刻蚀工艺

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第七章刻蚀工艺

第七章刻蚀工艺
干刻所用的化学气体,常态下对薄膜不起刻蚀作用。 干刻过程的起始和终止靠化学气体在射频放电条件下产生等离子体来 控制。
干法刻蚀的优点:
各向异性好,选择比高,分辨率高 可控性、灵活性、重复性好 操作安全,易实现自动化 无化学废液,刻蚀过程不引入污染,洁净度高。
干法刻蚀的缺点:
成本高,设备复杂 有“再淀积”现象;某些化学气体具毒性或腐蚀性
光刻胶 多晶硅 光刻胶 多晶硅
SiO2 硅衬底
硅衬底
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VLSI对刻蚀工艺的质量要求
图形转换的保真度高:各向异性度→1,保真度越好 选择比好:被刻蚀薄膜的刻蚀速率高,掩蔽膜和其它衬底 材料的刻蚀速率尽量低 刻蚀均匀性好,重复性高 对硅片表面和器件结构的损伤小 清洁、经济、安全
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湿法刻蚀
湿法刻蚀:液态化学试剂与薄膜之间发生化学反应,生成 可溶性(或气态)生成物 湿法刻蚀过程的三步骤:
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SiO2的湿法刻蚀
氢氟酸可以在室温下与SiO2快速的反应,而不会刻蚀硅: SiO2 + 6HF = H2SiF6 + 2H2O 掩蔽膜:光刻胶、氮化硅、多晶硅 工艺上通常使用加入NH4F的氢氟酸缓冲液(BOE),来维 持有效刻蚀剂浓度。 氢氟酸缓冲液配方为:HF:NH4F:H2O=3ml:6g:10ml NH4F → NH3 + HF
设备:高压等离子体刻蚀机(真空度102~10-1 Torr) 特点: 1.纯化学反应进行刻蚀,选择性好; 2.高气压下,离子的能量很小,各向异性差; 3.对基底的损伤小; 4.多片处理模式。 应用:不考虑图形转移精度的场 合,如去胶工艺(O2,CF4等) 重要!!反应产物的挥发性
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物理化学性刻蚀(反应离子刻蚀)
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蚀刻工艺流程

蚀刻工艺流程

蚀刻工艺流程蚀刻工艺是一种常见的微纳加工技术,广泛应用于集成电路制造、光学器件制造、微机械系统等领域。

蚀刻工艺通过化学溶液或者等离子体对材料表面的刻蚀,实现对微纳结构的加工。

本文将介绍蚀刻工艺的基本流程,以及常见的蚀刻方法和注意事项。

1. 蚀刻工艺流程。

蚀刻工艺的基本流程包括准备工作、蚀刻加工和后处理三个主要环节。

1.1 准备工作。

在进行蚀刻加工之前,首先需要准备好待加工的衬底材料。

通常情况下,衬底材料是硅片、玻璃片或者其他基片材料。

在准备工作中,需要对衬底表面进行清洁处理,以去除表面的杂质和污染物,保证蚀刻加工的质量和精度。

1.2 蚀刻加工。

蚀刻加工是蚀刻工艺的核心环节,通过化学溶液或者等离子体对材料表面进行刻蚀,实现对微纳结构的加工。

蚀刻加工的关键是选择合适的蚀刻溶液或者蚀刻气体,控制加工时间和温度,以及保证加工过程中的稳定性和一致性。

1.3 后处理。

蚀刻加工完成后,需要对加工后的样品进行后处理。

后处理工作包括清洗去除残留的蚀刻溶液或者蚀刻气体,以及对加工表面进行保护处理,防止表面氧化或者其他不良影响。

2. 常见蚀刻方法。

蚀刻工艺根据加工原理和加工方法的不同,可以分为干法蚀刻和湿法蚀刻两种基本方法。

2.1 干法蚀刻。

干法蚀刻是利用等离子体或者化学气相反应进行刻蚀的一种加工方法。

干法蚀刻具有加工速度快、加工精度高、污染少等优点,广泛应用于集成电路制造和光学器件制造等领域。

2.2 湿法蚀刻。

湿法蚀刻是利用化学溶液对材料表面进行刻蚀的一种加工方法。

湿法蚀刻具有操作简单、成本低廉等优点,适用于对材料表面进行精细加工和微纳结构加工。

3. 注意事项。

在进行蚀刻工艺时,需要注意以下几个方面的问题:3.1 安全防护。

蚀刻工艺涉及到化学溶液和气体的使用,操作人员需要做好相应的安全防护工作,避免接触有害物质对人体造成伤害。

3.2 设备维护。

蚀刻设备需要定期进行维护保养,保证设备的稳定性和加工精度。

3.3 加工参数。

刻蚀工艺介绍

刻蚀工艺介绍

刻蚀工艺介绍一、概述刻蚀工艺是一种常用的微纳加工技术,用于在半导体材料表面上制造微米级或纳米级的结构。

该工艺通过使用化学或物理方法,将材料表面的一部分物质移除,从而实现对材料形貌、形状和尺寸的精确控制。

刻蚀工艺在半导体、光学、生物医学、纳米科技等领域具有广泛的应用。

二、刻蚀分类根据刻蚀介质的不同,刻蚀工艺可分为湿法刻蚀和干法刻蚀两种。

湿法刻蚀是指将样品浸泡在特定溶液中,通过溶液中的化学反应来刻蚀样品表面;干法刻蚀则是在真空或气氛下,通过离子轰击或物理气相反应来刻蚀样品表面。

根据刻蚀模式的不同,刻蚀工艺又可分为均匀刻蚀和选择性刻蚀两种。

均匀刻蚀是指样品表面的物质均匀地被移除,形成平整的表面;选择性刻蚀则是指只有特定的材料被刻蚀,而其他材料不受影响。

三、湿法刻蚀湿法刻蚀是一种利用化学反应来刻蚀样品表面的方法。

常用的刻蚀液包括酸性、碱性和氧化性溶液。

酸性溶液可以刻蚀碱金属、半导体和金属材料,常见的有HF、HCl、H2SO4等;碱性溶液则可以刻蚀硅、氮化硅等材料,常见的有KOH、NaOH等;氧化性溶液则可以刻蚀金属和半导体,常见的有HNO3、H2O2等。

