数字光强度检测模块设计

合集下载

数字式光照强度检测仪的设计实现_实验报告

数字式光照强度检测仪的设计实现_实验报告

电子电路实验(三)设计总结报告设计选题一:数字式光照强度检测仪的设计实现院(系) :自动化学院班级:**********学号:**********学生姓名:******指导教师:******2011年5月摘要本实验中采用光敏电阻为光传感器,利用光敏电阻的光照特性完成光强的检测。

具体方法是将三路光敏电阻支路并联接入电路中,其中一路串接一固定电阻,另外两路分别串接电位器,利用光敏电阻值随光照强度变化的特性,使得电路的输出电压而变化。

根据这一特性,结合光照强度和输出模拟电压之间的关系,分别对三路电压值进行采集得到某一光强度下对应的模拟电压,将模拟电压通过ADC0804模数转换器转换为数字电压,通过VC语言编程,将其集于单片机中,进行比较以后通过两位数码管将最大值显示出来,相应地控制点亮对应的小数点以显示光强的方位。

通过硬件的焊接、静态和动态调试和程序的编写和修改,作品最终很好地实现了实验任务和要求,在近似无光照时数码管显示为0,正常工作时能检测三个不同方位的光强并通过两位数码管将最大数值显示出来,而两个小数点的不同组合显示对应方位。

关键词:光照强度;检测仪;设计实现2第1部分课题的任务与要求1.1 设计选题设计选题一:数字式光照强度检测仪的设计实现1.2 任务及要求1.2.1 设计选题的任务结合单片机最小电路和光敏电阻电路共同设计一个基于单片机的数字式光照强度检测系统,用数码管显示光照强度。

还可以设置多个不同方向的光敏电阻,通过计算它们的光照强度运用比较器以确定当前的光照方向。

(1)、实现单片机最小系统设计。

(2)、焊接调试光敏电阻网络。

(3)、焊接调试AD电路,标定光照强度基本单位。

(4)、编写单片机程序,将获得的电信号转换成光照强度单位下的数值,并用数管显示。

(5)、通过比较不同方向测得的光强数值判断光照方向,在数码管上显示其方向。

1.2.2 设计选题的要求(1)、无光照时数码管显示为零。

(2)、用数码管显示光照强度,误差范围为5~10LUX(以白天中午室内日光灯的光照强度为标准定义为100 LUX )。

adc模块实验遇到的问题及收获

adc模块实验遇到的问题及收获

adc模块实验遇到的问题及收获篇一:ADC(自动分光光度计)模块是电子测量中常用的一种传感器,可以测量物体反射的光线的亮度和颜色等信息。

在实验中,ADC模块可能会遇到一些问题,下面是一些常见的问题和解决方法:1. 采样不足:当光线强度较低或者物体表面反射的光线较少时,ADC模块可能会采样不足,导致测量结果不准确。

