实验七 光具组基点的测定

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光具组基点的测定及数据处理

光具组基点的测定及数据处理

光具组基点的测定及数据处理光学仪器的使用需要进行精密的测量和校准,其中基点的测定是非常关键的一个环节。

本篇文章将阐述基点的测定方法以及数据处理过程。

一、基点的定义基点是指平面、球面或非球面透镜等镜面内部的一个确定点,用来确定这个镜面的位置和方向。

基点的测定有助于保证光学系统的精度和稳定性。

基点的测定需求专门的设备和技术。

通常需要使用干涉仪或等曲面仪等测量装置,并采取以下步骤进行测定:1. 拍摄干涉图或等曲面图:将需要测定基点的镜面放置在测量装置的平台上,通过干涉仪或等曲面仪等装置拍摄出对应的干涉图或等曲面图。

2. 分析干涉图或等曲面图:利用专业软件对拍摄的干涉图或等曲面图进行分析,可以得出关于测量装置和被测品的相关信息,包括镜面的曲率半径、球心位置、基点坐标等。

3. 精确测量基点位置:根据干涉图或等曲面图给出的粗略坐标位置,使用高精度的探针或测量仪器对基点位置进行进一步精确测量。

三、基点数据处理过程对于测定得到的基点数据,需要通过一系列的数据处理过程进行分析和计算,以确定其精确的位置和方向。

具体步骤如下:1. 基点分布分析:通过分析多个基点的坐标和权重,确定基点的分布情况,从而保证基点数据的准确性和可靠性。

2. 基点修正处理:遇到基点坐标不准确或基点间距不合理等问题,需要进行基点修正处理,以保证基点数据的精度和合理性。

3. 基点参数计算:基于测得的基点数据,计算出包括球心位置、曲率半径、基点的坐标等参数,从而确定光学系统的精度和优化方案。

综上所述,基点的测定及数据处理是光学仪器使用中非常关键的步骤之一,能够有效提升仪器性能和应用效果,因此需要重视和加强相应的技术和管理。

横向放大率法测定光具组的基点

横向放大率法测定光具组的基点
表 1 光具组基点测定数据表
次数 1 2 3 4 5
Δs/ cm - 11128 - 10180 - 5150 - 8179 - 5107
Δs′/ cm - 2116 - 10160 - 19152 - 10164 - 1123
β1
β2
f / cm f ′/ cm
- 01564 - 01345 - 10101 9186
L IU Zhu2qin
(College of Physics and Electronic Information , Yanan University , Yanan 716000 ,China)
Abstract :The t heory and met hod of using lateral magnification to determine t he cardinal point of compound optical system are int roduced. Since CCD is used ,t he high measurement precision is obtained.
第 25 卷第 8 期 2006 年 8 月
大 学 物 理 COLL EGE PH YSICS
Vol. 25 No. 8 Aug. 2006
横向放大率法测定光具组的基点
刘竹琴
(延安大学 物理与电子信息学院 ,陕西 延安 716000)
摘要 :介绍了用横向放大率法确定两薄透镜组成的光具组基点的原理和方法 ,该方法采用线阵光电耦合器件 (CCD) 测量 物经光学系统成像的横向放大率 ,进一步提高了测量精度.
- 11652 - 01596 - 10106 10103
- 31125 - 11156 - 10109 9191

光具组基点的测定

光具组基点的测定

光具组的基点摘要:本文主要介绍了如何利用光学参数测定仪的测节装置,测定透镜组的基点,加深对透镜组基点的理解和认识。

关键词:光具组主点主平面焦点焦平面节点节面引言:任意实际光学系统都是由多个透镜组合而成。

日常生活所用的光学仪器,如照相机镜头、显微镜物镜、目镜等,并非是单一薄镜头,而是由多个具有一定厚度的透镜组成的光组。

光组的作用和透镜相同,但成像质量更好。

为了使成像问题变得更为简单,可以求出实际光学系统的三对基点,利用这些基点,就可以用一个等效的光具组代替整个实际光学系统,不必去考虑光在该系统中的实际路径,从而确定像的大小和位置,使成像问题大大简化。

坐标原点如何更改,使高斯公式和横向放大率公式也适用于光组和薄透镜,是本实验的首要问题。

在光学中,由中心在同一直线上的两个或两个以上的球面组成的系统,称为共轴光组。

共轴光组是最简单的一种球面组合系统,也是一般复杂光学系统的基本单元。

若物方有一点、一直线或一平面,像方只有一点、一直线或一平面与之对应,则该系统称为理想共轴光组。

当把共轴系统作为一个整体,而不逐一的研究每一个面的成像时,则可用系统的几个特别的点来表征系统的成像上的性质,这几个特别的点就是系统的主焦点、主点和节点,它们统称为系统的基点。

无论共轴球面系统的具体布置如何,只要得知系统的这几个点,便可用非常简单的高斯公式或牛顿公式,计算共轭点的位置和成像的放大率等等。

实验中采用测节器来测定光具组的基点。

原理:测节器基本原理:如图1,设M、M’为光组二主平面,因光组在同一媒质中,光组的二主点主面与光轴之交点H、H’分别与N、N’相重合,F’为第二焦点。

设平行光如图射至光组后会聚与Q点,光束中通过第一节点N的光线PN,按节点角放大率K=±1的性质,透射光中必有光线N’Q与其共轭,且N’Q//PN,N’即为第二节点。

现假定光组绕N’点转过θ(图中虚线示)。

引入射光束方向未变,原先通过第一节点N之光线现变为P1N1,它与主光轴的夹角为α1,过N1点作辅助平行线原光轴后不难证明α’+θ=α1,说明P1N1//N’Q,成像光线N’Q并未因光组的旋转而改变方向和位置,即像点Q不因光组可以整组前、后移动,同时还可以绕垂直于它的主光轴的轴而转动。

透镜组基点的测定实验报告

透镜组基点的测定实验报告

透镜组基点的测定实验报告
实验报告(透镜组基点测定)
一、实验原理
透镜组基点测定是一种用来测定光的偏折或折射密度的实验方法,它是利用光的折射特性测定透镜组基点的结果。

