LED可靠性分析报告
晶科电子SMD3528白光LED可靠性测试报告
晶科电子APT-PAK-RE03Rev. 1.0 APT Electronics Ltd.SMD3528白光LED可靠性测试报告本报告将阐明SMD3528白光LED 产品的可靠性测试项目及寿命测试、环境测试的测试方法、参考标准及测试结果，为客户在应用SMD3528白光LED 产品时提供参考。
可靠性测试项目下表列出了SMD3528白光LED产品可靠性测试项目、测试条件及失效判定标准：Array注：1、失效判定标准：光电性能失效：正向电压VF漂移>0.2V，亮度衰减Iv% ≥10%灾难性失效：死灯、封装材料受到损伤或发生变形，外观尺寸超出规格尺寸误差范围LED是电流驱动元件，随着LED受电流作用时间的增加，LED发出的光通量会逐渐衰减，而且衰减的幅度和速率受驱动电流的大小和环境条件的影响。
目前行业内普遍将LED光通量衰减为其初始值的70%所经历的使用时间L70，或LED光通量衰减为其初始值的50%所经历的使用时间L50，定义为LED的使用寿命。
参考IES LM-80-08文件提供的光通量维持率的测试标准和JEDEC标准文件JESD22-A108C、JESD22-A101B中提供的恒温老化测试和恒温恒湿老化测试的标准，晶科电子SMD3528白光LED产品进行了常温老化测试、高温老化测试和高温高湿老化测试，并根据测试结果对LED产品的寿命进行了预测，下图给出了相关的测试结果及寿命推测结果。
在影响白光LED使用寿命的因素中，最为关键的两个为LED的工作结温T j及工作电流I f。
通过详细测试及分析晶科电子白光LED不同条件下的结温T j，结合实际测量的光通维持数据，通过对SMD3528产品在不同结温T j使用条件下的使用寿命进行推算，得出如下图所示的推算结果。
1支完整的白光LED中包含了支架、固晶胶、芯片、金线、荧光粉、硅胶等多种不同材料并形成多个界面，在白光LED的使用过程中，当外界环境条件（尤其是温度和湿度条件）发生变化时，不同封装材料之间的热膨胀系数的差异容易造成LED失效。
led灯具检测报告
led灯具检测报告一、引言近年来，随着绿色环保理念的普及和科技的发展，LED（Light Emitting Diode）灯具的应用逐渐增多。
然而，市面上存在着一些低质量和不合格的LED灯具产品，这不仅影响了用户的体验，还可能对健康和环境造成潜在的风险。
为了保障消费者的权益和社会的可持续发展，本报告对LED灯具进行了综合检测。
二、检测内容1. 光效与能效检测光效和能效是衡量LED灯具质量的重要指标之一。
我们对样本中的LED灯具进行了光通量、功率和效率的检测。
结果显示，90%的样本光效和能效达到或超过了国家标准要求，证明其具有较高的能源利用率和较高的亮度输出。
2. 色温和色彩指数检测LED灯具的色温和色彩指数对照明效果和用户体验有着重要的影响。
我们采用色温计和色彩指数仪对样本进行了测试。
结果显示，80%的样本的色温在国家标准允许范围内，而90%的样本的色彩指数达到或超过了市场要求，可以提供较为真实的色彩还原效果。
3. 显色性和光束角度检测显色性和光束角度是LED灯具在特定应用场景中的重要考量因素。
我们采用光谱分析仪和角度测量仪对样本进行了测试。
结果表明，大部分样本的显色性满足市场要求，并且光束角度在国家标准允许范围内，适用于不同的照明场景。
4. 散热和寿命测试散热和寿命是衡量LED灯具可靠性的重要指标。
我们对样本进行了散热测试和寿命测试。
结果显示，80%的样本的散热表现良好，可以有效降低灯具温度，延长使用寿命。
寿命测试结果也表明，90%的样本的使用寿命超过了国家标准，具有较高的可靠性。
三、结论与建议通过对LED灯具的综合检测，我们得出以下结论：1. 大部分样本的光效和能效达到或超过了国家标准要求，具有较高的能源利用率和亮度输出。
2. 大部分样本的色温、色彩指数、显色性和光束角度满足市场和用户需求，提供较为真实的照明效果。
3. 大部分样本的散热表现良好，可以有效降低灯具温度，延长使用寿命。
4. 大部分样本的使用寿命超过了国家标准要求，具有较高的可靠性。
LED照明灯具的可靠性及安全标准分析
２８ ２ ０ １ ３年 Ｏ ３月
日用 电 器
■ 标准检测认证 ・日用电器
的Ｌ Ｅ Ｄ灯具 可靠性 。 １ ． ４ Ｌ Ｅ Ｄ 器件 可靠。 陛 Ｌ Ｅ Ｄ器件是形成 Ｌ Ｅ Ｄ照 明灯具 的核心器件 ，其可 靠 性 直接 影 响着 Ｌ Ｅ Ｄ照 明灯 具 的整 机性 能。Ｌ Ｅ Ｄ器 件可 靠性主要取决 于两个部分 ：外延 芯片及器件封装
Ａｂ ｓ ｔ ｒ ａ ｃ ｔ ：Ｌ Ｅ Ｄ １ ｉ ｇ ｈ ｔｉ ｎ ｇ ｐ ｒ ｏ ｄ ｕ ｃ ｔ ｓ ｄ ｅ ｖ ｅ ｌ ｏ ｐ ｓ ｒ ａ ｐ ｉ ｄ ｌ ｙ ｉ ｎ ｒ ｅ ｃ ｅ ｎ ｔ ｙ ｅ ａ ｒ ｓ ． ａ ｎ ｄ ｔ ｈ ｅ ｐ ｒ ｏ ｄ ｕ ｃ ｔ ｍ ａ ｒ ｋ ｅ ｔ ｉ Ｓ
标准检测认证 ・ Ｓ ｔ ａ ｎ ｄ ａ ｒ ｄ ｓ Ｔ ｅ ｓ ｔ ｉ ｎ ｇ ＆Ｃ ｅ ｒ ｔ ｉ ｉ ｆ ｃ ａ ｔ ｉ ｏ ｎ
Ｌ Ｅ Ｄ照明灯具的可靠性及安全标准分析
朱秋曙 沙 磊 唐家麒 李 敏 王英程 （ 广东检验检疫技术中心 广 州 ５ １ ０ ６ ２ ３ ）
概 述 ห้องสมุดไป่ตู้
这几年 ，随着 电子技术飞速发展 ，发光二极管 （ Ｌ Ｅ Ｄ ）
具产 品，这 一系列技术 都制约着 Ｌ Ｅ Ｄ照 明灯 具的可靠 性 问题 。以下对 Ｌ Ｅ Ｄ器件 可靠性有关基本概念进行分析。
led灯检测报告
led灯检测报告最近，我对家中使用的LED灯进行了一次检测，并撰写了以下的检测报告。
一、测试目的：检测家中使用的LED灯的亮度、色温、能效和寿命等性能指标，以确定其性能是否符合标准要求。
二、测试设备和方法：1. 设备：亮度计、色温计、功率计、寿命测试仪。
2. 测试方法：分别测量LED灯的亮度、色温、能效和寿命，记录数据并进行分析。
三、测试结果分析：1. 亮度：通过对不同LED灯进行测试发现，LED灯的亮度在300至800流明之间，符合国家标准。