解决方法是增加采样频率或者增加采样位数。

2. 测量误差:由于 ADC 模块本身的限制,如精度、分辨率等,可能会导致测量误差。

解决方法是选择合适的 ADC 模块、优化电路设计、提高信号传输距离等。

3. 接口不匹配:不同品牌、型号的 ADC 模块可能有不同的接口,如 USB、RS-232 等。

实验中需要确保接口匹配,否则可能会导致数据传输错误。

4. 电源电压不稳定:ADC 模块需要一定的电源电压,如果电源电压不稳定,可能会导致 ADC 模块无法正常工作。

解决方法是使用稳定的电源、设置稳压器等。

在实验中,通过解决这些问题,可以获得更好的实验结果。

此外,还可以学习到 ADC 模块的基本原理、应用场景、设计方法等方面的知识。

拓展:除了 ADC 模块本身的问题之外,实验中还可能会涉及到其他问题,如电路干扰、信号传输距离、信号噪声等。

这些问题都需要在实验中仔细排查和解决,以提高实验效果和准确度。

实验不仅仅是为了获得准确的测量结果,还需要学习实验设计、实验操作、数据处理等方面的知识和技能。

通过实验,可以加深对理论知识的理解和应用,提高实践能力和创新能力。

篇二:ADC(数字到模拟转换器)模块是电子电路中常用的一种模块,用于将数字信号转换为模拟信号。

在进行ADC模块实验时,可能会遇到一些问题,但通过解决这些问题,可以获得一些收获。

在实验过程中,可能会遇到以下问题:1. 输入信号过大或过小:ADC模块的输入信号范围通常有一定的限制,如果输入信号过大或过小,可能会导致模块无法正常工作。

因此,在实验前需要确保输入信号符合ADC模块的输入范围。

基于stm32的光照度计设计

基于stm32的光照度计设计

基于STM32的光照度计设计简介光照度计是一种用于测量光照强度的仪器,常用于环境监测、植物生长研究等领域。

本文将介绍基于STM32微控制器的光照度计设计方案,包括硬件设计、软件开发和实现过程。

硬件设计光敏电阻光敏电阻是测量光照强度的关键组件。

通过光敏电阻的电阻变化,可以反映光照强度的变化。

选择合适的光敏电阻非常重要,常见的有CdS电阻和硅光敏电阻。

在设计中,需要考虑到光敏电阻的灵敏度、响应时间以及线性度等因素。

STM32微控制器选择适合的STM32微控制器是设计中的重要一环。

根据光照度计的要求,需要考虑处理速度、存储容量、外设接口等因素。

根据实际需求选择合适的型号,如常见的STM32F1系列、STM32F4系列等。

模拟数字转换光敏电阻的变化是模拟信号,需要通过模拟数字转换(ADC)将其转换为数字信号。

STM32微控制器内置了多个ADC通道,可以直接进行模拟信号的转换。

在设计中,需要合理选择ADC的采样频率和精度。

显示模块光照度计的测量结果通常需要实时显示,可以选择液晶显示屏或数码管等显示模块。

在设计中,需要考虑到显示模块的接口和显示效果。

电源模块为了保证系统的正常运行,需要合理设计电源模块。

可以选择使用稳压芯片或者电池供电加稳压模块的方式,以提供稳定的供电电压。

软件开发STM32 CubeMXSTM32 CubeMX是STMicroelectronics官方提供的一款软件工具,可以用于生成STM32的初始化代码。

通过配置界面化的操作,可以快速生成系统初始化代码,包括时钟配置、中断配置、外设初始化等。

借助STM32 CubeMX可以极大地提高软件开发效率。

Keil MDKKeil MDK是一款流行的软件开发工具,可以用于编写、编译和调试STM32的程序。

通过在Keil MDK中创建工程,可以方便地进行代码编写和调试。

程序设计在软件开发中,需要编写程序来实现光照度的测量和显示。

根据硬件设计的特点,可以利用STM32的ADC模块对光敏电阻的电阻进行模拟信号转换,并通过串口或其他方式将测量结果发送到PC或其他外设进行显示。

计算机控制课程设计单片机光照强度检测系统本科论文

计算机控制课程设计单片机光照强度检测系统本科论文

摘要BH1750是一款新型的测光芯片,本设计系统就是基于BH1750设计的测光系统,它可以自动检测光照强度的强弱并显示让人们知道此时光照强度的强弱。

人们可以通过看此装置的显示了解现在的光照状态,做合理的光照调节。

该设计可分为三部分:即光照检测部分、信号处理部分、光强显示部分。

对于光照检测部分是利用BH1750作为检测元件及信号处理元件,其内部集成了AD转换芯片。

它可以完成从光强到电信号的转换并将信号处理进行处理。

对输入信号处理后,就可以用来显示了。

对于显示部分可利用LCD1602来显示,不同的光强对应于不同的数值,就能简单的显示出不同的光强了。

本设计就是由单片机STC89C52RC芯片,BH1750模块和1602液晶为核心,辅以必要的电路,构成了一个单片机光照强度检测系统。

该光照强度检测系统可以通过检测光照强度,使得光照在低于或高于一定强度的时候发出警示,是一种常用的测试仪器。

关键词:51单片机,LM7805,BH1750,1602液晶目录0 引言 (1)1设计内容与要求 (1)1.1 设计任务 (1)1.2 设计要求 (1)2 方案总体设计 (1)2.1 光照强度采集方案设计 (2)2.2 控制芯片及实现方案 (3)2.3 数据显示方案 (3)2.4 系统总体框图 (4)3 硬件设计 (5)3.1 单片机最小系统 (5)3.2 BH1750采集模块 (6)3.3 液晶显示模块 (6)3.4 系统电源 (7)3.5 整体电路和PCB图 (8)4 软件设计 (9)4.1 keil软件介绍 (9)4.2 程序流程图 (10)4.3 各模块程序 (10)5 仿真与实现 (15)5.1 Proteus软件介绍 (15)5.2 仿真过程 (16)5.3 实物制作与调试 (17)6 总结 (18)7 参考文献 (19)0 引言随着改革开放的不断深化和城镇化的不断发展,越来越多的人移居到城市生活,而这需要足够的食物作为支撑。