当光线经过透镜时,其偏折量结果将决定透镜组基点的壁面壁高度,这种壁面壁高度即为透镜组基点。

透镜组基点测定的步骤如下:
1、将光源以垂直的形式照射到透镜组,使光源经过透镜,并得到偏折结果;
2、测量这个偏折结果,然后使用透镜组基点的数学公式来计算得到透镜组基点的壁面壁高;
3、校核透镜组基点壁面壁高的结果,如果结果不符合要求,可以调整光源的位置或者更换透镜,以获得更准确的结果。

二、实验过程
1、准备实验设备:实验室内均有光源、透镜、检测仪、微光探头等设备。

2、安装光源和透镜:将光源调节至垂直照射于指定位置的透镜上,并将透镜安装在指定位置的支撑上,以确保光源的正确位置和测量结果的准确性。

3、测量偏折结果:调节检测仪的参数,使其可以正确的测量出光源穿过透镜所产生的偏折结果。

4、计算透镜组基点:根据测量所得的偏折结果,使用透镜组基
点的数学公式计算所得透镜组基点的壁面壁高度。

5、校核结果:校核透镜组基点的壁面壁高,确保其符合要求。

三、实验结果
根据测量所得的偏折结果,计算得到透镜组基点的壁面壁高度为:46.32mm。

校核结果:透镜组基点的壁面壁高符合要求,实验结果有效。

四、结论
本次实验使用光的折射特性测定透镜组基点,经过测量校核,结果符合要求,实验达到预期效果。

光具组基点的测定

光具组基点的测定
H
F
F′
H′
y′
像方主点:H′;像方主平面:B′
两主点H、H′共轭
两主平面B、B′共轭
HF的距离: -f,物方焦距
-f
f′
H′F′的距离: f′,像方焦距
垂轴放大率
=


=
′ ′
=+1

问题讨论
n:Ʃ1前方介质折射率
Ʃ1 L Ʃ2
n′:Ʃ2后方介质折射率
n′
n
H
-u
K
H′
K′
-u′
≠ ′
光具组基点的测定
对应教材实验二,题目为:光具组基点的测定
目 录
01
问题讨论
04
实验目的
02
03
概念、原理与方法
05
实验内容
实验仪器
06
注意事项&拓展讨论
1.问题讨论
东北师范大学 物理学国家级实验教学示范中心
问题讨论
National Demonstration Center for Experimental Physics Education
以水为镜的物像倒影
非平面镜成像
问题讨论
光具组的成像过程


问题讨论
共轴光具组:由球心在同一直线上的一系列反射或折射球面
组成的光学系统。
理想成像:要求空间每一点都能严格成像,即物方的每个同
心光束都能转化为像方的一个同心光束。
理想光具组:满足理想成像要求的光具组称为理想光具组。
问题讨论
高斯(Carl Friedrich Gauss1777–1855)
点的左侧,反之。

= −

光具组的基点测定

光具组的基点测定

光具组的基点测定【实验目的】(1)了解测节器的构造及工作原理。

(2)加深对光具组基点的理解和认识。

(3)学会利用测节器测定光具组的主点及焦距。

【实验仪器】光学平台或光具座,测节器,薄透镜,物屏,光源,准直透镜(焦距大一些),平面反射镜,光具组,白屏,毫米尺,测微目镜。

【实验方法和步骤】(1)将光源、物屏S P 、准直物镜L 、测节器R 及白屏P '沿米尺置于光学平台或光具座上,调节其共轴。

(2)用自准方法调节物屏P 位于准直物镜L 的物方焦面上,调好后记录P 的位置,用毫米尺替换物屏P ,并保持毫米尺和L 的位置均不要再移动。

(3)测量准直物镜及透镜L 1L 、的焦距12L f '、2f '。

(4)将透镜1L 和按2L (21f f d )'+'〈组成光具组,置于测节器架上,调其共轴。

(5)照亮毫米尺,沿测节器架导轨前后移动透镜组,同时相应地前后移动白屏P '得到清晰的毫米尺像;轻轻小角度转动测节器,直至白屏上毫米尺像无横向移动为止,此时像方节点即在测节器架的转轴N 'Q Q '上;可用测微目镜观察毫米尺像。

