连接器接触电阻检验

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电子连接器接触电阻试验规范

电子连接器接触电阻试验规范

(d〕試驗程序 (f 〕試驗日期和試驗者姓名
注:此規范參照EIA 364STANDARD TP-06B系列標準行使
修訂日期 發行日期 2004.03.26
2007.05.28
發行部門 品保部
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文件等級/階數 三階文件
文件名稱
電子連接器接觸電阻作業規范
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目的
本測試程序的目的,在於詳述電子連接器成對接點間接觸電阻之標準測試方法。
試件之準備 (a)試件應為成對之接點,如一對插梢及插座,一對接點或印刷電路板及其配對之接點等。 (b)試件應與正常使用時具相同之狀況,小心接線內之股線不得受損,導線與接點間應無導線 標識或潤滑劑等外物。 (c)除另有規定外,試件在測試前不得以任何方法事先予以清洗或添加潤滑劑或塗以塗料。 (d)可能時,接點應接上3英尺(一米〕長之導線,以便消散接點之熱量。 (e)試件可以如正常使用之情況裝於連接器內,但如果試件不裝於連接器內,則不應以其它方 法將試件強行固定,以免其可能引起配對接點間之應力而影響接觸電阻。 (f)電壓表測試棒可以在測試前現行備妥,也可將電壓表之接線直接焊接或夾牢於電路上。
e試件可以如正常使用之情況裝于連接器內但如果試件不裝于連接器內則不應以其它方用交流或直流電源使用交流電源測試時其頻率不可超過2khz
文件名稱
頁次 版次 / A0 / A1
電子連接器接觸電阻作業規范
修訂內容
新版發行 依文件要求,統一格式.
文件編號 WBN-M-0024
版本
A1
頁 次 Page 1 Of 3
(a〕試件之事前準備(若有事先準備之特殊需求時〕。
(b〕接線之種類及大小。
(c〕測試電流

