微电子制造技术抗反射涂层
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微电子制造技术
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曝光光源
在光刻胶曝光过程中,是通过光刻胶材料发 生光化学反应来转移掩膜版的图形,而且必须在 最短的时间内完成,同时要求在批量生产中是可 重复的。 紫外光用于光刻胶的曝光是因为光刻胶材料 与这个特定波长的光反应满足上述要求。因为较 短的波长可以获得光刻胶上较小尺寸的分辨率。 所以现今最常用光学光刻的两种紫外光源是:汞 灯和准分之激光。除此之外其它用于先进的或特 殊应用的光刻胶曝光有X射线、电子束和离子束。
Figure 14.3 光的波长和频率
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波的干涉
波本质上是正弦曲线。任何形式的正弦波只 要有相同的频率就能相互干涉。有两种类型的干 涉基于波是否有相同的相位(见下图)。
相长干涉
A 同相位波 不同相位波 B
相消干涉
A+B
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Figure 14.4
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光的实质就是电磁波,光也能辐射能量。这 两个描述反映了光的波粒两相性的本质。因此可 以用波长( λ)和频率(ƒ)来描述。这两者的 关系如图14.3所示,其中υ是光的速度。
= v f
v = 光的速度, 3E 108 m/sec f = 以 Hz为单位的频率(每秒周期) = 波长,频率对应周期的物理长度, 以米为单位 激光器
通过表14.2可以看出,要得到0.25µm以下的特 征尺寸,对应的光源波长应该是小于 248nm的深紫 外(DUV)光,但是从图14.7可以看出,248nm的深 紫外发射是365nm的I线发射强度的1/5。
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掩膜版上设计的每一层图形都有一个特
殊功能,如接触孔、MOS的源漏区或金属线等 ,光刻过程中掩膜版把这些图形彼此套准来
制成硅片上的器件或电路。版图套准过程有
对准规范,就是前面提出的套准容差。怎样 精确地把亚微米尺寸套准,对光学光刻提出 了特殊的对准挑战。
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(nm)
紫外光谱
EUV VUV DUV Mid-UV 紫
可见光谱(白光)
蓝 绿 黄 橙 红
4
50
100
150
200
ຫໍສະໝຸດ Baidu
250 248
300
350 365 i
400
450
500
550
600
650
700
13(极紫外)
126 157 193
405 436 g h
准分之激光 光刻光源
汞灯 Figure 14.6 电磁波谱
光学滤波器 滤光器利用光的干涉阻止不需要的 入射光,通过反射或干涉来获得一个特定波长的 波(见图14.5)
宽带光
被反射的波长
涂层 1 (不反射)
涂层2 涂层3
二次反射 (干涉)
玻璃
透射的波长
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Figure 14.5 光学滤波
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整个可见和不可见的电磁波被称作电磁波谱, 它由从极短到极长波长的各种辐射能组成。 黄光和红光因为它处在可见光区含极少紫外光 ,因此不会影响光刻胶。所以光刻区的照明通常使 用黄光或红光。
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Table 14.2 汞灯的强度峰
UV 光波长 (nm) 436 405 365 248
描述符号 g-line h-line i-line Deep UV (DUV)
CD 分辨率 (m) 0.5 0.4 0.35 0.25
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120
100 80 相对强渡 (%)
高强度汞灯的发射光谱
i-line 365 nm h-line 405 nm g-line 436 nm
60
40 20
DUV 248 nm
0
200 300 400 500 600
波长 (nm)
Figure 14.7 典型的高压汞灯的发射光谱
6
4
3 2 7
8
1
剖面图
顶视图
Figure 14.2 CMOS 剖面和投影掩膜版的顶视图
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1) STI 刻蚀
2) P-阱注入
3) N-阱注入
4) 多晶硅栅刻蚀
5) N+ S/D 注入
6) P+ S/D注入
7) 氧化层接触刻蚀
8) 金属刻蚀
Figure 14.2 投影掩膜版的分解图
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光学曝光
在曝光过程中,从光源发出的光通过对准的 掩膜版(版上有黑白分明的区域,这些区域形成 了要转移到硅片表面的图形)对涂胶的硅片曝光 。曝光的目的就是要把掩膜版上的图形精确地复 制到涂胶的硅片上。 曝光的一个方面是在所有其它条件相同时, 曝光光线波长越短能曝出的特征尺寸就越小。此 外,曝光的光线必须具有一定的能量,以便对光 刻胶产生光化学反应。为了提高曝光质量,光必 须均匀地分配到整个曝光区域。 为了获得精细光刻的关键尺寸,光刻需要在 短波长下进行强曝光。
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学 习 目 标 1. 解释光刻中对准和曝光的目的; 2. 3. 4. 5. 描述光刻中光的特性及光源的重要性; 了解光学系统对光刻工艺的重要性; 解释分辨率,说明它对光刻的重要性; 了解光刻中获得精确对准的方法。
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UV 光源 快门 对准曝光 快门在聚焦和对准过程 中闭合,而在曝光过程 中打开
投影掩膜版(在投影掩 膜版视场内可能包含一 个或多个芯片) 投影透镜(缩小的投影掩 膜版的视场到硅片表面)
单视场曝光,包括:聚焦 、对准、曝光、步进和重 复过程
承片台在 X, Y, Z, q方向控制硅片的 位置
Figure 14.1 掩模版图型转移到光刻胶上
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第 14 章
光刻:对准和曝光
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概
述
对准就是把所需图形在硅片表面上定位或对 准。而曝光是通过曝光灯或其它辐射源将图形转 移到光刻胶涂层上。如果说光刻胶是光刻工艺的 “材料”核心,那么对准和曝光则是该工艺的“ 设备”核心。图形的准确对准是保证器件和电路 正常工作的决定性因素之一。 因为最终的图形是用多个掩膜版按照特定的 顺序在晶园表面一层一层叠加建立起来的。图形 定位的要求就好像是一幢建筑物每一层之间所要 求的正确对准。如果每一次的定位不准,将会导 致成品率下降或者整个电路失效。