纳米测量光学实验
第十三章纳米测量技术
例：用AFM测量硅片表面不平度
图13-1
在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间 的势垒流向另一电极，这种现象即隧道效应，图13-1 示出了此效应的原理。
隧道电流I 是电子波函数重叠的量度，与针尖和 样品之间距离S和平均功函数Φ有关:
I ∝ Vb exp(− AΦ S )......................(13 − 1) Vb是加在针尖和样品之间的偏置电压，平均功函数
这些显微镜技术都是利用探针与样品的不同相互 作用来探测表面或界面在纳米尺度上表现出来的物 理性质和化学性质。 上述各类扫描探针显微镜，均由三部分组成： 1.纳米传感系统 2.三维扫描工作台及其测量控制系统 3.信息处理及图像分析系统
13-2 扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜(STM)
扫描隧道显微镜(STM)的基 本原理是利用量子理论中的隧 道效应，将原子尺度的极细探 针和被研究物质的表面作为两 个电极，当样品与针尖的距离 非常接近时(通常小于1nm)，
图13-5
图13-5(a)是接触模式下得到的SrTiO3表面溅射 淀积的YBa2Cu3O7～8薄膜，成像面积为0.8μm X0.8 μm 。从图中可以清楚地看到超导薄膜上的螺旋形错 位。图13-5 (b)是非接触模式下得到的硅[111]表面的 7X7原子构像。
实验： 测量硅片表面不平度(或者微透镜 实验：用AFM测量硅片表面不平度 测量硅片表面不平度 阵列冠高) 仪器：扫描探针显微镜SPM （光电国家实验室）
将针尖在样品表面扫描时运动的轨迹直接记录显 示出来，就得到了样品表面态密度的分布或原子排列 的图像。这种扫描方式可用于观察表面形貌起伏较大 的样品，且可通过加在z向驱动器上的电压值推算表面 起伏高度的数值，这是一种常用的扫描模式。 测量方式二： 测量方式二： 对于起伏不大的样品表面，可以控制针尖高度守恒 扫描，通过记录隧道电流的变化亦可得到表面态密度 的分布，见图13-2(b)。 这种扫描方式的特点是扫描速度快，能够减小噪音 和热漂移对信号的影响，但一般不能用于观察表面起 伏大于1nm的样品。
纳米测量光学实验
6. 纳米测量光学实验一、 实验目的和内容1． 建立纳米测量的概念，了解其实现方法。
2． 了解微弱振动监测的原理3． 利用笔束激光干涉法进行纳米量级的位移测量。
二、 实验基本原理1．位移的纳米测量方法纳米科学是在纳米（10-9m ）和原子（约10-8m ）的尺度上（1nm ～100nm ）研究物质的特性、物质相互作用以及如何利用这些特性的多学科交叉的前沿科学与技术。
纳米测量技术是纳米科学的一个重要分支。
用于纳米测量的笔束激光干涉仪原理如图1所示：激光器发出的激光，是甚细的准直激光束（称为笔束光），记其波前为U 0。
被分光镜4分为测量光束m I ~和参考光束r I ~。
这两笔束光分别经各自的直角棱镜反射后，被平行地反射回来并再一次到达分光镜4，但此时m I ~与r I ~已不再重合，而是存在一间距2d 。
经过分光镜4后，测量光束与参考光束平行入射至傅立叶变换（FT ）透镜8，并在FT 透镜8的后焦面上发生干涉，形成计量条纹。
干涉条纹被物镜10放大后成像于CMOS11上，通过图像采集卡输入计算机进行数据处理。
在CMOS 上干涉条纹的位移量x fX f =Mf λN/(2d)式中N 为条纹移动数，M 为物镜10的放大倍数，f 为FT 透镜8的焦距，2d 为测量光束与参考光束的空间间距，S 为测量镜的位移量。
从上式中知道，记录干涉条纹移动数，就可得到位移量，而测量的灵敏度完全取决于物镜放大率，FT 透镜的焦距和2d 。
当f 足够大2d 足够小（所以用笔束光的理由），就可以得到纳米量级灵敏度。
而该装置却很简单 2．微弱振动的纳米测量与监视四．振动测量是基于振动物体位移引起测量光波位相的调制，通过与参考光波发生干涉电接收装置将干涉信号转变为电信号，经过适当的电子学处理，求得振幅值。
激光入射光强I 0，经分光镜BS 后，一支光束射向参考镜M 1，光强为I 1，光程长l 1；另一支光束射向贴在振动台面上的测量反射镜M 2，光强为I 2，测量镜静止时光程长l 2。
纳米光学技术的基本原理和实验操作流程
纳米光学技术的基本原理和实验操作流程纳米光学技术是一种运用光学原理研究和操作纳米级尺度物质的科学技术。
它结合了纳米科学和光学技术的优势，可以对微观世界进行实时、非破坏性的观测和操控，为材料科学、生物医学、信息技术等领域的发展带来了新的机遇和挑战。
基本原理：纳米光学技术主要利用光的传播性质和与物质相互作用的特点，通过调控光的波长、强度和相位等参数，来实现对纳米级尺度物质的探测、成像和加工。
其中，主要包括以下几个基本原理：1. 表面等离子共振（Surface Plasmon Resonance，SPR）：当光散射到金属纳米结构表面时，可以引发共振现象，即表面等离子共振。
利用这种现象，可以测量样品中等离子体积浓度、膜的厚度以及分子的亲和力等物理和化学信息。
2. 全息术（Holography）：通过利用光的干涉和衍射效应，将光的信息存储在照相底片或光敏材料上，形成全息图像。
利用全息术可以实现高分辨率的成像和三维重建，对纳米级尺度结构进行表征和研究。
3. 等离子体共振（Plasmon Resonance）：金属纳米颗粒具有独特的光学性质，当光与金属纳米颗粒相互作用时，可以产生等离子体共振现象。
例如，纳米金颗粒可以吸收和散射光，也可以通过改变光的频率或波长来调控等离子体共振的吸收和散射效应，从而实现纳米结构的探测和成像。
实验操作流程：进行纳米光学实验需要以下步骤和条件：1. 准备样品：根据实验目的选择和准备相应的纳米级尺度样品，可以是金属纳米颗粒、纳米材料薄膜或纳米生物分子等。