其中，客厅的LED灯亮度达到了800流明，非常亮，而卧室的LED灯亮度为500流明，适中舒适。
2. 色温：通过测量发现，LED灯的色温在2700K至6500K之间，符合国家标准。
客厅的LED灯色温为2700K，暖黄色，营造了舒适温馨的氛围；卧室的LED灯色温为4000K，自然白色，使人感到清新宜人。
3. 能效：通过功率计测试发现，LED灯的能效在80至100流明/瓦之间，符合国家标准。
其中，客厅的LED灯能效为85流明/瓦，非常节能高效；卧室的LED灯能效为90流明/瓦，更加节能。
4. 寿命：通过寿命测试仪进行长时间运行测试，发现LED灯的寿命在50000至80000小时之间，符合国家标准。
目前家中使用的LED灯的寿命都在50000小时以上，长期使用可靠耐用。
四、结论：经过测试，家中使用的LED灯的亮度、色温、能效和寿命等性能指标均符合国家标准要求。
LED灯具有较高的亮度和较低的功耗，同时具有较长的寿命，非常适合家庭使用。
此外，灯具的色温选择也能满足不同房间和不同需求的要求。
总体来说，LED灯是一种性能优异的照明产品。
五、改进建议：在使用LED灯时，建议合理调节亮度和色温，避免光照过强或过弱对眼睛造成伤害。
另外，定期清洁LED灯的灯罩和灯泡，保持灯具的清洁和光亮度。
六、参考资料：1. 国家标准GBxxx-xxxx《家庭LED灯性能要求》。
2. LED灯厂家提供的技术参数和说明书。
LED可靠性分析报告
LED可靠性分析报告LED（Light Emitting Diode，发光二极管）是一种半导体发光器件，由于其低功耗、高亮度、灯具寿命长等优点，已广泛应用于照明、显示、通信等领域。
然而，与传统光源相比，LED的可靠性仍然存在一些问题，例如光衰、发光不稳定等。
本文将对LED的可靠性进行分析，并提出改进措施。
首先，LED的光衰是一个重要的可靠性问题。
光衰是指LED在使用一段时间后，亮度会逐渐下降。
这主要是由于LED发光材料的老化、发光膜的褪色以及温度等因素造成的。
LED在高温环境下工作，会加速光衰的过程。
因此，在设计LED照明系统时，需要合理降低LED的工作温度，采用散热措施，如散热器和风扇等，以延长LED的使用寿命。
其次，LED的发光不稳定性也是一个可靠性问题。
发光不稳定性主要是指LED在长时间使用后，亮度不均匀或闪烁。
这可能是由于LED芯片制造过程中的不均匀性导致的。
针对这个问题，可以采用光学补偿技术，通过调整LED的电流和电压等参数，使LED发光更加稳定。
此外，LED的寿命预测也是一个重要的可靠性指标。
寿命预测是指LED在标准使用条件下的寿命，一般以L70寿命来衡量，即当LED光通量下降到初始亮度的70%时，称为L70寿命。
为了准确预测LED的寿命，需要进行长时间的寿命测试，并分析测试数据。
通过寿命测试数据的分析，可以获取LED的寿命特征曲线，并对其寿命进行预测。
为了提高LED的可靠性，可以采取以下措施：1.优化LED的材料和工艺，提高LED的发光效率和稳定性。
2.设计合理的散热结构，降低LED的工作温度。
3.进行严格的寿命测试和性能验证，确保产品的质量和可靠性。
4.加强LED生产过程中的质量控制，提高LED的一致性和可靠性。
5.提供良好的使用环境和维护保养，延长LED的使用寿命。
综上所述，LED的可靠性是一个重要的问题，但通过优化设计、加强质量控制和提供良好的使用环境等措施，可以提高LED的可靠性，并延长LED的使用寿命。
LED产品可靠性及色差控制Word文档
一、摘要LED照明体积小、省电、环保、发光效率高、响应速度快、耐振动、寿命长，必将成为21世纪的新型照明光源。
LED照明光源的可靠性就是指LED在规定寿命时间内，满足光电及外观之功能要求。
产品可靠性决定了产品的关键质量，决定了LED品牌效应。
其中，LED白光产品用量最大，有的数个用在一个产品上（比如手机、MP4、LCD、NB、装饰照明灯等），这就要求颜色一致性要好。
LED颜色不一致，就是我们讲的有“色差”，导致背光产品色泽不均匀，顾客不满意，导致产品滞销。
故而白光产品色差是制约产品质量的又一关键要素。
以上二个关键指标，能否解决好，关系到公司的信誉、公司发展前景和在行业中的地位。
二、前言2．1产生白光LED的方法（1）使用蓝光磊晶片再经由Nd-YAG荧光体的转换来产生白光。
（2）使用蓝光磊晶片再经由RED、GREEN荧光体的转换来产生白光。
（3）使用R、G、B三种不同磊晶片同时点亮，利用三色光的混光來产生白光。
（4）UV光激发荧光体材料來转换成白光。
本公司采用第（1）种方法生产白光LED：采用发光峰值波长460nm蓝光LED基片安装在碗形反射腔中，在碗形反射腔中覆盖以钇铝石榴石（YAG）荧光粉的树脂薄层。
发出的蓝光激发黄色荧光粉，产生550nm左右的黄光，与另一部分蓝光混合，产生白光。
本文即以LED SMD白光产品为例，对产品信赖性及色差分析。
2．2 LED产品光学参数LED的光学参数中重要的光学参数是：发光强度、光通量、发光效率、光强分布、波长、色坐标。
（1）发光强度（Luminous intensity）点光源向观察方向微小立体角内发射的光通量除以该立体角元dΩ（符号：Iv;单位：cd）。
（2）光通量（Luminous flux）发光强度为Iv的光源在立体角元dΩ内的光通量为d φ=Iv·dΩ（符号：φv;单位：lm）。
（3）发光效率（Luminous efficiency）光通量与电功率之比。
LED可靠性分析报告
LED可靠性分析报告一、引言随着科技的不断发展，LED（Light Emitting Diode，发光二极管）作为一种新型的照明光源，被广泛应用于室内照明、户外LED显示屏、汽车照明等领域。
然而，由于LED照明产品在使用过程中可能遇到的可靠性问题，如灯珠发光逐渐变暗、灯珠寿命缩短等问题，LED可靠性分析成为了必要的研究内容。
二、LED可靠性评估指标1.发光亮度衰减率发光亮度衰减率反映了LED灯珠在使用过程中发光效率的变化情况。
通过长时间的实验和监测，可以计算发光亮度在一定时间内的衰减率，评估LED灯珠的可靠性。
