第二部分射线检测

第二部分射线检测一、正误判断题（在括弧内，正确的画O,错误的画X）1．高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用，电子失去其能量以光子形式辐射出来，这种辐射称韧致辐射。

〈O〉※2,.线质是对射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较软，穿透力较弱的射线称其线质较硬。

（X）3、高速运动的电子同靶原子的轨道电子碰撞时，有可能将原子内层的一个电子击到未被电子填充的外层轨道上，其外层的电子向内层跃迁，以光子的形式辐射出多余的能置，这就产生了标识射线。

4、康普顿散射不是由轨道电子引起的，而主要是光于同固体内的自由电子相互作用引起的。

5、X、丫射线是电磁辐射；中子射线是粒子辐射。

（O）6※、具有连续光谱的x射线，称连续x射线，又称白色x射线。

7※、由发射x射线的材料特征决定波长的连续X射线，称标识x射线，又称特征x射线（X）8、一定能量的连续x 射线穿透物质时，随厚度的增加射线的总强度减小，平均波长变短，但最短波长不变。

（O）※9※、加在x光管两端的电压越低，则电子的速度就越大，辐射出的射线能量就越高。

〈X〉10”、射线的线质越软，其光子能墨越大，波长越短，笄透力越强，衰减系数越小，半价层越大。

（X）11．Y 射线的能盘取决于放射性同位苯的活度或居里效，而它的强度取决于源的种类。

（X）12”、射线的能量减弱到初始值上半时所穿过物质的厚度，称半价层，又称半值层。

（X）13”、放射性同位紊的能搔蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。

（X）14”、描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度”。

（O）15、在核反应堆中，把一种元素变为放射性元素的过程，称为激活。

（O）16v 当原子核内质子数不变，而原子量增加时，它就变戚另一种元素。

（X）17”、不稳定的同位素，称为放射性同位素。

（O）”18”、光子是以光速传播的微小的物质粒子。

（X）19、光电效应巾光子故部分吸收，而康普顿效应中光子被完全吸收。

（X）20”、发生康普顿效赃时，电子获得光子的部分能墨以反冲电子的形式射出父同时，光子的能量减小，方向也改了，成为低能散射线。

21、能量为1.02〜2MeV的射线与钢铁相互作用主要产生电子对效应（X）22”、用于检测的X射线和Y射线，它们之间的主要区别在于：x射线是韧致辐射的产物，而丫射线是放射性同位素原子核衰变的产物；x射线是连续谱，Y射线是线状谱。

