane vibration and the de2sensitized optical path.High and low precision measurements are made such that the wra pped phase map obtained with high preci2 sion can be unwrapped according to that for the low precision.E ffectiveness of the unwrapping procedure at the discontinu ous area made it possible to analyze the vibration characteristics of com plex and discontinu ous structure for engineering application.K eyw ords:digital speckle pattern interferometry(DS PI);vibration measurement;phase2shif ting;phase un2 w rapping 数字散斑(Digital S peckle Pattern Interferometry, DSPI)是近年来发展较快的一项技术,用DSPI测量物体振动具有非接触、精度高和全场同时测量等优点,且不会影响物体的固有振动特性.其中,时间平均法是DSPI振动测量中最方便、有效的方法.过去,均采用人工条纹处理的方法来获得振动信息[1,2]. Pryputniewicz在1989年提出了贝塞尔条纹移动法,用来自动获取振动信息[3].该方法利用振动相移技术使贝塞尔条纹移动,并用类似于相移解调余弦条纹的方法来解调贝塞尔条纹.这种方法要对测得的振幅相位图进行相位去包裹,而当物体为复杂的非连续体时,相位去包裹是非常困难的.E llingsrud在1992年提出了测量物体微小振动的贝塞尔函数线性近似法[4],这种方法虽可定量测量物 收稿日期:1999Ο12Ο02. 作者简介:贾书海,男,1969年9月生,博士生;谭玉山(联系人),男,机械工程学院激光与红外应用研究所,教授,博士生导师.基金项目:国家自然科学基金资助项目(59905020).体的振幅和相位,并且无需相位去包裹,但其测量范围很小,只能测小于30nm 的微小振动,当振幅大于30nm 时,此方法失效.本文给出了一种双精度DSPI 振动测量系统.该系统采用退敏感光路来扩大贝塞尔函数线性近似法的测量范围,用贝塞尔条纹移动法和线性近似法对物体振动进行高精度和低精度2次测量,并根据低精度的测量结果对高精度的测量结果进行相位去包裹,从而得到高精度的振幅分布.由于这种相位去包裹技术无需周围点的信息,各点去包裹是独立进行的,所以该系统可用于工程实际中复杂的非连续结构的振动特性分析.1 系统结构整个测量系统的结构及光路布置如图1所示.5mW He ΟNe 激光器发出的波长为632.8nm 的激光,通过多个分束镜(BS )分成4束光(B1、B2、B3、B4),其中光束B1、B2构成了普通DSPI 离面振动测量光路,称为光路1;光束B3、B4构成退敏感光路,称为光路2.B1、B2形成一散斑干涉场,B3、B4形成另一散斑干涉场.CC D 摄像机将散斑干涉场的光强信息转换为视频图像信号,该信号由图像板数字化为灰度图像进入计算机处理.信号发生器产生的正弦信号经功率放大器和驱动器,驱动被测物体振动.正弦信号相移网络驱动正弦相位调制器(SPM1、SPM2)产生和物体同频率的偏置振动,并在计算机的控制下对偏置振动进行离散90°相移和幅度调节.相移器(PS1、PS2)在计算机的控制下实现光学相移.光开关K 1、K 2使两种光路在不同时刻分别照明物体.散斑平均器(SA1、SA2)可在计算机的控制下改变光束B2和B4的照明方向.2 两种光路的敏感程度当物体以频率f 、振幅a 0(x ,y )振动,且振动频率远高于CC D 摄像机的帧频率时,摄像机的输出可表示为[3]I =I 0+I r +2(I 0I r )1/2cos <(x ,y )・J 0(2πλga 0(x ,y))(1)式中:I 0、I r 是两个相干光场的强度;x 、y 为坐标值;<(x ,y )是两个相干光场的光学相位差;cos <(x ,y )是一个随机项,在像面上对应于散斑;λ为激光波长;J 0是第一类零阶贝塞尔函数,代表了振动信息.通过正弦相位调制器(SPM1或SPM2)引入和物体同频率的偏置振动,此时摄像机的输出为I =I 0+I r +2(I 0I r )1/2cos <(x ,y )・J 0(2πλg (a 20(x ,y )+a 2r +2a 0(x ,y )a r cosβ(x ,y ))1/2)(2)式中:a r 是偏置振动的振幅;β(x ,y )是偏置振动和物体振动的相位差;g 是和光路布置有关的几何参数.在光路1中,入射光和反射光的夹角很小,即θ≈0°,此时g =1+cos θ≈2.在光路2中,入射光和反射光的夹角较大,且两入射光的夹角相近,在本系统中取θ1≈70°,θ2≈75°,此时g =cos θ1-cos θ2≈0.0832.可以看出:光路1的敏感程度约是光路2的24倍;对同样的振幅,光路1中J 0的自变量远大于光路2中J 0的自变量.另外,光路2在上述入射光角度的选取下,对离面振动的敏感系数是面内振动的3倍多,若在实际测量时适当选择图1 双精度DSPI 振动测量系统结构图37第9期 贾书海,等:双精度数字散斑振动测量系统激振方向,使物体只产生离面振动,光路2即可用于定量分析物体的离面振动.当振幅在一定范围内时,光路1的敏感程度较高,散斑时间平均图上将会有贝塞尔条纹,采用贝塞尔条纹移动法可以实现振动的高精度测量.在同样的振幅下,光路2的敏感程度较低,J 0的自变量在贝塞尔函数第一零点内,散斑时间平均图上没有条纹,采用贝塞尔函数线性近似法可以对振动进行测量,但此时精度较低.根据赵宏提出的双精度测量相位去包裹技术[5,6],这种低精度的测量结果可以用于高精度测量结果的相位去包裹,并且这种去包裹是各点独立进行的,可以应用于复杂的非连续体的测量.3 振动的2次测量在图1所示的光路里,打开光开关K 1,关闭光开关K 2,用光路1和贝塞尔条纹移动法对振动进行高精度测量.通过光束B1中的光学相移器PS1,使参考光的相位以步长Δα在足够大的范围内连续扫描,寻找每一点处I 的最大、最小值,得到2幅图像I max 、I min ,并取I =I max -I min =4(I 0I r )1/2J 0(2πλg (a 20(x ,y )+a 2r +2a 0(x ,y )a r cos β(x ,y )))1/2(3)这样就消除了背景光强和散斑项的影响,使条纹的信噪比增加.当偏置振动的相位改变时,贝塞尔条纹会发生移动,这相当于DSPI 静态测量时余弦条纹的相移,因而可用振动相移技术解调贝塞尔条纹.当偏置振动分别和物体振动同相、无偏置振动、反相时,经最大、最小值扫描后可得 I ′1=4(I 0I r )1/2J 0(2πλg (a 0(x ,y )+a r ))(4a ) I ′2=4(I 0I r )1/2J 0(2πλga 0(x ,y ))(4b ) I ′3=4(I 0I r )1/2J 0(2πλg (a 0(x ,y )-a r ))(4c )将上式代入三步相移解调相位的公式,可得物体振幅的包裹相位值θ=arctg [1-cosαsin α・I ′1-I ′32I ′2-I ′1-I ′3](5)适当调整偏置振动的振幅,使α=120°.经过相位去包裹处理,可以得到振幅的连续相位值Φ.由于这里是将贝塞尔条纹看作余弦条纹进行解调,因而存在误差,需要经过误差修正才能得到正确的结果.可以将计算相位值和实际振幅制成一个查找表,利用查表的方法来消除这种误差[3].关闭光开关K 1,打开光开关K 2,用光路2对物体振动进行测量.由于光路2的敏感程度远低于光路1,J 0的自变量较小,因而可以用贝塞尔函数线性近似法进行定量分析[4].对式(3)取平方,并使偏置振动的振幅a r 为J 20第一零点处振幅的一半(称为工作点,如图2所示),图2 J 20函数的线性部分此处J 20近似于线性函数.