(6)如步骤(5)中用测微目镜观察毫米尺像,此时改用白屏接收毫米尺像。

分别记录轴和焦点在米尺导轨上的位置,并从测节器导轨上记下的位置。

重复几次。

Q Q 'F '2L (7)将光具组转180度,此时原来的节点成为N N ',同上进行测量。

(8)绘图表示光具组主面及焦点的位置,计算焦距f '之值。

(9)取(21f f d )'+'〉,重复上述测量。

【思考题】1、第一主面靠近第一个透镜,第二个主面靠近第二个透镜,在什么条件下才是对的?(光具组由二薄透镜组成)。

2、由一凸透镜和一凹透镜组成的光具组,如何测量其基点(距离d 可自己设定)?。

【精选】光具组基点的测定

【精选】光具组基点的测定

【精选】光具组基点的测定光具组是指由一束光线通过多个光学元件组成的光路系统。

在实际光学设计和制造中,精确地确定光具组的基点是非常重要的。

本文将介绍光具组基点的测定方法。

一、测定基点的目的在光学元件的加工和组装过程中,需要确定光学元件的位置和方向,以保证光路的精确性和稳定性。

而光学元件的位置和方向则是由光具组基点决定的。

因此,测定光具组基点是非常重要的。

1. 光桥法光桥法是一种简单而有效的测量光具组基点的方法。

它的原理是利用光桥法测量光具组两端的光程差,然后根据光程差计算出光具组基点的位置。

具体操作步骤如下:(1)利用光源照明光具组的两端,并通过衰减器调节光源强度。

利用两个光电池检测光路,其中一个光电池放置在光具组的一端,另一个光电池放置在光具组的另一端。

(2)利用微调平移台,调整光电池的位置,使其所接收到的光强尽可能相等。

(3)测量光电池所接收到的光强,然后计算出光程差。

根据光程差和光速的知识,可以计算出光具组基点的位置。

2. 共面法(1)利用光源照明光具组的一端,并通过调节器调节光源强度和光位于成像平面的位置。

(2)调节另一个光学元件(如屈光度)在光路中停留,使其成像平面与前一个光学元件的成像平面重叠。

(3)用标尺量取两个成像平面的位置,然后计算出光具组基点的位置。

三、测定基点的注意事项1.测量环境:当进行光桥法测量时,为了保证测量的准确性,应将测量仪器放置在光学实验室或无风环境中。

2.精密仪器:测定光具组基点需要使用一些精密仪器,如光学平台、微调平移台、光电池等。

这些仪器必须具有精确的测量性能。

3. 测量精度:测定光具组基点的精度直接影响光路的精正确位,因此需要在测量过程中严格控制误差。

测量时最好使用数值计算方法来提高测量的精确度。

4. 稳定性:测量光具组基点的时候,需要保证光路的稳定性,最好是将光路固定住,保证其在测量过程中不发生移动。

五、总结测定光具组基点是非常重要的,可以有效保证光路系统的精确性和稳定性。

透镜组节点和焦距的测定

透镜组节点和焦距的测定
P
A S1
M
S
L
S2
B
P1
△x
x
P2
D
图 10-2
棱 脊
端面
棱角
图 10-3
将一块平玻璃板的上表面加工成两楔形板,端面与棱脊垂直,楔角 A 较小(一 般小于 1°)。从单色光源 M 发出的光波经透镜 L 会聚于狭缝 S,使 S 成为具有较 大亮度的线状光源。当狭缝 S 发出的光波投射到双棱镜 B 上时,经折射后,其波 前便分割成两部分,形成沿不同方向传播的两束干柱波。通过双棱镜观察这两束 光,就好象它们是由虚光源 S1 和 S 2 发出的一样,故在两束光源相互交叠区 P1 P2 内 产生干涉。如果双棱镜的棱脊和光源狭缝平行,且狭缝的宽度较小,便可在白屏 P 上观察到平行于狭缝的等间距干涉条纹。
7:三维平移底座 (SZ-01) 8:升降调整座(SZ-03) 9:二维平移底座 (SZ-02) 10:升降调整座(SZ-03) 11:普通底座(SZ-04)
1
2
S
3
4
Lo
56
7
Le
12
11
10
9
8
图 8-1
实验原理 开普勒望远镜所成的像是倒立的,对观察物体不习惯,如观察正像,一是可 以使用伽利略望远镜,二是可以借助直角棱镜(保罗棱镜、正像棱镜) 直角棱镜原理图如图 8-2,正立的像转换为倒立的像。
将随各组合透镜或折射面的焦距和系统的空间特性而异。下面以两个薄透镜的组
合为例进行讨论。设两薄透镜的象方焦距分别为 f1′ 和 f2′ ,两透镜之间距离为 d,
则透镜组的象方焦距 f ′ 可由下式求出
f′=
f1′f2′ , f = − f ′ .
( f1′ + f2′) − d

实验十、用测节器测定光具组的基点

实验十、用测节器测定光具组的基点

实验七 用测节器测定光具组的基点一、实验目的:1、加强对光具组基点的认识;2、学习测定光具组基点和焦距的方法。

二、实验仪器:光具座,测节器,薄透镜,物屏,光屏,光源,准直透镜,平面反射镜三、实验原理:对于由薄透镜组合成的共轴球面系统,其物距、像距和焦距之间的关系可由高斯公式(1) 确定。

其中物距p 是从第一主面量到物的距离,像距p '是从第二主面量到像的距离,f '是系统的像方焦距,是从第二主面量到像方焦点的距离。

各量的符号要适用符号定则。

主点和主面:如图1,主点在系统的光轴上,将物放在第一主点位置H 处,则必在第二主点位置H '处成个同物大小相等的正立像,过主点位置垂直于光轴的面分别是第一主面MH 、第二主面H M ''。

节点和节面:图1,节点是角放大率1+=γ的一对共轭点,入射光线通过第一节点N 时,出射光线必过第二节点N ',且传播方向不发生变化。

过节点垂直于光轴的面分别是第一、第二节面。

当系统处于同一种介质,两主点位置分别与两节点位置重合。

焦点和焦面:平行系统主轴的光束,经系统后与主轴的交点为像方焦点;此点垂直于主轴的面是像方焦平面。

从第二主点到此焦点的距离就是系统的像方焦距。

pp f 111-'='测节器原理如图2:平行于光具组主轴的一束平行光通过光具组后,会聚于光屏上一点Q,如图2(a),此Q点即光具组的像方焦点F';以垂直于平行光的某一方向为轴,将光具组转动一小角度:如果回转轴O恰好通过光具组的第二节点N',如图2(b),过N'点的出射光线不改变方向,由于N'点未动,入射光方向未变,所以通过光具组的光束仍会聚于Q点;如果回转轴O未通过第二节点N',那么光具组在绕回转轴转动后,N'的空间位置发生移动,如图2(c),由于经过N'的出射光线方向未发生变化,所以随着N'的移动,经N'的出射光线出现平移,光束的会聚点将从Q点侧移到Q'。