（O）”23”、即使管电压相同，不同x射线机所发生的x射线的线质也是不同的。

（O）24．对不同种类的放射性同位素，高活度的同位东总是比低活度的同位索具有更高的辐射水平。

（X）19225。

192Ir 源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活．可重复使用。

（X）26”、与60C, o射线源相比，具有较短的半袁期和较低的能孟。

〈O〉27”、当x射线通过3个半价层后，其强度仅为初始值的1/3。

（X）28”、Y射线经过3个半衰期后，其能置仅剩下初始当值的1/& （X）29”、所谓“吸收”，就是物质阻止射线通过的能力。

（O）30,含氢元素的物质，对中子射线具有较强的衰减作用。

（参考题）（O）31．线吸收系较表示单位长度妁相互作用几率，质量吸收系数则表示单位质量的相互作用几率。

32”、放射性同位煮的衰变和衰减是一回事。

(X)33*、半衰期是指x射线强度减弱到初始值一半所需要的时间(X)34、x射线与丫射线只要波长相同，就具有相同的性质( 0)35”、X、丫射线不受电磁场影响。

(0)36※、强度不受散射线影响的射线，称“窄束”射线。

强度受射线影晌的射线，称“宽束”射线。

(O)37※、元素米6°C O27中有27个质子和33个中子，原子序数为27。

(O)38、工业用放射性同位素辐射出的丫射线的能量用平均能量来度量，x射线机辐射出的x射线能量是用管电压峰值来度量。

39、在相同的管电压下，透照厚度增加散射比减小。

(X)40”、管电压提高，衰减系数增太。

(X)41, 工业检测用放射性同位素，有的是在核反应堆中通过中子照射激活的，如60C O和92Ir，也有的是核裂变的产物，如137Co。

(参考题)42、因为发生光电效应的几率与被照物质原子序数的3次方成正比，所以原子序数越大，发生光电效应的几率越小。

(X)43”、放射性同位素的半衰期与放射性同位东的种类有关。

(O)44”、在工件对比度一定的情况下，由胶片(包括暗室处理)影响对比度的因素称胶片对比度。

也以可定义为：改变胶片的曝光置引起相应底片黑度差的固有能力。

(O)45”、x、丫射线通过工件相邻两个不同厚度区域后的射线强度差与较大厚度区射线强度的比，称主因对比度，又称工件对比度。

( 0)46”、荧光增感的原理是射线与荧光物质作用，产生荧光，从而加速胶片的感光过程。

(0) 47”、金届增感屏受x或Y射线照射激发出电子，使胶片蹭感。

常用的金属材料是铅，它的粒度细，增感系数小，所得底片的滑晰度高。

48”、采用铅箔荧光增感时，不能根据曝光因子公式修正透照参数。

〈O〉49”、胶片特性曲线的形状，既不受射线能置的影响，也不受显影配方的影响。

(X)50”、增感系数是指其它条件不变时，使用增感屏与不使用增感屏所需曝光时间之比。

(X)51、底片对比度就是底片上不同区域的黑度差。

(X)52、透照厚度差相同的工件，采用高电压与低电压相比，主因对比度(工件对比度)低。

( 0) 53”、通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度其租小，则主因对比度〈工件对比度〉越大。