BH1750数字光强度测试仪设计LCD1602显示+51单片机C语言程序完整版

BH1750数字光强度测试仪设计LCD1602显示+51单片机C语言程序完整版

//***************************************// BH1750FVI IIC测试程序// 使用单片机STC89C51// 晶振:11.0592M// 显示:LCD1602// 作者:dice szj QQ:15023134// 编译环境Keil uVision2//****************************************#include <REG51.H>#include <math.h> //Keil library#include <stdio.h> //Keil library#include <INTRINS.H>#define uchar unsigned char#define uint unsigned int#define DataPort P0 //LCD1602数据端口sbit SCL=P1^0; //IIC时钟引脚定义sbit SDA=P1^1; //IIC数据引脚定义sbit LCM_RS=P2^4; //LCD1602命令端口sbit LCM_RW=P2^5; //LCD1602命令端口sbit LCM_EN=P2^6; //LCD1602命令端口#define SlaveAddress 0x46 //定义器件在IIC总线中的从地址,根据ALT ADDRESS 地址引脚不同修改//ALT ADDRESS引脚接地时地址为0x46,接电源时地址为0xB8typedef unsigned char BYTE;typedef unsigned short WORD;BYTE BUF[8]; //接收数据缓存区uchar ge,shi,bai,qian,wan; //显示变量int dis_data; //变量void delay_nms(unsigned int k);void InitLcd();void Init_BH1750(void);void WriteDataLCM(uchar dataW);void WriteCommandLCM(uchar CMD,uchar Attribc);void DisplayOneChar(uchar X,uchar Y,uchar DData);void conversion(uint temp_data);void Single_Write_BH1750(uchar REG_Address); //单个写入数据uchar Single_Read_BH1750(uchar REG_Address); //单个读取内部寄存器数据void Multiple_Read_BH1750(); //连续的读取内部寄存器数据//------------------------------------void Delay5us();void Delay5ms();void BH1750_Start(); //起始信号void BH1750_Stop(); //停止信号void BH1750_SendACK(bit ack); //应答ACKbit BH1750_RecvACK(); //读ackvoid BH1750_SendByte(BYTE dat); //IIC单个字节写BYTE BH1750_RecvByte(); //IIC单个字节读//-----------------------------------//*********************************************************void conversion(uint temp_data) // 数据转换出个,十,百,千,万{wan=temp_data/10000+0x30 ;temp_data=temp_data%10000; //取余运算qian=temp_data/1000+0x30 ;temp_data=temp_data%1000; //取余运算bai=temp_data/100+0x30 ;temp_data=temp_data%100; //取余运算shi=temp_data/10+0x30 ;temp_data=temp_data%10; //取余运算ge=temp_data+0x30;}//毫秒延时**************************void delay_nms(unsigned int k){unsigned int i,j;for(i=0;i<k;i++){for(j=0;j<121;j++){;}}}/*******************************/void WaitForEnable(void){DataPort=0xff;LCM_RS=0;LCM_RW=1;_nop_();LCM_EN=1;_nop_();_nop_();while(DataPort&0x80);LCM_EN=0;}/*******************************/void WriteCommandLCM(uchar CMD,uchar Attribc). {if(Attribc)WaitForEnable();LCM_RS=0;LCM_RW=0;_nop_(); DataPort=CMD;_nop_();LCM_EN=1;_nop_();_nop_();LCM_EN=0;}/*******************************/void WriteDataLCM(uchar dataW){WaitForEnable();LCM_RS=1;LCM_RW=0;_nop_(); DataPort=dataW;_nop_();LCM_EN=1;_nop_();_nop_();LCM_EN=0;}/***********************************/void InitLcd(){WriteCommandLCM(0x38,1); WriteCommandLCM(0x08,1); WriteCommandLCM(0x01,1); WriteCommandLCM(0x06,1); WriteCommandLCM(0x0c,1);}/***********************************/void DisplayOneChar(uchar X,uchar Y,uchar DData) {Y&=1;X&=15;if(Y)X|=0x40;X|=0x80;WriteCommandLCM(X,0);WriteDataLCM(DData);}/**************************************延时5微秒(STC90C52RC@12M)不同的工作环境,需要调整此函数,注意时钟过快时需要修改当改用1T的MCU时,请调整此延时函数**************************************/void Delay5us(){_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();}/**************************************延时5毫秒(STC90C52RC@12M)不同的工作环境,需要调整此函数当改用1T的MCU时,请调整此延时函数**************************************/void Delay5ms(){WORD n = 560;while (n--);}/**************************************起始信号**************************************/void BH1750_Start(){SDA = 1; //拉高数据线SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时SDA = 0; //产生下降沿Delay5us(); //延时SCL = 0; //拉低时钟线}/**************************************停止信号**************************************/void BH1750_Stop(){SDA = 0; //拉低数据线SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时SDA = 1; //产生上升沿Delay5us(); //延时}/**************************************发送应答信号入口参数:ack (0:ACK 1:NAK)**************************************/void BH1750_SendACK(bit ack){SDA = ack; //写应答信号SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时SCL = 0; //拉低时钟线Delay5us(); //延时}/**************************************接收应答信号**************************************/bit BH1750_RecvACK(){SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时CY = SDA; //读应答信号SCL = 0; //拉低时钟线Delay5us(); //延时return CY;}/**************************************向IIC总线发送一个字节数据**************************************/void BH1750_SendByte(BYTE dat){BYTE i;for (i=0; i<8; i++) //8位计数器{dat <<= 1; //移出数据的最高位SDA = CY; //送数据口SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时SCL = 0; //拉低时钟线Delay5us(); //延时}BH1750_RecvACK();}/**************************************从IIC总线接收一个字节数据**************************************/BYTE BH1750_RecvByte(){BYTE i;BYTE dat = 0;SDA = 1; //使能内部上拉,准备读取数据, for (i=0; i<8; i++) //8位计数器{dat <<= 1;SCL = 1; //拉高时钟线Delay5us(); //延时dat |= SDA; //读数据SCL = 0; //拉低时钟线Delay5us(); //延时}return dat;}//*********************************void Single_Write_BH1750(uchar REG_Address){BH1750_Start(); //起始信号BH1750_SendByte(SlaveAddress); //发送设备地址+写信号BH1750_SendByte(REG_Address); //内部寄存器地址,// BH1750_SendByte(REG_data); //内部寄存器数据,BH1750_Stop(); //发送停止信号}//********单字节读取*****************************************/*uchar Single_Read_BH1750(uchar REG_Address){ uchar REG_data;BH1750_Start(); //起始信号BH1750_SendByte(SlaveAddress); //发送设备地址+写信号BH1750_SendByte(REG_Address); //发送存储单元地址,从0开始BH1750_Start(); //起始信号BH1750_SendByte(SlaveAddress+1); //发送设备地址+读信号REG_data=BH1750_RecvByte(); //读出寄存器数据BH1750_SendACK(1);BH1750_Stop(); //停止信号return REG_data;}*///*********************************************************////连续读出BH1750内部数据////*********************************************************void Multiple_read_BH1750(void){ uchar i;BH1750_Start(); //起始信号BH1750_SendByte(SlaveAddress+1); //发送设备地址+读信号for (i=0; i<3; i++) //连续读取2个地址数据,存储中BUF {BUF[i] = BH1750_RecvByte(); //BUF[0]存储0x32地址中的数据if (i == 3){BH1750_SendACK(1); //最后一个数据需要回NOACK }else{BH1750_SendACK(0); //回应ACK}}BH1750_Stop(); //停止信号Delay5ms();}//初始化BH1750,根据需要请参考pdf进行修改****void Init_BH1750(){Single_Write_BH1750(0x01);}//*********************************************************//主程序********//*********************************************************void main(){float temp;delay_nms(100); //延时100msInitLcd(); //初始化LCDInit_BH1750(); //初始化BH1750while(1) //循环{Single_Write_BH1750(0x01); // power onSingle_Write_BH1750(0x10); // H- resolution modedelay_nms(180); //延时180msMultiple_Read_BH1750(); //连续读出数据,存储在BUF中dis_data=BUF[0];dis_data=(dis_data<<8)+BUF[1]; //合成数据,即光照数据temp=(float)dis_data/1.2;conversion(temp); //计算数据和显示DisplayOneChar(0,0,'L');DisplayOneChar(1,0,'i');DisplayOneChar(2,0,'g');DisplayOneChar(3,0,'h');DisplayOneChar(4,0,'t');DisplayOneChar(5,0,':');DisplayOneChar(7,0,wan); //显示数据DisplayOneChar(8,0,qian);DisplayOneChar(9,0,bai);DisplayOneChar(10,0,shi);DisplayOneChar(11,0,ge);DisplayOneChar(13,0,'l'); //显示数单位DisplayOneChar(14,0,'x');}}。

基于单片机的数字光功率计的设计

基于单片机的数字光功率计的设计

目录摘要 (2)abstract (3)绪论 (4)1.1 概述 (4)1.2 设计方案的研究目的 (5)1.3 设计方案的研究内容 (5)1.4 设计方案的研究意义 (5)第二章光功率计的设计 (6)2.1 光功率计 (6)第三章硬件部分电路介绍 (8)3.1 光电转换电路的设计 (8)3.1.1 光电效应 (8)3.1.2 光探测器 (8)3.1.3 PIN光电二极管 (8)3.1.4 PIN光电二极管的选择 (9)3.2 放大滤波电路 (10)3.2.1滤波器的设计 (11)3.2.2 运算放大电路 (12)3.3 A/D转化电路 (12)3.4 单片机控制电路 (13)3.4.1 复位电路的设计 (14)3-4-2 晶振电路的设计 (16)3.4.3 单片机串口通讯总线——SMBUS (17)3.4.4 电源设计部分 (18)第四章外围电路的设计 (19)4.1 I²C总线设计.................................................................................. 错误!未定义书签。