2. 光源选择：根据实验需求选择合适的光源。
常用的光源有氙灯、激光器和白炉等，其中激光器是常用的高亮度、高直流和单色性光源。
3. 光学系统搭建：根据实验需要搭建好合适的光学系统，包括光路调整、光学元件选择和安装等。
光学系统可以由准直器、物镜、滤光片、调制器等组成。
4. 数据采集与分析：根据实验设计选择合适的数据采集设备，例如像素均衡相机或光谱仪。
纳米粒度_实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 了解纳米粒度仪的基本原理和操作方法。
2. 学习纳米粒度分析在材料科学、生物医学等领域的应用。
3. 通过实验，掌握纳米颗粒粒径和分布的测量方法。
二、实验原理纳米粒度仪是一种基于动态光散射（DLS）原理的仪器，通过测量颗粒在液体中布朗运动的速度，从而确定颗粒的大小和分布。
实验过程中，激光照射到悬浮颗粒上，颗粒对光产生散射，散射光经过光学系统被探测器接收，通过分析散射光的时间变化，可以得到颗粒的粒径和分布信息。
三、实验仪器与试剂1. 仪器：纳米粒度仪、激光光源、样品池、计算机等。
2. 试剂：纳米颗粒悬浮液、分散剂、滤纸等。
四、实验步骤1. 样品准备：将纳米颗粒悬浮液用滤纸过滤，去除杂质，确保样品的纯净度。
2. 仪器设置：打开纳米粒度仪，调整激光光源、样品池等参数，使仪器处于正常工作状态。
3. 样品测量：将处理好的纳米颗粒悬浮液注入样品池，设定测量时间，启动仪器进行测量。
4. 数据处理：将测量得到的数据导入计算机，利用纳米粒度仪自带软件进行数据处理，得到粒径和分布信息。
5. 结果分析：根据实验结果，分析纳米颗粒的粒径分布、平均粒径等参数，并与理论值进行对比。
五、实验结果与分析1. 纳米颗粒粒径分布：实验测得纳米颗粒的粒径分布如图1所示。
从图中可以看出，纳米颗粒的粒径主要集中在20-50nm范围内，符合实验预期。
图1 纳米颗粒粒径分布2. 纳米颗粒平均粒径：根据实验结果，纳米颗粒的平均粒径为30.5nm，与理论值相符。
3. 纳米颗粒分散性：实验测得纳米颗粒的分散性较好，说明样品在制备过程中未发生团聚现象。
六、实验讨论1. 实验过程中，纳米颗粒的粒径分布和平均粒径与理论值相符，说明实验方法可靠，仪器性能稳定。
2. 实验结果表明，纳米颗粒的分散性较好，有利于其在材料科学、生物医学等领域的应用。
3. 在实验过程中，应注意样品的制备和仪器操作，以保证实验结果的准确性。
七、结论本次实验成功测量了纳米颗粒的粒径和分布，验证了纳米粒度仪在材料科学、生物医学等领域的应用价值。
纳米颗粒实验技术中的尺寸测量与误差控制方法
纳米颗粒实验技术中的尺寸测量与误差控制方法近年来，纳米技术的迅猛发展为科学研究和工业应用带来了巨大的机遇与挑战。
在纳米领域中，对纳米粒子的尺寸进行准确测量和误差控制是十分关键的，因为颗粒的大小对其性质和应用有着重要影响。
本文将探讨一些常用的纳米颗粒尺寸测量方法以及误差控制方法。
一、光学显微镜测量光学显微镜是一种常见的纳米颗粒尺寸测量工具。
通过观察在显微镜下的纳米颗粒图像，可以估算其粒径。
但是，由于光学显微镜的分辨率有限，只能对大约100纳米以上的颗粒进行粗略测量。
此外，颗粒的形状和折射率对测量结果也会产生影响。
为了提高测量精度，科学家们还开发了一些显微镜技术的改进方法。
例如，透射电子显微镜（TEM）可以提供更高的分辨率，使得可以观察到纳米颗粒的细节。
同时，通过TEM技术还可以将样品进行投影处理，从而得到更为准确的尺寸结果。
二、扫描电子显微镜测量扫描电子显微镜（SEM）是一种对纳米颗粒进行表面形貌和尺寸测量的重要工具。
SEM利用电子束和样品之间的相互作用，通过检测反射和散射的电子信号来建立颗粒图像。
与光学显微镜不同，SEM具有更高的分辨率，可以检测到更小的颗粒，同时样品的形貌信息也可以得到更为详细的展示。
然而，SEM也有其局限性。
首先，由于电子束与样品的相互作用，样品需要通电处理，这可能会导致颗粒形貌的失真。
其次，样品表面的带电效应会影响电子信号的检测，从而对尺寸结果产生一定的误差。
因此，在SEM测量中需要采取合适的样品处理和检测方法以降低误差。
三、动态光散射测量动态光散射（DLS）技术是一种测量纳米颗粒尺寸和分布的重要方法。
该技术通过测量散射光的强度和波长分布来推断颗粒的尺寸。
与显微镜技术不同，DLS 可以同时测量大量的颗粒，因此能够提供更准确的尺寸分布信息。
然而，DLS也存在一些限制。
首先，DLS仅适用于液体中颗粒尺寸的测量，对于固体颗粒需要先进行分散处理。
其次，DLS对颗粒形状的敏感度较高，不同形状的颗粒可能导致不同的测量结果。
牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计与优化中的应用
牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计与优化中的应用光学薄膜纳米结构是一种具有特殊光学性质的材料，广泛应用于传感器、显示器、光电子器件等领域。
而牛顿环实验是一种常见、传统的光学实验方法，可以用来测量光学薄膜的厚度以及检测其质量。
本文将介绍牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计与优化中的应用。
一、牛顿环实验的原理及方法牛顿环实验是基于干涉现象的光学实验方法。
其原理是利用两个平行玻璃面之间的干涉现象，通过观察干涉环的形状和颜色变化来推断材料的性质和厚度。
具体的实验方法为，将一块光学薄膜置于平行玻璃板之间，使其与外界环境隔离。
然后，在光学薄膜上方垂直投射一束单色光，观察在平行玻璃板上形成的干涉环。
二、牛顿环实验在光学薄膜厚度测量中的应用牛顿环实验在光学薄膜厚度测量中有着重要的应用。
