最新原子力显微镜的原理及应用
高分辨原子力显微镜的理论与应用
高分辨原子力显微镜的理论与应用高分辨原子力显微镜，也称高分辨力学性质显微镜，是一种通过研究物质表面的原子力与样品表面原子的相互作用，来实现对样品表面最小尺度的研究的仪器。
与传统的光学显微镜相比，其分辨率更高，可达到亚奈米级别，因此在材料科学、化学、生物学等领域具有广泛的应用和研究价值。
一、高分辨原子力显微镜的原理高分辨原子力显微镜的基本构成要素是探针，探针主要是由一个微小的探针头和台阶系统、臂和加热组成，探针头可以用金属或陶瓷等材料制成。
探针头比样品表面的原子要小很多，所以具有在表面扫描的能力。
在扫描过程中，探针头在样品表面扫描，并通过控制力施加器维持一定的作用力，这样就可以测量探针头与样品表面间的相互作用力大小和方向。
根据这些反馈信息，计算机可以通过信号处理和成像算法，来构建出高分辨力学性质的显微镜图像。
二、高分辨原子力显微镜的应用1.材料科学高分辨原子力显微镜的主要应用是在材料科学领域，其可以对材料的表面形态、物理结构以及化学性质进行表征和研究。
比如，在金属晶体学中，可以利用高分辨原子力显微镜获取到晶体表面的微观结构参数，并通过这些参数来研究金属的物理性质。
2.生物学高分辨原子力显微镜也可以在生物学领域中得到应用。
它可以用来分析DNA、蛋白质等大分子的结构，以及作为近场扫描光学显微镜进行荧光共振能量转移等实验。
利用原子力显微镜研究细胞的结构和生物分子的特性有助于加深对生命科学的认识，进一步扩大其应用领域。
3.纳米电子学在纳米电子学领域，高分辨原子力显微镜可以用来研究纳米电子元器件对电子失效的原因和机制，以及电子不稳定性的表征。
这些信息对电子元器件制造业具有重要意义，可以在工程研发阶段减少浪费并提高制造产品的可靠性。
4.医学在医学领域，高分辨原子力显微镜可以应用于癌症的研究，可以通过研究癌细胞的分子结构来预测癌症的发展和抵抗方法。
此外，高分辨原子力显微镜在医学纳米技术中也得到了广泛应用，为成像和药物传输方面的最新成果提供了可靠的基础。
原子力显微镜技术的原理和应用
原子力显微镜技术的原理和应用原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种利用压电陶瓷探针与样品之间的相互作用进行高分辨率成像的技术。
相比于传统的光学显微镜，原子力显微镜可以在纳米级别对样品表面形貌、力学性能、电学性质等进行非接触、高分辨率的观测和测量。
原理原子力显微镜的探针是由纳米尺寸的硅或氮化硅材料制成的，具有极高的机械强度和较小的弹性变形。
在扫描过程中，探针会通过扫描头的控制，使探针与样品表面接触，并在靠近距离内感受到样品表面的反弹力。
探针与样品表面之间的相互作用主要有万有引力、范德华力、静电力和化学键作用力等。
在不同的距离范围内，这些相互作用力数量级的变化可能非常大。
通过控制扫描头与样品之间的距离并检测探针反弹的强度，就可以获得样品表面的高分辨率图像。
应用原子力显微镜技术广泛应用于纳米材料和生物学领域中。
以下是原子力显微镜在不同应用领域中的应用情况：材料科学原子力显微镜技术对于纳米级别的材料表面形貌、结构、力学性能和电学性质的研究非常有用。
许多纳米材料例如碳纳米管、石墨烯和纳米线等，都具有特殊的表面结构和力学性能，这些特性是通过原子力显微镜技术进行高分辨率观测和测量得到的。
生命科学原子力显微镜技术可以用于生命科学中对细胞和蛋白质结构的研究。
通过原子力显微镜技术，科学家们可以研究单个分子的形态和机制，并观察生物分子的反应、扩散和结构变化等。
这项技术已经被用于细胞壁的形态学研究、蛋白质折叠过程的研究以及DNA结构的研究等。
纳米电子学原子力显微镜技术还可以用于纳米电子学中，特别是在研究半导体器件和纳米电子学元器件时。
举例来说，它被用于研究纳米晶体管的性能和导电性质，并且成功地对其器件的构造进行了重建和监测。
环境科学原子力显微镜技术可以用于对环境污染物的检测和监测。
例如，它可以用于研究气凝胶的形貌、结构和性质，与污染控制相关的表面湿润性研究等。
总体来说，原子力显微镜是一种高分辨率成像和测量技术，其应用带来了许多已知和未知领域的新见解和突破。
原子力显微镜的原理及其在纳米技术中的应用
原子力显微镜的原理及其在纳米技术中的应用原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种能够对物质表面进行高分辨率成像、观察和分析的工具。
其原理是运用针尖与材料表面间的相互作用力探测表面形貌和性质。
本文将详细介绍原子力显微镜的基本原理和在纳米技术中的应用。
一、原子力显微镜的原理1.扫描震动式的设计原子力显微镜是一种通过扫描针尖对样品表面进行精准探测的显微镜。
针尖运动时产生的振动能够检测到样品表面形貌和结构。
其扫描震动式的设计基于谐振原理。
扫描针尖与样品表面之间有作用力，这种结果会导致针尖的振动。
2.针尖与样品间的相互作用力AFM的针尖必须具备反射杆和尖端，拥有较好的尺度和形状效应。
仪器通过感应针尖与样品之间的互相作用力，以机械臂与探针的相对运动来探测样品表面形貌及性质。
针尖接触样品表面后产生的万斯力会改变针尖的振动的振幅。
3.信封式皮扫描仪的使用在现代原子力显微镜中，信封式皮扫描仪被广泛应用，可以快速检测样品的形貌和特性。
信封式皮扫描仪不仅能够以很高的分辨率，而且能够在大范围内扫描样品，从而获得更准确的表面图像。
二、原子力显微镜在纳米技术中的应用1.纳米材料的研究原子力显微镜可以用于研究各种纳米材料，如量子点、金纳米粒子等。
由于其高分辨率和强大的成像优势，它可以揭示所有细节和表面特性。
原子力显微镜可以在不损伤样品的情况下进行非破坏性成像和分析，具有广泛的研究应用。
2.生物医学领域的应用原子力显微镜可以在细胞水平上对生物体进行研究，甚至可以在细胞内进行。
