紫外成像原理和应用中文

100
Relative Intensity
x100
50
200
300
400 Wavelength (nm)
500
0
广泛应用于白天检测！
夜间可见
常规电晕放射光谱
双波段成像仪
紫外通道检测到电晕 形成电晕图象 可见光通道提供背景环境场景图 形成背景可见光图象 组合2个通道的图片,得到电晕的定位图.
接地 4 3
短路喇叭陶 瓷绝缘子
100 kV
2
1
E=dV/dX=0没有电晕
{
dV=0
空隙放电
硬件松脱
污染
污染
腐蚀或浸蚀
腐蚀引致电晕
恶性循环
电晕助长腐蚀
最终导致钢钉浸蚀以致电缆倒塌
腐蚀或浸蚀
腐蚀或浸蚀
传导体破损
差劣接地
感谢各位!
近红外
Solar Radiation (µW/cm2/nm ) 120 100
10 Filter Transmission (%)
8
80
6 60 4 40 2 20
200
300
400
500
600
700
800
900
1000
Wave length (nm)
电晕发射紫外波段
太阳光盲区波段 电晕、电弧等放电现象的 光谱分析表明放电现象都会产 生不同波长的紫外光，波长范 围230～405nm，其中240～ 280nm的光谱段称为太阳盲区， 在此波长范围内由太阳传输来 的紫外光份量极低; 由于拥有Ofil的太阳盲滤 镜, Daycor 紫外成像仪可以在 阳光底下探测到240-280nm的 微弱电晕辐射.
复合绝缘子(NCI)退化
零部件受损
右弦
左弦
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
退化的水泥引致电晕
恶性循环
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
电晕引致水泥退化
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
操音 (AN)
两条500kV的电缆同时在建, 其中一条 Monroe-Custer段从开始便于500kV运作. 另 外一条SnoKing Tap段以 230kV运作但改变 为500kV.
各位领导、各位专家、各位同行： 早上好！ 非常荣幸向大家介绍紫外成像检测产品 与技术； 本次介绍分5部分： 1，紫外技术的应用背景； 2, 以色列OFIL公司紫外成像检测系统； 3, 機載系統 報告人: 4, 列車巡檢系統 黃國揚 5, 判定分級與ROI
以色列OFIL公司
DayCor® 紫外系统系列产品
共5款型号，本次将逐一介绍………..
DayCor® 紫外成像技术
DayCor® 紫外成像技术是通过观察设备的 “电晕”及“电弧” 来判断设备的故障所在位 置(例如断股，污染，裂纹、绝缘介质破坏等 现象）； 是与红外互补的一项检测技术；
DayCor® 紫外成像技术可以帮助您
DayCor® 紫外成像技术 发现早期局部缺陷,提出预警; 对重要系统部件提供评估工具; 监控设备运行,避免设备带缺陷运行,避免重大 事故的发生.
无线电干扰 (RI)
电晕是一个问题, 因为 :
它显示 :
• 可能破损 • 不当安装 • 短路喇叭陶瓷绝缘子 • 空隙放电 • 硬件松脱 • 污染 • 腐蚀或浸蚀 • 传导体破损 • 差劣接地
可能破损
在电容和电刷的连接发现电晕
可能破损
不当安装
短路喇叭陶瓷绝缘子
E=dV/dX
短路喇叭陶瓷绝缘子(零值絕緣子)
SnoKing Tap 段电缆 海藻
污染物 Monroe-Custer 段电缆
操音 (AN)
无线电干扰 (RI)
2003年9月 –美国联邦航空局控制塔的无线电干扰
无线电干扰 (RI)
时序 • 2003年9月 –美国联邦航空局控制塔的无线电 干扰 • 无线电干扰由1到20分钟 • 通常在潮湿天气 • 无线电干扰分散在8个地方 • 在4.16kV, 12.47kV, 115kV有绝缘子问题, FAA控制塔有接地问题 • 维修在2004件6月完成 • 2004年11月美国联邦航空局发嘉许信给Ofil
注册专利:
以色列 美国 & 欧洲
双波段成像过程图
250 kV
组合图象（定位）
显示可见光图象
显示紫外图谱
湿度-高湿度有利电晕的形成
电晕产生腐蚀性物质 :
• 臭氧 • 当有水粒子时会产生氧化氮 • 硝酸
电晕的影响 :
引致:
• • • • • 复合绝缘子(NCI)退化. 零部件受损. 陶瓷绝缘子的金属帽子,钢钉和水泥受损. 操音 (AN) 无线电和电视传播干扰 (RI)
• 湿度
• 高湿度有利电晕的形成
• 温度
• 高温 低气压 • 低 E critical 电晕数量增加
影响电晕放电的原因
e
e
低气压
碰撞距离较远
+
低 ECritical
e
e
e
+ e
高气压
碰撞距离较近
高 ECritical
OFIL紫外成像仪具备太阳光全盲滤镜
12
UV C B A
Visible
140
电晕效应
空气离子化会产生发光的电晕
紫外光子
e
紫外光子
e
+ e
-V
e
e
+
E field
e + e
e
紫外光子
影响电晕放电的原因
当电墙的参数超过这个关键数值, 电晕便会发生 E critical = 24-30 千伏/公分
影响电晕放电的原因
• 气压
• 低气压 低 E critical 电晕数量增加