传统的光学薄膜厚度测量方法通常需要复杂的仪器和实验步骤，而牛顿环实验则可以简化这个过程。
通过观察干涉环的直径和颜色变化，可以推断出光学薄膜的厚度，实现了对光学薄膜厚度的快速、准确测量。
三、牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计中的应用除了在光学薄膜厚度测量中的应用，牛顿环实验还在光学薄膜纳米结构设计中发挥着重要的作用。
光学薄膜纳米结构的设计目的是通过调控其光学性质来实现特定的功能。
通过利用牛顿环实验，可以对光学薄膜纳米结构进行优化设计。
例如，在太阳能电池中，可以通过调整光学薄膜的厚度和折射率，提高光吸收效率和电池的光电转换效果。
四、牛顿环实验在光学薄膜纳米结构优化中的应用除了在光学薄膜的设计中的应用，牛顿环实验还在光学薄膜纳米结构优化中发挥着重要的作用。
通过观察牛顿环的形状和颜色变化，可以判断光学薄膜的性能和质量。
在光学薄膜纳米结构的制备过程中，通过观察和调整牛顿环的形态，可以对光学薄膜的制备条件进行优化，提高光学薄膜的质量和性能。
综上所述，牛顿环实验在光学薄膜纳米结构设计与优化中具有重要的应用价值。
通过牛顿环实验可以快速、准确地测量光学薄膜的厚度，同时可以对光学薄膜的纳米结构进行优化设计和制备优化。
纳米材料的光谱测量
纳米材料是指其特征尺寸为 1～100nm 范围内的材料, 其中包括纳米粉体材料, 纳米复合材料,纳米( 结构) 薄膜和纳米结构块体材料等。
研究表明, 纳米粒子具有许多特异性能, 例如: 量子尺寸效应、表面效应、晶场效应等, 使处于表面态的原子、电子与处于内部的原子、电子行为相比有很大差别, 从而导致纳米微粒具有同种宏观体材料所不具备的新的光学特性, 主要表现为宽频带强吸收, 红移、蓝移现象。
目前, 对这些特异现象的基础研究和应用开发已成为纳米材料研究领域的热点之一, 引起科学界的广泛关注, 在这方面研究主要集中在纳米氧化物, 本文将综合分析和介绍这方面的研究进展, 指出该领域的前沿问题。
1. 分子光谱吸收机理分子吸收光谱根据吸收电磁波范围分为红外吸收光谱、紫外—可见吸收光谱。
分子吸收光谱是研究材料分子结构及其它有关性质的基本方法, 因材料的分子结构直接影响分子吸收光谱的基本吸收和吸收位置的变化, 反过来其基本吸收和吸收位置的变化也同样反映出材料分子结构的变化。
以下先从红外吸收光谱、紫外—可见吸收光谱的吸收机理来分析引起分子吸收光谱红移、蓝移。
红外光谱是分子吸收红外辐射后引起分子振动和转动能级跃迁所产生的( 只有远红外波段才涉及部分转动能级的跃迁, 为具有普遍性, 本文以振动为主进行讨论) 。
红外吸收光谱的红移、蓝移实质上是分子振动频率增大或减小, 表现出来的就是分子振动能级变窄或变宽; 其中, 分子振动频率可用分子振动方程确定; 对于双原子分子可以把键的振动近似为谐振子的振动, 其振动方程为:)(/21v HZ μκπ= ……………………… …… 其振动能量的量子力学表达式为:)(/2)21n eV h E μκπ+=（震动 ……………………式中 v(Hz)为振动频率, E 振动( eV) 为振动能级,n 为能级量子数, k(N/cm)为化合健力常数( 化合健强度) , μ(u)为两个原子折合质量。
物理实验中的纳米光学技术及其应用
物理实验中的纳米光学技术及其应用近年来，纳米光学技术作为一种先进的实验手段，已经在物理学领域引起了广泛的关注。
通过纳米尺度下的光学测量和操控，人们得以揭示微观领域中的种种现象，同时也为材料科学和生物医学等领域的应用带来了新的可能性。
一、纳米光学技术的原理和方法纳米光学技术的核心在于对纳米尺度下的光学现象进行研究和利用。
其基本原理是通过使用纳米级的结构或器件，控制光的传播和相互作用行为。
从而实现对物质微观性质的观测和操控。
在实验中，人们常常使用扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等高分辨率显微镜技术，将探测光纳米级尺度下的物理量，如光的强度、相位、极化状态等。
利用非线性光学效应，可以进一步扩展这些纳米光学探测手段的应用。
二、纳米光学技术的应用领域纳米光学技术在物理学以及其他科学领域的应用极其广泛。
以下将介绍几个典型的应用案例。
1. 纳米光子学器件纳米光学技术为制备高性能和高效率的纳米光子学器件提供了新的思路。
通过精确控制纳米级结构的形貌和材料性质，可以实现光场增强、光波导、光谱调制等功能。
这些器件在光信息传输、激光加工和光电子学等方面具有重要的实际应用价值。
2. 纳米材料的光学性质研究纳米材料表面的局域光学性质与宏观材料存在很大差异。
通过纳米尺度下的光学测量，可以研究这些纳米材料的特殊光学行为。
例如，人们可以通过观测纳米结构表面等离子体共振现象，探索纳米材料的量子效应和表面等离子激元耦合等现象。
3. 生物医学领域的应用纳米光学技术的高分辨率和高灵敏度为生物医学领域的疾病检测和治疗提供了新的手段。
例如，通过纳米光学技术可以实现对单个生物分子的检测，用于早期癌症的诊断。
此外，纳米粒子的表面增强拉曼散射技术被广泛应用于细胞成像和分析等领域。
三、纳米光学技术面临的挑战和展望尽管纳米光学技术取得了一系列研究和应用上的突破，但仍然面临一些挑战。
首先，纳米级结构的制备和测量技术需要更高的精度和可控性。
STM-AFM-LFM三种光学纳米测量技术介绍
实例分析
14
thanks
15
北京交通大学
三种光学纳米测量技术
1
Contents
目录
1
扫描隧道显微镜 STM
2
原子力显微镜 AFM
3
激光力显微镜 LFM
2
光学纳米测量技术
原子尺寸：10-10m
将纳米尺度的空间变化转化为目前 科技技术能够接收和处理的信息
变换成什么信息？
怎么变换？
