TINNO整机可靠性测试标准
整机(智能机)检验判定标准(完整版)
X X X科技有限公司整机（智能机）检验判定标准文件名称：整机（智能机）检验判定标准编号版次：拟制：审核：批准：会签记录更改记录整机（智能机）检验判定标准1.目的为了规范OEM（整机合作项目）整机机来料满足联想移动的产品质量要求，明确相关的测试方法及指标要求与检验判定原则。
2．范围适用于OEM项目。
注：若新产品不断推出或本标准有些项目未涉及到，应根据实际情况在本标准中加入未涉及到的项目或修正本标准。
3．定义：3.1 缺陷分类定义：致命缺陷（Cri）：有可能对使用者人身及财产造成伤害或有安全隐患的缺陷。
重缺陷(Maj)：造成首基不能使用的缺陷或不符合首基出厂配置要求的缺陷或严重影响主要性能指标、功能不能实现的缺陷。
主要有： 1，功能缺陷影响正常使用；2，性能参数不符合规格标准；3，漏元件、配件及主要标识；4，多出无关标识及其他可能影响产品性能的物品；5，包装存在可能影响产品形象的缺陷；6，结构件外观方面存在让一般顾客难以接受的严重缺陷。
轻缺陷(Min)：上述缺陷以外的其他不影响产品使用，不造成用户感受严重不好的缺陷。
可接受缺陷（Acc）:在评价时使用，出厂检查仅供参考。
3.2 缺陷名定义点缺陷：具有点形状的缺陷，测量时以其最大直径为尺寸。
装配缝隙：除了设计时规定的缝隙外，由两部件装配的缝隙。
异色点在产品表面出现的颜色异于周围的点。
同色点与相邻区域属同一色系但色调有差异的点硬划痕由于硬物摩擦而造成产品表面有深度的划痕。
细划痕没有深度的划痕。
飞边由于注塑参数或模具的原因，造成在塑料件的边缘或分型面处所产生的塑料废边。
熔接线塑料熔体在型腔中流动时，遇到阻碍物（型芯等物体）时，熔体在绕过阻碍物后不能很好的融合，于是在塑料件的表面形成一条明显的线，叫做熔接线。
缩水当塑料熔体通过一个较薄的截面后，其压力损失很大，很难继续保持很高的压力来填充在较厚截面而形成的凹坑。
色差产品表面呈现出与标准样品（客户承认样品）的颜色的差异，称为色差。
裕邦整机可靠性测试标准
文件名称 整机可靠性测试标准文件编号 QZ/RBTEL-QA11-2007 版本 V1.0 上海裕邦通信技术有限公司 发布日期 2007-12-12 主控部门 质量部意见 签名/日期文件说明质量部可靠性实验室负责实施。
版本号修改时间修改人修改原因修改主要内容V1.0 2007-12-10张涛创建1、目的为保证上海裕邦通信技术有限公司设计、委托制造的手机及相关产品品质符合国家、行业、企业可靠性标准要求，特制定此文件；2、适用范围本文件适用于上海裕邦通信技术有限公司设计、委托制造、采购的手机及相关产品（零部件）在研发、测试、中试、量产阶段的可靠性试验，由质量部可靠性试验室负责实施；3、定义无4、 可靠性试验测试方法和判定标准4.1 环境试验在做温度冲击、跌落、恒温恒湿、低温运行、高温运行、高频振动、软压、滚筒跌落、重复跌落、冲击和扭曲测试前的手机先进行常温下的RF参数测试；4.1.1 低温储存测试4.1.1.1测试目的：手机低温环境下的适应性；4.1.1.2测试条件：温度：-40℃±2℃、持续时间：24hrs；4.1.1.3测试数量：4pcs；4.1.1.4测试设备：高低温箱；4.1.1.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能检测；4.1.1.6 测试方法：a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入高低温箱内，手机间的间距大于等于10cm，调节温度控制器到-40℃；c. 持续24个小时之后，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查；d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；4.1.1.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：壳体表面无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；4.1.2 低温运行测试4.1.2.1测试目的：验证样机低温环境下的工作性能及传导的射频性能；4.1.2.2测试条件：温度：-20℃±2℃；持续时间：4hrs；4.1.2.3测试数量：4pcs （试验中RF测试2pcs）；4.1.2.4测试设备：高低温箱，CMU200/CMD55，延长射频线，稳压电源等；4.1.2.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能、RF参数检测；a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等级下的射频参数；b. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，Lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；c. 外观检测：喷漆，印刷，电镀等以及未描述到的外观；4.1.2.6测试方法a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 手机带满电电池并插卡（测试RF参数时取下SIM Card），设置为开机状态后，放入高低温箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到-20℃，并将所测样机同CMU200/CMD55和电源连接好；c. 持续1小时后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU200/CMD55连接并进行通话，在电压设置为3.6V和4.2V的情况下进行RF参数测试；并保存测试数据（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；d. 持续4个小时之后，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查；e. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；f. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；4.1.2.