湿法刻蚀的优点是刻蚀速度快,刻蚀深度可控制,适用于大面积的刻蚀加工。

然而,湿法刻蚀的缺点是刻蚀剂对环境有一定的污染,并且刻蚀后需要进行清洗和处理。

四、干法刻蚀干法刻蚀是一种在真空或气氛中进行的刻蚀工艺,常用的刻蚀方式包括物理刻蚀和化学气相刻蚀。

物理刻蚀是利用离子轰击的方式来刻蚀样品表面,常用的设备有离子束刻蚀机和反应离子刻蚀机。

离子束刻蚀机通过加速和聚焦离子束,使其撞击样品表面,将表面物质溢出,从而实现刻蚀效果;反应离子刻蚀机则是将离子束与气体反应,生成化学反应产物,再通过气体流动将产物带走。

化学气相刻蚀是通过将刻蚀气体引入到反应室中,使其与样品表面发生化学反应,从而刻蚀样品表面。

干法刻蚀的优点是刻蚀速度快,刻蚀深度可控制,适用于高精度的刻蚀加工。

然而,干法刻蚀的缺点是设备复杂、昂贵,需要对真空系统进行维护和操作。

集成电路工艺:刻蚀

集成电路工艺:刻蚀
集成电路工艺:刻蚀
1. 引 言
1.1刻蚀的概念
刻蚀:它是半导体制造工艺,微电子IC制造工 艺以及微纳制造工艺中的一种相当重要的步骤。 是与光刻相联系的图形化(pattern)处理的一 种主要工艺。所谓刻蚀,实际上狭义理解就是 光刻腐蚀,先通过光刻将光刻胶进行光刻曝光 处理,然后通过其它方式实现腐蚀处理掉所需 除去的部分。随着微制造工艺的发展;广义上 来讲,刻蚀成了通过溶液、反应离子其它机 械方式来剥离、去除材料的一种统称,成为微 加工制造的一种普适叫法。
4.2常用材料的湿法刻蚀
1.二氧化硅湿法刻蚀 采用氢氟酸溶液加以进行。因为二氧化硅可与室
温的氢氟酸溶液进行反应,但却不会蚀刻硅基材 及多晶硅。反应式如下:
SiO2 + 6HF= H2[SiF6] + 2H2O 由于氢氟酸对二氧化硅的蚀刻速率相当高,在制
程上很难控制,因此在实际应用上都是使用稀释 后的氢氟酸溶液,或是添加氟化铵(NH4F)作 为缓冲剂的混合液,来进行二氧化硅的蚀刻。
下层的Ti ➢ 金属铝的刻蚀步骤多,工艺复杂
4. 湿法刻蚀
4.1 湿法刻蚀的原理
湿法刻蚀是将被刻蚀材料浸泡在腐蚀液内进行腐蚀 的技术
这是各向同性的刻蚀方法,利用化学反应过程去除 待刻蚀区域的薄膜材料
湿法刻蚀,又称湿化学腐蚀法。半导体制造业一开 始,湿法腐蚀就与硅片制造联系在一起。现在湿法 腐蚀大部分被干法刻蚀代替,但在漂去氧化硅、除 去残留物、表层剥离以及大尺寸的图形腐蚀应用方 面起着重要作用。尤其适合将多晶硅、氧化物、氮 化物、金属与Ⅲ-Ⅴ族化合物等作整片的腐蚀。
干法刻蚀是各向异性刻蚀,用物理和化学方法, 能实现图形的精确转移,是集成电路刻蚀工艺的 主流技术。
各向同性刻蚀:侧向与纵向腐蚀速度相同 各向异性刻蚀:侧向腐蚀速度远远小于纵向腐蚀

刻蚀工艺改进

刻蚀工艺改进

▪ 结果分析与讨论
1.我们对实验结果进行了详细的分析,通过图表、数据可视化 等方式,直观地展示了工艺改进带来的效果。 2.对实验中可能出现的误差和干扰因素进行了讨论,进一步验 证了实验结果的可靠性。 3.通过与其他研究结果进行对比,我们证明了新工艺在刻蚀工 艺领域的优势和潜力。
实验设计和结果分析
▪ 未来工作展望
▪ 工艺改进方法
1.工艺参数优化:通过调整工艺参数,如压力、功率、气体流 量等,提高刻蚀效率和均匀性,降低刻蚀损伤。 2.新技术应用:引入先进的刻蚀技术,如等离子体刻蚀、深反 应离子刻蚀等,提升刻蚀工艺水平,满足日益增长的刻蚀需求 。 3.设备改造与更新:对现有刻蚀设备进行改造或更新,提高设 备性能和稳定性,为工艺改进提供硬件支持。 以上内容仅供参考,具体内容需要根据实际情况进行调整和优 化。
▪ 实验结果
1.实验结果显示,经过工艺改进后,刻蚀速率提高了30%,同 时刻蚀均匀性也得到了显著改善。 2.与传统工艺相比,改进后的工艺在刻蚀选择性方面提高了 20%,这意味着对底层材料的损伤减少,提高了整体刻蚀质量 。 3.通过对比实验,我们发现新工艺在降低成本、提高生产效率 方面也表现出明显优势。
刻蚀工艺改进
Index
现有刻蚀工艺的问题
现有刻蚀工艺的问题
▪ 刻蚀均匀性问题
1.刻蚀速率不均匀,导致刻蚀深度不一致。 2.刻蚀选择性低,对不同材料的刻蚀效果差异大。 3.刻蚀过程中会产生侧壁损伤,影响器件性能。 刻蚀工艺中的均匀性是决定刻蚀效果的关键因素之一。现有的 刻蚀技术往往存在刻蚀速率不均匀的问题,导致在同一批次中 的不同芯片或者同一芯片上的不同位置刻蚀深度不一致。这不 仅影响了器件的性能,也降低了生产的良品率。此外,刻蚀选 择性也是一个重要问题,不同的材料在刻蚀过程中的速率差异 可能导致刻蚀失败或者需要额外的工艺步骤来修复。同时,刻 蚀过程中的侧壁损伤也是一个不可忽视的问题,它对器件的长 期稳定性和性能有着重要影响。