2.使用寿命使用寿命是LED灯珠能够正常工作的时间，在LED产品中，按照使用寿命可分为L70、L80、L90等指标，表示在该时间之后，LED灯珠的亮度降至初始亮度的70%、80%、90%等水平。
3.热设计LED灯珠在工作过程中会产生大量的热量，如果不能有效地散热，会导致LED灯珠温度过高，影响寿命和可靠性。
因此，合理的热设计是保证LED灯珠可靠性的重要因素之一三、LED可靠性分析方法1.加速寿命试验通过模拟实际使用环境中的一系列工作条件，如高温、高湿、高电流等，来加速LED灯珠寿命的衰减过程，以评估其可靠性。
2.寿命预测模型通过建立LED灯珠工作寿命与工作条件之间的关系模型，预测LED灯珠在特定工作条件下的使用寿命。
3.故障分析当LED灯珠出现故障时，通过对其进行分析，找出故障原因，从而改进设计和制造工艺，提高产品的可靠性。
四、LED可靠性改进措施1.热管理采用合理的热设计，包括散热器、热传导材料等，提高LED灯珠的散热效果，降低温度，延长使用寿命。
2.电路保护合理的电路保护设计，包括过流保护、过压保护等，能够减少电路损坏的风险，提高产品的可靠性。
3.优质材料采用高质量的LED芯片、封装材料等，能够提高产品的可靠性和稳定性。
4.严格的质量控制建立完善的质量控制体系，严格控制产品的制造工艺和质量，确保产品出厂前的可靠性测试。
LED光源的可靠性与寿命分析
LED光源的可靠性与寿命分析第一章：引言LED光源是一种高效能、长寿命、环保的新型光源，被广泛应用于各种照明领域。
与传统的光源相比，LED光源具有更低的能量消耗和更长的使用寿命，能够有效降低能源消耗和减少对环境的影响。
然而，光源的可靠性和寿命是使用LED光源时需要考虑的重要因素。
尽管LED光源具有高可靠性和长寿命，但其寿命和可靠性仍受到多种因素的影响，例如质量控制、使用环境、温度变化等。
因此，深入分析LED光源的可靠性和寿命对于开发出更可靠和稳定的LED光源技术具有重要意义。
本文将对LED光源的可靠性和寿命进行详细分析，包括常见的故障模式、寿命测试方法和寿命预测模型等方面。
第二章：LED光源的故障模式LED光源的故障模式主要包括亮度损失、颜色偏移、耐压降低等。
其中，亮度损失是最常见的故障模式。
亮度损失是由于LED光源的发光衰减或热衰减导致的，其主要原因是LED材料的劣化和温度变化。
LED材料中的诸如缺陷、材料不纯等质量问题都可能导致LED的早期损坏。
而温度变化也是影响LED光源寿命的重要因素，温度过高会导致LED发光效率下降，从而影响LED光源的寿命。
颜色偏移是LED光源中另一个常见的故障模式，其会导致LED发出的光线颜色与预期不一致。
颜色偏移的原因主要是LED材料的质量问题、温度的影响以及光坏境的变化等因素。
耐压降低是指在额定电流下，LED光源的电压会随着时间的推移而增加，甚至达到不能正常工作的电压级别。
其主要原因是结构、材料和工艺等因素的问题，但由于受制于LED光源的内部结构，造成耐压降低的原因比较复杂。
第三章：LED光源寿命测试LED光源寿命测试是评估LED光源可靠性的重要方法，可通过对光源进行长时间稳定运行来模拟实际环境中的使用情况，以评估其寿命。
常见的LED光源寿命测试方法主要包括逐步加速测试、连续运行测试、循环测试等。
逐步加速测试是通过增加环境温度来模拟LED光源在高温环境下的使用情况，以捕获LED光源可能出现的寿命问题。
LED灯具的可靠性分析
２的设计 成 功 与否 ， 除光 路系 统 以外 ，其散热 系统起 着决 定性作用 。 对Ｌ Ｅ Ｄ 灯 具 的 设 计 要 求 热 阻 比 较 低 。 Ｌ Ｅ Ｄ 散 热 一 般 包括 系统 级 散 热 以及 封 装 级 散 热 ，要 降低 灯具 热 阻就 必 须 同时考 虑 这两 种 散热 ，封 装 级 散 热是 在 Ｌ Ｅ Ｄ 光源 生 产 的过 程 中通 过对 封 装材 料 、封 装 结构 以及 工 艺水 平 的设 计 从而 达到 散 热 的 目的 。在封 装 散热 设 计方 面 ， 目前主 要存 在 的 有硅 基倒 装 芯片 结 构 ，金 属 电路板 结 构散 热 ，有 固 晶材 料 ，环 氧树 脂 等材 料散 热 。 系统 级级 散 热主 要是 通 过对 相 关技 术 的研 究 ，从 而对 散 热器 进行 创 新和 改进 ，随 着 大 功率 Ｌ Ｅ Ｄ 的 普及 ，功 率 也 越来 越 大 ， 目前 ，系统 级 散热 主 要有 热 电制 冷散 热 、热 管散 热 和风 冷 强制 散 热等 方法 结 构。 解 决好散 热 问题 是提高 Ｌ Ｅ Ｄ 灯 具寿命 的有 效途径 ，需要 进一 步的研 究和创新 。 ４ ． 小结 面对 市场上 Ｌ Ｅ Ｄ 灯 具质量 的 问题 ，结合 相 关实验 ，对 影ｎ ￣ Ｌ Ｅ Ｄ 灯 具寿命 的主要 因素进 行 了分 析 ，主 要存 在Ｌ Ｅ Ｄ 光源 引起 的失 效 ，Ｌ Ｅ Ｄ 驱 动 电 源 引 起 的 失 效 ， 还 有 一 些 其 他 因 素 引 起 的失效 。最后对 有效 提高Ｌ Ｅ Ｄ 灯具 寿命 的几 种 途 径 进 行 了说 明 ，对 Ｌ Ｅ Ｄ 灯 具 寿 命 的 提 高 以 及质量 的保 证有很 大的意 义 。
LED照明灯具可靠性简介及其分析
LED照明灯具可靠性简介及其分析LED灯具所涉及的技术问题很多、很复杂，其中主要是系统可靠性问题，包含LED芯片、封装器件、驱动电源模块、散热和灯具的可靠性。
以下分别对这些问题进行分析：1.LED灯具可靠性相关内容介绍在分析LED灯具可靠性之前，先对LED可靠性有关的基本内容作些介绍，将对LED灯具可靠性的深入分析有所帮助。
(1)本质失效、从属失效LED器件失效一般分为二种：本质失效和从属失效。
本质失效指的是LED芯片引起的失效，又分为电漂移和离子热扩散失效。
从属失效一般由封装结构材料、工艺引起，即封装结构和用的环氧、硅胶、导电胶、荧光粉、焊接、引线、工艺、温度等因素引起的。
(2)十度法则某些电子器件在一定温度范围内，温度每升高10℃，其主要技术指标下降一半(或下降1/4)。
实践证明，LED器件热沉温度在50℃至80℃时，LED寿命值基本符合十度法则。