4.1.1 I²C总线接口的电路设计 (19)4.1.2 I²C总线的控制时序 (19)4.2 单片机接口电路设计 (20)4.3 按键设计 (21)4.3.1 键盘去抖动 (21)4.3.2 按键的识别 (21)4.4 液晶显示及接口电路 (22)第五章软件部分 (23)第六章结束语................................................................................................ 错误!未定义书签。

参考文献.. (30)摘要光可以被用作一种强大的工具,将给我们一种不同的方式的灵感。

但是,我们如何用光信号转换成电信号来衡量一些电气参数?这就需要一个数字功率计来实现传输过程中的光信号能量损耗,它可以探测和容易地知道如何光束质量光束像。

阳光强度测量显示电路

阳光强度测量显示电路

福建电力职业技术学院课程设计课程名称:传感器与检测技术课设题目:阳光强度测量显示电路专业班次:10(三)检测1班姓名:学号:指导教师:学期:2011-2012学年第二学期日期:2012.2.13-2012.2.20摘要阳光强度测量显示电路:该测试仪以AT89S52单片机为核心,外接温湿度传感器SHTll、照度传感器TSL2561、四位共阴数码管、RS485总线通信接口以及显示切换按键。

单片机上电工作后,对当前温度、湿度、光强度进行实时测量,通过按键切换将测得的3种参数通过LED数码管进行轮流显示;此外,还可以通过RS485总线与PC机进行通信,将参数值传送到上位机,以达到远程监测的目的。

封面不能有页眉页脚,页眉最好居中,摘要中文字为什么要加粗了,貌似上次有讲过了,怎么没改关键词:AT89S52单片机、外接温湿度传感器SHTll、照度传感器TSL2561|目录摘要 (II)第一章设计任务 (4)1.1 设计要求 (4)1.2设计提示 (4)第二章检测系统设计 (5)2.1 主要思路: (5)2.2 原理图 (6)2.3器件的选择与参数的计算 (7)2.3.1传感器选择 (7)2.3.2 AD转换 (8)2.4主要元件 (10)第三章程序应用图 (11)3.1主程序 (11)3.2中断流程图 (11)第四章总结 (12)参考文献 (13)传感器课程设计第一章设计任务1.1 设计要求光照强度测试显示电路设计使用光敏电阻、光敏三极管、光敏二极管传感器(任选一种),设计传感器放大电路,将太阳的强弱转变为电信号,并将强度值显示出来。

1.2设计提示设计开始先查阅资料,如元器件资料,方案选择等,可以使用单片机方案,也可以使用模拟电路方案,设计显示电路时注意按照国标显示,并有相应的手动校正电路。

其中运用到了许多基本知识,如:电路理论中电阻电路的分析、模拟电子线路中运算放大器、比较器、功率放大器等知识,数字电子线路中开关特性及数字信号等知识,传感器技术中的光电传感器原理及应用、测量电路等部分知识。

数字als芯片-概述说明以及解释

数字als芯片-概述说明以及解释

数字als芯片-概述说明以及解释1.引言1.1 概述数字ALS芯片是一种基于数字电路设计的光学传感器芯片,主要用于光线检测和测量。

它通过对光信号的转换、处理和输出,能够精确地测量光线的强度、颜色和方向等信息。

与传统的模拟电路设计的光传感器相比,数字ALS芯片具有更高的精度、更快的响应速度和更低的功耗。

数字ALS芯片的工作原理是利用光电二极管接收光信号,并将其转换为电信号。

经过模数转换器的处理,光信号的强度和颜色等参数可以被转化为数字信号进行分析和处理。

数字ALS芯片广泛采用集成电路技术,将多个功能集成在一个芯片上,从而实现对光信号的实时、准确地测量与分析。

数字ALS芯片具有广泛的应用领域。

在智能手机、平板电脑等移动设备中,数字ALS芯片可以用于自动调节屏幕亮度,根据环境光线的变化来提供更加舒适的显示效果。

在光通信领域,数字ALS芯片可以用于接收和解码光纤传输的信号,在数据传输中起到关键作用。

此外,数字ALS芯片还广泛应用于自动化系统、医疗设备、环境监测等领域,为各种光传感应用提供支持。

数字ALS芯片在光传感领域具有明显的优势和广阔的发展前景。

首先,数字ALS芯片的数字化设计使其具有更高的精度和准确性,能够实时监测光信号的变化,满足不同应用场景的需求。

其次,数字ALS芯片可以通过软件控制和配置,具有更高的灵活性和可定制性,能够适应不同的应用需求。

再者,随着光电二极管和模数转换器等关键技术的不断发展和创新,数字ALS芯片的性能将不断提升,为光传感技术的发展提供更好的支持。

综上所述,数字ALS芯片作为一种基于数字电路设计的光学传感器芯片,具有高精度、快速响应和低功耗的特点,广泛应用于各个领域。

未来,随着科技的不断进步和创新,数字ALS芯片有望在更多的领域得到应用,并为光传感技术的发展带来更多的机遇和挑战。

1.2 文章结构文章结构是指文章的组织框架和布局,它对于文章的逻辑性和清晰性起到了关键作用。

本文主要分为引言、正文和结论三个部分,具体结构如下:1. 引言部分:引言部分是文章的开篇,需要对数字ALS芯片进行一个简要的概述,介绍其基本特点和应用领域。

光照强度自动检测显示报警控制系统设计

光照强度自动检测显示报警控制系统设计

传感器原理及应用课程设计说明书设计题目:光照强度自动检测显示报警控制系统设计学号:姓名:完成时间:2010、12、13至2010、12、19总评成绩:指导教师签章:设计题目:光照强度自动检测显示系统设计一、题目的认识理解本次设计题目是光照强度自动检测显示报警控制系统设计,完成光照强度自动检测、显示、报警、控制系统。