连接器接触电阻测试方法

连接器接触电阻测试方法

连接器接触电阻的测试方法主要有电压降法和电流-时间曲线法。

电压降法是通过在连接器上施加一定电压,测量触点之间的电压降,进而计算出接触电阻。

而电流-时间曲线法则通过测量通过连接器的电流随时间的变化曲线,计算出触点之间的电阻值。

在具体测试步骤上,包括连接测试样品,在测试回路正方向和反方向上加电压并记录电压降和电流值,最后通过一定的公式计算接触电阻。

此外,测试环境条件和机械性能也会影响连接器接触电阻的测试结果。

因此,在进行测试时需要特别注意这些因素。

接触电阻测量方法

接触电阻测量方法

接触电阻测量方法接触电阻是电气设备中常见的一个重要参数,它直接影响着设备的性能和可靠性。

因此,准确测量接触电阻是保证设备正常运行的关键之一。

在实际工作中,我们常常需要采用不同的方法来测量接触电阻,以确保测量结果的准确性和可靠性。

首先,我们需要了解接触电阻的定义。

接触电阻是指两个接触导体之间的电阻,它是由于接触面不完全接触或接触面上存在氧化膜、污染物等导致的。

接触电阻的大小与接触面积、接触压力、接触材料的性质等因素有关。

接下来,我们将介绍几种常见的接触电阻测量方法:1. 电桥法,电桥法是一种常用的测量接触电阻的方法。

它利用电桥平衡原理,通过调节电桥的电阻值,使得电桥两端电压为零,从而得到接触电阻的值。

这种方法适用于小电阻值的测量,具有测量精度高的优点。

2. 电流法,电流法是另一种常用的测量接触电阻的方法。

它利用一定大小的电流通过被测接触电阻,通过测量电压和电流值,计算出接触电阻的大小。

这种方法适用于大电阻值的测量,具有测量范围广的优点。

3. 接触电阻测试仪,现代化的接触电阻测试仪能够实现自动测量和数据记录,大大提高了测量效率和准确性。

通过选择合适的测试仪器和测量方法,可以更加方便地进行接触电阻的测量工作。

除了以上介绍的几种方法外,还有一些其他特殊情况下的接触电阻测量方法,如温度补偿法、频率扫描法等。

在实际工作中,我们需要根据具体情况选择合适的测量方法,并结合实际情况进行调整和改进,以确保测量结果的准确性和可靠性。

总之,接触电阻的测量是电气设备维护和检修工作中的重要环节,准确测量接触电阻对于保证设备的安全运行和延长设备的使用寿命具有重要意义。

希望通过本文的介绍,能够帮助大家更加深入地了解接触电阻的测量方法,提高测量工作的准确性和效率。

浅析车用电线束插接器接触电阻的测试

浅析车用电线束插接器接触电阻的测试

浅析车用电线束插接器接触电阻的测试车用电线束插接器是车辆电气系统中关键的组织部件,扮演着连接电线束和电气控制单元的重要角色。

车用电线束插接器的接触电阻是它质量、可靠性、工作性能的关键参数,因此测试接触电阻是评估车用电线束插接器质量和可靠性的重要手段。

下面文章将从测试原理、测试方法、测试注意事项等角度对车用电线束插接器接触电阻的测试进行浅析。

一、测试原理接触电阻指电线束插接器接触部分导电性材料之间接触接口的内部导通阻力。

车用电线束插接器接触电阻测试的基本原理是在已知电流下测量电压降,然后使用欧姆定律来计算接触电阻。

理想情况下,插接器的接触触面应该光滑、平整,并且不应该存在任何氧化膜和其他杂质物质。

通过测试插接器的接触电阻,可以评估插接器的接触性能,判断其质量和可靠性。

二、测试方法1. 插头方法插头法是目前使用最多的接触电阻测试方法之一。

这种方法可以通过将插头插入插座或插座插入插头来测量接触电阻。

测试时需要把电压计或万用表接在插头或插座上以进行测量。

对于常规车用电线束插接器,插头法是一种简单而有效的测试方法。

2. six-wire four-terminal法six-wire four-terminal法是使用四根接线来实现接触电阻测试的一种高精度的方法,通过在测试过程中使用两个额外的接线来补偿测试系统中的电阻,从而消除电路阻抗和线路电阻对测试结果的影响。

该方法的优点是可以测量小接触电阻,适用于高精度测试。

三、测试注意事项1. 插头法测试时需要确保插头和插座之间完全接触,避免测量误差。

2. 在进行接触电阻测试时,操作人员需要保证测试环境温度稳定,避免电气系统发生异常,对测试结果造成影响。

3. 需要使用合适的测试仪器和设备,保证测试精度。

通常,万用表或特制的接触电阻检测设备可以用于接触电阻测试。

4. 使用六线四端法测试时,需要使用高精度的测试仪器和设备,并确保测试技术和方法正确。

综上所述,车用电线束插接器接触电阻的测试是评估插接器质量和可靠性的重要手段。

常用接触电阻的测试方法

常用接触电阻的测试方法

常用接触电阻的测试方法
接触电阻的测试方法主要有以下几种:
电桥法:利用电桥平衡原理,通过调节电桥的电阻值,使得电桥两端电压为零,从而得到接触电阻的值。

这种方法适用于小电阻值的测量,具有测量精度高的优点。

电流法:利用一定大小的电流通过被测接触电阻,通过测量电压和电流值,计算出接触电阻的大小。

这种方法适用于大电阻值的测量,具有测量范围广的优点。

矩形传输线模型(TLM):这是一种应用广泛的接触电阻率测量方法,通过实验方法来测量
出接触电阻后再求得接触电阻率。

兆欧表、万用表、数字式欧姆表及伏安法、电压比较法等:在测量精度要求不高时,常采用
这些方法来测量接触电阻。

请注意,每种方法都有其适用的范围和限制,在实际应用中应根据具体情况选择合适的方法。

同时,为了获得更精准的测量结果,应遵循相关注意事项,例如使指针指示值尽可能
落到刻度的中段位置等。

连接器接触电阻标准

连接器接触电阻标准

连接器接触电阻标准连接器是电子设备中常见的元件,用于连接电路或设备之间的导线或电缆,起到传递电信号或电能的作用。

在连接器的使用过程中,接触电阻是一个重要的性能指标,它直接影响着连接器的传输性能和稳定性。

因此,连接器接触电阻标准成为了连接器行业中的重要标准之一。

连接器的接触电阻是指连接器接触副之间的电阻,它由接触副的接触材料、接触形状、接触压力等因素共同决定。

合格的连接器接触电阻应该尽可能小,以保证电信号或电能的传输效率,同时还要保证稳定可靠的连接。

因此,制定连接器接触电阻标准对于保证连接器质量和性能至关重要。

在连接器接触电阻标准中,一般会规定连接器在不同工作条件下的接触电阻值的上限和下限。

这些工作条件包括温度、湿度、振动等环境因素,以及连接器在不同频率、电流下的工作状态。

通过对这些工作条件的考虑,连接器接触电阻标准可以更加全面地反映连接器在实际工作中的性能表现。

另外,连接器接触电阻标准还会对连接器接触副的材料、表面处理、接触压力等方面进行规定。

比如,对于金属连接器,要求其接触副的表面要经过镀金、镀银等处理,以提高接触的导电性能;对于弹性连接器,则要求其弹性件的材料要具有良好的弹性和导电性能,以保证连接器在长期使用中不会出现接触不良的情况。