新型光具组基点测定仪的测量及误差分析

新型光具组基点测定仪的测量及误差分析

新型光具组基点测定仪的测量及误差分析摘要:介绍了新型测节器的结构。

通过对新型测节器与传统测节器的实验对比,显示新型测节器稳定性好、测量误差小。

关键词:光具组;测节器;基点由两个或两个以上的共轴薄透镜组成的光学系统(共轴球面系统)称为光具组。

在表征系统成像的性质时,需6个特征点,即物方主点、物方节点、物方焦点、像方主点、像方节点、像方焦点,这6个点统称为光具组的基点。

节点是角放大率为1的一对共轭点。

入射光线通过物方节点时,出射光线必通过像方节点,并与入射光线平行。

当共轴球面系统处于同一介质中时,两主点分别与两节点重合。

利用光具组节点的性质,通过调节测节器的转轴与光具组的相对位置,使光具组的转轴经过像方节点,此时旋转转轴,像不再有侧向移动,从而使抽象的节点变得可以测量[1]。

节点的性质常被用于摄像器件中,如直接扫描式全景相机,也称为节点式全景相机。

照相时,镜头绕通过后节点的轴转动或摆动,胶片在一个圆弧的展平板上静止不动并被展平,无速度同步要求,照片分辨率高[1]。

1 新型测节器的结构简介本团队设计的新型测节器,具有轻便、稳定、测量精度高、适用范围广等特点,其结构如图1所示[2]。

支架I(1)及支架II(6)可支撑仪器的滑槽,并在实验中起到支点的作用,即用于确定节点位置。

可滑动支架(3)在实验测量中用于支撑仪器的滑槽,滑轮的作用是使光具组可绕支架I(1)或支架II(6)灵活转动。

镜夹(4)用于固定薄透镜,与普通三爪式镜夹相比,起到光阑的作用,两个镜夹之间无套筒,可使两透镜之间的距离可调,便于研究。

主支架(8)上下尺寸分别为:6 mm,10 mm,且均有螺纹,可与平台(7)连接,通过主支架可将整套仪器固定于光具座的滑座上。

2 实验结果与误差分析将光具组置于同一介质中时,两主点分别与两节点重合。

设两薄透镜光心的位置分别为L1和L2,其像方焦距分别为f1'和f2',两透镜之间距离为d,则透镜组的像方焦距f'可由(1)式求出[3]:同种介质中,光具组物方焦距与像方焦距大小相等,通过计算可得出系统像方主点和物方主点的位置,由(2)式决定[3]:式中p'是第二透镜光心L2到像方主点的距离,p是从第一透镜光心L1到物方主点的距离。

光具组基点的测定

光具组基点的测定

实验四 光具组基点的测定实验目的1.了解测节器的构造及工作原理。

2.加强对光具组基点的认识。

3.学习测定光具组基点和焦距的方法。

实验仪器光具座,测节器,薄透镜(几片),物屏,光源,准直透镜(焦距大一些),平面反射镜,光具组,尖头棒,T 形辅助棒,白屏。

实验原理1.用测节器测定光具组的基点设有一束平行光入射于由两片薄透镜组成的光具组,光具组与平行光束共轴,光线通过光具组后,会聚于白屏上的Q 点,如图5—4—1所示,此Q 点为光具组的像方焦点'F 。

若以垂直于平行光的某一方向为轴,将光具组转动一小角度 ,可有如下两种情况(1)回转轴恰好通过光具组的第二节点'N因为入射第一节点N 的光线必从第二节点'N 射出,而且出射光平行于入射光。

现在'N 未动,入射角光束方向未变,所以通过光具组的光束,仍然会聚于焦平面上的Q 点,如图5—4—2(a )所示。

但是,这时光具组的像方焦点'F 已离开Q 点,严格地讲,回转后像的清晰度稍差。

145——图245——图)(a )(b(2)回转轴未通过光具组的第二节点'N由于第二节点'N 未在回转轴上,所以光具组转动后,'N 出现移动,但由'N 的出射光仍然平行于入射光,所以由'N 出射的光线和前一情况相比将出现平移,光束的会聚点将从Q 移到'Q ,如图5—4—2(b )所示。

测节器是一个可绕铅直轴'OO 转动的水平滑槽R ,待测基点的光具组S L (由薄透镜组成的共轴系统)放置在滑槽上,位置可调,并由槽上的刻度尺指示S L 的位置如图5—4—3所示。

测量时轻轻地转动一点滑槽,观察白屏'P 上的像是否移动,参照上述分析判断'N 是否位于'OO 轴上,如果'N 未在'OO 轴上,就调整S L 在槽中位置,直至'N 在'OO 轴上,则从轴的位置可求出'N 对S L 的位置。

光具组基点的测定

光具组基点的测定

光具组基点的测定光具组基点的测定是光学检验中的基本工作之一。

它是指在光学仪器(如望远镜、显微镜、投影仪等)的使用前,通过测量光学仪器的光学特性,即其寻心点、主轴和成像位等参数,确定光具组装的正确位置和朝向,以保证仪器的精度和稳定性。

测定光具组基点的方法多种多样,根据测量的要求和实验条件可以选择不同的测量方法。

下面将介绍几种常见的测定方法。

1、白光干涉法白光干涉法是一种基于干涉现象的测量方法,其原理是利用白光通过待测物体后形成的干涉图样来测定光具组的基点。

该方法不仅可以测定光具组的基点位置,还可以同时测定其主轴方向和成像位,因此被广泛应用于望远镜、显微镜等精密光学仪器的制造和调整中。

白光干涉法主要有两种形式:单独测定法和合成法。

单独测定法是指在一定的条件下,通过测量干涉图样中线的位置和形态,确定光具组的基点和主轴方向。

合成法则是通过测量干涉图样中的条纹密度来确定成像位,从而确定光具组的完整位置和朝向。

2、 laser干涉法laser干涉法是利用激光光源产生的干涉条纹来测定光具组基点的一种方法。

其中,激光束被分成两个光路,一个是参考路径,另一个是测试路径,它们在待测的光具组中产生干涉条纹。

通过调整光具组的位置和朝向,使干涉条纹稳定并且具有特定的形态,即可确定光具组的基点和主轴方向。

laser干涉法具有高精度、高灵敏度、全自动化等优点,广泛应用于各种精密光学设备的制造和调整中。

同时,它也能够有效地检测光具组的偏差和误差,为进一步优化光学性能提供有力的支持。

3、线扫描法线扫描法是一种基于光学衍射的测量方法。

它利用线状光源产生的衍射板上的衍射条纹来测量光学元件的位置、朝向和成像性能。

该方法可以使用光学显微镜或扫描电镜来观察和记录衍射条纹,从而确定光具组的基点位置和主轴方向。

线扫描法不需要任何复杂的设备和技术,而且具有测量速度快、精度高、适用范围广等优点,在制造和检测光学元件时被广泛应用。

总之,测定光具组基点是精密光学制造和调整的重要工作之一,需要根据不同光学元件的特点和实验条件选择适合的测量方法。

光具组基点的测定.doc

光具组基点的测定.doc

扬州大学物理科学与技术学院课题实验论文实验名称:光具组基点的测定班级:物教1001班姓名:丛林学号:100701103指导老师:朱路扬光具组基点的测定(扬州大学物教1001班丛林100701103 指导教师:朱路扬)摘要:如果知道共轴球面系统的基点,即主点、节点和焦点用来表征系统的成像性质,可以把复杂的系统当作一个整体来讨论成像问题。

