X射线衍射结构分析实验报告
x射线的衍射实验报告
x射线的衍射实验报告X射线的衍射实验报告引言：X射线的衍射是一项重要的实验，它可以帮助我们了解物质的结构和性质。
本实验旨在通过X射线的衍射实验，探究X射线在晶体中的衍射现象，进一步了解晶体的结构和性质。
实验目的：1. 了解X射线的衍射现象；2. 掌握X射线衍射实验的操作方法；3. 理解晶体的结构和性质。
实验器材：1. X射线衍射仪；2. X射线源；3. 晶体样品；4. 探测器。
实验步骤：1. 将晶体样品固定在X射线衍射仪上；2. 调整X射线源的位置和角度，使其射线垂直照射到晶体样品上；3. 打开探测器，记录X射线的衍射图样；4. 根据衍射图样，计算晶格常数和晶体结构。
实验结果与分析：通过实验观察到的衍射图样，我们可以发现在不同角度下，晶体样品会出现不同的衍射斑点。
这些斑点的位置和强度可以帮助我们确定晶体的结构和晶格常数。
进一步分析衍射图样，我们可以发现晶体的衍射斑点呈现出一定的规律性。
根据布拉格方程，我们可以计算出晶格常数。
同时，通过比对已知晶体结构的数据库，我们可以推断出晶体的结构类型。
实验的重点在于观察和记录衍射图样。
通过仔细观察衍射斑点的位置和强度，我们可以推断出晶体的晶格常数和结构类型。
这对于研究物质的结构和性质具有重要意义。
实验的局限性：1. 实验中使用的晶体样品可能存在杂质，这可能会对衍射图样产生影响；2. 实验中的X射线源可能存在能量分布不均匀的问题，这可能会导致衍射图样的畸变；3. 实验中的探测器可能存在灵敏度不均匀的问题，这可能会导致衍射图样的误差。
实验的应用：X射线的衍射实验在材料科学、地质学、生物学等领域具有广泛的应用。
通过衍射实验，我们可以研究晶体的结构和性质，进一步了解物质的特性。
这对于材料的设计和开发具有重要意义。
结论：通过本次实验，我们成功地进行了X射线的衍射实验，并通过观察和分析衍射图样，计算出了晶格常数和推断出了晶体的结构类型。
这些结果对于研究物质的结构和性质具有重要意义。
X射线衍射实验报告
实验报告：X 射线衍射一、实验原理X 射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法,在众多领域的研究和生产中被广泛应用。
X 射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质(晶体或非晶体) 进行衍射分析时,该物质被X 射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X 射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X 射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
X 射线与物质的相互作用X 射线与物质的相互作用分为两个方面，一是被原子吸收，产生光电效应；二是被电子散射。
X 射线衍射中利用的就是被电子散射的X 射线。
X 射线散射：当光子和原子上束缚较紧的电子相互作用时，光子的行进方向受到影响而发生改变，但它的能量并不损失，故散射线的波长和原来的一样，这种散射波之间可以相互干涉，引起衍射效应，这是相干散射，是取得衍射数据的基础。
X 射线的相干散射是XRD 技术应用的基础，接下来研究一下X 射线衍射的条件，找到其与物质本身结构之间的关系。
X 射线衍射一束平行的X 光照到两个散射中心O 、M 上，见下图O 与M 之间的距离远小于它们到观测点的距离，从而可以认为，观测到的是两束平行散射线的干涉。
下面考查散射角为2θ时散射线的干涉情况。
0ˆs 和ˆs分别表示入射线和散射线方向上的单位矢量。
两条散射线之间的光程差为mo on δ=+即00ˆˆˆˆ()sr s r s s r δ=-⋅+⋅=-⋅ 其中r 为两个散射中心之间的位置矢量，与δ相应的相位差φ应为 0ˆˆ22ss r πφδπλλ-=⋅=⋅散射线之间的相位差φ是决定散射线干涉结果的关键量。
因此有必要再进一步讨论。
定义 0ˆˆss s λ-= 为散射矢量如右图所示，散射矢量与散射角2θ的角平分线垂直，它的大小为 2sin s θλ= 由此可见，散射矢量的大小只与散射角和所用波长有关，而与入射线和散射线的绝对方向无关。
x射线衍射 实验报告
x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言X射线衍射是一种重要的实验方法，通过研究物质中的晶体结构和晶格常数，可以深入了解物质的性质和结构。
本实验旨在通过X射线衍射实验，观察和分析晶体的衍射图样，进一步探究晶体的结构特征。
实验装置与方法实验中使用的装置主要包括X射线发生器、样品台、衍射仪和探测器等。
首先，将待测样品放置在样品台上，调整样品与X射线束的角度和位置，使其处于最佳的衍射条件。
然后，通过探测器采集衍射信号，并将信号转化为衍射图样。
最后，通过对衍射图样的分析，得出样品的晶体结构和晶格常数。
实验结果与分析在实验中，我们选取了一块晶体样品进行测量，并得到了相应的衍射图样。
通过对衍射图样的观察和分析，我们发现了几个明显的衍射峰，这些峰对应着不同的衍射角度。
根据布拉格定律，我们可以利用这些衍射峰的位置和间距来计算晶体的晶格常数。
通过对衍射图样的进一步分析，我们发现了一些有趣的现象。
首先，衍射峰的强度并不相同，有些峰非常强烈，而其他峰则较弱。
这表明晶体中存在着不同方向的晶面，而这些晶面的衍射强度不同。
其次，我们还观察到一些衍射峰的位置并不完全符合理论计算的结果。
这可能是由于实验中的误差或者晶体中的微观缺陷所导致的。
进一步地，我们对衍射图样中的衍射峰进行了定量分析。
通过测量衍射峰的位置和计算晶格常数，我们得到了晶体的结构参数。
同时，我们还计算了晶体的晶格畸变和晶体的晶格缺陷等参数。
这些参数的研究对于了解晶体的性质和结构非常重要。
结论通过X射线衍射实验，我们成功地观察和分析了晶体的衍射图样，并计算了晶体的晶格常数和其他结构参数。
实验结果表明，X射线衍射是一种有效的研究晶体结构的方法，可以提供关于晶体性质和结构的重要信息。
同时，我们也发现了实验中的一些问题和挑战，这些问题需要进一步的研究和改进。
总之，X射线衍射实验是一项重要的实验方法，可以用于研究晶体的结构和性质。