除了以上内容,连接器接触电阻标准还会对连接器的接插次数、插拔力、接触面积等方面进行规定,以保证连接器在长期使用中能够保持稳定的接触电阻。

同时,连接器接触电阻标准还会要求连接器在不同的工作环境下进行可靠性测试,以验证其在实际工作中的性能表现。

总的来说,连接器接触电阻标准是连接器行业中的重要标准之一,它直接关系到连接器的传输性能和稳定性。

通过严格制定和执行连接器接触电阻标准,可以保证连接器在不同工作条件下都能够保持稳定的接触电阻,从而保证连接器在实际应用中的可靠性和稳定性。

连接器制造商和用户应该共同遵守连接器接触电阻标准,以提高连接器的质量和可靠性,推动连接器行业的健康发展。

_EIA-364-23A电子连接器接触电阻测试方法

_EIA-364-23A电子连接器接触电阻测试方法

电子连接器接触电阻测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒电子工业协会(EIA)工程部出版2001年华盛顿D.C.20006,N.W.Eye大街。

1985年印刷EIA版权所有U.S.A印制电子工业协会测试方法#23A电子连接器的接触电阻测试方法此EIA推荐标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术内容;推荐512—2,测试2a, 接触电阻-毫伏测试方法,1976.它符合此IEC推荐的所有必要方面.电子工业协会测试方法#23A电子连接器低等位接触电阻测试方法(摘自EIA建议标准NO.1654-A﹐EIA P-5.1工作组组织提出﹒)注:此TP-23早期颁布EIA RS-3641.0TP-23低等位接触电阻2.0 目的本方法是介绍一种在标准方法测量一配套端子,在绝缘层没有被破坏或熔化的情况下的接触电阻。

3.0 样品准备3.1 测试样品由一对配合的端子组成,如一个锡脚和一焊座﹐极性相反的相配套端子或印刷电路板和它的配合端子。

3.2 用规格中所说明的电线按图2A所示进行联机﹐端子配合如图2B所示﹒3.3 测试样品应组装成能进行正常工作的连接器﹐不能安装成连接器的样品不得以任何其它方法强行安装,若强行安装会影响相配端子内接触面的强力。

