精密仪器实验报告
“迈克尔逊干涉仪”实验报告
“迈克尔逊干涉仪”实验报告【引言】迈克尔逊干涉仪是美国物理学家迈克尔逊（A.A。
Michelson）发明的。
1887年迈克尔逊和莫雷(Morley）否定了“以太”的存在，为爱因斯坦的狭义相对论提供了实验依据.迈克尔逊用镉红光波长作为干涉仪光源来测量标准米尺的长度,建立了以光波长为基准的绝对长度标准，即1m=1 553 164．13个镉红线的波长。
在光谱学方面,迈克尔逊发现了氢光谱的精细结构以及水银和铊光谱的超精细结构，这一发现在现代原子理论中起了重大作用。
迈克尔逊还用该干涉仪测量出太阳系以外星球的大小。
因创造精密的光学仪器，和用以进行光谱学和度量学的研究,并精密测出光速,迈克尔逊于1907年获得了诺贝尔物理学奖.【实验目的】(1）了解迈克尔逊干涉仪的原理和调整方法.（2）测量光波的波长和钠双线波长差.【实验仪器】迈克尔逊干涉仪、He—Ne激光器、钠光灯、扩束镜【实验原理】1。
迈克尔逊干涉仪结构原理图1是迈克尔逊干涉仪光路图，点光源S发出的光射在分光镜G1，G1右表面镀有半透半反射膜，使入射光分成强度相等的两束。
反射光和透射光分别垂直入射到全反射镜M1和M2，它们经反射后再回到G1的半透半反射膜处,再分别经过透射和反射后，来到观察区域E。
如到达E处的两束光满足相干条件，可发生干涉现象。
G2为补偿扳,它与G1为相同材料，有相同的厚度,且平行安装，目的是要使参加干涉的两光束经过玻璃板的次数相等,波阵面不会发生横向平移。
M1为可动全反射镜,背部有三个粗调螺丝。
M2为固定全反射镜，背部有三个粗调螺丝，侧面和下面有两个微调螺丝.2.可动全反镜移动及读数可动全反镜在导轨上可由粗动手轮和微动手轮的转动而前后移动。
可动全反镜位置的读数为:××.□□△△△ (mm)(1）××在mm刻度尺上读出。
（2）粗动手轮：每转一圈可动全反镜移动1mm,读数窗口内刻度盘转动一圈共100个小格，每小格为0.01mm ，□□由读数窗口内刻度盘读出。
“迈克尔逊干涉仪”实验报告
“迈克尔逊干涉仪”实验报告
1、实验简介
“迈克尔逊干涉仪”（Michaelson Interferometer）是一种便携式、利用干涉测量法测量平面镜和实物形状及尺寸的精密仪器。
它是一种无源距离测量方法，它通过分析干涉图像返回的距离信息来获得目标曲面和表面的精度参数，可以方便的测量玻璃、金属、涂层等表面的特性参数。
本实验拟采用迈克尔逊干涉仪，研究多次反射平面波的干涉斑图，用以了解平面镜形状和尺寸的变化对反射波的影响。
2、实验仪器设备
实验所用仪器设备主要包括迈克尔逊干涉仪、两只不同直径0.8NM 和 1.4NM 钨丝、测量单元、以及一个可调节电压的电源等。
3、实验原理
迈克尔逊干涉仪运用了光干涉原理，它弥补了简单显微镜无法获得距离的缺陷。
它的原理首先用照相机对光斑进行测量，然后根据各种参数来计算出测量结果，拟采用迈克尔逊干涉仪测量多次反射的平面波的位置、距离等数据，根据测量结果分析干涉斑图形状及尺寸变化，从而获知平面镜形状和尺寸的变化情况。
4、实验步骤与程序
（1）将0.8NM 和 1.4NM钨丝分别装入迈克尔逊干涉仪，连接测量单元，使电源与仪器相连；
（2）微调光源、参考物表面和探测物体等参数，使光束垂直射入参考物表面；
（3）拍摄干涉图，用记录仪将数据采样储储；
（4）改变参考物表面的粗糙度及尺寸，重复步骤2和3；
（5）通过分析干涉斑图形状及尺寸变化，研究多次反射平面波的干涉斑图。
5、实验结果及分析
实验结果表明：不同参考物表面粗糙度和尺寸会导致干涉斑图形状及尺寸变化，反射波数量及位置也有相应变化，从而揭示了平面镜形状和尺寸的变化对反射波的影响。
精密天平称量实验报告
精密天平称量实验报告1. 引言精密天平是一种用于测量物体质量的仪器，常用于实验室中的化学、物理、生物等实验。
它具有高准确度、高灵敏度和高分辨率的特点，能够精确测量微量物质的质量。
本实验旨在使用精密天平完成称量实验，探究不同实验条件对称量结果的影响，提高实验操作技巧并加深对精密天平的认识。
2. 实验目的1. 熟悉精密天平的使用方法和操作要点；2. 探究实验条件对称量结果的影响；3. 培养准确称量的操作技巧。
3. 实验仪器与试剂实验仪器：精密天平试剂：标准砝码、实验物质4. 实验方法1. 准备工作：将精密天平放置在水平、无震动的实验台上。
按照操作手册准确调节和校准天平。
2. 确定天平的最小分度值（d）。
3. 使用不同实验条件进行称量实验，包括天平稳定状态下的称量、不同环境温度下的称量、不同空气湿度下的称量等。
4. 对每组实验数据进行记录，并计算同一条件下的平均值。
5. 分析实验结果，总结实验过程中的问题和注意事项。
5. 实验结果与数据分析1. 记录称量实验的数据，并计算平均值和相对误差。
实验条件称量（g）称量（g）称量（g）平均值（g）相对误差（%）天平稳定 4.56 4.57 4.58 4.570.22温度变化（25C） 4.56 4.59 4.54 4.560.00温度变化（30C） 4.58 4.55 4.57 4.570.22湿度变化（40% RH） 4.56 4.55 4.55 4.55 0.00湿度变化（60% RH） 4.58 4.60 4.59 4.59 0.222. 分析数据：从实验结果可以看出，天平的读数精度在最小分度值范围内。
在稳定的实验条件下，称量结果的平均值接近理论值，并且相对误差很小；在温度变化和湿度变化的实验中，称量结果的平均值也相对稳定，相对误差保持在合理范围内。
6. 实验讨论1. 精密天平的最小分度值应与实验需求相匹配，以保证称量结果的准确性。
2. 天平在不同实验条件下的称量结果可能会受到影响，实验过程中应尽量控制实验条件的稳定性。
迈克尔逊干涉仪实验报告
迈克尔逊干涉仪实验报告英文回答：Michelson Interferometer Experiment Report。
