如何测试音频芯片
三种芯片测试方法
三种芯片测试方法
芯片测试的三种主要方法包括：
1. 电气测试：这是芯片检测中最常见的一种方法。
通过对芯片的电学特性进行测试，可以检测出电路连接是否正确、电气参数是否在规定范围内等问题。
电气测试通常包括输入输出特性测试、功耗测试、时序测试等。
通过这些测试，可以验证芯片的性能和稳定性，并发现潜在的问题。
2. 功能测试：这是对芯片的功能进行全面测试的方法。
通过设计一系列的测试用例，覆盖芯片的各项功能，验证芯片在不同工作模式下的表现。
功能测试可以检测芯片是否按照设计要求正常工作，是否能够满足产品的功能需求。
3. 可靠性测试：这是对芯片在不同环境条件下进行测试，评估芯片的寿命和稳定性。
这种测试常常包括温度循环测试、湿度测试、振动测试等。
通过可靠性测试，可以了解芯片在各种极端条件下的表现，评估其耐用性和稳定性。
以上三种方法各有侧重，建议根据具体需求选择合适的测试方法。
音频设备产品检验测试方法
音频产品测试方法一、FM指标测试方法 (1KHz 22.5% DEV)(1) 30dB实用灵敏度 (USABLE SENSITIVITY S/N:30dB)先将机器收正为90MHz(98MHz、106MHz)，电平(LEVEL)打在正常dB数(40左右)，音量收细至0dB处，然后去掉信号(即打下ON/OFF钮)再扭毫伏表三下，(即30dB，每扭一下为10dB)，然后调信号发生器的电平(LEVEL)，使没信号时的指针与有信号的指针重复(若没重复也不能超过1个dBm)，最后电平(LEVEL)显示的dB数就是此机的-30dB实用灵敏度。
(2) 3%失真灵敏度 (I.F.H. SENSITIVITY 75KHz DEV 3%T.H.D.)先将机器收正为90MHz(98MHz、106MHz)，调制度打在75%，将失真仪打在DIST、10%(-20dB)文件，然后分别调整音量电位器和发生器的电平(LEVEL)dB数，使失真仪指针指在3%的位置(不可超过3%的位置，正常应在3%内波动)，这时发生器的电平(LEVEL)dB数就是此机的3%失真灵敏度(例如：电平(LEVEL)dB数为11，那么3%失真灵敏度就是11)。
(3)-3dB极限灵敏度 (-3dB LIMITING SENSITIVITY)先将机器收正为98MHz，电平(LEVEL)打在66dB数，音量收细至0dB处，然后减少发生器的电平(LEVEL)dB数，到毫伏表指针减少3个dB时停，此时的电平(LEVEL)dB数就是此机-3dB 的极限灵敏度。
(4)信噪比 (S/N RATIO @1mV INPUT)先将机器收正为98MHz，电平(LEVEL)打在66dB，音量收细至0dB处，然后去掉信号(即打下ON/OFF钮)再打毫伏表，每扭一下为10dB，但毫伏表指针不能超过0dB，最后看指针指数是多少，再加上一共所打毫伏表的次数(每档为10dB)，(例：你一共打了三次指针指数为6，那么信噪比就是30+6=36dB)。
音频的测量方法
音频的测量方法１、示波法测量频率（1）测周期确定频率可用测周期的方法，先测得信号的周期，再由信号的频率与周期是倒数关系，求倒数得到信号的频率。
这种测量方法虽然精度不太高，但很方便，常用作频率的粗略测量。
（2）Lissajous图形法1）被测频率fy 的电压加到Y轴通道上，而把标准频率fx的电压加到X轴通道上，荧光屏上显示的图形称为Lissajous图形。
2）Lissajous图形的形状与输入的两个正弦信号的频率和相位差有关，因此可以通过对图形的分析来确定信号的频率及相位差(Lissajous图形法测相位差)。
Lissajous图形，如图1所示：图1 Lissajous图形确定m、n的数值：Lissajous图形应与X轴有2m个交点，与Y轴有2n个交点，所以只要从显示的Lissajous图形上数出这些交点，就可确定m、n的数值。
在Lissajous图形上分别作两条不通过图形本身的交点，也不与图形相切的水平线和垂直线，数出图形与水平线的交点即为2m，与垂直线的交点为2n。
Lissajous图形法一般适用于被测频率和标准频率十分稳定的低频信号(音频到几兆赫范围)，而且一般要求两频率比最大不超过10倍，否则图形过于复杂而难以测准。
