偏振X射线荧光分析教程(重要)
偏振X射线荧光分析教程(重要)
精品课件
偏振X射线荧光技术的历史
1973/74 Young, Dzubay
研制出了EDXFR
1977 为起偏器
Ryon
首次采用多层B4C
1990 结构
Brumme
设计出偏振XRF的几何
1990 的分析
Beckhoff
HOPG晶体用于轻元素
1992/99 Spectro
首次推出ED（P）XRF商业化机型
素的波长，从而获得所测元素的特征信息。
精品课件
能量色散X射线荧光光谱仪
❖ 能量色散X射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过 测定由探测器收集到得电荷量，直接获得被测元素
发出的特征X射线的能量：
❖
Q=kE
❖ E为入射X射线的光子能量；Q为探测器产生的相应的电荷量； k为不同类型探测器的响应参数。电荷量与X射线能量成正比，
Bragg晶体聚焦型光学系统—高功率密度
•最小斑束 < 1mm •功率密度提高6-10倍 •有利于轻元素的分析
精品课件
ED(P)XRF的次级靶--多光源系统
光源二：Al2O3/B4C 有效地激发Ti到U
精品课件
BARKLA散射偏振激发的谱图（Al2O3）
精品课件
ED(P)XRF的次级靶--多光源系统
精品课件
偏振X射线荧光光谱仪的结构
精品课件
偏振X射线荧光光谱仪
❖ X射线与物质的散射作用可产生偏振X射线，当散射角为90° 时，可产生几乎完全偏振的X射线。
❖ 由X射线光管发射的未偏振X射线经与轻元素靶以90°发生散 射后，产生高度偏振的平面X射线。用这一偏振光照射样品， 样品中元素产生的X射线是各向异性的，而入射的平面偏振 光是不能沿其平面传播的，故当探测器与样品成90°，并且 与偏振器和X射线光管平面相交时，来自X射线光管的背景降 低。
仪器分析课件7.1 X射线荧光分析
Fe(Z=26) K1： 1.936
Cu(Z=29) 1.540
Ag(Z=49) 0.559 埃（A）
2020/10/28
2.定量分析
谱线强度与含量成正比: （1）标准曲线法 （2）增量法 （3）内标法
“增强效应” ：由初级辐射产生的特征X射线的过程 称为初级荧光，而由样品中产生的其他元素特征X射线 引起另一元素发射特征X射线的过程称为次级荧光。如 果有次级荧光产生，观察到的X射线荧光强度增强。
K 与散射体和入射线波长有 关的常数；
Z↓，非相干散射↑； 衍射图上出现连续背景。
2020/10/28
(3) X射线的衍射
相干散射线的干涉现象；
相等，相位差固定，方向同， n 中n不同，产生干涉。 X射线的衍射线：
大量原子散射波的叠 加、干涉而产生最大程 度加强的光束；
Bragg衍射方程：
DB=BF=d sin n = 2d sin
内容选择
7.1 X射线荧光光谱法 7.2 X射线衍射法 7.3 光电子能谱与光探针 7.4 电子能谱与电子探针 7.5 离子散射能谱法与离子探针
结束
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莫斯莱 （Moseley ）定律
元素的荧光X射线的波长( )随元素的原子序
数( Z )增加，有规律地向短波方向移动。
11/
2
K(Z
S)
K，S 常数，随谱系(L，K，M，N)而定。 定性分析的数学基础。 测定试样的X射线荧光光谱，确定各峰代表的元素。
2020/10/28
荧光产率
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7.1.2 X射线荧光法的基本原理
X射线荧光光谱分析技术精讲PPT课件
300>
第39页/共99页
脉冲高度分布
高计数率带来的问题 ：堆积、脉冲高度漂移
escape
I[kcps]
Intensity: < 100 kcps
LiF(200) Fe KA1 FC
Intensity: 200 - 300 kcps
Pulshight shift
Pile-up effect
Pulshight-shift
Mo
B [0,18 keV] 6 e-I+
B
X-rays
ra
rc
r
第30页/共99页
流气计数器或封闭计数器
Ar + 10% CH4 e- e- e- e- e- e- eI+ I+ I+ I+ I+ I+ I+
CH4: quench gas (electropositive!) Toxic for the FC: elektonegative gasses, e.g.
S Cl
第18页/共99页
X射线的发生: 改变电压和电流对原级谱线 的影响（如何选择电压、电流参数）
Change in kV:
Optimum settings are predefined in SPECTRAplus !!!