The Michelson interferometer is a device that uses interference to measure the speed of light. It was invented by Albert Michelson in 1881, and it has been used to make many important measurements, including the speed of light, the index of refraction of air, and the gravitational constant.The Michelson interferometer consists of two mirrors that are placed at a distance of about 20 meters apart. A beam of light is split into two beams, and each beam is reflected by one of the mirrors. The two beams are then recombined, and the interference pattern is observed.The interference pattern is a series of bright and dark bands. The bright bands are formed when the two beams arein phase, and the dark bands are formed when the two beams are out of phase. The distance between the bands is inversely proportional to the wavelength of the light.The Michelson interferometer can be used to measure the speed of light by measuring the distance between the bands and the frequency of the light. The speed of light is equal to the wavelength of the light multiplied by the frequency of the light.The Michelson interferometer has also been used to measure the index of refraction of air. The index of refraction of a material is a measure of how much the material bends light. The Michelson interferometer can be used to measure the index of refraction of air by measuring the distance between the bands and the wavelength of the light.The Michelson interferometer is a very precise instrument. It has been used to make many important measurements, and it is still used today in research laboratories.中文回答：迈克尔逊干涉仪实验报告。
仪器分析实验报告
仪器分析实验报告引言：仪器分析是现代科学研究中重要的一环，它通过使用精密的仪器设备，结合相应的分析技术，对物质的成分、结构和性质进行准确而全面的研究与分析。
本实验旨在通过对某种物质的全面分析，展示仪器分析的应用及其重要性。
一、实验目的本实验的主要目的是利用多种常用仪器设备进行物质分析，包括质谱仪、红外光谱仪、核磁共振仪等，以便全面了解目标物质的结构和组分。
二、实验原理1. 质谱分析质谱分析是一种利用质谱仪分析目标物质的化学成分和结构的方法。
它通过将物质分子中的粒子进行电离，并根据其质量-电荷比进行区别和测量。
通过分析质谱图，可以判断样品的分子量、它的含量等。
2. 红外光谱分析红外光谱分析基于物质吸收不同波长的红外辐射的特性。
通过红外光谱仪，可以分析物质中的化学键类型，识别功能团，从而研究物质的结构和性质。
3. 核磁共振分析核磁共振分析利用物质中原子核的共振吸收来研究物质的结构和组成。
该方法通过让样品在强磁场中受到长度和频率固定的射频脉冲照射，从而获得样品吸收的一维、二维、多维数据，用于分析分子间的连接关系、原子间的距离和角度，以及确定各原子之间的化学环境等。
三、实验过程1. 样品制备选取目标物质，并采取适当的方法进行样品制备，以保证样品的纯度和适配性。
2. 质谱分析将样品注入质谱仪进行分析，获取质谱图。
根据质谱图的峰位置和峰强度，可以初步判断样品的分子量和组成。
3. 红外光谱分析将样品放入红外光谱仪，检测物质吸收红外辐射的情况。
比对样品的吸收峰位和峰形，可以初步推断物质中的化学键类型和官能团。
4. 核磁共振分析将样品放入核磁共振仪，利用核磁共振吸收信号进行分析。
通过解析核磁共振谱图，可以进一步推断样品的结构和力学性质，例如化学环境、原子位移等。
四、实验结果与分析根据实验所得的数据，我们得到了目标物质的质谱图、红外光谱图和核磁共振谱图。
通过对谱图的解析和比对，我们初步确定了样品的组分、化学键类型、官能团等重要信息。
立式光学计实验报告
一、实验目的1. 熟悉立式光学计的结构和测量原理。
2. 掌握立式光学计的使用方法和操作步骤。
3. 学会利用立式光学计进行精密长度测量。
4. 了解测量结果的处理和分析方法。
二、实验仪器与材料1. 立式光学计一台2. 标准量块若干3. 待测工件4. 记录纸、笔三、实验原理立式光学计是一种利用光学原理进行精密测量的仪器。
其工作原理如下：1. 照明光源发出的光线经过透镜聚焦，形成一束平行光。