对式(3)的平方在工作点处作线性近似[4]I out =I b -k (x ,y )a 0(x ,y )cosβ(x ,y )(6)式中:I b 是背景项;k (x ,y )是工作点处的斜率.利用正弦信号相移网络和正弦相位调制器(SPM2),使偏置振动产生0°、90°、180°、270°的振动相移,可得I 0°=I b -k (x ,y )a 0(x ,y )cos β(x ,y )I 90°=I b +k (x ,y )a 0(x ,y )sin β(x ,y )I 180°=I b +k (x ,y )a 0(x ,y )cos β(x ,y )I 270°=I b -k (x ,y )a 0(x ,y )sinβ(x ,y )(7)振动相位为β(x ,y )=arctgI 90°-I 270°I 180°-I 0°(8)考虑分子分母的符号,就可以得到物体在[-π,π]间的振动相位.测量振幅时,停止物体振动,使偏置振动的振幅分别增加δ和减少δ,相应的图像为I +δ=I b -k (x ,y )δI -δ=I b +k (x ,y )δ(9)振幅为47西 安 交 通 大 学 学 报 第34卷a (x ,y )=δ[(I 180°-I 0°)2+(I 90°-I 270°)2]1/2|I -δ-I +δ|(10)这样,就同时测出了物体全场的振幅和相位.在上述2种光路测量中,为得到高质量的测量结果,通过散斑平均器(SA1和SA2)使光束B2和B4的照明方向改变,从而改变散斑的分布,实现散斑平均技术[4].4 双精度测量相位去包裹由于本系统可以对同一振动进行高、低精度2次测量,因而可以采用赵宏在研究三维形貌测量时提出的2次测量相位去包裹技术[5,6].从式(5)可以看出,条纹移动技术所得到的相位值是模为2π的原理相位值,其真实相位值为Φ(x ,y )=θ+2πn (x ,y )(11)式中:n (x ,y )为整数.为了确定n (x ,y )的值,进行以下讨论.由于2种光路测量的是同一振动,因此得到的振幅是一样的.惟一不同的是,由于光路1的敏感程度高,因此条纹移动技术得到的结果比线性近似法的结果精度高,但在一定的差别下,即线性近似法的测量误差小于条纹移动技术误差的0.5级条纹时,可以用线性近似法得到的结果来确定用条纹移动技术测量的条纹级数[6].通过查找表,可查得线性近似法测得的振幅a 0(x ,y )所对应的条纹移动法的连续相位值Φ′(x ,y ),则n (x ,y )=int (Φ′(x ,y )2π)(12) 当式(12)中的参数接近整数时,可能会引起整数级条纹的误差,需对式(12)的结果进行修正.设点(x ,y )处去包裹后的相位和Φ′(x ,y )的误差为δ(m )=[θ(x ,y )+2m π]-Φ′(x ,y )[m =n (x ,y ),n (x ,y )±1](13)显然,式(13)中的m 必然存在一个值m 0(x ,y )∈{m =n (x ,y ),n (x ,y )±1},使得δ(m )为最小,则m 0(x ,y )就是θ(x ,y )的精确条纹级数.这样,就可以得到点(x ,y )处的精确相位去包裹值 Φ(x ,y )=θ(x ,y )+2m 0(x ,y )π(14) 得到正确的相位去包裹值后,再经过反查查找表,就可以得到贝塞尔条纹移动法测量的高精度振幅值.5 测量结果实验中对一个十字形铝片的振动模态进行了测量,铝片宽35mm ,厚0.5mm.十字形铝片的4个顶端固定,通过粘接在一个臂上的压电陶瓷片激励其振动.图3是在1650Hz 时的振动测量结果,其中:图3a 是DSPI 时间平均条纹图;图3b 是用贝塞尔条纹移动法进行高精度测量得到的振幅包裹相位图;图3c是用贝塞尔函数线性近似法进行低精度测量 (a )DSPI 时间平均条纹 (b )高精度测量的振幅包裹相位图 (c )低精度测量的振动相位分布 (d )低精度测量的振幅分布 (e )振幅去包裹后的结果 (f )振幅的三维显示图3 振动测量结果57第9期 贾书海,等:双精度数字散斑振动测量系统得到的振动相位分布(以灰度表示振动相位,白色部分为振动相位90°的区域,灰色部分为振动相位-90°的区域);图3d 是低精度测量得到的振幅分布(以灰度表示振幅大小);图3e 是用双精度去包裹法对图3b 去包裹的结果;图3f 是振幅分布的三维显示结果.从上面的测量结果可以看出,该系统可以测量非连续体的振动.根据双精度去包裹的原理可知,只有当低精度测量的误差小于高精度测量误差的0.5级条纹时,才能得到正确的相位去包裹值.作者以前的工作表明,这种双精度测量系统的测量范围为贝塞尔条纹的第7级暗条纹[7],故在测量范围内,最小的0.5级条纹对应了80nm 的振幅,而低精度测量的误差约为40nm ,所以去包裹的结果是可靠的.6 结 论本文提出的双精度数字散斑振动测量系统,结合了普通DSPI 离面振动测量光路和退敏感光路,可以对物体的振动进行高精度和低精度2次测量,并利用低精度的测量结果对高精度的测量结果进行相位去包裹.由于这种去包裹方法是各点独立进行的,所以该系统可以测量工程实际中复杂的非连续结构的振动特性.参考文献:[1] Lu B ,Y ang X ,Abendroth H ,et al.Time average subtrac 2tion method in electronic s peckle pattern interferometry [J ].Opt C ommun ,1989,70(1):177~180.[2] Vikhagen E.Vibration measurement using phase shifting TV 2holography and digital image processing [J ].Opt C ommun ,1989,69(3):214~218.[3] Pryputniewicz R J ,Stets on K A.Measurement of vibrationpatterns using electro 2optic holography [J ].Proc SPIE ,1989,1162:456~467.[4] E llingsrud S ,R osv old G O.Analysis of a data 2based TV 2holography System used to measure small vibration am plitudes [J ].J Opt S oc Am A ,1992,9(2):237~251.[5] Zhao H ong ,Chen Wenyi ,T an Y ushan.Phase 2unwrappingalg orithm for the measurement of three 2dimensional ob ject shapes [J ].Applied Optics ,1994,33(20):4497~4500.[6] 赵 宏,陈文艺,谭玉山.一种新的相位测量轮廓术[J ].光学学报,1995,15(7):898~901.[7] 贾书海,乐开端,谭玉山.双光路电子散斑振动测量系统[J ].光子学报,2000,29(2):126~129.(编辑 葛赵青)(上接第61页)图6 支撑结构设计流程图3 结 论从以上的论述中可以看出,本文提出的支撑结构设计方法以保证快速成型精度为设计目标,充分考虑了支撑设计时强度、稳定性、变形、易去性及制作成本等因素,根据加工系统的设备与材料的性能指标及支撑设计经验,形成了支撑设计准则.通过对目标ST L 模型进行待支撑区域的识别、生成分类、变形预测及支撑密度分析,形成了具有分析结果属性的区域对象,并依据支撑结构设计策略,对该对象进行支撑结构设计,输出支撑加工文件,智能地完成支撑结构设计,有效地保证了快速成型质量.参考文献:[1] 王军杰.光固化法快速成型中零件支撑及制作方向研究[D].西安:西安交通大学机械工程学院,1997.[2] Jacobs P F.Rapid prototyping &manu facturing :fundamen 2tals of stereolithography [M ].New Y ork :McG raw 2H ill ,Inc ,1992.1~74.[3] 卢秉恒,李涤尘,丁玉成.激光快速成型技术与设备简介[Z].西安:西安交通大学先进制造技术研究所,1997.(编辑 葛赵青)67西 安 交 通 大 学 学 报 第34卷。

