三维表面形貌仪(ST400

ST400三维表面形貌仪（美国NANOVEA

产品介绍：

ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含360°旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功能模块。·应用范围广

·适合大样品的测试

·测量范围：150mm×150mm

·360O旋转工作台

·带彩色摄像机（测量前可自动识别特征区域）

1355/ 2027/ 062 云

产品特性:

1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率

2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面

5，不受样品反射率的影响

6，不受环境光的影响

7，测量简单，样品无需特殊处理

8，Z方向,测量范围大：为27mm

主要技术参数：

1，扫描范围：150mm×150mm(最大可选600mm*600mm)

2，扫描步长：0.1μm

3，扫描速度：20mm/s

4， Z方向测量范围：27mm

4， Z方向测量分辨率：2nm

产品应用：

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发