2. 平行光束照射到被测工件上，反射的光线经过光学系统，成像于刻度尺上。
3. 通过测量刻度尺上成像的位置，即可得到被测工件的尺寸。
四、实验步骤1. 将立式光学计放置在平稳的工作台上，调整光源和透镜，使其形成一束平行光。
2. 将标准量块放置在光学计的工作台上，调整测杆，使刻度尺上的成像与标准量块的尺寸对齐。
3. 记录刻度尺上成像的位置，即为标准量块的尺寸。
4. 将待测工件放置在光学计的工作台上，重复步骤2和3，得到待测工件的尺寸。
5. 对比标准量块和待测工件的尺寸，计算误差，并分析误差产生的原因。
五、实验结果与分析1. 标准量块尺寸：10.000mm2. 待测工件尺寸：9.990mm3. 误差：0.010mm分析：实验过程中，可能存在以下误差来源：1. 光学系统误差：透镜、刻度尺等光学元件的制造误差。
2. 环境误差：温度、湿度等环境因素对光学系统的影响。
3. 操作误差：操作人员对仪器的操作熟练程度和稳定性。
六、实验结论通过本次实验，我们掌握了立式光学计的使用方法和操作步骤，学会了利用立式光学计进行精密长度测量。
实验结果表明，立式光学计具有较高的测量精度，可以满足精密测量要求。
七、实验心得1. 立式光学计是一种操作简便、精度较高的测量仪器，广泛应用于精密长度测量领域。
2. 在使用立式光学计进行测量时，应注意以下几点：a. 确保光学系统稳定，避免温度、湿度等环境因素对测量结果的影响。
b. 操作人员应熟悉仪器操作，确保测量过程的准确性。
使用显微镜实验报告
一、实验目的1. 掌握显微镜的使用方法。
2. 了解显微镜的构造和成像原理。
3. 通过观察细胞结构，加深对细胞基本结构的认识。
二、实验原理显微镜是一种利用光学原理放大物体的精密仪器。
通过物镜和目镜的组合，可以观察到肉眼无法看到的微小物体。
显微镜的成像原理是利用光线穿过物体，经过物镜、目镜放大后，形成倒立的实像。
三、实验器材1. 显微镜2. 载玻片3. 盖玻片4. 物镜5. 目镜6. 遮光器7. 转换器8. 照明器9. 清洁布10. 生理盐水四、实验步骤1. 取镜和放置：右手握住镜臂，左手托住镜座，将显微镜轻轻放在实验桌上，略偏左，离实验桌边缘5cm为宜。
2. 对光：转动转换器，使低倍物镜正对通光孔。
转动遮光器，使大的光圈对准通光孔。
左眼注视目镜，右眼睁开，观察视野。
3. 调节粗细准焦螺旋：使视野内的物体清晰。
首先转动粗准焦螺旋，使物像接近镜筒。
然后转动细准焦螺旋，使物像更加清晰。
4. 观察细胞结构：取一片载玻片，滴上一滴生理盐水，将盖玻片轻轻盖在载玻片上。
用镊子夹起盖玻片的一角，让生理盐水均匀分布。
将载玻片放入显微镜载物台上，调整焦距，观察细胞结构。
5. 换高倍物镜：转动转换器，更换高倍物镜。
调整焦距，观察细胞结构。
6. 清洁显微镜：实验结束后，用清洁布擦拭显微镜，确保仪器干净。
五、实验结果通过观察，我们发现了细胞的基本结构，包括细胞膜、细胞质、细胞核、线粒体等。
细胞膜包裹着整个细胞，具有保护作用。
细胞质是细胞内的基质，其中含有各种细胞器。
细胞核是细胞的控制中心，负责遗传信息的传递。
线粒体是细胞的能量工厂，负责产生能量。
六、实验讨论1. 显微镜的使用过程中，应注意哪些事项？答：显微镜使用过程中，应注意以下事项：保持显微镜清洁；使用时，右手握住镜臂，左手托住镜座；调整焦距时，先转动粗准焦螺旋，再转动细准焦螺旋；观察时，左眼注视目镜，右眼睁开。
2. 观察到的细胞结构有哪些功能？答：细胞膜具有保护作用；细胞质是细胞内的基质，含有各种细胞器；细胞核是细胞的控制中心，负责遗传信息的传递；线粒体是细胞的能量工厂，负责产生能量。
迈克尔逊干涉仪实验报告
迈克尔逊干涉仪实验报告一、实验目的1、了解迈克尔逊干涉仪的结构和工作原理。
2、掌握迈克尔逊干涉仪的调节方法。
3、观察等倾干涉、等厚干涉条纹，并测量激光的波长。
二、实验原理迈克尔逊干涉仪是一种利用分振幅法产生双光束干涉的精密光学仪器。
其原理基于光的干涉现象。
从光源 S 发出的一束光，经分光板 G1 分成两束光，反射光 1 射向平面镜 M1，透射光 2 射向平面镜 M2。
M1 和 M2 反射回来的光在分光板 G1 的半透膜处相遇，发生干涉。
若 M1 和 M2 严格垂直，则形成等倾干涉条纹。
此时，干涉条纹是一组同心圆环，圆心处条纹级次最高。
干涉条纹的光程差为：＄＼Delta ＝ 2d\cos\theta$其中，d 为 M1 和 M2 之间的距离，θ 为入射光与 M1 法线的夹角。
当 M1 和 M2 有一定夹角时，形成等厚干涉条纹。
此时，干涉条纹是平行于 M1 和 M2 交线的直条纹。
通过测量干涉条纹的变化，可以计算出光的波长。
三、实验仪器迈克尔逊干涉仪、HeNe 激光器、扩束镜、毛玻璃屏等。
四、实验步骤1、仪器调节调节迈克尔逊干涉仪的底座水平。
点亮 HeNe 激光器，使激光束大致垂直于干涉仪的入射窗口。
放置扩束镜和毛玻璃屏，在屏上观察激光光斑，调节 M1 和 M2 背后的螺丝，使光斑重合。
观察干涉条纹，若没有出现条纹，微调 M1 或 M2 的位置，直到出现清晰的干涉条纹。
2、测量激光波长转动微调鼓轮，使条纹中心“冒出”或“缩进”，记录条纹变化的条数N 和对应的微调鼓轮的读数变化Δd。
重复测量多次，计算平均值，根据公式＄＼lambda ＝＼frac{2\Delta d}｛N}＄计算激光的波长。
3、观察等倾干涉和等厚干涉条纹缓慢调节 M1 的位置，观察等倾干涉条纹的变化。
调节 M1 和 M2 之间的夹角，观察等厚干涉条纹。
五、实验数据及处理｜测量次数｜条纹变化条数 N ｜微调鼓轮读数变化Δd （mm) ｜｜｜｜｜｜ 1 ｜ 50 ｜ 0295 ｜｜ 2 ｜ 50 ｜ 0298 ｜｜ 3 ｜ 50 ｜ 0302 ｜平均值：＄＼Delta d ＝＼frac{0295 ＋ 0298 ＋ 0302}｛3} ＝0298$ （mm)激光波长：＄＼lambda ＝＼frac{2\Delta d}｛N} ＝＼frac{2\times0298\times10^｛－3}｝｛50} ＝ 1192\times10^｛－6}＄（m)六、误差分析1、仪器本身的精度限制，如微调鼓轮的最小刻度。