如果fy与fx不成比例关系，则荧光屏上显示的图形是不稳定的或旋转变化的，这时还应该继续调节标准频率信号源，直到图形稳定。
只有当fy ：fx＝m：n(m，n为整数)时，荧光屏上才能显示稳定的图形。
由于标准信号源的频率是已知的，只要能确定比值m：n，就可算出被测信号频率。
不同频率比和不同相位差的Lissajous图形，如图2所示：图2 不同频率比和不同相位差的Lissajous图形２、计数法测量频率（1）原理计数法测量频率，如图3所示：图3 计数法测量频率（2）量化误差(±1误差)1）产生原因在计数时，如果主门的开启信号与被测信号之间没有同步锁定关系，同一被测信号在相同的主门开启时间内两次测量所记录的脉冲数N可能不一样。
OEP30W音频放大芯片的输出特性和温度特性测试方案
OEP30W音频放大芯片的输出特性和温度特性测试方案在博文"OEP30WD类音频功率放大器简单测试”中给出了OPE30W的基本连接方式和功能应用。
对于该音频放大芯片的输出特性和温度特性是什么？本文给出了测试方案。
在测试芯片的频率相应的时候，需要使用到正弦波产生芯片模块AD9833。
所使用到的COM2串口命令如下所示：fromtsmodule.tshardwareimport*ccloadSerial.write(b’ad9833setfrequency250 ’)详细的参考资料为：AD9833数字信号发生器模块[1]频率特性测试由于OEP30W的输出为D类功放输出，需要对输出信号进行低通滤波之后，才能够获得其中的音频信号。
下面采用两种低通滤波的方式：LC低通滤波；RC低通滤波1.LC低通滤波对OEP30W输出SP+,SP-都使用LC低通滤波。
如下所示。
滤波后的信号在使用DM3068数字万用表交流信号挡进行测量。
下图中电感的容量为：，电容的容量为：。
那么该低通滤波器的谐振频率为：OEP30W音频放大芯片的输出特性和温度特性测试方案测量电路方案如下是绘制的输出信号的幅度。
由于输入信号的幅值是固定的，所以这个曲线就代表了整个系统的幅频特性。
从其中可以看到在5kHz的地方有一个明显的谐振峰值，这是由LC低通滤波器所带来的。
测试电路的幅频响应为了减少该谐振峰对于OEP30W模块的频率特性的影响，将上面LC中的C的容值改成0.01uF。
此时，谐振频率变成了15.9kHz。
绘制输出信号的幅值随着频率的变化，代表了上述测量系统的幅频特性。
其中在4kHz以下，系统的幅频特性非常平坦。
2.RC低通滤波使用RC滤波来对OEP30W模块中的音频信号进行提取。
如下图所示，其中的电感的改成4.7kΩ的电阻。
该低通滤波器的滤波常数所对应的截止频率等于：使用RC滤波的电路绘制出输出信号的幅值随着频率的变化，代表着上述测量系统的频率特性。
VA2230音频指标测试方法
VA2230音频指标测试方法音频测试仪器VA-2230操作方法1、测试设备音频分析仪器VA-2230 测试碟片：三所测试碟2、AV部分音频指标测试2.1测试准备阶段2.1.1按音频分析仪面板“POWER”键开启仪器，同时按“SHITF”键直到仪器显示“RESET SOFTVOLUE”,此时分析仪将自动复位。
当仪器复位阶段结束时。
按仪器面板“AC-V”键，使其处于测音量电平的状态。
再按“▲”或“▼”键，将其显示屏光标移到“LPF”处，按“F1”,选择“OFF”关闭低通。
2.1.2将样机音频输出L/R端用测试屏蔽线对应接入音频分析仪AC-IN L\R端。
开启样机，将指标测试碟轻放至样机内，待读出碟后，将样机所有功能（平衡设置、音调调节等）设置为初始状态，并将软件内影响音频测试的设置项设为“关”。
2.2音频输出电平测试：播放音频电平测试信号（第1曲），按分析仪“AC-V键，选“▲”或“▼”键，将光标移至“INPUT”(DVD选F1和F3;VCD选F2和F3),另选“UNIT”键，按“UNIT”键，按“F3”选择单位“V”,直接从分析仪读取输出电平幅值。
2.31KHZ通道不平衡度测试：保持6.2测试状态（另按“F1”选“dBV”）,直接读取左右通道电平差值即为1KHZ通道不平衡度。
2.4音频失真加噪声测试：播放第1曲，按“DISTN”键，屏幕显示“THD+N”,将光标移至“UNIT”,按“F1”选择单位“dBV”,光标移至“LPF”，按“F3”选择“20KHZ”,直接读取失真加噪声数值。