第19页/共99页
Changing of mA will change only the intensity
l = 11.3 - 0.02 nm
or
元素范围从铍 (Be)到铀 (U)
第2页/共99页
单位
Name 波长 能量 Quatum 强度
符号 单位 t]
description
偏振X射线荧光分析教程(重要)
计数器
Electronics
计算机
固/液体
高压供给
脉冲放大/多道分析器
偏振X射线荧光能谱分析
人类认识偏振光
1906 1973/74 1977 1980/85
1986 1990 1992/96
1906年 英国物理学家 Charles Glover Barkla
首先阐述了偏振光及特性
偏振X射线荧光技术的历史
Energy (KeV)
X光能量与波长的关系
E
hc
e
电磁波波谱
1 pm 100 pm 10 nm
1 um 10 um 100 mm 100 m
Gamma Rays(伽玛) X-Rays Ultra Violet (紫外) Visible Light(可见) Infra Red(红外) Micro Wave（微波） Radio Wave（广播)
1973/74 Young, Dzubay 研制出了EDXFR
1977 Ryon
首次采用多层B4C为起偏器
1990 Brumme
设计出偏振XRF的几何结构
1990 Beckhoff
HOPG晶体用于轻元素的分析
1992/99 Spectro 首次推出ED（P）XRF商业化机型
偏振X射线荧光光谱仪的结构
的波长，从而获得所测元素的特征信息。
能量色散X射线荧光光谱仪
❖ 能量色散X射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通 过测定由探测器收集到得电荷量，直接获得被测元 素发出的特征X射线的能量：
❖
Q=kE
❖ E为入射X射线的光子能量；Q为探测器产生的相应的电荷量； k为不同类型探测器的响应参数。电荷量与X射线能量成正比， 故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息
培训课件 X射线荧光分析导论[可修改版ppt]
![培训课件 X射线荧光分析导论[可修改版ppt]](https://img.taocdn.com/s3/m/0093a5bcf46527d3250ce04c.png)
Source Modifiers
Several Devices are used to modify the shape or intensity of the source spectrum or the beam shape
▪ Source Filters ▪ Secondary Targets ▪ Polarizing Targets ▪ Collimators ▪ Focusing Optics
Titanium Filter transmission curve
% T R
A Low energy x-rays N are absorbed
S M I T T E D
Absorption Edge
Very high energy x-rays are transmitted
X-rays above the absorption edge energy are absorbed
– More power = lower detection limits
– Anode selection determines optimal source excitation (application specific).
Side Window X-Ray Tube
Glass Envelope
Source Filters
Filters perform one of two functions
–Background Reduction –Improved Fluorescence
Source Filter
X-Ray Source
Detector
Filter Transmission Curve
荧光偏振分析方法
荧光偏振分析方法偏振荧光光谱是最常见的一种分析方法。
它是通过测量样品在不同偏振光激发下的荧光发射光谱来获得样品的偏振特性。
实验中，可以使用偏振片对入射光进行偏振，然后收集样品的荧光发射光，再通过偏振分析系统分析荧光光的偏振状态。
通过比较不同偏振光下的荧光发射强度和偏振度，可以得到样品的荧光偏振特性，并进一步推断样品的结构和性质。
荧光偏振成像是一种非常重要且有潜力的分析方法。