全息干涉与散斑干涉综述

全息干涉与散斑干涉综述

全息干涉与散斑干涉技术综述报告全息干涉无损检测技术是无损检测技术中的一个新分支,它是20世纪60年代末期发展起来的,是全息干涉计量技术的重要应用。

我们知道结构在外力的作用下,将产生表面变形。

若结构存在缺陷,则对应缺陷表面部位的表面变形与结构无缺陷部位的表面变形是不同的。

这是因为缺陷的存在,使得缺陷部位的结构的刚度、强度、热传导系数等物理量均发生变化的结果。

因而缺陷部位的局部变形与结构的整体变形就不一样。

应用全息干涉计量技术就可以把这种不同表面的变形转换为光强表示的干涉条纹由感光介质记录下来。

而激光散斑技术是在激光全息实验中,我们观察被激光所照射的试件表面,就可以看到上面有无数的小斑点,因而观察不到条纹,因此在前期,散斑是被看作是噪声来对待的,直到随着人们对全息干涉技术的进一步了解,才发现虽然这些斑点的大小位置都是随机分布的,但所有的斑点综合是符合统计规律的,在同样的照射和记录条件下,一个漫反射表面对应着一个确定的散斑场,即散斑与形成散斑的物体表面是一一对应的。

在一定范围内,散斑场的运动是和物体表面上各点的运动一一对应的,这就启发人们根据散斑运动检测,来获得物体表面运动的信息,从而计算位移、应变和应力等一些力学量。

因此全息和激光散斑方法由于其固有的高灵敏度,在非破坏性测试领域发现了越来越多的应用。

可探测到表面及地下的裂缝、空洞、脱层和分层等缺陷。

由于这些方法测量了在外部加载或其他条件的影响下,在这三个维度下研究对象的变形,它们也可以用于质量控制,也可以用于设计阶段。

激光散斑的方法,还利用了电子检测和处理的发展(称为电视全息术),并可用于实时定量评价。

本综述报告主要介绍利用光纤光刻技术,对全息和激光散斑测量方法进行了全面的研究,这两种方法都适用于焊接、复合材料的检验。

IntroductionHolography is a two step process of recording a wavefrontand then reconstructing the wave. While Holography is oftenused to obtain the recreations of beautiful 3-dimensional scenes,there are several engineering applications, the most common andimportant one being Holographic Non-Destructive Testing . Thisis accomplished with holographic interferometry, whereininterferometry is carried out with holographically generatedwavefronts .A speckle pattern is generated when an object with a roughsurface is illuminated with a highly coherent source of lightsuch as laser. Initially this speckle noise was considered asthe bane of holographers, until it was realized that these specklescarry information about the surface that produce them. Again,as in the case of holography, the combination of interferometric concepts with speckle pattern correlation gave rise to speckle interferometry . The developments in electronic detection and processing further added wings to laser speckle methods giving rise to Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI), or “TV Holography”. This paper describes a brief outline of holographic and speckle methods for Non-Destructive Testing applications, wherein the deformations of an object under load are measured in a non-contact way. Measurement of surface shapes using contouring and derivatives of displacement using Shearography are also presented.1.HolographyThe schematic for recording a hologram is shown in Fig.1. The light from a laser is split into two beams. One beam illuminates the object and the other beam is used as a reference. At the recording plane, an interference of theFig. 1 : Experimental arrangement for recording a hologram. wavefront scattered by the object with the reference wavefront takes place. A recording is made on a high resolution photographic plate. The developed plate, now called a “Hologram”, when illuminated by the reference wave, reconstructs the object wave. There are several recording geometries such as in-line, off-axis, image plane, Fourier Transform, reflection and rainbow holograms. The theory behind the recording and reconstruction of object wavefront is well documented .1.1Holographic Interferometry (HI)While holography is used to obtain recreations of beautiful 3-D scenes, most engineering applications of holography make use of its ability to record slightly different scenes and display the minute differences between them. This technique is called Holographic Interferometry (HI). Herewe deal with Interference of two waves of which atleast one of the waves is generated holographically.Methods of Holography Interferometry are classified as (i) Real-time HI, (ii) Double-Exposure HI, and (iii) Time average HI. In holographic interferometry, we record the holograms of the two states of an object under test, one without loading and one with loading. When such a doubly exposed hologram is reconstructed, we see the object superposed with a fringe pattern which depicts the deformation undergone by the object due to loading. The theory behind the fringe formation in HI is as follows [3]:Let the O1 and O2 represent the undeformed and deformed object waves, which are written asO1(x,y) = |O(x,y)| exp[-i Φ(x,y)] (1)O2(x,y) = |O(x,y)| exp[-i Φ(x,y) + δ] (2) where δis the phase change due to displacement or deformation of the object. The intensity due to superposition of these two waves isI(x,y) = |O1(x,y) + O(x,y)|2= O1O1* + O2O2* + O1O2* + O1* O2= I1 + I2+ 2I1I2Cos δ(3)where I1 and I2 are the intensities of O1 & O2. The Phase Difference δ is given byδ = (K2-K1).L (4)where K2 is the observation vector, K1 is the illumination vector and L is the displacement vector. Thus the evaluationof the phase δis gives the displacement. The fringes formed represent contours of constant displacement.1.2Holographic Non-Destructive Testing (HNDT)This powerful technique of Holographic interferometry, is an invaluable aid in Engineering design, Quality Control and Non-Destructive testing and Inspection. In HNDT, the object under study is subjected a very small stress or excitation and its behavior is studied using HI.The defects in the object can be spotted as an anomaly in the otherwise regular fringe pattern. HNDT is a highly sensitive, whole-field, non-contact technique and is applicable to objects of any shape and size. The types of excitation used for HNDT are mechanical, thermal, pneumatic or vibrational. Defects such as cracks, voids, debonds, delaminations, residual stress, imperfect fits, interior irregularities, inclusions could be seen. HNDT is applied to inspect the disbonds between the plies of an aircraft tyre, delamination of the composite material of a helicopter rotor blade, PCB inspection, rocket castings, pressure vessels, andso on.Use of double-pulsed laser makes HI more attractive for study of transients and impact loads. Fig.2 shows the double exposure hologram of a turbine blade subjected to an impact loading (recorded using a double-pulsed Ruby laser).Fig. 2 : Double-pulse hologram of a turbine blade impact loaded with a small metallic ball.Time average HI, wherein a hologram of a vibratingobject is recorded, provides information about the modes and the vibration amplitudes at various points on the object. Figs.3(a) and (b) show the time average holograms of a rectangular plate vibrating at 1826 Hz and 5478 Hz, from which the resonant mode patterns could be easily studied . In HNDT, this technique is used for study of vibrations of machinery, car doors, engines and gear boxes and to identify the points where they should be bolted to arrest the vibration and noise.Fig. 3 : (a) and (b) Time averaged hologram of a centrally clamped plate at (0,0) and (1,0) mode when vibrated at 1826 Hzand5478Hz respectively2 22 22. Electronic Speckle Pattern Interferometry(ESPI)Recent holographic applications in engineering use a video camera for image acquisition, which is coupled to a computer image processing system. This is termed as TV Holography, though technically called Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI). The technique makes use of the speckle pattern produced when an object with a rough surface is illuminated with a laser [4-6]. The correlation between the speckle patterns, before and after an object is deformed, are carried out using image processing techniques. Figure 4 shows the schematic of an ESPI system. The object is illuminated by the light from a laser and is imaged by a CCD camera. An in-line reference beam, derived from the same laser, is added at the image plane. The specklecorrelation is carried out by storing an image while the object is in its initial state, and subtracting the subsequent frame fromthis stored frame, displaying the difference on the monitor. When the object is subjected to some loading or excitation, the correlated areas appear black while the uncorrelated areas would be bright, resulting in a fringe pattern. As in HI,the fringes represent contours of constantdisplacement of the object points.The fringe formation in ESPI is well documented . The intensity distributions I 1(x,y) and 12(x,y) recorded before and after the object displacement respectively can be written asFig. 5 : Measurement of Poisson’s ratioI I (x,y) = a 1 +a 2 + 2a 1a 2 cos(ϕ) (5) I 2(x,y) = a 1 +a 2 + 2a 1a 2cos(ϕ+δ) (6)Fig. 4 : Experimental arrangement for ESPIFig. 6 : (a) Delamination in a plate (b) Longitudinal crack in asteel weldmentwhere a 1 and a 2 are the amplitudes of the object and reference waves, δ is the phase difference between them and ϕ is the additional phase change introduced due to the objectmovement. The subtracted signal as displayed on the monitor is given by,I 1 - I 2 = 4 |a 1a 2 Sin[ϕ + (δ/2)] Sin (d/2)|(7)Thus we find the brightness is modulated by a sine factor of the phase. The brightness on the monitor is maximumFig. 7 : Fiber Optic Shearography systemwhen δ = (2m +1)π and zero when δ = 2m π, which producesa fringe pattern on the monitor. The phase change δ is given by equation [4], the same as in holography. Figure 5 shows such an interferogram obtained by ESPI with a plate subjected to four-point bending, from which the Poisson’s ratio of the material of the plate could be calculated directlyfrom the smaller angle between the asymptotes of the hyperbolic fringes [8]. Figure 6(a) shows the delamination between two plates bonded together, while Fig. 6(b) shows a longitudinal crack in a weldments [9].4. Shearography In Shearography, we generate correlation fringes which are contours of constant slope of the out-of-plane displacement of an object under study . In this technique, one speckle field is made to interfere with the same speckle field, but sheared with respect to it. The subtractive correlation of the speckle patterns of the deformed and undeformed yields the derivatives of the displacement profile. Figure 7 shows the schematic of a fiber optic Shearography system. A double image of the laser illuminated object is made on the CCD camera. A small shear is introduced between the two images by tilting one of the mirrors. Incorporation of fiber optics makes the system very compactand the technique applicable to objects at inaccessible locations. Shearography is a very useful tool in experimental stress analysis and NDT as well. With the use of phase shifting techniques, the fringe patterns can also be automatically processed by the computer to obtainquantitative 3-dimensional plots . Figure 8 shows the results of an NDT application of Shearography to detect delamination in glass fiber reinforcedplastic (GFRP). The GFRP specimens were prepared withunidirectional glass fiber mat and epoxy resin with and without programmed defects. The defects were introduced by placing a thin Teflon film of 10 mm diameter and thickness 0.23mm between the layers of glass fiber mat during the lamination. Four layers of Glass fiber mat were used to make the laminate. The specimens were made in the form of circular diaphragm. The diaphragm was clamped along the edgesanFig. 8 : Slope fringes obtained on a circular GFRP specimen which was (a) Defect free (b) Having a programmed delaminationloaded mechanically at the center. The optical configuration of Fig. 8 was used, which is sensitive to the slope of the out- of-plane displacement. Figure 8(a) shows the fringes obtained with a defect-free specimen, while Fig. 8(b) shows the fringeswhen a delamination was introduced between the third and fourth layers. The defect site could be easily seen as a localized fringe. 全息无损检测主要还是采用全息干涉计量技术的三种方法进行,即实时全息干涉法,两次曝光全息法和时间平均全息干涉法。

光栅大错位数字散斑干涉系统及其应用研究

光栅大错位数字散斑干涉系统及其应用研究

光栅大错位数字散斑干涉系统及其应用研究
谢蒙萌;杨勇;姜锦虎;陶宝祺
【期刊名称】《力学季刊》
【年(卷),期】2000(21)2
【摘要】本文用统计光学理论简要阐述了大错位数字散斑干涉的原理及特点,并在此基础上首次提出利用光栅作为错位元件的光栅大错位数字散斑干涉。

该方法具有与全息干涉计量相同的灵敏度,光路简单,结构紧凑,波像差小,防震要求低等特点。

文中对该方法进行了详细的原理分析与介绍,利用其对典型试件受均布载荷下的离面位移场进行测量,通过理论值与实验结果的比较,表明该方法的可行性。

该方法拓宽了散斑干涉技术的适用范围,为实际生产中的物体离面位移测量提供了新的手段。

【总页数】5页(P225-229)
【关键词】大错位;数字散斑;光栅;干涉系统
【作者】谢蒙萌;杨勇;姜锦虎;陶宝祺
【作者单位】南京航空航天大学;苏州大学物理科学与技术学院
【正文语种】中文
【中图分类】O348.1
【相关文献】
1.基于光栅大错位数字散斑干涉的无损检测技术 [J], 谢蒙萌;陶宝祺;姜锦虎
2.基于方棱镜的大错位电子散斑干涉形貌测量技术 [J], 孙平;于立国;高秀梅
3.一种可实现电子散斑干涉的新型大错位方棱镜 [J], 刘瑞金;孙平
4.大错位量散斑干涉法测量残余应力 [J], 乌时毅;秦玉文
5.光栅大错位数字散斑干涉仪 [J], 谢蒙萌;络英;黄睿;姜锦虎
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关于数字散斑相关技术在工程测量中的运用的文献综述

关于数字散斑相关技术在工程测量中的运用的文献综述

关于数字散斑相关技术在工程测量中的运用的文献综述第一篇:关于数字散斑相关技术在工程测量中的运用的文献综述苏州大学本科生毕业设计(论文)关于数字散斑相关技术在工程测量中的运用的文献综述数字散斑相关方法(DSCM),是起源于20世纪80年代初的一种光学测量方法,是对全场位移和应变进行量化分析的一种光测实验力学方法,其基理是通过分析试件变形前后表面散斑图的变化,来获得位移和应变场。

与传统的光测方法相比,数字散斑相关方法具有如下优点:光路简单,不需要特殊的光学仪器,可以使用白光做光源:对测试环境要求低,受外界影响小,便于实现工程现场应用;测量范围和灵敏度可以自由变化,可以适用于从微观到宏观、从大变形到微变形的测量;具有非接触性、无损测试的特点;数据处理自动化程度高。