它使用非破坏性的方式扫描样品表面，具有非常高的分辨率，能够揭示生物样品的分子结构、表面形貌和纳米尺度下的物理和化学特性等，对于研究分子的运动、受体结构、细胞和组织的结构等方面具有重要的科学和生物医学意义。
3.纳米加工和表面处理原子力显微镜提供了一种便捷而强大的方式，可以实现在纳米尺度下进行样品加工和表面处理。
它可以通过控制扫描针尖与样品表面间的距离和采取不同的物理或化学手段，在表面上进行制造、刻蚀和表面修饰，从而生成微小的纳米结构或复杂纳米体系。
原子力显微镜的原理及应用
ห้องสมุดไป่ตู้
等信息。
接触热力学探头等，获得更多的表面物
理性质信息。
3
数据图像处理
通过对采集的数据和图像进行处理和分 析，实现对样品表面形貌、力学性质等 信息的定量研究。
原子力显微镜的优势和局限性
优势
高分辨率、高精度、高灵敏度的观测和表征能 力。
局限性
不能直接观测样品三维结构，对样品表面有要 求，无法观测活体生物样品。
原子力显微镜在材料科学中的应用
材料表征
原子力显微镜可以对各种材料进行表征研究，例如 纳米粒子、原子层材料、碳纳米管等。
材料力学性质
原子力显微镜可以实现对材料力学性质的高精度测 试，如硬度、弹性、塑性等。
原子力显微镜在生物科学中的应用
1
生物样品表征
原子力显微镜可以对生物细胞、蛋白质、分子等进行表征和成像，为生物学中的 结构研究提供了高分辨率的手段。
原子力显微镜的原理及应 用
原子力显微镜，是一种基于扫描探针显微技术的高分辨率显微镜。它是现代 科学领域中不可或缺的工具之一，被广泛应用于材料科学、生物科学和纳米 技术领域。
原子力显微镜的基本原理
原子结构
原子力显微镜是基于原子结构的探测原理，通过探 测力的作用，实现对样品进行微观的表面观测和分 析。
2
材料学和生物学的融合
利用原子力显微镜的高分辨率和灵敏度，可以实现生物和材料科学的融合，如生 物医学材料的研究和开发等。
原子力显微镜在纳米技术中的应用
纳米材料成像
原子力显微镜可以实现对纳米粒 子、溶胶凝胶等纳米材料的表征 和成像。
纳米器件制造
利用原子力显微镜的纳米级控制 能力，可以实现各种纳米器件的 制造和加工，如纳米电路、存储 器等。
化学物质的原子力显微镜
化学物质的原子力显微镜原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种能够获得材料表面拓扑结构信息的先进纳米分析仪器。
利用其高分辨率的成像能力，我们可以观察和研究化学物质的微观结构和性质。
本文将介绍原子力显微镜的工作原理、应用领域以及未来的发展趋势。
一、工作原理原子力显微镜是一种基于在原子尺度上感知力的技术。
其工作原理可以简单概括为通过探针与样品表面之间的相互作用来获取样品表面形貌信息。
其关键部件是一个高精度的微悬臂，类似一个弹簧，其尖端装配有一个纳米级的探针。
当探针靠近样品表面时，通过悬臂的微弯变化，可以感知到与样品表面的相互作用力。
通过记录探针与样品的相对位置变化，就可以重构出样品的表面形貌。
二、应用领域1. 材料科学研究：原子力显微镜可以帮助我们观察材料的晶格结构、表面形貌和纳米尺度下的力学性质。
这对于材料研究和新材料的开发具有重要意义。
2. 纳米电子学：原子力显微镜可以在纳米尺度上探测和调控器件的结构和性能。
这对于纳米电子器件的设计和制备具有重要的参考价值。
3. 生物医学领域：原子力显微镜可用于研究生物材料的表面形貌、细胞力学性质和蛋白质折叠状态。
这对于生物医学研究、药物开发和疾病诊断具有重要作用。
三、未来发展趋势1. 高速成像：目前，原子力显微镜的成像速度相对较慢，通常需要几分钟到几小时来获得一张高质量的成像图像。
未来的发展方向是提高成像速度，实现快速、实时的成像。
2. 多模式集成：当前的原子力显微镜通常只能提供一种成像模式，如接触模式或非接触模式。
未来的发展方向是实现多模式集成，使得同一台仪器能够提供多种不同的成像模式。
3. 原位测量：原子力显微镜通常是在大气环境下进行成像，而在许多应用领域，如材料科学和生物医学，所研究的样品往往需要在真空、高温或湿润等特殊环境下进行测量。
未来的发展方向是实现原位测量，使得原子力显微镜能够适应更多的实际应用需求。
结语原子力显微镜作为一种强大的纳米级成像工具，已经在许多领域展现出巨大的潜力。
原子力显微镜的成像原理和应用
原子力显微镜的成像原理和应用现代科技的发展让我们能够看到世界上更微小的结构，而原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM）是一种广泛应用于纳米尺度的表面形貌和力学性质研究的工具之一。
AFM不像光学显微镜一样使用光学或电子束来成像样品表面，而是基于扫描探针显微镜和原子力成像的原理。
本文将详细介绍AFM的成像原理和应用。
一、成像原理原子力显微镜（AFM）是基于扫描探针显微镜的工作原理设计的一种纳米级表面形貌探测仪器。
与扫描电子显微镜（SEM）等其他扫描探针显微镜不同的是，AFM的探针具有纳米级的精度，并且能够在不破坏样品的情况下进行表面成像。
其主要包括以下两个关键技术：1、扫描探针技术扫描探针技术是AFM成像的核心，也是其特色之一。
AFM的探针通常是一块非常细小的针尖，通过微机电系统（MEMS）和纳米加工技术制作而成，通常使用硅、钨、铂等材料。
在扫描探针技术中，探针轻轻接触样品表面，并通过针尖的弹性形变来感知样品表面的形态，使AFM能够高精度地观察样品表面的形貌变化。
2、原子力显像技术AFM的工作原理是在探针与样品之间建立一个非常小的力场，在探针和样品之间建立一个距离梯度，探针靠近样品时受到吸引力，避免探针破坏表面结构，探针与样品之间的力极小化，探针受到的力非常微弱，很难被探针本身所感知。
AFM测量样品时，可以通过扫描探针和样品之间的距离和针尖的反射率等来建立样品表面的三维形貌图像。
与其他扫描探针显微镜不同的是，AFM 采用了力显像原理，使其能够同时显示样品表面的形貌和力学性质。
二、应用领域1、物理学AFM在物理学研究中扮演重要的角色。