刻蚀工艺发展历程

刻蚀工艺发展历程

刻蚀工艺发展历程刻蚀工艺是一种常用的微纳加工技术,通过控制化学反应或物理过程,将材料表面的部分物质去除,从而得到所需的结构和形状。

在微电子、光学、生物医学等领域都有广泛应用。

本文将从刻蚀工艺的起源开始,逐步介绍其发展历程。

一、起源与初期发展刻蚀工艺的起源可以追溯到20世纪初期。

最早的刻蚀方法是机械刻蚀,即使用机械设备进行刻蚀,如机械雕刻机。

这种方法虽然简单粗暴,但却被广泛应用于半导体和光学器件的制造中。

随着科学技术的进步,人们开始尝试利用化学方法进行刻蚀。

1927年,美国化学家R. W. Wood首次提出了化学刻蚀的概念,并成功地利用酸性溶液对金属表面进行了刻蚀。

这一发现开启了刻蚀工艺的新篇章。

二、湿法刻蚀的发展在20世纪中叶,随着半导体工业的兴起,湿法刻蚀成为主流。

湿法刻蚀是利用酸性或碱性溶液对材料表面进行刻蚀。

最早的湿法刻蚀方法是浸泡刻蚀,即将待刻蚀的材料浸泡在溶液中,通过溶液与材料表面的化学反应来实现刻蚀。

随着对刻蚀工艺的深入研究,人们逐渐发现了湿法刻蚀的一些局限性,如刻蚀速率低、刻蚀精度不高等。

为了解决这些问题,人们开始探索新的湿法刻蚀方法。

1950年代,美国贝尔实验室研究人员发现,通过加热溶液可以显著提高刻蚀速率,这就是热刻蚀。

热刻蚀利用高温加速化学反应速率,从而提高刻蚀速率和精度。

人们还发现了选择性刻蚀的方法。

选择性刻蚀是指在刻蚀过程中,只对特定材料或特定方向进行刻蚀,而不影响其他材料或方向。

这种方法广泛应用于半导体器件的制造中,可以实现微米级的精确刻蚀。

三、干法刻蚀的崛起随着微纳加工技术的发展,湿法刻蚀逐渐暴露出一些局限性,如溶液的浓度控制困难、污染问题等。

为了解决这些问题,人们开始研究干法刻蚀。

干法刻蚀是利用气体或等离子体进行刻蚀。

最早的干法刻蚀方法是离子束刻蚀,即利用高能离子束对材料表面进行刻蚀。

离子束刻蚀可以实现高速刻蚀和高精度刻蚀,但设备复杂、成本高,限制了其应用范围。

后来,人们发现了等离子体刻蚀的方法。

刻蚀工艺介绍ppt

刻蚀工艺介绍ppt
紧急情况处理
在出现紧急情况时,如设备故障、人员受伤等,应立即采取应急措施,如停机、救援等。
要点三
环保要求与对策
THANK YOU.
谢谢您的观看
干燥
对表面进行涂层或封装,以保护表面不受外界环境的影响,提高表面的稳定性和耐久性。
保护
刻蚀工艺应用与案例
04
刻蚀工艺在芯片制造中占据重要地位,可对硅片进行精细雕刻,制作出微米级别的芯片结构。
芯片制造
通过刻蚀工艺,可以制作出各种复杂的集成电路,包括模拟电路和数字电路等。
集成电路
利用刻蚀工艺,可以制作出超大规模的集成电路,提高电子设备的性能和功能。
激光器制造
光学制造行业应用
刻蚀工艺发展趋势与挑战
05
高精度刻蚀
随着半导体工艺的不断发展,对刻蚀精度的要求越来越高,高精度刻蚀技术成为发展趋势。
技术发展趋势
等离子体刻蚀
等离子体刻蚀技术以其高刻蚀速率、高选择比、低损伤等优点,逐渐成为主流的刻蚀技术。
反应离子刻蚀
反应离子刻蚀技术以其能够实现各向异性刻蚀的优点,广泛应用于深槽、窄缝的刻蚀。
刻蚀工艺吸附剂对固体表面的吸附作用,将固体表面原子吸附到吸附剂上,从而实现表面刻蚀。
物理刻蚀原理
01
物理撞击
利用高能粒子或激光等物理能量,将固体表面原子撞击,使其脱离固体表面。
02
原子碰撞
通过控制物理能量,使得固体表面原子获得足够的能量,发生跳跃并脱离表面。
化学刻蚀原理
混合刻蚀原理
刻蚀工艺流程
03
工艺说明
化学清洗
机械处理
前处理
工艺说明
刻蚀处理是整个刻蚀工艺的核心部分,主要是通过化学或物理手段,对材料表面进行选择性或非选择性腐蚀,以达到预期的形状和尺寸。

