晶体光学实验指导书
晶体光学实验报告例文
一、实验目的1. 了解晶体光学的基本原理和实验方法。
2. 掌握晶体光学性质的测量方法，包括折射率、双折射率、光吸收等。
3. 通过实验，加深对晶体光学性质的理解，提高分析问题和解决问题的能力。
二、实验原理晶体光学性质是指晶体对光传播、折射、反射、吸收等现象的影响。
晶体具有各向异性，即在不同方向上的光学性质不同。
本实验主要研究晶体对光的折射、双折射和光吸收等性质。
三、实验仪器与材料1. 实验仪器：折射仪、双折射仪、光吸收仪、光学显微镜、光栅、光源等。
2. 实验材料：各种晶体样品、滤光片、透镜等。
四、实验步骤1. 折射率的测量（1）将晶体样品放在折射仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与折射仪的光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察折射仪的读数，记录晶体的折射率。
2. 双折射率的测量（1）将晶体样品放在双折射仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察双折射仪的读数，记录晶体的双折射率。
3. 光吸收的测量（1）将晶体样品放在光吸收仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察光吸收仪的读数，记录晶体的光吸收系数。
4. 晶体光学性质的观测分析（1）使用光学显微镜观察晶体样品的形态、结构等特征。
（2）根据实验数据，分析晶体的光学性质，如折射率、双折射率、光吸收等。
五、实验结果与分析1. 折射率的测量结果：实验测得晶体样品的折射率为n = 1.532。
2. 双折射率的测量结果：实验测得晶体样品的双折射率为δ = 0.018。
3. 光吸收的测量结果：实验测得晶体样品的光吸收系数为α = 0.002。
4. 晶体光学性质的观测分析：通过光学显微镜观察，发现晶体样品具有明显的双折射现象，说明晶体具有各向异性。
结合实验数据，分析晶体样品的光学性质，得出以下结论：（1）晶体样品的折射率较高，有利于光的聚焦和传播。
晶体光学实验报告_详解(3篇)
第1篇实验名称：晶体光学性质观测分析实验日期：2023年11月10日实验地点：实验室晶体光学实验室一、实验目的1. 熟悉单轴晶体光学性质，包括晶体的消光现象、干涉色级序等。
2. 了解偏光显微镜原理，并掌握其使用方法。
3. 观察晶体的类别、轴向和光性正负等特征，估计晶片的光程差。
4. 通过实验加深对晶体光学性质的理解，为后续相关研究打下基础。
二、实验原理晶体光学性质是指晶体对光的传播、反射、折射等过程所表现出的特殊性质。
晶体中的原子、离子或分子按照一定的规律排列，形成周期性结构，导致光在晶体中传播时，表现出各向异性。
本实验通过观测和分析晶体光学性质，了解晶体内部结构对光传播的影响。
三、实验仪器与材料1. 仪器：偏光显微镜、光源、起偏器、检偏器、物镜、目镜、载物台、旋转台、光源控制器等。
2. 材料：各种晶体样品（如石英、方解石、云母等）。
四、实验步骤1. 准备工作：将晶体样品放置在载物台上，调整光源和显微镜的焦距，确保能够清晰地观察到样品。
2. 起偏器调节：将起偏器放置在显微镜的光路上，调整起偏器的角度，观察样品在不同偏振方向下的光学现象。
3. 观察消光现象：在起偏器固定位置下，旋转样品，观察消光现象。
记录消光位置，分析晶体的消光规律。
4. 观察干涉色级序：调整起偏器和检偏器的角度，观察样品在不同干涉级序下的颜色变化，记录干涉色级序。
5. 观察晶体类别、轴向和光性正负：通过偏光显微镜观察样品的晶面、晶轴和光性，记录观察结果。
6. 光程差测量：利用偏光显微镜测量晶片的光程差，计算晶片的光学厚度。
五、实验结果与分析1. 消光现象：在实验过程中，观察到晶体样品在不同偏振方向下呈现出消光现象。
根据消光位置，分析出样品的消光规律，进一步了解晶体内部结构。
2. 干涉色级序：在调整起偏器和检偏器角度的过程中，观察到样品在不同干涉级序下呈现出不同的颜色。
根据干涉色级序，分析出样品的光学性质。
3. 晶体类别、轴向和光性正负：通过偏光显微镜观察，确定了样品的晶体类别、轴向和光性正负。
晶体光学实验指导书
实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察一.目的要求1．了解偏光显微镜的主要构造，装置，使用和保养方法。
2．学会偏光显微镜的一般调节和校正。
3．认识解理等级，测定解理夹角。
二.实验内容1．偏光显微镜的调节与校正1）调节照明2）调节焦距必须记住：通过下降物台来对焦．．．．．．．．．。
3）校正中心4）下偏光镜振动方向的确定和校正在单偏光镜下，找一具极完全解理的黑云母（12号薄片），置于视域中心。
转动物台，黑云母颜色最深时，黑云母解理缝方向为下偏光镜振动方向。
如黑云母颜色最深时，解理缝方向与十字丝横丝不平行，表明横丝未与下偏光镜振动方向一致。
转动物台，使黑云母解理缝平行横丝，然后转动下偏光镜，直至黑云母颜色最深。
此时，十字丝横丝与下偏光振动方向一致。
2．解理的观察1）解理的完全程度（1）极完全解理：解理缝细，密，长，且往往贯通整个晶体。
如云母类矿物。
（2）完全解理：解理缝之间的间距较宽，一般不完全连续。
如辉石类和角闪石类矿物。
（3）不完全解理：解理缝断断续续，有时仅见解理缝痕迹。
如橄榄石。
2）解理的组数和夹角黑云母一组（001）极完全解理。
普通角闪石和普通辉石（110）和（110）二组完全解理（解理夹角56°和87°）。
并测定普通角闪石两组解理的夹角。
方解石{1011}三组完全解理（解理夹角75°）。
实验二突起等级和多色性的观察一. 目的要求1．观察突起等级，认识不同等级突起的特征。
2．认识贝克线，学会利用贝克线移动规律，确定相邻两物质折射率的相对大小，确定突起正负。
3．观察造岩矿物的颜色，多色性与吸收性。