最近也有媒体报道：LED器件温度每上升2℃，其寿命下降10%，当温度从63℃上升至74℃时，平均寿命下降3/4。
因为器件封装工艺不同，完全可能出现这种现象。
(3)寿命的含义LED寿命是指在规定工作条件下，光输出功率或光通量衰减到初始值的70%的工作时间，同时色度变化保持在0.007内。
LED平均寿命的意义是LED产品失效前的工作时间的平均值，用MTTF来表示，它是电子器件最常用的可靠性参数。
可靠性试验内容包括可靠性筛选、环境试验、寿命试验(长期或短期)。
我们这里所讨论的只是寿命试验，其他项目暂不考虑。
(4)长期寿命试验为了确认LED灯具寿命是否达到3.5万小时，需要进行长期寿命试验，目前的做法基本上形成如下共识：因GaN基的LED器件开始的输出光功率不稳定，所以按美国ASSIST联盟规定，需要电老化1000小时后，测得的光功率或光通量为初始值。
之后加额定电流3000小时，测量光通量(或光功率)衰减要小于4%，再加电流3000小时，光通量衰减要小于8%，再通电4000小时，共1万小时，测得光通量衰减要小于14%，即光通量达到初始值的86%以上。
LED可靠性分析报告
可靠性分析报告品质是设计出来而不是制造出来,广义的品质除了外观、不良率外、还需兼长期使用下的可靠性,因此,在开发新产品前之可靠性预估及开发的实验推断相互印证是很重要的,本篇即针对可靠性分析的一般术语,如何事前预估,事后实验推断以及如何做加速试验及寿命试验做个说明.1. 概论:(1) 何谓可靠性(Reliability)?可靠性系指某种零件或成品在规定条件下,且于指定时间内,能依要求发挥功能的概率,即时间t 时的可靠性R(t)=(例) 假设开始时有100件物品参与试验,500小时后剩80件,则500小时后的可靠性R(t=500)为80/100=0.8简单地说,可靠性可看为残存率.(2) 何谓瞬间故障率(Hazard Rate ，Failure Rate),时间t 时每小时之故障数瞬间故障率h （t ）=时间t 时之残存数上例中，若500小时后剩80件，若当时每小时故障数为两件，则第500小时之瞬间故障为2/80=2.5%换句话说,瞬间故障率系指时间t 时,尚未发生故障的物件,其单位时间内发生故障之概率.时间t 时残存数 开始时试验总数(3)浴缸曲线(Bath Tub Curve)瞬间故障率h(t)h(t)=常数=耗竭期Period periodA．早期故障期：a.设计上的失误（线路稳定度Marginal design）b.零件上的失误（Component selection & reliability）c.制造上的失误（Burn-in testing）d.使用上失误。
一般产品之Burn-in 即要消除早期故障（Infant Mortality）使客户接到手时已经是恒定故障率h（t）=B、恒定故障率期：此时故障为random,为真正有效使用此段时期越长越好。
C、耗竭故障期；零件已开始耗竭，故障率急剧增加，此时维护重置成本为高。
（4）平均故障间隔时间（Mean Time Between Failure，MTBF）当故障率几乎为恒定时（若0.002/小时）,此时进行10000小时约有0.002/小时*10000小时=20个故障,即平均500小时会发生一次故障,故MTBF 为500小时,为0.002/小时的倒数,即MTBF=1/λ.λ可看成频率(Frequency),MTBF即代表周期(Period)(5)、可靠性R（t）之数学表示根据实验及统计推行，要恒定故障期，R（t=）随着时间的增加而呈指数递减(Exponentially decreasing)当t=0时，因尚无任何故障，故R（t=0）=1t=∞）=0，以数学表示，R（t）-λt即R（t）=e其中λ即为恒定故障期之瞬间故障率t （6）、恒定故障期时MTBF与R（t）的关系，由前，R（t）=e-λtλ=1/MTBF故R（t）=e-t/MFBF当t=MTBF时，R（t）=e-MTBF/MFBF=e-1 ≒0.37即在恒定故障期时,试验至t=MTBF时,其可靠性(即残存比率)为37%,即约有63%故障.2新产品(MTBF Time Between Failure)之事前预估(1) 系统可靠性与组件可靠性之关系一般系统可靠性之计算时有下列假设:A 、 每个组件有独立之λi ，即甲组件故障不影响乙组件。
LED检验报告
LED检验报告一、报告背景随着互联网的不断发展，智能家居、智能办公等领域的发展越来越快速，而LED（Light Emitting Diode，发光二极管）作为一种高效节能、寿命长的照明产品受到了越来越多的关注和应用。
为了确保LED的质量和可靠性，进行LED产品的检验是非常重要的，本报告旨在对LED进行全面的检验和评估。
二、检验目的1.确定LED的外观质量，包括表面是否有划痕、变形等；2.测试LED的光性能指标，包括亮度、颜色温度、色彩准确度等；3.检查LED的电气性能，包括输入电压范围、电流、功率等；4.对LED的耐久性进行评估，包括长时间工作的性能稳定性。
三、检验方法1.外观质量检验：使用目视检查法，对LED的表面进行仔细观察和比对；2.光性能指标测试：使用光谱仪测量LED的亮度、颜色温度和色彩准确度；3.电气性能测试：使用电压表和电流表分别检测LED的输入电压范围、电流和功率；4.耐久性评估：使用长时间开启LED，并监测其亮度变化。
四、检验结果及分析1.外观质量：经过外观检验，LED表面无明显划痕和变形，符合外观质量要求。
2.光性能指标：使用光谱仪测试了LED的亮度、颜色温度和色彩准确度，测试结果如下：- 亮度：LED的亮度为XXXcd，符合亮度指标要求。
-颜色温度：LED的颜色温度为XXXK，符合颜色温度指标要求。
-色彩准确度：在CIE色度图上的坐标为(XXX,XXX)，符合色彩准确度指标要求。
3.电气性能：使用电压表和电流表测量了LED的输入电压范围、电流和功率，测试结果如下：-输入电压范围：LED的输入电压范围为XXXV，符合输入电压范围要求。
-电流：LED的电流为XXXA，符合电流指标要求。
-功率：LED的功率为XXXW，符合功率指标要求。
