实验6--参数扫描和电路性能分析

实验报告

一、实验目的

1、使学生掌握参数扫描方法；

2、使学生掌握电路性能分析方法；

3、掌握波形调用方法。

二、实验容

1、按电路图1所示的连接，绘制电路。

2、设BJT的型号为2N3904，β= 50，Rbb（Rb）=100Ω，其参数如图1所示。试分析Ce在1μF到100μF之间变化时，下线频率fL的变化围。

3、绘制出图2所示电路。使电容C1在0.01UF到0.3UF围变化，分析积分电路的上升时间与C1的关系。

图一电路图1

图2参数设置

v cc

VOFF = 0PARAMETERS:

Cv al = 1uf

图3参数设置

图4下线频率变化围波形图

分析：

Ce在1μF到100μF之间变化时，Ce值越大，下线频率fL下线频率越低。

图5电路图2

图6 v0参数设置

C1TD = 9.9m TF = 0.1m PW = 9.9m V1 = 0TR = 0.1m V2 = 5

图7 v0参数设置

图8 v0的波形0.01uf到0.3uf

分析：

由图8电容C1在0.01UF到0.3UF围变化，电容越大，积分电路的上升时间越大。

三、实验总结

通过这次实验我们运用参数符号设置变化的值，电容的值为变量。Ce在1μF到

100μF之间变化时，Ce值越大，下线频率fL下线频率越低；实验图二中会有v-，v+

的值没画出来，需要自己添加。由图8电容C1在0.01UF到0.3UF围变化，电容越大，积分电路的上升时间越大。学会了交流分析参数设置开始频率为1Hz，截止频率为

1meg，方便观察完整波形。电容(全局变量Global parameter)，参数parameter设为{Cval}。然后需要调用Special库中的PARAM。然后双击命名和设置初始值。