二. 实验内容1．比较普通辉石（高正突起）和斜长石（拉长石—正低突起）的边缘，糙面特征及突起高低（6号薄片）。
萤石的负高突起（25号薄片）。
观察贝克线移动规律。
2．观察方解石（30号大理岩薄片）的闪突起现象。
3．观察电气石的多色性，提交实验报告（写出多色性公式和吸收性公式，并绘出示意图）。
光学实验指导书
实验一 迈克耳逊干涉仪实验【目的与要求】1、了解迈克耳逊干涉仪的结构和工作原理，掌握其调整方法；调出非定域干涉等倾干涉、等厚干涉和白光干涉条纹。
2、 明确几种条纹的形成条件、花纹特点、变化规律及相互间的区别，加深对干涉理论的理解。
3、用迈克耳逊干涉仪测量气体折射率。
【仪器用具】迈克耳逊干涉仪，He-Ne 激光器及其电源，扩束透镜，小孔光栅、白帜灯，毛玻璃，小气室，打气皮囊，气压表。
【实验原理】一、M-干涉仪的光路M -干涉仪是一种分振幅双光束的干涉仪，它的光路如图1-1。
光源S 发出的一束照射到分光板G 1上，G 1板的后面镀有半反射膜，一般镀银，这个半反半透分成相互垂直的反射光束1和透射光束2，两者强度接近相等，此板称为分束板。
当激光束以45o 角射向G 1时，它被分为相互垂直两束光，这两束光分别垂直射到平面镜M 1和M 2上，再经M 1和M 2所反射各自沿原路返回到G 1的半反射膜上，又重新会集成一束光。
由于反射光1和透过光2为2两相干涉光束，因此我们可以在E 方向观测到干涉条纹。
Ｇ2为一补偿板，其物理性能与几何形状皆与Ｇ1全同的补偿作用（但是不镀膜），Ｇ1与Ｇ2平行，Ｇ2的作用是保证1、2两束光在玻璃中的光程完全相等。
反射镜M 2是固定不动的，M 1可在精密导轨上前后移动，从而改变1、2两束光之间的光程差。
精密导轨与Ｇ1成45o角。
为了使光束1与导轨平行，激光应垂直导轨方向射向M -干涉仪。
二、干涉花纹的图样图1-1中'2M 是2M 被1G 反射所成的虚像，从观察者看来，两相干光束是从1M 和'2M 反射而来，因此，我们把干涉仪产生的干涉等效为1M 、'2M 间的空气膜所产生的干涉来进行研究。
1、点光源照明----非定域干涉条纹激光通过短焦距透镜会聚后是一个强度很高的点光源S ，它发出的球面光波照射M-干涉仪，经Ｇ1分束及M 1，M 2反射后射向屏E 的光（参看图1-2）可以看成是由虚光源S 1、'2S 发出的。
晶体检验作业指导书RevB
晶体检验作业指导书RevBArk-LeCORPORATION(CHINA)Page1of2作业指导书:WI-5028发出日期:审核日期:09/02/2004版次:B编写人:TerryWu批准:晶体检验作业指导书1.目的和范围确定晶体检查步骤及方法，指导检验员进行晶体来料的品质检查。
具体检验项目参考《来料检验记录》。
2.定义:2.1不合格品:凡是不符合产品图纸、工艺文件和技术标准的产品、无任何标识的产品。
2.2AQL:可接收的质量水平。
2.3PlanC=0:零缺陷(样本经检验后是零缺陷方可接收)。
2.5SCAR:针对安联公司内部产生不合格品时，要求责任部门采取纠正预防措施的报告。
2.5ICAR:针对安联公司供应商产生不合格品时，要求供应商采取纠正预防措施的报告。
2.6NCS:异常通知单，用来报告不合格品的表格，同时请求处置和纠正预防措施。
3.职责3.1来料品质检查员负责抽样检验，鉴别产品是否符合品质标准要求。
3.2质量工程师根据异常通知单所反馈来料不良情况,确定处理意见。
4.授权4.1质保经理5.程序5.1目检：检查项目外观内容和要求1、引脚平直无脏污、生锈、氧化。
2、标识清晰，正确。
5.2引脚可焊性试验：方法为引脚上助焊剂，放入小锡炉(温度为235±10°C）3秒钟后拿出，引脚上锡覆盖面应大于95%以上。
若上锡后引脚表面有小气泡,或焊锡轻易剥落,为上锡不良，属严重缺陷。
5.3功能检测：1.如是陶瓷晶体用频率计数器测量振荡频率，应在规格要求内或与样板一致（与样板误差0.005MHZ);Ark-LeCORPORATION(CHINA)Page2of2作业指导书:WI-5028发出日期:审核日期:09/02/2004版次:B编写人:TerryWu批准:晶体检验作业指导书2.如是石英晶体,应用晶体测试仪测量其频率,串联谐振电阻静电容是否符合要求。
5.3功能检测：1.如是陶瓷晶体用频率计数器测量振荡频率，应在规格要求内或与样板一致(与样板误差0.005MHZ);2.如是石英晶体,应用晶体测试仪测量其频率,串联谐振电阻静电容是否符合要求。
实验指导书-晶体光学与光性矿物学12级
《晶体光学与光性矿物学》实验指导书地质工程学院2013.9.目录显微镜实验室学生实验守则 (1)显微镜实验室实验操作规程 (2)实验一偏光显微镜（2学时） (3)实验二解理、多色性、吸收性的测定（2学时） (8)实验三突起及闪突起的观察（2学时） (10)实验四光率体椭圆半径名称及干涉色级序的测定（2学时） (12)实验五消光类型、消光角及延性符号的测定（2学时） (16)实验六锥光镜下干涉图的观察与测定（2学时） (18)实验七透明矿物（普通角闪石）的系统鉴定（ 2 学时） (20)实验八常见深色造岩矿物鉴定（2学时） (22)实验九常见浅色造岩矿物鉴定（2学时） (24)实验十斜长石的认识和鉴定（2学时） (26)实验十一碱性长石的鉴定（2学时） (28)实验十二未知矿物鉴定（2学时） (30)显微镜实验室学生实验守则一、学生在实验课前应预习实验内容，明确实验目的要求及实验原理步骤。
二、学生进入实验室，应保持安静，严禁大声喧哗、随地吐痰、乱丢废物。
三、参加实验的学生固定座位，按学号对号入座，实验过程中未经教师允许不得随意调换座位或交换显微镜。
四、实验过程中要保持桌面简洁，与实验无关的物品应放置在实验桌下的隔板或抽屉内。
五、学生应爱护仪器设备，严格遵守操作规程，凡违章操作或个人不慎损坏设备和薄片者，应按规定赔偿。
六、不准在计算机内随意安装软件，使用移动存储设备时应及时杀毒，使用的临时文件要及时清除。
七、实验过程中要认真观察，做好实验记录，严禁编造和修改实验数据。
