LTE杂散及部分接收项测试

LTE 复杂项测试指导书

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摘要：

本文详细描述了LTE复杂项测试方法，结合协议，包括了各个指标测试的目的、影响、测试配置、协议要求、组网环境等内容，能够帮助刚刚上手学习LTE射频测试的同事，很快掌握LTE的复杂项目测试方法。

缩略语清单：

发射机指标

一、发射机杂散（6.6.3.1）

1. 指标含义

杂散是指发射机产生的一些有害的、无用的辐射信号，包括谐波辐射、互调产物及变频产物等。

2. 测试目的

衡量UE对频段外的频谱干扰，它会成为其他频段的干扰信号，为了评估出这种干扰信号的强度大小，看会对其他频段产生多大的干扰，是否满足协议要求，所以进行该项测试。

3. 测试配置

杂散测试的范围是距离中心工作频率BW/2+Δf OOB +MBW/2以外的频段，该频段以内的频谱测量由ACLR 和频谱模板两个指标进行测量，这样，从9k到12.75M的频带内我们都进行了频谱覆盖测试。

Table 6.6.3.1.3-1: Δf OOB boundary between E-UTRA channel and spurious emission

domain

Δf OOB 是指：距离信道边缘的频率间隔，是边缘，不是距离上行发射中心频点的频率间隔

Table 6.6.3.1.4.1-1: Test Configuration Table

4. 协议要求

Table 6.6.3.1.3-2: Spurious emissions limits

5. 环境及组网

测试仪表配置：

● 综合测试仪 R&S CMW500 ● 频谱分析仪 R&S FSQ

● 带阻滤波器 主要作用是衰减工作频带内的发射信号，降低输入到频谱分析仪的

混频器的输入端口信号强度，防止输入到频谱仪中的信号过大，导致频谱仪过载（overload ，频谱仪动态范围不够），进而失真导致结果出错；同时防止输入到频谱仪中的信号强度大，将频谱仪的底噪抬高将杂散信号淹没，导致的测试结果不正确；还可以防止大的发射信号与频谱仪产生交调，引入额外的频谱杂散分量，影响测试结果的真实性。

● 衰减器 10dB ，DC TO 10G （Agilent ），降低从手机发射出来的功率和提

高阻抗匹配 。 ● 功分器 ● 屏蔽盒

6. 测试步骤

1. 按照上图搭建测试环境。

2. 在CMW 500上按照Table 6.6.

3.1.

4.1-1，设置RB 数目和调制方式，并让UE 以最大发射功率

发射。

3. 使用频谱仪进行杂散测试

1） 根据不同的测试频段，设置起始与终止频率，并设置相应的RBW 和VBW 。

综测仪

CMW500

频谱分析仪 R&S FSQ 26

10dB 衰减器

UE

屏蔽盒

带阻滤波器

在设置频率时，如果遇到UE的发射频段，是需要将其规避的。规避的范围是：上下边带频率的基础上+/-(Δf OOB+MBW/2), MBW就是Table 6.6.3.1.3-2中的

Measurement Bandwidth测试带宽，即频谱仪的解析带宽，也就是RBW。

如B3，20M 带宽，19575频点，载波频率为1747.5MHz，信道实际带宽为

1737.5M~1757.5M，Δf OOB为25M，MBW为1M,实际测试杂散的保护带为

1712MHz～1783MHz；

2）设置线损: 在频谱仪上AMPT软键下设置。

3）按下SWEEP软建，设置sweep time 为6s左右，sweep point为9000

4）按下Trace软建，设置Trace为Max hold，Max hold为最差状况，如果Max hold没有问题的话，肯定可以通过的，检波方式为RMS；如果Max hold方式不同通过的话，需要对不通过的点采用手动验证，trace方式改为clear/write，这样还是不过的话，

就是杂散招标了。

5）更改信道，重复上述操作步骤，直至3个信道都测试完成。

7. 注意事项

1）认证机构设置：检波方式为RMS检波、trace方式为clear/write

2）目前，实验室没有10M以上的带阻，所以LTE在测试杂散的时候一般采取的方法是：5M（带阻调到-40一下）、10M（带阻调到-20一下）加入带阻，15M、20M不加入；

但是，由于带阻是频繁切换的，自动化又是连续的，频繁调带阻很费时间，所以，

目前也可以采取所有带宽都不加带阻的方法，一气儿用自动化测完，但不加带阻测

试时，可能会出现部分频点失真如果有FAIL点，在通过加入带阻滤掉载波，使仪器的动态范围可以满足测试，手动验证即可。

3）测试需重点关注的就是测量带宽，这里的测量带宽指的是频谱仪的解析带宽，即RBW。

不同频率范围所对应的值是不同的，需注意，否则，手动验证时会影响测试结果。

4）需要测量的插损：

综测仪到UE之间的插损

频谱分析仪到UE之间的插损

二、UE共存带内的杂散辐射带（6.6.3.2）

1. 指标含义

UE共存发射杂散是指：在协议定义内的共存的频带系统内产生的一些有特殊要求的发射机传导杂散。

2. 测试目的

UE的杂散可能落到其他共存系统的接收频段内，造成其他共存系统的干扰，为了验证UE发射的信号不能引起共存系统不可接受的干扰而启动该项测试。

3. 测试配置

Table 6.6.3.2.4.1-1: Test Configuration Table

4. 协议要求

Table 6.6.3.2.5-1: Spurious emission band UE co-existence limits