刻蚀相关知识点总结

刻蚀相关知识点总结

刻蚀相关知识点总结刻蚀技术主要分为湿法刻蚀和干法刻蚀两种。

湿法刻蚀是在溶液中通过化学反应去除材料表面的工艺,而干法刻蚀是在气相中通过物理或化学反应去除材料表面的工艺。

下面将详细介绍刻蚀的相关知识点。

一、刻蚀的基本原理1. 湿法刻蚀原理湿法刻蚀是利用化学溶液对材料表面进行腐蚀或溶解的工艺。

湿法刻蚀的原理是在溶液中加入具有特定功能的化学试剂,使其与被刻蚀物质发生化学反应,从而去除材料表面的部分物质。

湿法刻蚀通常可以实现较高的刻蚀速率和较好的表面质量,但需要考虑溶液中的成分和温度对环境的影响。

2. 干法刻蚀原理干法刻蚀是利用气相中的等离子体或化学反应对材料表面进行腐蚀或清除的工艺。

干法刻蚀的原理是在高能离子束或化学气体的作用下,使被刻蚀物质表面发生物理或化学反应,从而去除材料表面的部分物质。

干法刻蚀通常可以实现更高的加工精度和更好的表面质量,但需要考虑设备的复杂性和成本的影响。

二、刻蚀的工艺参数1. 刻蚀速率刻蚀速率是刻蚀过程中单位时间内去除的材料厚度,通常以单位时间内去除的厚度为单位。

刻蚀速率的选择需要综合考虑刻蚀材料的性质、刻蚀条件、刻蚀设备和加工要求等因素。

2. 刻蚀选择性刻蚀选择性是指在多种材料叠加或混合结构中选择性地去除某一种材料的能力。

刻蚀选择性的选择需要考虑被刻蚀材料和其它材料之间的化学反应性和物理性质的差异,以实现精确的刻蚀。

3. 刻蚀均匀性刻蚀均匀性是指在整个刻蚀过程中去除材料的厚度分布情况。

刻蚀均匀性的选择需要考虑刻蚀设备和刻蚀条件对被刻蚀物质的影响,以实现均匀的刻蚀。

4. 刻蚀深度控制刻蚀深度控制是指在整个刻蚀过程中去除材料的深度分布情况。

刻蚀深度控制的选择需要综合考虑刻蚀设备和刻蚀条件对被刻蚀物质的影响,以实现精确的刻蚀深度。

5. 刻蚀环境控制刻蚀环境控制是指在整个刻蚀过程中对刻蚀环境(如溶液中的成分、气相中的气体、温度和压力等)的控制。

刻蚀环境控制的选择需要考虑被刻蚀材料的特性和加工的要求,以实现良好的刻蚀效果。

刻蚀原理及工艺培训

刻蚀原理及工艺培训

刻蚀原理及工艺培训刻蚀是一种常用的微纳加工技术。

它通过在材料表面刻蚀掉一定的材料,以达到加工目的。

刻蚀过程是一个逐渐去除材料的过程,它可以用于制作微型器件、集成电路、MEMS器件、光学元件等。

本篇文章将详细介绍刻蚀的原理以及常见的刻蚀工艺。

刻蚀的原理主要是利用化学反应或物理作用使材料表面的原子在特定条件下发生转变及被移除,从而实现刻蚀过程。

常见的刻蚀方式包括湿法刻蚀和干法刻蚀。

湿法刻蚀是在液体中进行刻蚀,通过浸泡在刻蚀液中的材料表面与刻蚀液中的反应物发生反应,从而溶解或转化材料。

湿法刻蚀的刻蚀速率由刻蚀液中的反应物浓度、刻蚀液中的温度、刻蚀液的搅拌速度等因素决定。

湿法刻蚀可以实现高度的选择性,即只刻蚀特定的材料。

常用的湿法刻蚀液包括酸、碱、氧化剂等。

干法刻蚀是在气相中进行刻蚀,通过将材料表面暴露在气体环境中,利用化学反应或物理作用来去除材料表面的原子。

常用的干法刻蚀技术包括物理刻蚀和化学气相刻蚀。

物理刻蚀是利用离子束轰击材料表面,通过离子与材料表面原子的相互作用来去除材料。

物理刻蚀通常需要一个离子源和一个加速电场。

离子源根据需要选择不同的气体,例如氩气、氙气等。

物理刻蚀可以实现高度的选择性和精度,广泛应用于集成电路制造等领域。

化学气相刻蚀是利用化学反应将材料表面上的原子移除。

常用的化学气相刻蚀技术包括反应离子刻蚀和等离子体刻蚀。

反应离子刻蚀通过离子轰击材料表面,使表面原子与气相中的反应物发生化学反应,从而去除材料。

等离子体刻蚀则是利用等离子体产生的高能反应物与材料反应来刻蚀材料。

化学气相刻蚀具有高速和均匀性的优点,被广泛应用于光学元件、显示器件等领域。

除了刻蚀原理外,刻蚀工艺也是刻蚀技术中非常重要的一环。

刻蚀工艺包括刻蚀装备、刻蚀参数的选择以及刻蚀后的处理等。

刻蚀装备通常包括刻蚀机、进气装置、抽真空装置等。

不同的刻蚀装备适用于不同的刻蚀工艺,例如湿法刻蚀需要具备湿法刻蚀槽、搅拌器等设备,而干法刻蚀需要具备加速电场、离子源等设备。

极片刻蚀工艺

极片刻蚀工艺

极片刻蚀工艺
极片刻蚀工艺主要包括湿法化学刻蚀和干法刻蚀两种。

1. 湿法化学刻蚀:主要包括反应物通过扩散到反应物表面,化学反应在表面上进行,然后通过扩散将反应生成物从表面移除这三个阶段。

其腐蚀液的搅拌和温度将会影响腐蚀速率。

在集成电路工艺中,大多是湿法化学刻蚀是将硅片浸入化学溶剂或向硅片上喷洒刻蚀溶剂。

对于浸入式刻蚀,是将硅片进入化学溶剂,通过需求搅拌来保证刻蚀过程以一致或者恒定的速率进行;喷洒式刻蚀则是通过不断向硅片表面提供新的刻蚀剂来极大地增加刻蚀速率和一致性,通常认为喷洒式较浸入式会更好一点。

此外,湿法化学刻蚀较为适用于多晶硅、氧化物、氮化物、金属和Ⅲ-Ⅴ族化合物地表面刻蚀。

2. 干法刻蚀:由于湿法化学刻蚀在进行图形转移时掩模下会出现横向钻蚀,导致刻蚀后图形的分辨率下降,因此为了达到较大规模集成电路的工艺要求的高精度光刻胶抗蚀剂的图形转移,干法刻蚀得到了快速发展。