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；RF参数指标符合要求；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配合缝隙无变大；转轴无松动或变紧，无异常手感等）以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：样品外观无异常（表面喷漆、电镀无裂纹等）以及其它与测试前状态不一致的现象；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；4.1.3冲击测试4.1.3.1 测试目的：用于验证手机的抗冲击性能及射频参数指标；4.1.3.2 测试条件：加速度30 g±5g，脉冲持续时间18 ms ；波形: ½ 正弦波；X、Y、Z六个轴向各冲击10次；4.1.3.3 测试数量：10pcs（试验后RF测试2pcs）；4.1.3.4测试设备：电动振动系统；4.1.3.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能和及不同功率等级、不同信道的射频参数；4.1.3.6测试方法：a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧；参数设置：加速度30 g，脉冲持续时间 18 ms ；波形: ½ 正弦波；启动振动系统，X、Y、Z六个轴向各冲击10次，每个轴向冲击后都要对手机进行外观、结构、功能检查；c. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU/CMD连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；4.1.3.7检验标准：外观、功能、结构正常；RF参数指标符合要求；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：无零件松动、脱落，晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：外观无异常；d. 内存检查：样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；4.1.4低频振动测试4.1.4.1测试目的：用于验证手机的抗振性能；4.1.4.2测试条件：5~20Hz，，X、Y、Z三个轴各1h；4.1.4.3测试数量：10pcs；4.1.4.4测试设备：电动振动系统；4.1.4.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能检测；4.1.4.6测试方法：a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧。
联想笔记本电脑Notting产品质量标准
联想笔记本电脑Notting产品质量标准更改记录目录1、范围2、主要部件内存硬盘电池适配器喇叭键盘主板3、整机机构环境&可靠度电磁兼容&安全噪音电源管理散热（含风扇）系统稳定性电气标准外观喷漆4、试验方法部件试验方法整机试验方法5、软件6、附件－不合格分级标准1、范围本标准适用于联想C430产品。
2、主要部件内存支持DDRII 533/667 SO-DIMM；Two DDRII SODIMM slots最大支持2GB DDRII SO-DIMM；LCD时间5 sLCD残影（关机时，背光灯熄灭后，画面仍停留在屏幕时造成的影像残留）停留时间15s（一般使用状况）。
经过20000次的Power On/Off（2s on/2s off）后亮度大于初始值的50%（中心区域5寸方块）全白画面下，色度均匀度为x=317±30、y=354±30无不显示、背光管不亮、显示暗、闪烁等异常现象，画面显示正常无亮线、暗线、白斑按照以下方式，LCD屏应均无水波纹和牛顿环1>正常敲击键盘(正常敲击力量80g)及其它正常使用状况下LCD屏表面不得有任何因LCD 前后背盖内部结构与LCD 屏背板之间机构干涉引起任何程度的泛白或顶白及水波纹现象。
2>沿LCD模组上边框中间部位以正常方式开合LCD模组显示画面不允许任何地方出现水波纹; (正常方式为左手或右手大拇指、食指、中指扶住LCD模组上左（距边缘5CM处）、中、右（距边缘5CM处）任意一处，以平均1Cycle/2秒的频率开合LCD模组,开合角度60~120度之间)；将LCD模组打开至120~150度位置,沿上边框左、中、右非显示区域任意一点轻微（的力）拨一下LCD模组,在LCD模组颤动过程中不允许有水波纹现象。
在各单色画面时，颜色应正常，均匀，无偏色。
在16色彩条画面时，各彩条颜色正常，分界线清晰，无模糊、扩散等异常现象开机后LCD四边靠近Bezel处无亮边、漏光关机后LCD四边靠近Bezel处不露金属边尺寸： x x mm（W*H*D）（不含Bezel），工差如图1：图1 光驱尺寸规格示例（参考Toshiba SD-C2612-10E）前面板必需件弹出按键（高度符合0~），紧急弹出针孔（直径：~，深度：<15mm）电源开/忙 LED指示灯图2 紧急弹出插孔规范后面板IDE接口连接器（50 Pins）如图3所示。
可靠性鉴定试验的测试目的及检测标准
可靠性鉴定试验的测试目的及检测标准
可靠性鉴定试验主要考核产品规定的可靠性指标是否达到合同书的要求，通常，要求平均无故障工作时间也叫平均故障间隔时间MTBF≥2000小时、5000h、1500h等等。
不同的产品使用在不同的工作场景，要求的MTBF的数值都不尽相同。
可靠性试验检测项目：
可靠性鉴定试验、可靠性增长试验、可靠性研制试验、环境应力筛选试验、加速寿命试验HALT、可靠性指标MTBF验证、可靠性预计试验、加速老化试验、温度+湿度+振动三综合试验等。
常用检测标准：
可靠性试验第1 部分：试验条件和统计检验原理GB/T5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001
可靠性试验第2 部分：试验周期设计GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994
设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布) GB/T 5080.4-1985，IEC 60605- 4:1978
设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982