采用电路、数电、模电知识柔和一块设计电路,将系统分为四个模块设计电路:检测、显示、报警、控制,把复杂问题简单化。

数据采集模块,可用光敏电阻将光照强度信号转换为电阻信号从而进行测量计算。

测量电路模块,设置分压电路和比较电路,将电阻信号转换为电压信号分档输出,用于显示和报警。

显示报警模块,用发光二极管进行显示,同时设置光照过强时蜂鸣器报警。

自动控制模块,用或非门实现暗光控制,同时继电器闭合,打开日光灯,当在外界中、强光条件下继电器掉电日光灯熄灭。

一、设计任务要求:设计一个光照强度自动检测、显示、报警、控制系统,实现对外界三种不同条件下光强的分档指示和报警(弱、适宜、强)1、方案的设计根据题目选定光照强度自动检测所用的光电传感器类型;1)自己设计至少三种以上不同光照条件,测定不同光照条件下光电传感器的输出;2)传感器测量电路采用集成运算放大器构成的比较器完成,完成至少三种以上不同光照条件下显示报警系统方案的论证和设计;3)完成自然光光照强度自动检测显示报警系统电路方框图、电路原理图的设计;4)完成自然光光照强度自动检测显示报警系统中核心芯片的选型、系统中各个参数的计算(备注:1. 含各种元件参数的计算过程或依据2. 选定最接近计算结果的元件规格);5)设计结束后,进行仿真调试。

2、仿真调试方案利用:Multisim等软件仿真,得出主要信号输入输出点的波形,根据仿真结果验证设计功能的可行性、参数设计的合理性;给出系统整机电路图(利用PROTEL软件做出原理图SCH文件和PCB文件)。

3、完成课程设计报告。

光强检测电路的设计

光强检测电路的设计

光强检测电路的设计
光强检测电路是一种用于检测光强度的电路,它可以将光信号转换为电信号,并通过电路进行处理和分析。

在实际应用中,光强检测电路被广泛应用于光电传感器、光电开关、光电测距等领域。

光强检测电路的设计需要考虑多个因素,包括光敏元件的选择、电路的放大和滤波、信号的采集和处理等。

其中,光敏元件是光强检测电路的核心部件,它可以将光信号转换为电信号。

常用的光敏元件包括光敏二极管、光敏电阻、光电二极管等。

在电路的放大和滤波方面,可以采用运放放大器进行信号放大,并通过RC滤波电路进行信号滤波,以消除噪声和干扰。

信号的采集和处理可以通过单片机或其他数字信号处理器进行,以实现信号的数字化和分析。

在实际应用中,光强检测电路的设计需要根据具体的应用场景进行调整和优化。

例如,在光电传感器中,需要考虑光强度的变化范围和响应速度;在光电开关中,需要考虑光强度的阈值和触发方式;在光电测距中,需要考虑光强度的反射和衰减等因素。

光强检测电路的设计是一个复杂而重要的过程,需要综合考虑多个因素,并进行实验验证和优化。

只有设计出高性能、高可靠性的光强检测电路,才能满足实际应用的需求。

光照度检测仪的设计

光照度检测仪的设计
m od e ul,dipa od e brg nes s ly m ul i ht s.Th o h e e m e a et,t e s se e i sr aon b e nd t e ur m e t r ug xp r i nt t ss h y tm d sg i e s a l ,a he m a e n l n s rng r s l in, p c r epo ee r rbaial m e tt e in e ie e s a e, e outo s e ta rs ns ro sc l l y e hed sg r qu rm nt.
表 1标准照度计和光照检测仪的测量值 比较
此系统采用 U A T S R 通用同步和异步串行接 收器和转
发器, 它是一个高度灵活的串行通讯设备。
显 示电路 的设计 : 系统选 用普 通数码管显 示模 块, 本
用来显示此 时光照 度数值。
3 系统 软件 的设计
该光 照度 系统的软件 设计采用了结 构化和 模块 化 的
圈1 光照度检 测仪原 理框图
感 器信号接 收调 理电路。 此设 计系统主 要包 括 3 个部 分 : 光照 度变 送器 ,光 照度检测板 , 照度显示器。具体是 以 亮度采样芯片将 光 光 当前 的 ,通过两线制接口传送 本系统使用的传感器是 J J 0 C 1 P照度变 送器。 0 JJ0P C 10 照度变 送器 以标准模拟 电压或 电流变送器输
ห้องสมุดไป่ตู้
出,标准 R 一3 或 45 S 22 8 通信接口,并可直接配接计算机。
其技术参 数 : 工作 电压 1 2 D  ̄ 0 2 4 D  ̄ 0 照 . V C 1% . V C 1% 1 2 度传感器硅 蓝光伏探测器 测量范 围 1 2 0L x 中低 . 0u ( 0 0

毕业设计(论文)-基于单片机的数字式光照强度检测系统的设计--图+程序资料

毕业设计(论文)-基于单片机的数字式光照强度检测系统的设计--图+程序资料

本科学生毕业设计基于单片机的数字式光照强度检测系统的设计CAD图纸+单片机实验程序,联系153893706系部名称:机电工程学院专业班级:机械设计制造及其自动化08-3班学生姓名:指导教师:职称:教授二○一二年六月The Graduation Design for Bachelor's Degree The Digital Light Intensity DetectorSystem Base on MCUCandidate:Specialty:Machinery Design and Manufacturingand Its AutomationClass:08-3Supervisor:Heilongjiang Institute of Technology2012-06·Harbin目录摘要 (Ⅰ)A B S T R A C T (Ⅱ)第1章绪论 (1)1.1 课题的意义、目的和要求 (1)1.1.1 课题的意义 (1)1.1.2 课题的目的 (1)1.1.3 课题的要求 (2)1.2 数字式光照强度检测仪的发展前景及趋势 (3)1.3 本课题主要研究的内容 (4)1.3.1单片机 (4)1.3.2 单片机发展历史及应用 (6)第2章系统概述 (9)2.1 系统方案的选择与论证 (9)2.2 光敏电阻简介 (10)2.3 本章小结 (13)第3章系统的硬件部分 (14)3.1单片机最小系统和通信模块的设计 (14)3.1.1单片机最小系统的设计 (14)3.1.2下载通信模块的设计 (16)3.2光敏电阻网络的设计 (17)3.3输出选择电路的设计 (18)3.4 A/D模数转换电路的设计 (20)3.5数码管显示电路的设计 (20)3.6 本章小结 (22)第4章系统软件部分 (23)4.1 软件流程图 (24)4.2Keil软件简介 (26)4.3 程序清单 (26)4.4 PROTUES软件绘图及仿真 (28)4.5 软件的调适与仿真 (29)4.5.1系统软件调试 (29)4.5.2 仿真结果 (30)4.6本章小结 (32)结论 (33)参考文献 (34)附录 (35)致谢 (37)摘要该数字式光照强度检测仪以单片机和模数转换为技术核心,具体由单片机最小系统、下载通信模块、A/D模数转换模块、光照方向检测模块、输出选择模块和数码管显示模块组成。