4.0 测试方法4.1 测试仪器测试仪器包括﹔4.1.1满偏量程精确至±2%或确切读数精确至±10%的合适范围的毫伏表。

4.1.2一个低等位回路具备传递和准确测量最大电流100mA和最大开路电位20 mV的能力。

连接器测试方法范文

连接器测试方法范文

连接器测试方法范文
一、概述
连接器是广泛用于电子产品连接的电气元件。

为了确保连接器能够正
确使用,对其进行测试是非常重要的。

本文旨在介绍连接器的基本原理和
测试方法,以便能够确保连接器的质量和可靠性。

二、连接器的基本原理
连接器是一种电气连接元件,用于将电子产品的电路和部件连接起来。

连接器具有低接触电阻、耐热性能、耐压性能和耐热性能,它能够持续稳
定的连接和断开电路,是电子产品连接方面必不可少的元件。

连接器的结构大体分为插座和插头两部分。

插座用于安装在固定的电
气设备上,并将电气信号传输到接头;插头是一种独立的连接器,可将电
气信号传输到插座和其他电气设备上。

三、连接器测试方法
1、接触电阻测试:这是连接器测试中最重要的一项,大多数测试都
是以接触电阻测试为基础。

接触电阻测试是指在连接器两端断开电路时,
测量其间接触电阻。

这种测试可以证明接触子的良好质量,可减少未来的
接触电流对连接器的影响,以及延长连接器的使用寿命。

2、耐电压测试:耐电压测试是指在给定的电压下,对连接器两端的
接触点进行测试,从而测量电气元件的耐电压能力,即指明该元件能够承
受多大的电压值。

连接器功能测试

连接器功能测试

连接器功能测试连接器功能测试是一种验证连接器在不同条件下的性能和可靠性的测试方法。

连接器是一种常见的电子组件,用于将电子设备中的电气和信号连接起来。

连接器功能测试的目的是确保连接器能够正常连接并传输电力或信号,以保证整个系统的正常运行。

1.接触阻抗测试:连接器的接触端子应具有低接触阻抗,以确保信号或电流能够正常传输。

测试方法包括使用万用表或示波器测量连接器端子之间的电阻或电压降。

2.插拔力测试:连接器的插拔力应在一定范围内,既不能太松也不能太紧。

测试方法包括使用力传感器或力测量仪测量连接器插拔时所需的力。

3.拔出力测试:连接器在正常使用情况下,应能够经受一定的拔出力,以保证连接的可靠性。

测试方法包括使用力传感器或力测量仪测量连接器拔出时所需的力。

4.阻燃性测试:连接器应具有阻燃性能,即在发生火灾时能够防止火势扩散。

测试方法包括将连接器暴露在一定温度下,并观察是否会产生明火或大量烟雾。

5.耐电压测试:连接器在规定的电压下应具有一定的耐电压能力,以确保系统安全。

测试方法包括在连接器的两个接点之间施加一定的电压,观察是否会出现击穿或漏电现象。

6.耐环境测试:连接器应能够在不同的环境条件下正常工作,包括高温、低温、湿度、振动等。

测试方法包括将连接器暴露在不同的环境条件下,并观察其性能是否受到影响。

7.振动测试:连接器应能够在正常振动条件下保持连接的可靠性。

测试方法包括将连接器置于振动台上,并观察其连接是否松动或出现异常。

8.冲击测试:连接器应能够在一定的冲击条件下保持连接的可靠性。

测试方法包括将连接器暴露在一定的冲击力下,并观察其连接是否松动或损坏。

9.寿命测试:连接器应具有一定的使用寿命,以确保其可靠性和持久性。

测试方法包括进行连接插拔次数的测试,以模拟实际使用条件下的连接器寿命。

10.封装性能测试:连接器应具有良好的封装性能,以防止灰尘、水汽等外界物质进入导致故障。

测试方法包括将连接器暴露在灰尘或水汽环境中,并观察其性能是否受到影响。

连接器接触电阻量测方法

连接器接触电阻量测方法

接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻.
测试方法
接触电阻的测量一般都采用开尔文四线法原理。

开尔文四线法连接有两个要求:对于每个测试点都有一条激励线F和一条检测线S,二者严格分开,各自构成独立回路;同时要求S线必须接到一个有极高输入阻抗的测试回路上,使流过
检测线S的电流极小,近似为零.
见图1。

图1中r表示引线电阻和探针与测试点的接触电阻之和。

由于流过测试回路的电流为零,在r3,r4上的压降也为零,而激励电流I在r1,r2上的压降不影响I在被测电阻上的压降,所以电压表测出的电压降即为Rt两端的电压值。

从而准确测量出R t的阻值。

测试结果和r无关,有效地减小了测量误差。

接触电阻测量原理:由于四线法测量接触电阻采用10mA/100mA的恒流源,故测量接触电阻的实质是测量微动接触电压。

使用Chroma毫欧姆表测量接触电阻的原理见图2:
接触电阻测量原理:图2所测电阻即为接点接触时的电阻,其中的恒流源用来为接触区域提供电流I,电压表用来测量P+和P-之间的电压降V,由于电压表内
阻相对于所测接触电阻来说相当大(大到使电压表上分得的电流可以忽略不计),可以认为电压表所测电压V即为P+ 和P-之间的电压值,从而电压V与电流I
的比值即为电阻值。

但由于接触区域非常小,按图中的接线得到的是P+和P-
之间的电阻值。

为了使测得的数据尽量接近真实的接触电阻值,应使得P+和P-接线端尽量靠近接触区域,避免在测量结果中计入测试引线和体积电阻产生
的电压降。

接触电阻测试报告

接触电阻测试报告
值为 R1) ,将穿线后 JACK 进行电阻测试(值为 R2) ,将穿线后的样品插入穿线 后的 JACK 进行电阻测试(值为 R0 ) ;产品接触电阻为 R。
接触电阻:R(AV)=R0-R1-R2 三、判定:
, R(AV)< 20, (单位: mΩ)
该水晶头 P88RE03MV2S 插拔前/后的接触电阻均小于 20 微欧姆电阻规范要求。 四、 测试机图片:
NO: 140218-02
水晶头 1PCS
样品型号 测试日期
P88RE03MV2S 铁质铁壳 2014-2-18
二、测试结果: (以下“/”前后分别为插拔前后的测试数据,字体颜色分别标注为黑色及蓝色)
线序 电阻 R0 R1 R2 R 1 白橙 2 橙 3 白绿 4 蓝 5 白蓝 6 绿 7 白棕 8 棕 AV
KH2521S 型接触电阻测试
五、测试过程图片:
格式版次:EQ2203-38
A0
审核: 方国龙
制作:吴奇华
65.3/64.9 84.0/83.8 128.7/128.7 48/48.8 41.3/41.9 120.0/120.4 65.0/66.0 78.8/77.9 6.3/6.1 56.7 2.3/2.1 6.8/5.7 75.2 2.0/3.2 6.0/6.1 120.6 3.1/2.0 6.0/6.1 39.9 2.1/2.8 6.3/5.9 33.8 1.2/2.2 5.4/6.1 112.4 3.2/1.9 6.6/5.3 59.2 0.7/1.5 7.3/5.9 70.0 1.5/2 1.762/2.175
将样品穿线后进行电阻测试值为r1将穿线后jack进行电阻测试值为r2将穿线后的样品插入穿线后的jack进行电阻测试值为r0
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连接器常用测试方法介绍