它可以提供样品内部的空间分辨荧光偏振特性信息。
在实验中，可以使用荧光显微镜和偏振成像系统对样品进行观察和分析。
通过在不同偏振方向下收集样品的荧光图像，可以获得样品的荧光偏振信息，并进一步研究样品的分子排列和组装状态。
荧光偏振分析方法在生物科学、材料科学和化学等领域具有广泛的应用。
在生物科学中，荧光偏振分析可以用于研究生物大分子（如蛋白质和核酸）的折叠和结构变化。
在材料科学中，它可以用来研究液晶材料和光电材料的结构和性质。
在化学中，它可以用来研究化学反应的动力学和机理。
尽管荧光偏振分析方法具有重要的研究价值，但在实际应用中仍面临一些挑战。
一方面，荧光偏振分析需要高度精密的仪器设备和复杂的数据处理方法，对实验条件和样品质量都有一定的要求。
另一方面，荧光偏振分析只能提供间接的结构和性质信息，需要通过与其他实验方法（如核磁共振和X射线衍射）相结合使用，以得到更全面和准确的结果。
综上所述，荧光偏振分析方法是一种重要的研究工具，可以提供样品的结构和性质信息。
它在生物科学、材料科学和化学等领域有广泛的应用前景。
虽然面临一些挑战，但随着技术的不断发展，荧光偏振分析方法将在科学研究和应用中发挥越来越重要的作用。
偏振X射线荧光分析培训教程39页PPT
谢谢！
36、自己的鞋子，自己知道紧在哪里。——西班牙
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
37、我们唯一不会改正的缺点是软弱。——拉罗什福科
xiexie! 38、我这个人走得很慢，但是我从不后退。——亚伯拉罕·林肯
39、勿问成功的秘诀为何，且尽全力做你应该做的事吧。——美华纳
偏振X射线荧光分析培训教程
11、用道德的示范来造就一个人，显然比用法律来约束他更有价值。—— 希腊
12、法律是无私的，对谁都一视同仁。在每件事上，她都不徇私情。—— 托马斯
13、公正的法律限制不了好的自由，因为好人不会去做法律不允许的事 情。——弗劳德
14、法律是为了保护无辜而制定的。——爱略特 15、像房子一样，法律和法律都是相互依存的。——伯克
40、学而不思则罔，思而不学则殆。——孔子
三维偏振能量色散X射线荧光光谱仪 说明书
三维偏振能量色散X射线荧光光谱仪 Epsilon5 X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）仪器描述仪器说明仪器标签随着全球经济的快速一体化,各种行业标准或商业标准应运而生,尤其是环境保护方面，中国的第十一个五年计划加大了对环境保护方面的投入，一系列相关的环境标准对土壤、空气及水等介质中痕量重金属的分析要求越来越高,而传统的分析方法（如原子吸收等）由于样品制备复杂、某些元素的检出限达不到标准要求而导致分析速度和结果已远远不能满足环保行业的要求。
为了满足全球对这类分析要求的需要,全球专业级X射线生产制造商—帕纳科公司最近向市场推出了用于环境分析的顶级能量色散X射线荧光光谱仪—Epsilon 5.该仪器采用了一系列最新的、帕纳科独械募际酰╔光管功率可达600W,X光管最高管压可达100KV。
）使其成为目前世界上最顶级的能量色散X射线荧光光谱仪。
该仪器有两大特点：制样简单，可以直接对固体、液体、粉末等进行分析，与传统的ICP、AAS分析方法相比，无须对样品进行前处理，大大提高了分析速度；重金属元素的检出限可以降低到亚ppm级,使其满足全球的任何标准都没有问题(如EPA IO-3.3、Weee & RoHS、ELV EN71等),并且将来标准进一步提高,也无需增加任何投资即可满足，一次投资,一步到位。
帕纳科自2006年向中国市场推出Epsilon 5以来,在环境监测及检测机构等行业都得到客户较好的评价,知名用户如大连环境监测中心、西宁环境监测中心(主要用于环境土壤及空气滤膜分析),深圳天祥质量服务技术有限公司(ITS)(用于RoHS & Weee的样品分析)。
主要特点：• 专利Gd靶材——采用稀土元素钆Gd为靶材，对于重元素的K系线激发效率非常高.• 独有600W高压发生器——工作电压可达100kV，可以测量重金属的K线，从而使重金属的灵敏度大大提高。
(传统的能谱仪和现有的波长色散型都只能测量重金属的L线,而K线的强度要比L线的强度高一个数量级)• ——X。
X射线荧光分析法
第一章1引言1.2 水泥生产中质量检验的意义水泥生产工艺是连续性很强的过程。
水泥的生产一般要经过各种原料，燃料的破碎，配料，粉磨，煅烧，再粉磨以及包装等一些列的加工过程。
在水泥生产的整个工艺过程中，每道工序的工艺质量指标的实现情况都会对最终产品的出场水泥的质量产生重要的影响。