纳米科学是物理学领域中研究特别结构和性能的分支，在纳米水平上，各种物理现象表现出宏观科学无法看到的新特性。
AFM通过成像样品表面的原子级别的结构，可以研究物质的各种物理属性。
它可以提供关于纳米结构和物质力学性质的重要信息，这些信息对深入理解物质和性能的特性非常重要。
原子力显微镜的实验原理和应用
原子力显微镜的实验原理和应用原子力显微镜又称作扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscopy），是一种高分辨率的表面显微镜。
与传统的光学显微镜和电子显微镜不同，原子力显微镜可以在原子尺度下进行观察，能够接近甚至达到原子级别的分辨率，可以对样品表面的形貌和电学性质进行研究，应用十分广泛。
原理原子力显微镜的基本原理是在样品表面和微小的扫描探头（针尖）之间产生晶格力作用，利用针尖的扫描探测样品表面均匀的电子密度分布。
探头的尖端与样品表面的原子产生相互作用，产生一个吸引或排斥的作用力，这个力的大小和方向都会发生改变，因而在探头和样品表面之间会出现来回晃动的微小变化。
原子力显微镜是通过测量探针与样品表面之间的力来获取样品表面的形貌等信息的。
在扫描的过程中，探针不停地沿着扫描方向（x和y坐标轴）上下震动，保持在一个非常接近于样品表面的距离（一般是几纳米）。
然后就可以计算出样品表面上各个点离探针的距离。
这里所测量到的距离，比传统光学显微镜或电子显微镜的分辨率高很多，并且该技术还可以在空气、液体等多种环境下使用。
应用原子力显微镜具有极高的分辨率，因此应用范围非常广泛。
以下是一些常见的应用领域：1.纳米科学研究原子力显微镜的分辨率可以达到纳米级别，可以研究各种材料在纳米尺度下的表面结构和形貌。
因此，它非常有用于研究纳米科学领域，如纳米材料合成、磁性材料、生物分子等。
2.生物医学研究原子力显微镜可以用来研究生物分子，如蛋白质、DNA、RNA 等，这对研究生物学和医学非常有用。
利用原子力显微镜还可以研究细胞表面的形态学变化、细胞生物物理性质和细胞内分子运动。
3.材料科学研究原子力显微镜的高分辨率使其非常适合研究材料性质、材料表面微观结构、材料加工以及材料在不同条件下的变化。
例如，原子力显微镜可以研究金属、半导体、掺杂材料、催化剂和涂层等材料的表面形貌和电学性质。
4.纳米机器人研究原子力显微镜可以操作单个原子或分子，这为构建纳米机器提供了可能。
原子力显微镜的原理及应用
原子力显微镜的原理及应用1. 原子力显微镜的原理原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种基于探针与样品之间的相互作用力进行显微观测的仪器。
它利用微小探针在纳米尺度上与样品表面的相互作用力，通过测量探针的位移或力的变化，实现对样品表面形貌和性质的高分辨率表征。
1.1 原子力显微镜的探针•原子力显微镜的探针通常由单个或多个纳米尺寸的晶体材料制成，如硅、碳纳米管等。
探针的尖端具有非常尖锐的几何形状，其尺寸可以控制在纳米级别。
1.2 原子力显微镜的工作原理•原子力显微镜在扫描过程中，探针通过微小的弹簧力和表面之间的静电引力或范德华力等相互作用力与样品表面发生作用。
这些相互作用力的变化通过探针的位移或力的变化传递给检测系统，最终生成样品表面的形貌和性质图像。
2. 原子力显微镜的应用原子力显微镜在材料科学、表面物理和生物科学等领域有着广泛的应用。
下面列举了一些常见的应用领域。
2.1 材料表面形貌与性质分析•原子力显微镜能够对材料表面的形貌和性质进行高分辨率的表征，包括表面粗糙度、晶体结构、自组装行为等。
这对于材料的表面工艺和性能研究具有非常重要的意义。
2.2 生物样品的形态学研究•原子力显微镜可以对生物样品中的细胞、细胞器、蛋白质等进行高分辨率的形态学研究。
通过观察生物样品的表面形貌和结构，可以获取关于其生物学功能和病理变化的重要信息。
2.3 表面力学性能的表征•原子力显微镜可以通过对探针与样品之间的弹性变形进行测量，实现对样品的力学性能进行表征。
这对于材料的力学性能分析、薄膜的力学性质研究等具有重要意义。
2.4 纳米加工与纳米操控•原子力显微镜不仅可以用于纳米尺度下的观察，还可以通过在探针尖端施加微小力量，实现纳米级别的加工和操纵。
这对于纳米器件的制备和纳米材料的操控具有非常重要的应用前景。
2.5 电磁性能的表征•原子力显微镜可以通过测量在电磁场作用下样品表面的位移或力的变化，实现对电磁性能的表征，包括电容、导电性等。
原子力显微镜的原理和应用
原子力显微镜的原理和应用概述原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种高分辨率的显微镜技术，它利用原子力与样品表面的相互作用来获取高分辨率的表面形貌信息。
本文将介绍原子力显微镜的原理和应用。
原理原子力显微镜的工作原理基于原子力的相互作用。
当显微探针接触到样品表面时，电荷间的相互作用力、范德华力和弹性力等会产生一个相互作用力，这个力会引起探针的偏转。
通过测量探针的偏转，我们可以获得样品表面的形貌信息。
原子力显微镜可以实现纳米级别的表面分辨率。
应用原子力显微镜在许多科学领域中都有广泛的应用，下面介绍几个主要的应用领域：1.表面形貌研究–原子力显微镜可以提供样品表面的形貌信息，从纳米到原子级别的表面结构都可以被观测到。
这对于材料科学、纳米科学和表面化学等领域的研究具有重要意义。
2.生物学研究–原子力显微镜可以用于生物学研究中的细胞和生物大分子等样品的观测。
通过观察细胞表面的形貌和结构，可以了解细胞的形态学特征和组织结构，对于生物学的研究和疾病的诊断具有重要意义。
3.纳米器件制备与分析–原子力显微镜可以用于纳米器件的制备和分析。
通过在样品表面进行纳米级别的操控，可以实现纳米器件的组装和调整。
同时，通过原子力显微镜的测量，可以对纳米器件的性能进行评估和分析。