2.5音频信噪比测试：播放第1曲，按“▲”或“▼”键，将光标移至“PSO”.按“F2”选择“A”。
另外光标移至“LPF”,按“F3”选择“20KHz”.按“S/N”键直到左右通道均显示”0.0DB”后，选择音频信噪比信号（DVD选第11曲），待曲目播放稳定后读取数值。
2.6音频动态范围测试播放动态范围测试信号（DVD选12曲），将光标移至“PSO”，按“F2”选择“A”。
快速检测判断mp3主控芯片好坏方法
8. mp3-mp4、某个按键、或多个按键功能失灵、其它功能正常，（注：确定按键是好的板线、有无断线、阵列电阻、电容、有无变质、和开路、短路），也可确定：主空芯片损坏、更换OK。
9. MP3播放器、显示菜单图标、向左跑个不停、或者向右跑个不停、（注：其它部位OK、参照第8条方法，也正常）。也可确定主控芯片损坏，更换OK。
4. 把数字万用表调到直流电压档，直接检测主控芯片ATJ2085芯片、23脚-24脚、连接晶振两端对地电压，正常值应该为、0.45V至0.98V、若有一脚对地电压为、0.0V、另一脚对地电压为、1.1V至1.48V 、就可以确定、此主控芯片已损坏、更换OK。（注：此检测结果为、一定要确定供电稳压调整分配电路正常）。
2. 小心拆开播放器、观察主板有无断裂、和电器元件有无烧毁爆裂之处。如果没有，就用无静电电烙铁、取掉锂电电池，（注：这时主板不能带任何电源）、用数字万用表电阻档、检测供电调整稳压分配电路，有无短路、开路、断路和断切OK。这时把标准充电器和USB线联接到MP3播放器USB座口上，准备带电检测。
5. 炬力（ATJ2085）主控芯片、23脚和24脚两脚对地电压、如果都为0.0V、可能是供电电路有故障，请修复。在检测晶振两端对地电压、是否为正常值，大家可按第4条所说：就可确定主控芯片损坏、更换OK。
6. 如果主控芯片ATJ2085、1脚为0.0V、另1脚为1.1V至1.89V、用手指敏感部位触摸，有无温度过高现象、如有温升、也可确定此主控芯片损坏，更换OK。
7. MP3-MP4\无声故障系列检测(ATJ2082）主控好坏方法：维修MP3-MP4播放器时手工试机 ，各功能键一切正常，联PC机、格式化、下载、也正常。按音量键调到最大值，可一点声音也没有。 拆开播放器，用数字万用表电阻挡检查，耳机OUT座口、及周围电路元件，无虚焊，无短路 无开路或无断线。在用数字万用表电压档、测试主控（ATJ2085 ）8脚、9脚两端对地电压，正常为0.84V至1.76V、（注：此电压为播放音量OUT大小时测试结果）。如果两脚对地电压为0.0V、或者一脚对地电压为0.0V、另一脚对地电压为正常电压0.84V至1.76V、可以确定主控芯片损坏、另外芯片温度高，也可确定损坏 更换OK。
音频测试方法
STB音频测试操作手册 STB音频测试项目和指标表1音频测试指标测试信号表2 0.33:01测试序列在音频测试时，首先很重要的要对测试项目所对应的测试信号要十分清楚。
目前测音频的指标用的信号基本上是CCITT0.33:01测试序列的各种码流，在.33测试序列中包含了表1所提到的所有测试指标用到的信号，而且每个测试信号都非常短，只有1秒，而我们测不同的指标要Freeze不同的曲线，所以先要十分熟悉每秒要播的信号，然后通过不断操作把自己培养成快手。
测试方法1音频输出幅度和失真度测音频输出幅度和失真度用的信号是CCIT0.33:01中的1020Hz,0dBm的信号，VM700T用Audio Analyzer进行测试，下面几个测试项目除了噪声用Audio Spectrum之外，都是用Audio Analyzer进行测试的。
在1.020kHz，0dBu信号出现时，按Freeze,然后读出Level和THD+N的值，Level值为左右声道中较小的值，失真度为左右声道中较大的那个。
本例子中Level=-0.03dBu,失真度=0.016%.2 音频幅频特性测音频幅频特性时测试信号从1020Hz, -12dBm开始，到15000Hz，-12dBm，VM700T要在1020Hz,0dBm后，点击Erase Plot软键，清除屏幕上之前的打点，然后在信号跑到15000Hz，-12dBm时，按Freeze，可以得到幅频特性曲线。