电流电压变化、相干光干涉的条纹变化、电容的变化、受力的变化等等。。。。。。
8
光学纳米测量技术（2）- - -AFM
检测微悬臂弯曲的三种方法（一）---隧道电流法 优点： 灵敏度高 不需要特别的检测手段， 只需要在STM上稍作改 进 缺点： 当微悬臂上产生隧道电流 的部位被污染时，其性能 下降 带针尖的微悬臂+STM
9
光学纳米测量技术（2）- - -AFM
检测微悬臂弯曲的三种方法（二）---电容检测法
6
当原子和原子之间距离很近时，它们之间电子云的排斥力作用比原子核和电子云的 吸引力要大，所以合力表现为斥力。当2个原子分开一段距离时，电子云之间的排斥力 作用比原子核和电子云的吸引力要小，故合力表现为引力。
7
光学纳米测量技术（2）- - -AFM
原理分析
微悬臂
对力传感器的要求： 低的力弹性系数 高的横向刚性 高的共振频率 带有尽可能尖的针尖 技术（1）- - -STM
间距S<1nm
隧道电流效应
原理图
4
光学纳米测量技术（1）- - -STM
根据针尖与样品间相对运动方式的不同，STM有两种工作模式
起伏较大
起伏较小 <1nm
微纳米测量技术实验指导书
机械工程学科应用型研究生综合实验实验指导书（微纳米测量技术分册）王景贺主编赵学增主审机电工程学院2013年1月目录实验一超精密加工表面的微观形貌检测 (1)实验1.1非球面测量系统认知实验 (1)实验1.2非接触白光干涉仪认知实验 (3)实验1.3原子力显微镜 (5)实验二超精密加工表面的机械力学特性检测 (20)实验一 超精密加工表面的微观形貌检测实验1.1非球面测量系统认知实验一、实验目的了解非球面测量系统的基本构造及工作原理，明确仪器的适用范围。
二、仪器概述Form Talysurf PGI 1240非球面测量系统，如图1-1所示，是由英国Taylor Hobson 公司研发的高测量精度仪器，其纵向分辨率达到了亚纳米级，可用于通用测量、轴承测量和光学非球面测量，借助该公司自行开发的基于PC 的测量数据分析软件µltra Windows ®可完成非球面形状参数和粗糙度参数的分析等。
该测量系统的主要性能参数，详见表1-1。
基座X 驱动箱立柱控制柜（内有控制器及计算机主机）运动控制杆打印机图1-1 Form Talysurf PGI 1240轮廓仪表1-1 Form Talysurf PGI 1240相关性能参数三、仪器的工作原理偏折棱镜柱面棱镜半波片输出分光镜分光棱镜止推轴承a)实物图 b)内部原理图图1-2 PGI 式触针传感器 Form Talysurf PGI 1240与其它触针式表面轮廓仪一样，是由工作台、驱动器、传感器、触针、数据采集器等主要部件组成。
其中的传感器是轮廓仪的最主要部件之一。
传感器的类型可分为电感式、电容式、压电式、干涉式及光栅式等。
Form Talysurf PGI 1240采用了相位光栅干涉式(PGI, Phase Grating Interferometric)触针传感器。
传感器实体如图1-2 a) 椭圆内所示，测量原理图如图1-2 b) 所示，PGI 主要由一个曲面衍射光栅组成，它装在测杆的尾端，以使其轴线和止推轴承轴线一致。
光学测量方法实现在纳米级别量测并可视
光学测量方法实现在纳米级别量测并可视光学测量是一种常用的非接触式测量方法，可以在不破坏被测对象的情况下获取其表面形貌和尺寸信息。
由于光学测量具有高精度、高效率和无损检测等优点，在纳米级别的测量领域得到了广泛应用。
纳米级别的测量是科学研究和工程技术中的重要任务，对于探索纳米世界的新现象和提高纳米器件制造的精度至关重要。
光学测量方法在纳米级别的量测中发挥着重要作用，可以实现非常精确的表面形貌和尺寸量测，并且具有可视化的特点。
在纳米级别的光学测量中，常用的方法有：1. 扫描近场光学显微镜 (SNOM)：这种方法利用纳米尺度的近场光学原理，将光源聚焦到纳米尺度的探针尖端，通过探测光与被测样品相互作用的变化，来实现纳米级别的量测。
通过控制探测器的移动，可以在纳米级别内进行图像扫描，获取高分辨率的纳米级别表面形貌信息。
2. 原子力显微镜 (AFM)：原子力显微镜是一种通过探针与被测样品之间的相互作用力来获取样品表面形貌的测量方法。
它不仅可以在纳米级别内测量样品的表面形貌，还可以实现原子级别的分辨率。
通过探测器的移动和探针的借助，可以实现在纳米级别内的量测并可视化。
3. 散射光学一维和二维显微镜：这种方法利用样品散射的光学特性，通过一维或二维的显微镜来实现纳米级别的量测。
通过对散射光的方向、强度和偏振状态进行测量和分析，可以获取样品表面形貌和尺寸的信息。
而且，这种方法具有实时、快速和无需接触样品的特点，非常适合对纳米级别结构进行量测。
需要注意的是，在纳米级别的光学测量中，仪器的精度和分辨率非常重要。
为了提高测量的准确性和可靠性，通常会采用先进的光学元件、高稳定性的光源和精密的控制系统来构建测量系统。
此外，还需要进行有效的信号处理和数据分析，以提取出真实、准确的纳米级别量测结果。
光学测量方法在纳米级别量测中的应用非常广泛。
例如，在纳米科学和纳米技术中，常用光学测量方法来研究纳米材料的光学性质、光学波导器件的制备和性能评估等。
纳米测量
STM images of Si(111)-7×7 with positive (left) and negative (right) bias.
2. Au(111)
When the first Au(111) STM images with atomic resolution were taken，some features had already been known or assumed by LEED experiments.
只能用小探针去探测大物体 —— 原子针尖
Which tip is better or the best ?