4.表面力研究–原子力显微镜可以用于研究表面间的非接触力。
通过测量探针和表面之间的力，可以了解表面的吸附性质、分子间的相互作用以及材料的力学性质等。
这对于材料科学和化学领域的研究具有重要意义。
5.纳米力学研究–原子力显微镜可以用于研究材料的纳米力学性质。
通过测量样品表面的力曲线，可以获得材料的力学性质，如硬度、弹性模量等。
这对于材料科学和材料工程的研究具有重要意义。
总结：原子力显微镜是一种基于原子力的高分辨率显微镜技术，可以用于表面形貌研究、生物学研究、纳米器件制备与分析、表面力研究以及纳米力学研究等领域。
它的广泛应用将推动科学研究和技术发展的进步。
原子力显微镜的工作原理和应用
原子力显微镜的工作原理和应用原子力显微镜被广泛应用于材料科学和纳米技术领域，可以帮助人们观察和研究几乎任何表面的形状和特性。
本文将介绍原子力显微镜的工作原理以及其在生物学和材料科学领域的应用。
一、原子力显微镜的工作原理原子力显微镜是一种扫描探针显微镜，它利用一根尖端非常尖锐的针通过控制力的作用来扫描样品表面。
与其他扫描探针显微镜不同的是，原子力显微镜扫描的距离只有几纳米至十纳米这么长，因此可以产生高度的细节及形状。
在原子力显微镜中，扫描针与样品表面之间设置有一个极其细微的探针尖端和样品表面上的原子表面，当二者相互接触时，扫描针会受到其中的原子引力或斥力的影响，这种影响被测量并转换为图像的亮度和颜色。
二、原子力显微镜在材料科学中的应用原子力显微镜在材料科学中的应用广泛，可以帮助科学家更好地了解材料的结构和特性，进而设计出更好的材料。
1.材料表面形貌观察原子力显微镜可以观察到几乎所有物质的表面形貌，而不需要特殊准备样品过程。
这对于研究材料表面的形貌和结构非常重要，可以提供关于材料性质、制备方法等的重要信息。
2.纳米材料研究纳米材料在材料科学中具有重要的地位，因为它们具有独特的物理和化学性质。
用原子力显微镜可以观察和研究纳米颗粒、纳米线、纳米棒等纳米材料，能够得出纳米结构的大小、形状和分布等的相关参数。
三、原子力显微镜在生物学中的应用除了在材料科学中的应用，原子力显微镜还被广泛应用于生物学领域，因为它可以观察活细胞以及细胞内的分子。
1.大分子结构解析原子力显微镜可以在几乎液态气十亿个分子级别上进行研究，这使得研究生物分子等复杂大分子的结构成为可能，并且能够帮助人们理解这些大分子的功能。
2.生物分子相互作用研究通过在纳米级别上观察蛋白质、DNA或RNA及其他生物大分子表面的相互作用，原子力显微镜可以揭示这些分子是如何相互作用和合作的。
总之，原子力显微镜是一个强大的工具，可以帮助科学家更好地了解材料和生物体系的结构和功能，为人们开发新材料和药物提供了有力的支持。
原子力显微镜原理及操作流程讲义
原子力显微镜原理及操作流程讲义一、原子力显微镜的原理1.相互作用力的测量AFM利用一个非弹性的探针来感知样品表面和探针之间的相互作用力，这种力包括引力、斥力、摩擦力等。
通常情况下，探针通过压电晶体驱动，使其随着样品表面的形貌变化而移动，然后通过探针的振动分析探针与样品之间的相互作用力。
2.记录相互作用力的变化AFM中的扫描头会在样品表面进行移动，同时实时记录探针在各个位置处的相互作用力的变化，在计算机中生成一个力曲线。
通过对这些力曲线的分析，可以获得样品的表面形貌信息。
3.形成图像最后，利用计算机对力曲线进行处理和分析，并在一个图像平面上显示出样品表面的形貌，形成原子级分辨率的图像。
这种图像可以清晰地显示出样品表面的凹凸不平，甚至可以分辨出单个原子的位置。
二、原子力显微镜的操作流程1.准备工作首先需要对AFM进行准备，包括打开设备电源，检查探针是否安装正确，并校准扫描仪的各个参数。
2.选择扫描区域根据需要观察的区域，使用光学显微镜或者扫描电子显微镜来确定样品表面的位置，并将其对准到扫描范围内。
3.定义扫描参数通过在控制软件中设置扫描参数，包括扫描速度、扫描范围、采样点数等。
4.扫描样品将样品放置在AFM扫描台上，并通过控制软件开始扫描。
在扫描过程中，探针将会在样品表面进行移动，并测量相互作用力的变化。
5.数据分析与图像处理扫描结束后，将会得到一组原子级分辨率的数据，通过计算机软件对数据进行处理和分析，包括平均滤波、高斯滤波、拟合等处理方法。
然后将处理后的数据转化为图像，用于观察和分析。
6.数据展示将处理后的图像进行保存、打印或导出，以便进一步的研究和分析。
总结：原子力显微镜通过测量探针与样品表面之间的相互作用力的变化，实现了对样品表面的高分辨率成像。
其操作流程主要包括对设备进行准备、选择扫描区域、定义扫描参数、扫描样品、数据分析与图像处理以及数据展示。
通过这一系列的操作步骤，可以获得原子级分辨率的样品表面形貌图像，对于表面形貌的研究具有非常重要的意义。
原子力显微镜的原理及其应用
原子力显微镜的原理及其应用原子力显微镜（AFM）是一种高分辨率的显微技术，能够在几个纳米级别以内测量表面的形貌和性质。
与传统的光学显微镜相比，原子力显微镜具有更高的分辨率和更广泛的应用范围。
本文将探讨原子力显微镜的工作原理和主要应用。
一、原子力显微镜的工作原理原子力显微镜的基本原理是利用探针在被测物体表面扫描，测量其力和形状，从而得到样品表面的拓扑图像和力学特性。
设探针与样品表面间的力为F，探针运动的偏离量为Z，则探针与样品表面之间存在一种相互作用力，即范德华力、静电力、化学键连接力和弹性力等。
这些相互作用力的大小和方向都受到探针和样品之间的距离、形状和电荷等因素的影响。
原子力显微镜的探针一般是一根非常细且硬的尖针，通常使用硅或金属等材料制成，其直径只有几纳米，长度也只有数十微米。
当探针接近样品表面时，它与表面之间的相互作用力会使得探针距离表面的距离发生微小的变化。
这种变化会导致探针所受到的力和位置的微小变化，从而可以测量出样品表面的拓扑图像和表面力学性质。
在实际应用中，为了测量样品表面的形貌和性质，需要将探针移动到样品表面附近，然后以一定的速度扫描样品表面。