八、实验报告应使用学校统一的报告本，报告内容应准确客观，重点突出，书写应工整规范，并按规定时间上交实验报告，严禁抄袭他人实验报告。
九、实验完毕后要收好薄片及附件，关闭电源、盖好显微镜防尘罩，经指导教师检查后，方可离开。
十、因故不能按时上实验课的学生，应课前请假，并提出补做实验的申请，经指导教师同意后安排。
无故不参加实验者，实验成绩以零分计，累计缺课达三分之一者，不能参加考试。
晶体光学实验报告
晶体光学实验报告晶体光学实验报告引言晶体光学是研究晶体对光的传播和相互作用的学科，是光学领域的重要分支之一。
本次实验旨在通过实际操作，观察和研究晶体在光学方面的特性，并探索晶体光学的应用。
实验一：晶体的偏光特性在实验一中，我们使用了一块薄片状的晶体样品，通过调整入射光的偏振方向，观察晶体对光的偏振现象。
实验结果显示，当入射光的偏振方向与晶体的光轴方向垂直时，出射光完全消失，这种现象被称为偏光消光。
而当入射光的偏振方向与晶体的光轴方向平行时，出射光则不发生偏振现象。
通过这一实验，我们初步了解到晶体对光的偏振特性。
实验二：晶体的双折射现象在实验二中，我们使用了一块双折射晶体样品，通过观察入射光经过晶体后的出射光的方向和偏振状态，研究晶体的双折射现象。
实验结果显示，当入射光垂直于晶体的光轴方向时，出射光不发生偏振现象；而当入射光平行于晶体的光轴方向时，出射光则发生偏振现象。
这表明晶体对不同方向的光具有不同的折射率，从而导致了双折射现象的产生。
通过这一实验，我们深入了解到晶体的双折射特性。
实验三：晶体的光学轴在实验三中，我们使用了一块具有光学轴的晶体样品，通过观察入射光经过晶体后的出射光的方向和偏振状态，确定晶体的光学轴方向。
实验结果显示，当入射光平行于晶体的光学轴方向时，出射光不发生偏振现象；而当入射光垂直于晶体的光学轴方向时，出射光则发生偏振现象。
通过这一实验，我们成功确定了晶体的光学轴方向，并进一步认识到晶体在光学上的特性。
实验四：晶体的双折射角在实验四中，我们使用了一块双折射晶体样品，通过测量入射光和出射光的角度，计算晶体的双折射角。
实验结果显示，晶体的双折射角与入射光的偏振方向有关，当入射光平行于晶体的光轴方向时，双折射角最小；而当入射光垂直于晶体的光轴方向时，双折射角最大。
通过这一实验，我们进一步认识到晶体的双折射特性，并掌握了计算双折射角的方法。
结论通过本次实验，我们对晶体光学的基本特性有了更深入的了解。
晶体学实验指导书
晶体学实验指导书学院名称材料科学与工程学院课程名称晶体学I、Ⅱ开课实验室晶体学实验室编写人刘金海编写日期2007年4月16日目录实验一晶体的对称 (2)实验二单形和聚形分析 (4)实验三晶体定向与结晶符号 (5)实验四偏光显微镜的构造、调节与使用 (8)实验五单偏光镜下晶体的光学性质 (10)实验六正交偏光镜间晶体的光学性质 (11)实验七锥光镜下晶体的光学性质及未知矿物鉴定 (12)实验一晶体的对称（4学时）一、目的要求通过对理想晶体模型的分析，理解和巩固晶体对称的概念，了解晶体对称的特点。
学会在晶体上找寻对称要素，确定对称型、晶族和晶系，同时掌握对称要素的投影方法。
二、实验内容1、学会寻找对称面、对称中心、对称轴和旋转反伸轴（1）、对称面（P）对称面是把晶体平分为互为镜像的两个相等部分的假想平面。
在晶体中可以不存在对称面，也可以存在一个或多个对称面，最多可达9个。
对称面的描述方法为3P、9P等。
对称面在晶体中可能存在的位置：①垂直并平分晶面；②垂直晶棱并通过它的中心；③包含晶棱并平分晶面夹角。
寻找对称面的方法和步骤是：把模型固定在一个位置不要转动，以视线从各个不同的方向去观察。
首先寻找直立的对称面，然后再找水平方向的对称面，最后再找倾斜方向的对称面，以免重复或漏掉。
（2）、对称轴（L n）对称轴是通过晶体中心的一根假想直线，晶体围绕此直线旋转一定角度后，相同的晶面、晶棱、角顶能重复出现。
在一个晶体中，除了L1以外，可以没有、也可以有一种或多种对称轴，而每一种对称轴也可以有一个或多个。
表示为3L4、4L3、6L2等。
对称轴在晶体中可能出露的位置：①通过晶面的中心；②通过晶棱的中点；③通过角顶。
寻找对称轴的方法和步骤是：用两手指拿住轴的两端，使晶体旋转360°，看相同的晶面、晶棱、角顶重复出现几次即为几（n）次对称轴。
（3）、对称中心（C）对称中心是晶体内部的一假想点，通过该点作任意直线，则在此直线上距对称中心等距离的两端，必定可以找到对应点。
晶体光学与结晶矿物学实习指导
因为晶体是具有格 子构造的固体，在同一晶 体的各个不同部分，质点 的分布是一样的，所以晶 体的各个部分的物理性质 与化学性质也是相同的， 这就是晶体的均一性。但 必须指出的是，非晶质体， 也具有其均一性。如玻璃 的不同部分折射率、膨胀 系数、导热率等等都是相 同的。但是如前所述.由于 非晶质的质点排列不具有远程规律，即不具有格子构造，所以其均一性，是统计 的、平均近似的均一，称为统计均一性，而晶体的均一性是取决于其格子构造的，
5
六、双晶的观察 实习七、光率体椭圆半径名称的测定；
干涉色级序与双折率的测定。 实习八、消光类型与消光角的测定；延性符号的测定；双晶的观察。 本章重点：1、干涉原理和干涉色级序；2、利用补色器测定矿物切面光率体椭圆
半径名称、双折射率、延性符号及消光角。
第五章 锥光镜下的晶体光学性质 第一节 锥光镜装置及特点
4
实习五 矿物的形态、解理与解理角的测定； 颜色、多色性与吸收性的测定。
实习六 矿物的边缘、贝克线、糙面、突起与闪突起的观察；相对折射率大小与 突起等级的测定。
本章重点：学会在薄片中比较矿物相对折射率大小的方法。
第四章 正交偏光镜下晶体光学性质 第一节 正交偏光镜装置及光学特点 第二节 正交偏光镜间消光现象
第三章 单偏光镜下晶体光学性质 第一节 薄片中矿物的形态与解理
一、矿物的形态 二、解理 解理的等级，解理角的测定。 第二节 颜色和多色性 一、颜色 二、多色性与吸收性 三、多色性公式与吸收性公式。 第三节 薄片中矿物的边缘，糙面及突起 一、矿物的边缘 边缘，贝克线，贝克线色散 二、糙面与突起 糙面，突起，突起的等级，闪突起。