但是目前的DSCM方法在位移、应变测量精度以及数据处理速度上还存在许多不足,在一些工程测量应用中受到限制。

另外,大部分的科研人员选择MATLAB或面向过程语言Fortran、C等编写相关计算程序,并且由于没有足够的软件开发经验,因此所开发出的程序可读性差、难以移植、难以维护和扩展,使得他们的成果不能很好的被重复利用。

自 DSCM 方法提出以来,国内外许多学者在这一方法的研究上做了大量的工作。

1983年Peters首先应用数字散斑相关方法进行了刚体位移测量方面的研究。

同年M.A.Sutton又对相关搜索的方法进行了改进,利用粗相关与细相关相结合的方法提高了计算的速度,但这时的结果只有位移分量。

T.C.Chu和Ranson等人对数字散斑相关方法的精度进行了研究,完善了这种测试方法的理论。

M:A Sutton等人又从理论上分析了亚象素恢复过程所带来的测量误差,提出了亚象素恢复等合理方法.1989年ussel把数字散斑相关方法用在复合材料的应变测试上,测出裂纹的二维应变场。

同年Bruck等采用基于二元三次样条插值亚象素重构Newton-raphson迭代算法求解数字相关问题,使数字散斑相关方法有了重大改进,提高了搜索速度和精度,使数字相关方法的理论更加完善。

电子散斑干涉法在结构内部缺陷检测中的应用研究的开题报告

电子散斑干涉法在结构内部缺陷检测中的应用研究的开题报告

电子散斑干涉法在结构内部缺陷检测中的应用研究的开题报告一、研究背景电子散斑干涉法是一种高分辨率、非接触性的测试方法,广泛应用于材料科学的组织结构分析、缺陷检测等领域。

近年来,电子散斑干涉法已经成为纳米材料和半导体微电子器件制造过程中不可替代的工具之一。

在材料科学领域,电子散斑干涉法可以用于评估材料内部缺陷的尺寸、形状和分布等参数。

例如,通过观察来自不同角度的电子散射图案,可以获得材料内部缺陷的三维形态,从而评估其对材料物理性质、力学性能等的影响。

在半导体微电子器件制造过程中,电子散斑干涉法可以帮助检测器件中的结构缺陷,例如晶体缺陷、晶界、氧化物、金属杂质等。

这些缺陷可能会导致电子设备的故障或性能下降,因此及早检测和处理缺陷对于提高设备质量和延长使用寿命至关重要。

二、研究目的本研究旨在探讨电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中的应用,具体包括以下方面:1. 探究电子散斑干涉法的基本原理和测试方法2. 研究电子散斑干涉法在材料结构中缺陷检测中的应用现状3. 分析电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中存在的问题4. 提出改进的方法和手段,优化电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中的应用效果三、研究内容和方法本研究将采用文献综述和实验研究相结合的方法,分为以下三个步骤:1. 文献综述通过搜集和分析相关文献,探究电子散斑干涉法的基本原理和测试方法,研究电子散斑干涉法在材料结构中缺陷检测中的应用现状,并分析电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中存在的问题。

2. 实验研究选取有代表性的材料样品,利用透射电子显微镜进行实验,观察并记录样品不同位置处的电子散射图案,利用散斑干涉法对样品结构中的缺陷进行检测,对结果进行分析和总结。

3. 结果总结在实验数据和文献综述的基础上,提出改进的方法和手段,优化电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中的应用效果。

最后,对本研究的实验和结论进行总结和评估。

四、研究意义本研究将有助于深入理解电子散斑干涉法的基本原理和测试方法,探索其在结构缺陷检测中的应用,为提高材料科学及微电子器件制造过程中结构缺陷检测技术的水平提供有益的借鉴和参考。

数字散斑

数字散斑

谢谢!
由于转角产生的参考相位的改变x·4πtanθ/λ, 由于转角产生的参考相位的改变x·4πtanθ/λ, 前 后两次所得到的散斑图相减或相加就可以得到 载波条纹图。 考虑到被探测器接收到是离散化的信号, 考虑到被探测器接收到是离散化的信号,载波条 纹又可表示为I(i,j)=a(i,j)+b(i,j)cos[ω i+φ(i,j)],其中 纹又可表示为I(i,j)=a(i,j)+b(i,j)cos[ωci+φ(i,j)],其中 (i,j)表示像素位置;ω =4πtanθ/λ。 (i,j)表示像素位置;ωc=4πtanθ/λ。
假设任意相邻三个像素(M假设任意相邻三个像素(M-1,N), (M, N) 和(M+1, N)满足: N)满足: 则有:
将ωcM +φM看作未知位相,ωc作为相移步长,采用普通的三步相移算法可以计算 看作未知位相,ω 作为相移步长, 出ωcM +φM。设ωc=π/2 。设ω
由于运用空间载波相移法进行动态位相测试时,计算简单, 由于运用空间载波相移法进行动态位相测试时,计算简单,已经逐步引起研究者 的重视。但这种方法需假设被处理的若干相邻像素的位相相等, 的重视。但这种方法需假设被处理的若干相邻像素的位相相等,这样就会导致空间 分辨力下降和误差的产生。据此中国科技大学提出了一种减小位相测量误差的方 法,即:①采用二次曲线表示相邻若干像素的位相关系;②将位相的线性项和二次项表 采用二次曲线表示相邻若干像素的位相关系; 示成相移量误差的形式; 通过选择对相移量误差不敏感的算法, 示成相移量误差的形式;③通过选择对相移量误差不敏感的算法,除位相的线性和二 次项的影响, 次项的影响,提高测量精度。 空间载波相移法通过一系列的改进可以达到较高的测量精度, 空间载波相移法通过一系列的改进可以达到较高的测量精度,该方法以其能进 行动态位相测量、载波条纹图处理简单和潜在的高测量精度必将得到更广泛的应 用。

现代检测技术论文

现代检测技术论文

现代检测技术论文题目:数字激光散斑干涉测量技术学院:机械工程学院专业:机械设计制造及其自动化年级:姓名:指导教师:完成日期:数字激光散斑干涉测量技术摘要:散斑是一种普遍存在的光学现象,以激光散斑特性为基础而发展起来的激光散斑测量技术,具有全场、非接触、测量速度快、系统设备不繁杂、被测对象范围较大、抵抗环境干扰能力较强等特点,在现代光学测量领域中充分发挥着作用,逐渐成为一门独立且有效的测量技术分支。

随着自动化技术水平的日益提高,为了更好的满足高精度在线测量的工程要求,机械加工领域中的激光散斑测量方法不断推陈出新,在材料结构的应力应变测量领域,一个研究的热点问题就是如何确定被测物体受到外力或者振动加载时的微小形变量。

在众多测量方法中,数字散斑干涉法以其高精度、快速、无接触的特点备受关注。

数字散斑干涉测量技术将激光散斑和数字图像处理技术相结合,利用CCD将散斑干涉图直接以数字图像的方式记录下来,通过计算机对待测物体形变前后的散斑干涉图像进行一系列处理,可以得到由形变引起的相位变化,最终确定待测物体的形变信息。