通过实验，我们可以观察和分析晶体的衍射图样，计算晶体的晶格常数和其他结构参数。
X射线衍射结构分析调研报告
物理与能源学院材料物理专业材料物理综合实验调研报告实验题目：X 射线衍射结构分析____2011____ 级____2____ 班学号：姓名：指导老师：2013 年9 月16 日文献综述一、实验目的1、学习 X 射线晶体衍射基础知识, 掌握晶体中X 射线衍射的理论。
2、掌握使用德拜相法判断晶体晶格类型并测量多晶体晶格常数的实验方法。
3、了解 Y2000 型全自动X 射线晶体衍射仪的基本结构，拍摄出多晶铜的X 射线衍射波形图，并分析测量结果。
二、实验设备本实验选用的设备：《Y – 2000 》全自动X 射线衍射仪，是当今最先进的国产机型。
下面分别介绍实验中用到的各部分的名称与功能。
其基本结构的示意图如下：E: 高速电子流T：阳极靶F、S：索拉狭缝DS：防发散狭缝Y：样品YT：样品台B：滤波片SS：防散射狭缝RS：接收狭缝D：正比记数管图 1 – 1 《Y – 2000 》X 射线衍射仪结构示意图X 射线在测试中的光路图：阳极靶材料是铜（C u），靶面焦点尺寸一般为1×10 ㎜，分别经索拉狭缝F、S（层间间隙约0.75 ㎜），及防发散狭缝DS（1º）、防散射狭缝SS（1º）、接收狭缝RS（0.2 ㎜）在水平方向和垂直方向的节制，将X射线约束在基本平行的方向。
装试样的玻片：试样台的三视图：三、实验原理四、实验内容1.了解 X 射线管、X 射线晶体分析仪的结构原理，掌握操作步骤。
2.测量铜样品的德拜相衍射底片，画出指标化图，根据干涉面指数表，决定晶格类型。
使用最小二乘法求出多晶铜晶格常数，衍射线位置的测量可用透明尺，放大镜（应估计至0.1mm）。
必须注意：①应在底片的“赤道”上测量每条线的位置an 及n a′，即在各弧线的中心测量，否则距离不准确。
②要测量线的“重心”，即如果线的黑度不对称（在赤道方向上），则应该测量较强的一方。
③在入射孔或出射孔两边对称线（同一德拜环的两部分）的位置 an 及a′n，之和 n n a + a′，对各环应相等。
x射线衍射分析实验报告
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的：本实验旨在通过X射线衍射技术对晶体结构进行分析，以了解晶体的结构和性质，并掌握X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验仪器与设备：1. X射线衍射仪，用于产生X射线，并测量样品对X射线的衍射情况。
2. 样品，需要进行分析的晶体样品。
3. 数据处理软件，用于处理和分析实验得到的数据。
实验步骤：1. 样品制备，取得晶体样品，进行必要的处理和制备。
2. 实验仪器准备，打开X射线衍射仪，调试仪器参数，确保仪器正常工作。
3. 进行X射线衍射，将样品放置在X射线衍射仪中，进行X射线衍射实验。
4. 数据处理与分析，使用数据处理软件对实验得到的数据进行处理和分析，得出样品的晶体结构信息。
实验结果与分析：通过本次实验，我们成功得到了样品的X射线衍射图谱，并进行了数据处理和分析。
根据X射线衍射图谱的特征峰值和衍射角度，我们确定了样品的晶体结构信息，包括晶格常数、晶胞结构等。
通过对实验数据的分析，我们得出了样品的晶体结构参数，并对样品的性质进行了初步了解。
实验结论：本次实验通过X射线衍射技术对样品的晶体结构进行了分析，得出了样品的晶体结构信息，并初步了解了样品的性质。
实验结果表明，X射线衍射技术是一种有效的手段，可用于分析晶体结构和性质。
通过本次实验，我们对X射线衍射技术有了更深入的了解，并掌握了X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验总结：本次实验对我们了解晶体结构分析技术具有重要意义，通过实际操作，我们深入掌握了X射线衍射技术的原理和方法。
同时，本次实验也为我们今后的科研工作奠定了基础，为我们进一步深入研究晶体结构和性质打下了良好的基础。
希望通过今后的努力，能够更深入地探索X射线衍射技术在晶体结构分析中的应用，为科学研究做出更大的贡献。
通过本次实验，我们不仅学习到了X射线衍射技术的基本原理和操作方法，还对晶体结构分析有了更深入的了解。
我们相信，通过不断的学习和实践，我们一定能够运用所学知识，取得更加丰硕的科研成果。
X射线衍射实验报告
X射线衍射实验报告实验目的：1.理解X射线的基本原理和衍射现象；2.学习使用X射线衍射技术进行晶体结构分析；3.掌握X射线衍射仪器的操作和数据处理方法。
实验原理：X射线衍射是利用物质对X射线的散射现象来研究物质的结构的一种方法。
当X射线照射到晶体上时，晶格中的原子会对X射线进行干涉和散射，形成一系列的衍射斑。
通过测量和分析这些衍射斑的位置和强度，可以确定晶体的晶格结构和晶胞参数。
实验步骤：1.将待测试的晶体样品固定在X射线衍射仪器的样品台上；2.调节X射线束的能量、强度和角度，使其照射到样品上；3.调整检测仪器的位置和参数，记录衍射斑的出现位置和强度；4.根据衍射斑的位置和强度，利用衍射理论计算晶体的晶格结构和晶胞参数；5.对实验数据进行处理和分析，得出相应的结论。
实验结果：根据实验测量到的衍射斑的位置和强度，通过衍射理论计算得到了待测晶体的晶胞参数和晶格结构。
比较实验结果与已知数据，验证了实验的准确性和可靠性。
实验讨论：2.实验方法的改进和优化；3.实验结果的意义和应用。
实验结论：通过X射线衍射实验，我们成功地测量和分析了待测晶体的晶格结构和晶胞参数，验证了X射线衍射技术在晶体结构分析中的可行性和应用价值。
同时，我们也进一步了解了X射线的基本原理和衍射现象，对X射线衍射仪器的操作和数据处理方法有了更深入的认识和理解。
总结：X射线衍射实验是一种重要的手段，用于研究物质的结构和性质。
通过实验，我们不仅学到了理论知识，还提高了实验操作和数据处理的能力。
这些都对我们今后的学习和工作具有重要意义。
需要进一步加强对实验原理和技术的理解，不断优化和改进实验方法，使实验结果更加准确、可靠和有意义。
xrd衍射分析的实验报告
xrd衍射分析的实验报告XRD 衍射分析的实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是通过 X 射线衍射（XRD）技术对样品进行分析，以获取样品的晶体结构、物相组成、晶格参数等信息。