探针扫描过程中，会通过一些反馈机制来保持探针和样品表面之间的相互作用力稳定，该反馈系统通常可以通过悬挂立体反射镜、压电驱动水晶和光束等方式来实现。
由此，原子力显微镜可以获得高分辨率、高精度和高重复性的样品表面形貌和性质数据。
二、原子力显微镜的应用原子力显微镜的应用范围非常广泛，包括材料科学、表界面科学、电子学、生物医学、能源环保等多个领域。
下面我们将分别介绍其主要应用领域。
1、材料科学原子力显微镜在材料科学领域的应用非常广泛，可以用于材料表面和界面的精细结构研究、材料性能测试和材料失效分析。
例如，原子力显微镜可以在材料表面上观察和测量微小的纳米级别结构，得到样品中的化学元素分布情况、晶体结构和晶体生长机制等信息。
另外，原子力显微镜还可以用来研究材料表面的物理化学性质，如表面粘附力、表面摩擦力、表面电荷密度和表面能等。
原子力显微镜的工作原理与应用
原子力显微镜的工作原理与应用引言：原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种高分辨率的显微镜，可以用于观察和测量物质表面的原子和分子结构。
它的工作原理基于原子之间的相互作用力，通过探针与样品表面的相互作用来获取样品表面的形貌和力学性质。
本文将介绍原子力显微镜的工作原理和一些应用领域。
一、工作原理原子力显微镜的工作原理基于原子之间的相互作用力，主要包括静电力、范德华力、电磁力和弹性力等。
它通过在探针尖端附近施加一个微小的力，使探针与样品表面的相互作用达到平衡，从而可以测量样品表面的形貌和力学性质。
原子力显微镜的探针是由一根非常细的弹性杆和一个微小的探针尖端组成。
当探针尖端接触到样品表面时，原子之间的相互作用力会使探针产生微小的弯曲。
通过测量探针的弯曲程度，可以得到样品表面的形貌信息。
二、应用领域原子力显微镜在各个领域都有广泛的应用，下面介绍几个常见的应用领域。
1. 材料科学原子力显微镜可以用于材料的表面形貌和结构的研究。
通过观察材料表面的原子和分子结构，可以了解材料的晶体结构、晶格缺陷以及表面的化学反应等信息。
这对于材料的设计和改进具有重要意义。
2. 生物科学原子力显微镜在生物科学领域也有广泛的应用。
它可以观察生物分子、细胞和组织的形貌和结构，揭示生物分子之间的相互作用和生物体的功能机制。
例如，原子力显微镜可以用于观察蛋白质的折叠过程、细胞膜的结构和细胞器的分布等。
3. 纳米技术原子力显微镜在纳米技术领域有着重要的应用。
它可以用于纳米材料的制备和表征。
通过观察纳米材料的形貌和结构，可以了解纳米材料的尺寸、形状和分布等信息。
这对于纳米材料的性能研究和应用具有重要意义。
4. 表面科学原子力显微镜在表面科学领域也有广泛的应用。
它可以用于观察表面的形貌和结构，研究表面的物理和化学性质。
例如，原子力显微镜可以用于观察金属表面的腐蚀过程、材料表面的摩擦和磨损等。
结论：原子力显微镜是一种重要的高分辨率显微镜，可以用于观察和测量物质表面的原子和分子结构。
原子力显微镜的工作原理及应用
原子力显微镜的工作原理及应用原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）是一种扫描探针显微镜，主要通过测量探针与被测物质表面之间的相互作用力来实现对原子和分子级别的表面形貌和物理特性的表征和观测。
它以高分辨率、高灵敏度、高可重复性等优点，在材料科学、生物学、化学等领域得到极为广泛的应用。
1、工作原理原子力显微镜的探针是由尖锐锥形针尖制成，针尖的下端通常只有几个纳米的尺寸。
扫描时，针尖以缓慢的速度（通常为几纳米/秒）在被测样品表面上扫描，此时接收器将记录扫描得到的信号。
通过处理接收器记录下的信号，可以获得样品表面的横截面拓扑图，以及其在物理参数（例如硬度、电荷密度）方面的评价。
该显微镜的探针又是由悬挂在弹簧上的支撑杆和针尖组成的。
在扫描过程中，支撑杆按一定的频率震动，这种震动被称为谐振频率。
在接近被测样品表面时，原子力开始影响到探针的谐振频率，导致探针振动的振幅发生变化。
相应的，成像时通过记录探针振幅的变化程度，可以获得针尖与样品之间的交互力信号，并绘制样品表面的拓扑图。
2、应用原子力显微镜是一种非常强大的工具，可以被应用于很多领域。
以下是一些常用的应用：（1）材料科学原子力显微镜可以被用于材料表面的研究。
例如，它可以测量表面的粘度和硬度，帮助优化涂层、摩擦材料和润滑剂等产品的性能。
此外，它还可以被用于纳米材料的制备和探究，例如研究分子自组装、生物分子组装等过程。
（2）生物领域原子力显微镜可以被用于生物分子的研究，例如单分子的检测、纳米颗粒的表面形貌分析、蛋白质空间结构的绘制等。
此外，它还可以用于研究生物分子的交互作用、诊断疾病和制备分子电子学和生物电子学的材料。
（3）化学领域原子力显微镜可以被用于化学品的检测和表征。
它可以帮助测量材料的电荷密度、催化剂的活性和分子间的相互作用效率。
此外，它还可以用于绘制分子形貌和分析反应进程及反应物的表面活性。
总之，原子力显微镜作为一种非常强大的显微镜，具有大量的优点和应用，帮助解决许多学科的问题。
原子力显微镜的原理与应用
原子力显微镜的原理与应用一、原子力显微镜原理原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种常用于纳米尺度下表面形貌和性质研究的高分辨率显微镜。
其主要原理是利用探针与样品之间的相互作用力，以纳米级的精度扫描样品表面，从而获得高分辨率的三维表面形貌和材料物性信息。
原子力显微镜最常用的工作模式是接触模式（Contact Mode）。
在接触模式下，探针与样品表面保持接触，并且以恒定的力进行扫描。
当探针经过起伏不平的样品表面时，探针的位置会发生微小的变化。
这种变化通过光束偏转仪或能力传感器来检测，然后转化为图像。
通过控制探针的位置和扫描速度，可以得到样品表面的形貌图。