4.耐久性评估：经过长时间的开启测试，LED的亮度保持稳定，未出现亮度衰减等现象，符合耐久性要求。
五、检验结论根据对LED的外观、光性能、电气性能和耐久性的全面检查和评估，LED产品符合质量要求，具有良好的品质和稳定性能。
灯具可靠性报告模板
灯具可靠性报告模板摘要本文对灯具的可靠性进行评估，并提供了一份可靠性报告模板。
通过测试、分析和统计数据，对灯具的可靠性进行了评估，并给出了相关结论和建议。
介绍灯具是人们日常生活和工作中不可缺少的设备之一，因此其可靠性十分重要。
灯具的可靠性影响了其使用寿命、性能以及维修保养成本。
为此，本文对灯具的可靠性进行评估，通过测试、分析和统计数据得出结论，并提供了一份可靠性报告模板。
测试方法本文对灯具的可靠性进行了定性和定量分析，主要使用的测试方法包括：1.使用寿命测试：对多款同类灯具进行长时间使用寿命测试，记录并比较其寿命表现。
2.电气参数测试：对灯具的电气参数进行测试，包括电压、电流、功率因数等。
3.抗干扰测试：对灯具在不同环境中的抗干扰能力进行测试。
分析根据以上测试结果，对灯具的可靠性进行定性和定量分析。
1.使用寿命：在寿命测试中，我们发现灯具的寿命存在一定差异。
其中品牌A的灯具表现最佳，使用寿命可以达到超过5年。
品牌B、C的灯具使用寿命约为3年左右，而品牌D的灯具使用寿命只有不到2年。
2.电气参数：四种品牌的灯具在电气参数方面表现差异不大，基本符合国家标准。
其中，品牌C的功率因数略有偏低，需要提高其功率因数。
3.抗干扰能力：在不同环境下，灯具的抗干扰能力表现不同。
在高温环境下，品牌C的灯具抗干扰能力最强，而在低温环境中，品牌D的灯具表现最好。
结论根据以上分析，我们得出以下结论：1.品牌A的灯具可靠性最佳，使用寿命可以达到超过5年。
2.品牌B、C的灯具使用寿命约为3年左右，品牌D的灯具使用寿命只有不到2年。
3.品牌C的灯具功率因数略有偏低,需要提高功率因数。
4.在低温环境中，品牌D的灯具表现最佳，而在高温环境下，品牌C的灯具表现最佳。
建议根据以上结论，我们给出以下建议：1.对于需要长时间使用的场所，建议选择品牌A的灯具，以确保其稳定的使用寿命。
2.对于普通使用场所，品牌B、C的灯具表现仍然良好，可以作为一种经济实惠的选择。
LED灯具检验报告
LED灯具检验报告一、引言LED灯具是一种新型的照明设备，以其高效节能、寿命长、环保等优点，在市场上越来越受欢迎。
为了确保消费者的使用安全和产品质量，对于LED灯具进行必要的检验是非常必要的。
本次检验报告对一款LED灯具的性能参数、安全性等方面进行了全面的检验和分析。
二、样品描述本次检验的样品是一款LED筒灯，外观简约、造型时尚。
该灯具采用了高亮度LED芯片作为光源，发光效果良好。
样品所配套的电源符合国家相关标准，具备过载保护、过压保护、过热保护等安全功能。
三、性能参数检验1.发光性能：通过对样品进行光通量、色温和色彩指数的测量，确认其发光性能是否符合标准要求。
测试结果表明，样品的光通量为1500流明，色温为6000K，色彩指数为80，均符合国家标准要求。
2.色彩稳定性：经过长时间使用后，样品的色温和色彩指数是否存在明显的变化。
测试结果显示，在连续使用1000小时后，样品的色温变化范围在±100K以内，色彩指数变化不超过±3，色彩稳定性良好。
3.能效参数：检测样品的功率、功率因数和光效等参数，以评估其能效水平。
测试结果显示，样品的功率为15瓦，功率因数为0.9，光效为100流明/瓦，能效达到了国家一级能效等级要求。
4.抗冲击性能：通过对样品进行振动、冲击实验，检测其是否具备足够的抗冲击性能。
测试结果表明，样品经过振动实验和冲击实验后，外观完好且功能正常，符合国家标准要求。
五、安全性检验1.绝缘电阻：通过对样品进行耐电压、绝缘电阻等测试，确认其是否满足安全要求。
测试结果显示，样品的耐电压达到了4000V，绝缘电阻为0.5MΩ以上，符合国家安全标准。
2.防触电保护：测试样品的外壳是否具备足够的绝缘性能，以防止触电事故的发生。
测试结果显示，样品的外壳阻抗大于2MΩ，符合国家标准要求。
3.过流保护：对样品进行过流保护测试，确认其内部电路能否在过大电流时及时切断电源。
测试结果显示，样品在过大电流时能够正常切断电源，具备过流保护功能。
大功率LED灯具可靠性分析
大功率LED灯具可靠性分析大功率LED灯具可靠性分析【摘要】分析了影响大功率LED 灯具可靠性的主要因素，如LED光源、驱动电源、散热系统等，并给出了相应的解决措施，提出了界面层裂对大功率LED可靠性的影响，对大功率LED 灯具可靠性的提高有较大的意义。
【关键词】LED灯具；可靠性；驱动电源；散热系统；界面层裂1.引言大功率LED作为照明光源，有节能环保、寿命长、体积小、发热小、响应速度快、平安低电压、耐候性好、方向性好等优点。
目前，半导体照明是国家重点扶持的新兴产业，大功率LED是半导体照明的关键器件，LED照明正逐步取代传统照明技术，而最终能否实现半导体照明的普及，取决于大功率LED光效和可靠性问题的解决，可靠性是评价LED灯具质量的一个重要指标，对大功率LED灯具可靠性的研究，具有非常重要的意义。
2.影响大功率LED灯具可靠性的主要因素可靠性指产品在规定的时间和条件下，完成正常规定功能的能力或概率。
对于LED而言，要求其能在给定的工作条件下发射出一定量的光，但LED灯具的亮度，会随着工作时间的增加而衰减，其可靠性的上下，一般表现为工作条件下寿命的长短，通常定义LED光输出量衰减到初期值的50%或70%时的时间为LED的寿命【1】。
2.1LED光源LED光源潜在的失效机理，主要有以下几种：其一，芯片失效，即LED芯片本身失效或其他因素造成的芯片失效，从而导致LED直接失效；其二，封装失效，例如封装材料不良引起：环氧树脂、导电胶、硅胶、荧光粉、基座、固晶材料等；封装结构设计不合理，如材料不匹配、产生应力、引起断裂、开路等；封装工艺不适宜，如装片、压焊、点胶工艺、固化温度及时间等；其三，电应力失效，即承受了超过额度的电参数条件或过高的瞬态电流而引发的LED失效，其产生的冲击有可能直接损坏芯片，或造成金线熔断等现象，致使LED失效；其四，热应力失效，即周期性热量变化或LED 内部温度超过最大额定值而引发的失效，热过应力产生的高温，会降低芯片发光效率，产生光衰加快、色移等严重后果，在LED 可靠性中，需重点关注此问题；其五，实际使用过程中，装配不当也会引发LED失效【2】。
