光耦测延迟试验

光耦试验Ⅱ

今天对光耦的测试重新做了实验，修改了一下实验电路，在反相器输出端在接一级反相器以减小输出串联电阻对cd40106输出占空比的影响。 具体实验电路：

实验结果如下图所示：

光耦输入输出侧电压波形图（上升沿）

光耦输入输出侧电压波形图（下降沿）

由上图可知，光耦输入输出端上升沿输出端滞后约0.2us，下降沿延迟约0.1us 。

全周期波形图：

增加加速电容

具体电路原理图：

如上图说是，增加了两个101电容，如果增加102电容会出现上升爬坡现象，两个102会出现电压的反跳，具体的实验结果见下图。

由上图可以看出，下降沿的延迟有所改善，但是效果不是特别明显，如果加大电容会出现电压反跳和爬坡现象。

全周期波形图：

第三种方式测试(在二极管的阴极对地接一个2.5v 直流电源) 具体实验电路原理图：

光耦输入端二极管两端波形与输出波形：

上升沿波形图如下：

下降沿波形图如下：

由上图可以知道，上升沿延迟时间约0.2us，下降沿延迟时间约为0.08us。

第四种方法测量：

具体实施的电路原理图：

在原电路上增加了两个101电容，具体的实验波形图如下：

上升沿波形如下：

下降沿波形如下：

由上图可知，再增加电容后对输出影响不大，而对光耦的二极管输入端波形下降沿有所提前。

实验结果总结：

1、本次是对电路进行了一定的修改，增加了一级反相器，使得cd40106的输

出波形受输出电阻影响减小，占空比基本上在50%左右，没有因为输出串联电阻增加而时输出的占空比加大。

2、除第一点中的修改外，无其它修改方面，测得光耦输入输出波形的延迟，

没有出现昨日测量时的死区时间问题。没有找到昨日产生死区的原因。

3、今天测量时光耦输出上升沿出现爬坡现象，查看HCPL3180资料发现，上

升沿爬坡应属正常。昨天的波形上升沿很好，但是有些许震荡，时间很短，对输出应该没有影响，怀疑为实验误差所致。

4、做了昨天没有完成的实验，即在光耦输入端加入2.5伏直流电源，对输出

结果影响不大。

5、又做了一个新的实验，加速电容和2.5v电压都加，实验结果显示，对光耦输出

影响不大，只是光耦的输入端波形的下降沿有所提前。