请注意,这两种刻蚀工艺各有优缺点,在实际应用中需要根据具体情况选择适合的工艺。

如需更详细的信息,建议咨询半导体行业专家或查阅相关文献资料。

刻蚀的工艺

刻蚀的工艺

刻蚀的工艺
刻蚀是一种常用的微纳加工工艺,通过将化学蚀刻剂作用于材料表面,使其在预定区域发生化学反应而被蚀刻掉,从而实现对材料的精确加工和形状控制。

刻蚀工艺广泛应用于半导体制造、光学元件制造、微纳米器件制造等领域。

刻蚀工艺通常分为湿法刻蚀和干法刻蚀两种。

1. 湿法刻蚀:湿法刻蚀是指将材料置入含有化学蚀刻剂的溶液中,通过溶液中的化学反应来蚀刻材料表面。

湿法刻蚀具有高蚀刻速率、高选择性和较低的成本等特点。

常见的湿法刻蚀包括酸性刻蚀、碱性刻蚀、氧化物刻蚀等。

2. 干法刻蚀:干法刻蚀是指将材料置入低压或大气压等特定环境中,通过气体或等离子体的物理作用或化学反应来蚀刻材料表面。

干法刻蚀通常具有更高的加工精度和更好的表面质量,但蚀刻速率较慢。

常见的干法刻蚀包括物理刻蚀(如离子束刻蚀、电子束刻蚀)和化学气相刻蚀等。

刻蚀工艺是一项复杂的加工技术,需要根据具体材料和加工要求选择合适的刻蚀工艺和工艺参数,以获得所需的形状和尺寸。

同时,刻蚀还要考虑蚀刻剂的选择、工艺控制、蚀刻均匀性等方面,以保证加工质量和一致性。

刻蚀工艺技术

刻蚀工艺技术

刻蚀工艺技术刻蚀工艺技术是一种常用于半导体制造业和微纳加工领域的加工方法。

它通过将化学反应与物理刻蚀相结合,可实现对材料表面的高精度加工。

下面我们来详细介绍一下刻蚀工艺技术。

刻蚀工艺技术分为湿法刻蚀和干法刻蚀两种,根据所使用的刻蚀介质的不同。

湿法刻蚀是指通过液体介质对材料表面进行刻蚀,常用的刻蚀介质有酸、碱等。

干法刻蚀则是利用气体或等离子体对材料表面进行刻蚀,常用的刻蚀气体有氟化氢、氧气等。

刻蚀工艺技术的主要适用对象是硅基材料、硅化物、金属、氮化物等。

在半导体制造业中,刻蚀工艺技术被广泛应用于芯片制造的不同阶段,如图案形成、薄膜去除等。

通过刻蚀工艺技术,可以实现对芯片表面的微米级精细加工,从而得到所需的器件结构。

刻蚀工艺技术的核心是刻蚀掩膜的设计和制备。

在刻蚀过程中,刻蚀掩膜起到了保护目标区域不被刻蚀的作用。

刻蚀掩膜常使用光刻工艺制备,即通过物理或化学方法将光刻胶喷涂在材料表面上,然后通过曝光、显影等步骤形成所需的图案。

刻蚀时,掩膜可保护目标区域不受刻蚀介质侵蚀,从而实现精细加工。

刻蚀工艺技术有许多优点。

首先,刻蚀工艺技术能够实现高精度加工,可以制作出尺寸精确、结构复杂的微米级器件。

其次,刻蚀工艺技术具有较高的加工效率,能够快速完成大面积材料的加工。

此外,刻蚀工艺技术对材料的性能影响小,不会引起材料的变形、残留应力等。

然而,刻蚀工艺技术也存在一些问题。

首先,刻蚀过程中产生的废液对环境造成了一定的污染。

其次,刻蚀工艺技术对设备要求较高,需要有专门的刻蚀设备和控制系统。

此外,刻蚀后的表面粗糙度较高,需要进行后续的平整化处理。

总的来说,刻蚀工艺技术是一种重要的微纳加工方法,具有广泛的应用前景。

随着科学技术的不断发展,刻蚀工艺技术将进一步提高加工精度和效率,为微纳加工领域的发展做出更大的贡献。

刻蚀工艺介绍ppt

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2023
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目录
刻蚀工艺简介刻蚀工艺分类刻蚀工艺流程刻蚀工艺参数优化刻蚀设备及厂商刻蚀工艺发展方向
刻蚀工艺简介
01
刻蚀工艺是指利用化学或物理方法有选择性地去除材料表面上的部分物质,以达到制备特定形状和尺寸的目的。
刻蚀工艺包括干法刻蚀和湿法刻蚀两种,其中干法刻蚀主要利用等离子体或激光等高能粒子进行表面处理,而湿法刻蚀则主要利用化学试剂对材料表面进行腐蚀。
设备名称
溅射刻蚀机(Sputtering Etcher)
设备名称
等离子刻蚀机(Plasma Etcher)
功能描述
溅射刻蚀机利用高能粒子撞击靶材表面,使靶材表面的粒子撞击待刻蚀材料表面,从而实现刻蚀。
主要设备及功能描述
各厂商设备特点比较
厂商A
设备稳定性好,售后服务有保障,但价格较高。
厂商B
设备性价比高,但技术支持能力较弱。
03
利用氢氧化钠对硅、二氧化硅等材料进行刻蚀。氢氧化钠具有强碱性,能够与硅、二氧化硅等材料发生化学反应,将目标材料去除。
利用化学溶液对材料进行刻蚀。在湿法刻蚀过程中,目标材料与化学溶液发生化学反应,将目标材料去除。
湿法刻蚀
利用等离子体、激光或其他光源对材料进行刻蚀。在干法刻蚀过程中,中性粒子或离子与目标材料发生碰撞,通过物理作用将目标材料去除。
控制曝光能量
曝光
选择合适的显影液
选择合适的显影液,以将曝光后的光刻胶溶解去除,从而形成所需的图案。
控制显影时间和温度
控制显影液的使用时间和温度,以避免显影过度或不足,影响刻蚀的质量和精度。
显影
去除未曝光的光刻胶
通过化学试剂或物理方法将未曝光的光刻胶去除,以暴露出硅片表面需要刻蚀的区域。

刻蚀工艺流程

刻蚀工艺流程

刻蚀工艺流程
《刻蚀工艺流程》
刻蚀是一种常见的微电子制造过程,用于制作集成电路和其他微型器件。

刻蚀工艺流程是通过化学溶液或气体对硅片或其他材料进行局部腐蚀,从而在表面形成所需的图案和结构。

刻蚀工艺流程通常包括以下几个步骤:
1. 排版设计:首先,需要根据产品的设计要求进行排版设计,确定需要刻蚀的图案和结构。

这一步通常由电子设计自动化软件完成。

设计完成后,将图形转换成掩蔽膜。

2. 清洗和处理:在进行刻蚀之前,需要对硅片或其他基片进行清洗和处理,以去除表面的污垢和杂质,同时提高图案的精度和稳定性。

3. 光刻:光刻是将掩膜图形通过光刻胶转移到硅片表面的过程。

首先,将光刻胶均匀涂布在硅片上,然后使用掩膜和紫外光曝光,最后进行显影和固化,形成所需的图案。

4. 刻蚀:在光刻完成后,硅片被放入刻蚀设备中,通过化学溶液或气体对硅片进行局部腐蚀,去除未被光刻胶保护的部分。

常用的刻蚀方法包括湿法刻蚀和干法刻蚀。

5. 清洗和检验:刻蚀完成后,需要对硅片进行清洗,去除残留的光刻胶和刻蚀产物。

然后进行图案和结构的检验,确保其质
量和精度符合要求。

通过以上步骤,刻蚀工艺流程可以实现对硅片或其他材料的精确刻蚀,制作出需要的微型器件和集成电路。

随着微电子技术的发展,刻蚀工艺流程也在不断改进和完善,以满足各种复杂器件的制造需求。

第7章刻蚀工艺

第7章刻蚀工艺

在HDP系统中,较低气压、较低离子 能量的情况下保持高的刻蚀速率,离子轰 击对硅片的损伤少,刻蚀容易各向异性。
通常,低能量比高能量有较好的刻蚀 选择性。
刻蚀工艺的关键
掩模
掩模
被刻材料
被刻材料
衬底
衬底
● 根据刻蚀要求选择合适的刻蚀方式。 ● 熟悉三种材料在同一条件下的刻蚀速率。
● 根据被刻材料的厚度和刻蚀比,选择合适 的掩模材料的厚度。
ICP
ICP
利用ICP 深硅刻蚀
HDP刻蚀系统与标准的RIE的最大差 别是HDP刻蚀可以使用比较低的气体压力 (1~ 10 mTorr)就可以达到RIE一样的 等离子体密度和刻蚀速率。低气压意味着 在等离子体里的气相碰撞比较少,所以更 能直接地刻蚀。
在标准的RIE中,通过增加功率来提 高等离子体密度,从而提高刻蚀速率。带 来的缺点是离子的能量升高,对硅片的损 伤增加。也可以提高气体压力来提高等离 子体密度而保持较低的离子能量,但是在 等离子体里的气体碰撞增加,刻蚀将更加 各向同性。
● 掌握好具体的刻蚀工艺条件。
IC制造中常用薄膜的等离子刻蚀气体(1)
被刻材料 刻蚀气体
多晶硅 单晶硅
SF6 ,CF4
CF4/H2 , CHF3
CF4/O2
HBr,Cl2 , Cl2/HBr /O2
说明
各向同性,同SiO2选择性 差。 各向异性好,同SiO2选择 性差。 各向同性,同SiO2选择性 好。 各向异性好,同SiO2选择 性好。
光刻胶
衬底
被刻蚀薄膜
衬底
湿法刻蚀
衬底
各向异性干法刻蚀
物理方法干法刻蚀的原理
物理方法干法刻蚀是利用辉光放电 将惰性气体例如氩气(Ar),解离成带 正电的离子,再利用偏压将离子加速, 轰击被刻蚀物的表面,并将被刻蚀物材 料的原子击出。整个过程完全是物理上 的能量转移,所以称为物理性刻蚀。

