XPS分峰软件介绍资料

3、打开分峰窗口：点Applications--- Advanced Processing--- Peak Fitting，弹出窗口“Peak Fitting Options”。
4、 选择分峰区域：手动，在图形窗口的两边移动蓝色的框，确定结合能的 起始和终点位置。
5、设定参数：在分峰窗口的Find---Function里选择拟合函数，一般选择 Gaussian ，即高斯函数。
分峰基本原理：
利用高斯函数（Gaussian函数）
请将系统时间改回1998年
Grams/32AI软件的分峰步骤
1、转换数据格式：将原始数据在红外光谱软件里打开，对原始谱图先 进行基线校正和平滑处理，然后将原始数据格式转换成分峰软件所需格式
*.spc
2、 打开GRAMS/32AI，引入数据：点File---open trace，引入所存 数据，则出现相应的XPS谱图。
C1s
结合能(eV)
C-C C-H
284.6
C-N
285.7
C-O（醇或醚） 286.1
C=O（醛或酮） 287.4
O-C=O (酸或酯) 288.6
C-F
291.6
O1s
结合能(eV) S2p
O=C 531.2
S-Ag
O-H 531.7
-C-S-Ag
O-Si 531.9
S-Cu
O-C
532.5
-C-S-Cu
2. PTFE聚合物的表面改性
聚四氟乙烯（PTFE）超细颗粒具有优异的化学稳定性和机械性能，在机 械、纺织、航空、电子等领域有广泛的应用。PTFE超细颗粒表面润湿性极差， 难与其它材料结合，因此其应用受到一定限制，超细颗粒表面活化及接枝改 性是拓展其应用领域的重要途径之一。
C1s分峰拟合谱
0.15mol/L钠萘络合物腐蚀液活化 6min后PTFE颗粒的 XPS谱图
6、 选峰和拟合：首先观察好峰形，确定峰的个数和峰的大致位置，用鼠标 右键单击选峰的位置，然后点“Iterate” 里的“Run”，进行拟合，观察拟
1. EMA共聚物的表面表征
EMA共聚物的组成为：
(CH2-CH2)X
(CH2-CH)y C=O OCH3
表面结构
XPS分析
表面性质
应用
（结晶相和无定型相在表面 （粘着性、密封性、浸润性、 胶片和胶粘剂 上的分布、组成和取向） 可印染性和粘合力）
C 1s分峰拟合谱
O 1s分峰拟合谱
含23.4%（质量百分数）丙烯酸甲酯的EMA共聚物热压薄膜 表面的 XPS谱图（出射角为45°）
取代烷基硫醇的XPS谱图
OH OH OH OH OH OH
OH
OH
OH OH
OH
OH OH OH
OH OHOH
S S S S S S Ag S S S
CF
OH S SS
Ag S S
CF
SS
SS
不同链长的取代烷基硫醇在镀银碳纤维上的吸附结构示意图
• 芳基硫醇在镀银碳纤维上的吸附
wenku.baidu.comS2p分峰拟合谱
Intensity (cps)
• 为什么要分峰？
294
292
290
288
286
284
282
280
278
• 化学位移的一般规律：由于任何核外电子电荷分布的变化都会影响内层电子的 屏蔽作用，当外层电子密度减小时，屏蔽作用减弱，内 层电子的结合能增加，反之结合能将减小。
即：原子的化学位移随与之成键的原子的电负性的增大而增大。
• 几种常见元素的化学位移值：
经0.15mol/L钠萘络合物腐蚀液活 化6min并接枝24h后PTFE超细颗 粒的 XPS谱图
3. 聚合物复合材料增强体的表面表征
以碳纤维增强环氧(CF/Epoxy)复合材料为例。采用表面镀银的碳纤维作为 基底，分别进行三类有机化合物的分子自组装，并分别对S元素的XPS谱图进行 分峰分析，判断分子在银表面的吸附状态。
O=C-O 533.3
RSH
结合能(eV) 160.9 161.9 161.9 162.6 163.8
§2.3 XPS分峰拟合技术在聚合物研究中的应用
简单的均聚物 共聚物
交联高聚物
共混高聚物 此外，粘结、吸附、高聚物降解、高聚物添加剂的扩散、高 聚物表面化学改性、等离子体和电晕放电表面改性以及复合 材料等等方面的应用
5000
162.2eV
4000
3000
2000
1000
168
166
164
162
160
Binding energy (eV)
芳基硫醇的XPS谱图
ATP
HTP
芳基硫醇在镀银碳纤维上的吸附取向示意图
• 芳杂环硫醇在镀银碳纤维表面上的吸附
Intensity (cps)
S2p分峰拟合谱
4600 4400 4200 4000 3800 3600 3400 3200 3000 2800
硕士课程
计算机在高分子研究中的应用
贺金梅
高分子材料教研室
第二节 XPS分峰软件在高分子研究中的应用
§2.1 XPS概述
• XPS： X-ray Photoelectron Spectroscopy, X-射线光电子能谱，简称XPS Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, 简称ESCA
• 基本原理： M + hv
M +e
• 表面分析：
Eb = hv - Ek-W
定性分析
元素组成鉴别（全谱扫描） 化学态分析（窄区扫描）
定量分析
各元素含量（全谱扫描） 各官能团含量（窄区扫描）
• XPS分析可提供表面所存在的所有元素（除H和He外）的定性和定量信息
§2.2 化学态分析
• 化学位移： 对于某一给定原子，准确的内能级结合能将由于局部成键作 用而有所改变，即由于原子成键状况而产生结合能位移或 “化学”位移。
170
S2p
168
166
164
162
160
Binding energy (eV)
MBT的XPS谱图
2-巯基苯并噻唑的化学结构模型图
§2.4 XPS分峰软件的分峰步骤
几种常用的XPS分峰软件：
• Origin数据处理软件 • XPSpeak分峰软件 • Grams/32AI分峰软件 （特点：操作方便，简单易学）
• 取代烷基硫醇化合物在镀银碳纤维上的吸附 • 芳基硫醇化合物在镀银碳纤维上的吸附 • 芳杂环硫醇化合物在镀银碳纤维表面上的吸附
• 取代烷基硫醇在镀银碳纤维上的吸附
Intensity (cps)
S2p分峰拟合谱
5000
162.2eV
4000
3000
2000
1000
168
166
164
162
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Binding energy (eV)