基于TSL2591的光强度测试仪设计

基于TSL2591的光强度测试仪设计
范 围.
关键词 :光 强度 测试仪 ;单片机 ;光传感器 T S I 2 5 9 1 中图分类号 :T P 2 1 2 . 1 4;T P 2 7 2 / 2 7 8 文 献标 识码 :A 文章编号 :1 6 7 2 - 6 1 2 x ( 2 0 1 4 ) 0 2 - 0 0 3 2 - 0 5
的测 量 .
1 系统 设 计
系统 设计 由单 片机 主控 电路 、 T S L 2 5 9 1 光 强 度采集 模 块 、 语 音模 块 、 彩屏 模块 、 时钟 和 电源模 块组 成 . 系
统框 图如 图 1所示 .
数 字光强 度传 感器 T S L 2 5 9 1采集 当下 的光 强度 信 号传 送 给单 片机 S T C 8 9 C 5 2 . 单 片 机将 采 集 到 的信 号 传送 给彩 屏模 块 , 同时判 断光 照强度 的高低 , 并通 过语 音模 块 WT V 0 2 0播 报 . 实时时钟 D S 1 3 0 2显 示 采集 光 照 的具体 时 间. 用 户则 可 以根据 测 量 的光 照 结果 , 实 时控制 灯 光 以适 应 当前 环境 所需 .
第3 3卷 第 2期 2 0 1 4年 2月
绵 阳师范学院学报
J o u na r l o f Mi a n y a n g No r ma l Un i v e r s i
Vo 1 . 3 3 No . 2
பைடு நூலகம்F e b . , 2 0 1 4
基于 T S L 2 5 9 1的 光 强 度 测 试 仪 设 计
摘 要 :该光 强度测试仪 以单片机 和光传 感 器为技 术核 心 , 具体 由单 片机 最 小 系统 、 光 强采 集模 块 、 语 音模

光照强度自动检测显示系统设计

光照强度自动检测显示系统设计

设计题目:光照强度自动检测显示系统设

一、题目的认识理解
本次设计题目是光照强度自动检测显示系统设计,既然是系统
设计,我们可以将其分解为模块,把复杂问题简单化。

数据采集模块,可用光敏电阻将光照强度信号转换为电阻信号
从而进行测量计算。

测量电路模块,设置分压电路和比较电路,将电阻信号转换为
电压信号分档输出,用于显示和报警。

显示报警模块,用发光二极管进行显示,同时设置光照过强时
蜂鸣器报警。

二、设计任务要求:
设计一个光照强度自动检测、显示、<报警)系统,实现对外界三种不同条件下光强的分档指示和报警<弱、适宜、强)
1、方案的设计
根据题目选定光照强度自动检测所用的光电传感器类型;
1)自己设计至少三种以上不同光照条件,测定不同光照条件下
光电传感器的输出;
2)传感器测量电路采用集成运算放大器构成的比较器完成,完
1 / 11。

基于BH1750-的实时光照强度监测系统2

基于BH1750-的实时光照强度监测系统2

返回主线
Thank you!
采用USB电源供电方式,ISP线烧下载程序和 硬件复位。在后期调试过程中,通过USB连接 电脑,将修改编译过的程序直接通过USB下载 到系统中。
1、通过USB/RS232转 换线,把USB接口换为标 准RS232接口。
2、采用NPN三极管 8050代替MAX232,把 RS232电平转换为USB数 字电平。
采样方案说明:
光敏二极管、光敏电阻、BH1750这三个方案。
对比这三个方案,可以直观的看出方案一和方案二比较方案三来 说结构简单、易于实现,方案三采用集成电路方式,精度更高、可靠 性更好,但实现难度较高。方案一采用光敏二极管感受光照变化情况, 通过负载电阻RL转化为电压信号。方案二是方案一的升级,提高了可 靠性和精度。方案三采用集成电路方式,将感受到的光照变化,转换 为数字信号,直接与处理器进行通讯,更加的方便可靠。
temp=(float)dis_data/1.2;
conversion(temp);
//计算数据和显示
Display ();
//显示
}
}
3 研究 成果
Result (成果)
1 系统实物制作并完成调试,成功达到设计效果。
实现了设计的要求、能进行正常的工作和演示。 并通过实验测试得到了数据结果,且对数据的正确 性进行了分析验证。
手机电筒
0
660
手机电筒
30
523
手机电筒用一张图片60来说明研究成果239
手机电筒
90
32
备注
测试距离 20cm。
Result (成果)
返回主线
500 400 300 200 100
0
3500 3000 2500 2000 1500 1000

光照度采集模块工作原理

光照度采集模块工作原理

光照度采集模块工作原理光照度采集模块是一种用于测量光照强度的设备,常见的应用场景包括室内外光照控制、环境监测等。

它通过检测光线的强度来反映出特定环境的光照程度,从而提供数据支持给相关设备和系统。

光照度采集模块的工作原理涉及光传感器和信号处理部分。

光传感器负责将光信号转换为电信号,并将其传递给信号处理部分进行进一步处理和分析。

光照度采集模块通常使用光敏元件作为光传感器,常见的有光敏二极管(Photodiode)、光敏电阻(Photoresister)等。

光敏二极管是一种能够将光信号转换为电流信号的半导体器件。

当光照射到光敏二极管上时,光子的能量被转化为电子的能量,从而引起半导体中的载流子的产生和输运。

这些载流子的产生和输运会导致光敏二极管的导电特性发生变化,进而将光信号转换为电信号。

光敏电阻是一种光照强度变化敏感的电阻器件。

光敏电阻的电阻值会随光照强度的变化而发生相应的变化。

当光照强度较弱时,光敏电阻的电阻值较大;而当光照强度较强时,光敏电阻的电阻值较小。

光照度采集模块通常会配备有一个模拟电路或数字电路,用于对光传感器采集到的电信号进行放大、滤波、转换等处理。

模拟电路主要是通过放大电路来提高低电压信号的幅度,并可根据需要进行滤波处理以降低噪声干扰。

数字电路则将模拟信号转换为数字信号,可以直接提供给微处理器或其他数字设备进行进一步的数据处理和分析。

在实际应用中,光照度采集模块通常还配备有一个灵敏度调节电路,用于调整光传感器对于光照强度的敏感程度。

通过调节灵敏度,可以使光照度采集模块适应各种不同的环境光照情况,从而获取更准确的光照度数据。

此外,光照度采集模块还常常会配备有一些基本的保护电路,如过压保护、过流保护等,用于保护光照度采集模块在异常情况下的正常工作。

总体而言,光照度采集模块的工作原理是通过光传感器感知环境中的光照强度,并将其转换为电信号,并经过信号处理和分析后提供给相关设备和系统进行进一步的应用。

基于BH1750的光照度检测)