同时基于计算机视觉的数字图像相关方法近年来以其系统简单、实时性好、容易操作等优点,在应力应变测量领域得到广泛关注及应用。

其基本原理是根据待测物表面的起伏特征引起的图像强度分布,来实现形变前后的待测物体点对点匹配,从而可以确定待测物体的形变信息。

由于与干涉方法有着本质不同,其测量范围相对较大,但精度较低,在一些微小形变测量中难以体现其优势。

本文由数字散斑干涉测量法和数字图像相关测量法在形变测量中的基本原理逐步展开研究,系统分析了两者在三维形变测量中的优势和缺点。

并建立了一种结合DSPI和DIC两种测量方法的三维形变测量系统,而且对其进行了实验验证。

全文的主要内容如下:1)介绍了数字散斑干涉测量方法和数字图像相关测量方法的基本原理和系统,并且对这两种方法在三维测量中的缺点及引入误差的原因作了分析;2)提出了一种结合DSPI和DIC两种方法的三维形变测量系统,基于此系统设计实验,搭建光路,对圆形金属磨砂铝板进行三维形变测量,并且结合实验分析了此测量系统的优点;关键词:数字散斑干涉;数字图像;三维形变测量;相关测量Digital laser speckle interferometry techniqueAbstract:Laser speckle is a ubiquitous statistical optics phenomenon. Playing a significant role in modern optical measurements, the method of laser speckle possesses many advantages, such as whole field, non-contact, high response speed, simple optical arrangement and low environmental factors requirements.To meet the high accuracy need in on-line measurement, a large amount of laser specklemeasurements come into being. The deformation measurement has become a hot point in research of measurement.Many researches about the 3D deformation measurement using optics methods have beendone in the past decades. Digital Speckle Pattern Interferometry(DSPI)and Digital Image Correlation(DIC)are two whole-field , non-contact experimental techniques that enable rapid and highly accurate 3-D measurements of deformation. DSPI system needs a phase-shifting setup and rotating the whole device for 3-D deformation measurement. These operations are especially inconvenient to data acquisition of deformations in three directions simultaneously and increase the system deviation. DIC system using one CCD camera can acquire 2-D information of displacement. Another CCD camera is demanded to record speckle image simultaneously for 3-D measurement. The matching of images recorded by two CCD cameras may introduce extra deviation.The combination of the two techniques is an effective method to diminish these deviations and simplify experiments. DSPI setup for out-plane measurement and DIC setup using one CCD camera for in-plane measurement constitute one measurement system. Three dimensions information of deformation can be recorded simultaneously.The main contents of this paper are described as following:1)A review of the DSPI and DIC method for deformation measurement is presented.Both potentials and limitation of the two methods are listed.2) Combination DSPI and DIC for 3D deformation measurement is proposed. The experiment of measuring an aluminium sheet is designed to confirm the advantages of this measurement system. Keywords: Digital SpecklePattern Interferometry;Digital Image;Correlation method;3Ddeformation measurement.目录1 论文的研究背景和意义 (1)2 数字散斑干涉技术的发展和现状 (2)3 数字散斑干涉测量技术 (3)3.1 激光散斑现象及其成因 (4)3.1.1 散斑现象 (4)3.1.2激光散斑特点 (4)3.2 数字散斑干涉测量原理 (5)3.2.1 离面位移测量原理 (5)3.2.2 面内位移测量原理 (6)4 散斑干涉图处理方法 (8)4.1 线性处理模式 (8)4.2 相关处理模式 (9)4.3 散斑条纹图预处理方法 (9)4.3.1 增强对比度 (10)4.3.2 滤波祛噪 (11)5 结合DSPI与DIC的三维形变测量 (12)5.1 基于散斑的两种三维形变测量系统 (12)5.1.1 DSPI三维形变测量系统 (12)5.1.2 DIC三维形变测量系统 (14)5.1.3影响DSPI 和DIC 测量精度的因素 (15)5.2 结合DSPI 和DIC 的三维形变测量系统 (15)5.2.1 系统光路设计 (15)6 总结 (16)参考文献 (17)1 论文的研究背景和意义数字散斑照相术是光学测量技术的一个重要分支,它是在激光技术、全息技术、视频技术、电子技术、信息与图像处理技术、计算机技术与精密测试技术基础上发展起来的。

基于动态散斑干涉的数字全息成像技术研究

基于动态散斑干涉的数字全息成像技术研究

基于动态散斑干涉的数字全息成像技术研究
陈健兵;葛磊;文永富
【期刊名称】《影像科学与光化学》
【年(卷),期】2022(40)4
【摘要】基于干涉测量原理的定量相位显微镜(QPM)在生物医学成像领域中得到了重要应用,在QPM中使用传统光源(如白光和激光)干涉的理论非常成熟。

最近,在QPM中使用动态散斑照明(DSI)因其具备优于传统光源的优势而备受关注。

本文基于DSI搭建了两套离轴全息成像系统(DSI-DHM),分别对USAF1951(表面镀铑高度为110 nm)标准分辨率版和人体红细胞进行了相位成像,实验结果初步验证了基于DSI数字全息系统具有高时间相干性与较低的空间相干性、高空间相位灵敏度、可扩展的视场和分辨率等优势。

【总页数】7页(P697-703)
【作者】陈健兵;葛磊;文永富
【作者单位】江西高瑞光电股份有限公司;北京理工大学光电学院
【正文语种】中文
【中图分类】O43
【相关文献】
1.激光全息/错位散斑/剪切干涉轮胎无损检测系统应用及全息气泡原因分析和解决措施
2.动态全息和散斑干涉技术研究薄板在横向冲击下的变形
3.数字散斑干涉三
维变形测量技术研究进展4.全息-散斑干涉术系统几何参量对干涉场的影响5.电子散斑干涉和Video全息干涉
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文献综述的引言

文献综述的引言

基于激光散斑法评估金属表面状态摘要本文介绍了当前激光散斑技术的一些比较成熟的应用领域、现今的一些表面分析技术和激光散斑法对金属表面状态的分析,基于前人的研究启发提出了评估表面状态的标尺猜想,给出了新标尺的详细内容和设计到的参数,并设计了对比实验,对猜想进行了实验论证。