针尖
STM针尖的分类
0.25 mm×1m = 500 元
钨丝针尖 (tungsten , W)：适用于真空 按材料分 铂—铱针尖 (platinum-iridium, Pt-Ir)
多重针尖 (multi-tip or mini-tip) 按结构分 单原子针尖 (nano-tip)
Gerd K. Binnig
Heinrich Rohrer
1986 诺贝尔物理奖
经典物理学
It
空气或真空
Tip
Sample
Vbias
It = 0
量子力学—隧道效应(Tunneling effect) S<1nm时
It 空气或真空 Vbias 隧穿 Tip S Sample
隧道电流： It Vbexp（-A S）
A
B
C
D
或者
X k ( IA I C - I B - I D ) Y k ( I A I B -I C - I D )
IA I-V 转换 UA 加法器 UA+UB 减法器 UB+UD 减法器 IC I-V 转换 UC 加法器 UC+UA X Y
物理实验技术的纳米光学实验方法
物理实验技术的纳米光学实验方法纳米光学实验方法是一种利用纳米尺度的光学技术来探索和研究光的性质和相互作用的方法。
随着纳米科学和纳米技术的发展，纳米光学实验方法也得到了极大的发展和应用。
本文将介绍一些常见的物理实验技术中的纳米光学实验方法。
首先，介绍一种常用的纳米光学实验方法——表面增强拉曼散射（Surface-enhanced Raman scattering，SERS）。
SERS利用金属纳米结构表面的局部电场增强效应，使样品吸收的光子增强数百到数十万倍，从而使拉曼散射信号得到显著增强。
这种方法非常适用于表面吸附分子的检测和分析。
SERS可以实现对纳米级的物质进行表面分析，从而揭示其结构和性质，这在材料研究和化学分析中有着广泛的应用。
其次，介绍一种基于电磁场调控的纳米光学实验方法——表面等离子体共振（Surface plasmon resonance，SPR）。
SPR是一种通过掺杂金属或金属纳米颗粒来实现光的局部电磁场增强效应的实验技术。
这种方法通过改变金属纳米颗粒的形状、尺寸和排列方式，实现对光的吸收、散射和传输的调控。
SPR技术广泛应用于传感器、光电子学、光学显微镜等领域，它们可以实现对生物分子、细胞和材料的检测、分析和成像。
另外，介绍一种基于表面等离子体激元的纳米光学实验方法——局域表面等离子体共振（Localized surface plasmon resonance，LSPR）。
LSPR是一种通过纳米尺度金属结构表面的局部电磁场增强效应来实现对光的调控的方法。
不同于SPR，LSPR是一种在纳米尺度上发生的现象，其具有更强的局部增强效应，可以实现对单个分子、单个纳米粒子等的检测和成像。
LSPR在纳米光学领域的应用非常广泛，例如在纳米传感器和纳米光学器件的设计和制备中有着重要的作用。
此外，还有一种纳米光学实验方法——近场光学显微镜（Scanning near-field optical microscopy，SNOM）。
纳米尺度下材料的光学性能测试方法介绍
纳米尺度下材料的光学性能测试方法介绍引言：随着纳米技术的快速发展，纳米材料的特殊性质和应用潜力引起了广泛的关注。
光学性能作为纳米材料研究的重要指标之一，对于了解和优化材料的光学性质具有重要意义。
本文将介绍几种常见的纳米尺度下材料光学性能测试方法，包括吸收光谱、荧光光谱、拉曼光谱和表面等离子共振。
一、吸收光谱吸收光谱是一种常用的光学性能测试手段，用于研究材料对特定波长光的吸收现象。
通过测量样品在不同波长下的吸收与透射能力，可以获得材料的吸收光谱图像。
纳米材料在可见光到紫外光（UV-Vis）范围内具有明显的吸收特性。
该方法可以提供材料的吸收峰位置、光吸收强度以及材料吸收特性的变化趋势等信息。
常见的仪器有紫外可见分光光度计（UV-Vis spectrophotometer）和纳米颗粒浓度测定仪等。
二、荧光光谱荧光光谱是通过激发材料后，测量材料发射的荧光光的强度和波长的变化。
纳米材料常常表现出独特的荧光特性，如量子点和量子棒等。
纳米材料的荧光发射峰位可通过荧光光谱进行测量和分析。
荧光光谱可以提供材料的发光峰位、发射光谱的峰值位置以及荧光效率的信息。
三、拉曼光谱拉曼光谱是一种分析材料结构和化学成分的光学测试方法。
该方法通过测量散射光的频率差，分析与分子振动频率相关的信息，获得具体的化学成分和结构特征。
拉曼光谱的优点是无需特殊样品处理，不容易产生物质表面改变和降解。
在纳米材料的研究中，拉曼光谱被广泛应用于表征材料颗粒的尺寸、结构、形貌以及表面纯度。
常见的仪器有激光拉曼光谱仪等。
四、表面等离子共振表面等离子共振（Surface Plasmon Resonance, SPR）是一种基于金属表面等离子共振现象的光学测试手段。
该方法利用金属薄膜的表面等离子体激元模式产生共振吸收或散射现象，测量材料吸附和解吸过程中的光学性质变化。
纳米材料表面的等离子共振现象对应不同波长，通过测量共振角度变化，可以获得材料表面性质的信息。
纳米材料对光学性质的改变与调控实验
纳米材料对光学性质的改变与调控实验随着科技的进步和人类对物质世界的探索，纳米材料的研究和应用正逐渐成为热门的领域。
纳米材料的特殊性质使其在许多领域具有潜在的应用前景，如光学、电子、磁性等。
本文将重点讨论纳米材料对光学性质的改变和调控实验。
纳米材料由于其尺寸在纳米级别范围内，使其具有与宏观材料不同的光学特性。
经典力学的规律和公式在宏观物质上成立，但在纳米尺度下需要采用量子力学的理论来描述。
纳米材料的光学性质受到量子效应的影响，包括电子结构、能带结构和禁带宽度等。
在纳米材料中，电子的束缚和量子限制效应使其能级结构发生变化，从而导致材料的光学性质的改变。
在纳米材料的光学性质改变方面，表面等离子体共振（Surface Plasmon Resonance，SPR）是一个重要的研究方向。
当光通过纳米材料表面时，电子和光之间的相互作用导致表面等离子体共振的产生。
表面等离子体共振现象使纳米材料表面出现强烈的吸收和散射光现象，从而改变了材料的光学性质。
这种现象在纳米材料传感器、光学器件和纳米光子学等领域具有重大应用价值。
为了研究和调控纳米材料的光学性质，科学家们进行了一系列实验。
其中，一种常用的实验方法是光谱分析技术。
通过对纳米材料的光谱进行测量和分析，可以揭示材料的光学特性和性质。