本文通过设计实验,先测定每个透镜的焦距,然后由作图法从理论方面确定光具组基点的位置,再学会用测节器测定光具组的节点,最后由实验数据验证实验结果的正确性。

关键词:光具组;基点;测节器;一、实验原理:光学仪器中常用的光学系统,一般都是由单透镜或组合透镜等球面系统共轴构成。

对于由薄透镜组成的共轴球面系统,当物空间和像空间的介质相同时,其物和像的位置可由高斯公式(1)式确定,111-=(1)''p p f式中'f为系统的像方焦距,p为物距、'p为像距。

物距是从第一主面H到物P的距离,像距是从第二主面'H到像'P的距离;系统的物方焦距是从第一主面H到物方焦点F的距离,系统的像方焦距是从第二主面'F的距离。

各量的符号从各相应主H到像方焦点'面起,沿光线进行方向测量为正,反向为负。

共轴球面系统的基点、基面具有如下的特性:(一)主点和主面主点是横向放大率β=±1的一对共轭点。

若将物体垂直于系统的光轴放置在第一主点H处,则必成一个与物体同样大小的正立像于第二主面'H。

过主点垂直于光轴的平面,分别为第一、第二主面(如图中MH,M’H’所示)。

第一主面和第二主面是一对横向放大率等于±1的共轭面。

(二)节点和节面节点是角放大率γ=±1的一对共轭点。

如图10-1所示:入射光线(或其延长线)通过第一节点N 时,出射光线(或其延长线)必通过第二节点'N ,并与过N 的入射光线平行。

过节点垂直于光轴的平面分别成为第一、第二节面。

光具组基点的测定

光具组基点的测定

光具组基点的测定摘要:本文通过运用透镜组基点的特性来用焦距仪和节点架两种方法来测定透镜组的基点,并且比较这两种测量方法的测量精度。

关键字:透镜组基点节点架焦距仪。

引言单个透镜往往无法满足实验或者实际生活中的需要,实际使用时往往将几个薄透镜组合成透镜组进行使用。

对于任何共轴光具组,不论其结构复杂与否,物像之间的共轭关系完全由几对特殊的点和面所决定,这就是共轴理想光具组的基点和基面。

在透镜组之中各个透镜的焦距以及透镜之间的焦距未知的情况下,采用焦距仪或者测节器可以测定光具组的基点和基面,进而得到光具组的一些特性。

原理简述:关于本实验的几个概念:1.透镜组:两个或者两个以上的薄透镜或厚透镜组成的共轴球面系统。

2.基点:为了描述透镜组物像之间的共轭关系的点就是基点,包括一对焦点,一对节点和一对主点。

3.焦点:透镜组的焦点和焦面的的定义与薄透镜的焦点和焦面相同,即与无穷远物平面共轭的为像方焦面,轴上的点就是像方焦点,反之则是物方焦面和物方焦点。

主点和主平面:横向放大率恒为1的一对共轭面,就是主平面,属于物方的叫物主面,属于像方的叫做像方主面,属于像方的叫做像方主面,其轴上的对应的点分别是物方主点和像方主点。

节点和节平面:当系统入射的光线(或延长线)通过第一节节点(物方节点)时,则系统出射的光线一定通过第二节点(像方节点),并与入射光线平行,即节点是角放大率为1的一对共轭点,通过节点做垂直于光轴的平面就是节平面。

由于透镜组两边的物质都是空气,所以物方和像方的媒质上网折射率相等时,节点与主点相同。

焦距仪测量透镜组的基点:如图一所示,设L 为已知焦距等于f0的凸透镜L0S0为待测透镜组,其主点(节点)为H 、H ’(N 、N ’),焦点为F 、F ’。

当AB (其长度已知)放在L 的前焦点F0处时,它经过L 以及L0S0成像A ’B ’于L0S0的后焦面上。

因为AO//A ’N ’, AB//A ’B ’, OB//N ’B ’,所以△AOB ∽△A ’N ’B ’,即AB:f0=A ’B ’:f ’∴ 'A 'B 'f ABf 焦点与节点的测量:设通过 R 0M 0看清某一物体a 时,a 与R 0M 0的距离为c ,此时R 0M 0的位置读数为X 0,假设通过R 0M 0先后看清参考点Q 和F ’时,R 0M 0的位置读数分别为X Q 和X F ’,则QF ’= XF ’-XQF ’的位置相对于Q 点的位置确定,N ’F ’=f ’,此时就可以确定节点的位置 实验步骤:1. 由自准法找出L 的位置,将毫米尺放在L 的前焦面上。

光学系统基点测量实验实验报告

光学系统基点测量实验实验报告

课程名称:应用光学
实验项目名称:光学系统基点测量实验
图1 透镜组光路示意图
图2 节点位置判定图3回转轴通过光具组节点本实验以两个薄透镜组合为例,主要讨论如何测定透镜组的节点,并验证节点跟主点重合。

双光组
也是最基本的组合如图4所示。

L-S为待测透镜组,设L为已知透
图4 双光组组合光路示意图
则透镜组焦距为:
俯视图
主视图
图5 节点镜头读数
透镜之间的距离可通过节点镜头上方的刻度读取,刻度给出的距离为平凸透镜的平面所在位置,平凸透镜的物方主平面和球面顶点相切。

因此就算时需要加入透镜的厚度,f200mm透镜的厚度为透镜的厚度为6.5mm。

所示,f350mm透镜距离节点镜头0点距离为30mm,f200mm透镜距离节点镜头
图6 透镜基点测量实验装配图
要求:如实记录实验过程和现象以及相关数据,图表绘制要规范。

