第二章-版图设计规则
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Layout
17. 金属1
Metal1
A1
18.M1和M2接触孔
VIA1
W1
19. 金属2
Metal2
A2
20. M2和M3接触孔
VIA2
W3
21. 金属3 22. 焊盘PAD
Metal3
A3
PAD
CP
华侨大学厦门专用集成电路系统重点实验室
华侨大学电子工程系
Copyright by Huang Weiwei
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版图层次定义
NWell
N阱作用: 1.N阱最主要的作用在于制造PMOS。 2.N阱掺杂浓度较低,电阻率较高,可以用于制造 电阻,称为阱电阻。
3.N阱可以和衬底构成二极管,也可以用于制造寄 生PNP管(纵向PNP)。
P衬底
SiO2
P衬底
SiO2
P衬底
光刻胶
去光刻胶 光刻胶
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版图层次定义
NWell
扩散到一定时间后,N阱的深度达到工艺期望 值。需要注意的是:施主杂质不仅会沿垂直硅片的 方向扩散(纵向扩散);还会在硅片中间向四周扩 散(横向扩散)。
Poly1
GT
11.N型源/漏
N+
SN
12.P型源/漏
P+
SP
13.ROM
ROM
RO
14.Poly2阻挡层 15.Poly2 16.接触孔
High Res
IM
Poly2
PC
W1 Contact
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版图层次定义
版图层次定义
Nwell
•N•N阱阱
有源区
• 有源区(薄氧区)
多晶硅1
•多晶硅1(Poly1).
多晶硅2
• 多晶硅2(Poly2)
多晶硅2阻挡层 • 多晶硅2掺杂阻挡层
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版图层次定义
NWell
如果制造集成电路的硅片掺杂了磷等施主杂质,则
现代工艺出于牺牲PMOS性能来优化NMOS 性能,所以大多数工艺都是N阱工艺。
现代工艺中也有同时使用N阱和P阱的工艺, 称为双阱工艺。
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版图层次定义
N阱 P衬底
NWell
N阱和P衬底构成寄生二极管,在CMOS电路中衬 底通常接最低电平,确保二极管处于反偏。理想情况 下,从衬底流出的电流为0.
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版图层次定义
NWell
实际上制造集成电路前,有些CMOS工艺需要 先在硅片上生长一层外延层,以减少闩锁效应的影 响(该效应将在以后详细介绍)。
习惯上我们把外延层和原来的衬底都称作衬底。
使用p衬底n阱的工艺称为N阱工艺。使用n衬底p阱 的工艺称P阱工艺。
(注:具体如何制造电阻、二极管、双极管将在后面专门的章节进行介绍。)
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版图层次定义
NWell
硅片涂胶后,通过N阱掩膜板,将硅片放在光线下, 并进一步通过显影去掉被光照的光刻胶。
极紫外线
SiO2
不透光区 未曝光区
该类型的硅片称为n型硅; 如果掺杂了硼等受主杂质,则该类型的硅片称为p
型硅。
在制作CMOS集成电路时,N沟MOSFET(简称 NMOS)直接制作在p衬底上;
P沟MOSFET(简称PMOS)需要制作在N阱上。
栅
栅
源
漏
n
n
nmos
p衬底
源
漏
p
p
n阱
p衬底 pmos
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本章主要内容
Layout
版图层次定义 版图设计规则
简单反相器版图
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版图层次定义
Layout 1. 有源区 2.N阱 3. 场注入 4. 正常Vth沟道注入 5. 低Vth NMOS沟道注入 6. 低VthPMOS沟道注入 7. 耗尽型NMOS沟道注入 8. 耗尽型PMOS沟道注入
(记住这一特性,这和以后的N阱设计规则有密切关系)
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Baidu Nhomakorabea
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版图层次定义
Nwell Active Poly P+ implant N+ impant Omicontact Metal
NWell
透光区 掩膜版 曝光区
P衬底
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版图层次定义
NWell
接着将硅片暴露在施主原子下,施主杂质会被光刻 胶阻挡住,同时也能通过光刻胶上的开孔扩散到开孔区 域的硅片中。
刻蚀
掩膜版
不透光区 透光区
SiO2
IC工艺和版图设计
第二章 版图设计规则
Email: 华侨大学信息学院电子工程系厦门专用集成电路系统重点实验室
参考文献
1 . Alan Hastings著 . 张为 译 . 模拟电路版 图的艺术.第二版 . 电子工业出版社 . CH2-3 2 . R.Jacobs Baker著 . 陈中建 译 . CMOS电路 设计布局与仿真 . 第一版. 机械工业出版社. CH2-4 3 . Michael Quirk 著 . 韩郑生 译 . 半导体制 造技术 . 第一版 . 电子工业出版社 . CH4、CH9 4 . CSMC 0.5um DPTM Mixed Signal Technology Technology Topological Design Rule
Active NWell ----------------LVN LVP VDN
VDP
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TO TB PT BC
PS ND PD
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版图层次定义
Layout
9.纵向NPN 基区注入
P-base
BA
10.多晶硅