因此要求水泥生产企业在水泥生产中要十分重视对没道工序的质量检验与控制，把质量检验和质量控制工作贯穿于水泥生产工艺的全部过程中去。
只有这样，作为水泥生产企业才能有计划生产出高质量的水泥产品，同时也有利于企业的各项管理工作的顺利进行和更有效地发挥企业的经济效益。
为了使水泥生产正常进行，保证产品的质量，在水泥生产过程中，必须科学地，系统地对生产工艺过程中得各个环节进行严格的质量检验和质量控制，使水泥生产中得每道工序都处于受控状态。
这是保证水泥质量的基石。
一般来讲，在水泥生产工艺过程中，质量上药把好三大关：1.2.1把好原料，燃料关原料和燃料是水泥生产的基础。
没有合格的原料和燃料，难以生产中高质量的水泥产品，所以，把好原料和燃料的质量关是很重要的。
对原料和燃料的质量要求主要有两点，一是要求其化学成分，物理性能及矿物组成等符合水泥生产要求的工艺指标：二是要求其成分均匀，稳定，这样才有利于水泥生产企业稳定生产。
1.2.2 把好半成品的质量关在水泥生产过程中，最主要的是半成品是生料和熟料。
生料和熟料的质量状况对睡你的质量有着至关重要的影响。
在某种意义上可以这样说，生料和熟料的质量控制得好，就为水泥的质量打好了基础，对水泥的质量控制相对地就容易多了。
要保证生料和熟料的质量，一般药做到以下几点：（1）要采用符合要求的原料与燃料一级合理的配料方案。
（2）药采用精确的计量设备，以保证配料方案的准确实施（3）采用先进可行的均化措施，包括原料，燃料预均化和生料及熟料的均化，保证半成品质量的均匀性。
（4）采用先进的工艺技术和装备，完善生产工艺条件。
（5）加强培训与岗位练兵，提高工艺质量管理与操作人员的技术水平。
偏振能量色散X射线荧光光谱仪XEPOS X 说明书
偏振能量色散X射线荧光光谱仪 XEPOS X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）仪器描述仪器说明仪器标签光源：SPECTRO XEPOS采用端窗钯靶50W射线管。
最多可装8个偏振靶和次级靶，可设定各种不同的激发条件，以确保对从Na到U的元素进行最佳测定。
光闸系统：可以确保在更换样品时无需关闭光管，从而提高了系统的稳定性。
检测器：检测器采用目前最先进的硅飘逸计数器。
无论计数率如何变化，分辨率均保持一致。
特别设计的准直器可显著改善信噪比。
光谱分辨率小于160eV（以Mn ka线计）。
最大计数率为120,000cps。
在高计数率下仍有较高的分辨率，可缩短分析时间、提高分析准确度。
样品室SPECTRO XEPOS独特的分析性能不仅取决于它采用了功能强大的分析部件及先进的偏振技术，而且还取决于其精准的进样设计。
德国斯派克分析仪器公司在开发SPECTRO XEPOS时就专门考虑到进样的问题。
高精度样品交换器、新型样品盘的采用可大大减少机械和物力波动对测定的影响，改善分析结果。
仪器配备样品旋转装置，可进一步改善测定不均匀样品以及表面不平整样品的分析结果。
不间断电源：可以消除电源波动的影响，保证长期的稳定性和持久的X光管性能。
软件SPECTRO XEPOS软件提供了一个简单明了、使用简便的操作界面。
选定方法，输入样品识别信息，即可进行测定。
通过完备的引导程序，操作者只需通过5个简单步骤即可创建新的分析方法。
采用基本参数法或采用专门的SPECTRO TurboQuant软件，即可轻而易举的完成未知样品的分析。
SPECTRO XEPOS可搭载预制的应用软件包。
该应用软件包括一套在出厂前就安装和校正好的硬件和分析方法。
适用于分析ROHS，废渣，垃圾，油，水泥，炉渣等，SPECTRO XEPOS一机多用，是真正的多功能分析仪器。
主要特点：偏振能量色散X射线荧光光谱仪XEPOS：主要特点：。
荧光偏振分析方法课件
§6.1 传统荧光偏振技术及发展情况概述
4. 水解酶催化反应
实时监测蛋白酶催化过程
• 蛋白酶对机体的新陈代谢 和生物调控起到非常重要 的作用；
• 蛋白酶酶活的评估有助于 理解特定的生化途径、开 发治疗药物。
Chem. Rev. 2010, 110, 2685-2708.
§6.2 纳米增强荧光偏振一般策略及应用
氧化石墨烯增强荧光偏振信号分析方法
“signal-off” “signal-on”
Anal. Chem. 2013, 85, 1424-1430.
§6.2 纳米增强荧光偏振一般策略及应用
碳纳米颗粒增强荧光偏振信号分析方法
Materials Science and Engineering C 2014, 38, 206-211.