例如，紫外-可见吸收光谱可以用来研究纳米材料的吸收特性和能带结构；拉曼光谱可以用来研究纳米材料的晶格振动和表面等离子体共振等。
这些实验结果为研究人员提供了对纳米材料的光学性质进行定量分析和调控的基础。
此外，纳米材料的制备方法也对其光学性质的改变和调控起着重要作用。
目前，常用的纳米材料合成方法包括溶液法、气相法、凝胶法等。
这些方法可以通过控制反应条件、添加表面活性剂或催化剂等手段实现对纳米材料形貌、尺寸和结构的调控。
例如，可以通过调节反应温度、浓度和反应时间等参数来控制纳米材料的形貌和尺寸，从而影响其光学性质。
研究人员可以通过合成纳米材料的方法来实现对其光学性质的有针对性的调控和改变。
物理实验技术中如何进行纳米技术实验
物理实验技术中如何进行纳米技术实验随着科技的快速发展，纳米技术已经成为了现代物理学领域的一个热门话题。
纳米技术涉及到纳米级别的物质结构和性质，在很大程度上影响着不同领域的发展。
为了研究和应用纳米技术，物理实验技术在纳米尺度下也发生了很大的变化和进步。
本文将介绍如何进行纳米技术实验，包括实验设备、样品处理以及测量技术等内容。
1. 实验设备纳米技术实验通常需要使用高精度和高性能的实验设备。
例如，扫描电子显微镜是一种常见的用于观察纳米级别物质形貌和表面性质的仪器。
它能够对样品进行高分辨率的成像，使研究人员能够观察和分析纳米级别的结构。
此外，准分子激光扫描显微镜、纳米级别的探测仪器以及纳米操作平台等设备也是进行纳米技术实验的重要工具。
2. 样品处理样品处理是进行纳米技术实验的一个关键环节。
在处理过程中，需要特别注意杂质和颗粒的控制，以确保样品的纯净度和可重复性。
常见的样品处理方法包括化学合成、物理气相沉积以及表面掺杂等。
这些方法可以有效地控制纳米材料的形貌、结构和性质，为纳米技术实验提供可靠的样品基础。
3. 测量技术纳米技术实验中，测量技术对于获得准确的数据和结果至关重要。
常见的纳米测量技术包括原子力显微镜、扫描隧道显微镜、高分辨率透射电子显微镜等。
这些技术能够非常精确地测量纳米尺度下的物理性质，例如电荷、电磁场分布、力的大小等。
通过测量技术的应用，可以更加深入地了解纳米级别结构和性质的变化规律。
4. 数据分析进行纳米技术实验后，还需要对实验数据进行充分的分析。
数据分析可以帮助研究人员从实验结果中提取有意义的信息，并解释所观察到的现象。
常见的分析方法包括图像处理、数据拟合和模型构建等。
这些方法能够帮助研究人员发现和解释纳米尺度下的物理现象，并提供理论依据。
5. 应用和未来发展纳米技术实验不仅仅只是为了研究纳米尺度下的物理现象，还可以用于开发各种纳米材料和纳米器件。
例如，纳米材料的制备和表征可以为能源存储和转换、生物医学、信息技术等领域的应用提供基础。
基于纳米材料的超快光电探测技术研究及应用
基于纳米材料的超快光电探测技术研究及应用随着科技的不断发展，纳米材料已经成为了研究热点之一。
作为一种具有超出传统材料的特性的材料，纳米材料在各个领域中都有着广泛的应用，其中光电探测技术也不例外。
纳米材料的超快光电探测技术基于纳米材料的超快光电探测技术是指利用纳米材料的特殊特性对光波进行探测，实现高速且高效的光电转换。
纳米材料的特殊特性主要表现在以下两个方面。
首先是纳米材料纳米级尺寸的特性。
纳米材料的尺寸非常小，通常在1~100纳米之间。
这种小尺寸有助于提高纳米材料的光电转换效率，因为小尺寸意味着更少的内部阻力和更近的电子距离。
此外，小尺寸也意味着更短的响应时间，从而实现了对超快光的响应。
其次是纳米材料的量子限制效应。
纳米材料的量子限制效应是指由于纳米材料的尺寸限制，其表面和体内的电子将具有不同的能量级。
这种效应意味着纳米材料能够吸收和发射特定波长的光，因此可以用于选择性地探测和转换光波。
利用这些特殊特性，基于纳米材料的超快光电探测技术已经取得了很多研究成果。
例如，在光通信领域，通过利用纳米颗粒的量子限制效应和表面等离子体共振效应等特性，可以实现超高速光通信。
同时，基于纳米颗粒的天线也能够帮助增强光信号，从而实现更高效的光通信。
基于纳米材料的超快光电探测技术的应用除了在光通信领域，基于纳米材料的超快光电探测技术还有很多其他的应用。
主要包括以下几个方面。
首先是在纳米光学中的应用。
利用纳米颗粒的表面等离子体共振效应和量子限制效应，可以实现纳米级别的光学成像和荧光探测，从而开展纳米光学的研究。
第二，基于纳米材料的超快光电探测技术还能在生物医学应用中发挥作用。
例如，在分子药物的研究中，利用基于纳米材料的超快光电探测技术，可以实现对分子等微观层面进行更准确的探测和测量，从而实现更有效的分子药物研究。
第三，还可以将基于纳米材料的超快光电探测技术应用于半导体器件的制造和研究中。
通过基于纳米颗粒的光学技术，可以实现对半导体器件的精细控制和分析，从而提高其性能和功能。
利用纳米探针进行物理实验的实验方法
利用纳米探针进行物理实验的实验方法纳米技术在科学研究领域的应用日益广泛，其中纳米探针被广泛用于物理实验中。
纳米探针是具有纳米尺寸的微小探头，可以在纳米尺度下对物理现象进行观测和测量。
利用纳米探针进行物理实验可以帮助科学家深入了解微观世界的奥秘，推动科学研究的发展。
首先，利用纳米探针进行物理实验的第一步是选择适当的纳米探针和实验目标。
纳米探针可以根据实验需求制备，并根据被研究物体的性质进行调整。
例如，如果研究目标是测量材料的机械性能，可以选择具有一定硬度和尖锐的纳米探针。
如果研究目标是观察材料的表面形貌，则可以选择较为平滑和敏感的纳米探针。
其次，对纳米探针进行定位和检测。
纳米探针需要精确地定位到实验目标的表面或内部，以确保测量和观察的准确性。
这可以通过使用扫描探针显微镜等仪器来实现。
扫描探针显微镜利用纳米探针对样品进行扫描，从而获取样品的形貌和性质信息。
同时，也可以通过调整纳米探针的位置和角度来获得不同的测量数据和图像。
在实验过程中，需要注意控制实验参数和环境条件。
纳米探针的测量结果受到实验参数的影响，如力的大小、探针和材料之间的接触力等。
因此，在每次实验前，科学家需要根据实验目标和测量要求进行合理地参数设定。
此外，环境条件也需要控制，如温度、湿度、气氛等。
这些因素的变化都可能对测量结果产生影响，因此必须对其进行严格控制。
通过纳米探针的实验方法，科学家可以从微观尺度上揭示物理现象的本质。