偏光显微镜的使用实验报告
偏光显微镜的使用实验报告偏光显微镜作为一种精密仪器，在现代科学、医学等领域中广泛应用。
本实验旨在研究偏光显微镜的使用方法和技巧，以及通过偏光显微镜观察石英和云母样品的颜色变化及其背后的物理原理。
一、实验步骤1、调节偏光片和偏振片的位置，使它们成互相垂直的状态。
2、将样品放置在物镜下方的旋转平台上，旋转样品，观察它的颜色变化。
如果颜色变深，说明样品的双折射率很大；如果颜色变浅，说明双折射率较小。
3、旋转偏振片，观察样品颜色随着偏振片旋转而变化，记录不同角度下的颜色变化情况。
4、调节偏光片和偏振片的相对位置，使样品上方的偏振片与样品下方的偏振片垂直，观察样品的颜色变化。
如果样品变得明亮，说明该区域的样品厚度小于波长，产生透明度。
如果样品呈现黑色，则该区域样品厚度为波长的整数倍。
二、实验结果通过偏光显微镜观察石英和云母样品，可以观察到明显的颜色变化。
石英样品旋转时颜色变暗，而云母样品则由橘红色逐渐变为绿色，再变为蓝色。
通过旋转偏振片，可以看到石英样品颜色随着偏振片旋转而变化。
当偏振片垂直于偏光片时，石英样品呈现灰白色。
而云母样品则在旋转偏振片的过程中，呈现出不同的颜色和亮度。
在将偏光片和偏振片的相对位置调整垂直的状态之后，透过样品所观察到的颜色也发生了变化。
在石英样品上，可以观察到黑色十字形，而在云母样品上则出现了四个黑色十字形，这是由于样品内部多个层次的双折射现象所导致的。
三、实验分析偏光显微镜的原理是利用偏振片和偏光片之间相对位置的变化来观察双折射现象。
当偏振片和偏光片呈现垂直状态时，不透过样品，这是因为偏振片只透过振动在一个方向的光，而偏光片只允许振动在一个方向的光通过。
因此，当它们垂直时，没有光线可以通过。
当样品加入到不透明的系统中时，结果是产生多颜色的干涉条纹。
这是由于样品中不同方向的光线经过双折射现象，产生了波长和振动方向不同的两个光线。
这些光线由于不同的折射率和相对位置，最终产生了互相干涉的效应，所以出现干涉条纹的颜色变化。
经纬仪的认识与使用实验报告
经纬仪的认识与使用实验报告实验报告：经纬仪的认识与使用摘要：本报告主要描述了经纬仪的构造、使用方法以及在实验中的应用。
通过对实验的观察与数据分析，我们掌握了经纬仪的测量原理，并成功测得了实际值。
这为今后使用经纬仪提供了基础与帮助。
一、引言经纬仪是一种广泛应用于测量水平和垂直方向角度的精密仪器。
在实际应用中，经常用于进行地理勘探、天文观测、城市规划等领域。
本实验旨在深入了解经纬仪的结构和使用方法，提高我们的实验能力，同时掌握一定的测量技巧。
二、实验仪器和材料本实验所用仪器为经纬仪，以及一张具有标度的圆盘。
材料包括实验说明书、卷尺、三角板、笔等。
三、实验原理1、经纬仪的构造经纬仪由经纬仪座、经纬仪臂以及经纬仪望远镜、放大镜等组成。
其中，经纬仪座为由铸铁构成的圆盘，底部放置三支脚，使其保持水平状态；经纬仪臂则为一只曲柄形的弯臂，用于带动经纬仪望远镜的旋转；而经纬仪望远镜则能够精确的观测目标的刻度。
2、经纬仪的测量原理经纬仪依靠望远镜对刻度的精确测量，可以计算目标位置的经度和纬度。
具体方法为经纬仪臂方向朝向相对应的南北极，并通过调整经纬仪望远镜的角度，使其恰好朝向目标位置上方的刻度。
根据读数与刻度间的比例关系，便可得出目标的经度和纬度。
四、实验步骤1、准备工作将经纬仪座放置在平稳的物体上，并通过调整底部螺丝，使其保持水平状态。
2、望远镜寻北调整经纬仪望远镜，将其对准北极星，并通过望远镜的调焦调整成清晰的形态。
记录下此时刻度的朝向角度。
3、测定地点经纬度使用下水平仪，确定所在位置的水平角度，并将其标记在经纬仪圆盘上。
接下来，将望远镜与目标瞄准，并通过测量，计算出目标的经纬度。
4、实验数据处理根据实验数据，计算出测定的目标经纬度，与实际值进行对比，并计算误差。
五、实验结果与分析通过实验，我们成功测得了目标的经纬度，并比较发现，与实际值存在一定误差。
分析原因可能为：在使用望远镜望向目标时，由于目标圆盘的抖动，导致读数产生误差。
精密称量技术实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 掌握精密称量技术的原理和操作方法。
2. 熟悉电子天平、分析天平等精密称量仪器的使用。
3. 培养准确、规范地记录实验数据的习惯。
4. 提高实验操作技能，为后续实验奠定基础。
二、实验原理精密称量技术是化学实验中的一项基本操作，主要目的是通过精密仪器对物质的质量进行准确测量。
本实验采用电子天平和分析天平进行称量，分别介绍直接法、加重称量法和减重称量法。
1. 直接法：将被称量物质直接放入电子天平或分析天平的托盘上，待天平稳定后，读取并记录物质的质量。
2. 加重称量法：先将天平调零，然后将已知质量的物质放入天平托盘上，待天平稳定后，按“去皮”键，使天平显示为零，再将待称物质加入，待天平稳定后，读取并记录物质的质量。
3. 减重称量法：先将天平调零，将待称物质放入称量瓶中，待天平稳定后，读取并记录物质的质量。
然后将物质取出，再次称量空称量瓶的质量，记录数据。
两次质量之差即为待称物质的质量。
三、实验用品1. 电子天平2. 分析天平3. 称量瓶4. 称量纸5. 试剂勺6. 小烧杯（接收器）7. 试样8. 干燥器四、实验步骤1. 将电子天平和分析天平放置在平稳的工作台上，确保天平水平。
2. 打开电子天平和分析天平的电源，预热10分钟。
3. 将称量瓶放在电子天平或分析天平的托盘上，待天平稳定后，读取并记录空称量瓶的质量。
4. 按照实验要求，选择合适的称量方法。
a. 直接法：将试样直接放入天平托盘上，待天平稳定后，读取并记录试样质量。
b. 加重称量法：先将天平调零，将已知质量的物质放入天平托盘上，待天平稳定后，按“去皮”键，使天平显示为零，再将待称物质加入，待天平稳定后，读取并记录试样质量。
c. 减重称量法：先将天平调零，将待称物质放入称量瓶中，待天平稳定后，读取并记录物质的质量。
然后将物质取出，再次称量空称量瓶的质量，记录数据。
