(信息与计算科学)可靠性毕业论文正文
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目录
摘要 (1)
关键词指数分布;可靠性;步加试验;极大似然估计; BAYES估计; (1)
引言 (1)
第一章可靠性的基础 (2)
1.1可靠性的基本概念 (2)
1.2指数分布 (2)
1.2.1指数分布的实际背景 (2)
1.2.2 指数分布的定义及其可靠性指标 (3)
1.2.3指数分布的无记忆性 (3)
1.3G AMMA分布 (4)
第二章:参数估计 (4)
2.1.未知参数的点估计的常用方法 (4)
2.2.参数点估计的矩估计法 (5)
2.3.参数点估计的最大似然计法 (6)
2.4.指数分布的应用 (7)
第三章:指数分布下的步加寿命试验 (10)
3.1.假定和引理 (10)
3.2步加试验的贝叶斯估计 (11)
3.3模拟比较 (12)
致谢 (14)
参考文献 (14)
英文摘要 (15)
A BSTRACT: (15)
K EYWORDS: (15)
附录:程序部分 (16)
指数分布及其在可靠性中的应用
作者:*****1指导老师:***
(*******大学理学院信息与计算科学专业学号:********)
摘要本文首先介绍了可靠性的基本概念及两种常用的寿命分布:指数分布和Gamma分布。研究了指数分布的一个重要的性质:指数分布的无记忆性。其次,介绍了两种重要的参数估计方法:矩估计和最大似然估计,并给出了指数分布场合三种系统的可靠性指标。最后,我们研究了CE模型下指数分布场合步进应力加速寿命试验的一种基于Gibbs抽样的Bayes估计。通过模拟例子表明该算法比最大似然估计更加有效。
关键词指数分布;可靠性;步加试验;极大似然估计; Bayes估计;
引言
加速寿命试验是指,在超过使用环境条件的应力水平下对样品进行的寿命试验。这种试验的特点是:选择一些比正常使用环境恶劣的应力水平,又称为加速应力水平,在这些加速应力水平下进行寿命试验。由于产品的试验环境变得恶劣,从而加速了产品失效,缩短了试验时间。
本文首先讨论了指数分布的概念、性质及它的应用,讨论了步加试验数据的统计分析方法,对定数截尾情况下的步加试验数据给出了一种统计分析方法,提出了极大似然估计方法,但论述区间估计的很少,参数估计的分布。
在评定高可靠性、长寿命产品的可靠性时,步进应力加速寿命试验(简称步加试验,参见文献([1, 2])是一种重要试验。近年来,已有一些文献讨论了步加试验数据的统计分析方法。在点估计方面,文献[3]在指数分布场合给出了定数截尾样本的统计分析方法,文献[4]则对定数截尾情况下的步加试验数据给出了一种优于文献[3]的统计分析方法。文献[8]给出了指数分布场合下步进应力加速寿命试验定时和定数截尾的MLE的存在和唯一的充要条件,然后给出了正常应力下平均寿命的近似置信区间。并且做了模拟比较,得到其真值覆盖率较好。文献[5]给出了定数截尾情况下指数分布场合的步加试验的Bayes方法,主要采用带约束参数的方法。文献[6]给出了定数截尾情况下指数分布步加试验的一种近似Bayes
11作者简介:
论文完成时间:2007年5月20日
方法。
本文给出了CE 模型下指数分布场合步进应力加速寿命试验的一种Bayes 估计方法。其算法主要是对完全后验分布采用了抽样方法,再利用Gibbs 抽样(可参见文献[7])对参数进行迭代。最后利用随机模拟的方法,对基于Gibbs 抽样的Bayes 估计和最大似然估计进行了比较分析,得出基于Gibbs 抽样的Bayes 估计比最大似然估计更加有效。
第一章 可靠性的基础
1.1 可靠性的基本概念
在可靠性研究中,人们主要关心产品的使用寿命,即产品能保持完成其规定功能的正常工作时间。由于产品寿命是随机的,因此无法直接用寿命作为指标来度量产品的可靠性。为了定量描述产品可靠性,人们从不同角度定义了各种产品的可靠性指标。
为此,我们引入了可靠度函数。在实际中,产品在],0[t 时间内正常工作的概率为
)()(t T P t R >= (1.1) 则称)(t R 为产品在时刻t 的可靠度函数,简称可靠度。由于)(1)(t F t R -=,因此可靠度函数)(t R 具有下列性质
;0,1)(0)1∞<≤≤≤t t R
)()2t R 是时间t 的非增函数,且.0)(,1)0(=+∞=R R
当寿命T 具有密度函数)(t f 时,可靠度函数)(t R 又可表示为:dx x f t R t )()(⎰
+∞=。
1.2指数分布
1.2.1指数分布的实际背景 假设使用了)0(≥t t 小时的电子管,在以后t ∆小时内失效的概率为)(t t ∆+∆ολ,其中λ是不依赖于t 的正数,假定电子管寿命为零的概率是零,现在研究电子管在0t 小时内失效的概率。
设T 为电子管的寿命,T 的分布函数为).(x F 则
)()|(t t t T t t T t P ∆+∆=>∆+≤<ολ
)()
(),(t t t T P t T t t T t P ∆+∆=>>∆+≤<ολ )()
()(t t t T P t t T t P ∆+∆=>∆+≤<ολ )()
(1)(()(t t t F t F t t F ∆+∆=--∆+ολ ])()][(1[)()(t
t t F t t F t t F ∆∆+-=∆-∆+ολ 令,0→∆t 得)](1[)('t F t F -=λ 故
⎰⎰=-dt t F t dF λ)(1)(
,)](1ln[1c t t F +=--λ
t ce t F λ-=-)(1由,0)0(=F 得1=c ,故,0≥t 有.1)(t e t F λ--=
1.2.2 指数分布的定义及其可靠性指标
在可靠性理论中,特别是在电子产品的可靠性研究中。指数分布是最基本、最常用的寿命分布,它的密度函数
t e t f λλ-=)( , 0t > (1.2) 式中λ为非负参数。其分布函数和可靠度函数分别为
t e t F λ--=1)(, 0t > (1.3)
t e t R λ-=)( , 0t > (1.4)
由式(1.2)可知,若产品寿命服从指数分布,其失效率是常数,即
λλ=)(t (1.5)
其他可靠性指标还有平均寿命、方差、可靠寿命、特征寿命,他们分别是:平均寿命;λθ/1=方差;/1)(2λ=T Var 可靠寿命;/)(ln λr t r -=特征寿命,/11λ=-e t 它与
平均寿命相等。
1.2.3指数分布的无记忆性