如下图所示。
得到的曲线看似平，但是通过放大后可以得到一根曲线，如下图。
通过移动得到1kHz时的电平，记下该值A=－12.026dBu.再读出曲线最低点的值，B=-12.06.A-B=0.034dB，就是幅频特性值3 音频左右声道相位差、音频左右声道电平差左右声道电平差和相位差用的还是用刚才幅频特性Freeze下来的曲线。
通过Select Graph软键选择View Diff.可以进入左右相位差和电平差界面，通过放大在曲线中读差值最大的那个，作为测试结果。
AAC声器件设计与测试
AAC声器件设计与测试AAC（Acoustic Audio Codec）声器件是一种用于音频信号的编解码的设备，主要用于实现高质量的音频传输和播放。
设计和测试AAC声器件需要考虑多个方面，包括硬件设计、软件设计和性能测试。
硬件设计方面，AAC声器件需要考虑音频信号的输入和输出接口、编解码芯片的选择和电路设计等。
首先，输入接口可以选择模拟音频输入和数字音频输入。
模拟音频输入通常使用音频放大器和模数转换器将模拟音频信号转换为数字音频信号，而数字音频输入则可以通过使用I2S或SPI接口与其他设备进行通信。
输出接口通常使用数字音频输出接口，可以通过使用I2S或SPI接口将编解码器输出的数字音频信号传输到其他设备。
选择合适的编解码芯片是实现高质量音频传输和播放的关键。
常用的编解码芯片有AAC编解码芯片、MP3编解码芯片和FLAC编解码芯片等。
电路设计方面，需要考虑功耗、抗干扰能力、噪声等问题，并在PCB设计过程中注意信号和电源的隔离，以保证音频信号的质量。
软件设计方面，需要编写驱动程序和应用程序来控制AAC声器件和实现音频编解码。
驱动程序可以使用C语言或汇编语言编写，用于控制硬件接口和与编解码芯片进行通信。
应用程序可以使用C语言或C++语言编写，用于实现音频编码和解码算法，并控制音频的输入、输出和处理过程。
在软件设计中需要注意编解码算法的优化和处理时间的控制，以保证音频信号的实时性和音质。
性能测试方面，需要对AAC声器件进行多个方面的测试来评估其性能。
首先是音频质量测试，通过对编码和解码的音频信号进行主观评价和客观评价来评估音频质量。
主观评价可以通过让专业人员进行听觉感知测试来进行，而客观评价可通过使用音频分析软件测量音频信号的失真度、信噪比、频谱平衡等参数来进行。
其次是时延测试，通过测量音频信号从输入到输出的延迟时间来评估实时性。
最后是稳定性和可靠性测试，通过长时间运行、大负载测试等来评估声器件的稳定性和可靠性。
音频产品测试方法
音频产品测试方法1.音质测试：音质是指声音的质量和纯度。
通过主观评估和客观测量来测试音频产品的音质，包括频率响应、失真、动态范围、声音定位等方面。
常见的客观测量方法包括频率响应测试、失真测试和信噪比测试。
2.性能测试：性能测试主要包括功率输出、音量范围、频率响应、谐波失真等方面。
通过对音频产品进行测试，确保其在各种工作条件下的性能稳定性和可靠性。
3.功能测试：功能测试主要针对音频产品的各项功能进行测试，包括蓝牙连接、输入输出接口、音量控制等。
通过模拟各种使用场景，测试音频产品的功能是否正常、易用性是否符合用户期望。
4.耐久性测试：耐久性测试是为了评估音频产品的使用寿命和稳定性。
通过模拟长时间使用、频繁插拔和承受外力等情况，测试音频产品在各种极端环境下的表现。
5.电磁兼容性测试：音频产品通常会受到电磁干扰的影响，影响其正常工作和音质表现。
电磁兼容性测试主要包括辐射测量、电磁兼容性等方面，确保音频产品在无线电频率范围内的正常工作。
6.用户体验测试：用户体验测试主要是通过用户参与，评估音频产品在实际使用中的舒适度、方便性和用户友好性。
通过用户调查问卷、实际观察等方法，收集用户反馈和建议，优化产品设计和功能。
为了完成这些测试，需要使用一些专业的测试设备和软件，如声音分析仪、信号发生器、频谱分析仪等。
此外，测试环境也非常重要，确保在无干扰的环境下进行测试，以取得准确的测试结果。
综上所述，音频产品测试方法包括音质测试、性能测试、功能测试、耐久性测试、电磁兼容性测试和用户体验测试。
通过这些测试方法，可以全面评估音频产品的性能和功能是否符合预期要求，确保产品质量和用户体验的提升。
音频分析仪测试音频指标的操作说明