两次质量之差即为待称物质的质量。
5. 将实验数据记录在实验报告上。
分析天平的使用实验报告
分析天平的使用实验报告一、实验目的1、熟悉分析天平的构造和使用方法。
2、掌握直接称量法和差减称量法的操作技术。
3、培养准确、细致、认真的科学实验习惯。
二、实验原理分析天平是一种用于精确称量物质质量的仪器，其称量原理基于杠杆原理。
天平的横梁在平衡时，左右两端所受的力矩相等。
当在天平的一端放置被称量的物体，另一端放置砝码时，通过调整砝码的质量，使横梁重新达到平衡，此时砝码的质量即为物体的质量。
三、实验仪器和试剂1、仪器：分析天平、称量瓶、药匙、镊子、小烧杯等。
2、试剂：待称量的固体试样。
四、实验步骤1、直接称量法（1）检查天平是否水平，调整天平的水平调节脚，使水准仪中的气泡位于圆圈中央。
（2）接通电源，预热 30 分钟以上，使天平达到稳定状态。
（3）打开天平侧门，用小毛刷轻轻清扫天平内部，然后关闭侧门。
（4）轻轻按下“ON”键，显示屏显示“00000g”，表示天平已处于可称量状态。
（5）将洁净、干燥的小烧杯放在天平的托盘上，关好天平门，等待显示屏上的数字稳定后，按下“TARE”键，使天平显示“00000g”，即去皮操作。
（6）用药匙逐渐向小烧杯中加入待称量的固体试样，直至天平显示屏上的数字稳定，记录所称量固体试样的质量。
2、差减称量法（1）用镊子从干燥器中取出两个洁净、干燥的称量瓶，用小纸片记录其编号。
（2）在天平上准确称出两个称量瓶的质量，记为 m1 和 m2。
（3）用钥匙从称量瓶中取出一定量的固体试样，估计其质量约为02 03g。
（4）将取出试样后的称量瓶重新放在天平上称量，记录其质量分别为 m1' 和 m2'。
（5）两次称量质量之差（m1 m1'）和（m2 m2'）即为所取固体试样的质量。
五、实验数据记录与处理1、直接称量法｜试样｜质量（g）｜｜｜｜｜试样 1 ｜＿_____ ｜｜试样 2 ｜＿_____ ｜2、差减称量法｜称量瓶编号｜第一次称量质量（g）｜第二次称量质量（g）｜试样质量（g）｜｜｜｜｜｜｜ 1 ｜ m1 ＝＿_____ ｜ m1' ＝＿_____ ｜ m1 m1' ＝＿_____ ｜｜ 2 ｜ m2 ＝＿_____ ｜ m2' ＝＿_____ ｜ m2 m2' ＝＿_____ ｜六、注意事项1、分析天平是精密仪器，使用时要轻拿轻放，避免碰撞和震动。
精密测角实验报告
精密测角实验报告实验名称：精密测角（方向测回法）实验报告一、实验目的本实验旨在掌握精密测角（方向测回法）的原理和操作方法，以及通过实验数据计算和评估测角的精确度。
二、实验仪器和材料1.精密测角仪：用于测量角度的仪器。
2.测角基准物：用于作为测量角度的参照物体。
3.测量工具：包括尺子、直角尺等。
三、实验原理精密测角使用的是方向测回法，其基本原理是通过将测角仪与测角基准物对准，并将测量结果回转一周，从而得到所测角度大小的方法。
方向测回法的具体步骤如下：1.将测角仪设于测量位置。
2.使用测量工具将测角仪的测量望远镜对准测角基准物。
3.记录初始读数，并将测量望远镜回转一周。
4.记录再次回到测量位置时的读数。
5.计算所测角度的大小。
四、实验步骤1.将测角仪设于实验台上，并调整仪器使其水平稳定。
2.使用尺子等工具将测角仪的测量望远镜与测角基准物对准。
3.记录仪器的初始读数，并将测量望远镜顺时针或逆时针回转一周。
4.记录回到初始位置时的读数。
5.计算所测角度的大小。
五、实验数据记录与处理实验数据如下所示：测角仪初始读数：20°回转一周后的读数：340°计算过程如下：所测角度=回转一周后的读数-初始读数=340°-20°=320°六、实验结果分析与评价根据实验数据的计算结果，所测角度的大小为320°。
而实际测角基准物已知的角度大小为360°，说明本次实验测量结果的准确度尚可，误差较小。
然而，本实验仅进行了一次测量，为提高实验结果的可靠性和准确度，建议重复实验并计算其平均值。
同时，应注意仪器的精确度和调节仪器使其保持水平稳定，以避免误差的产生。
七、实验总结通过本次实验，我深入了解了精密测角（方向测回法）的原理和操作方法。
同时，我也意识到在测角过程中仪器的水平稳定和仪器精确度的重要性。
我将继续研究和学习相关测角技术，以提高实验结果的准确度和可靠性。
精密量具实验报告
一、实验目的1. 了解精密量具的种类、用途及使用方法。
2. 掌握精密量具的校准和保养方法。
3. 培养严谨的操作态度和良好的实验习惯。
二、实验器材1. 精密量具：千分尺、卡尺、水平仪、角度仪等。
2. 标准量具：量块、角度块等。
3. 记录本、笔、实验台等。
三、实验原理精密量具是一种用于测量尺寸的精密仪器，具有高精度、高稳定性等特点。
实验过程中，通过对精密量具的校准和使用，验证其测量精度，并了解其使用方法和注意事项。
四、实验步骤1. 实验前准备（1）熟悉精密量具的种类、用途及使用方法。
（2）了解实验要求，掌握实验原理。
（3）准备好实验器材，检查其完好性。
2. 实验过程（1）千分尺的使用与校准① 使用千分尺测量工件长度，注意观察读数。
② 将工件放在千分尺的测量面与测微螺杆之间，轻轻转动测微螺杆，使工件与测微螺杆接触。
③ 读取千分尺的读数，记录在实验记录本上。
④ 重复测量多次，取平均值作为测量结果。
（2）卡尺的使用与校准① 使用卡尺测量工件长度、宽度、厚度等尺寸，注意观察读数。
② 将工件放置在卡尺的测量面之间，轻轻推动卡尺，使工件与测量面接触。
③ 读取卡尺的读数，记录在实验记录本上。
④ 重复测量多次，取平均值作为测量结果。
（3）水平仪的使用与校准① 将水平仪放置在工件表面，调整水平仪的气泡位置，使其处于中心位置。
② 观察水平仪的刻度，判断工件表面的水平度。
③ 重复调整和观察，确保工件表面的水平度符合要求。
（4）角度仪的使用与校准① 将角度仪放置在工件表面，调整角度仪的指针，使其与工件表面垂直。
② 观察角度仪的刻度，判断工件表面的垂直度。
③ 重复调整和观察，确保工件表面的垂直度符合要求。
3. 实验结果分析（1）对比标准量具的测量结果，分析精密量具的测量精度。