计算机通用规范第1 部分：台式微型计算机GB/T9813.1-2016
计算机通用规范第2 部分：便携式微型计算机GB/T 9813.2-2016
计算机通用规范第3 部分：服务器GB/T 9813.3-2017
计算机通用规范第4 部分：工业应用微型计算机GB/T9813.4-2017
可靠性鉴定和验收试验GJB 899A-2009
通信设备通用规范GJB 367A－2001
产品加速试验方法GB/T34986-2017。
整机可靠性测试标准
外购整机可靠性测试标准
加速寿命测
☆测试方法：
溶液含量：
600立方厘米
将手机安装电池、电池盖以及塞子等处于
关机状态放在盐雾试验箱内，样机用绳子悬
挂起来或斜放，以免溶液喷洒不均或有的表
面喷不到。
一台天线朝下，一台天线朝上。
样机需立即被放入测试箱。
实验周期是
个小时。
实验过程中样机不得被中途取出，
如果急需取出测试，要严格记录测试时间，
该实验需向后延迟相同时间。
取出样机，将手机和电池分开放置
进行常温干燥，对其进行外观及功能检查。
测试
试。
手机可靠性测试标准(手机)
3.2.2.高温高湿参数测试（Parametric Test）
测试环境：60° C，95%RH，4台手机
测试目的：测试样机耐高温高湿性能
试验方法：将手机处于关机状态，放入温湿度实验箱内的架子上，持续72个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
3.4 表面装饰测试 （Decorative Surface Test）
样品标准数量：每种颜色6 套外壳。
测试周期：3天。
3.4.1.磨擦测试（Abrasion Test - RCA）
测试环境：室温（20~25°C）；
试验方法：将最终喷涂的手机外壳固定在RCA试验机上，用175g力队同一点进行摩擦试验。对于表面摩擦300cycles，侧面和侧棱摩擦180 Cycles。
3.1.5高温高湿（temperatureandHumidity Test）
测试环境：60° C，95%RH，4台手机
测试目的：测试样机耐高温高湿性能
试验方法：将手机处于关机状态，放入温湿度实验箱内的架子上，持续72个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
测试环境：室温（20~25° C）；4台手机；开机状态；2万次。
可靠性测试实用标准(一)
测试目的：用来评估产品有可能储存或者使用在湿热交变环境中的影响
测试级别：非破坏性测试
测试要求： 1、测试前对样品进行外观和功能检测；
2、不包装，于常温状态下置入测试箱；
3、调节测试箱，使湿度在 1 小时内升到 95％，测试箱
温度保持在 25℃；
4、将测试箱温度在 3 小时内升到 60℃，湿度保持在
95％不变；
5、测试箱温度在 60±2℃，湿度在 95％±3％，保
持 9 小时；
6、将测试箱温度在 3 小时内降到 25℃，湿度保持在
95％不变；
7、测试箱温度在 25±3℃，湿度在 95％，保持 9 小
时；
8、以上为一个循环，共进行 2 个循环；
9、样品在该测试环境下保持运行状态；
10、测试完成后，在标准大气条件、室温下用强迫空
气循环(电风扇)进行 1 小时的恢复，以充分除去
测试样品表面的潮气；
11、测试样品充分恢复后，在8 小时内必须完成功能和
外观检测。
手机产品整机可靠性试验标准
4.4.4人工汗水………………………………………………………16
4.4.5耐酒精擦拭……………………………………………………16
4.4.6弯曲试验………………………………………………………16
4.4.7耐化妆品试验 ……………………………………………………17
3.2GB/T 电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B：高温；
3.3GB/T 电工电子产品基本环境试验规程 试验 Ca：恒定湿热试验方法；
3.4GB/T 电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 N：温度变化；
3.5GB/T 电工电子产品基本环境试验规程 试验 Ka:盐雾试验方法；
4.4.8小球冲击试验…………………………………………………17
4.4.9橡皮擦测试………………………………………………………17
5．手机外观、包装和装配检查及基本功能检测………………………………………………………17
5.1外观、包装和装配检查………………………………………………………18
5.2基本功能检测………………………………………………………19
4.1.1低温贮存………………………………………………………3
4.1.2低温工作………………………………………………………3
4.1.3高温贮存………………………………………………………4
4.1.4高温工作………………………………………………………5
4.1.5恒定湿热………………………………………………………5
b、为改善产品完好性、减少维修费用及保障费用提供有效信息；
c、确认是否符合可靠性定量要求；
d、评价产品的使用寿命。
机整机性耐度检验标准
机整机性耐度检验标准目录1 目的................................................................ 错误！未定义书签。
2 适用范围............................................................ 错误！未定义书签。
3 参考文件 (3)4 定义................................................................ 错误！未定义书签。
5.1环境测试.......................................................... 错误！未定义书签。
5.1.1高温储存试验……………………………………………………………………………………………错误！未定义书签。
5.1.2低温储存试验……………………………………………………………………………………………错误！未定义书签。
5.1.3恒定湿热试验……………………………………………………………………………………………错误！未定义书签。
5.1.4高低温冲击试验……………………………………………………………………………………………错误！未定义书签。