图7 物方节点测量数据
图8 节点镜头上方读数
图9 像方节点数据
六、实验数据分析及思考题:
要求:对实验数据进行分析,回答实验讲义或实验现场遇到的思考题。

对物方节点来说:
+8.5+6.5=91mm
f2=91−200−350=−459mm
=−419.4mm
=350×(200+350)
−459。

光具组基点的测定及数据处理

光具组基点的测定及数据处理

光具组基点的测定及数据处理光具组基点的测定是光学测量中的重要任务之一,主要用于确定光具组的位置和方向。

对于一个光学系统来说,光具组的基点包括焦点、光心、主点和节点等。

这些基点对于系统的成像特性、光束的变换以及光学仪器的设计和制造都非常重要。

下面将详细介绍光具组基点测定的基本原理和数据处理方法。

一、基本原理光具组基点的测定主要基于几何光学的基本原理。

在理想情况下,光线在通过光学系统后应该汇聚到一点,这个点就称为焦点。

而光线的中心或者说是光束最窄的地方则称为光心。

主点则是入射光线和出射光线之间的交点,通常在系统的对称轴上。

节点则是光线通过透镜或其他光学元件后发生折射或反射的点。

在实际应用中,我们通常使用透镜作为光学元件来测定光具组基点。

透镜的基点包括焦点、主点和节点等。

通过测量这些基点的位置和方向,可以确定透镜的位置和方向,进而确定整个光学系统的位置和方向。

二、测定方法光具组基点的测定方法主要有两种:直接测量法和间接测量法。

直接测量法是指直接观察和测量光学元件上的基点位置。

例如,对于一个透镜来说,可以直接观察和测量其焦点、主点和节点等的位置。

这种方法虽然简单直观,但精度往往不高,需要借助其他测量工具来实现精确测量。

间接测量法是通过测量光学元件的几何参数来计算基点的位置。

例如,可以通过测量透镜的直径、厚度和边缘轮廓等参数来计算其焦点、主点和节点等的位置。

这种方法虽然较为复杂,但精度较高,适合于高精度测量。

三、数据处理方法在测定光具组基点时,需要将测量的数据进行处理和分析。

下面介绍一些常用的数据处理方法:1.最小二乘法最小二乘法是一种常用的数据处理方法,主要用于拟合一条直线或曲线来描述一组数据之间的关系。

在测定光具组基点时,可以用最小二乘法来拟合一条直线或曲线,以描述基点之间的位置关系。

例如,可以通过最小二乘法来拟合透镜的主轴,从而确定主点的位置。

2.差分法差分法是一种常用的数值计算方法,主要用于计算一组数据的差值。

光具组基点的测定实验报告

光具组基点的测定实验报告

竭诚为您提供优质文档/双击可除光具组基点的测定实验报告篇一:光具组基点的测定及数据处理曲靖师范学院物理系实验报告实验题目:光具组基点的测定专业:物理学班级学号:20XX121149姓名:赵旭组别:第三组实验时间:20XX年5月31日【实验目的及要求】1.成像法确定光具组的基点位置,验证高斯公式;2.利用测节器原理,确定透镜组的基点位置;3.进一步了解光学系统基点的性质。

【实验原理】光学仪器中常用的光学系统,一般都是由单透镜或胶合透镜等球面系统共轴构成,对于由薄透镜组合成的共轴球面系统,其物和像的位置可由高斯公式:1s??1s?1f?确定式f?为系统的像方焦距,s?为像距,s为像距。

物距是从第一主面到物的距离,像距是从第二主面到像的距离,系统的像方焦距是从第二主面像方焦点的距离。

各量的符号从各相应主面,沿光线进行方向测量为正,反向为负。

共轴球面系统的物和像的位置,还可由牛顿公式表示:xx??ff??f??f???即式中x为从物方焦点量起的物方焦点到物的距离,x 为从物方焦点量起的像方焦点到像的距离,物方焦距f和像方焦距f?分别是第一、第二主面量到物方焦点的距离,符号规则同上,共轴球面系统的基点、基面具有如下的特点:1.主点和主面若将物体垂直于系统的光轴放置在第一主点h处,则必成一个与物体同样大小的正立像于第二主点h处,即主点是横向放大率?=+1的一对共轭点,过主轴垂直于光轴的平面,分别称为第一、第二主面。

2.节点和节面节点是放大率?=+1的一共轭点,入射光线(或其延长线)通过第一节点n时,出射光线(或其延长线)比通过第二节点n,并与n的入射光线平行,过节点垂直于光轴的平面分别称为第一、第二节面。

当共轴球面系统处于同一媒质时,两主点分别与两节点重合。

?3.焦点和焦面平行于系统主轴的平行光束,经系统折射后与主轴的交点F称为像方焦点;过F垂直于主轴的面称为像方焦面。

第二主点h?到像方焦点F的距离,称系统的像方焦距和焦距f。

光具组的测定实验报告

光具组的测定实验报告

一、实验目的1. 了解光具组的基本结构和工作原理;2. 掌握光具组各个部件的功能和调节方法;3. 学会使用光具组进行光学实验,并掌握实验数据的处理方法。

二、实验原理光具组是由多个光学元件组成的系统,用于实现光的聚焦、放大、分光、反射等功能。

本实验主要研究光具组的聚焦和放大功能。

三、实验仪器1. 光具组一套;2. 平面镜;3. 激光光源;4. 光具座;5. 光具夹;6. 测量尺;7. 记录纸。

四、实验步骤1. 将光具组安装于光具座上,确保光具组稳定;2. 调节光具组,使光线从激光光源发出,经过光具组各个元件,最终汇聚于平面镜上;3. 观察平面镜上的光斑,调整光具组,使光斑最小、最亮;4. 记录光具组各个元件的焦距,并计算光具组的总焦距;5. 改变光具组的位置,重复步骤3和4,记录不同位置的光斑大小和光具组的总焦距;6. 利用测量尺测量光具组各个元件的尺寸,计算光具组的放大倍数;7. 分析实验数据,得出结论。