（2）总结精密量具的使用方法和注意事项。
五、实验总结1. 通过本次实验，我们了解了精密量具的种类、用途及使用方法，掌握了精密量具的校准和保养方法。
2. 在实验过程中，我们培养了严谨的操作态度和良好的实验习惯，提高了自己的动手能力和解决问题的能力。
显微镜实训实验报告总结
一、实验目的本次显微镜实训实验旨在通过实际操作，使同学们掌握显微镜的基本操作方法和使用技巧，了解显微镜的结构和成像原理，培养同学们的观察能力和实验技能，为今后在生物学、医学等领域的学习和研究打下基础。
二、实验原理显微镜是一种精密的光学仪器，通过物镜和目镜放大微小物体，使我们能够观察到肉眼无法直接看到的微观世界。
显微镜的成像原理是利用光学透镜对光线的折射和反射，将物体放大成像。
三、实验器材1. 显微镜：包括物镜、目镜、载物台、粗准焦螺旋、细准焦螺旋、遮光器、光圈等。
2. 装片：包括植物玻片标本、动物玻片标本等。
3. 其他：纱布、擦镜纸、显微镜专用清洁剂等。
四、实验步骤1. 取镜和放置：右手握住镜臂，左手托住镜座，将显微镜轻轻放在实验桌上，距离边缘约5cm。
2. 对光：转动转换器，使低倍物镜对准通光孔，将较大的光圈对准通光孔。
左眼注视目镜，调整显微镜与眼睛的距离，使视野清晰。
3. 调焦：转动粗准焦螺旋，使镜筒慢慢下降，直到物镜接近玻片标本。
此时，眼睛必须注视物镜，防止物镜与玻片相撞。
一只眼向目镜内看，同时逆时针方向转动粗准焦螺旋，使镜筒慢慢上升，直到看清物像为止。
再稍微转动细准焦螺旋，使图像更加清晰。
4. 观察植物和动物玻片标本：将玻片标本放置在载物台上，用压片夹固定。
转动粗准焦螺旋，观察不同倍数下的物像，记录观察结果。
5. 清洁显微镜：实验结束后，用纱布擦拭显微镜表面，用擦镜纸擦拭镜头。
清洁完毕后，将显微镜放回原处。
五、实验结果与分析1. 观察植物玻片标本：通过显微镜观察，我们可以清晰地看到植物细胞的结构，如细胞壁、细胞膜、细胞质、细胞核等。
同时，还可以观察到细胞分裂、有丝分裂等生命活动。
2. 观察动物玻片标本：通过显微镜观察，我们可以看到动物细胞的特征，如细胞膜、细胞质、细胞核等。
此外，还可以观察到动物细胞内的细胞器，如线粒体、内质网、高尔基体等。
3. 分析显微镜成像原理：显微镜的成像原理是利用光学透镜对光线的折射和反射。
电子分析天平实验报告
电子分析天平实验报告电子分析天平实验报告引言：电子分析天平是一种精密的仪器，广泛应用于科学研究和实验室工作中。
本实验旨在探究电子分析天平的原理、使用方法以及其在实验中的应用。
一、电子分析天平的原理电子分析天平是利用电子技术和传感器技术进行精确测量的仪器。
其原理基于质量与电流的关系，通过测量物体的质量来获得准确的数据。
二、电子分析天平的使用方法1. 准备工作：将电子分析天平放在平稳的台面上，确保仪器水平稳定。
校准天平，确保零点清零。
2. 称量物体：将待称量物体放在天平的盘中，等待数值稳定后记录质量。
3. 清洁和保养：使用完毕后，及时清洁天平，避免积累灰尘和污垢影响测量精度。
三、电子分析天平在实验中的应用1. 化学实验：电子分析天平可以精确测量化学试剂的质量，用于配制溶液、制备标准溶液等。
2. 生物实验：在生物实验中，电子分析天平可以用于测量微量样品的质量，如细胞、蛋白质等。
3. 物理实验：电子分析天平可以用于测量物体的质量，从而计算出物体的密度、重心等物理量。
四、电子分析天平的优势与不足1. 优势：电子分析天平具有高精度、高灵敏度的特点，能够测量微量物质的质量。
同时，其数字化显示和自动记录功能方便了实验数据的处理和分析。
2. 不足：电子分析天平对环境的要求较高，需要放置在干燥、无震动的环境中，以确保测量的准确性。
此外，电子分析天平的价格较高，不适合大规模生产使用。
结论：通过本次实验，我们了解了电子分析天平的原理和使用方法，并探讨了其在实验中的应用。
电子分析天平在科学研究和实验室工作中扮演着重要角色，为我们提供了准确的实验数据。
然而，我们也应该注意其使用环境和价格等不足之处，以充分发挥其优势并合理利用。
精密检测实验报告
精密检测实验报告实验报告：精密检测摘要：本实验通过精密检测的方法，对待测物品进行了全面的检测和分析。
首先，我们使用了精密仪器和技术，对待测物品进行了各项指标的测量。
然后，根据测量结果进行数据分析和处理，得出了相应的结论。
实验结果表明，我们的精密检测方法具有高度准确性和可重复性，能够为待测物品的品质和性能提供有效的评价和反馈。
引言：精密检测是一种基于科学原理和先进技术的检测方法。
它能够对待测物品的各项指标进行全面和准确的测量，从而为产品的质量控制和改进提供依据。
本实验旨在通过精密检测的方法，对待测物品进行全面的检测和分析。
实验材料与方法：1. 实验仪器：精密测量仪器、电子天平、显微镜等；2. 待测物品：根据实验需要选择待测物品；3. 实验步骤：按照实验要求，使用相应的仪器进行各项指标的测量。
实验结果与讨论：在实验过程中，我们通过精密仪器和技术对待测物品进行了各项指标的测量。
例如，我们使用电子天平对待测药品的质量进行了准确的测量，使用显微镜对待测材料的表面形貌和微观结构进行了观察和分析。
通过对测量数据的处理和分析，我们得出了以下结论：1. 待测物品的质量符合设计要求：根据测量结果，我们确定待测物品的质量符合设计要求，没有超出规定的误差范围。
这说明待测物品在生产过程中的质量控制得到了有效的保障，能够满足用户的需求和期望。
2. 待测物品的表面形貌和微观结构良好：通过显微镜的观察和分析，我们发现待测材料的表面形貌和微观结构都十分良好，没有明显的缺陷或瑕疵。
这表明待测物品的生产工艺和材料选择都经过了严格的控制和筛选，能够保证产品的质量和性能。
3. 待测物品的其他指标：根据具体实验的要求，我们还对待测物品的其他指标进行了测量和分析。
例如，我们对待测电路板的电阻、电容等参数进行了测量，发现其数值与设计要求基本一致，说明电路板的性能良好。
结论：通过本实验，我们采用了精密检测的方法，对待测物品进行了全面的检测和分析。
分光计的使用实验报告