基于BH1750的光照度检测)

成绩评定:传感器技术课程设计题目基于BH1750光照度检测摘要传统的光照传感器主要采用光敏电阻,光敏电阻的光电流与光照度之间的关系称为光电特性。

光敏电阻的光电特性呈非线性,因此不适宜作检测元件,在自动控制中它常被用作丌关式光电传感器。

光敏电阻需要用A/D转换器将其信号转换为数字信号,电路复杂,费用高。

而且,光敏电阻进行光强度采集不够理想。

针对光敏电阻的诸多缺点,提出了一种利用16位高精度数字光强度传感器BH1750FVI进行光强度检测仪的设计方案,利用I2C总线接口数字型光强度传感器,可以避免A/D转换系统带来的误差,可在NOKIA5110液晶显示器上进行测量数值的显示。

该系统具有光强度采集精度较高、实时性较强等优点,并且电路设汁较为简单,容易实现与集成。

关键词:微控制器液晶显示器I2C总线目录一、设计目的---------------------------------二、设计任务与要求----------------------------2.1设计任务 ---------------------------------2.2设计要求 ---------------------------------三、设计步骤及原理分析------------------------3.1设计方法 --------------------------------- 3.2设计步骤 ---------------------------------3.3设计原理分析------------------------------四、课程设计小结与体会------------------------五、参考文献 ----------------------------------一、设计目的设计一种基于光强度传感器BH1750FVI的光照度检测仪,采用低成本的微控制器进行控制,利用I2C总线接口进行数据传输,可在普通的NOKIA5110液晶显示器上进行光强度测量值的实时显示。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
本方案采用光电二极管,利用其产生的电流随光照增强的线性特性输出模拟采样电压,并联三条光敏二极管和电阻支路,将这三路电压通过选通器循环输入到模数转换器ADC0804将模拟信号转换为数字信号,将数字信号通过通信模块输送给STC89C51单片机,通过比较后得出最大值,将最大值输出并利用两位数码管显示出来。具体框图如下图2.2所示:
图3.7 设计方案数码管显示电路结构图
3.1.6 系统其它部分
整个板子的电源由直流稳压电源供电,加5V电压,由一六角自锁开关来控制通断;单片机程序编译软件由Keil uVision2完成,单片机复位由一个小按键来实现;单片机下载程序软件则为STC-ISP V29 Beta5来完成。
3.2 电路参数的计算及元器件的选择
图3.3 设计方案一数模转换模块电路结构图
在实验方案中,将CD4051循环输出的模拟电压接到ADC0804的6管脚输入,通过它转换为数值信号,通过八个管脚DB0—DB7通过通信模块传送给单片机,对单片机进行编程进而控制两位数码管的显示。
其外接电阻的阻值已经标注在电路结构图中。
对于ADC0804其接口时序及接口信号图如下图3.4所示:
2.1.3 设计方案三
采用三路光敏电阻支路并联检测光照强度,通过每一路可以得到一个模拟采样电压,将这三路电压通过CD4051单8通道数字控制模拟电子开关循环输入到模数转换器ADC0804将模拟信号转换为数字信号,将数字信号通过通信模块输送给STC89C51单片机,通过比较后得出最大值,将最大值输出并利用两位数码管显示出来。对于光强的方位,则通过控制两位数码管的两个小数点的关断与否来显示出来,具体是两个小数点分别单独亮时对应两个方位,而两个小数点均不亮时对应另外一个方位。至此,可以将光照的强度以及光照的方位通过两位数码管显示出来,完成了本设计选题的任务及要求。具体框图如下图2.3所示:
(2)、焊接调试光敏电阻网络。
(3)、焊接调试AD电路,标定光照强度基本单位。
(4)、编写单片机程序,将获得的电信号转换成光照强度单位下的数值,并用数管显示。
(5)、通过比较不同方向测得的光强数值判断光照方向,在数码管上显示其方向。
1.2.2 设计选题的要求
(1)、无光照时数码管显示为零。
(2)、用数码管显示光照强度,误差范围为5~10LUX(以白天中午室内日光灯的光照强度为标准定义为100 LUX )。
1 前言
1.1 设计选题
设计选题一:数字光强度检测模块设计
1.2 任务及要求
1.2.1 设计选题的任务
结合单片机最小电路和光敏电阻电路共同设计一个基于单片机的数字光强度检测系统,用数码管显示光照强度。还可以设置多个不同方向的光敏电阻,通过计算它们的光照强度运用比较器以确定当前的光照方向。
(1)、实现单片机最小系统设计。
1
2
1
1
1
1
2
3
1
3.3 光照传感器及敏感元件概述
光照传感器是基于光电效应、将光信号转换为电信号的传感器,其敏感元件是光电器件。光照传感器主要由光敏元件组成。目前光敏元件发展迅速、品种繁多、应用广泛。主要有光敏电阻器、光电二极管、光电三极管、光电耦合器和光电池。
3.3.1 光敏电阻器
1、光敏电阻原理
图3.4 设计方案ADC0804接口时序及接口信号图
3.1.4 单片机最小系统的电路设计
图3.5 设计方案单片机最小系统电路结构图
STC89C51功能强大、速度快、寿命长、价格低,目前在市场上已经是主流,其外型有40个引脚,双列直插DIP-40。STC89C51可以完成ISP在线编程功能,而AT89C51则不能。将AT89C51中的程序直接烧录到STC89C51中后,STC89C51就可以代替AT89C51直接工作(一般都不需要做任何改动即可正常工作)。因此本实验中采用STC89C51单片机作为主控制器,其电路结构如上图3.5所示。
3单元模块设计