连接器常用测试方法介绍

连接器常用测试方法介绍连接器是将电子设备之间的电信号、电能传递的重要组件,广泛应用于电子设备中。

连接器的可靠性对于电子设备的正常运行起着重要作用。

为了保证连接器的可靠性,需要进行各种测试方法的验证。

下面将简要介绍连接器常用的测试方法。

1.外观检验:外观检验是连接器的最基本的测试方法之一、通过对连接器的外观进行检查,如检查外观是否完整、是否有划痕等,以确保连接器的质量。

2.接触电阻测试:接触电阻测试是对连接器内部连接件之间的接触情况进行测试。

通过测量连接器上的接触电阻,可以判断连接器的接触是否良好。

3.插拔次数测试:插拔次数测试是测试连接器插拔的可靠性。

通过模拟连接器的使用场景,反复进行插拔测试,以确定连接器承受多少次插拔后会出现故障。

4.机械性能测试:机械性能测试是测试连接器在机械方面的性能。

比如连接器的耐冲击性、耐振动性、耐拉力等。

通过模拟各种机械环境,测试连接器的机械性能,以确保连接器在各种条件下的可靠性。

5.耐热性测试:耐热性测试是测试连接器在高温环境下的表现。

通过将连接器置于高温环境中,测试连接器的耐热温度、耐热时间等,以确保连接器在高温环境下的可靠性。

6.导电性能测试:导电性能测试是测试连接器的导电性能。

通过测量连接器的导电电阻、导电性能等指标,以确保连接器的导电性能符合要求。

7.绝缘性能测试:绝缘性能测试是测试连接器的绝缘性能。

通过测量连接器的绝缘电阻、绝缘电压等指标,以确保连接器的绝缘性能符合要求。

8.环境适应性测试:环境适应性测试是测试连接器在各种环境条件下的适应能力。

比如连接器的耐湿性、耐腐蚀性、耐紫外线性等。

通过模拟各种环境条件,测试连接器在各种环境下的可靠性。

9.信号传输测试:信号传输测试是测试连接器在信号传输方面的性能。

通过将连接器用于传输各种信号,并测试信号的传输质量、传输速率等指标,以确保连接器在信号传输方面的可靠性。

10.可靠性测试:可靠性测试是对连接器的综合性能进行测试。

连接器接触电阻的测试

连接器接触电阻的测试

除塑性变形外还有部分弹性变形,通常 ε=0。7,当
接触表面清洁,膜层厚度小于 5埃时,接触电阻可
算收缩电阻。
收稿日期:2018-03-16
44
机电元件
2018年
表 1 几种金属的性能数据
材料 硬度 H(108N/m2) 20℃时电阻率 ρ(10-9Ω·m)

2.5

2.5

4.5

4.1

11.6铜3.9 Nhomakorabea镍
6.9

0.44
16.2 23.5 108 130 46.8 16.8 68 114
2.2 膜层电阻
由于接触表面膜层及其他污染物所构成的膜
层电阻。从接触表面状态分析;表面污染物膜层可
分为较坚实的薄膜层和较松散的杂质污染层。故
确切地说,也可把膜层电阻称为界面电阻。
膜层电阻估算———当两接触表面间施以电压, 电场强度低于 109 ~1010伏 /米时,两表面之间的膜
为便于区分,将集中电阻加上膜层电阻称为真 实接触电阻。而将实际测得包含有导体电阻的称 为总接触电阻。
3 影响因素
主要受接触件材料、正压力、表面状态、使用电 压和电流等因素影响; 3.1 接触件材料
不同材料和镀层的接触件,具有不同的接触电 阻。电连接器技术条件对不同材质的同规格插配 接触 件,规 定 了 不 同 的 接 触 电 阻 考 核 指 标。 如 GJB101A-97“小圆形快速分离耐环境电连接器总 规范”规定,直径为 1mm的插配镀金接触件接触电 阻,铜合金≤5mΩ,铁合金≤15mΩ。 3.2 正压力
分。二是通过接触界面污染薄膜后相互接触的部
分。所以,真正接触电阻应由以下几部分组成:

接触电阻试验标准

接触电阻试验标准
41用仪器所附的专用的测试线和测试钳连接好仪器及试品所有接点必须牢靠不应有松动现象
拟制
林如龙
接触电阻试验标准
审核
批准
文件编号
版本
1.0
制定日期
页码
共1页,第1页
1.0目的:了解线路的连接质量和其导电特性,避免使触点产生危险的过热现象。
2.0使用设备:接触电阻计。
3.0定义:接触电阻的定义是接触表面两边的电位差与通过接触表面的电流比值,
符合欧姆定律。
4.0测试方法:
4.1用仪器所附的专用的测试线和测试钳,连接好仪器及试品,所有接点必须牢靠,不应有松动现象。。
4.2检查确认无误后合上电源开关。
4.3调节“电流调节”旋钮,使电流升至100.0A,按下“复位/测试”键,此时电阻表显示值为所测回路电阻值。若显示1,则表示所测回路电阻值超量程;如果测量电流不是100.0A,例如为Io,电阻表显示为Ro,则实际电阻值为R=100×(Ro÷Io)μΩ。
7.0定期校验和相关记录:
7.1本仪器的校验周期:每年送外校准一次。
7.2相关的记录要予以保留。44测量完毕,断开电源。5.0测试标准:
5.1用300V绝缘电阻表进行测试。
5.2所测产品的接触电阻应该小于1Ω。
5.3试验产品需在5PCS以上。
6.0试验说明
6.1接触电阻试验合格不等于接触可靠。试验证明仅用检测静态接触电阻是否合格,
并不能保证动态坏境下使用接触可靠。
6.2接触电阻主要受接触材料,表面状态等因素影响。