刻蚀工艺流程

刻蚀工艺流程

刻蚀工艺流程刻蚀工艺是一种常用的微纳加工技术,用于制备微细结构、图案或器件。

刻蚀工艺通常包括以下几个步骤:准备衬底、光刻固化、刻蚀加工和清洗处理。

首先是准备衬底。

衬底通常采用硅片或玻璃片,其表面需要进行清洗和去除杂质处理,以确保刻蚀过程的精确度和稳定性。

第二步是光刻固化。

光刻是刻蚀工艺中必不可少的一步,主要用于制备模板图案。

首先,在衬底表面涂上一层感光胶,然后将模板图案通过照相机或激光曝光到感光胶上,形成暴露和未暴露的区域。

暴露过程中,通过模板图案上的透明和不透明区域的遮光作用,使得胶层在暴露区域发生物理或化学变化。

未暴露区域的胶层则保持不变。

接下来是刻蚀加工。

刻蚀加工通过化学反应将暴露区域的胶层或衬底材料去除,从而形成图案或结构。

刻蚀加工可以分为湿刻蚀和干刻蚀两种方式。

湿刻蚀是利用酸、碱或其他溶液对衬底进行腐蚀。

一般情况下,刻蚀液与刻蚀时间会根据所需的刻蚀深度和刻蚀速率进行调整。

湿刻蚀过程中,需要对刻蚀液的温度、浓度和流速进行精确控制,以确保刻蚀过程的准确性。

干刻蚀是通过物理或化学反应将暴露区域的胶层或衬底材料去除。

常用的干刻蚀技术包括物理刻蚀、放电刻蚀和等离子体刻蚀等。

干刻蚀通常需要在低真空或高真空的环境下进行,以保证刻蚀过程的精确和稳定。

最后是清洗处理。

刻蚀加工完毕后,需要对衬底进行清洗处理,以去除残留的感光胶和刻蚀液。

清洗处理可以采用不同的溶剂和清洗工艺,如超声波清洗、旋转式清洗等。

清洗处理的目的是保持衬底表面的干净和平滑,以便进行后续的加工或测试。

总结起来,刻蚀工艺流程主要包括准备衬底、光刻固化、刻蚀加工和清洗处理。

这些步骤的精确性和稳定性对于微纳加工的质量和性能至关重要,因此需要严格控制每个步骤的工艺条件和参数。

同时,刻蚀工艺的发展和突破将进一步推动微纳加工技术的创新和应用。

蚀刻工艺特点

蚀刻工艺特点

蚀刻工艺特点蚀刻工艺是一种通过化学反应将图案或文字刻在材料表面的技术。

它具有以下几个特点:1. 高精度:蚀刻工艺可以实现极高的精度,可以在微米级别上刻画出复杂的图案和细节。

这使得蚀刻工艺在制造微电子器件、光学元件等领域有广泛的应用。

2. 可控性强:蚀刻工艺可以通过控制刻蚀液的成分、温度、浓度等参数来控制刻蚀速率,从而实现对刻蚀深度和形状的精确控制。

这使得蚀刻工艺在制造微纳米结构、微流体器件等领域有重要的应用。

3. 适用性广:蚀刻工艺可以用于多种材料的刻蚀,如金属、半导体、光学材料等。

不同材料在刻蚀液中的反应性和速率不同,通过选择合适的刻蚀液和参数,可以实现对不同材料的刻蚀。

4. 无损刻蚀:蚀刻工艺是一种无接触的刻蚀方法,不会对材料产生机械应力和热应力,从而避免了由于切削等传统加工方法引起的变形和损伤。

5. 灵活性高:蚀刻工艺可以通过调整刻蚀液的浓度和温度等参数来控制刻蚀速率,从而实现对不同材料和不同形状的刻蚀。

这使得蚀刻工艺在制造复杂形状和非常小尺寸的结构时具有很大的优势。

蚀刻工艺在微电子制造、光学器件制造、微纳米结构制造等领域有广泛的应用。

例如,在微电子制造中,蚀刻工艺常用于制造集成电路中的金属线路、电容、电感等元件;在光学器件制造中,蚀刻工艺可以用于制造光栅、光纤连接器等元件;在微纳米结构制造中,蚀刻工艺可以用于制造纳米线、纳米孔等结构。