LED照明产品的可靠性研究开题报告
LED照明产品的可靠性研究开题报告
一、研究背景
随着LED照明技术的不断发展，LED照明产品的应用范围不断扩大，在室内、室外和汽车照明等领域得到广泛应用。
然而，LED照明产品的
可靠性问题一直是一个关注的焦点，如灯珠寿命、光衰等问题，这些问
题会影响产品的可靠性和使用寿命。
因此，LED照明产品的可靠性研究
显得十分必要。
二、研究目的
本研究旨在深入探究LED照明产品的可靠性问题，对其应用领域、
应用环境、结构特点等因素进行分析，从灯珠、供电电路、散热等方面
入手，探究其影响因素与机理，以期为提高LED照明产品的可靠性提供
理论和技术支持。
三、研究内容
1. LED照明产品的应用范围和发展趋势分析；
2. LED照明产品的可靠性问题及其影响因素分析；
3. LED灯珠的寿命、光衰机理及测试方法；
4. LED照明产品的供电电路设计、故障模式分析及故障检测方法；
5. LED照明产品的散热问题分析及解决方案；
6. LED照明产品的可靠性测试方法及评价标准。
四、研究方法
本研究将采用文献资料法、实验研究法、分析与比较研究法等多种
研究方法，通过分析现有的文献资料和实验数据，对LED照明产品的可
靠性问题进行深入研究，并通过实验验证所得结论的可靠性和实用性。
五、研究意义
本研究将为LED照明产品的可靠性问题提供理论和技术支持，可以为企业提供更加可靠、稳定的LED照明产品，提高产品质量和市场竞争力，有利于促进LED照明技术的应用和发展。
LED产品可靠性试验与应用范文
LED产品可靠性试验与应用由于地球的能源不断的减少，温室效应所造成的环境问题，也日趋严重，节能减排，降低温室效应以及减低资源的耗损速度等，成为人类共同的责任。
近几年LED随技术与制程能力不断提升，高亮度产品质量与使用寿命提高后，逐渐扩展应用领域到做为室内外照明灯源、LCD产品背光模块、车用灯具组等较高端产品。
再者，LED产品普遍具有体积小、省电、无毒性、光源具方向性、维修费用低等的优点，因而再度受到世人重视，产业因此成为一项重要的发展。
若以电子产品等级架构Level 0～Level 3(注：L0～L3表示电子产品自晶圆制造、构装、上板组装、系统成品等四阶段)的观点来看，LED产品则是自上游至下游均以其为命名主体。
由于产品的普及化与应用范围越来越广泛，因而可靠性的要求得以受到重视。
国际主要LED大厂均有一套独立的验证标准，本文主要站在LED制造者或使用者的立场来探讨对应不同的使用环境与场所，较具有效益的可靠性试验项目以及这些试验的基本原理，可做为制造者依据不同产品类别选择较有效益的可靠性试验，也可作为平时生产抽样检验之用。
零件可靠性试验LED零件结构可概分为表面黏着型(SMD)与插件型(DIP)两大类别。
LED零件与一般IC封装所使用材料不同，但结构相近且较简易。
LED零件的主要可靠性试验可分为：可靠性试验预处理流程、环境寿命试验、焊锡性、耐热性、静电(ESD)等项目，并于试验前后以光学特性量测计算其光学特性衰退情形做为判断基准。
依使用环境与区域不同，得以选择适当的试验项目进行验证。
可靠性试验预处理流程(Pre-conditioning)预处理流程适用于SMD型LED，其目的系仿真LED零件在系统厂组装过程，并且使用较严苛条件，迫使零件吸湿后进行热应力试验，是执行LED零件可靠性试验的标准前处理作业流程。
5cycle温度循环试验(图一)目的是模拟使用前包括运输或筛选任何可能的早夭风险，经过高温烘烤后(Baking)再将零件置入湿气环境中，一般吸湿条件对SMD型LED来说通常采用Level 3做为验证标准，对户外使用与高可靠性需求的LED零件则采Level 1做为验证标准。
LED焊点可靠性试验报告
LED焊点可靠性试验报告随着近年来LED光效的不断提升，LED的寿命和可靠性越来越受到业界的重视，它是LED产品最重要的性能之一。
LED产品制造中的每一个元件和环节都会对其可靠性和寿命产生影响，其中LED器件与印刷电路板(PCB)之间焊点的可靠性对于确保LED灯具的整体可靠性至关重要。
本文阐述如何了使用热冲击测试来分析科锐XLamp® 大功率LED器件的焊点可靠性，旨在帮助科锐的用户掌握科锐LED器件的应用和设计的注意事项，提高产品研发效率和质量。
一、焊点可靠性的影响因素LED应用设计中，几个焊点非常重要，如图1所示，三个焊点的可靠性是确保热量从LED结点传递到散热器的关键所在。
1. LED芯片到LED基板的焊点这点通常由LED制造商确保其完整和可靠，在设计LED封装时应考虑如下因素。
1. LED 芯片和LED基板的物理性能 2. 材料选择 3. 焊点几何形状（焊盘尺寸和形状、焊盘相对于阻焊层的放置位置）4. 散装焊料合金的机械性能 5. 在焊点/散热盘界面形成的金属间化合物的性质及其结构；2. LED基板到PCB焊点和PCB到散热器焊点灯具制造商在应用和设计中确保这两个焊点的可靠和完整性。
LED基板与PCB之间焊点的完整性是LED 产品长期流明维持率和可靠性的主要决定因素之一。
焊点可靠性不仅取决于焊料合金，还取决于LED器件和PCB的金属镀层。
此外，回流温度曲线对无铅焊点的性能也有着显著影响，因为它会影响焊点的浸润性能和微观结构。
焊点损坏或存在缺陷会导致开路失效状况，进而导致灯具电气性能完全失效。
对于LED器件焊接至PCB的可靠性，要考虑的关键特性是LED器件与PCB材料之间热膨胀系数的差异。
工作条件的变化会导致因膨胀系数失配而产生不同的力。
这些力可能会被一些机械作用（如LED基板弯曲）放大。
对于较大封装尺寸LED在坚硬的PCB上的焊接，距离LED封装中心最远的焊点因膨胀失配而产生的应力最大。
LED灯测试报告
LED灯测试报告一、引言LED（Light Emitting Diode）是一种发光二极管，由于其高效、节能、环保等特点，成为了照明行业的主流产品。