VA-2230A音频分析仪测试音频指标的操作说明一、测量环境：1、KENWOOD VA-2230A：左、右声道输入端通过BNC头各接一根带夹头的信号线。
2、被测试的MP3播放器内：存放有下列9个测试音文件：0dB—1KHz—左/右声道、0 dB—1KHz—左声道、0 dB—1KHz—右声道、0 dB—20Hz—左/右声道、0 dB—100Hz—左/右声道、0 dB—10KHz—左/右声道、0 dB—10KHz—左声道、0 dB—10KHz—右声道、-60 dB—1KHz—左/右声道3、耳塞：左/右双声道标准耳塞—16/32欧—线上露出铜芯便于在线带负载测量。
二、各项指标的测量方法：总述：循环按下输入通道选择键CH，能够选择打开哪个通道的输入。
从绿色指示灯的亮与否，能判断出左、右通道的输入是否打开。
有几个按键是复合键，如：先按下SHIFT键，再按下S/N键，就实现了按下RATIO键的功能（后面直接称为按下RATIO键，其它类同）；同理有：SHIFT+DISTN=SINAD，SHIFT+AC-V=DC-V，SHIFT+GEN=OPT，SHIFT+F1=F6，SHIFT+F2=F7，SHIFT+F3=F8，SHIFT+F4=F9，SHIFT+F5=F10。
按下某ITEM键（如SYSTEM键、GEN键、AC-V键、DISTN键、S/N键、RATIO 键、SINAD键、DC-V键、OPT键），屏幕上会出现层叠状菜单，可以通过分别按△键、▽键、左向三角键、右向三角键选择某一项子菜单，再通过按屏幕下的功能键F1-F5实现设置选择或按数字键（以按ENT键结束）填入数据。
这里用到一种表示方法：左/右向三角键选择的层菜单数字-△/▽键选择的子菜单数字。
例如，4-2表示某ITEM下第4层中的子菜单2。
测试时，应该将MP3的输出音量调到最大值。
各项音频指标测量方法分述如下：1、基准输出电平：A．接好左/右声道测量线路，播放0dB—1KHz—左/右声道测试音文件；B．按下AC-V键，选择相应的设置。
苹果耳机测芯片好坏的方法
苹果耳机测芯片好坏的方法苹果耳机的芯片好坏对于音质的影响非常重要。
下面我将详细介绍一些测量苹果耳机芯片好坏的方法。
首先，查看芯片质量。
苹果耳机芯片通常由一些知名的半导体厂商提供，比如苹果自家的W系列芯片或者美国的高通芯片。
你可以在耳机的产品说明书或者相关的官方网站上找到这些信息。
如果芯片质量较好，那么耳机的音质和性能有很大可能也会比较出色。
其次，测试蓝牙连接稳定性。
苹果耳机通常使用蓝牙技术进行连接，通过连接电脑或手机等设备来播放音乐。
你可以在连接设备的时候测试一下蓝牙连接的稳定程度，包括连接速度、连接距离和连接稳定性等方面。
如果芯片质量较好，那么蓝牙连接应该是非常稳定的，不会出现掉线或者音频延迟等问题。
第三，听音质。
这是最直观的检测方法。
你可以选择一些优质的音频源，比如无损音乐或高码率的音乐文件，通过苹果耳机进行播放。
注意听音质时要保持耳机连接设备的完好状态，避免其他干扰因素。
如果音质清晰，声音还原度高，那么芯片的好坏应该也不会差。
第四，测试噪音控制效果。
苹果耳机通常具有主动降噪（ANC）功能，可以有效地降低外部噪音的干扰。
你可以在嘈杂的环境下测试一下耳机的ANC功能，包括噪音的过滤程度和音乐的清晰度等方面。
如果ANC效果好，说明芯片的噪音控制能力较强。
第五，测试耳机的延时。
对于一些需要高时间同步的应用，如观看视频或者玩游戏，耳机的延时是非常重要的指标。
你可以尝试在耳机连接设备的情况下，通过观察音频和视频的同步情况来测试耳机的延时。
如果延时较低，说明芯片的传输速度较快。
通过以上几个方面的测试，你应该能够初步判断出苹果耳机芯片的好坏。
当然，这只是一个初步的判断，如果你有条件，还可以通过使用一些专业的音频测试设备进行更加精确的测量。
芯片音频参数智能测试方案设计与实现
技术Special TechnologyI G I T C W 专题86DIGITCW2020.101 芯片音频参数的智能测试方案的阐述音频参数的智能测试方案，主要由硬件电路、软件系统与Handler （自动电脑机板测试IC 分选机）构成。