LED、连接器、电容电阻检验标准

LED、连接器、电容电阻检验标准
5.0检验项目
5.1外观检验(LED/连接器/电容/电阻)
检测项目
检验标准
检验工具和方法货型号与外标签不符、器件性能不明、包装不合格、漏气、无干燥剂储存、数量与外包装不符
目视
A
5.2功能检测
5.2.1LED功能检验
检测项目
检验标准
检验工具和方法
不合格类别
LED
1.不接受载带、保护膜、LED外观破损
电容0402 0.1uF/6.3V +80%-20%
电容0201 0.1uF/6.3V +80%-20%
电阻0402.10K ohm,±5%,1/16W
6.0检验记录
6.1记录IQC来料检验报告
6.2外观、稳定性检验至少记录5PCS数据,若不合格,还需记录所有不合格数据(抽检数量)
注明:A类表示严重缺陷
目视
A
2.不接受定位尺寸测量公差≥0.2
卡尺
B
3不接受灯芯不一
20X显微镜
A
4.不接受发光灯色不一、死灯点不亮、灯芯芯片不稳定
实验暗室光箱
万用表
A
5.不接受经正常60℃烘烤LED变形
目视/烤箱
A
5.2.2连接器功能检验
检测项目
检验标准
检验工具和方法
不合格类别
连接器
1.不接受载带、保护膜、外观缺角、少拼、拼角裂痕、塑胶挤压变形、氧化
20X显微镜
A
2.不接受正常配备公母座插拔速度为12.7MM/MIN,插拔次数≤10次连接器缺角、断拼、连线中断、脱落
烙铁焊接OK公母座,用拔出力≥1KG,20X显微镜外观检验
A
3.不接受连接器粘锡性≤98%
无铅钛合金锡炉

RJ连接器电气性能测试方法

RJ连接器电气性能测试方法
Test condition: Apply 500VDC between adjacent terminal
▪ 测试要求:500兆欧最小
Requirement: 500 MΩ min
▪ 3.耐压测试(耐电压测试) ▪ Dielectric withstanding strength test
测试仪器:耐压测试仪
国际标准:EIA-364-20 ▪ 测试条件:相邻的接线端子之间供应1000V交流电测试 1
分钟
Test condition: Apply 1000VAC for 1 minute between adjacent terminal
▪ 测试要求:耐压测试仪无超漏现象
Requirement: No breakdown
▪ 1.接触阻抗测试
▪ Low level contact resistance
▪ 测试仪器:微电阻测试仪或者全自动插拔测试机
▪ 国际标准:EIA-364-23
▪ 测试条件:测试Plug 与Jack相匹配时接触点的微电阻值
Test condition: measure the resistance of the point that plug mated jack
▪ 测试要求:30毫欧最大
Requirement: 30 mΩ maximum 根据公式 R=ρL/S,与接触阻抗值R的相关因数: 端子的材质、接触点的大小和面积
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
▪ 2.绝缘电阻测试 ▪ Insulation resistance test
测试仪器:绝缘电阻测试仪 国际标准:EIA-364-21 ▪ 测试条件:相邻接线端子之间供应500VD直流电测试
▪ 4.导通测试Conduction test