例如，在材料科学研究中，纳米探针可以测量材料的力学性能，如硬度、弹性等。
这对于材料设计和工程应用具有重要意义。
此外，纳米探针还可以用于研究纳米粒子的形貌和表面特性，为纳米技术的发展提供重要参考。
在实验结果分析方面，科学家需要对测量数据进行详细的分析和解释。
纳米探针的测量结果通常以图像和曲线的形式呈现，科学家需要从中提取有用的信息，并将其与理论模型进行比较和分析。
通过对实验数据的分析，可以得出对物理现象的深入理解和认识。
纳米材料的测量方法
一 1.景深：成像时，像平面不动（像距不变），在满足成像清晰地前提下，物平面沿轴线前后可移动的距离. 是指在样品深度方向可能观察的程度。
2.焦长: 物点固定不动（物距不变），在满足成像清晰地前提下，像平面沿轴线前后可移动的距离，或者说观察屏或照相底版沿镜轴所允许的移动距离。
二.原子力显微镜的三种工作模式答：原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。
主要有以下3种操作模式:接触模式(contact mode) ，非接触模式( non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode) 。
1、接触模式1)接触式：•在接触模式中，针尖始终与样品保持轻微接触，扫描过程中，针尖在样品表面滑动。
通常来说，接触模式都可以产生稳定的、高分辨率的图像。
•在接触模式中，如果扫描软样品的时候，样品表面由于和针尖直接接触，有可能造成样品的损伤。
对于表面坚硬的样品，容易造成针尖的损坏。
所以接触模式一般不适用于研究生物大分子、低弹性模量样品以及容易移动和变形的样品2)非接触式：a.在非接触模式中，针尖在样品表面上方振动，始终不与样品接触，探针监测器检测的是范德华力和静电力等对成像样品的无破坏的长程作用力。
b.但当针尖与样品之间的距离较长时，分辨率要比接触模式和轻敲模式都低，而且成像不稳定，操作相对困难.c.通常不适用于在液体中成像，在生物中的应用也比较少。
3)轻敲式：a.在轻敲模式，微悬臂在其共振频率附近作受迫振动，振荡的针尖轻轻的敲击样品表面，间断的和样品接触，所以又称为间歇接触模式。
b.轻敲模式能够避免针尖粘附到样品上，在扫描过程中对样品几乎没有损坏。
轻敲模式AFM在大气和液体环境下都可以实现。
c.在液体中的轻敲模式成像可以对活性生物样品进行现场检测、对溶液反应进行现场跟踪等。
三．电子衍射与X衍射相比的优缺点。
答：优点1）电子衍射能在同一试样上将形貌观察与结构分析结合起来。
2）物质对电子散射主要是核散射，因此散射强，约为X射线一万倍，曝光时间短。
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式中，N是光强变化的频率与振动台振动频率之比（即波形走一周期中条纹的移动数）。
【实验步骤】
1、按照图二所示放置好实验装置，然后打开激光器,先置在3档，待激光发射出后再置回1档。调整光路要通过的小孔,使整个光路通常无阻.
2.调节各部分的仪器共轴,并且使两个反射镜反射出来的两束光中最亮的一束重合,方法是先挡住一个反射镜让最亮的光通过小孔光阑，再挡住另一个反射镜让最亮的光通过小孔光阑。
3.30712
Slope
-1.19328
0.02448
根据相关系数Adj. R-Square=0.9979.可以认为PTZ与 的关系是线性的。残差图如下图五。可以看到，各个量与均方根值之间的偏差量不大，最大的量也与 相差2个量级，故可以认为数据的拟合程度很高。
图五拟合残差图
根据拟合得到的斜率与截距，建立条纹移动量 与PTZ电压之间的定标函数：
斜率代表单位电压内条纹的位移量根据公式（1）我们可以反推出待测镜的位移量s与PTZ电压的关系式：
=
由上述2拟合公式可以知道，如若PTZ压电陶瓷的可调电压为1mV，则条纹位移的可辨识位移为1.19 。同时待测镜的可调范围是1.99nm，即达到了纳米级的灵敏度。
2、微弱振动的纳米测量与监视
测得的数据如下：
(6)
为条纹移动数量。
条纹移动距离 由公式（1）得到。
我们可以对条纹移动量 和电压间做定标。
做PTZ电压V与条纹移动量 之间的散点图，为（图三示）：
图三PTZ- 散点图
观察可认为PTZ电压与条纹移动量之间是有线性关系的，对上图做线性拟合。得到拟合曲线如下图四：
图四PTZ- 拟合曲线图
拟合数据如下表二
158.2
155.036
其中振幅 ，由公式（5）计算得到。
由数据可以知道，在不同的周期调整量 下，其条纹移动数除了初始与结束有变化之外，其条纹移动量是基本不变的。说明条纹移动量不随周期调整量的变化而变化。
我们固定一个便于观察与数据记录的周期调整量（ =2500），记录5次试验得到的条纹周期初始与结束，得到条纹移动数N。条纹在一个周期内的移动量N的平均值由公式算得：
（1）采用各种减震隔离装置，包括气浮式、电磁式和机械式隔离系统。一方面减小外界振动对测量系统的影响，另一方面将测量系统的振动固有频率远离振动源的频率。
（2）保持实验室的室温恒定，减少由于光程差随伟大变化而带来的误差。
（3）采取措施，减少空气扰动的影响。
为此，测量时须注意遵循以下的原则：1、共光路系统原则；2、补偿原则；3、减少受影响的光路原则；4、减少杂散光原则；5、交流调制放大原则。
2、什么叫笔束激光？为什么纳米测量要用笔束激光？
答：笔束激光是指光斑直径甚细的准直激光束。在纳米测量中采用笔束激光束是因为CCD上干涉条纹的位移量为 ，其中 为待测光束与参考光束的间距，放大镜放大倍数为 ，成像透镜焦距为 。在 与 已确定的时候， 的减小意味着CCD上斑纹移动更明显，则可以测出更小的位移，从而提高测量精度，实现纳米测量。而要使 足够小，就需要激光束的光斑直径小，因此要采用笔束光。
二、实验讲义中对待测镜的位移s、光程差 ，以及待测镜的位移振幅 之间的关系没有很清楚的说明。这会导致对其定义的错乱，从而使学生在定标的时候无从下手。个人所理解的公式如下：
个人建议，在讲义中对这些量做相关的声明或者赋予公式定义，使学生在处理实验时有明确的公式可以使用。
【思考】
1、什么是纳米科学？研究光学纳米测量技术有何意义？
3.打开电脑,启动CCD扫描设备,这时细细调节两个反射镜的底座,使干涉条纹出现在电脑屏幕上;然后调节CCD镜头,使出现在屏幕上的条纹清晰整齐,并且充满整个显示屏.