散斑干涉法是 70 年代发展起来的一种方法,它具有非接触和无损的优点,可用于实物测量。

由于测量灵敏度高、设备简单, 根据所采用的分析技术可以给出逐点和全场信息, 因而近年来得到了广泛应用,然而激光散斑技术在表面分析领域中尚未有全面深入的研究。

由于反射光的强度取决于表面的几何微观结构和颜色,所以表面的任何变化将导致不同的散斑图像。

在此基础上,分析激光散斑图像的参数,结合表面粗糙度,综合评定金属表面状态。

本论文的核心部分是以激光清洗的涂漆金属表面为实验样品,基于激光散斑法评估样品的激光清洗部分的表面状态。

涉及实验所需样品的制作都详细地做了介绍,实验部分有条不紊的进行着。

本次研究还设计了一款图像分析软件,为了得到所需的散斑图像参数,选择matlab软件分析处理实验获得的散斑图像。

本次研究为探究性研究,样品的制作、实验设备的局限、散斑图像的获取、参数的分析都直接关系到实验的结果。

基于激光散斑法评估金属表面状态的研究为激光加工的在线检测等技术提供有力支持,同时对论文提出的新标尺理论进行了探究。

关键词:激光散斑金属表面状态散斑分析Based on laser speckle method evaluating the metal surfaceAbstractThis paper introduces the laser speckle technique application fields of some of the more mature, and some of the surface analysis techniques at now and analysising of the state of the metal surface by laser speckle method. Evaluation was developed based on the predecessors' research inspired surface state of scale,gives a new scale to the parameters of the detailed content and design, and designed a contrast experiment, has carried on the experiment to confirmed guess. Speckle interferometry is a method developed in the 70 s, it has the advantages of non-contact and non-destructive, can be used in the actual measurement. Due to the measurement of high sensitivity, simple equipment, according to the analysis technology can be adopted by the given point and the information, which has wide application, however, laser speckle technique in the field of surface analysis is not yet comprehensive in-depth research.Due to the intensity of the reflected light depends on the geometry of the surface microscopic structure and color, so any changes will lead to different on the surface of the speckle image. On this basis, the analysis of the parameters of laser speckle images, combining with the surface roughness, the comprehensive evaluation of metal surface state. The core part of this paper is a painted metal surface laser cleaning as experimental samples, based on laser speckle method to assess the state of laser cleaning the surface of the part of the sample. Involving the experimental samples needed for production is presented in detail, the experiment part in an orderly way.This study also design a image analysis software, in order to get the parameters of the speckle images, select matlab software analysis experiment of speckle image processing. The study for exploratory research, sample production, the limitations of experimental equipment, speckle image acquisition, the analysis of the parameters are directly related to the results of the experiment. Metal surface is assessed based on laser speckle method of research for the on-line measurement of laser processing technology to provide strong support, at the same timeprovide the basis for new scale theory put forward by the paper. Keywords:laser speckle metal Surface state Speckle analysis1.引言随着现代社会经济的迅猛发展,对精密工件也提出了更高的要求,如何衡量加工工件表面质量,即表面状态的分析是精密工件加工中至关重要的一环。

单检偏器数字散斑干涉偏振相移方法

单检偏器数字散斑干涉偏振相移方法

单检偏器数字散斑干涉偏振相移方法李露; 董明利; 李伟仙; 吴思进【期刊名称】《《激光与红外》》【年(卷),期】2019(049)012【总页数】5页(P1467-1471)【关键词】相移; 偏振; 数字散斑干涉【作者】李露; 董明利; 李伟仙; 吴思进【作者单位】北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院北京 100101【正文语种】中文【中图分类】TH741 引言数字散斑干涉测量技术(Digital Speckle Pattern Interferometry,DSPI)具有高分辨率、全场、非接触等特点,被广泛应用于生物医学、精密机械制造、历史文物分析、航空航天等领域内的应力应变、三维变形、振动等与变形有关的测量中[2-9]。

该方法通常用于粗糙物体表面,通过数字相机采集干涉光强分布信息,计算出物体相位分布,进而得到变形信息。

测量原理表明物体的变形与相位有直接关系,因此相位分布的提取是DSPI的关键技术之一。

相位提取技术可分为时间相移、空间相移和空间载波技术[10-11]。

时间相移因其精度高、实现便捷、价格较相对低廉等优点,在实际应用中被广泛采用。

自1974年Bruning提出将压电陶瓷作为执行器,推动平面镜产生相移后,压电陶瓷作为一种常用器件广泛应用于时间相移技术中[12-13]。

但压电陶瓷本身存在的非线性、蠕变、迟滞等特性,对相移器的精度及稳定性产生一定影响,导致最终的测量误差,因此传统的基于压电陶瓷的相移方法具有局限性[14-15]。

不同于压电陶瓷相移法,偏振相移法具有相移稳定的优点[13,16-21]。

作者曾提出过一种数字散斑干涉时间偏振相移方法,并成功对物体的微小变形进行测量,但该方法中需要两个偏振器件配合旋转。

针对此问题,本文提出了一种简化的、应用于数字散斑干涉技术的偏振相移方法,利用一固定角度波片和一旋转角度偏振片组合成为相移器,并应用于DSPI系统。

理论和实验证明,应用这种偏振相移方法的DSPI系统能够获得较为理想的测试结果。

基于Matlab的数字散斑干涉图像处理

基于Matlab的数字散斑干涉图像处理

基于Matlab的数字散斑干涉图像处理
谭海斌;房诚;王永红
【期刊名称】《安徽建筑工业学院学报(自然科学版)》
【年(卷),期】2010(018)005
【摘要】数字散斑干涉技术(DSPI)是一种高精度的光学测量技术,它适用于物体的形变及位移测量.因为其具有较高的测量精度,所以在航空航天、工业检测和生物医学等精度要求较高的领域都得到了广泛的应用.在数字散斑干涉技术中,条纹图像的处理是十分重要的.本文介绍了利用Matlab对散斑图像进行处理的各种方法和实际效果,包括令两幅图灰度值相减得到条纹图,图像的灰度增强处理,滤波处理,二值化处理和条纹的细化处理,最后提取出较清晰的条纹骨架线,为后续处理工作提供了基础.
【总页数】4页(P43-46)
【作者】谭海斌;房诚;王永红
【作者单位】合肥工业大学,仪器科学与光电工程学院,合肥,230009;合肥工业大学,仪器科学与光电工程学院,合肥,230009;合肥工业大学,仪器科学与光电工程学院,合肥,230009
【正文语种】中文
【中图分类】TN247
【相关文献】
1.基于Matlab的散斑干涉分析及应用 [J], 王凤鹏;曾祥志
2.基于同态滤波的电子散斑干涉图像处理 [J], 顾国庆;王开福;燕新九
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数字散斑干涉振动测量技术研究进展摘要:数字散斑干涉技术(DSPI)是一种光学测试方法,具有非接触、高灵敏度、全场、实时、无损检测的特点,在振动测量方面有着较大的优势。

本文从图像处理、相移技术等方面阐述了数字散斑干涉振动测量的发展现状,并对其中的关键技术进行了比较和分析。

关键词:数字散斑干涉,振动测量,数字图像处理,相移技术Research Progress on V ibration Measurement Using Digital SpecklePattern InterferometryAbstract:Digital speckle pattern interferometry (DSPI) is an optical testing and measuring method,a non-contact, high-sensitivity, full-field, real-time, non-destructive one, which has an advantage in vibration analysis. This paper introduces the recent progress on DSPI vibration measurement from aspects of digital image processing and phase shifting, also compares and analyzes their key technologies.Keywords:Digital speckle pattern interferometry; Vibration measurement; Digital image processing; Phase shifting0 引言散斑计量技术是现代光测力学技术中的一种。

它具有非接触、无损、全场、高精度、实时测量的特点,在轮廓、应变、位移和振动测量方面有着广泛的应用前景[1]。

目前广泛采用的振动测试技术,包括加速度传感器、应变式传感器等,由于均为单点测量,且会为结构带来附加质量,从而对振动产生影响,无法应用于微小振动测量。

数字散斑干涉振动测量技术可以直接显示被测表面的模态振型,并且对环境稳定性的要求低于全息干涉方法[2],这一系列优势使数字散斑干涉法成为激光测振技术中的一个重要分支。

采用激光散斑来研究振动测量的方法,最先由Massey于1968年开始进行研究。

随后发展起来的散斑剪切干涉法[3],从而实现了对振动中形变的导数进行测量。

在最初的散斑计量技术中,用于记录散斑条纹图的介质为全息干板。

此后,随着电子技术的发展,出现了采用磁带记录散斑图的测量方法,即电子散斑测量技术,最初于20世纪70年代初由J.N.Butters和J.A.Leendertz提出。