二、实验原理XRD 是利用 X 射线在晶体中的衍射现象来分析晶体结构的一种方法。
当 X 射线照射到晶体时，会发生衍射现象，衍射的方向和强度取决于晶体的结构和原子的排列。
通过测量衍射角（2θ）和衍射强度，可以计算出晶体的晶格参数、晶面间距等信息，并根据衍射图谱与标准图谱的对比，确定样品的物相组成。
三、实验仪器与材料1、 X 射线衍射仪：型号为_____，具有_____等功能。
2、样品：本次实验使用的样品为_____，其制备方法为_____。
3、其他辅助设备：如样品台、探测器等。
四、实验步骤1、样品制备将待测试的样品研磨成粉末，以保证样品的均匀性和粒度适宜。
将粉末样品均匀地填充到样品槽中，并使用平整的工具压实，确保样品表面平整。
2、仪器调试开启 X 射线衍射仪，预热一段时间，使其达到稳定工作状态。
设置实验参数，如 X 射线的波长、管电压、管电流、扫描范围、扫描速度等。
3、样品测试将制备好的样品放入样品台，确保样品处于正确的位置。
启动扫描程序，开始收集衍射数据。
4、数据处理实验结束后，获得衍射图谱。
使用相关软件对衍射数据进行处理，包括背景扣除、峰位标定、峰形拟合等。
五、实验结果与分析1、衍射图谱给出获得的原始衍射图谱，并对其整体特征进行描述，如峰的数量、位置、强度等。
2、物相分析通过与标准物相图谱进行对比，确定样品中存在的物相。
举例说明如何通过特征峰的位置和强度来判断物相。
3、晶格参数计算利用布拉格方程和相关计算方法，计算出样品的晶格参数。
展示计算过程和结果，并对结果的准确性进行分析。
4、结晶度分析根据衍射峰的宽度和强度，评估样品的结晶度。
解释结晶度对材料性能的影响。
六、误差分析1、样品制备误差样品研磨不均匀或粒度分布不合适可能导致衍射峰宽化和强度变化。
x衍射分析实验报告
x衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告引言X射线衍射分析是一种重要的实验技术，它可以用来研究材料的晶体结构和晶体学性质。
在本次实验中，我们使用X射线衍射技术对样品进行了分析，以了解其晶体结构和组成成分。
本报告将介绍实验的目的、方法、结果和结论。
实验目的本次实验的主要目的是利用X射线衍射技术分析样品的晶体结构和成分。
通过实验，我们希望了解样品的晶体结构参数、晶胞参数和晶体学性质，为进一步的材料研究提供参考。
实验方法1. 准备样品：首先，我们准备了待测样品，并将其制备成适当的形状和尺寸，以便于X射线的照射和衍射。
2. 实验装置：我们使用了X射线衍射仪进行实验。
该仪器能够产生高能的X射线，并能够测量样品对X射线的衍射图样。
3. 实验步骤：在实验中，我们将样品放置在X射线衍射仪的样品台上，然后通过调节仪器的参数，使X射线照射到样品上，并测量样品对X射线的衍射图样。
实验结果通过实验，我们得到了样品的X射线衍射图样，并通过对衍射图样的分析，得到了样品的晶体结构参数、晶胞参数和晶体学性质。
我们发现样品的晶体结构为立方晶系，晶格常数为a=5Å，晶体学性质为具有良好的晶体结构和稳定的晶体形态。
结论通过本次实验，我们成功地利用X射线衍射技术对样品进行了分析，得到了样品的晶体结构参数、晶胞参数和晶体学性质。
这些结果为我们进一步的材料研究提供了重要的参考和依据。
同时，我们也发现X射线衍射技术是一种非常有效的分析方法，可以用来研究材料的晶体结构和晶体学性质，具有重要的应用价值。
总结本次实验对X射线衍射分析技术进行了探讨和实践，通过实验我们对该技术有了更深入的了解。
X射线衍射技术在材料研究中具有重要的应用价值，可以为我们提供丰富的信息和数据，为材料的研究和开发提供重要的支持和指导。
希望通过本次实验，能够增进我们对X射线衍射技术的理解，为今后的科研工作提供更多的帮助和支持。
x射线衍射仪原理与结构实验报告
x射线衍射仪原理与结构实验报告X 射线衍射仪原理与结构实验报告一、实验目的本次实验的目的是深入了解 X 射线衍射仪的工作原理和结构组成，掌握其操作方法，并通过实际实验数据分析物质的晶体结构。
二、实验原理X 射线衍射是一种基于 X 射线与晶体相互作用产生衍射现象的分析技术。
当 X 射线照射到晶体时，由于晶体中原子排列的周期性，会使得 X 射线发生散射。
这些散射波相互干涉，在某些特定的方向上会产生加强的衍射峰。
布拉格定律是解释 X 射线衍射现象的重要定律，其表达式为：＄2d\sin\theta ＝ n\lambda$，其中$d$为晶面间距，＄＼theta$为入射 X 射线与晶面的夹角，＄n$为整数，称为衍射级数，＄＼lambda$为 X 射线的波长。
通过测量衍射角$＼theta$和 X 射线的波长$＼lambda$，可以计算出晶面间距$d$，从而推断出晶体的结构。
三、实验仪器本次实验使用的是_____型 X 射线衍射仪，主要由以下几个部分组成：1、 X 射线源X 射线源通常采用 X 光管，通过给灯丝加热产生热电子，在高压电场的作用下加速撞击阳极靶材，产生 X 射线。
2、测角仪测角仪用于精确测量衍射角$＼theta$，它由样品台和探测器臂组成，可以使样品和探测器在一定的角度范围内转动。
3、探测器探测器用于检测衍射 X 射线的强度，常见的探测器有正比计数器、闪烁计数器和固体探测器等。
4、控制与数据处理系统控制与数据处理系统用于控制仪器的运行参数、采集衍射数据，并对数据进行处理和分析。
四、实验步骤1、样品制备将待测样品研磨成粉末状，然后均匀地填充到样品槽中，确保样品表面平整。
2、仪器调试打开 X 射线衍射仪，设置 X 射线管的工作电压和电流，以及测角仪的扫描范围、步长和扫描速度等参数。
3、样品测量将制备好的样品放入样品台，启动测量程序，仪器会自动按照设定的参数进行扫描，并记录衍射数据。
4、数据处理测量完成后，使用配套的数据处理软件对衍射数据进行处理，包括扣除背景、平滑曲线、寻峰和指标化等操作，以获得晶体结构的相关信息。
X射线衍射晶体结构分析实验报告
X射线衍射晶体结构分析实验预习报告摘要：本实验通过采用与X射线波长数量级接近的物质即晶体那个天然的光栅来作狭缝，从而研究X射线衍射。
本实验将了解到X射线的产生、特点和应用；理解X射线管产生持续X射线谱和特征X射线谱的大体原理；用三种个方式研究X射线在NaCl单晶上的衍射，并通过测量X射线特征谱线的衍射角测定X射线的波长和晶体的晶格常数。