二、原子力显微镜应用1.表面形貌研究：原子级的扫描分辨率使得原子力显微镜成为研究表面形貌的重要工具。
通过扫描样品表面，可以获得高分辨率的三维形貌图。
这对于研究材料的形貌特征、界面结构以及表面粗糙度等具有重要意义。
2.表面力学性质研究：原子力显微镜可以通过测量探针与样品间的相互作用力来研究材料的力学性质。
例如，可以测量材料的硬度、弹性模量、黏弹性和粘附力等。
这对于研究材料的机械性能以及材料的物理性质-结构关系具有重要意义。
3.磁性性质研究：原子力显微镜可以通过在探针上固定磁性材料或在样品表面施加磁场的方法来研究材料的磁性性质。
通过观察探针磁性材料的磁力与样品表面之间的相互作用，可以获得关于样品磁性的信息。
4.电子性质研究：原子力显微镜可以通过在探针上固定金属导电薄膜，或者在样品表面施加外加电场的方法来研究材料的电子性质。
通过测量电流和电势之间的关系，可以获得关于材料的导电性质、介电性质以及电子输运特性等信息。
5.生物领域应用：原子力显微镜在生物领域的应用也非常重要。
它可以用于研究生物大分子的形貌、结构和功能。
例如，可以通过原子力显微镜观察蛋白质、DNA和细胞的形态结构，研究生物分子的折叠和组装过程。
总之，原子力显微镜作为一种高分辨率的显微技术，广泛应用于材料科学、纳米科学、生物科学等领域。
现代材料分析方法原子力显微镜
现代材料分析方法原子力显微镜引言：原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种重要的现代材料分析方法。
它是扫描探针显微技术的延伸，能够在纳米尺度上实现高分辨率的表面形态观察与力学性质测量。
本文将对原子力显微镜的原理、工作方式以及在材料分析中的应用进行详细介绍。
一、原子力显微镜的原理原子力显微镜是通过采用一根非常细微的探针来扫描样品表面，然后利用由探针与样品表面之间的相互作用引起的微小位移或力的变化，来获取表面形貌的一种显微仪器。
原子力显微镜的操作原理可以概括为以下几个步骤：1.将探针靠近样品表面，形成近邻距离；2.探针与样品表面之间的相互作用（通常为范德华力和弹性力）引起探针的振幅或共振频率的改变；3.根据这些变化，通过对探针进行调节使得探针与样品之间的相互作用恒定；4.再根据探针的运动调整探针离开样品的高度，保持探针与样品之间的恒定力。
二、原子力显微镜的工作方式原子力显微镜可以通过不同的工作方式来获得不同的信息。
1.接触模式：探针与样品之间保持接触，并测量在探针与样品之间的范德华力改变时探针的位移而获得表面形貌。
探针与样品的接触会引起样品表面的损伤，不适合对脆性材料的表面进行观察。
2.非接触模式：探针与样品之间存在离散的范德华力。
探针通过振动，在探针和样品之间测量相互作用的变化。
非接触模式适用于对脆性材料和生物样品的观察。
3.谐振模式：探针在谐振频率附近振动，在探针和样品之间测量相互作用的变化。
谐振模式可以获得高分辨率的表面形貌和弹性性质。
三、原子力显微镜在材料分析中的应用原子力显微镜在材料科学领域有广泛的应用，可以用于表面形貌观察、力学性质测量、电学性质研究等方面。
1.表面形貌观察：原子力显微镜具有高分辨率，可以实现对表面纳米结构的直接观察。
通过扫描样品表面，可以获取材料表面的形貌、粗糙度和形貌特征等信息。
2.力学性质测量：原子力显微镜可以通过测量探针和样品之间的相互作用力来获得样品的力学性质。
原子力显微镜的原理与应用
原子力显微镜的原理与应用原子力显微镜是一种用于研究材料表面的高分辨率显微镜，它的原理是利用高度敏感的探针扫描样品表面，并通过探针与样品之间的相互作用力来测量样品表面的形貌、物理性质和化学性质。
本文将深入介绍原子力显微镜的原理和应用。
一、原子力显微镜的原理原子力显微镜是在1986年由瑞士物理学家Binnig和Rohrer发明的。
它是一种高分辨率显微镜，可以在原子尺度下观察和测量材料表面的形貌和性质。
原子力显微镜的核心部件是一根名为探针的微小尖端，通常是由金属或半导体制成。
探针的尖端具有非常尖锐的锥形结构，其尺寸只有几奈米左右。
当探针与样品表面接触时，它们之间的作用力将导致探针弯曲或振动。
显微镜会测量这种作用力的变化，并以此计算出样品表面的形貌和性质。
原子力显微镜的操作原理基于扫描隧道显微镜。
两者都是通过探针与样品之间的相互作用来测量样品表面的形貌和性质。
但是，原子力显微镜的探针尖端比隧道显微镜的探针尖端更大，因此可以用于观察比较大的样品表面。
此外，原子力显微镜还具有更高的空间解析度和更好的化学分辨率。
二、原子力显微镜的应用原子力显微镜的应用非常广泛，它可以用于研究材料科学、物理学、化学、生物学等各个领域。
以下是原子力显微镜的几个典型应用。
1、材料科学原子力显微镜可以用于研究各种不同类型的材料，包括金属、半导体、陶瓷、聚合物等。
它可以用于观察材料表面的形貌和结构，如纳米颗粒、超薄膜等。
此外，它还可以研究材料的力学性能、热学性质、电学性质等。
2、纳米技术随着纳米技术的发展，原子力显微镜已经成为研究纳米材料的重要工具。
它可以用于研究纳米材料的形貌、结构、电学性质、磁学性质、光学性质等。
此外，它还可以用于制备纳米结构，并对其性质进行表征。
3、生物学原子力显微镜可以用于研究生物体系的形貌和结构，如蛋白质、DNA、生物膜等。
它可以观察生物分子的三维结构，探索生物分子之间的相互作用，并研究生物分子的功能。
4、表面化学原子力显微镜可以用于研究表面化学反应和表面分子吸附的动力学过程。
原子力显微镜的原理及使用
原子力显微镜的原理及使用原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种基于原子力相互作用原理的高分辨率显微镜。
它通过在扫描探针与样品表面之间施加微小力量，测量和绘制出样品表面的形貌和力学性质。
与其他显微镜相比，原子力显微镜具有极高的分辨率和灵敏度，能以原子甚至分子级别观察样品。