(X)54”、潜影形成后如不及时冲洗，有可能出现“潜影衰退〃的现象。

(O)55、实际使胶片卤化银颗192Ir 粒感光的因求是电子。

(O)56、不同类型的胶片，在相同的透照条件下绘制特性曲线的形状相同。

(X)57”、在实际应用范围内，射线的线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。

(0) 58、射线强度提商，底片宽容度增太。

(X)59”、胶片灰雾度是指曝光童为客时，底片的黑度。

〈O〉60”、在300KvP 以下，管电压越高，增感系数越大( 0)61、增感系数随丫射线能盘的增高而增大。

(X)62、铅箔增感和荧光增感，基本土不改变胶片对比度。

〈O〉63”、象质计灵敏度 2.0％，是指大于 2.0％透照厚度的缺陷均可被检出。

(X)64、窄柬与宽束射线相比，窄束射线的对比度高。

(O)65”、线质变硬，底片对比度提高。

(X)66”、底片上缺陷影像的尺寸都大于实际缺陷的尺寸QX)铭，、67”、减小识别界限对比度厶Dmin，不利于识别小缺陷。

(X)68、观片灯亮度提高，识别界限对比度厶Dmin减小，能分辨的黑度范围向高黑度一边扩展。

（O）69、在较暗的室内评片，消除了散射光影响，底片的识别界限对比度减小，有利于分辨缺陷。

（O）70、厚工件中的紧闭裂纹，透照方向适当时，也能被检出。

（X）71、射线透过有余高焊缝后到达胶片上的散射比，总大于透过厚度与焊缝相同的平板后到达胶片上的散射比。

（O）72、透照厚度增大散射比增大。

（O）73 “、对曝光过度的胶片，为获得符合要求的底片，可采用缩短显影时间来补救。

（X）74*、当显影糟不放盏时，显影液就会被氧化，从而降低显影液的浓度。

（O）75*、定影液有两个作用：溶解未曝光的AgBr和坚膜（O）76”、AgBr的颗粒度决定了胶片的性质，颗粒度越大，胶片感光速度越快，胶片对比度越低。

O）77*、管电压、管电流和穿透厚度之弼关系的曲线称胶片特性曲线。

（X）78、底片的颗粒度随射线能盘的提高而增大。

（O）79．对视觉产生影响的底片影像黑度的不均匀程度，称底片影像颗粒度。

（O）80*、胶片卤化银粒子的平均大小，称胶片粒度。

（O）81、底片影像颗粒度与胶片卤化银的粒度是同一概念。

（X）* 82*、透照某一厚度的材料，乘一系数，得到它相当于多厚标准材料（通常为钢）的吸收效果，该系数称射线照相等效系教。

这一系数随射线能量而变化。

（O）83、在x 射线管窗口加滤波板的作用是增大宽容度，消除边蚀散射。

（O）84*、表征胶片曝光簋的对数与底片黑皮之间关系的曲线，称胶片特性曲线。

（O）85*、表征射线能置、透照厚度和曝光量三者关系的曲线，称曝光曲线。

（O）86”、由曝光因子的公式可知，焦距增加一倍，则曝光量是原值的4倍。

（O）87*、，主因对比度与工件厚度变化引起的黑度差有关。

（X）88*、源移去后，被照射工件本身仍残留低度的辐射。

〈X〉89*、改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。

（O）90*、能够在射线底片上充分记录的工件好度范围称为宽容度。

（O）*91*、任何情况下，底片的对比度越大越好。

（X）92.对子某一种胶片，其曝光量同相应的底片黑度之间关系的曲线称曝光曲线°X）93*、对于厚度差较大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，应增大宽容度。

、（O）94*、增大底片宽容度通常的方法是提高管电压。

（O）95、通过工件上两个不同厚度截面的射线强度比率越大，工件对比度（主因对比度）越大。

（O）96、象质计灵敏度与缺陷检出率是一回事。

（X）97、封头的射线探伤程序应笨排在拼焊后，热压成型前进行。

（X）98、局部探伤的底片在界线标记以外的缺陷不计。

（X）99*、显影液是碱性的，定影液是酸性的。

（O）100、一般情况下，米吐尔与对苯二酚配合使用来增加显影能力和反差。

（O）101*、胶片曝光部分越多，耗费的显影液越少。

（X）102*、胶片从放入定影液开始直到所有的AgBr 颗粒消失这段时间称为定影时同。

（X）103、显影液温度过高，会导致影像颗粒度粗大。

（O）104*、显影时间过长，会导致影像灰雾度和颗粒度过大（O）105*、胶片放进疲劳的显影液中显影，会使底片产生黄色灰雾；显影液被定影液污染，会使底片产生双色灰雾（O）106、决定x 射线管靶材适用性的两个因素是原子序数和熔点。

（O）107、在管电压、管电流和冷却条件相同的情况下，焦点尺寸越小，其阳极温度越高。

（O）108、半波自整流的探伤机，在不工作的半周期内，由于负高压加在x 光管的阳极上，如冷却不好，也能发射电子，但不产生x射线。

（X）109、x 射线管的阳极特性是指管电流与管电压的关系。

（O）110、x射线管的阴极特性是指灯丝温度与电子发射率的关系。

（O）111、在管电压一定的情况下，x光管可承受的负荷取决于焦点尺寸和阳极靶冷却的效果。

112”、目前广泛使用的x射线管有玻璃管和金屈的瓷〈0〉※113’、新购置或停用较久的x光机，使用前要训练x光管，其目的是排出射线柜中的气泡。

（X）114、x 光机操作时高压升不上去和高压跳闸是一回事。

（X）115*、所谓“管电流”就是流过x射线管的灯丝电流。

（X）116*、在使用过程中，阳极靶冷却不良会影响管电流的稳定性。

117”、x射线管的实际焦点是指阳极靶被电子撞击的部分，有效焦点是指实际焦点在垂直于管轴线上的投影。