6
五、斜交光轴切面干涉图 形象特点，干涉图区域的确定，光性正负的测定。 六、光轴角的测量 利用垂直光轴切面干涉图估算光轴角大小; 利用垂直锐角等分线干涉图测 定光轴角 实习九、一轴晶各切面干涉图及光性正负的测定 实习十、二轴晶各切面的干涉图及光性正负的测定 本章重点：1、光率体各方位切面的辩认；2、光性正负和光轴角的测定。
晶体光学显微镜实训报告
一、实验目的1. 熟悉晶体光学显微镜的构造和使用方法。
2. 学会使用显微镜观察晶体的微观结构。
3. 培养学生的实验操作技能和观察能力。
4. 了解晶体光学显微镜在科学研究中的应用。
二、实验原理晶体光学显微镜是一种利用光学原理放大物体的仪器，主要用于观察和研究物体的微观结构。
通过调整显微镜的物镜和目镜，可以获得不同的放大倍数，从而观察到物体在不同放大倍数下的细微结构。
三、实验材料与仪器1. 实验材料：不同种类的晶体样品，如石英、钻石、立方氮化硼等。
2. 实验仪器：晶体光学显微镜、载物台、盖玻片、显微镜镜头、显微镜支架等。
四、实验步骤1. 显微镜的调试与调整（1）将显微镜放置在平稳的工作台上，调整显微镜的支架高度，使显微镜处于水平状态。
（2）安装载物台，将盖玻片放置在载物台上，确保盖玻片平整。
（3）调整显微镜的粗细调焦螺旋，使物镜与载物台之间的距离适当。
2. 观察晶体样品（1）将晶体样品放置在盖玻片上，用镊子轻轻压平。
（2）调整显微镜的物镜和目镜，使样品清晰可见。
（3）观察晶体样品在不同放大倍数下的微观结构，记录观察结果。
3. 实验记录与绘图（1）在实验过程中，记录不同放大倍数下的观察结果，包括晶体样品的形状、颜色、结构等。
（2）根据观察结果，绘制晶体样品的微观结构图。
4. 实验结束（1）关闭显微镜，整理实验仪器。
（2）将晶体样品妥善保存。
五、实验结果与分析1. 实验结果通过晶体光学显微镜观察，发现不同种类的晶体样品具有不同的微观结构。
例如，石英晶体呈现出明显的晶体面和晶体棱，而立方氮化硼晶体则呈现出均匀的黑色。
2. 实验分析晶体光学显微镜在观察晶体样品的微观结构方面具有重要作用。
通过调整显微镜的放大倍数，可以观察到晶体样品在不同尺度下的结构特征。
此外，晶体光学显微镜还可以用于晶体缺陷的检测和分析，为材料科学研究提供有力支持。
六、实验结论1. 熟练掌握了晶体光学显微镜的构造和使用方法。
2. 学会了使用显微镜观察晶体的微观结构。
（最新）光学实验指导书
第一部分绪论本实验指导书是根据《光学实验》课程实验教学大纲编写，适用于光信息科学与技术专业。
一、本课程实验的作用与任务《光学实验》课程是光信息科学与技术学生进行科学实验基本训练的一门必修基础课，与理论课具有同等重要的地位。
它按照循序渐进的原则，使学生系统的学习物理实验知识、方法和技能，使学生了解科学实验的主要过程与基本方法，为以后的学习和工作莫定良好的基础。
二、本课程实验的教学基本要求：1．在教学中适当的介绍一些物理实验史料，对学生进行辩证唯物主义世界观和方法论的教育，使学生了解科学实验的重要性，明确物理实验课程的地位、作用和任务。
2．要求学生了解测量误差的基本知识，具有正确处理实验数据的初步能力。
其中包括：测量误差的基本概念，随机误差的估算，系统误差的发现和处理，测量不确定度，直接和间接测量的结果表示，有效数字，试验数据处理的常用方法等。
三、本课程实验教学项目及要求第二部分基本实验指导实验一用自准法测薄凸透镜焦距一、实验目的1、掌握简单光路的分析和调整方法2、了解、掌握自准法测凸透镜焦距的原理及方法3、掌握光的可逆性原理测透镜焦距的方法4、掌握光的可逆性原理的光路调节二、实验原理（一）光的可逆性原理当发光点（物）处在凸透镜的焦平面时，它发出的光线通过透镜后将成为一束平行光。
若用与主光轴垂直的平面镜将此平行光反射回去，反射光再次通过透镜后仍会聚于透镜的焦平面上，其会聚点将在发光点相对于光轴的对称位置上。
光的可逆性原理：当光线的方向返转时，它将逆着同一路径传播。
借此原理可测量薄凸透镜的焦距，实验原理见图1-1图1-1当物P在焦点处或焦平面上时，经透镜后光是平行光束，经平面镜反射再经透镜后成像于原物P处（记为Q）。
因此，P点到透镜中心O点的距离就是透镜的焦距f。
（二）自准法如图1-2所示，将物AB放在凸透镜的前焦面上，这时物上任一点发出的光束经透镜后成为平行光，由平面镜反射后再经透镜会聚于透镜的前焦平面上，得相同的倒立实像A´B´。
光学实验指导书(年修订)描述
光学实验指导书武汉理工大学理学院物理科学与技术系2008年11月目录序言及要求 (I)实验室规则 (III)实验一迈克耳逊干涉仪实验 (1)实验二光衍射的定量研究 (11)实验三衍射光栅分光特性测量 (16)实验四偏振光研究 (23)实验五阿贝成像原理和空间滤波 (29)实验六θ调制 (34)实验七用透射光栅测光波波长及角色散率 (36)实验八椭偏仪测量薄膜厚度 (43)实验九全息光栅特性及制作技术 (50)序言及要求意义与方法同学们在开始本实验之前已经作过一些力学、热学、电学及基本的光学实验，已经具备了一定的实验操作技能，对于光路的调试已积累一定的经验，这些都是我们做好本学期《近代光学》（物理光学）实验的基础。
光学实验有它的特点。
光学实验中遇到的两个最突出的问题，一个是精密仪器的调节和使用；另一个是理论和实验的更紧密的结合。
光学仪器的精密度比较高，这些仪器在投入使用前，首先要进行调整和检验。
例如，各光学元件共轴调节，分光计的调节，迈克耳逊干涉仪的调节等都是光学实验中有代表性的基本训练。
仪器的调节不是一个纯粹的技艺问题。
判断仪器是否处于正常的工作状态，以及选择最有效最准确的方法，都要求调节者有明确的物理图像。
理论联系实际的问题在光学里显得特别突出。
如果不掌握基本理论，很多光学实验，特别像偏振、干涉等实验几乎无从做起，更不用说对实验结果作详细的理论分析了。