原理：原子力显微镜的工作原理基于原子尖端与样品表面之间的相互作用。
在扫描探针尖端和样品表面之间，施加微小的力量（约为纳牛顿级别），探针的弹性偏转将力的大小和方向传递给探测器，从而得到力的信息。
通过扫描样品表面并记录每个位置的力信息，可以绘制出样品的形貌图像。
在原子力显微镜中，主要有三种模式的操作：接触模式、非接触模式和侧向力模式。
在接触模式中，探针尖端直接接触样品表面，通过在探针和样品之间施加恒定的力，测量表面的形貌。
在非接触模式中，探针尖端悬浮在样品表面之上，仅通过测量探针与样品之间的相互作用力，获取样品表面的形貌信息。
在侧向力模式中，除了测量垂直于样品表面的力，还测量样品表面上的侧向力，可以获得样品的力学性质和摩擦特性。
使用：1.表面形貌研究：原子力显微镜可以以原子级别的分辨率观察样品表面的形貌，用于研究材料的微观结构、晶体生长和表面粗糙度等。
例如，用于研究纳米颗粒、纳米线和表面薄膜等材料。
2.生物学研究：原子力显微镜对于生物学研究非常重要，可以实时观察和测量生物大分子（如蛋白质、DNA）的结构和相互作用力。
通过测量生物分子的力学性质，可以了解细胞力学特性、膜蛋白的功能和抗体与抗原的相互作用等。
3.材料力学性质研究：原子力显微镜可以测量样品表面的力学性质，如硬度、弹性模量和摩擦力等。
这些信息对于材料科学和工程应用具有重要意义，可以帮助研究人员设计和改进材料的性能。
4.磁性材料研究：原子力显微镜还可以用于研究磁性材料的表面形貌和磁性特性。
通过在磁场中操作探针，可以测量和操控样品表面的磁场分布，用于磁性材料的研究和应用。
原子力显微镜技术发展与应用
原子力显微镜技术发展与应用随着科学技术的不断发展，人们越来越能够探索更微小的世界，并对其中的微观结构进行研究。
在这样的背景下，原子力显微镜(AF M)技术因其可以让人们观测原子级别的微观结构而备受关注。
近年来，该技术不断得到改进和应用，为材料科学、生物学和纳米技术等领域的研究提供了强有力的辅助手段。
一、原子力显微镜技术的基本原理原子力显微镜技术是一种通过扫描探针检测样品表面的非接触测量技术。
它的基本原理是利用一根尖端半径只有几纳米的杆来与样品表面进行相互作用，随后通过传感器来测量这些相互作用的力度，并将其转换为可视化的图像。
与传统的光学显微镜相比，原子力显微镜能够将样品中的原子和分子精确地放大并呈现出图像，这是由于它操作于原子级别的微观结构，并且可以在空气、水和真空中进行测量。
二、原子力显微镜技术的进展原子力显微镜技术的不断发展，尤其是在探针、测量技术和数据分析方面，为其应用提供了更高精度和更可靠的信息。
例如，现在的原子力显微镜可以实现原子分辨率的成像，同时也可以在原子和分子水平上进行力谱测量，这两个功能分别适用于材料科学和生命科学领域的研究。
此外，近年来，原子力显微镜还在分子组装和处理方面做出了贡献。
通过改变探针的材料、形状和尺寸，研究人员制造出各种不同的探针，以满足分子组装的不同要求。
这些探针可以精确地控制分子之间的相互作用，并将它们堆叠在一起从而形成所需的结构。
三、原子力显微镜技术的应用原子力显微镜技术的应用非常广泛，尤其在材料科学、生物学和纳米技术领域。
下面分别介绍一下这些方面的应用情况：1.材料科学材料科学是原子力显微镜技术应用的最主要领域之一。
在材料的研究中，原子力显微镜可以帮助科学家充分了解材料中的晶体结构、表面形貌和电子结构等关键性质。
此外，原子力显微镜还可以通过原位实时跟踪反应过程中的物相转化、纳米颗粒形成、生长和熟化等实验研究，为材料制备和制造提供指导。
2. 生物学生命科学领域的研究也受益于原子力显微镜技术。
新型原子力显微镜技术的研究与应用
新型原子力显微镜技术的研究与应用随着科学技术的不断发展，各种新型的原子力显微镜技术逐渐应用到物质科学、生物学等领域，为科学研究和工业生产提供了强有力的技术支持。
一、新型原子力显微镜技术的原理原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）技术是一种利用探针和物质表面之间的相互作用力，通过在不接触的情况下测量样品表面的形态学和物理性质的高分辨率表面分析技术。
AFM技术具有高分辨率、高灵敏度、无需真空环境、能够测量样品的力学、磁学、电学、光学等多方面物理性质的特点。
随着科学技术的发展，越来越多的新型原子力显微镜技术得到了广泛应用。
二、热原子力显微镜热原子力显微镜（Thermal Atomic Force Microscope，TAFM）技术是基于AFM技术，通过利用样品表面的热扰动与探针间的相互作用力，在常温常压下实现超高分辨率成像的表面分析技术。
热原子力显微镜技术主要应用于纳米尺度下的表面结构与性质的研究。
三、扫描隧道显微镜扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope，STM）技术是一种利用金属探针的隧道效应，测量样品表面的电子态密度分布和结构的表面分析技术。
STM技术具有超高分辨率、原子级别的表面成像能力，可以实现不同材料间的原子级别成像。
四、磁控扫描隧道显微镜磁控扫描隧道显微镜（Magnetic Tunneling Scanning Microscope，MT-MFM）技术是一种基于扫描隧道显微镜技术，利用样品中的磁性区域对探针的隧道电流和信号的影响，实现对样品表面磁性区域的高分辨率成像技术。
MT-MFM技术主要应用于涉及磁性材料的研究，如纳米材料、磁性存储器等。
五、声力显微镜声力显微镜（Acoustic Force Microscope，AFAM）技术是一种基于AFM技术，利用探针的梳形振动产生声波刺激样品表面，从而引起或激发样品内部的机械振动，根据样品内部的机械振动响应，实现对样品微观结构和物性的非接触式观测技术。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