5.2 盐雾测试.......................................................... 错误！未定义书签。
5.3沙尘/粉尘试验 ..................................................... 错误！未定义书签。
5.3.1 LCD粉尘测试……………………………………………………………………………………………错误！未定义书签。
5.3.2 沙尘测试……………………………………………………………………………………………错误！未定义书签。
整机可靠性测试标准
手动试验 滚筒试验机 SIM/SD卡 样品整机
Y
Y
1000次
将SIM/SD卡座组装成整机，插入SIM/SD卡再取出，累计 1000 次。每插拔100 次开机检查一次，手机不能有不识卡现象，测 SIM卡推拉开关正常，手机读卡功能使用正常 试完毕手机功能应正常。插拔频率不超过30 次/分钟,插入拔出 为OK 算一次 使用拉拔计将被子测物件分离并读下此时拉拔力 内螺钉：2次，装配力矩装卸 外螺钉：5次，装配力矩装卸 拉拔力在规定范围内为OK 滑丝，螺钉断裂不合格
在-10～55℃试验条件下，产品的各项射频指 标正常。 在-30～60℃试验条件下，产品的功能正常。
高低温试验机
全面检查（功能与外观），试验前后是否一致 静电试验机
马达振动疲劳测 试 性能 测试 扬声器寿命测试
Y
Y(3G)
采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用4.2V 直流电源供电 振动正常，无杂音为OK 方式，让马达长时间振动状态，试验时间不少于72H。 采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用4.2V 直流电源供电 方式，将试验样机设置成长时间播放状态（采用播放MP3，循环 功能正常为OK 连续播放，音频较高的歌曲），最大音量连续播放时间不少于 72H 用声源对准每个手机进行音频回环，检验受话寿命。要求试验 时间不小于72小时。
Y
Y
96h
长时通话试验
Y
Y
N
试验结束后手机受话应正常
防水
防尘
TUV
Y
ROHS
显示冲击
N
SAR
N
场测
N
天线性能
Y
杂散
Y
振动正常无杂音为ok扬声器寿命测试yy96h采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用42v直流电源供电方式将试验样机设置成长时间播放状态采用播放mp3循环连续播放音频较高的歌曲最大音量连续播放时间不少于72h功能正常为ok长时通话试验yyn用声源对准每个手机进行音频回环检验受话寿命
整机测试可靠性检验标准
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文件名称
整机测试可靠性检验标准
3测试项目：
3.1冷热冲击试验
3.2高低温循环试验
3.3低温储存试验
编号
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文件名称
整机测试可靠性检验标准
3.4低温工作试验
3.5高温高湿试验
3.6高温储存试验
编号
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文件名称
整机测试可靠性检验标准
3.7高温工作试验
3.17耐摩擦试验
编号
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文件名称
整机测试可靠性检验标准
3.18自由跌落试验
3.19振动试验
3.20化学剂腐蚀试验
3.21盐雾试验
编号
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文件名称
整机测试可靠性检验标准
3.22灰尘测试
3.23抗压测试
4．ALT测试流程及对应样品编号
编号
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文件名称
1）射频载波功率
测量1，62，124三个信道，各测量5，10，19三个功率等级。
2）PowerVsTime、相位误差、频率误差
测量1，62，124三个信道，测量的功率等级为5。
3）接收误码率
测量1，62，124三个信道，测量等级为2，可以仅测量残余误比特率（RBER）。
4）调制频谱、开关频谱
测量1，62，124三个信道，测量的功率等级为5。
整机测试可靠性检验标准
√
5.功能及参数
5.1基本功能
1)检查塑料外壳和镜片的变形及裂纹。
2)将手机插入SIM卡并开机，检查手机是否开机，画面是否正常。
整机检验标准A类汇总
1．目的：为A类手机生产检验时质量人员有据可依。
2．适用范围：适用于A类手机机壳组装的样品至成品的检验。
3．定义：3．1缺陷等级：3．1．1致命缺陷(CRITICAL DEFECT):产品存在对使用者的人身及财产安全构成威胁的缺陷.3．1．2主要缺陷（MAJOR DEFECT）:产品存在以下缺陷,为主要缺陷.3．1．2．1功能缺陷影响正常使用;3．1．2．2性能参数超出正常标准；3．1．2．3漏元件、配件或主要标识，多出无关标识及其它可能影响产品性能的物品；3．1．2．4包装存在可能危及产品形象的缺陷；3．1．2．5导致最终客户拒绝购买的结构和严重外观缺陷。
3．1．3次要缺陷（MINOR DEFECT）：不影响产品使用，最终客户可能愿意让步接受的缺陷。
注：a.有些外观检查中发现的问题会影响产品的功能，则按照功能缺陷的标准来确定缺陷等级；如按键脱落会导致按键无功能，为主要缺陷。
b.有些功能检查中发现的问题仅影响到产品观感，则按照外观缺陷的标准来确定缺陷等级；如按键漏光。
3．1．4可以接受的缺陷：在制程过程中作质量评估使用, 出厂检查仅供参考。
3．2手机可视区域划分：AA：在使用过程中客户会刻意留意的部份， LCD大护镜、小护镜显示区域，按键印刷区域；滑板机及直板机的LOGO处、显示区域、按键印刷区域和摄像头自拍镜等位置；A：在使用过程中总能被客户看见的部份，如翻盖面/里壳、主机面壳正面,护镜印刷区域，按键非印刷区域；B：在使用过程中需将手机旋转90°才可以被客户看到的表面部分，即手机的上、下、左、右侧面，另包括手机底壳与电池接触部分，电池面壳和天线等；C：在使用过程中客户不会留意的部分，机壳的电池仓内及电池里壳等和充电器等其它附件；D：维修拆机才能发现的部分，具备满足保护和功能性的需求，无外观要求。