为了收到更好的效果，在实验前，要求同学们作好理论上的准备。
在实验过程中要尊重客观实际、详尽地考察各种条件下得到的现象，记录有关数据，认真思考，对实验结果做出理论上的分析和解释。
这些不仅丰富了实验的内容，提高了做实验的兴趣，而且反过来必然大大有助于巩固理论知识，加深并扩展对一些基本原理的探讨。
实验课没有系统讲授的环节，实验基本上由同学们独立完成，教师只作必要的讲解与指导。
实验课能否收到良好效果与同学们的学习自觉性关系甚大。
因此，希望同学们作到：课前充分准备；课上三勤———手勤（操作，实验，记录），眼勤（观察，比较），脑勤（思考，分析，提问题）；课后加以反思。
矿物岩石学(二)实验指导书要点
矿物岩石学（二）实验指导书李壮福李素琴姚晓娟编中国矿业大学资源与地球科学学院前言岩石学（Ι）（或普通岩石学）是在学完结晶学及矿物学的基础上进行的一门专门基础课，全课程包括《晶体光学》《光性矿物学》及《岩石学》（岩浆岩及变质岩）三个组成部分，它们是密切衔接、循序渐进，顺序不可颠倒的关系。
岩石学中的沉积岩部分另设专门课程。
故本指导书不包括沉积岩石学的内容。
本指导书中的每个实验均包括如下内容（一）目的与要求（二）实验内容（三）实验材料（四）实验步骤及指导（五）实验报告（六）课外作业在附录中附了一些实验报告的格式，仅供同学们参考使用。
岩石实验在岩石学课程中地位非常重要，这一点从其所占课时数比例可见。
可以这么说，掌握不了岩石实验，也就掌握不了岩石学，任何一门科学，其最终目的都是应用在生产实践和社会实践中，为人类造福，实验则是帮助我们把理论知识应用于实践的一座桥梁，若不能应用，理论则成空谈。
同时实验也帮助我们深入地掌握理论。
为此，给同学们提出以下要求：1、在实验课前，一定要复习教材并预习指导书中有关内容，以做到心中有底。
2、在实验期间，须以科学之态度，认真、细致地观察和记录，要实事求是，不得伪造实验结果。
3、认真编写实验报告，对照实验结果和教材有关内容加以复习和掌握。
4、严格遵守实验室的规章制度。
在指导书的编写中，我们参考了我校以前编写的及其他地质院校现在使用的实验指导书，结合了任课教师在讲授本课程中的实际体会及历届同学在实验中所提的一些问题。
其内容完全依据教学大纲的要求。
第一篇晶体光学实验一偏光显微镜一、目的与要求1、认识偏光显微镜，了解其基本构造，装置；2、学会显微镜的一般调节与校对方法；3、了解偏光显微镜的保养方法及注意事项。
二、实验内容1、请同学们按照如下实验步骤中所提的问题的顺序，对照偏光显微镜，结合教材中的有关内容的叙述自习；2、由教师进行总结，并针对性的进行讲解。
三、实验材料云煌岩薄片（利用其中的磁铁矿颗粒校正中心；利用黑云母确定下偏光镜的振动方向等）。
晶体光学实验三
二、白云母闪突起的观察
在x-M-44号薄片中，选择一个具清晰解理 缝的白云母矿片，置于视域中心，转动物台， 当白云母的解理缝与下偏光振动方向平行时 矿片的边缘和解理缝 ，糙面 ，突起 ； 当白云母的解理缝与下偏光振动方向垂直时， 矿片的边缘和解理缝变 ,糙面变 ，突起 变 。结论： 。
再见
一、目的要求：
1．认识贝克线，学会利用贝克线移动规律确定 两相邻物质折射率的相对大小和突起的相对高低；
2．观察突起等级，认识不同突起等级的特征； 3．认识闪突起的特征
二、实验内容：
1．比较石榴子石、辉石、角闪石、石英、长石 的边缘、糙面特征及突起高低，确定它们的突起等 级及突起正负；
实验报告 一、突起等级的观察
薄 片
矿物名称
石 榴 石
3 普通辉石
52 普通角闪石
突起 高低
与相邻物质比较折射率
相邻物 下降物台时贝
质
克线移动方向
突起等级
树胶或石 英
树胶或斜 长石
树胶或斜 长石
44 石
英
树胶
19 正 长 石
树胶
注：相邻物质可以是树胶，也可以是已知矿物。
2．观察方解石及白云母的闪突起现象。
三、实验指导：
1．观察矿物的突起、糙面时，一定要用中～低 倍镜，把要观察的矿片置于视域中心，比较矿片与 相邻物质突起相对高低时应将其接触线置于视域中 心。
2．观察贝克线时可适当缩小光圈。
3．确定突起的高低，主要依据矿片的边缘、解 理的粗细、糙面的显著程度等特征；判断矿片的突 起等级，最好与树胶比较（尤其是确定低突起矿片 的突起正负）；如欲测定的矿片周围无明显的树胶， 也可与相邻的已知突起等级的矿物比较。
4．观察闪突起时，应转动载物台一周， 仔细观察矿片边缘粗细和糙面变化的明显程 度。找一个具清晰解理缝的白云母，观察并 描述白云母的解理缝与下偏光振动方向PP平 行时和垂直时，边缘和解理缝的粗细、糙面 的明显程度以及突起等级的变化，确定白云 母的突起类型。
晶体光学实验教学大纲
《晶体光学0801207515》实验教学大纲
课程名称：晶体光学
课程编号：0801207515
课程总学时：48
实验学时数：16
课程总学分：3
实验学分：1
开设实验项目数：6
一、实验教学目的
理论学习中的理论知识通过实验课程以外化。
基本理论的掌握本来就是实验的前提，实验、生产实践为最终目的。
理论为实验服务。
当然，实验教学也促进着理论知识的学习。
晶体光学的实验教学，主要内容为学习偏光显微镜的调节、教正，以使其处于正常工作状态。
在此基础之上，学会使用偏光显微镜的三种工作系统，即单偏光显微系统、正交偏光显微系统、聚敛偏光显微系统。
观察各种系统下特有的现象，以期对矿物的矿物学参数作出确定，近而对其种属作出确定。
二、实验项目内容、基本要求与学时分配
三、实验考核方式与标准
给定矿片，综合运用三种偏光显微系统观察不同的光学现象，查阅矿物的矿物学参数，对矿物的种属作出初步鉴定。
形成报告。
以报告结果的详细程度、准确程度予以分数的确定。
四、实验教材与参考书
制定人：李明（制定日期： 2010 年 9 月）
审定人：刘自强（审定日期： 2010 年 9 月）。
《晶体光学与岩石学》实验教学大纲
《晶体光学与岩石学》实验教学大纲(勘查技术与工程专业，选修，总计72学时，其中实验42学时)第一篇晶体光学教学大纲(总计30学时，其中实验20学时)一、教学思想晶体光学主要是研究可见光通过透明晶体所产生的一些光学现象及其规律的学科。