关键词：布拉格公式晶体结构波长衍射 X射线引言：1895年德国科学家伦琴（）在用克鲁克斯管研究阴极射线时，发觉了一种人眼不能看到，但能够使铂氰化钡屏发出荧光的射线，称为X射线。
X射线是一种波长很短(约为20～埃)的电磁波，能穿透必然厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X射线。
如通常利用的靶材对应的X射线的波长大约为埃。
考虑到X的波长和晶体内部原子面间的距离相近，1912年物理学家 Laue)提出一个重要的科学预见：晶体能够作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强，在其他方向上减弱。
分析在照相底片上取得的衍射花腔，即可肯定晶体结构。
这一预见随即为实验所验证。
X射线衍射在金属学中的应用X射线衍射现象发觉后，专门快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。
如韦斯特（）(1922年)证明α、β和δ铁都是立方结构，β-Fe并非是一种新相;而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变成，从而最终否定了β-Fe硬化理论。
随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定和在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的功效。
如对超点阵结构的发觉，推动了对合金中有序无序转变的研究，对马氏体相变的测定，肯定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等。
目前 X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些物质微观结构的有效方式。
x射线衍射分析实验报告
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的，通过X射线衍射分析，了解晶体结构的性质和特点，掌握X射线衍射仪器的使用方法，提高实验操作能力。
实验仪器，X射线衍射仪、标本夹、标本台、X射线管、样品旋转台等。
实验原理，X射线衍射是一种通过晶体对入射X射线的衍射现象来研究晶体结构的方法。
当入射X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行衍射，形成衍射图样。
通过分析衍射图样的特点，可以推断晶体的晶格结构和晶面间距。
实验步骤：1. 将待测样品放置在X射线衍射仪的标本夹上，固定好。
2. 调整X射线管的位置和角度，使得X射线能够正常照射到样品上。
3. 启动X射线衍射仪，进行衍射图样的采集。
4. 对采集到的衍射图样进行分析，推断样品的晶格结构和晶面间距。
实验结果分析：通过X射线衍射实验，我们成功获取了样品的衍射图样，并进行了分析。
根据衍射图样的特点，我们推断出样品的晶格结构为立方晶系，晶面间距为2.5 Å。
这与样品的实际晶体结构相符，说明X射线衍射分析是一种有效的手段，可以准确地研究晶体结构。
实验总结：通过本次实验，我们深入了解了X射线衍射分析的原理和方法，掌握了X射线衍射仪器的使用技巧。
实验结果表明，X射线衍射分析是一种可靠的手段，可以用于研究晶体结构。
在以后的科研工作中，我们将进一步运用X射线衍射分析技术，深入研究材料的晶体结构和性质，为材料科学领域的发展做出贡献。
结语：通过本次实验，我们对X射线衍射分析有了更深入的了解，也提高了实验操作能力。
希望通过不断的实践和学习，能够更好地运用X射线衍射分析技术，为科学研究做出更多的贡献。
以上就是本次X射线衍射分析实验的实验报告，谢谢阅读。
X射线衍射实验报告
X射线衍射实验报告第一篇：X射线衍射实验报告X射线衍射实验报告一、实验目的（1）掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法；（2）掌握X射线衍射实验的样品制备方法；（3）掌握运用X射线衍射分析软件进行物相分析的原理和实验方法；（4）熟悉PDF卡片的查找方法和物相检索方法。
二、实验仪器X射线衍射仪，PDF卡。
X射线衍射仪，主要由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器、辐射探测电路、计算机系统等组成。
（1）X射线发生器X射线管工作时阴极接负高压，阳极接地。
灯丝附近装有控制栅，使灯丝发出的热电子在电场的作用下聚焦轰击到靶面上。
阳极靶面上受电子束轰击的焦点便成为X射线源，向四周发射X射线。
在阳极一端的金属管壁上一般开有四个射线出射窗口。
转靶X射线管采用机械泵+分子泵二级真空泵系统保持管内真空度，阳极以极快的速度转动，使电子轰击面不断改变，即不断改变发热点，从而达到提高功率的目的，如下图1。
图1 X射线管（2）测角仪测角仪圆中心是样品台，样品台可以绕中心轴转动，平板状粉末多晶样品安放在样品台上，样品台可围绕垂直于图面的中心轴旋转；测角仪圆周上安装有X射线辐射探测器，探测器亦可以绕中心轴线转动；工作时，一般情况下试样台与探测器保持固定的转动关系（即θ-2θ连动），在特殊情况下也可分别转动；有的仪器中样品台不动，而X射线发生器与探测器连动，如下图2。
图2 测角仪（3）PDF卡的组成如下3图所示图3 PDF卡三、实验原理1、X射线的产生实验中通常使用X光管来产生X射线。
在抽成真空的X光管内，当由热阴极发出的电子经高压电场加速后，高速运动的电子轰击由金属做成的阳极靶时，靶就发射X射线。
发射出的X射线分为两类：（1）如果被靶阻挡的电子的能量不越过一定限度时，发射的是连续光谱的辐射。
这种辐射叫做轫致辐射；（2）当电子的能量超过一定的限度时，可以发射一种不连续的、只有几条特殊的谱线组成的线状光谱，这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射。
x射线衍射结构分析实验报告
实验报告——X射线衍射结构分析【摘要】本实验通过了解实验仪器的构造，X射线衍射结构的基本机理进而对晶体的X射线衍射图样的分析，求得了该晶体的密勒指数。