实验装置如图二所示：
图二：共焦实验装置图
4.对压电陶瓷PZT输入直流电压，使PZT轴向移动三角镜。不断变换电压值,观察条纹平移情况，并将结果记录在表一中
表2不同周期调整量的微弱振动的纳米测量
周期调整量
1000
1500
2000
2500
3000
条纹移动数最小值
-1.9
-3.1
-1.3
-3.0
-2.4
条纹移动数最大值
0.1
-1.1
0.7
-1.0
-0.4
周期移动数N
2.0
2.0
2.0
2.0
2.0
振幅 /nm
158.2
158.2
158.2
158.2
158.2
中山大学光信息专业实验报告：纳米光学测量实验
实验人：何杰勇合作人：徐艺灵 组号B13
（2014年4月17日星期四）
【实验目的】
1.建立纳米精度测量的概念，了解其实现方法。
2.掌握利用笔束激光干涉法进行纳米精度的位移和振动测量的方法。
【实验仪器】
实验用具：激光器、平面反射镜、棱镜反射镜、CMOS光电接受器、可调光阑、半反射镜、物镜、压电陶瓷及控制电源。
本实验使用的是笔束激光干涉法，它是一种经过改良后的光学干涉法，测量精度也可达
到纳米量级，其原理图如图1所示：
图1笔束激光干涉仪原理图
激光器发出的是光斑直径甚细的准直激光束，即笔束光，记其位相分布为 ，半反射镜将笔束光分为待测光束和参考光束。这两笔束光分别经待测反射棱镜和参考反射棱镜反射后，回到半反射镜后，待测光束与参考光束已不再重合，而是存在一定的间距2d。透过半反射镜后，待测光束与参考光束平行入射到成像透镜，并在成像透镜的后焦面上重合发生干涉，形成干涉条纹。如图1，因为成像透镜的后焦点恰好与物镜的前焦点重合于小孔光阑处，这使干涉条纹被物镜放大成像于CCD上，既增大了干涉条纹的分辨率，又减少了杂散光的影响。所以在CCD上干涉条纹的位移量为：
【参考文献】
1.赵凯华《光学》高等教育出版社
2.李直、赵洋、李达成《用于微位移测量的笔束激光干涉仪》光学技术2001年5月
表3周期调整量为2500时微弱振动的纳米测量
测量次数
1
2
3
4
5
平均值
条纹移动数最小值
-0.9
-1.0
-1.1
-1.0
-1.0
-1.0
条纹移动数最大值
-2.9
-2.9
-3.0
-3.0
-3.0
-2.96
周期移动数N
2.0
1.9
1.9
2.0
2.0
1.96
振幅 /nm
158.2
150.29
150.29
158.2
110
140
170
200
条纹移动数n
0
-0.4
-0.8
-1.2
-1.5
-1.9
待测镜位移量s（nm）
0
-126.56
-253.12
-379.68
-474.6
-601.16
条纹移动距离 ( m)
027.808
-284.76
-360.696
其中待测镜位移量s是根据条纹移动一条时光程差相差半波 。即为公式（6）
表二拟合情况表
Equation
y = a + b*x
Weight
No Weighting
Residual Sum of Squares
37.75538
Pearson's r
-0.99916
Adj. R-Square
0.9979
Value
Standard Error
条纹移动量Xf
Intercept
57.404
3、为什么图2要采用这样的仪器结构？各器件对精确测量有什么优点？
答：采用这样的仪器结构，目的就是提高测量精度，减少误差。半反射镜体现了共光路系统原则，即要得到干涉图像，需要有两束同频率、同相位、同偏振的激光束，得到这样两束最好的方法就是将一束激光通过半反射镜一分而二；采用参考三角反射镜和和待测三角反射镜是体现了补偿原则，即为这两束相干光提供一定的光程差；采用光阑可以减小受影响的光路以及减少杂散光，物镜将干涉条纹放大后再成像于CCD上，增大了干涉条纹的分辨率，提高了实验系统的精度和灵敏度，此外，由于CCD存在域值设定也可以减少噪声光的影响。
标准偏差为
于是可以得到条纹移动数N为：
而又公式（5）可以得到振动台振幅 均值为：
由误差传递公式， 标准偏差为：
于是可以得到振动台振幅 为：
相对误差
误差很小，可以认为该试验环境下得到的振动台振幅是稳定的。
【总结与分析】
1.实验通过控制PTZ压电陶瓷所加的电压大小，实现极小距离的位移，然后经过笔束干涉仪得到一套由于位移产生的光程差所得到的干涉图样，经过放大后可以在CCD面板接收，最终到了计算机终端得到图样。这样子即实现了位移的放大，得到纳米级别的测量，同时也可以对其做实时位移监测。
【改进建议】
一、实验1与实验2之间的关联性基本为0，为了实验数据处理的连贯性。个人建议可以把实验改进为：
1.定标PTZ电压与待测镜的位移量s的关系，得到定标公式；
2.给予PTZ一个正弦波交流电压，（软件需要保证可以测得振幅 ），记录半个振荡周期（即电压从最大值扫描至最小值）内的条纹移动总量N，以及记录电压的振幅 ，根据定标曲线计算得到s，即可得到待测镜的位移振幅 。然后验证公式（5）中的常数1/8。
【实验原理】
1、位移的纳米测量方法
纳米测量技术指尺度为0.01nm～100nm的测量技术.
目前能够进行纳米测量的方法主要有：非光学方法和光学方法两大类。
前者包括：SPM法和电容、电感测微法；后者包括X光干涉仪法、各种形式得激光干涉仪法、和光学光栅等方法。
纳米测量过程还需要建立一个合适的纳米测量环境，以便提高测量精度，减少误差。所以我们必须注意
答：纳米科学是上世纪80年代起，逐步发展独立起来的新学科，主要研究纳米材料和纳米技术两方面的科技问题。纳米科学是在纳米（ ）和原子（约 ）的尺度上（即 ）研究物质的特性、物质之间相互作用，以及应用这些特性的多学科交叉的前沿科学与技术。纳米科学的最终目标是直接用原子、分子制成纳米尺度的物质，并利用纳米尺度物质出现的特异性能，制成具有特定功能的产品，实现生产方式的大飞跃。