五、实验数据1. 光具组各个元件的焦距:- 焦距1:f1 = 10cm- 焦距2:f2 = 15cm- 焦距3:f3 = 20cm2. 光具组的总焦距:- 总焦距:F = f1 + f2 + f3 = 45cm3. 不同位置的光斑大小:- 位置1:光斑直径 d1 = 2cm- 位置2:光斑直径 d2 = 3cm- 位置3:光斑直径 d3 = 4cm4. 光具组各个元件的尺寸:- 元件1:长度 L1 = 10cm- 元件2:长度 L2 = 15cm- 元件3:长度 L3 = 20cm5. 光具组的放大倍数:- 放大倍数 M = F / d1 = 22.5- 放大倍数 M = F / d2 = 15- 放大倍数 M = F / d3 = 11.25六、实验结果分析1. 通过实验,我们了解到光具组各个元件的功能和调节方法,掌握了光具组的聚焦和放大功能;2. 实验数据表明,光具组的总焦距为45cm,放大倍数在11.25到22.5之间,符合预期;3. 在实验过程中,我们注意到光具组的位置对光斑大小有较大影响,因此在进行光学实验时,要确保光具组的位置合适,以获得最佳实验效果。

实验七 光具组基点的测定

实验七 光具组基点的测定
若旋转轴不通过节点,则透镜组转动时,两个节点 N、N’均随着转动,过 N’ 的光线必会发生移动。因此,只有当转动轴正好在 N’点时,像点的位置才不会 因透镜组的旋转而改变。
测节器就是利用上述节点的性质做成的。如图(三)所示,图中 AB 为光学 参数测定仪中的主导轨,它上面放一个可以绕轴 O 转动的小导轨 C,C 上面放置 两个薄透镜 L1 与 L2 组成的透镜组。P 为像屏,它可以在 AB 主导轨上移动。实
2
验时,保持两透镜的间距 d 不变,移动透镜组在 C 上的位置,可以找到一个位 置,使 C 旋转时,P 上的像点不变,此时转轴位置 O 必为透镜的第二节点 N’(也 就是 H’)。 [实验内容及步骤]
1、测出凸透镜的焦距(1 号,2 号,4 号,5 号镜)。
调节平行光通过透镜中心,移动像屏获得一清晰的像点,由标尺读出透镜位
f ' = f1 ' f2 ' , f = − f ' ………………………② ( f1 '+ f2 ') − d
1
两主点位置
l' = − f 2 ' d ………………………③ ( f1 '+ f2 ') − d
l=
f1 ' d …………………………④
( f1 '+ f2 ') − d
注意:l’是从第二透镜光心量起,H’在第二透镜 O2 左为负,l 是从第一透镜 光心量起,H 在第一透镜 O1 左为负。
L 位置
F’位置
f’
表二:测透镜组基点(1 号镜与 2 号镜配合)(单位:mm)
旋转 次 L1 位置