4．抽样计划与允收水准：4．1抽样计划：按照MLL-STD-105E，正常抽检水平，一次抽样，II类4．2接受标准：AQL （Cri:0,Maj:0.4,Min:1.0）5．职责：5．1 品保部负责检验标准的制订和更新；5．2 质检及测试人员负责检验手机的外观检查及其它整体性能测试。
整机外观检测标准 (1)
整机外观检测标准 (1)整机外观检测标准1.目的和适用范围：用于手机外观及一般性能检验，适用于在总装厂对产品进行IQC及OQC检查。
2．注意事项：1．若生产中出现本标准中未涉及到的新问题，应在本标准中加入未涉及到的项目或修正本标准。
2．下面表格中：Critical AQL=0, Min AQL=1.5, Maj AQL=0.4.3.抽验标准按国标2828-87 Level Ⅱ实施.4.下表所列缺陷之外的有可能影响产品质量的缺陷限度以承认样品为限.5.下表所列缺陷如可用软布擦去或气枪吹去的均属可接收之列.3.表面分类:AA面:只显示信息的区域(显示屏显示区域和LCD可见区域)A面:在使用过程中,直接在近处观看且暴露的主要面(正常观察时手机的前面).B面:在使用过程中,不直接观看但暴露的次要面(手机的上下左右侧面和背面)C面:在使用过程中很少见或看不见的面(手机背面内部\充电器和电池的其它表面)4.检验事项和原则Cri:Critical Defect1.产品存在对使用者的人身及财产安全构成威胁的缺陷.Maj:Major Defect1.功能缺陷影响正常使用.2.性能参数超出规格标准.3.漏元件\配件及主要标识.4.多出无关标识及其它可能影响产品性能的物品.5.包装存在可能影响产品形象的缺陷.6.结构及外观方面存在让一般顾客难以接受的严重缺陷.Min:Minor Defect上述缺陷以外的其它不影响产品使用的缺陷.Acc:Acceptable Defect可以接受的缺陷,在评价时使用,出厂检查仅供参考.外观缺陷检查要件距离:肉眼与被测物距离30cm时间:15秒钟内确认缺陷角度:被测面与桌面成45度;被测物转动15度范围内(LCD除外)照明:600-1200 Lux装配及功能缺陷检查条件与上相同.缺陷分类表面分类可接受轻微缺陷严重缺陷致命缺陷异色点(必要时提供样板为准)(污迹,灰尘、色点、污垢、亮点、异物等) AA D<0.15, N<=1D<0.15, 1<N<=2;0.15<=D<0.2, N<=1D>0.2,N>=1 A D<0.2, N<=1D<0.2, 1<N<=2;0.2<=D<0.3, N<=1D>=0.3 B D<0.35, N<=1D<0.35, 1<N<=2;0.35<=D<=0.6, N<=1D>0.6 C D<0.6, N<=1D<0.6, 1<N<=2;0.6<D<1.2, N<=1D>1.2同色点(必要时提供样板为准)(污迹,灰尘、色点、污垢、亮点、异物等) AA D<0.25, N<=2D<0.25, 1<N<=3;0.25<D<0.3, N<=2D>0.3 A D<0.3, N<=2D<0.3, 1<N<=3;0.3<=D<0.4, N<=2D>0.4 B D<0.4, N<=2D<0.4, 1<N<=3;0.4<D<0.65, N<=2D>0.65 C D<0.65, N<=2D<0.65, 1<N<=3;0.65<D<1.25, N<=2D>1.25直线形及曲线形等线状缺陷(划伤、尘点、熔接线、痕迹、丝印不良、印刷不良等) AAL<=2.5,W<0.03,A<0.06,N=2或者L>2.5,W>0.04,A>0.15,N=1L>2.5,W>0.05,0.2<A<0.4AL<2.5,W<0..05 2.5<L<4,0.05<W<0.1 BL<3,W<0.13<L<6,W>0.1C L<4,W<0.1 4<L<8,W>0.1位置可接受轻微缺陷严重缺陷致命缺陷前壳与后壳M<0.15或大于设计标准0.10.15<M<0.25或大于设计标准0.12M>0.25或大于设计标准0.15以上装饰片与壳体M<0.1 或大于设计标准0.10.1<M<0.15或大于设计标准0.12M>0.15或大于设计标准0.15以上电池与后壳M<0.2 或大于设计标准0.10.2<M<0.3 或大于设计标准0.12M>0.3 或大于设计标准0.15以上侧按键与壳体M<0.3 或大于设计标准0.10.3<M<0.5 或大于设计标准0.12M>0.5 或大于设计标准0.15以上键盘与壳体间隙M<0.25或大于设计标准0.10.25<M<0.35或大于设计标准0.12M>0.35或大于设计标准0.15以上I/O口与壳体M<0.6 或大于设计标准0.10.6<M<1.0 或大于设计标准0.12M>1.0 或大于设计标准0.15以上缺陷症状可接受轻微缺陷严重缺陷致命缺陷刮手刮手处相错小于或（等于）0.15mm刮手处相错大于0.15mm，小于0.25mm刮手处相错大于0.25mm，明显刮手倾斜显示偏、斜轻微，不影响使用（位置偏移小于/等于0.5mm或倾斜小于/等于0.5度）能感觉偏移（位置偏移大于0.5mm或倾斜大于0.5度），但不影响使用明显能感觉偏移，影响使用充电器阻力偏大（小）连接阻力小于0.15牛顿（有需要签样判定）连接阻力大于 2 牛顿（有需要签样判定）耳机阻力偏大连接阻力小于3.5牛连接阻力大于12牛顿（小）顿（有需要签样判定）（有需要签样判定）电池接触片与触点配合不良电池接触片与触点配合轻微不良，对性能及可靠性无影响电池触片与触点配合轻微不良，对性能及可靠性有轻微影响电池触片与触点配合严重不良，对性能及可靠性影响较大组装错位（一般部件）<=0.2mm >0.2~0.4mm >0.4mm8缺陷项目可接受轻微缺陷严重缺陷致命缺陷毛刺突出边缘小于（或等于）0.1mm突出边缘大于0.1mm小于(或等于)0.2mm突出边缘大于0.2mm尖利、有造成伤害的可能飞边突出边缘小于（或等于）0.1mm突出边缘大于0.1mm小于（或等于）0.2mm突出边缘大于0.2mm尖利、有造成伤害的可能水口装配后完全不可见（需旋转15度）装配后可见到，但对外观影响较小装配后可见到，但对外观影响较大或影响装配尖利、有造成伤害的可能丝印移位≤0.2mm偏移0.2mm<偏移<0.6mm 偏移>0.6mm丝印模糊文字边缘粗糙\气泡、空洞、残缺（可辨认）非标区文字边缘粗糙、气泡、空洞、残缺（不可辨认）非标区。
智能机整机可靠性测试标准——V1.3
6
低温工作
2PCS
7
盐雾试验
2PCS
8
沙尘试验