【关键字】密勒指数能量转移晶体结构分析是晶体学中的一个重要领域，他研究静态物质内部在原子尺度下的微观结构，为固体物理学、材料化学、结构化学、分子生物学、矿物学、医药学等诸多学科的基础研究和应用研究提供了必不可少的实验资料，使人们能够从分子、原子以及电子分布的水平上去理解有关物质的行为规律。
其中X射线衍射分析是晶体结构分析中比较成熟的一种，X 射线是一种介于紫外线和γ射线之间的波长约为10nm—0.001nm的电磁波，其具有特别强的穿透力，上述的两种特性为其对微观微粒的研究提供了可能一．实验目的1.了解X射线的产生、特点和应用；2.了解X射线衍射仪的结构和工作原理；3.掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤二．实验仪器X射线实验仪该装置分为监控区、X光管和实验区三个区域（如下图所示）；1.监控区监控区包括电源和各种控制装置：B1：液晶显示区，上行显示G-M计数管的计数率N，下行显示工作参数；B2：大转盘，调节工作参数；B3：设置按键，确定B2所调节和设置的对象，分别为：U：设置X光管上所加的高压值（通常取35KV）；I：设置X光管内的电流值（通常取1.00mA）；Δt：设置每次测量的持续时间（通常取5——10s）；ΔB：设置自动测量时测角器每次转动的角度，角步幅（通常取0.1°）；β-LIMIT ：在选定扫描模式后，设置自动测量时测角器的扫描范围；B4：三个扫描模式选择按钮和一个归零按键，分别为胡：SENSOR ：传感器扫描模式，传感器动，靶台不动；TARGET ：靶台扫描模式，靶台动，传感器不动；COUPLED ：耦合扫描模式，传感器和靶台抖动，传感器的转角自动保持为靶台转角的两倍；ZERO ：靶台和传感器都回到0位；B5：五个操作键，分别为：RESET ：所有参数都回到最初值，靶台和传感器都回到测量系统的0位置,X 光管的高压断开；REPLAY ：一起将最后测量数据再次输出至计算机或记录仪；SCAN ：整个测量系统的开关键；声脉冲开关：本次试验中无用；HV ：开关X 光管上的高压。
x射线衍射实验报告
x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言：X射线衍射是一种重要的实验技术，通过该技术可以研究晶体结构、表征材料性质等。
本实验旨在通过X射线衍射实验，探究晶体的结构和晶格参数。
实验仪器与方法：实验中使用的仪器是X射线衍射仪，样品为单晶硅片。
实验过程中，首先将样品固定在X射线衍射仪的样品台上，然后调整X射线衍射仪的角度，使得射线照射到样品上并形成衍射图样。
最后，通过测量衍射图样的角度和强度，进一步分析晶体结构和晶格参数。
实验结果与讨论：经过实验测量和数据处理，得到了衍射图样和相应的衍射角度。
通过对衍射图样的观察和分析，可以看出在不同的衍射角度处出现了明显的衍射峰。
这些衍射峰的位置和强度与晶体的结构和晶格参数密切相关。
根据布拉格方程，可以计算出晶体的晶格常数。
通过对衍射峰的位置和角度的测量，结合布拉格方程，可以反推出晶体的晶格常数。
这一步骤是实验中最重要的一步，也是确定晶体结构的关键。
在实验中，我们发现了一些衍射峰的位置和强度与已知的晶体结构相符合，这进一步验证了实验结果的正确性。
同时，我们还发现了一些异常的衍射峰，这可能是由于晶体的缺陷或者杂质引起的。
这些异常的衍射峰也提供了对晶体结构和性质的重要线索。
实验的局限性与改进：在实验中，由于实验条件的限制，我们只能测量到一部分衍射峰，因此无法对整个晶体的结构进行完整的分析。
此外，由于样品的制备和实验操作的不确定性，实验结果可能存在一定的误差。
为了进一步提高实验结果的准确性和可靠性，可以采取以下改进措施。
首先，对样品的制备过程进行优化，确保样品的纯度和完整性。
其次，提高实验仪器的性能，提高测量的精度和灵敏度。
最后，增加实验的重复次数，以减小实验误差的影响。
结论：通过X射线衍射实验，我们成功地研究了晶体的结构和晶格参数。
实验结果表明，X射线衍射是一种有效的手段，可以用于研究晶体的结构和性质。
通过进一步的改进和优化，X射线衍射技术有望在材料科学和凝聚态物理领域发挥更大的作用。
x射线衍射实验报告
x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言：X射线衍射是一种重要的实验方法，它通过对物质中的晶体结构进行分析，揭示了物质的微观性质。
本实验旨在通过X射线衍射技术，研究晶体的晶格结构和晶面间距，并探讨其在材料科学和结构分析中的应用。
实验原理：X射线衍射是一种通过X射线与晶体相互作用产生的衍射现象进行结构分析的方法。
当入射X射线照射到晶体上时，由于晶体的周期性结构，X射线会被晶体中的原子散射，并形成一系列衍射点。
这些衍射点的位置和强度与晶体的晶格结构和晶面间距有关。
实验步骤：1. 准备工作：将待测晶体固定在X射线衍射仪的样品台上，并调整好仪器的参数。
2. 调整入射角：通过调整X射线管和样品台的相对位置，使得入射角与晶体的晶面相适应。
3. 数据采集：打开X射线衍射仪的探测器，开始采集衍射数据。
可以通过旋转样品台或改变入射角度来获取不同方向的衍射数据。
4. 数据处理：将采集到的衍射数据进行处理，如绘制衍射图谱、计算晶格常数和晶面间距等。
实验结果与讨论：通过实验，我们得到了样品的衍射图谱，并进行了数据处理。
根据衍射图谱的特征，我们可以确定样品的晶格结构和晶面间距。
这对于材料科学和结构分析具有重要意义。
在实验中，我们还发现不同晶体的衍射图谱具有明显的差异。
这是因为晶体的晶格结构和晶面间距不同，导致衍射现象的差异。
因此，通过对不同晶体的衍射图谱进行分析，我们可以进一步研究晶体的性质和结构。
此外，X射线衍射技术还可以应用于材料的质量控制和结构表征。
通过对材料中晶体的衍射图谱进行分析，我们可以了解材料的晶体结构、晶面间距和晶体缺陷等信息。
这对于材料的设计和改进具有指导意义。
结论：X射线衍射实验是一种重要的结构分析方法，通过对晶体的衍射现象进行研究，我们可以揭示物质的微观结构和性质。
本实验通过测量晶体的衍射图谱，确定了晶格结构和晶面间距，并探讨了X射线衍射技术在材料科学和结构分析中的应用。
这为进一步研究和应用X射线衍射技术提供了基础。
X射线衍射晶体结构分析实验报告
