椭偏仪测折射率和薄膜厚度
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物理实验报告
实验名称:椭偏仪测折射率和薄膜厚度
学院:xx 学院专业班级:xxx
学号:xxx 学生姓名:xxx
实验成绩
预习题(一空一分,共10 分)
1.(单选题)起偏器和检偏器的刻度范围为多少?(B)
A.0 ° ~180°
B.0 ° ~360°
2.(单选题)黑色反光镜在仪器调整中起什么作用?
实验预习题成绩:
(B)
A. 确定起偏器的方位
B. 确定检偏器的方位
C.确定波片的方位
3.(单选题)在椭偏仪实验中坐标系是选在待测薄膜的(B)上。
A 入射面
B 表面
4.(单选题)椭偏仪的数据处理方法有三种,即查图法、查表
法、迭代法解非线性超越方程,本实验中使用(B)
A 查图法
B 查表法
5.(填空题))调整椭偏仪光路的步骤是,首先使激光光线与分光计仪器主轴垂直,并通过载物台中心,然后确定(C)的0 刻度位置,这要利用(A)的布鲁斯特角特性,然后再确定(B)0 刻度位置,最后调整1/4 波片,使其快轴与(C)成± 45° 选择答案: A 黑色反光镜 B 检偏器 C 起偏器
6.(填空题)将起偏器套在平行光管上,使0°位置朝上,从载物台上取下黑色反射镜,将检偏器管转到共轴位置,整体调节起偏器使检流计(A),固定起偏器螺钉。此时起偏器与检偏器通光方向(C)。选择答案: A 光强最小 B 光强最大 C 平行 D 垂直
原始数据记录
成绩:
1/4 玻片起偏器角度检偏器角度+45°(> 90°)103.4 91.7
+45°(< 90°)21.2 51.6
-45 °(> 90°)106.5 98.6
-45 °(< 90°)21.2 51.6
薄膜厚度: 110.0000
折射率: 1.4800
一、实验名称
椭偏仪测折射率和薄膜厚度
二、实验目的
1、了解椭偏仪测量薄膜参数的原理;
2、初步掌握反射型椭偏仪的使用方法。
三、实验仪器
椭偏仪平台及配件、 He-Ne激光器及电源、起偏器、检偏器、四分之一波片、待测样品、黑色反光镜等。
四、实验原理
1.椭圆偏振光:椭圆偏振光可以看成是由两个互相垂直振动(x 和 y
分量)具有固定位相差的偏振光迭加而成的。用矢量公式表示为:
即:
其中 A1、 A2为 x 和 y 分量的振幅,α 1和α2 为
x 和 y 分量
的初位相,ω为光的频率。利用(2) 的两个公式消去时间 t
就可以
得到光矢量运动的轨迹方程式,如图 1 示。
当δ =0或±π时,合成为线偏振光,当δ =±π /2 时,合成为正椭圆偏振光,(A1=A2时为圆偏振光),当δ在( - π,+π)之间时合成为任意方位的椭圆偏振光,方位角θ (见图示)满足以下公式:
可见当 A1=A2,但δ不等于π /2 时方位角θ总等于±π /4 ,此时椭圆偏振光的长短轴比与并仅与δ有关。此时椭圆偏振光叫做等幅椭圆偏振光。
2.菲涅尔公式:在光传播的过程中如果遇到两种介质界面时就会发生反射和折射,反射光和折射光的振幅和位相就会发生变化,这些变化可以用菲涅尔公式进行计算。
3.斯托克斯倒逆关系:利用斯托克斯倒逆关系可以得到反射率和折射率的简洁关系,所以在这里列出其公式:
4.光在双层界面薄膜系统上的反射规律:当一束任意偏振态的单色光射入薄膜系统,在两个界面上发生多重反射和折射。利用菲涅尔公式以及斯托克斯倒逆关系可以求得 0 、1、2、3、4、 ... 各光束的复振幅如下表所列(设入射光的复振幅为 Ei):
5.椭偏仪结构图及测量原理
6.数据处理方法:绘图法:
1)根据理论公式计算(n2,d –ψc,Δc)制成等折射率和等厚度表文件。
2)根据输入的制图条件,绘出等厚度和等折射率曲线,通过设置作图的坐标
实现局部放大和缩小。
利用将测量的(ψ m,Δm)值与图中(ψc,Δc)(理论曲线与实验值相交或很接近)逐步逼近的方法得到
(ψc,Δ c)所对应的 n2 ,d
五、实验步骤
1、按调分光计的方法调整好主机。
2、水平度盘的调整。
3、光路调整。
4、检偏器读数头位置的调整与固定。
5、起偏器读数头位置的调整与固定。
6、1/4 波片零位的调整
7、将样品放在载物台中央,旋转载物台使达到预定的入
射角
70。即望远镜转过 40° , 并使反射光在白屏上形
成一亮点
8、为了尽量减小系统误差,采用四点测量。
9、将相关数据输入“椭偏仪数据处理程序” ,经过范
围确定后 , 可以利用逐次逼近法,求出与之对应的
d与 n;由于仪器本身的精度的限制 , 可将 d的误
差控制在 1埃左右 ,n 的误差控制在 0.01 左右。
六、实验内容
1.熟悉并掌握椭偏仪的调整
2.调整光路,并使入射到样品的光为等幅椭圆偏振光
3.测量样品的折射率和厚度:(1) 选择测试样品最佳入射角 (2) 测量角度。
4.计算样品的折射率和厚度的数据处理方法
七、数据处理
薄膜厚度: 110.0000
折射率: 1.4800
八、误差分析
实验测得的折射率比理论值偏大,厚度比理论值偏小,
其可能
原因有:
1、待测介质薄膜表面有手印等杂质,影响了其折射率。
2、在开始的光路调整时,没有使二者严格共轴 , 造成
激光与偏
振片、1/4 波片之间不就是严格的正入射,导致测量
的折射率与理论值存在偏差。