本大纲按照“加强基础、强化应用、激励创新、体现特色”的教学指导思想，阐明在偏光显微镜下研究鉴定透明矿物的基本方法和原理，熟悉一些常见造岩矿物的光学性质，学会使用“岩性矿物学”等工具书，为学习岩石学打下坚实的基础。
二、学时分配与授课方式根据晶体光学教学大纲和教学计划的要求，本课程授课安排30学时，其中讲课10学时，实习课20学时。
具体进度依次安排如下：本课程采用多媒体教学方式完成教学内容。
三、考试方式本课程考试方式为闭卷考试。
实习一偏光显微镜的使用及矿物颗粒大小、含量的测定一、预习内容：偏光显微镜的结构、使用方法及矿物含量的测定方法二、目的要求：1、熟悉偏光显微镜、学会偏光显微镜的一般调节与校正。
2、掌握矿物颗粒大小及含量的测定方法。
三、实习内容：1、偏光显微镜的使用与调节2、矿物颗粒大小及含量的测量3、用目测法测量矿物的含量四、课外作业：1、反复练习对光、准焦及校正中心。
2、进一步熟悉偏光显微镜的构造。
3、练习在薄片中目估矿物的百分含量，测定矿物颗粒的大小。
实习二颜色和多色性的观察，解理及解理夹角的测量一、预习内容：矿物颜色和多色性的原理解理夹角的测量方法。
二、目的要求：1、观察颜色和多色性2、熟悉解理等级，学会解理夹角的测量方法。
三、实习内容：1、确定下偏光镜的振动方向2、颜色、多色性及吸收性的观察3、解理的观察及解理夹角的测量四、课外作业1、黑云母、电气石、普通角闪石各有几个主色？从实习中总结出各矿物的颜色及颜色浓度。
2、写出云母、角闪石、斜长石、磷灰石解理完善程度、组数。
3、根据实测写出角闪石、透辉石的解理夹角。
五、思考题1、角闪石具两组完全解理，为什么在岩石切片中有时见一组解理？有时见两组解理？有时却不见解理？2、测量解理夹角时，为什么要选用定向切面？这种切面有何特征？在镜下如何找寻？实习三突起等级及折光率高低的比较一、预习内容矿物切片的边缘特征。
晶体光学与光性矿物学实习指导
晶体光学和光性矿物学实习指导一偏光显微镜的使用及矿物颗粒大小、含量的测定（一）偏光显微镜的使用和调节1 熟悉偏光显微镜的构造、装置、使用和维护保养方法2 调节照明（对光）（1）装上低倍或中倍物镜，打开锁光圈，轻轻推出上偏光镜、勃氏镜及聚光镜（2）转动反光镜至视域最亮为止。
如果总是对不亮，可以轻轻抽出目镜或推入勃氏镜，然后转动反光镜至视域内看到光源为止。
此时加上目镜或推出勃氏镜，视域必然最亮。
3 调节焦距（准焦）（1）将一薄片置于载物台上（注意必须使盖玻璃朝上），用弹簧夹夹住。
（2）从侧旁看物镜镜头，转动粗动螺丝，使镜筒下降，至物镜到最低位置（注意切勿压碎薄片）。
（3）从目镜中观察，同时转动粗动螺丝，使镜筒上升，当视域中刚刚出现物象时，改用微动螺丝，使物象清晰为止。
（4）换用高倍物镜，用同法调节焦距。
在调节焦距时，绝不能眼睛看着目镜下降镜筒，因为这样很容易压碎薄片并损坏物镜。
在调节高倍物镜焦躁时，尤应注意。
因为高倍物镜的焦躁很短，镜头几乎和薄片接触，若薄片盖玻璃朝下时，不但无法准焦，而且常有压碎薄片，割伤镜头的事故发生。
4 校正中心在校正中心前，必须检查接物镜位置是否正确，如物镜没有安装在正确位置上，中心不但不能校正，而且往往容易损坏物镜和校正螺丝。
校正中心时，如发现螺丝旋转费力，或失效时，应立即报告，请求指导，切勿强力扭动。
校正中心的方法，参阅教材的有关部分。
5 视域直径测量（1）测量中、低倍物镜的视域直径将带刻度的透明三角板置载物台上，准焦后，观察视域直径为几毫米，分别记录数值，待日后查用。
（2）高倍物镜视域直径的测量：此时应借助物台测微尺。
物台测微尺长1毫米，刻有100小格的显微尺（嵌在玻璃片上），每小格相当于0.01毫米。
测量时将物台测微尺置载物台上，准焦后，观察视域直径等于微尺的几小格。
若为20格，则直径等于20×0.01＝0.2毫米。
记录所测结果，备日后查用。
（二）矿物颗粒大小及含量的测量1 确定目镜微尺格值（每格代表的长度）a 将物台微尺置物台上，准焦；b 转动物台微尺和目镜微尺平行，并移动物台微尺和目镜微尺零点对齐。
晶体光学实验报告数据
一、实验目的通过本实验，掌握晶体光学的基本原理和方法，学习使用偏光显微镜观察晶体的光学性质，并测量晶体的折射率和光轴方向。
二、实验原理晶体光学实验主要研究晶体对光线的传播、折射和反射等性质。
晶体具有各向异性，即不同方向的光学性质不同。
本实验通过观察晶体在不同偏光下的干涉现象，可以确定晶体的光学性质。
三、实验仪器1. 偏光显微镜2. 晶体样品（方解石、石英等）3. 聚光镜4. 偏光镜5. 目镜6. 透镜7. 滤光片8. 秒表四、实验步骤1. 将晶体样品放置在偏光显微镜的载物台上，调整显微镜的焦距，使样品清晰可见。
2. 将聚光镜和偏光镜对准，使光线通过样品。
3. 调整滤光片，观察样品在不同偏光下的干涉现象。
4. 通过调整透镜和目镜，观察晶体的光学性质，如双折射、干涉条纹等。
5. 测量晶体的折射率和光轴方向。
五、实验数据1. 样品名称：方解石2. 折射率：- 光轴方向：1.658- 折射率方向：1.4863. 光轴方向：- 与光轴方向夹角：45°4. 干涉条纹：- 干涉条纹间距：0.5mm5. 实验时间：30分钟六、实验结果分析1. 方解石具有双折射性质，光轴方向为1.658，折射率方向为1.486。
2. 通过调整透镜和目镜，观察到干涉条纹，进一步验证了方解石的双折射性质。
3. 测量结果与理论值基本一致，说明实验结果可靠。
七、实验总结本实验通过观察晶体在不同偏光下的干涉现象，掌握了晶体光学的基本原理和方法。
实验结果表明，方解石具有双折射性质，其折射率和光轴方向符合理论预期。
在实验过程中，应注意调整显微镜的焦距，使样品清晰可见，以及调整透镜和目镜，观察晶体的光学性质。
同时，要掌握干涉条纹的观察方法，以便准确测量晶体的折射率和光轴方向。
晶体光学实验报告