1、手机正常使用状态（各处塞子塞上，装电池开机），正反面及侧面分别朝 1、检验手机结构密闭 上状态；（如侧面无塞子、侧键等则不做）； 性； 2、沙尘组成：300目滑石粉和石英砂的混合物，风速≤3m/s、灰尘浓度：风速 2、灰尘侵入对手机功 下可以被完全吹开，不会行成累积、温度25±2℃、持续时间4h； 能寿命的影响 3、试验结束后待待沙尘完全沉降后再取出样机，清理表面灰尘后检查；
20
I/O充电口 插拔试验
2PCS
21
USB塞插拔 寿命
检验USB塞与手机I/O 耳机和充电器二合一则寿命≥3000次；如不共用，则耳机插拔寿命寿命≥2000 口的配合及USB塞的使 次；充电器插拔寿命≥2000次； 用寿命
2PCS
22
检验电池/电池后盖的 电池/电池 装配寿命； 后盖插拔试 检验手机长期插拔电 模拟用户正常使用插拔电池/电池后盖1500次； 验 池对相关器件的影 响； SIM卡/TF卡 检验SIM卡/TF卡结构 插拔寿命 稳定性 背光点亮寿 检验手机背光灯的寿 命试验 命 指示灯寿命 检验手机指示灯的寿 试验 命 1）插拔SIM卡/TF卡500次；每100次开机检验功能OK； 2）测试完成后做1米跌落、10cm重复跌落不应出现掉卡不量； 将试验样机设置成EL背光长时间点亮状态，试验时间不少于48小时。断续点亮 状态试验可伴随翻盖寿命试验同时进行。每2小时检查EL背光显示情况 将试验样机设置成指示灯长时间点亮状态，试验时间不少于120小时。断续点 亮状态试验可伴随按键寿命试验同时进行。每2小时检查LED点亮情况
2PCS
19
点笔插拔测 检验点笔的使用寿命 试 检验手机长期插拔充 电器对相关器件的影 响 检验充电器、耳机、 数据线与手机的匹配
安卓智能手机整机可靠性测试标准
手机整机可靠性测试标准目录0.短语和参考文献 (3)0.1缩略语 (3)0.2术语和定义 (3)0.3参考文献 (3)1.目的 (3)2.编制依据 (4)3.适用范围 (4)4.术语，定义 (4)5.职责描述 (4)6.可靠性测试（ART）标准 (5)6.1加速寿命测试（Accelerated Life Test） (5)6.1.1室温下功能测试（Functional Test） (5)6.1.2跌落测试（Drop Test） (5)6.1.3温度冲击测试（Thermal Shock） (5)6.1.4湿热测试（Humidity Test） (5)6.1.5振动测试（Vibration Test） (6)6.1.6静电测试（ESD Test） (6)6.2气候适应性测试（Climatic Stress Test） (7)6.2.1室温下参数测试（Parametric Test） (7)6.2.2高温/低温工作测试（Parametric Test） (7)6.2.3湿热测试（Parametric Test）.............................................................错误！未定义书签。
6.2.4高温/低温存储功能测试（Functional Test） (7)6.2.5灰尘测试（Dust Test） (8)6.2.6盐雾测试（Salt Fog Test） (8)6.3结构耐久测试（Mechanical Endurance Test） (8)6.3.1侧键测试（Side Key Test） (8)6.3.2充电器插拔测试（Charger Test） (8)6.3.3电池/电池盖拆装测试（Battery/Battery Cover Test） (9)6.3.4耳机插拔测试（Headset Test） (9)6.3.5SD卡/SIM卡插拔测试（SD Card Test） (9)6.3.6水滴实验（针对电容屏） (10)6.3.7喇叭寿命测试（Speaker life test） (10)6.3.8马达寿命测试（Vibration durability test） (10)6.4表面装饰测试（Decorative Surface Test） (10)6.4.1外壳表面处理测试 (10)6.4.2TP表面硬度测试（TP Hardness Test） (12)6.4.3钢球冲击测试（Ball Drop Test） (12)6.5特殊条件测试（Special Stress Test） (13)6.5.1扭曲测试（Twist Test） (13)6.5.2软压测试（Press Test） (13)6.5.3硬压测试 (13)6.5.4循环跌落测试（Micro-drop Test） (14)6.5.5滚筒跌落测试（Free Fall Test） (14)6.6其他测试（Other Test） (14)6.6.1螺母测试（Nut Test） (14)6.6.2I/O接口试验 (14)6.6.3耳机插口强力插入测试（Earphone Connector Evaluation Test） (15)6.6.4保护盖（耳机塞、I/O接口塞、RF塞、螺丝塞等）测试 (15)6.6.5TP/LENS测试（TP/Lens Test） (16)6.6.6水煮试验 (16)7.最终检验 (17)0.短语和参考文献0.1缩略语无0.2术语和定义ART：Accelerated Reliability Test（可靠性实验）0.3参考文献1.目的评估产品的质量和可靠性。
整机可靠性测试标准
外购整机可靠性测试标准
加速寿命测
☆测试方法：
溶液含量：
600立方厘米
将手机安装电池、电池盖以及塞子等处于
关机状态放在盐雾试验箱内，样机用绳子悬
挂起来或斜放，以免溶液喷洒不均或有的表
面喷不到。
一台天线朝下，一台天线朝上。
样机需立即被放入测试箱。
实验周期是
个小时。
实验过程中样机不得被中途取出，
如果急需取出测试，要严格记录测试时间，
该实验需向后延迟相同时间。
取出样机，将手机和电池分开放置
进行常温干燥，对其进行外观及功能检查。
测试
试。
整机可靠性测试规范
1、制定修改履历:
2、传阅及培训:
1、目的：
整机可靠性测试规范的目的是尽可能地挖掘由设计，制造或机构部件所引发的机构部分潜在性问题，在大批量生产之前寻找改善方法并解决上述问题点，为正式生产在产品质量上做必要的报证•
2、范围:
普莱达加工厂所有产品•
3、职责:
3.1由PMC安排试产，并提供机器及各配件（包括电池，电池盖、耳机、数据线、充电器等，且必须要求
是出货配件）。
3.2品管部负责向PMC借机器及各配件，然后按照可靠性测试实验方法及条件进行测试，同时针对测试过
程中出现的不良现象及时记录在《可靠性实验报告》内。
在可靠性实验完成后，由品质部将《可靠性实验报告》存档，且发送到各部门、总部或客户进行质量评估。