为了确保LED灯的质量，进行合格性测试是非常必要的。
本文将对一款LED灯进行全面的测试和分析，以评估其性能和可靠性。
二、测试目标本次测试的目标是对LED灯的亮度、能效、颜色温度、寿命和泄漏电流等关键参数进行测试。
通过测试结果的评估，判断该LED灯是否符合相关标准和规定。
三、测试方法和步骤1.亮度测试：使用光亮度计对LED灯进行测试，记录其亮度值，并与国家标准对比评估。
2.能效测试：使用功率仪测量LED灯的实际功率，结合亮度值计算能效，与国家标准进行比较分析。
3.颜色温度测试：使用光色温计对LED灯的颜色温度进行测量，记录并评估其是否在范围内。
4.寿命测试：对LED灯进行24小时连续开启测试，记录下其亮度变化，并通过计算估算寿命。
5.泄漏电流测试：使用电流表对LED灯进行泄漏电流测试，记录电流值，判断是否在规定范围内。
四、测试结果分析1.亮度测试结果显示，该LED灯的亮度值为XXX流明，超过了国家标准要求。
2. 能效测试结果显示，该LED灯的能效为XXX lm/W，符合国家标准要求。
3.颜色温度测试结果显示，该LED灯的颜色温度为XXXK，符合国家标准要求。
4.寿命测试结果显示，经过24小时开启连续测试后，该LED灯的亮度保持稳定，估算寿命为XXX小时，达到国家标准要求。
5.泄漏电流测试结果显示，LED灯的泄漏电流为XXXA，低于国家标准要求。
五、结论通过对该LED灯的全面测试，可以得出以下结论：1.该LED灯的亮度、能效、颜色温度、寿命和泄漏电流等参数均符合国家标准要求。
2.该LED灯具有高亮度、高能效和长寿命等优点，可广泛应用于照明领域。
3.在使用和安装时，应严格按照产品说明书进行操作，以确保LED灯的正常使用和寿命。
六、改进建议基于对LED灯测试的经验和分析，我们提出以下改进建议：1.进一步优化产品的能效，提高能效指标，以达到更低的能耗。
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可靠性分析报告品质是设计出来而不是制造出来,广义的品质除了外观、不良率外、还需兼长期使用下的可靠性,因此,在开发新产品前之可靠性预估及开发的实验推断相互印证是很重要的,本篇即针对可靠性分析的一般术语,如何事前预估,事后实验推断以及如何做加速试验及寿命试验做个说明.1. 概论:(1) 何谓可靠性(Reliability)?可靠性系指某种零件或成品在规定条件下,且于指定时间内,能依要求发挥功能的概率,即时间t 时的可靠性R(t)=(例) 假设开始时有100件物品参与试验,500小时后剩80件,则500小时后的可靠性R(t=500)为80/100=0.8简单地说,可靠性可看为残存率.(2) 何谓瞬间故障率(Hazard Rate ，Failure Rate),时间t 时每小时之故障数瞬间故障率h （t ）=时间t 时之残存数上例中，若500小时后剩80件，若当时每小时故障数为两件，则第500小时之瞬间故障为2/80=2.5%换句话说,瞬间故障率系指时间t 时,尚未发生故障的物件,其单位时间内发生故障之概率.时间t 时残存数 开始时试验总数(3)浴缸曲线(Bath Tub Curve)瞬间故障率h(t)h(t)=常数=耗竭期Period periodA．早期故障期：a.设计上的失误（线路稳定度Marginal design）b.零件上的失误（Component selection & reliability）c.制造上的失误（Burn-in testing）d.使用上失误。
一般产品之Burn-in 即要消除早期故障（Infant Mortality）使客户接到手时已经是恒定故障率h（t）=B、恒定故障率期：此时故障为random,为真正有效使用此段时期越长越好。
C、耗竭故障期；零件已开始耗竭，故障率急剧增加，此时维护重置成本为高。
（4）平均故障间隔时间（Mean Time Between Failure，MTBF）当故障率几乎为恒定时（若0.002/小时）,此时进行10000小时约有0.002/小时*10000小时=20个故障,即平均500小时会发生一次故障,故MTBF 为500小时,为0.002/小时的倒数,即MTBF=1/λ.λ可看成频率(Frequency),MTBF即代表周期(Period)(5)、可靠性R（t）之数学表示根据实验及统计推行，要恒定故障期，R（t=）随着时间的增加而呈指数递减(Exponentially decreasing)当t=0时，因尚无任何故障，故R（t=0）=1t=∞）=0，以数学表示，R（t）-λt即R（t）=e其中λ即为恒定故障期之瞬间故障率t （6）、恒定故障期时MTBF与R（t）的关系，由前，R（t）=e-λtλ=1/MTBF故R（t）=e-t/MFBF当t=MTBF时，R（t）=e-MTBF/MFBF=e-1 ≒0.37即在恒定故障期时,试验至t=MTBF时,其可靠性(即残存比率)为37%,即约有63%故障.2新产品(MTBF Time Between Failure)之事前预估(1) 系统可靠性与组件可靠性之关系一般系统可靠性之计算时有下列假设:A 、 每个组件有独立之λi ，即甲组件故障不影响乙组件。
B 、 系统为这些组件串联，即某组件故障会造成系统之故障。
C 、 λ1为常数。
此时系统之可靠性为各个组件均不故障之乘积，即R （t ）=R1（t ）×R2（t ）×R3（t ）×Rn （t ） =e -λ1t ×e -λ2t × ×e -λ3te -λ1t =e -（λ1+λ2+λ3+ +λn ）tn∴=λ1+λ2+λ3+ ++λn=∑ Ki λii=i例:当组件1之可靠性为0.9,组件2之可靠性为0.8,设系统为组件1,2的串联,则系统之可靠性为0.9×0.8=0.72(2) MIL-HDBK-217F Parts Count MethodParts Count Method 即利用上式λ=∑λi 之关系由组件之故障率λi 来预估系统之故障率λi 来预估系统故障率λ。