连接器接触电阻检验

连接器接触电阻检验

连接器接触电阻检验在显微镜下观察连接器接触件的表面,尽管镀金层十分光滑,则仍能观察到5-10微米的凸起部分。

会看到插合的一对接触件的接触,并不整个接触面的接触,而是散布在接触面上一些点的接触。

实际接触面必然小于理论接触面。

根据表面光滑程度及接触压力大小,两者差距有的可达几千倍。

实际接触面可分为两部分;一是真正金属与金属直接接触部分。

即金属间无过渡电阻的接触微点,亦称接触斑点,它是由接触压力或热作用破坏界面膜后形成的。

部分约占实际接触面积的5-10%。

二是通过接触界面污染薄膜后相互接触的部分。

因为任何金属都有返回原氧化物状态的倾向。

实际上,在大气中不存在真正洁净的金属表面,即使很洁净的金属表面,一旦暴露在大气中,便会很快生成几微米的初期氧化膜层。

例如铜只要2-3分钟,镍约30分钟,铝仅需2-3秒钟,其表面便可形成厚度约2微米的氧化膜层。

即使特别稳定的贵金属金,由于它的表面能较高,其表面也会形成一层有机气体吸附膜。

此外,大气中的尘埃等也会在接触件表面形成沉积膜。

因而,从微观分析任何接触面都是一个污染面。

综上所述,真正接触电阻应由以下几部分组成;1) 集中电阻电流通过实际接触面时,由于电流线收缩(或称集中)显示出来的电阻。

将其称为集中电阻或收缩电阻。

2) 膜层电阻由于接触表面膜层及其他污染物所构成的膜层电阻。

从接触表面状态分析;表面污染膜可分为较坚实的薄膜层和较松散的杂质污染层。

故确切地说,也可把膜层电阻称为界面电阻。

3) 导体电阻实际测量电连接器接触件的接触电阻时,都是在接点引出端进行的,故实际测得的接触电阻还包含接触表面以外接触件和引出导线本身的导体电阻。

导体电阻主要取决于金属材料本身的导电性能,它与周围环境温度的关系可用温度系数来表征。

为便于区分,将集中电阻加上膜层电阻称为真实接触电阻。

而将实际测得包含有导体电阻的称为总接触电阻。

在实际测量接触电阻时,常使用按开尔文电桥四端子法原理设计的接触电阻测试仪(毫欧计),其专用夹具夹在被测接触件端接部位两端,故实际测量的总接触电阻R由以下三部分组成,可由下式表示:R= RC + Rf + Rp,式中:RC—集中电阻;Rf—膜层电阻;Rp—导体电阻。

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连接器接触电阻检验
在显微镜下观察连接器接触件的表面,尽管镀金层十分光滑,则仍能观察到5-10微米的凸起部分。

会看到插合的一对接触件的接触,并不整个接触面的接触,而是散布在接触面上一些点的接触。

实际接触面必然小于理论接触面。

根据表面光滑程度及接触压力大小,两者差距有的可达几千倍。

实际接触面可分为两部分;一是真正金属与金属直接接触部分。

即金属间无过渡电阻的接触微点,亦称接触斑点,它是由接触压力或热作用破坏界面膜后形成的。

部分约占实际接触面积的5-10%。

二是通过接触界面污染薄膜后相互接触的部分。

因为任何金属都有返回原氧化物状态的倾向。

实际上,在大气中不存在真正洁净的金属表面,即使很洁净的金属表面,一旦暴露在大气中,便会很快生成几微米的初期氧化膜层。

例如铜只要2-3分钟,镍约30分钟,铝仅需2-3秒钟,其表面便可形成厚度约2微米的氧化膜层。

即使特别稳定的贵金属金,由于它的表面能较高,其表面也会形成一层有机气体吸附膜。

此外,大气中的尘埃等也会在接触件表面形成沉积膜。

因而,从微观分析任何接触面都是一个污染面。

综上所述,真正接触电阻应由以下几部分组成;
1) 集中电阻
电流通过实际接触面时,由于电流线收缩(或称集中)显示出来的电阻。

将其称为集中电阻或收缩电阻。

2) 膜层电阻
由于接触表面膜层及其他污染物所构成的膜层电阻。

从接触表面状态分析;表面污染膜可分为较坚实的薄膜层和较松散的杂质污染层。

故确切地说,也可把膜层电阻称为界面电阻。

3) 导体电阻
实际测量电连接器接触件的接触电阻时,都是在接点引出端进行的,故实际测得的接触电阻还包含接触表面以外接触件和引出导线本身的导体电阻。

导体电阻主要取决于金属材料本身的导电性能,它与周围环境温度的关系可用温度系数来表征。

为便于区分,将集中电阻加上膜层电阻称为真实接触电阻。

而将实际测得包含有导体电阻的称为总接触电阻。

在实际测量接触电阻时,常使用按开尔文电桥四端子法原理设计的接触电阻测试仪(毫欧计),其专用夹具夹在被测接触件端接部位两端,故实际测量的总接触电阻R由以下三部分组成,可由下式表示:
R= RC + Rf + Rp,式中:RC—集中电阻;Rf—膜层电阻;Rp—导体电阻。

接触电阻检验目的是确定电流流经接触件的接触表面的电触点时产生的电阻。

如果有大电流通过高阻触点时,就可能产生过分的能量消耗,并使触点产生危险的过热现象。

在很多应用中要求接触电阻低且稳定,以使触点上的电压降不致影响电路状况的精度。

测量接触电阻除用毫欧计外,也可用伏-安计法,安培-电位计法。

在连接微弱信号电路中,设定的测试数条件对接触电阻检测结果有一定影响。

因为接触表面会附有氧化层,油污或其他污染物,两接触件表面会产生膜层电阻。

由于膜层为不良导体,随膜层厚度增加,接触电阻会迅速增大。

膜层在高的接触压力下会机械击穿,或在高电压、大电流下会发生电击穿。

但对某些小型连接器设计的接触压力很小,工作电流电压仅为mA和mV级,膜层电阻不易被击穿,接触电阻增大可能影响电信号的传输。

在GB5095“电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法” 中的接触电阻测试方法之一,“接触电阻-毫伏法” 规定,为防止接触件上膜层被击穿,测试回路交流或直流的开路峰值电压应不大于20mV,交流或直流的测试中电流应不大于100mA。

在GJB1217“电连接器试验方法” 中规定有“低电平接触电阻” 和“接触电阻” 两种试验方法。

其中低电平接触电阻试验方法基本内容与上述GB5095中的接触电阻-毫伏法相同。

目的是评定接触件在加上不改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化薄膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。