在80年代,S.Nakadate等将数字图像处理技术引入散斑计量技术[4]。

近年来,随着CCD和计算机图像处理技术的发展,数字散斑测量技术成为散斑计量的主要方式,并逐步淘汰了电子散斑技术和传统的干板记录方式。

但在许多情况下,仍可将数字散斑技术与电子散斑技术统称为电子散斑技术。

数字散斑干涉计量技术可以实现散斑图的相减,并能够在计算机的辅助下进行滤波处理,提高了图像质量和信噪比,从而使测量精度和准确性有明显的改善。

1 数字散斑干涉振动测量概述1.1 散斑干涉技术散斑是相干光波照射粗糙表面时,所形成的散射子波相互发生干涉而产生的随机分布斑点现象。

表面的位移、形变等变化会相应地反映为散斑分布的变化。

数字散斑干涉技术是利用参考光波与被测物体自身的散射子波之间的干涉效应进行的测试技术。

在平板的振动测试中,采用对物体离面位移敏感的测量系统,其光路类似于迈克尔逊干涉仪。

通过记录物体静止状态与振动状态下的多幅散斑图像,可经过滤波得到代表全场振幅分布的条纹图像。

数字散斑干涉采用数字元件,将所记录的散斑干涉条纹图转换为数字图像,存储于计算机中,进行后续运算及处理,从而使测试过程实现了数字化、自动化,提高了测量准确度和精度,并且实现了对结果的直观解释[5]。

1.2 时间平均法在振动测量中,数字散斑干涉技术常用的方法包括双曝光散斑干涉和时间平均法。

时间平均法是目前最常用的全场分析方法,它使用较方便,便于仪器化,常用于静态或准静态过程测量,经改进可应用于离面稳态振动[6],通过采用贝塞尔条纹准相移技术,引入和物体同频率的偏置参考振动。

当参考振动的相位改变时,振动条纹产生移动,相当于静态余弦条纹的相移,从而采用相移算法对散斑振动测量的贝塞尔条纹进行定量分析。

由于贝塞尔函数具有随振幅增大而迅速衰减的特性,使得条纹质量较低,且不能得到某个特定相位下的振幅分布。

材料中孔和开口是构件的薄弱部位,同时又常是工程中的重要结构,数字散斑干涉振动测量技术可应用于此类结构的无损检测和受载下工作状况分析[7],以方形孔板为例,用不同频率对孔板进行激振,采用时间平均法进行分析,从而由CCD记录的散斑条纹得到孔板在不同频率下的振型、振幅分布、相位分布信息,实现动态测量。

类似的方法还应用于微型超声电机定子振型的测量[8],实现微小振幅、高频率、非接触的振动测量。

1.3 双脉冲散斑干涉技术双脉冲或频闪散斑干涉测量[9]建立于脉冲激光系统的基础之上,它的原理与空间载波散斑干涉技术相似。

这一测量技术的发展填补了传统连续激光器在测量中的若干缺陷,如能量不足达不到测量要求,或因连续发光产生过大能量烧坏被测面。

双脉冲或多脉冲激光器在物体的瞬态振动测量中具有较大的优势。

双脉冲散斑干涉技术采用激光器的两次脉冲,产生前后两幅散斑干涉图像。

图像通过CCD分别记录,进行相减运算得到条纹图,利用空间载波相移技术进行分析可得到被测物体在两个脉冲之间的瞬时振动图像。

频闪数字散斑干涉技术可用于微机电系统(MEMS)的振动分析[10],采用脉冲激光进行频闪照明的相位分析法,方便进行定量分析。

并且由于频闪法中CCD只接收了很小一部分激光能量,它在微型系统的测试中有着较大优势。

1.4 数字散斑干涉技术展望双曝光法和时间平均法散斑干涉都能应用于振动测量,可实现被测物体振型的直接显示和节线的判读[11]。

两种方法各有不同的优势。

时间平均法由于实现简便,为目前最常用的散斑干涉测振方法,但此法要求被测物体必须是稳态振动[12]。

第一代数字散斑振动测量系统采用的是人工判读贝塞尔条纹级数方法,由于所记录的时间平均散斑图对比度要远低于全息干涉术中所得的散斑图[13],对振幅进行定量分析是困难的,数字散斑术的图像质量较低主要是受到记录介质(CCD)有限分辨率的影响[14]。

因此最初散斑干涉振动测量技术被看作全息术的一个补充。

相移解调技术的应用,使得定量分析振幅成为可能。

散斑干涉的大振幅测量法测量下限为120nm。

采用特定的算法可以对更小量级的振动进行测量[15]。

虽然尚未得到广泛的应用,但数字散斑测振技术的发展日渐趋于小型化、集成化和一体化,并向着工业现场实用化的方向发展,如福特汽车曾采用数字散斑干涉技术实现了对汽车模型振动的模态振型测量[16]。

另外,信号处理过程向着全面、信息化方向发展,数字图像处理技术的发展、计算机技术的引入使得后续信号处理逐渐实现自动化和实时化,提高了测量结果的准确程度。

2数字图像处理技术的发展由于数字散斑干涉图上乘性噪声的存在,为减小测量误差,需对干涉条纹图进行图像增强操作,即滤波处理。

传统滤波方法包括空域平滑滤波和频域低通滤波。

散斑条纹图具有灰度沿一定方向分布的特点,在传统方法的基础上进行改进可得到针对条纹图特点的滤波方法[17]。

旋滤波法[18]的基本思想是在灰度等值线上进行低通滤波,可以消除较多的散斑噪声而同时保留条纹特征不受损,但同时也存在切线方向判断不够准确等缺陷。

同态滤波法[19]采用取对数的方法,将乘性噪声转为加性噪声。

主要做法是对载波条纹图取对数后进行傅里叶变换,对变换后图像进行滤波,略去低频和高频成分,得到包含载波信息的成分,再进行傅里叶逆变换和取指数。

带通滤波是其中的一个关键步骤。

曲线大窗口滤波法[20]是针对旋滤波方法的缺陷提出的,主要思想是在减模式条纹图上通过曲线拟合,对条纹方向进行跟踪得到等值线和曲线大窗口,再在窗口内进行均值滤波。

采用此法可较好地在消除噪声的同时,减小对条纹结构的损害。

3 相移干涉技术的发展相位检测技术通过使光波的相位按一定规律,进行连续变化或步进变化,并采集不同相位下的散斑条纹图,从而对被测表面的相位信息进行分析和测量。

相移干涉法根据引入相移的方式,可分为时间相移和空间相移干涉两大类。

时间相移干涉法常通过移动光路中的反射镜来产生一定的相位差值。

目前最常使用的相移装置是压电陶瓷。

在散斑干涉计量技术中,三步和四步相移算法应用较为广泛。

空间相移干涉法中,引入连续相移的空间载波法测量方便,且适用于动态测量。

载波常由倾斜参考光波的方式引入。

无论是三步还是四步相移算法,空间载波法都只需一幅干涉条纹图即可完成对相位信息的提取工作,具有很大的优势。

空间载波技术[21][22]又称作连续空间相移干涉法,是采用载波技术进行相位提取的处理方法。

通过对一幅载波图进行条纹的空间逐点处理,从而获得相位信息,实现动态测量。

由于引入了载波,可通过相位图的正负判断振动方向。

将参考面旋转一个小角度的方式产生参考相位,前后两次所得散斑图经过相减或相加运算可得到载波条纹图。

由于此法需建立在相邻的若干像素相位相等的假设上,造成分辨率下降和测量误差增大。

由于此法具有简单性和实用性,被应用于双脉冲散斑干涉测量中。

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