但因第一种零件λi 不一定只有一个，若有K1个，则第一种零件总故障为K1nλ1，亦即上式λ=∑λi 可扩展成λ=∑ Ki λi 举例如后，（原λ=∑Ki πqi=iπe ，为简化计，设π=1）一般而言，Parts Count Method 是在设计初期封MTBF 之概略预估，误差大：A.组件λ1也是预估,本身即有误差.B.非所有组件均为串联关系.当设计完成,应实际用寿命试验法实验作出MTBF 较可靠的预估,详如下节.[例]若某系统有29个组件,其故障率如下:组件型态数量(用量)Ki Ki(每个小时) 总故障率(每千小时)变压器 3 × 0.02% = 0.056%硅质二极体 6 × 0.01% = 0.04%可变电容 2 × 0.02% = 0.40%开关 6 ×0.02% = 0.12%电感器 6 ×0.05% = 0.30%电容 6 ×0.01% = 0.06%29 1.00%即λ=∑Kiλi=0.06+0.06+0.04+0.12+0.30+0.06=1.00即每1000小时有1%故障,故MTBF=100,000小时=1/λ,此时若想知道实验5,000小时的可靠性R(t)=e-λt=e-t/MTBF=e-5,000/100,000=e-0.05=0.95即5,000小时后约有95%残存Parts count Method 最重要的是λi必需准确，一般来说，Digital系统因用半导体组件较多，且这些半导体组件均为世界级大厂所作，其λi较易查得，亦最有把握，国内一般Analog组件，如电感，变压器等的厂商均无法提供故障率资料，即使有亦不一定稳定。
因此Parts Count Method最大困难不在计算，而在组件故障率λi的取得及可信程度，进而求得系统之λ及MTBF。
3．新产品MTBF（Mean Time Between Failure）之实验推断前提及用Parts Count Method只是要设计初期没有成品时对组件选择之概略预估，准确性有限.当设计完成有样品或试产完成时,最好用本节所述的实验法来推断产品之MTBF,以印证上节所估MTBF之准确性,此时再对客户宣布较为可靠.一般可靠性实验可分为:(1)固定试验时间(故障可置换或不可置换两种)(2)固定故障数.(3)逐次试验.由于一般实验均希望能够掌握试验时间发免拖延太久耽误时效,故以固定,试验时间法最常用且固故障俊置换常使条件改变而影响对结果,因此故障不可置换较常用。
兹以固定试验时间法（故障不可置换）为例说明如何用表一来推断MTBF。
（例1）取20个产品作1000小时固定时间试验（故障不可置换）假设于500小时出现一个故障，其余到1000小时均未故障，求信赖度95%时的MTBF。
[解]总试验时间=500+（1000×19）=19500查表一，信赖度95%且故障数r=1时，T.R=4.7439总试验时间19500故MTBF= = =4111小时T.R 4.7439表一GENERAL EXPONENTIAL NODELTESTRA TIOS FOR TIME-TERMINATED TESTSTOTAL TEST TIME (HOURS)TR= TOTAL TEST TIME(HOURS)MTBF (HOURS)* T.R(Test Ratio)=3代表Total test time 为MIBF 的3倍7(例2)假设客户要求某一产品之MTBF为信赖度80%时达到8760小时(365天24小时/每天=8760小时),兹拟以固定时间试验法（故障不置换）来实验，请问应该选多少产品？作多少小时试验？（解）假设预计本实验有零个故障，则信赖度80%时的T.R=1.6094，若MTBF 欲达8760小时，则总试验时间=MTBF×T.R=8760×1.6094=14098小时,可有下列实验组合：（1）欲在30天（720小时）内完成试验，至少须20个产品。
（2）欲在21天内（504小时）内完成试验，至少28个产品。
（3）欲在14天内（336小时）内完成试验，至少42个产品。
依此原则，可任选不同组合。
（例3）上例中，若以20个产品作72小时固定时间试验，（故障不置换），若实际在500小时有一个故障试推断MTBF。
（信赖度80%）。
（解）总试验时间=500+（720*19）=14，180小时查表一。
80%，r=1时T.R=2.9943 14,180MTBF= =4735小时,未达客户要求2.9943(例4)上例中,若试验中途有故障,最好延长试验时间,若一个故障,则至少延长T.R(r=1)/T.R(r=0)=2.9943/1.6094=1.86倍，即720小时延长至1339小时以上，若延长期间又有一个故障，则再延长T.R(r=2)/T.R(r=1)=4.2790/2.9943=1.43倍,即1339小时延长1914小时以上,延长较久,试验会较准。
4．缩短实验时间之温度加速试验（Accelerated Test）由于产品开发之时效性极为重要，而信赖性试验常须花费很长时间，为缩短试验时间早日推出产品，可提高密闭室环境温度以达到加速试验缩短时间之效果，本节即说明不同环境温度下如推断产品之MTBF。
（1）Arrhenius ModelArrhenius model 系温度加速试验最常用之公试：λ2 -（△H/K）（1/T2-1/T1）加速因数= =eλ2T1下的特性寿命= 在浴缸曲线之恒定故障时间(Constant failure rate period),特T2下的特性寿命性寿命为MTBF。
（2）ZT0EE19F00090解法求加速因子由于Arrhenius Model 为指数函数,计算不易,可以对数刻度之图表来画成直线,备用内插法来推测,说明如下：[例]若在200 ºC时，以上节方法得知MTBF=350小时且在150ºC时，以上节方法得知MTBF=1050小时，试以图解法预估50ºC时之MTBF。
（解）利用图一标出A（200 ºC，350小时）及B（150ºC，1050小时）两点，由A，B点连成一直线，由外插法得知50ºC时之特性寿命（在恒定故障时期即为MTBF）为80，000小时，故200ºC对50ºC之加速因子为80，000÷350=228倍，而150ºC对50ººC加速因子为80,000÷1050=76倍。