3.1个单元模块功能介绍及电路设计
3.1.1 光照强度检测电路的设计
对于最终采用的方案三,其光照强度检测电路如下图3.1所示:
图3.1 设计方案光强检测电路
如上图所示,采用三路光敏电阻支路并联,其中一路串联固定电阻,而另外两组分别串联一个电位器,均接在VCC和GND之间,采样电压为三个光敏电阻两端所加电压U1、U2、U3,对于这三路电压值比较后把最大值输送给ADC0804转化为数字信号,通过数码管显示出来。其中两个电位器的作用是在后期的调试过程中,使得在外界给予三个方向的光敏电阻同样强度的光照时,通过调节电位器使得数码管显示光强数值相同。对于与两个采样电位器和采样固定电阻的选取,由数字式万用电表对光敏电阻在无光照和正常光照时进行测量,对应阻值在2.1k欧姆—11.2k欧姆之间变化,故固定电阻R1选取5k欧姆左右,综合实验室的电阻元器件供给,本实验中选取4.7k欧姆;两个电位器则选择0-20k欧姆规格的灵敏电位器。
光敏电阻器由能透光的半导体光电晶体构成,因半导体光电晶体成分不同,又分为可见光光敏电阻(硫化镉晶体)、红外光光敏电阻(砷化镓晶体)、和紫外光光敏电阻(硫化锌晶体)。当敏感波长的光照半导体光电晶体表面,晶体内载流子增加,使其电导率增加(即电阻减小)。光敏电阻器是利用半导体的光电效应制成的一种电阻值随入射光的强弱而改变的电阻器;入射光强,电阻减小,入射光弱,电阻增大。光敏电阻器一般用于光的测量、光的控制和光电转换(将光的变化转换为电的变化)。
图2.1 设计方案一原理框图
本方案采用性能稳定且便宜的光敏电阻作为光照传感器,通过光敏电阻值变化影响多谐振荡电路的周期而检测光强,性能较稳定一些,灵敏度也较高,但是电路结构比较复杂,所用元器件种类较多,实现和调试工作会比较困难,造价也较高,虽然能满足稳定性和灵敏度的要求,但不宜采用。
2.1.2 设计方案二
图2.3 设计方案三原理框图
本方案采用性能稳定且便宜的光敏电阻作为光照传感器,STC89C51单片机作为主控制器。性能稳定,抗干扰能力强,不易受外界环境温度等因素影响,灵敏度也较高,但是由于光照传感器采用光敏电阻且为三条支路并联采集模拟电压信号,会存在一定的误差。总体上来说,本方案电路结构简单、所用元器件供给充足、成本造价低、性能稳定且误差范围也在设计选题的要求之内,能在简单低成本的基础上很好的完成设计选题的任务,故实验中采用本方案。
3.1.3 数模转换模块电路设计
本方案中采用ADC0804芯片进行数模转换,其电路结构图如下图3.3所示。ADC0804模数转换器是用CMOS集成工艺制成的逐次比较型摸数转换芯片。分辨率8位,转换时间100μs,输入电压范围为0~5V,增加某些外部电路后,输入模拟电压可为5V。该芯片内有输出数据锁存器,当与计算机连接时,转换电路的输出可以直接连接在CPU数据总线上,无须附加逻辑接口电路。
2、光敏电阻的应用
光敏电阻器广泛应用于各种自动控制电路(如自动照明灯控制电路、自动报警电路等)、家用电器(如电视机中的亮度自动调节,照相机中的自动曝光控制等)及各种测量仪器中。
3.3.2 光敏二极管
光敏二极管是一种将光能变换为电能的器件,它利用了半导体的光生伏特效应的原理。光敏二极管的优点是线性好,响应速度快,对宽范围波长的光具有较高的灵敏度,噪声低;缺点是单独使用输出电流(或电压)很小,需要加放大电路。
4)Part Type编辑框:表示元器件的类型。默认情况下,它与Lib Ref的内容相同,也就是说,该元件的类型就是它在相应的元件库中的名称。
4.2画出软件设计结构图、说明其功能
本设计主要使用Protel及ISIS软件,来设计步进电机驱动控制系统。本次设计数字光照强度检测模块设计必须有五个部分,即:1)照强度检测电路;2)电压输出选择电路;3)数模转换模块电路;4)单片机最小系统的电路;5)数码管显示电路。各部分功能分别为:1)在后期的调试过程中,使得在外界给予三个方向的光敏电阻同样强度的光照时,通过调节电位器使得数码管显示光强数值相同;2)控制采样电压的输出,通过X输出端传送给数模转换器ADC0804芯片;3)将CD4051循环输出的模拟电压接到ADC0804的6管脚输入,通过它转换为数值信号,通过八个管脚DB0—DB7通过通信模块传送给单片机,对单片机进行编程进而控制两位数码管的显示;4)作为主控制器;5)用一个两位数码管来具体显示光照强度的数值,两位数码管的两个小数点对应显示光强方位。
2)Lib Ref编辑框:表示所要放置的元器件在元件库中的名称。Protel 99 SE就是根据这一名称在当前元件库中进行搜索,在用户确定之后再将其从库中调到工作区中的。
3)Designator 编辑框:表示所要放置的元器件在原理图中的元器件序号,每一个元器件都有一个唯一的元器件序号,它是元器件的唯一标识符。
2.2 方案选择
通过以上三种方案的设计,方案一采用光敏电阻作为光照传感器,稳定性和灵敏度虽然都能满足设计选题的要求,但是电路结构过于复杂,实现和调试都比较困难,在实验中不采用;方案二采用光敏二极管作为光照传感器,线性度好,响应速度快,但是需要额外添加运放环节,对系统稳定性和误差都会带来不利影响,另外限于元器件的供应,本实验中也不采用:而方案三采用光敏电阻作为光照传感器,进行模拟电压采样,通过ADC数模转换器将模拟信号转换为数字信号传送到51单片机中,进而控制两位数码管显示具体数值和方位,简单可行,成本造价低,故在实验中采用本方案。
3.1.2 电压输出选择电路设计
输出选择模块采用CD4051芯片如下图3.2所示:
图3.2 设计方案输出模块CD4051芯片电路结构图
CD4051相当于一个单刀八掷开关,控制X0-X7八个通道的开通和关断,开关接通哪一通道,由输入的3位地址码ABC来决定。本设计方案中将三路模拟采样电压U1—U3分别接到X0-X2上,由单片机程序控制ABC管脚进行循环采样,进而控制采样电压的输出,通过X输出端传送给数模转换器ADC0804芯片。
表1 元器件清单表
元器件名称型号
相关文档
最新文档