一、实验目的1. 了解分光计的结构和原理；2. 掌握分光计的调节和使用方法；3. 通过实验测量光学元件的折射率、色散率等光学参数。
二、实验原理分光计是一种精密的光学仪器，用于测量光学元件的折射率、色散率、波长等参数。
其基本原理是利用光在光学元件中的折射、反射和干涉等现象，通过分光计对光进行分光、聚焦和测量，从而得到所需的光学参数。
三、实验仪器1. 分光计：包括望远镜、平行光管、载物台、游标盘等；2. 三棱镜：用于测量折射率；3. 白炽灯：提供实验光源；4. 汞灯：用于测量色散率；5. 光栅：用于测量波长。
四、实验步骤1. 调节分光计：（1）调整望远镜：将望远镜对准平行光管，调节目镜调焦手轮，使分划板清晰可见。
（2）调整平行光管：打开白炽灯，调整平行光管，使光线垂直射入分光计。
（3）调整载物台：将载物台水平放置，使三棱镜光学侧面垂直于望远镜光轴。
2. 测量三棱镜折射率：（1）将三棱镜放入载物台上，调整三棱镜位置，使光线垂直射入三棱镜。
（2）观察分光计望远镜，调整游标盘，使分划板上的十字线与三棱镜出射光线的交点重合。
（3）记录下此时游标盘的读数，即为三棱镜的折射率。
3. 测量色散率：（1）将汞灯放入载物台上，调整汞灯位置，使光线垂直射入分光计。
（2）观察分光计望远镜，调整游标盘，使分划板上的十字线与汞灯出射光线的交点重合。
（3）记录下此时游标盘的读数，即为汞灯的光谱线。
4. 测量波长：（1）将光栅放入载物台上，调整光栅位置，使光线垂直射入分光计。
（2）观察分光计望远镜，调整游标盘，使分划板上的十字线与光栅出射光线的交点重合。
（3）记录下此时游标盘的读数，即为光栅的光谱线。
（4）根据光栅方程，计算出光栅常数，进而得到光波波长。
五、实验结果与分析1. 三棱镜折射率：根据实验数据，计算得到三棱镜的折射率为1.5。
2. 色散率：根据实验数据，计算得到汞灯的光谱线波长为546.1nm。
3. 波长：根据实验数据，计算得到光波波长为632.8nm。
精密仪器实验报告
精密仪器实验报告精密仪器实验报告引言：精密仪器在科学研究和工业生产中起着重要的作用。
本实验旨在探索精密仪器的原理和应用，通过实验数据的收集和分析，评估仪器的性能和精度。
本报告将介绍实验的背景、实验装置和方法、实验结果及其分析，以及对实验的总结和展望。
实验背景：精密仪器是现代科学研究和工业生产的重要工具，它们能够精确测量各种物理量。
在实验中，我们选择了一台精密天平作为研究对象，天平是一种用于测量物体质量的仪器，具有高精度和稳定性。
实验装置和方法：实验中使用的精密天平由称量传感器、电子控制系统和显示屏组成。
在实验开始前，我们首先校准了天平，确保其准确度和稳定性。
然后，我们选择了几个不同质量的物体进行称量，记录下每个物体的质量值。
实验结果及其分析：在实验过程中，我们称量了三个不同质量的物体，分别是一枚钢笔、一本书和一个苹果。
测量结果如下：- 钢笔质量：3.2克- 书的质量：215克- 苹果的质量：152克通过对实验结果的分析，我们可以得出以下结论：1. 实验数据显示，精密天平对不同质量的物体能够进行准确的测量，证明了其高精度和稳定性。
2. 实验结果表明，质量与物体的大小和形状无关，而仅与物体的物质量有关。
这与我们在日常生活中的观察一致。
3. 通过对不同物体的质量测量，我们可以进一步了解物体的密度和组成，为物质研究和工业生产提供了重要的参考数据。
实验总结和展望：本实验通过对精密天平的使用，探索了精密仪器的原理和应用。
实验结果表明，精密仪器具有高精度和稳定性，能够准确测量物体的质量。
然而，本实验还存在一些局限性，例如只测量了质量，未涉及其他物理量的测量。
因此，未来可以进一步扩展实验内容，探索更多精密仪器的应用。
总之，精密仪器在科学研究和工业生产中起着至关重要的作用。
通过本实验，我们深入了解了精密仪器的原理和应用，掌握了实验方法和数据分析技巧。
希望本报告能够对读者对精密仪器的认识和理解有所帮助，并为今后的科学研究和工业生产提供参考。
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实验一微动工作台的驱动控制
一实验目的：
掌握微动工作台的驱动控制的基本原理和基本方法；
二实验原理
微动工作台的组成：基本上是由工作台滑板、直线移动导轨、传动机构、驱动源、控制装置和位移检测器等组成，是柔性支承、由压电驱动器驱动。
其结构简图如图1-1所示：
图1-1 微动工作台结构简图
实验系统的构成如图1-2所示。
图1-2 实验系统
三实验步骤
（1）将工作台固定于防震台上，将各部件安要求连接起来：驱动器与电源连接，测微传感器安装固定等；
（2）打开驱动控制电源的软件，按所需控制工作台移动；
（3）测微仪测量。
四实验记录
微动工作台通过驱动电源控制X、Y方向的移动。
可通过与工作台相接触的测微仪测出位移的大小（应减去初始时测微仪的位移）。
实验二微位移测量
一实验目的：
掌握微位移测量的基本方法和数据处理方法；
二实验原理
此实验采用的微位移传感器是电感式传感器，其原理是将位移的变化量转化为互感或自感的变化。
前者称为线性差动变压器式传感器；后者称为线性差动自感式传感器。
有结构简单，体积小、易于安装、分辨率高等优点；但是其处理电路较为复杂，对于它的精度、稳定性影响较大。
随着一些专用集成信号条理芯片的出现，其应用范围进一步扩大。
LVDT是电感传感器的一种，其工作原理是基于互感的变化，把被测量的变化转换为互感系数的变化，其基本结构如图2-1所示。
图2-1 LVDT电感传感器的基本结构
1是磁芯，2是磁筒，3是框架，N1是初级线圈，N2a和N2b是次级线圈。
信号处理电路提供交流信号电压，激励传感器的初极线圈，经过磁芯耦合，次极线圈产生同频率交流电压输出。
由LVDT输出交流信号又输入到信号处理电路，经过内部转换，把交流信号转化为直流电压信号。
磁芯在两个耦合线圈内移动，直流电压信号与磁芯的位移成正比。
这样就可通过测定信号处理电路输出的直流电压来测定磁芯移动距离。
本次实验采用的LVDT传感器为回旋式传感器，如图2-2所示。
其主要优点是使用方便灵活，适用于外部测量。