蚀刻工艺具有高精度、可控性强、适用性广、无损刻蚀和灵活性高等特点。

这些特点使得蚀刻工艺在微电子制造、光学器件制造、微纳米结构制造等领域有广泛的应用前景。

随着科学技术的不断发展,蚀刻工艺将会变得更加精确、高效和可靠,为各个领域的发展做出更大的贡献。

刻蚀工艺研究报告

刻蚀工艺研究报告

刻蚀工艺研究报告一、概述刻蚀工艺是一种常用的微纳加工技术,可以用于制备微纳米结构。

本报告主要介绍了刻蚀工艺的原理、分类、材料选择、工艺流程以及应用领域等内容。

二、原理刻蚀工艺通过一种化学或物理的方式,将材料的一部分进行刻蚀,形成所需的结构。

刻蚀工艺可以分为湿法刻蚀和干法刻蚀两种类型。

湿法刻蚀主要利用腐蚀介质来对材料进行刻蚀,常用的腐蚀介质包括酸、碱等。

干法刻蚀则是利用高能粒子束(如电子束、离子束)对材料进行加工,通常需要在真空条件下进行。

三、分类刻蚀工艺根据刻蚀方向和控制方式可以分为正交刻蚀和非正交刻蚀。

正交刻蚀是指刻蚀方向与晶体的晶轴或者晶胞周期之间呈90度的关系,常用于制备光栅、衍射元件等。

非正交刻蚀是指刻蚀方向与晶体的晶轴或者晶胞周期之间不呈90度的关系,常用于制备微电子器件、微机械系统等。

四、材料选择刻蚀工艺在不同的材料以及不同的应用领域中有着不同的选择。

对于湿法刻蚀来说,选择合适的腐蚀介质是关键,常见的腐蚀介质包括硝酸、氢氟酸等。

材料的腐蚀性能以及刻蚀速率等特性都需要考虑。

对于干法刻蚀来说,选择合适的束流和能量是关键,不同的材料可能需要不同的束流和能量。

例如,对于金属材料,可以选择离子束刻蚀,而对于半导体材料,可以选择电子束刻蚀。

五、工艺流程刻蚀工艺的流程主要包括清洗、掩膜制备、刻蚀加工以及清洗等步骤。

清洗是为了去除材料表面的杂质和污染物,保证刻蚀的质量和效果。

掩膜制备是选择合适的掩膜材料,通过光刻、电子束曝光等方式在材料表面形成需要刻蚀的图案。

刻蚀加工是将材料放入刻蚀设备中,选择合适的刻蚀工艺参数进行刻蚀操作。

清洗是为了去除刻蚀后的残留物,保证材料表面的干净度和光洁度。

六、应用领域刻蚀工艺在微纳电子、光学、生物医学等领域有着广泛的应用。

在微纳电子领域,刻蚀工艺可以用于制备电子器件、集成电路等。

在光学领域,刻蚀工艺可以用于制备衍射光栅、微透镜等。

在生物医学领域,刻蚀工艺可以用于制备微流控芯片、生物传感器、基因芯片等。

第八章刻蚀工艺

第八章刻蚀工艺

5、VLSI对图形转移的要求 VLSI对图形转移的要求
(1) 获得满意的剖面(倾斜或垂直) 获得满意的剖面 倾斜或垂直) 满意的剖面( (2) 钻刻最小 (3) 选择比大 (4) 刻蚀均匀性好,重复性高 刻蚀均匀性好 均匀性好, (5) 对表面和电路的损伤最小 对表面和电路的损伤最小 (6) 清洁、经济、安全。 清洁、经济、安全。
• 选择性和方向性通常是最为关心的问题。 选择性和方向性通常是最为关心的问题。 • 化学过程;物理过程。 化学过程;物理过程。
4、均匀性: 均匀性:
膜层厚度的不均匀+刻蚀速率的不均匀→图形转移尺寸 膜层厚度的不均匀+刻蚀速率的不均匀→图形转移尺寸的不均匀 厚度的不均匀 速率的不均匀 尺寸的不均匀 设:平均膜厚h,厚度变化因子δ, 0≤ δ ≤1; 平均膜厚h 厚度变化因子δ 最厚处为h 1+δ 最厚处为h(1+δ),最薄处h(1-δ); 最薄处h 平均刻蚀速率v 速度变化因子ζ 平均刻蚀速率v,速度变化因子ζ, 0≤ ζ ≤1; 最大为v(1+ 最大为v(1+ζ),最小为v(1-ζ); v(1+ζ 最小为v(1 v(1刻蚀最厚处所需时间; tM=h(1+δ)/v(1刻蚀最厚处所需时间; tM=h(1+δ)/v(1-ζ) 刻蚀最薄处所需时间; 刻蚀最薄处所需时间; tm= h(1-δ)/v(1+ζ) h(1- )/v(1+ζ 存在时间差:tM2h(ζ )/v(1+ζ 存在时间差:tM- tm = 2h(ζ+δ)/v(1+ζ) 取tm,则厚膜部位未刻蚀尽;tM,部分过刻蚀. tm,则厚膜部位未刻蚀尽;tM,部分过刻蚀.
2、物理性刻蚀
(1) 机理:利用辉光放电将惰性气体解离成带正电的离子,再利 机理:利用辉光放电将惰性气体解离成带正电的离子, 用偏压将离子加速,轰击被刻蚀物的表面, 用偏压将离子加速,轰击被刻蚀物的表面,并将被刻 蚀物材料的原子击出。 蚀物材料的原子击出。 (2) 设备: 设备: (3) 特点: 特点: a. 纯粹的机械过程,对所有材料都可实现强的各向异性刻蚀。 纯粹的机械过程,对所有材料都可实现强的各向异性刻蚀。 b.选择比差; b.选择比差; 选择比差 c.刻出物易再淀积; c.刻出物易再淀积; 刻出物易再淀积 d.易对下面结构造成损伤; d.易对下面结构造成损伤; 易对下面结构造成损伤 e. 单片刻蚀。 单片刻蚀。 Torr) 离子铣(真空度10-3~10-5 Torr) 离子铣(真空度10
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硅片工艺程集成电路工艺之MaterialsIC Fab Metallization CMP Dielectric deposition TestWafers刻蚀Thermal Processes MasksImplantEtch PR stripPackagingPhotolithography DesignFinal Test刻蚀1、基本介绍 2、湿法刻蚀 3、干法刻蚀 4、刻蚀工艺刻蚀的定义 基于光刻技术的腐蚀:刻蚀 湿法称腐蚀?干法称刻蚀? 将光刻胶上的IC设计图形转移到硅片 表面 腐蚀未被光刻胶覆盖的硅片表面,实 现最终的图形转移 化学的,物的或者两者的结合栅极光刻对准栅极光刻掩膜光刻胶 多晶硅STI P-WellUSG栅极光刻曝光Gate Mask显影/后烘/检验Photoresist Polysilicon STI P-Well USG STIPR Polysilicon USG P-Well多晶硅刻蚀(1)Polysilicon多晶硅刻蚀(2)Gate Oxide PolysiliconPR STI P-Well USG STIPR USG P-Well去除光刻胶Gate Oxide Polysilicon离子注入Gate Oxide Dopant Ions, As Polysilicon+STI P-WellUSGSTIn+ P-Welln+USG Source/Drain快速热退火Gate Oxide Polysilicon Gate 刻蚀术语Etch rate 刻蚀速 Selectivity选择比 Etch uniformity均匀性 Etch profile侧墙轮 Wet etch湿法刻蚀 Dry etch干法刻蚀 Endpoint 终点检测STIn+ P-Welln+USG Source/Drain刻蚀速率刻蚀速是指单位时间内硅片表面被刻蚀的材 去除d0刻蚀速率刻蚀后膜厚的变化 刻蚀速 = 刻蚀时间 PE-TEOS PSG 膜,在 22 °C 6:1 BOE 中湿刻1分钟, 刻蚀前, d = 1.7 μm, 刻蚀后, d = 1.1 μm 17000-11000 ----------------1Δdd1刻蚀前Etch Rate =刻蚀后Δdt (/min)Δd = d0 - d1 () 是材膜厚的变化, t 刻蚀时间 (分)ER == 6000 /min均匀性 刻蚀的均匀性是衡刻蚀工艺 在硅片内和硅 片间的可重复性 刻蚀本身的均匀性和材膜厚的均匀性 特征尺寸的负载效应(loading effect) 通常用标准偏差来定义 同的定义给出同的结果非均匀性标准偏差测N 点σ=( x1 x ) 2 + ( x2 x ) 2 + ( x3 x ) 2 + + ( x N x ) 2 Nx=x1 + x 2 + x3 + + x N N非均匀性表达式刻蚀的非均匀性(NU)可由下 面的公式计算(称为Max-Min uniformity, 适用于超净厂房的作业)NU(%) = (Emax - Emin)/ 2Eave Emax = 测量到的最大刻蚀速率 Emin = 测量到的最小刻蚀速率 Eave = 刻蚀速率平均值选择比 Selectivity 选择比是同的材的刻蚀速的比值 在有图形的刻蚀中是非常重要的 对下层材质和光刻胶的选择性 E1 S= BPSG 对 Poly-Si的选择比: E2PR BPSG Poly-Si Si Gate SiO2 E2 PR BPSG Poly-Si Si E1选择比SelectivityEtch rate 1 Selectivity = Etch rate 2 对于PE-TEOS PSG 膜刻蚀速是 6000 /min, 对于硅的刻蚀速是30 /min, PSG 对 silicon6000 Selectivity = ----------------30刻蚀1、基本介绍 2、湿法刻蚀 3、干法刻蚀 4、刻蚀工艺= 200: 1湿法刻蚀 化学溶液溶解硅片表面的材质 刻蚀后产品是气体,液体或是可溶解在刻 蚀溶液中的材质。