晶体光学实验报告一、实验目的1.掌握晶体光学的基本理论知识；2.了解晶体光学实验中常用的仪器设备；3.学习使用晶体光学实验装置进行实验和测量。
二、实验原理光学晶体是具有非均匀介质结构的物质，其晶格中的原子或离子排列存在一定的周期性。
由于这种周期性排列的存在，光通过晶体时会发生衍射、偏振和双折射等现象，从而引起光的有色或无色变化。
晶体光学实验是通过研究光的传播和和偏振的相关现象，来研究晶体的结构和性质的一种方法。
本实验主要利用晶体偏振片和波片来观察和测量晶体光学现象。
偏振片是指用于改变光的偏振状态的装置，常用的偏振片有偏光镜、偏振片和相位板等。
波片是指具有调整光的相位差的能力的装置，主要用来调整光的干涉状态。
三、实验仪器和材料1.光源：白炽灯或激光器；2.光源聚焦系统；3.偏振镜、偏光片、偏振片；4.样品：晶体样品；5.精密旋转台；6.放大显微镜；7.光电探测器；8.光学台。
四、实验步骤1.打开光源，将光线通过聚焦系统聚焦到样品上；2.在光路上依次放置偏振镜、偏光片和偏振片，调整偏光片和偏振片的位置，观察光的强度变化；3.将样品放置在精密旋转台上，用放大显微镜观察样品的特征；4.调整旋转台的角度，观察样品的透射光的强度变化，并记录；5.用光电探测器测量不同旋转角度下的光强度，并绘制光强度与旋转角度的关系曲线。
五、实验结果与分析通过实验观察和测量，得出如下结论：1.当光通过偏振镜后，光线的偏振状态发生改变，只有与偏振镜的偏振方向平行的光线能够透过；2.在偏振片和偏振片的相对位置调整时，可以改变通过的光的偏振状态，实现对光的调节和控制；3.在精密旋转台上调整晶体样品的角度时，观察到光的强度发生周期性变化，说明样品具有双折射现象；4.通过绘制光强度与旋转角度的关系曲线，可以得到样品的光学性质参数，如双折射率。
六、实验总结通过本次实验，我深入了解了晶体光学的基本理论知识，并掌握了常见的实验仪器和操作方法。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
晶体光学实验指导书赖健清编（地质工程专业A方向适用）中南大学地球科学与信息物理学院目录实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察 (1)一.目的要求 (1)二.实验内容 (1)实验二突起等级和多色性的观察 (3)一.目的要求 (3)二.实验内容 (3)实验一、二报告内容： (3)实验三干涉色级序特征的观察，矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定 (4)一．目的要求 (4)二．实验内容 (4)实验四干涉色级序及双折率的测定和双晶的观察 (5)一．目的要求 (5)二．实验内容 (5)实验三、四实验报告内容 (5)实验五一轴晶干涉图、二轴晶干涉图 (6)一．目的要求 (6)二．锥光镜下观察的操作程序 (6)三．实验内容 (6)实验六斜长石的牌码测定 (6)一、目的要求 (6)二、实验内容 (6)实验五报告内容 (9)实验六斜长石牌号的测定 (9)实验七主要造岩矿物的光性鉴定(一) (10)一．目的要求 (10)二．实验内容 (10)实验八主要造岩矿物的光性鉴定(二) (10)一、目的要求 (10)二、实验内容 (10)实验七、八主要造岩矿物的光性鉴定 (10)附：常见透明矿物光学性质（一） (12)常见透明矿物光学性质（二） (13)实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察一.目的要求1．了解偏光显微镜的主要构造，装置，使用和保养方法。
2．学会偏光显微镜的一般调节和校正。
3．认识解理等级，测定解理夹角。
二.实验内容1．打开光源为了延长光源灯泡寿命，打开光源及关闭光源之前，务必确认光源强度调至．．．．．．最小．．．．．．．．．．．。
临时离开不必关闭光源开关，只需将光源．．。
永远不要把光源强度开至最大强度调至最小。
2．偏光显微镜的调节与校正1）调节照明2）调节焦距必须记住：通过下降物台来对焦．．．．．．．．．。
3）校正中心4）下偏光镜振动方向的确定和校正在单偏光镜下，找一具极完全解理的黑云母（12号薄片），置于视域中心。
转动物台，黑云母颜色最深时，黑云母解理缝方向为下偏光镜振动方向。
如黑云母颜色最深时，解理缝方向与十字丝横丝不平行，表明横丝未与下偏光镜振动方向一致。
转动物台，使黑云母解理缝平行横丝，然后转动下偏光镜，直至黑云母颜色最深。
此时，十字丝横丝与下偏光振动方向一致。
2．解理的观察1）解理的完全程度极完全解理：解理缝细，密，长，且往往贯通整个晶体。
如云母类矿物。
完全解理：解理缝之间的间距较宽，一般不完全连续。
如辉石类和角闪石类矿物。
不完全解理：解理缝断断续续，有时仅见解理缝痕迹。
如橄榄石。
2）解理的组数和夹角黑云母一组（001）极完全解理。
普通角闪石和普通辉石（110）和（110）二组完全解理（解理夹角56°和87°）。
并测定普通角闪石两组解理的夹角。
方解石{1011}三组完全解理（解理夹角75°）。
实验二 突起等级和多色性的观察一. 目的要求观察突起等级，认识不同等级突起的特征。
认识贝克线，学会利用贝克线移动规律，确定相邻两物质折射率的相对大小，确定突起正负。
观察造岩矿物的颜色，多色性与吸收性。
二. 实验内容1．比较普通辉石（高正突起）和斜长石（拉长石—正低突起）的边缘，糙面特征及突起高低（6号薄片）。
萤石的负高突起（25号薄片）。
观察贝克线移动规律。
2．观察方解石（30号大理岩薄片）的闪突起现象。
3．观察电气石的多色性，提交实验报告（写出多色性公式和吸收性公式，并绘出示意图）。
实验一、二报告内容：1．如何判断显微镜下偏光镜的偏振方向？2．观察几种矿物的解理：黑云母。
测量辉石和角闪石的两组解理的夹角。
3．观察几种矿物的突起：石英、长石、黑云母、（萤石、电气石）。
观察方解石的闪突起。
4．观察黑云母的多色性和吸收性，写出其公式。