3.3可靠性测试中不合格项由工程部负责分析，并提出解决方案。
4、作业流程
5.测试样品需求数
总的样品需求为10pcs
6.测试项目及要求
7 可靠性实验项目
以上除了特殊环境要求以外，其它实验均在室温下进行。
行业平板电脑整机可靠性测试规范
4、执行测试前，确认每项实验项目执行状况及进度；
5、测试中如遇测试异常时需填写「异常清单汇整表」，以利机台异常追踪；
6、测试完成后出具可靠性测试报告；
B.Chamber设定参照1-5-3测试条件；
C.待测物关机裸置存储约25H;
D.测试结束之后将温箱降至常温，拿出样机常温下静置2H后按照附录1、2进行基本功能射频指标测试；
E.测试中每两小时确认测试状况，检查系统状态；
F.检查机构外观时，需拆下塑料外壳检验；
G.执行下个测试前，需更换新的塑料外壳。
二、适用范围：
适用于所有深圳市汉普电子技术开发有限公司研发和生产的行业平板电脑。
三、参考标准：
YD/T 1539-2006：移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法；
GB/T 2423.XX：电子电工产品环境试验标准；
GB/T 9286：色漆和清漆、漆膜的划格试验；
GB 4208-2008：外壳防护等级（IP代码）；
B.Chamber设定参照1-3-3测试条件；
C.待测物关机裸置存储48H;
D.测试结束之后将温箱降至常温，拿出样机常温下静置2H后按照附录1、2进行基本功能射频指标测试；
E.测试中每两小时确认测试状况，检查系统状态；
F.检查机构外观时，需拆下塑料外壳检验；
G.执行下个测试前，需更换新的塑料外壳。
1-3-6判定标准：
1-6-6判定标准：
检验判定标准（系统功能）
项目
内容
CR
MA
MI
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企业标准
TINNO-WI-NPI-2007
整机可靠性测试标准
文件版本：V1.0
拟 制： 标准化： 审 核： 批 准：
李明
2007-XX-XX 发布
2007-XX-XX 实施
深圳天珑移动技术有限公司发布
CONTENT
一 目的
二 编制依据
三 执行原则
四 适用范围
五 术语、定义
六 主要职责
七 可靠性测试程序
1. 加速寿命测试（ALT） 1.1 室温下参数测试（Parametric Test） 1.2 温度冲击测试（Thermal Shock） 1.3 跌落试验（Drop Test） 1.4 振动试验（Vibration Test） 1.5 湿热试验（Humidity） 1.6 静电测试（ESD） 1.7 室温下参数测试（Parametric Test）
26 IEC 68-2-68 28 IEC 68-2-18/IEC529 29 IEC 68-2-70:1995
30 IEC 68-2-9:1975 32 ISO 1518 33 D/T 1215-2002
电工电子产品环境试验第一部分：总则 移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法 移动通信调频无线电话机可靠性要求及实验方法 移动通信设备安全要求和试验方法 移动通信调频无线电话机质量评定规则 电工电子产品环境试验术语 可靠性、维修性术语 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级 电工电子产品环境试验第 1 部分：实验方法 试验 A：低温 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 B：高温 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 N：温度变化 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Ed：自由跌落 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Fc 和导则：振动 电工电子产品基本环境试验 试验 Ca：恒定湿热试验方法 电工电子产品基本殊死搏斗试验规程试验 Ka：盐雾试验方法 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Eg：撞击 弹簧锤 信息技术设备的安全
电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 Basic Environmental Testing Procedures: Change of Temperature Environmental Testing – Test KB: Salt Mist Basic Environmental Testing Procedures: Damp heat Environmental Testing Part 2: Tests – Test A: cold Basic Environmental Testing Procedures: Part 2 Test B: Dry heat Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and measurement
Parametric Test (20-25℃)
Temp/Humidity 40℃/95%RH/48hrs
Thermal Shock -40℃/70℃/120min/24cycles
1st Drop 6 faces/1.2m
Vibration Sine, 1hr/rxis
2nd Drop 6 faces/1.2m
整个生命期间的实用性。 3 规范公司产品可靠性试验（PRT）作业方法
二 编制依据
1 GB/T 2421-1999 2 GB/T 15844.2-1995 3 GB/T 15844.3-1995 4 GB 15842-1995 5 GB/T 15844.4-1995 6 GB/T 2422-1995 7 GB/T 3187-94 8 GB/T 4796-2001 9 GB/T 2423.1-2001 10 GB/T 2423.1-2001 11 GB/T 423.22-2002 12 GB/T 2423.1-2001 13 GB/T 2423.10-1995 14 GB/T 2423.3-93 15 GB/T 2423.18-2000 16 GB/T 2423.44-1995 17 GB4943-2001 18 GB/T 17626.2-1998 19 IEC 60068-2-14:1984 20 IEC 68-2-52:1996 21 IEC 68-2-30:1980 22 IEC 60068-2-1:1990 23 IEC 60068-2-2:1974 24 IEC 31000-4-2:2001