由于是接触式扫描，在接触样品时可能会是样 品表面弯曲。
经过多次扫描后，针尖或者样品有钝化现象。
原子力显微镜的原理及应用
特点：
通常情况下，接触模式都可以产生稳定的、分 辨率高的图像。但是这种模式不适用于研究生 物大分子、低弹性模量样品以及容易移动和变 形的样品。
原子力显微镜的原理及应用
接触式（ contact mode）
原子力显微镜的原理及应用
非接触式原子力显微镜
在非接触模式中，针尖在样品表面的上方振动 ，始终不与样品接触，探测器检测的是范德华 作用力和静电力等对成像样品没有破坏的长程 作用力。
需要使用较坚硬的悬臂（防止与样品接触）。 所得到的信号更小，需要更灵敏的装置，这种
原子力显微镜的原理及应用
隧道效应
经典物理学认为，物体越过势垒，有一阈值能量；粒子能量小 于此能量则不能越过，大于此能量则可以越过。例如骑自行车 过小坡，先用力骑，如果坡很低，不蹬自行车也能靠惯性过去。 如果坡很高，不蹬自行车，车到一半就停住，然后退回去。
量子力学则认为，即使粒子能量小于阈值能量，很多粒子冲向 势垒，一部分粒子反弹，还会有一些粒子能过去，好像有一个 隧道，故名隧道效应（quantum tunneling）。可见，宏观上 的确定性在微观上往往就具有不确定性。虽然在通常的情况下， 隧道效应并不影响经典的宏观效应，因为隧穿几率极小，但在 某些特丁的条件下宏观的隧道效应也会出现。
Z XY
Cantilever 擺動 的方向
Mover
Mover
原子力显微镜的原理及应用
返回
AFM有多种工作模式
1. 接触模式（Contact Mode）：作用力在斥力范围，力 的量级为10－9∼10－8N，或1∼10eV/Å。可达到原子级 分辨率。
2. 非接触模式（Non-Contact Mode）：作用力在引力范 围，包括范德华力、静电力或磁力等。
Atomic Force Microscopy 原子力显微镜（AFM）
原子力显微镜的原理及应用
目录：
AFM的发展历史 AFM的原理 AFM的分类 AFM机器的组成 影响AFM分辨率的因素 AFM技术应用举例 照片举例 AFM的缺点
原子力显微镜的原理及应用
高级显微镜
1938年，德国工程师Max Knoll和Ernst Ruska 制造出了世界上第一台透射电子显微镜（TEM）
原子力显微镜的原理及应用
原子力显微镜的原理及应用
原子力显微镜的原理及应用
在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检 测部分、反馈系统。
原子力显微镜的原理及应用
力检测部分： 在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的
原子力显微镜的原理及应用
非接触式（non contact mode）
原子力显微镜的原理及应用
间歇接触式原子力显微镜
微悬臂在其共振频率附近做受迫振动，振荡的 针尖轻轻的敲击表面，间断地和样品接触。当 针尖与样品不接触时，微悬臂以最大振幅自由 振荡。当针尖与样品表面接触时，尽管压电陶 瓷片以同样的能量激发微悬臂振荡，但是空间 阻碍作用使得微悬臂的振幅减小。反馈系统控 制微悬臂的振幅恒定，针尖就跟随表面的起伏 上下移动获得形貌信息。
原子力显微镜的原理及应用
AFM出现的意义
STM的原理是电子的“隧道效应”，所以只能 测导体和部分半导体
1985年，IBM公司的Binning和Stanford大学的 Quate研发出了原子力显微镜（AFM），弥补了 STM的不足
原子力显微镜的原理及应用
返回
成像原理
atom atom
atom atom
1952年，英国工程师Charles Oatley制造出了 第一台扫描电子显微镜（SEM） 至此，电子显微镜的分辨率达到纳米级
原子力显微镜的原理及应用
1983年，IBM公司苏黎世实验室的两位科学家 Gerd Binnig和Heinrich Rohrer发明了扫描隧 道显微镜（STM）
应用电子的“隧道效应”这一原理，对导体或 半导体进行观测
原子力显微镜的原理及应用
特点：
对于一些与基底结合不牢固的样品，轻敲模式 与接触模式相比，很大程度地降低了针尖对表 面结构的“搬运效应”。
样品表面起伏较大的大型扫描比非接触式的更 有效。
原子力显微镜的原理及应用
间歇接触式（tapping mode）
原子力显微镜的原理及应用
返回
原子力显微镜的构成
3. 轻敲模式（Tapping Mode） 4. Interleave模式（Interleave Normal Mode/Lift Mode） 5. 力调制模式（Force Modulation Mode） 6. 力曲线模式（Force Curve Mode）
原子力显微镜的原理及应用
接触式原子力显微镜
Expulsive force
Attractive force
原子力显微镜的原理及应用
恒定力量或者恒定高度
原子力显微镜的原理及应用
探针如何成像
原子力显微镜的原理及应用
表面形貌和材料如何测量
垂直信號的變化 即樣本的表面變化
水平信號的變化 即樣本的材質變化
Z XY
Cantilever 擺動 的方向
模式虽然增加了显微镜的灵敏度，但当针尖和 样品之间的距离较长时，分辨率要比接触模式 和轻敲模式都低。
原子力显微镜的原理及应用
特点：
由于为非接触状态，对于研究柔软或有弹性的 样品较佳，而且针尖或者样品表面不会有钝化 效应，不过会有误判现象。这种模式的操作相 对较难，通常不适用于在液体中成像，在生物 中的应用也很少。
原子力显微镜的原理及应用
类似非接触式AFM，比非接触式更靠近样品表 面。损害样品的可能性比接触式少（不用侧面 力，摩擦或者拖拽）。
轻敲模式的分辨率和接触模式一样好，而且由 于接触时间非常短暂，针尖与样品的相互作用 力很小，通常为1皮牛顿（pN）～1纳牛顿（ nN），剪切力引起的分辨率的降低和对样品 的破坏几乎消失，所以适用于对生物大分子、 聚合物等软样品进行成像研究。