【CN109830423A】一种加速器质谱测量方法和系统【专利】

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(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910180677.0

(22)申请日 2019.03.11

(66)本国优先权数据

201810201635.6 2018.03.12 CN

(71)申请人姜山

地址 100036 北京市海淀区万寿路12号院1

号楼1单元601室

(72)发明人姜山　

(51)Int.Cl.

H01J 49/00(2006.01)

H01J 49/10(2006.01)

G01N 27/64(2006.01)

(54)发明名称

一种加速器质谱测量方法和系统

(57)摘要

本申请实施例提供了一种加速器质谱测量

系统，涉及AMS技术领域。该加速器质谱测量系统

包括：ECR强流正离子源子系统，

注入器子系统，强流加速器子系统，高能分析子系统和高分辨探

测器子系统；所述ECR强流正离子源子系统，注入

器子系统，强流加速器子系统，高能分析子系统

和高分辨探测器子系统按序连接；所述ECR强流

正离子源子系统用于产生多电荷态的强流正离

子；所述强流加速器子系统用于直接对强流正离

子进行加速。本申请实施例具有束流强、总效率

高和压低本底能力强等优点，能够大幅度提高测

量的丰度灵敏度。权利要求书1页说明书8页附图2页CN 109830423 A 2019.05.31

C N 109830423

权　利　要　求　书1/1页CN 109830423 A

1.一种加速器质谱测量系统，其特征在于，包括：

ECR强流正离子源子系统，注入器子系统，强流加速器子系统，高能分析子系统和高分辨探测器子系统；

所述ECR强流正离子源子系统，注入器子系统，强流加速器子系统，高能分析子系统和高分辨探测器子系统按序连接；

所述ECR强流正离子源子系统用于产生多电荷态的强流正离子；所述强流加速器子系统用于直接对强流正离子进行加速。

2.根据权利要求1所述的加速器质谱测量系统，其特征在于，所述强流加速器子系统为

强流单级静电加速器，所述强流单级静电加速器由多个加速管单元组成；所述强流加速器Array

子系统加速的束流强度的范围为。

3.根据权利要求1所述的加速器质谱测量系统，其特征在于，所述ECR强流正离子源子系统处理的元素包括从H到Pu、锕系、超锕系的元素其中至少一种。

4.根据权利要求1所述的加速器质谱测量系统，其特征在于，所述高能分析子系统包括：第一磁分析器，第一吸收膜，静电分析器和第二磁分析器；所述第一磁分析器，第一吸收膜，静电分析器和第二磁分析器按序连接；所述第一吸收膜在所述高能分析子系统启动后处于静止状态或处于转动状态。

5.根据权利要求1所述的加速器质谱测量系统，其特征在于，所述高分辨探测器子系统包括第二吸收膜和高分辨探测器；所述第二吸收膜和高分辨探测器按序连接；所述第二吸

收膜在所述高探测器子系统启动后处于静止状态或处于转动状态。

6.根据权利要求5所述的加速器质谱测量系统，其特征在于，

所述高分辨探测器为Array气体探测器。

7.根据权利要求1所述的加速器质谱测量系统，其特征在于，所述注入器子系统包括:前加速段和低能端磁分析器;所述前加速段与所述低能端磁分析器按序连接；所述低能端磁分析器用于选择所要加速离子的质荷比。

8.根据权利要求1所述的加速器质谱测量系统，其特征在于，还包括：控制子系统；所述控制子系统分别与ECR强流正离子源子系统，注入器子系统，强流加速器子系统，高能分析子系统和高分辨探测器子系统连接，控制各子系统的运行。

9.一种加速器质谱测量方法，其特征在于，包括：

采用ECR强流正离子源子系统生成多电荷态的强流正离子；

通过注入器子系统将所述强流正离子注入到强流加速器子系统；

由所述强流加速器子系统采用待测的强流正离子对应的加速电压进行加速；

由高能分析子系统对所述强流加速器子系统输出的离子束流进行高能分析；

由高分辨探测器子系统对高能分析后的正离子进行探测。