三个基本步骤:腐蚀,清洗,干燥。

蚀刻剂浸泡 去离子水清洗 旋转甩干湿法刻蚀-2 纯化学性工艺,各向同性的侧壁形貌,高选 择比 在特征尺寸大于3微米时曾被广泛应用于IC制 造业。

目前已被干法(等离子)刻蚀取代。

仍被应用在先进的IC厂– 硅片的清洗 – 无图形的薄膜去除,如氮化硅和钛的去除。

– 测试硅片的薄膜去除和清洗。

– 应用于 CVD膜质的控制 (缓冲氧化层刻蚀剂或 BOE)二氧化硅的湿法刻蚀 氢氟酸溶液 (HF),极高的选择比。

通常用缓冲剂或去离子水稀释减少刻蚀速 SiO2 + 6HF → H2SiF6 + 2H2O 广泛的应用于 CVD长膜质控制 BOE: Buffered oxide etch缓冲氧化层腐蚀液 NH4F (6Vol 40%) : HF(1Vol 49wt%) BSG > CVDSiO2 > 热SiO2 > PSG?硅或多晶硅的湿法刻蚀 硅刻蚀通常使用混合的硝酸 (HNO3) 和氢 氟酸(HF)。

HNO3氧化硅的同时,氢氟酸移去氧化硅。

去离子水或乙酸可作为稀释剂,低刻蚀 速。

Si + 2HNO3 + 6HF → H2SiF6 + 2HNO2 + 2H2O腐蚀速强依赖掺杂浓以及腐蚀液配比氮化硅的湿法刻蚀 热 (150 to 200 °C) 磷酸 H3PO4溶液。

对硅、二氧化硅有高选 择比。

应用于 LOCOS 和 STI 氮化硅去除。

Si3N4 + 4 H3PO4 → Si3(PO4)4 + 4NH3铝的湿法刻蚀 80% 磷酸, 5% 乙酸, 5% 硝酸, 和 10 % 水 加热溶液 (42 to 45°C) 硝酸使铝氧化, 同时磷酸移除被氧化的 铝。

. 乙酸减低硝酸的氧化速。

钛的湿法刻蚀 1:1 双氧水 (H2O2) 和酸 (H2SO4) 混 合溶液。

H2O2将钛氧化成 TiO2 H2SO4 和 TiO2 反应同时移除它 H2O2将硅和硅化物氧化 成 SiO2 H2SO4 和 SiO2反应n+ nTi自对准钛硅化物的形成Ti TiSi2Polysilicon gatePolysilicon gateTiSi2TiSi2 Polysilicon gateTiSi2Gate oxidenn+nn+Gate oxidenn+n+n-Gate oxidenn+钛淀积硅化物退火湿法去除钛化学溶液的危险性 HF 、H3PO3、HNO3 侵蚀、氧化、特殊的危害 HF : 即使接触也会感觉到 损伤骨头,中和钙 剧疼痛 要心存侥幸. 视IC工厂中所有 未知的溶液为HF.湿法刻蚀的优缺点 高选择比。

相对宜的 设备。

批处,高 产出。

各向同性的形貌 能形成3微米以下的图形 化学剂用大 化学剂的危害性刻蚀1、基本介绍 2、湿法刻蚀 3、干法刻蚀 4、刻蚀工艺干法刻蚀 主要为等离子体刻蚀 等离子体中含有高活性自由基和离子 自由基具有强的氧化性 离子具有一定的动能 仅用活性自由基的纯化学刻蚀:PE 同时化学和物反应:RIE 目前大部分图形刻蚀都采用RIEEtch Bias Etch Profile Etch rate Selectivity Equipment cost Throughput Chemical usage干湿法刻蚀的比较Wet Etch Unacceptable for < 3μm Isotropic High High Low High (batch) High Dry Etch Minimum Anisotropic to isotropic, controllable Acceptable, controllable Acceptable, controllable High Acceptable, controllable Low干法刻蚀的三种方式化学 (PE,用活性自由基) 物(IBE,用赋能离子) 化学+物(RIE,同时用 活性自由基和离子) 化学方式纯化学反应 反应产物是气体 高选择比 各向同性的形貌 如:– 干法去胶 – LOCOS 和STI 的氮化硅去除物理方式 物反应:从表面移走材 惰性离子如Ar+轰击表面进溅射 等离子体工艺 各向异性形貌 低选择比 如:– 氩溅射刻蚀 物理/化学混合方式 (反应离子刻蚀 (RIE) )结合物和化学的刻蚀 等离子体:离子轰击加上自由基反应 名字的误导, 应该称为离子辅助刻蚀 (IAE) 高速可控的刻蚀速 各向异性可控的形貌 好的可控的选择比 在8英寸厂所有的图形刻蚀都使用RIE工艺。

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