（石英、长石、黑云母见花岗岩或花岗闪长岩，角闪石见花岗闪长岩或闪长岩，辉石见辉长岩，方解石见大理岩）’实验三干涉色级序特征的观察，矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定一．目的要求1．学会正交偏光镜的检查与校正方法。
2．认识1—3级干涉色及高级白干涉色的特征。
3．学会用石膏板测定矿片上光率体椭圆半径方向和名称的方法。
二．实验内容检查上，下偏光镜的振动方向是否正交，目镜十字丝是否与上，下偏光镜振动方向一致。
在正交偏光镜间，从试板孔缓缓插入石英楔，观察1—3级干涉色级序及各级的特征。
观察石英（12号薄片）的一级灰白，橄榄石（1或2号薄片）的2—3级干涉色，方解石（30号薄片）的高级白。
一级灰白与高级白可用插入石膏板来区别。
在具一级灰白干涉色的石英或钾长石矿片上，借助石膏板确定光率体椭圆半径方向及名称。
实验四干涉色级序及双折率的测定和双晶的观察一．目的要求1．学会利用石英楔测定矿片的干涉色级序和双折率。
2．观察长石的几种常见双晶类型。
二．实验内容利用石英楔测定普通辉石的干涉色级序并借助干涉色色谱表确定双折率。
需多测几颗，取最大的。
实验三、四实验报告内容1．通过石英楔的干涉色的观察，写出干涉色级序的特征。
2．观察石英、橄榄石、方解石的干涉色，说明一级白和高级白的区别。
3．借助石膏板确定长石的光率体椭圆半径方向机名称，并绘图表示。
4．用石英楔测定普通辉石的干涉色级序，并借助干涉色色谱表确定双折率。
5．观察长石的双晶，绘图表示斜长石的聚片双晶、正长石的卡氏双晶和微斜长石的格子双晶。
实验五一轴晶干涉图、二轴晶干涉图一．目的要求1．认识一轴晶、二轴晶干涉图不同类型干涉图的图像特点。
2．学会应用垂直光轴切面及斜交光轴切面干涉图，测定一轴晶矿物的光性符号。
3．观察应用垂直测定二轴晶光性符号。
二．锥光镜下观察的操作程序1．用中、低倍物镜，将选择的合适的矿物颗粒移至视域中心。
2．换用高倍镜（40×），仔细对焦。
特别注意不要把盖玻片朝下．．．．．．．．．．．．。
3．校正中心。
4．加上聚光镜，并把聚光镜升到最高位置。
注意不要顶住矿片。
5．加入上偏光镜，并一定要正交；加入勃氏镜。
此时可观察到干涉图。
三．实验内容1．观察黑云母（特制片）垂直光轴切面的干涉图图像特征，并利用石英楔测定其光性正负。
（黑云母属二轴晶，但其2V=0°—10°，因而有些黑云母可视作一轴晶。
）2．观察石英垂直光轴或斜交光轴切面干涉图特征。
3．观察白云母垂直Bxa切面干涉图特征。
实验六斜长石的牌码测定一、目的要求1．掌握斜长石主要光学性质及其与相似矿物碱性长石等的区别。
2．掌握测定斜长石种类的⊥（010）晶带最大消光角法。
二、实验内容1．了解斜长石种类的划分及测定种类的意义。
2．⊥（010）晶带最大消光角法测定斜长石种类的。
附：斜长石牌号简介斜长石（plagioclase）属于NaAlSi3O8(Ab)-CaAl2Si2O8(An)系列的长石矿物的总称。
共分为6个矿物种：钠长石（An0~10+Ab100~90)奥长石（An10~30+Ab 90~70，也称更长石）、中长石(An30~50+Ab70~50)、拉长石(An50~70+Ab50~30)、培长石(An70~90+Ab30~10)和钙长石(An90~100+Ab10~0)。
岩石学中将前二者统称为酸性斜长石，而将后三者统称为基性斜长石。
斜长石的成分还常用所含An 组分的摩尔百分数表示，称为斜长石的牌号。
如成分为An18+Ab80+Or2的奥长石，其牌号即为18。
在常温下，有些成分的斜长石并不是均匀的类质同象混晶，而是两相的交生体。
牌号为2～15的斜长石实际上是由<2号与25～30号两种成分的斜长石叶片平行交生而成，称为晕长石，因光在一系列叶片界面上反射并干涉而常显晕色，故名。
46±2～60±2号以及66～90号两个区间的斜长石也都是类似的两相交生体。
某些拉长石因此而可具有美丽的变彩，用作玉石材料。
此外,许多天然斜长石晶体的内核与外缘的牌号不一，形成所谓的环带状斜长石。
一般外缘的牌号大于内核的牌号，是为正常环带构造；也有内核牌号大于外缘的，称为反环带构造。
此外还有从内核到外缘的牌号，由小逐渐变大，然后突然变小，如此多次反复，形成韵律环带构造。
实验五报告内容1．简述锥光镜的装置及操作程序。
2．通过石英、黑云母、白云母、方解石等矿物各种切面干涉图的观察，分析一轴晶与二轴晶的区别。
3．观察石英垂直光轴及斜交光轴切面的干涉图，并判断其光性正负。
实验六斜长石牌号的测定1．在辉长岩中找到待测斜长石，说明其特征要求；2．测定Np的方向（绘图表示）；3．测定两个单体的消光角，判断是否符合要求；4．取平均值，查表获得斜长石的牌号。
如有必要，还要测长石的突起类型。
实验七主要造岩矿物的光性鉴定(一)一．目的要求1．在单偏光镜下、正交偏光镜下测定以下几种常见浅色矿物的光学性质。
2．掌握以下几种矿物主要光学性质；并注意相似矿物的区别，二．实验内容石英（花岗岩中）、正长石（正长岩）、微斜长石（花岗岩）、斜长石（辉长岩、闪长岩）、白云母（石英白云母片岩）方解石（大理岩）。
实验八主要造岩矿物的光性鉴定(二)一、目的要求1．在单偏光镜下、正交偏光镜下测定以下几种常见暗色矿物的光学性质。
2．掌握以下几种矿物主要光学性质；并注意相似矿物的区别，如橄榄石与普通辉石的区别，普通辉石与普通角闪石的区别，普通角闪石与黑云母的区别。
二、实验内容橄榄石(橄榄岩)、普通辉石(辉长岩)、普通角闪石(闪长岩)、黑云母(花岗岩)。
实验七、八主要造岩矿物的光性鉴定报告内容：观察石英、钾长石（正长石、微斜长石）、斜长石、橄榄石、普通辉石、普通角闪石、黑云母、白云母、方解石等矿物的光性特征，分别描述和鉴定。
单偏光特征：形态特征，颜色，多色性和吸收性（公式），突起和糙面（闪突起），解理及解理角等；正交偏光特征：消光性质，干涉色级序，双晶特征，延长符号；综合特征：光性符号，轴性。
填以下表格：1附：常见透明矿物光学性质（一）常见透明矿物光学性质（二）。