X 射线衍射晶体结构2、X 射线在晶体中的衍射光波经过狭缝将产生衍射现象。
狭缝的大小必须与光波的波长同数量级或更小。
对X 射线，由于它的波长在0.2nm 的数量级，要造出相应大小的狭缝观察X 射线的衍射，就相当困难。
冯·劳厄首先建议用晶体这个天然的光栅来研究X 射线的衍射，因为晶体的晶格正好与X 射线的波长属于同数量级。
当入射X 射线与晶面相交θ角时，假定晶面就是镜面（即布拉格面，入射角与出射角相等），两条射线的光程差是θsin d 2。
当它为波长的整数倍时（假定入射光为单色的，只有一种波长）,2,1n ,n sin d 2=λ=θ 布拉格（Bragg ）公式在θ方向射出的X 射线即得到衍射加强。
根据布拉格公式，即可以利用已知的晶体（d 已知）通过测θ角来研究未知X 射线的波长；也可以利用已知X 射线（λ已知）来测量未知晶体的晶面间距。
三、实验数据与处理4.50 1.000 06 5.370 1.193 -3.5294213 3.330 0.741 5.99509326 0.963 0.214 30.8355929 0.360 0.080 50.5145740 1.010 2.224 -15.986147 0.690 0.153 37.546353、已知晶体的晶格常数（a0=564.02pm），测定X射线的波X射线衍射图有图得n θ（Kα）θ（Kβ）λ（Kα）λ（Kβ）1 7.1 6.3 69.71 61.892 14.5 12.9 70.61 62.963 22.1 19.5 70.73 62.76平均70.35 62.53667由上表得λ（Kα）/pm λ（Kβ）/pm 经验值71.07 63.08测量值70.35 62.54则它们的相对误差分别为：▽1=（71.07-70.35）/71.07=1.013%▽2=(63.08-62.54)/63.08=0.86%4、已知X射线的波长，测定晶体的晶格晶格常数由X射线衍射图得θsinθ线系n nλa06.3 0.1097 Kβ 1 63.08 575.02287.1 0.1236 Kα 1 71.07 57512.9 0.2232 Kβ 2 126.16 565.23314.5 0.2504 Kα 2 142.14 567.651819.5 0.3338 Kβ 3 189.24 566.926322.1 0.3762 Kα 3 213.21 566.7464平均569.43四、实验总结X射线衍射在各个领域的应用都是相当广泛的，本次实验让我了解了X射线在晶体中衍射的原理，以及X射线的衰减与吸收体物质和吸收体厚度的关系。
X射线衍射分析实验报告
X射线衍射分析实验报告一、实验目的1.学会X射线衍射实验的制样过程，了解X射线衍射仪的操作过程2.学会根据XRD图谱进行相应的定性和定量分析二.实验原理对于 X 射线衍射，当光程差等于波长的整数倍时，相邻晶面的“反射线”将加强，此时满足的条件为：2dsinθ=nλ其中，d为晶面间距，θ 为为半衍射角，λ为波长，n为反射级数。
该方程是晶体衍射的理论基础，它简单明确地阐明衍射的基本关系，从实验上可有两方面的应用：一是用已知波长的X射线去照射未知结构的晶体，通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的间距d，从而揭示晶体的结构，这就是结构分析（衍射分析）；二是用已知晶面间距的晶体来反射从样品发射出来的X射线，通过衍射角的测量求得X 射线的波长，这就是 X射线光谱学。
该法除可进行光谱结构的研究外，从 X 射线波长也可以确定试样的组成元素。
三.实验仪器仪器型号：日本理学D/max2550主要技术指标：靶：铜靶X射线发生器功率：18 kW(40 kV,450 mA)X射线发生器稳定度：±0.01%最大计数：100万cps重复性：1°/10000四.实验步骤1.仪器准备（1）开机前检查实验环境，室温保持在20±5℃，湿度低于60%；（2）开D/max主机的主电源开关，手动开启真空系统，运行24小时后切换成自动，按D/max 主机面板上的“START”;（3）X射线发生器系统低于规定值时，启动X射线发生器外循环水冷系统；（4）打开控制系统通讯电源，进行阳极靶的老化。
2.样品制备将达到要求的粉末状试样（5-10μm）填入样品架，轻压使试样分布均匀3.谱图测定（1）将制好的样品放在样品台上，关上主机前门；（2）设定相应的仪器参数，start angle 为5°，stop angle为90°，scan speed为10°/min，扫描电压为40 kV，扫描电流为100 mA，开始测定。
x射线衍射仪实验报告
x射线衍射仪实验报告X 射线衍射仪实验报告一、实验目的本次实验使用 X 射线衍射仪的目的是对未知样品进行物相分析，确定其晶体结构和成分，并通过测量衍射峰的位置、强度和宽度等参数，获取有关样品的微观结构信息。
二、实验原理X 射线衍射是利用 X 射线在晶体中的衍射现象来分析晶体结构的一种方法。
当 X 射线照射到晶体时，由于晶体中原子的周期性排列，会使 X 射线发生衍射。
衍射的方向和强度取决于晶体的结构和原子的位置。
根据布拉格方程：2d sinθ ＝nλ，其中 d 是晶面间距，θ 是衍射角，n 是衍射级数，λ 是 X 射线的波长。
通过测量衍射角θ，可以计算出晶面间距 d，进而确定晶体的结构。
三、实验仪器与材料1、 X 射线衍射仪（型号：＿____）2、未知样品（编号：＿____）3、计算机及相关分析软件四、实验步骤1、样品制备将未知样品研磨成粉末状，以保证样品的均匀性和足够的衍射表面积。
将粉末样品均匀地填充在样品槽中，并使用平板压平，确保样品表面平整。
2、仪器参数设置设置 X 射线的波长和管电流、管电压等参数。
选择合适的扫描范围和扫描速度。
3、样品测量将制备好的样品放入 X 射线衍射仪的样品室中。
启动仪器，进行衍射数据的采集。
4、数据处理与分析将采集到的衍射数据导入计算机中的分析软件。
对数据进行平滑、背景扣除等预处理操作。
通过与标准数据库中的衍射图谱进行比对，确定样品的物相组成。
计算晶体的晶格参数、晶粒尺寸等结构参数。
五、实验结果与分析1、衍射图谱获得的衍射图谱如图 1 所示。
图谱中显示了多个明显的衍射峰，峰的位置和强度分布反映了样品的晶体结构特征。
2、物相分析通过与标准数据库比对，确定样品中主要包含物相 A、物相 B 和少量的物相 C。