硬件设计主要采用外挂D/A 转换器给被测芯片输入一个标准的模拟参考信号；软件系统设计主要采用了快速傅里叶变换 （Fast Fourier Transform ）技术，即利用计算机计算离散傅里叶变换（DFT ）的高效、快速计算方法的统称，简称FFT ；机械手主要通过TTL 接口与测试装置通信，自动区分良品与不良品。
该芯片音频参数的智能测试方案主要针对大批量生产中芯片信噪比（SNR ）与总谐波失真+噪声（THD+N ）的测试，该装置可实现（SNR ）≥90dB ，（THD+N ）≤-60dB 的指标测试。
各项功能检测流程包括：Handler 开机→机械手自动抓取芯片→自动检测并计算信噪比（SNR ）与总谐波失真+噪声（THD+N ）的数据结果→历史音频参数信噪比（SNR ）与总谐波失真加噪声（THD+N ）数据自动存储和查询→依据测试数据的比对，自动判断结果→Handler自动区分良品与不良品。
图1 音频参数智能测试方案流程图2 芯片音频参数智能测试方案的实现2.1 测试方案流程（如图2）图2 音频参数智能测试系统示意图芯片音频参数智能测试方案设计与实现黄美莲（瑞芯微电子股份有限公司，福建 福州 350001）摘要：随着市场对语音电子产品性能指标的高标准严要求，提高语音电子产品的性能指标已经引起芯片生产商的高度重视。
针对信噪比（SNR）与总谐波失真加噪声（THD+N）等音频参数使用专业仪器测试成本高、速度慢及连接复杂等种种弊端，文章提出了一套芯片音频参数测试方案，并通过样机实验数据对比，验证了该方案具有性价比高、速度快、操作简便等优点，测试的产品经过质检部门和客户的验证，达到了使用要求，从而为公司节省大批测试设备购置费用和维护成本。
一种音频芯片的检测方法及检测设备[发明专利]
![一种音频芯片的检测方法及检测设备[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/e3b79c03172ded630a1cb65d.png)
专利名称：一种音频芯片的检测方法及检测设备专利类型：发明专利
发明人：边仿
申请号：CN202011304464.3
申请日：20201119
公开号：CN112557869A
公开日：
20210326
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明提供一种音频芯片的检测方法及检测设备,用于对待测音频芯片进行电学功能检测和失效原因分析，包括装夹步骤一、电测步骤、评价步骤一、成像步骤一、评价步骤二、装夹步骤二、成像步骤二、分析步骤，其中成像步骤由成像设备和透视成像夹具对待测音频芯片的引脚外观连接情况和封装内部结构情况进行成像并得到成像结果，从而通过成像分析手段实现了对音频芯片在电学功能检测过程中是否存在由于连接问题导致的不良品误判的校核过程，并为进一步分析封装内部导致失效或功能参数低下的积电路结构提供了分析基础，提高了音频芯片的生产效率和制造工艺改进能力。
申请人：头领科技(昆山)有限公司
地址：215316 江苏省苏州市昆山市玉山镇水秀路1339号北幢2楼
国籍：CN
代理机构：北京卓岚智财知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：田野
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音频芯片的测试方法、存储介质和计算机设备[发明专利]
![音频芯片的测试方法、存储介质和计算机设备[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/289e46f181eb6294dd88d0d233d4b14e85243eff.png)
专利名称：音频芯片的测试方法、存储介质和计算机设备专利类型：发明专利
发明人：郭森,蒋筑阳,冯志强,王炼
申请号：CN201910667182.0
申请日：20190723
公开号：CN112291696B
公开日：
20220617
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本申请公开了一种音频芯片的测试方法、存储介质和计算机设备。