§6.2 纳米增强荧光偏振一般策略及应用
纳米材料
与蛋白质和核酸相比，纳米材料具有良好的热稳定性、更大的质量 和体积且易于合成和进行表面修饰，因此用纳米材料增强荧光偏振具有 潜在的应用价值。
§6.2 纳米增强荧光偏振一般策略及应用
纳米粒子显著增大了分子相互作用的荧光偏振值变化
§6.22 纳米增强荧光偏振一般策略及应用
纳米球形聚电解质刷增强荧光偏振信号分析方法
ChemBioChem 2010, 11, 494-497.
§6.2 纳米增强荧光偏振一般策略及应用
二氧化钛纳米棒增强荧光偏振信号分析方法
Acta Chim. Sinica 2013, 71, 1620-1624.
§6.2 纳米增强荧光偏振一般策略及应用
核酸酶检测及药物筛选
Chem. Commun. 2011, 47, 4763-4765.
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电磁波波谱
1 pm
100 pm 10 nm 1 um 10 um 100 mm 100 m
Gamma Rays(伽玛) X-Rays Ultra Violet (紫外) Visible Light(可见) Infra Red(红外)
Micro Wave（微波）
Radio Wave（广播)
原子结构 (Shells)
计算机
Electronics
样品
计数器
固/液体
高压供给
脉冲放大/多道分析器
偏振X射线荧光能谱分析
人类认识偏振光
1906年
1906 1973/74 1977 1980/85 1986 1990 1992/96
英国物理学家 Charles Glover Barkla
首先阐述了偏振光及特性
偏振X射线荧光技术的历史
研制出了EDXFR
1973/74
Young, Dzubay
1977
Ryon
首次采用多层B4C为起偏器
1990
Brumme
设计出偏振XRF的几何结构
1990 1992/99
Beckhoff Spectro
HOPG晶体用于轻元素的分析 首次推出ED（P）XRF商业化机型
偏振X射线荧光光谱仪的结构
偏振X射线荧光光谱仪
Ac
Th
Pa
U Np Pu Am Cm Bk
Cf
Es Fm Md No
Lr
部分偏振单色靶激发的谱图（Mo）
incoh
coh
ED(P)XRF的次级靶--多光源系统
ED（P）XRF的优点二
多X光激发源
保证待测元素的最佳激发
偏振X射线荧光光谱仪的结构
ED(P)XRF--“纯净”的X荧光
与同步加速器X光站使用同一机理的X光源
For animation click on the graphics!
偏振与非偏振X荧光的比较
K
Fe
Cu Zn
Se Br
The comparison shows an organic matrix: BCR-186 (pig kidney)
ED(P)XRF与背景
ED（P）XRF的优点一
背景降低5-10倍 具有极高的灵敏度及信噪比
GBW 7312 Sediment 粉末压片法, 4克样品加 0.9 g克黏结剂。 样品尺寸32 mm 测量条件:
Al2O3 次级靶 52.5 kV, 5.7 mA 300秒测量
Cd 4 mg/kg
LOD ( Cd ) 0.6 mg/kg
X-LAB2000型仪器的性能
Blank quartz GBW 7309 GBW 7312 GBW 7312 Rb 270 mg/kg
Blank quartz GBW 7312
Ti
Cr 35 mg/kg
Mn
GBW 7312 Sediment 粉末压片法, 4克样品加 0.9 g克黏结剂。 样品尺寸32 mm 测量条件:
Ir
109
Pt
Au Hg
Tl
Pb
Bi
Po
Rn
Fr Ra
57
Rf
58
Ha
59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71
La
89
Ce
90 91
Pr Nd Pm Sm Eu Gd Tb Dy Ho
92 93 94 95 96 97 98 99
Er Tm Yb Lu
100 101 102 103
L Shells
能级的能量差转化为特征X荧光
X荧光
Nucleus
K Shell
L Shells
X荧光的谱线名称
K线系 K1,K2,K…
X荧光
L线系 L1,L2,L…
Nucleus K Shell L Shells
M线系 M1…
X射线光谱仪的分类
根据分辨X射线的方式
X 射 线 光 谱 仪
ED(P)XRF—无滤光片的仪器
ED（P）XRF的优点四
偏振光本身就是最好的滤光片 仪器不需要滤光片
德国SPECTRO首次推出--偏振X射线荧光光谱仪
★世界独一无二的技术 独特的商业机型的生产厂家 ★许多指标已接近或达到波长色散型仪器
★极高的性能价格比
SPECTRO ED（P）XRF光谱仪种类
偏振
X光管 端窗400W
计数器
次级靶
Si(Li)
8
X-LAB 2000
分析元素：Na - U
SPECTRO ED（P）XRF光谱仪种类
偏振
X光管
端窗50W
计数器
次级靶
Si漂移
3
XEPOS
分析元素：Na - U
X-LAB2000型仪器的性能
Blank quartz GBW 7312 Sb 24.3 mg/kg Sn 54 mg/kg
能量色散X射线荧光光谱仪
能量色散X射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通 过测定由探测器收集到得电荷量，直接获得被测元 素发出的特征X射线的能量：
Q=kE E为入射X射线的光子能量；Q为探测器产生的相应的电荷量； k为不同类型探测器的响应参数。电荷量与X射线能量成正比， 故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息
X光的产生
X光管
X-rays Be Window
Electron beam 电子束
Target (Ti, Ag,Pd, etc.)