所加开路试验电压不超过20mV,试验电流应限制在100mA。

在这一电平下的性能足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。

而接触电阻试验方法目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测
量规之间的电阻。

通常采用这一试验方法施加的规定电流要比前一种试验方法大得多。

如军标GJB101“小圆形快速分离耐环境电连接器总规范”中规定;测量时电流为1A,接触对串联后,测量每对接触对的电压降,取其平均值换算成接触电阻值。

影响因素
主要受接触件材料、正压力、表面状态、使用电压和电流等因素影响。

1) 接触件材料
电连接器技术条件对不同材质制作的同规格插配接触件,规定了不同的接触电阻考核指标。

如小圆形快速分离耐环境电连接器总规范GJB101-86规定,直径为1mm的插配接触件接触电阻,铜合金≤5mΩ,铁合金≤15mΩ。

2) 正压力
接触件的正压力是指彼此接触的表面产生并垂直于接触表面的力。

随正压力增加,接触微点数量及面积也逐渐增加,同时接触微点从弹性变形过渡到塑性变形。

由于集中电阻逐渐减小,而使接触电阻降低。

接触正压力主要取决于接触件的几何形状和材料性能。

3) 表面状态
接触件表面一是由于尘埃、松香、油污等在接点表面机械附着沉积形成的较松散的表膜,这层表膜由于带有微粒物质极易嵌藏在接触表面的微观凹坑处,使接触面积缩小,接触电阻增大,且极不稳定。

二是由于物理吸附及化学吸附所形成的污染膜,对金属表面主要是化学吸附,它是在物理吸附后伴随电子迁移而产生的。

故对一些高可靠性要求的产品,如航天用电连接器必须要有洁净的装配生产环境条件,完善的清洗工艺及必要的结构密封措施,使用单位必须要有良好的贮存和使用操作环境条件。

4) 使用电压
使用电压达到一定阈值,会使接触件膜层被击穿,而使接触电阻迅速下降。

但由于热效应加速了膜层附近区域的化学反应,对膜层有一定的修复作用。

于是阻值呈现非线性。

在阈值电压附近,电压降的微小波动会引起电流可能二十倍或几十倍范围内变化。

使接触电阻发生很大变化,不了解这种非线***,就会在测试和使用接触件时产生错误。

5) 电流
当电流超过一定值时,接触件界面微小点处通电后产生的焦耳热()作用而使金属软化或熔化,会对集中电阻产生影响,随之降低接触电阻。

问题研讨
1) 低电平接触电阻检验
考虑到接触件膜层在高接触压力下会发生机械击穿或在高电压、大电流下会发生电击穿。

对某些小体积的连接器设计的接触压力相当小,使用场合仅为mV或mA级,膜层电阻不易被击穿,可能影响电信号的传输。

故国军标GJB1217-91电连接器试验方法中规定了两种试验方法。

即低电平接触电阻试验方法和接触电阻试验方法。

其中低电平接触电阻试验目的是评定接触件在加上不能改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化簿膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。

所加开路试验电压不超过20mV,而试验电流应限制在100mA,在这一电平下的性能足以满足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。

而接触电阻试验目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻,而此规定电流要比前者大得多,通常规定为1A。

2) 单孔分离力检验
为确保接触件插合接触可靠,保持稳定的正压力是关键。

正压力是接触压力的一种直接指标,明显影响接触电阻。

但鉴于接触件插合状态的正压力很难测量,故一般用测量插合状态的接触件由静止变为运动的单孔分离力来表征插针与插孔正在接触。

通常电连接器技术条件规定的分离力要求是用实验方法确定的,其理论值可用下式表达。

F=FN·μ
式中FN为正压力,μ为摩擦系数。

由于分离力受正压力和摩擦系数两者制约。

故决不能认为分离力大,就正压力大接触可靠。

现在随着接触件制作精度和表面镀层质量的提高,将分离力控制在一个恰当的水平上即可保证接触可靠。

作者在实践中发现,单孔分离力过小,在受振动冲击载荷时有可能造成信号瞬断。

用测单孔分离力评定接触可靠性比测接触电阻有效。

因为在实际检验中接触电阻件很少出现不合格,单孔分离力偏低超差的插孔,测量接触电阻往往仍合格。

3) 接触电阻检验合格不等于接触可靠。

在许多实际使用场合,汽车、摩托车、火车、动力机械、自动化仪器以及航空、航天、船舶等军用连接器,往往都是在动态振动环境下使用。

实验证明仅用检验静态接触电阻是否合格,并不能保证动态环境下使用接触可靠。

往往接触电阻合格的连接器在进行振动、冲击、离心等模拟环境试验时仍出现瞬间断电现象。

故对一些高可靠性要求的连接器,许多设计员都提出最好能100%对其进行动态振动试验来考核接触可靠性。

最近,日本耐可公司推出了一种与导通仪配套使用的小型台式电动振动台,已成功地应用于许多民用线束的接触可靠性检验。

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