物相 A 的特征衍射峰出现在2θ 为_____、＿____、＿____等处；物相 B 的特征衍射峰出现在2θ 为_____、＿____、＿____等处；物相 C 的特征衍射峰较弱，出现在2θ 为_____等处。
xrd分析实验报告
xrd分析实验报告X射线衍射（XRD）分析实验报告引言：X射线衍射（XRD）是一种重要的实验技术，广泛应用于材料科学、地质学、生物学等领域。
本实验旨在通过XRD技术，研究样品的晶体结构和晶体学性质，为材料研究和应用提供有力的支持。
一、实验目的本实验的目的是通过XRD分析，确定样品的晶体结构、晶格常数、晶体质量和晶体取向等性质。
通过实验结果，了解材料的结晶状态、晶体缺陷和晶格畸变等信息。
二、实验原理XRD技术基于X射线与晶体的相互作用。
当X射线入射到晶体上时，由于晶体的周期性结构，X射线会发生衍射现象。
通过测量衍射角和衍射强度，可以确定晶体的晶格常数和晶体结构。
三、实验步骤1. 样品制备：将待测样品制备成粉末状，并均匀地涂布在玻璃衬片上。
2. 仪器设置：打开X射线衍射仪，调整仪器参数，如入射角、出射角、扫描速度等，以适应样品的特性。
3. 开始测量：将样品放置在衍射仪的样品台上，启动测量程序，开始自动扫描。
4. 数据分析：通过软件对测得的数据进行分析，绘制衍射图谱，并解析出衍射峰的位置、强度和形状等信息。
5. 结果解读：根据衍射图谱和解析结果，确定样品的晶体结构和晶格常数，并分析晶体的缺陷和畸变情况。
四、实验结果与讨论通过XRD实验，我们得到了样品的衍射图谱，并根据图谱解析出了衍射峰的位置和强度。
根据衍射峰的位置和强度，我们可以推断出样品的晶体结构和晶格常数。
进一步分析衍射峰的形状和宽度，我们可以了解样品的晶体质量和晶格畸变情况。
如果衍射峰非常尖锐且对称，说明样品的晶体质量较好；如果衍射峰宽度较大，且呈现不规则形状，说明样品存在晶格畸变或晶体缺陷。
此外，通过比较不同样品的衍射图谱，我们可以研究晶体取向的差异。
不同晶面的衍射峰位置和强度的变化，可以揭示晶体的取向情况和晶体生长方向。
五、结论通过XRD分析实验，我们成功确定了样品的晶体结构和晶格常数，并分析了晶体的质量、畸变和取向等性质。
实验结果为材料研究和应用提供了重要的参考依据。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
X 射线衍射结构分析实验【摘要】在一定条件下，每一种物质在被电子流轰击时都会产生特定的X 射线。
而X 射线的波长很小，可利用晶体这个天然的光栅使X 射线发生衍射。
本实验通过轰击钼靶产生一定波长的X 射线，并将NaCl 晶体作为光栅使其发生衍射。
通过一级衍射峰θ的值的测量，可测定NaCl 晶体的晶格结构。
【关键词】X 射线 衍射 布拉格方程 晶格常树引言：X 射线是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射，是一种波长很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
X 射线最早是由德国科学家伦琴在1895年在研究阴极射线发现，它具有很强的穿透性，又因为X 射线是不带电的粒子流，所以在电磁场中不偏转。
1912年劳厄等人发现了X 射线在晶体中的衍射现象，证实了X 射线本质上是一种波长很短的电磁辐射，其波长约为10nm 到10–2nm 之间，与晶体中原子间的距离为同一数量级，用已知的X 射线可测定各种晶体的晶格结构。
也可以用已知晶体结构的晶体来测定未知X 射线的波长，从而确定未知物质的成分。
正文： 1、实验目的：1. 了解X 射线的产生、特点和应用；2. 了解X 射线衍射仪的结构和工作原理3. 掌握X 射线衍射物相定性分析的方法和步骤2、实验原理：1、由于X 光的波长与一般物质中原子的间距同数量级，因此X 光成为研究物质微观结构的有力工具。
当X 光射入原子有序排列的晶体时，会发生类似于可见光入射到光栅时的衍射现象。
1913年英国科学家布拉格父子（W.H.Bragg 和W.L.Bragg ）证明了X 光在晶体上衍射的基本规律为(如图2所示)：λθn d =sin 2 (1)根据布拉格公式，既可以利用已知的晶体（d 已知）通过测量θ角来研究未知X 光的波长，也可以利用已知的X 光（λ已知）来测量未知晶体的晶面间距。
本实验利用已知钼的X 光特征谱线来测量氯化钠（NaCl ）晶体的晶面间距，从而得到其晶体结构。
立方晶体的晶面距（d ）与密勒指数的关系：2220lh k a d ++=1 2345图3 X光管B1B2B4B5B3 A0 A1 A2 A3 A4 监控区X光管实验区图4 X射线实验仪3、实验仪器使用说明：本实验使用的是德国莱宝教具公司生产的X射线实验仪。
该装置分为三个工作区：中间是X光管区，是产生X射线的地方；右边是实验区；左边是监控区。
X光管的结构如图3所示。
它是一个抽成高真空的石英管，其下面（1）是接地的电子发射极，通电加热后可发射电子；上面（2）是钼靶，工作时加以几万伏的高压。
电子在高压作用下轰击钼原子而产生X射线，钼靶受电子轰击的面呈斜面，以利于X射线向水平方向射出。
（3）是铜块，（4）是螺旋状热沉，用以散热。
（5）是管脚。
右边的实验区可安排各种实验。
A1是X光的出口。
A2是安放晶体样品的靶台。
A3是装有G—M计数管的传感器，它用来探测X光的强度。
A2和A3都可以转动，并可通过测角器分别测出它们的转角。
左边的监控区包括电源和各种控制装置。
B1是液晶显示区。
B2是个大转盘，各参数都由它来调节和设置。
B3有五个设置按键，由它确定B2所调节和设置的对象。
B4有扫描模式选择按键和一个归零按键。
SENSOR —传感器扫描模式；COUPLED —耦合扫描模式，按下此键时，传感器的转角自动保持为靶台转角的2倍（如图4—7）B5有五个操作键，它们是：RESET ；REPLAY ；SCAN （ON/OFF ）；是声脉冲开关；HV （ON/OFF ）键是X 光管上的高压开关。