光管X光的典型图谱
Characteristic X-rays from the target Intensity
Energy (KeV)
X光能量与波长的关系
hc E e
分析检测中心
偏振X射线荧光分析教程
德国斯派克分析仪器公司
基础理论
X光及X荧光的产生
1895 Roentgen （伦琴）Discovers X-Rays
基本原理
X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量 范围在0.1～100keV的光子。 X射线荧光是由物质 中的组成元素产生的特征辐射，通过测量和分析样 品产生的X射线荧光(XRF)，即可获知样品中的元素 组成与含量信息，达到定性和定量分析的目的。 X射线是由高能电子的减速或由原子内层电子的跃 迁产生的。
波长色散（WDXRF)X射线荧光光 谱仪 能量色散（EDXRF)X射线荧光光谱 仪
波长色散光谱仪主要部件：激发源，分光晶 体，测角仪，探测器。 能量色散光谱仪主要部件：激发源，探测器， 相关电子与控制部件。
激发源
要产生X射线荧光就必须采用适当的激发源。如果 高能光子或粒子的能量足以激发出原子内壳层中的 电子，产生特征X射线，它就可以用作X射线激发源。 目前常用的主要是各种X射线光管，电子、质子、 放射性同位素、同步辐射等也可用作激发源。 X射线光管分析范围宽，适用性强，稳定性好，是 常规分析中的首选激发源。
X荧光的产生
入射X-Ray 特征X荧光进入计数器
被激发出轨的电子 Nucleus
K Shell 原子结构
L Shells
从X光管发出的入射X光
Nucleus
K Shell
L Shells
电子吸收入射X光被激发出轨道
Nucleus
K Shell
L Shells
高能级电子填补空穴
Nucleus
K Shell
有效地激发Na到V
Bragg偏振单色靶激发的谱图（HOPG）
聚焦型光学系统—高功率密度
样品
弯曲聚焦型 次级靶 细焦点 X 光管
Bragg晶体聚焦型光学系统—高功率密度
•最小斑束 < 1mm •功率密度提高6-10倍
•有利于轻元素的分析
ED(P)XRF的次级靶--多光源系统
光源二：Al2O3/B4C
探测器
X射线探测器的作用是将X射线光子的能量转换成易 于测量的电信号。在入射X射线与探测器活性材料 的相互作用下产生光电子，由这些光电子形成的电 流经电容和电阻产生脉冲电压。脉冲电压的大小与 X射线光子的能量成正比。一般好的探测器通常要 求量子计数效率和分辨率高，线性和正比性好。目 前最常用的能量探测器为锂漂移硅探测器Si(Li)，简 称硅锂探测器。
元素的定性分析
X荧光的能量或波长代表了特征的元 素. 即每个元素都有其特定的能量或波长
元素的定量分析
X荧光的强度即代表了含量
普通能量色散型X射线能谱仪的结构
样品
滤光片
计数器滤光片
计数器 X光光源
仪器结构简图
高压发生器
冷却系统
X光管
I n t e n s i t y Energy (keV)
波长色散X射线荧光光谱仪
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测 元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度， 即可获得待测元素的谱线波长：
n 2d sin
(n=1,2,3…..)
式中d 为晶体的晶格间距 ，n 为衍射级次。利用测角仪可以 测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素 的波长，从而获得所测元素的特征信息。
47 48 49 50 51
Se
52
Br
53
Kr
54
Rb Sr
55 56
Y
72
Zr
Hf
104
Nb Mo Tc Ru Rh Pd Ag Cd
73 74 75 76 77 78 79 80
In
81
Sn Sb
82 83
Te
84 85