图2-2 LVDT 回旋式传感器
微位移的测量采用MDS系列多量程LVDT测微仪。
MDS系列多量程LVDT 测微仪是适用于多种测量范围的高精度微位移检测仪，可以实现微米级直至纳米级的高精度微位移检测，广泛应用于国防，生物工程，微电子工业，光纤通信等各种需要动／静态微位移检测的领域，具有性能优越，测量精度高，价格低等优点。
四实验步骤
1)根据测量范围确定量程，如测量范围为1 50 m，应选‘D’、‘E’或‘F’档；
2)观看微位移测量是否超出测量范围，如果超出测量范围，应把LVDT测头调整
到测量范围内；
3)如果在测量范围内，仪器将实时显示测量的位移量。
4）将驱动控制电源的旋钮逆时针旋到底，控制工作台按某一方向（假设先X方向）运动，驱动控制电源的旋钮转动一圈记录一次数据，直至不能再旋转为止，然后再反向旋转。
同样转一圈记录一次数据。
5）再将工作台转至另一个测量的方向，即Y轴方向，重复如步骤（4）所示的步骤。
五实验数据记录
X方向：
实验次
数
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
正行程/μm -217.
6
-210.
4
-202.
4
-193.
8
-185.
-175.
3
-165.
4
-155.
4
-145.
3
-135.
1
-125.
7
反行程/μm -215.
8
-204.
3
-193.
2
-182.
5
-172.
8
-163.
3
-154.
3
-145.
8
-138.
2
-131.
5
-125.
7
正行程
/μm
-54.2 -40.2 -31.4 -22.4 -13.0 -3.13 7.40 17.7 27.5 37.2
反行程
/μm
-53.1 -41.7 -30.7 -20.1 -9.8 -0.7 8.4 16.8 24.5 37.2 Y方向
实验次数 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
正行程/μm -334.
3 -350.
9
-358.
8
-367.
6
-374.
3
-384.
1
-393.
9
-404.
3
-414.
6
-424.
9
-435.
1
反行程/μm -341.
5 -353.
-364.
8
-375.
8
-386.
1
-396.
2
-405.
8
-413.
9
-421.
6
-429.
-435.
1
正行程/μm -347.
7 -355.
8
-364.
3
-373.
6
-383.
4
-393.
8
-403.
8
-413.
9
-424.
4
-434.
5
反行程/μm -341.
0 -352.
7
-364.
1
-375.
3
-385.
4
-395.
5
-404.
8
-413.
5
-421.
3
-428.
1
六实验数据处理及相应结论
X方向
实验次
数
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
正行程
/μm
07.215.223.832.642.352.262.272.382.591.9
反行程
/μm
1.813.324.435.144.854.363.371.879.486.191.9
正行程/μm 01422.831.841.2
51.0
7
61.671.981.791.4
反行程
/μm
1.11
2.52
3.53
4.144.453.562.67178.791.4
Y方向
实验次数 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
正行程/μm
0-16.
6
-24.
5
-33.
3
-40
-49.
8
-59.
6
-70
-80.
3
-90.
6
-100
.8
反行程/μm
-7.2-18.
7
-30.
5
-41.
5
-51.
8
-61.
9
-71.
5
-79.
6
-87.
3
-94.
7
-100
.8
正行程/μm
0-8.1-16.
6
-25.
9
-35.
7
-46.
1
-56.
1
-66.
2
-76.
7
-86.
8
反行程/μm
-6.3-18-29.
4
-40.
6
-50.
7
-60.
8
-70.
1
-78.
8
-86.
6
-93.
4
从测得的数据可得出结论：正反行程同一位置测得的位移值偏差较大，重复性比较差；相邻的数值偏差在刚开始（电压较小）以及接近结束时（电压较大）为非线性，中间部分线性度比较好。
分析产生误差的原因：
（1）由于测量的位移比较小，工作台很容易受到外部环境的影响，从而造成读取的位移数值很不稳定；
（2）在反行程旋转时，由于不是从正行程的最后一组数据所处的位置开始反转，而是旋到底再反转，这之间本身就存在一定的偏差，从而使得测出的数据正反行程偏差较大。
因此此次实验测得的实验数据正反行程不具可对比性，也因此不能算出重复性；
（3）读取数据时，由于测微仪的数显数据并不稳定，变化较大且比较快，因此读取的数据误差较大。
实验三伺服系统控制实验
一实验目的：
掌握开环伺服系统的工作原理与特点；
二测量原理
开环伺服系统系统通常是采用步进电机作为驱动元件。
步进电机每接受一个指令脉冲，电机轴就转动相应的角度，驱动工作台移动。
开环系统的最高移动速度受到步进电机频率特性的限制，精度则完全取决于电机、齿轮副、丝杠螺母副和工作台导轨等部件的精度。
其最典型的实验系统如图3-1所示。
图3-1 开环伺服实验系统
三实验步骤
（1）将实验设备的连接线路连接好，并打开电源开关；
（2）打开软件，设置相关参数，出现如图3-2所示界面；
（3）可在Target一栏输入任意数，然后点击运行键，电机就会驱动工作台运动至该位置。
（4）还可电机单步运行，以及持续运行至初始位置或终止位置，可通过Step Size 一栏设置单步运行的步距。
图3-2 软件运行界面
四实验记录
如果输入的数据超过了可运行的最大距离，工作台自行停止，并在软件上出现报警标志；可控制工作台单步运行或者连续运行；可控制工作台运动至所要求的位置等等。