单项/器件评估测试
TDMA-Time Division Multiple Access
时分多址
GSM-Global System for Mobile Communications 全球移动通信系统
GPRS-General Package Radio Service
通用无线分组业务
六 主要职责
1. 可靠性测试技术员 1.1 产品可靠性具体测试项目的执行、跟踪。 1.2 按时完成测试任务。 1.3 测试原始数据的归档整理。 1.4 参与测试仪器/设备的日常维护和开发。 1.5 实验室数据/文件的管理。
一 目的
作为产品质量保证系统一部分，可靠性测试标准将力求达到以下目标： 1 根据相关测试标准，在特定的可接受的环境下对产品、部件施加特定的测试方法，通过不断的催化
产品、部件的寿命和疲劳度，以评估并提高其质量和可靠性； 2 根据相关测试标准，模拟各种高于客观实际的环境条件，对产品、部件进行全面的考核，以确定其
1）功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、 蓝牙、MINI SD 卡以及其它未描述到的功能。
4. 表面装饰测试（Decorative Surface Test） 4.1 磨擦测试（Abrasion Test -RCA） 4.2 附着力测试（Coating Adhesion Test） 4.3 硬度测试（Hardness Test）
4 4 4 5 5 5
6
6 6 7 8 8 9 10 10 10 11 12 12 13 14 14 15 16 16 17 18 18 19 19 20 20 21 21 22 22 23 23
GSM9001/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务 （GPRS）设备测试方法：移动台
4 of 26
34 D 1032-2000 35 信息产业部科技司-
GSM9001/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测 量方法 第一部分：移动台及其设备 移动电话机入网检验细则，2000 年 10 月发布
2.7 参与可靠性测试设备/仪器的开发。 2.8 完成新员工测试培训工作。 2.9 汇总项目实验结果（数据），提出汇总/对比的月报。
七 可靠性测试程序
1. 加速寿命测试 ALT 样机标准数量：5 台 试验周期：7 天 测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露生命周期的潜在问题。测试 用所有样机须保证设计功能，射频参数正常，外观及结构符合试产级或整机验收标准。开始测试前， 样机需要进行射频参数测试，此数据将被保留便于与以后所测参数对比。 试验流程：见下图，其中 Thermal Shock 和 1st Drop 测试的时间间隔应不超过 4 小时；Temp/Humidity 和 2nd Drop 测试时间间隔应不超过 4 小时。
五 术语、定义
PRT-Product Reliability Test
产品可靠性测试
ESD-Electro-static discharge
静电放电
ALT-Accelerated Life Test
加速寿命测试
SE-Stage Evaluation
阶段性评估
PQ-Parts Qualification
2. 气候适应性测试（Climatic Stress Test） 2.1 低温动作测试（Low Temp. Operating） 2.2 高温动作测试（High Temp. Operating） 2.3 低温放置测试（Low Temp. Exposure） 2.4 高温放置测试（Low Temp. Exposure） 2.5 盐雾测试（Salt fog Test）
2 of 26
5. 特殊条件测试（Special Stress Test）
23
5.1 低温充电实验（Low Temperature Charge Test）
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ24
5.2 高温充电实验（High Temperature Charge Test）
24
八 最终检验
25
九 判定标准
25
十 送样标准
26
3 of 26
2. 可靠性测试工程师 2.1 定义项目/产品可靠性测试计划。 2.2 完成、跟踪项目/产品可靠性测试测试结果。 2.3 参与产品可靠性测试问题的分析及改进。 2.4 提供制订/修订可靠性测试程序及标准建议。 2.5 参与测试设备/仪器的日常管理、维护。 2.6 参与产品可靠性新测试项目开发。
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行参数指标预测试并保存测试结果。 z 检验标准：所有附件中参数指标正常，功能正常。
1.2 温度冲击测试（Thermal Shock） z 测试环境：低温-40℃，高温 70℃ z 测试目的：验证样机高低温冲击下的材料性能，结构配合、装配、制成工艺等可靠性
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z 测试标准：GB/T 242423.22-2002; IEC 60068-2-14:1984 z 测试设备：温度冲击箱 z 测试检查项目：
techniques – Electrostatic discharge immunity test Environmental Testing Part 2: Tests – L: Dust and sand Environmental testing – part 2-18: tests – test R and guidance: water Environmental testing – Part 2: Tests test Xb: Abrasion of marking and letterings caused by rubbing of fingers and hands Procedure B: salt fog