L2 位置
N’位置
F’位置

“光具组基点测定”数据处理方法探究

“光具组基点测定”数据处理方法探究

“光具组基点测定”数据处理方法探究摘要:光具组基点测定是光学仪器校正和微小调整的重要方法之一。

本文主要探究了光具组基点测定的原理、方法和数据处理方法。

我们首先介绍了什么是光具组基点,及其作用。

然后介绍了基点测定的实验方法,包括使用网格板、三角板、自动光学测试仪、折射仪等进行测定,并比较了各种方法的优缺点。

最后,本文重点介绍了基点测定的数据处理方法,包括反演、平移、旋转和缩放等。

我们还讨论了数据处理中的常见问题,并提出了解决方法。

研读本文后,读者将掌握光具组基点测定的理论和实践技能,为实验操作和数据处理提供指导。

关键词:光具组基点;测定方法;数据处理方法;实验操作一、光具组基点的定义和作用光具组基点是指光具组的几何中心,也是仪器调整和校准的基准点。

光具组通常由透镜、棱镜、反射镜等构成,通过基点可精确调整光具之间的位置和方向,使得光线通过光学系统后能够达到预期的目的。

基点的位置和精度是光具组调整的关键,决定光学仪器的成像品质和实验精度。

二、基点测定的实验方法基点测定通常使用网格板、三角板、自动光学测试仪、折射仪等进行,常用的方法包括反演法、平移法、旋转法和缩放法。

具体方法如下:1.网格板法:将网格板固定在光学仪器上,通过观察网格上的图像,测量光具组中心点到网格板中心点的距离,转换为实际距离,即可得到基点位置。

这种方法简单易行,但需要人工测量和计算,存在人为误差。

2.三角板法:使用三角板或角度测量器,测量两个光具之间的夹角,以夹角另一端的顶点为基点,测量所有光具之间的夹角,确定基点位置。

此法适用于角度调整,但不适用于位置调整。

3.自动光学测试仪法:使用自动光学测试仪,在测量过程中自动计算基点位置,并且可以记录和处理数据,精度较高。

但是设备成本较高,不适用于小型实验室。

4.折射仪法:用折射仪测量透镜或棱镜在光轴上的偏移量,进而计算出基点的位置。

这种方法精度较高,在调整各种行光学仪器时广泛应用。

三、基点测定的数据处理方法对于以上方法得到的基点位置数据,需要进行进一步处理,以消除误差、调节精度。

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②由理论公式计算透镜组的基点
f '= − f = f1' f2 ' = ( f1 '+ f 2 ') − d
=,
l'= − f2'd = ( f1 '+ f2 ') − d
=,
l=
f1 ' d
=
( f1 '+ f2 ') − d
=,
③实验与理论公式计算的结果进行比较及评价
(2)1 号镜与 5 号镜配合
=,
l=
f1 #43; f5 ') − d
=,
③实验与理论公式计算的结果进行比较及评价
4
个与物体同样大小的正立像位于第二主点 H’处,即主点是横向放大率β=+1 的 一对共轭点。过主点垂直于光轴的平面,分别称为第一、第二主面(如图<一> 中的 MH,M’H’)。
②节点和节面:节点是角放大率γ=+1 的一对共轭点。入射光线(或其延长 线)通过第一节点 N 时,出射光线(或其延长线)必通过第二节点 N’,并与 N 的入 射光线平行。过节点垂直于光轴的平面分别称为第一、第二节面。当共轴球面系 统处于同一媒介时,两主点分别与两节点重合。
若旋转轴不通过节点,则透镜组转动时,两个节点 N、N’均随着转动,过 N’ 的光线必会发生移动。因此,只有当转动轴正好在 N’点时,像点的位置才不会 因透镜组的旋转而改变。
测节器就是利用上述节点的性质做成的。如图(三)所示,图中 AB 为光学 参数测定仪中的主导轨,它上面放一个可以绕轴 O 转动的小导轨 C,C 上面放置 两个薄透镜 L1 与 L2 组成的透镜组。P 为像屏,它可以在 AB 主导轨上移动。实
置和聚焦点位置,两者之差即为凸透镜的焦距。
2、测定透镜组基点 (1)将 1 号镜与 2 号镜按 d<(f’1+f’2)配合,可将两透镜靠近,使 d 最小, 组成透镜组。移动透镜组找到一个位置,使上导轨稍转动时像点不动,此转轴 O 即节点 N’,记下 L1、L2、N’与 F’的位置刻度,重复测量 3 次,求得 l' 与 f’。与

L5 位置
N’位置
F’位置
L1 位置
1800
l'=
N 位置 F位置 L5N’
l=
L1N
f’= f= N’F’ NF
1
2
3


[数据处理及分析]
3
1、计算凸透镜的焦距
f1 ' =
, f2'= , f4'= , f5'=
,
2、计算透镜组基点 (1)1 号镜与 2 号镜配合
①在坐标纸上作图表示光具组、主面及焦点的位置 d= , l' =L2N’= , l =L1N= ,f’=N’F’= ,f=NF= ;
f ' = f1 ' f2 ' , f = − f ' ………………………② ( f1 '+ f2 ') − d
1
两主点位置
l' = − f 2 ' d ………………………③ ( f1 '+ f2 ') − d
l=
f1 ' d …………………………④
( f1 '+ f2 ') − d
注意:l’是从第二透镜光心量起,H’在第二透镜 O2 左为负,l 是从第一透镜 光心量起,H 在第一透镜 O1 左为负。
①在坐标纸上作图表示光具组、主面及焦点的位置 d= , l' =L5N’= , l =L1N= ,f’=N’F’= ,f=NF= ;
②由理论公式计算透镜组的基点
f '= − f = f1' f5 ' = ( f1 '+ f5 ') − d
=,
l'= − f5'd = ( f1 '+ f5 ') − d
2
验时,保持两透镜的间距 d 不变,移动透镜组在 C 上的位置,可以找到一个位 置,使 C 旋转时,P 上的像点不变,此时转轴位置 O 必为透镜的第二节点 N’(也 就是 H’)。 [实验内容及步骤]
1、测出凸透镜的焦距(1 号,2 号,4 号,5 号镜)。
调节平行光通过透镜中心,移动像屏获得一清晰的像点,由标尺读出透镜位
L 位置
F’位置
f’
表二:测透镜组基点(1 号镜与 2 号镜配合)(单位:mm)
旋转 次 L1 位置

L2 位置
N’位置
F’位置
L1 位置
1800
l'=
N 位置 F位置 L2N’
l=
L1N
f’= f= N’F’ NF
1
2
3


表三:测透镜组基点(1 号镜与 5 号镜配合)(单位:mm)
旋转 次 L1 位置
式中 f’为系统的像方焦距,p’为像距,p 为物距。其中 p 为第一主点至物的距离。 P’为第二主点至像的距离,各量的符号从各相应主点沿光线进行方向测量为正, 反向为负。
2.两薄透镜组成一个透镜组的基点公式 设两薄透镜的像方焦距分别为 f1’和 f2’;两透镜之间距离为 d,则透镜组的 像方焦距 f’可由下式求出:
实验七 光具组基点的测定
[实验目的] 1.加强对光具组基点的认识 2.学习测定光具组基点和焦距的方法
[实验器材] 光学参数测定仪(YJC)<包括平行光管,凸透镜 4 块,凹透镜 1 块,像屏等>
[实验原理] 1.实际共轴球面系统三对基点的性质 ①主点和主面:若将物体垂直于系统的光轴放置在第一主点 H 处,必有一
3.利用测节装置确定透镜组的节点 假定一束平行光射入透镜组,光线经透镜组后会聚于第二主焦点 F’。若保 持入射平行光束方向不变,使透镜组绕着通过的转轴 N’旋转某一小角度。如图< 二>所示。实线位置变为虚线。此时通过第一节点 N 的光线由 SN 变为 S’N。
入射光线 S’N 的出射光线必通过第二节点 N’,且与 S’N 平行,所以出射方 向仍为 N’F’,又因入射光线为平行光束,经透镜组折射后的像点必仍然位于 F’ 处。这时像屏如放置在 F’上,旋转透镜组时,屏上像的清晰度虽稍有改变,但 像点不会发生横向移动。
③焦点:平行光束经系统折射后与光轴的交点 F’为第二焦点。第二主点 H’ 至第二焦点 F’的距离为系统的第二焦距 f’,F’在 H’右时 f’为正。同样 f 为第一 主点至第一焦点 F 的距离,F 在 H 右时 f 为正。过焦点垂直于光轴的平面分别称 为第一、第二焦面。
对于由薄透镜组合成的共轴球面系统,其物和像的位置可由高斯公式: 1 = 1 − 1 ………………………………① f ' p' p
理论公式②与③比较 (2)将上导轨旋转 1800,测出 l 与 f,与理论公式比较。
(3)在坐标纸上作图表示光具组、主面及焦点的位置。
(4)将 1 号镜与 5 号镜配合,重复上述(1)—(3)的内容。
[数据记录]
表一:测凸透镜的焦距(单位:mm)
凸透镜号数
1
2
4
5
测量次数 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3
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