该音频芯片的测试方法包括：向音频芯片输入第一音频信号，其中第一音频信号为标准音频信号；获取经音频芯片处理后分别自左声道和右声道输出的第二音频信号；分别获取左声道和右声道输出的第二音频信号在特定频点上的第一幅度值和第二幅度值，其中特定频点为第一音频信号的频率值；确定第一幅度值和第二幅度值的差值是否小于第一幅度阈值；若是，则音频芯片的左声道和右声道的性能符合要求。
通过确定自左声道和右声道输出的第二音频信号在特定频点上的第一幅度值和第二幅度值的差值是否小于第一幅度阈值，本申请能够检测出左右声道输出能力相近的音频芯片。
申请人：深圳市韶音科技有限公司
地址：518108 广东省深圳市宝安区石岩街道石新社区山城工业区14厂房1楼、4-6楼
国籍：CN
代理机构：深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：李庆波
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如何测试音频芯片（4）
应Gemmy的问题，希望能回应Gemmy的需求：）
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因为有些东西尽管是自己的经验，但是确实是机密级别的……所以大家看到就当作赚了，他们没看到的……尽管有些朋友朋友说不要发，但是个人感觉还是有些技术性的东西才能提高论坛的质量，所以请大家多多支持
欢迎讨论，谢绝转载：）
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首先什么是音频Device？一般来说我们常见的音频Device都是AD、DA和控制总线的结合，这里以最简单只有一路AD、一路DA，使用I2C总线的音频Device进行测量。
其实我们不用太管复杂芯片的什么PCM编码到底有什么用处，最基本的内核就是点AD、DA
OK，对于AD有什么参数要测呢？INL,DNL,Gain Err,Offset Err,THD,SNR,SNDR,IIM,DA也是这些。
但是对于音频信号来说，一般静态参数不是很重要，比如你的Gain Err差点，但是不影响声音的品质，最多在音量上有所差别，所以，音频Device一般只测动态参数。
对应的，如果是Video Device一般只测静态参数
对于INL、DNL一般我们只取关键几个点测试一下，因为现在的高档音频器件都是16位，24位的要全测INL、DNL测量时间就成了噩梦了。
不过就算全测而且对时间要求比较严格，也有相应的解决方案，只是会稍微贵点：）
OK，我们现在的目标就是测试动态参数（当然，常见的什么IDD，VOH，Rise Time之类的常见的参数这里就不说了）包括：SNR，THD，还有CMRR和AD、DA Channel Filter Frequency Response，这里只选择最简单的SNR和THD进行测量。
关于SNR和THD是什么这里就不多讲，关键说一下怎么测？
我们测这些动态参数最重要的是参考Spec，Spec上说测试条件了毋庸置疑就是按照Spec上的来写，比如在1020Hz的采样频率下输入300Hz信号测试AD、DA输出信号的SNR和THD。
常见的SNR测试会是这样：
DA：输入300Hz的正弦波形，幅度为0dB，在DA输出端记录完整的输出波形然后送去做FFT运算得到各个频率的分量，然后算出SNR
AD：输入300Hz的正弦电压，幅度为-1dB，在AD输出端记录完整的输出信号然后送去做FFT运算得到各个频率的分量，然后算出SNR
区别就是在于0db和-1db。
为什么会这样？是因为加入Device的Gain Error不好，你输入一个0db的信号会直接被截断，比如说Device的实际接受为为-2.9V 到 2.9V，你要是按照Spec给他一个-3V 到3V的电压，那么2.9到3V这段都会是类似0FFFFFF的东西，所以你的SNR就会差的远了，必须输入一个Device 肯定可以正确处理的信号。
那么为什么DA不会有个问题呢？比如给你一个3为的DA，你最大也就是-3到+3了，你给我输入一个+10试试看？
THD的测试也是类似，区别的就是最后把抓到的波形FFT之后计算的问题，不记得的朋友回去啃几天信号与系统就OK了：）
这里只是简单的说了一下测试方法，一般AD、DA的课都要开2周以上再加上3周实验的，所以大家需要结合实际的硬件进行练习。