4、实验步骤：1、将NaCl 单晶固定在靶台上，启动软件“X-ray Apparatus ”2、设置X 光管的高压U=35.0KV ，电流I=1.00mA ，测量时间10s ，角步幅为0.1°，按COUPLED键，再按β键，设置下限角为 4o , 上限角为24o3、按SCAN 键进行自动扫描；扫描完毕后，存储文件4、数据分析5、数据分析S t 1 01R4 1129.9 4.1 1148.9 4.2 1138.1 4.3 1131.2 4.4 1121.1 4.5 1098.2 4.6 1049.8 4.7 1039.7 4.8 1009.2 4.9 965.1 5 917.3 5.1 874.8 5.2 851.2 5.3 840.8 5.4 804.7 5.5 776.2 5.6 741.1 5.7 702.9 5.8688.82θθ123图5 COUPLED 模式下靶台和传感器的角位置6 676.3 6.1 815.8 6.2 1200.4 6.3 1451.7 6.4 1248.7 6.5 849.9 6.6 652.9 6.7 635.3 6.8 678.26.9 9937 2119.5 7.1 2987.4 7.2 2810.6 7.3 1549.6 7.4 828.4 7.5 597.6 7.6 479.3 7.7 435.2 7.8 427.67.9 408.18 393.2 8.1 371.8 8.2 364.5 8.3 356.4 8.4 338.3 8.5 342.8 8.6 323.6 8.7 304.6 8.8 294.78.9 287.49 279.3 9.1 269 9.2 250.2 9.3 240.4 9.4 222 9.5 208.4 9.6 204.5 9.7 192.7 9.8 187.39.9 186.710 178.2 10.1 182.7 10.2 174.410.4 166.6 10.5 166.6 10.6 154.4 10.7 160.7 10.8 153.910.9 149.411 151.9 11.1 146.6 11.2 147.9 11.3 143.7 11.4 135.1 11.5 134.5 11.6 135.6 11.7 129.2 11.8 138.411.9 12912 130.6 12.1 121.5 12.2 128 12.3 124.5 12.4 125.7 12.5 161.1 12.6 180.7 12.7 263.3 12.8 373.812.9 332.413 185.2 13.1 129.1 13.2 124.1 13.3 119.5 13.4 117.3 13.5 112.6 13.6 107.9 13.7 111.2 13.8 110.213.9 110.514 112.2 14.1 112.5 14.2 139.6 14.3 296.2 14.4 726.8 14.5 918.5 14.6 574.914.8 117.814.9 100.715 97.3 15.1 92 15.2 88.4 15.3 84.7 15.4 85.4 15.5 87.5 15.6 85.5 15.7 82.1 15.8 79.215.9 76.216 78.6 16.1 74.9 16.2 69.7 16.3 67.4 16.4 69.7 16.5 67.2 16.6 66.6 16.7 64 16.8 61.816.9 62.117 56.3 17.1 57.8 17.2 55.8 17.3 60.7 17.4 56.9 17.5 57.3 17.6 60.8 17.7 57.2 17.8 53.417.9 56.818 50.9 18.1 50.4 18.2 51.2 18.3 50.3 18.4 49.4 18.5 46.7 18.6 47.4 18.7 46.8 18.8 46.718.9 47.819 47.919.2 57.2 19.3 52.3 19.4 71 19.5 93.2 19.6 84.5 19.7 51.5 19.8 42.419.9 3820 39.9 20.1 40 20.2 37.6 20.3 37.8 20.4 34 20.5 36.9 20.6 37.7 20.7 33.8 20.8 34.220.9 34.221 31.6 21.1 33.7 21.2 34.8 21.3 34.9 21.4 34.1 21.5 35.4 21.6 33.2 21.7 37 21.8 42.721.9 97.722 175.3 22.1 202.6 22.2 142.8 22.3 80.2 22.4 38.1 22.5 35.1 22.6 28.7 22.7 30.4 22.8 3122.9 27.723 27.8 23.1 30.3 23.2 28.2 23.3 27.1 23.4 27.423.6 25.6 23.7 23.5 23.8 25.1 23.9 21.7 2425.6R 1/s1000200030004000β / ︒1020分析：在oo1~0中出现了很高的峰值，这应该是光直接进入了传感器，而不是发生衍射。
在一个衍射峰左边，还有一个略小一些的衍射峰。
通过查阅资料得知，轰击钼原子产生的X 射线不是单一的，钼的αk 系波长pm k 073.71=αλ，还会有一个βk 系波长pm k 229.63=βλ。
由上图和上述数据，以二级衍射峰为例（2=n ）O 1.7=θαk 系波长pm k 073.71=αλ根据λθn d =sin 2pm d 02.575=2220lh k a d ++=（pm a o 02.564=）得98.0222=++l h k即NaCl 的密勒指数为（1，0，0）相对误差%2=ωθ° 线系 λ nd 6.3° K β pm 229.632 576.20pm 7.1° K α pm 073.71 2 575.02pm 12.8° K β pm 229.634 570.79pm 14.5° K α pm 073.71 4576.72pm 19.5° K β pm 229.63 6 568.25pm 22.1°K αpm 073.716566.73pm综上29.572=d2220lh k a d ++=（pm a o 02.564=）得99.0222=++l h k即NaCl 的密勒指数为（1，0，0）相对误差%1=ω误差分析：1、机械调零的时候有误差。
2、仪器的示数是在跳动的，显示的计数率可能不是真正的计数率。
3、计数率是取的一个平均值，虽然我们设置的测量时间是10S ，但这里还是存在误差。